JP5772969B2 - 大気圧イオン化質量分析装置 - Google Patents
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Description
前記イオン吸込み口の周囲であって該イオン吸込み口の中心軸を挟んで前記噴霧手段の噴霧口が位置する側と反対側に配設された乾燥ガス噴出孔のみから、前記イオン吸込み口を経たイオン吸込み方向と反対方向に乾燥ガスを噴出可能としたことを特徴としている。
a)前記イオン吸込み口を囲むようにその周囲に設けられ、該イオン吸込み口を経たイオン吸込み方向と反対方向に乾燥ガスを噴出するように配設された複数の乾燥ガス噴出孔と、
b)該複数の乾燥ガス噴出孔からそれぞれ噴出する乾燥ガスの量を独立に調整するための流量調整手段と、
を備えることを特徴としている。
そこで、第2の態様による大気圧イオン化質量分析装置は、前記流量調整手段により各乾燥ガス噴出孔からそれぞれ噴出する乾燥ガスの量を調整しながらイオン検出信号を監視し、イオン検出感度が最良になるようにそれぞれの乾燥ガスの量を設定する制御手段をさらに備える構成とするとよい。
2…第1中間真空室
3…第2中間真空室
4…分析室
5…イオン化プローブ
6…ノズル
7…サンプリングコーン
8…ブロックヒータ
9…脱溶媒管
9a…イオン吸込み口
10…乾燥ガス噴出孔
11…第1イオンガイド
12…第2イオンガイド
13…四重極マスフィルタ
14…イオン検出器
20…乾燥ガス供給支管
21…流量バルブ
22…乾燥ガス供給主管
25…制御部
26…分析パラメータ記憶部
27…データ処理部
C…イオン吸込み口の中心軸
S…噴霧流の中心軸
Claims (4)
- 大気圧雰囲気であるイオン化室内に液体試料を噴霧する噴霧手段と、該噴霧手段から噴霧される微小液滴から生成されるイオンを低ガス圧雰囲気である後段へと輸送するために該イオンを吸い込むイオン吸込み口であってその中心軸が前記噴霧手段からの噴霧流の中心軸と一致しないように配置されたイオン吸込み口と、を具備する大気圧イオン化質量分析装置において、
前記イオン吸込み口の周囲であって該イオン吸込み口の中心軸を挟んで前記噴霧手段の噴霧口が位置する側と反対側に配設された乾燥ガス噴出孔のみから、前記イオン吸込み口を経たイオン吸込み方向と反対方向に乾燥ガスを噴出可能としたことを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。
- 大気圧雰囲気であるイオン化室内に液体試料を噴霧する噴霧手段と、該噴霧手段から噴霧される微小液滴から生成されるイオンを低ガス圧雰囲気である後段へと輸送するために該イオンを吸い込むイオン吸込み口であってその中心軸が前記噴霧手段からの噴霧流の中心軸と一致しないように配置されたイオン吸込み口と、を具備する大気圧イオン化質量分析装置において、
a)前記イオン吸込み口を囲むようにその周囲に設けられた複数の乾燥ガス噴出孔と、
b)該複数の乾燥ガス噴出孔からそれぞれ噴出する乾燥ガスの量を独立に調整するための流量調整手段と、
を備えることを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。 - 請求項2に記載の大気圧イオン化質量分析装置であって、
前記複数の乾燥ガス噴出孔は前記イオン吸込み口の同心円上に一定角度間隔で設けられていることを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。 - 請求項2又は3に記載の大気圧イオン化質量分析装置であって、
前記流量調整手段により各乾燥ガス噴出孔からそれぞれ噴出する乾燥ガスの量を調整しながらイオン検出信号を監視し、イオン検出感度が最良になるようにそれぞれの乾燥ガスの量を設定する制御手段をさらに備えることを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013539426A JP5772969B2 (ja) | 2011-10-17 | 2011-10-17 | 大気圧イオン化質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013539426A JP5772969B2 (ja) | 2011-10-17 | 2011-10-17 | 大気圧イオン化質量分析装置 |
PCT/JP2011/073821 WO2013057777A1 (ja) | 2011-10-17 | 2011-10-17 | 大気圧イオン化質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2013057777A1 JPWO2013057777A1 (ja) | 2015-04-02 |
JP5772969B2 true JP5772969B2 (ja) | 2015-09-02 |
Family
ID=48140456
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013539426A Active JP5772969B2 (ja) | 2011-10-17 | 2011-10-17 | 大気圧イオン化質量分析装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9040902B2 (ja) |
JP (1) | JP5772969B2 (ja) |
WO (1) | WO2013057777A1 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2531193B (en) * | 2013-08-02 | 2020-07-29 | Hitachi High Tech Corp | Mass spectrometer |
CN106373853B (zh) * | 2015-07-21 | 2018-10-09 | 株式会社岛津制作所 | 一种用于质谱仪离子化以及离子引入装置 |
WO2017056173A1 (ja) * | 2015-09-29 | 2017-04-06 | 株式会社島津製作所 | イオン源用液体試料導入システム及び分析システム |
JP6481767B2 (ja) * | 2015-09-29 | 2019-03-13 | 株式会社島津製作所 | イオン源用液体試料導入システム及び分析システム |
US10399099B1 (en) * | 2016-05-09 | 2019-09-03 | Elemental Scientific, Inc. | Systems and methods for automatic adjustment of mixed gas flow for an injector coordinated with the acquisition of particular groups of chemical elements for analysis |
CN106970137B (zh) * | 2017-03-13 | 2019-11-26 | 清华大学深圳研究生院 | 一种电离装置及电离方法 |
JP6806235B2 (ja) * | 2017-03-16 | 2021-01-06 | 株式会社島津製作所 | 荷電粒子の供給制御方法及び装置 |
CN106920735B (zh) * | 2017-03-20 | 2018-10-16 | 北京大学深圳研究生院 | 可检测活性中间体的方法、电喷雾离子源装置及质谱仪 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6653626B2 (en) * | 1994-07-11 | 2003-11-25 | Agilent Technologies, Inc. | Ion sampling for APPI mass spectrometry |
US6177669B1 (en) | 1998-09-28 | 2001-01-23 | Varian, Inc. | Vortex gas flow interface for electrospray mass spectrometry |
US6207955B1 (en) | 1998-09-28 | 2001-03-27 | Varian, Inc. | Pneumatically assisted electrospray device with alternating pressure gradients for mass spectrometry |
US7372043B2 (en) * | 2002-02-22 | 2008-05-13 | Agilent Technologies, Inc. | Apparatus and method for ion production enhancement |
US6825462B2 (en) | 2002-02-22 | 2004-11-30 | Agilent Technologies, Inc. | Apparatus and method for ion production enhancement |
JP2003322639A (ja) * | 2002-05-01 | 2003-11-14 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
JP2005071722A (ja) | 2003-08-21 | 2005-03-17 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析計 |
JP4645197B2 (ja) * | 2005-01-05 | 2011-03-09 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法 |
US20060255261A1 (en) * | 2005-04-04 | 2006-11-16 | Craig Whitehouse | Atmospheric pressure ion source for mass spectrometry |
JP2009133661A (ja) * | 2007-11-29 | 2009-06-18 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
JP3141511U (ja) * | 2008-02-22 | 2008-05-08 | 株式会社島津製作所 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
-
2011
- 2011-10-17 US US14/352,191 patent/US9040902B2/en active Active
- 2011-10-17 WO PCT/JP2011/073821 patent/WO2013057777A1/ja active Application Filing
- 2011-10-17 JP JP2013539426A patent/JP5772969B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2013057777A1 (ja) | 2015-04-02 |
US20140284473A1 (en) | 2014-09-25 |
WO2013057777A1 (ja) | 2013-04-25 |
US9040902B2 (en) | 2015-05-26 |
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