JP5771317B1 - 異常診断装置及び異常診断方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】機械設備の異常診断を良好な信頼性で行うことを可能とする。【解決手段】異常診断装置1は、機械設備に設置した複数のセンサからのセンサデータを時系列データとして取得する時系列データ取得部10と、時系列データを学習データとした統計的手法により、機械設備の正常状態からの乖離の大きさを示す指標である異常測度を算出する異常測度算出部12と、過去に取得した時系列データに基づいて算出した異常測度の推移を、多項式により近似した近似式を算出する近似式算出部13と、近似式を用いて、将来の所定の時点までの異常測度を推定する異常測度推定部14と、を備え、時系列データを取得するごとに、最新の時系列データについての異常測度を算出し、最新の時系列データについての異常測度を前記推移に加えた近似式を算出し、その近似式を用いて将来の異常測度を推定する。【選択図】図1

Description

本発明は、機械設備の異常を診断する異常診断装置及び異常診断方法に関する。
建設機械、医療機器、風力・太陽光や火力などの発電設備、水処理、プラント等の各種の機械設備において、機械設備の異常による稼働率低下や、性能や品質の劣化による最終仕様の未達、信頼性の不足など、顧客への悪影響を未然に防止するため、定期保守が行われている。しかしながら、定期保守を実施していても、故障による機械設備のダウンや性能の劣化は避けられず、機械設備に付加したセンサのデータに基づく異常の早期発見(異常予兆検知)が重要になってきている。
しかし、多くのセンサデータや膨大な機械設備情報、保守履歴情報があるなかで、機械設備の状態を把握し、あとどれくらい故障しないで稼働可能なのか(設備の稼働継続可能時間)を予測することは、設計及び現場の両知識と、多くのデータ解析を必要とし、難易度が高く困難を伴うものであった。
例えば、特許文献1には、機械設備から取得した多次元のセンサデータにガウシアンプロセス、k−NN(k-Nearest Neighbor)法、粒子フィルタ法などを適用して、当該機械設備の異常測度を推定し、更にはRUL(Remaining Useful Life)を推定する異常診断手法が開示されている。
特開2013−152655号公報
しかしながら、機械設備の状態は時々刻々と変化するため、例えば、特許文献1に開示されたように、保守作業を行うごとに診断するのでは、異常測度の推定やRULの推定などの異常診断を、十分な信頼性で行うことが難しい場合がある。
そこで、本発明は、機械設備の異常診断を、優れた信頼性で行うことができる異常診断装置及び異常診断方法を提供することを課題とする。
前記課題を解決するために、本発明の異常診断装置は、機械設備の異常を診断する異常診断装置であって、前記機械設備に設置した複数のセンサからのセンサデータを時系列データとして取得する時系列データ取得部と、前記時系列データを学習データとした統計的手法により、前記機械設備の正常状態からの乖離の大きさを示す指標である異常測度を算出する異常測度算出部と、前記異常測度に対して、所定の時間幅における最小値を算出する最小値フィルタ処理又は所定の時間幅についての最大値を算出する最大値フィルタ処理の内の何れかのフィルタ処理を施すフィルタ処理部と、過去に取得した前記時系列データに基づいて算出した前記異常測度の推移を、前記フィルタ処理が施された異常測度を用いて、多項式により近似した近似式を算出する近似式算出部と、前記近似式を用いて、将来の所定の時点までの異常測度を推定する異常測度推定部と、を備え、前記時系列データ取得部によって前記時系列データを取得するごとに、前記異常測度算出部によって前記最新の時系列データについての異常測度を算出し、前記近似式算出部によって前記最新の時系列データについての異常測度を前記推移に加えた前記近似式を算出し、前記異常測度推定部によって前記近似式を用いて将来の異常測度を推定するように構成される。
本発明によれば、信頼性に優れた異常診断を行うことができる。
本発明の実施形態に係る異常診断装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態に係る異常診断装置における異常測度算出部の構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態において用いられる異常測度の算出手法の例として、k−NN法を説明する図である。 本発明の実施形態において用いられる異常測度の算出手法の例として、局所部分空間法を説明する図である。 本発明の実施形態において用いられる異常測度の例を模式的に示すグラフ図である。 本発明の実施形態において用いられるフィルタ処理後の異常測度の例を模式的に示すグラフ図である。 本発明の実施形態において、異常診断の手法を説明するための説明図である。 本発明の実施形態に係る異常診断装置において、異常診断処理の流れを示すフローチャートである。 図8に示したフローチャートにおける異常測度算出処理の流れを示すフローチャートである。
本発明の実施形態について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。なお、各図において、共通する部分には同一の符号を付し、重複した説明は適宜に省略する。
本発明の実施形態に係る異常診断装置は、工場、商業施設、工事現場、病院などで使用される機械設備の稼働率を維持・向上するため、機械設備の状態を示す指標である異常測度を把握して、異常診断のための情報を提供するものである。そのために、診断対象となる機械設備からセンサデータ、又はセンサデータに加えて、稼働情報、イベント情報、設備負荷、作業報告書などに関する情報を取得し、取得した情報を用いて、現在から将来にかけての機械設備の異常測度を推定し、更には機械設備の稼働継続可能時間(RUL;余寿命)を推定する。
[異常診断装置の構成]
まず、図1を参照して、本実施形態に係る異常診断装置1の構成について説明する。
図1に示すように、異常診断装置1は、時系列データ取得部10と、時系列データ記憶部11と、異常測度算出部12と、近似式算出部13と、異常測度推定部14と、RUL算出部(稼働継続可能時間算出部)15と、異常予兆検知部16と、出力部17と、センサデータ抽出部18と、参照期間設定部19とを備えて構成されている。
時系列データ取得部10は、インターネット網などを介して、診断対象である機械設備から出力される多次元のセンサデータを取得する手段である。センサデータは、取得時刻(又はセンサで測定された時刻)と対応付けられた時系列データとして取り扱われる。時系列データ取得部10は、取得した最新の、すなわち現在の時系列データを取得するごとに、時系列データ記憶部11に順次に記憶させることで蓄積する。
なお、現在の時系列データについては、時系列データ取得部10から異常測度算出部12に直接出力するようにしてもよい。
時系列データ記憶部11は、時系列データ取得部10から入力された時系列データを記憶するものである。また、時系列データ記憶部11に記憶される時系列データは、異常測度算出部12及びセンサデータ抽出部18によって、過去及び現在の時系列データとして適宜に参照される。
なお、時系列データ記憶部11に、新たに取得した時系列データを追加する場合は、不図示の評価手段によって、データとしての妥当性(異常ではないこと、既に時系列データ記憶部11に格納されているデータとの類似性)を評価した後に蓄積され、正常状態における過去の時系列データとして活用できる形態になっている。
また、診断対象となる機械設備が複数である場合は、時系列データは、診断対象の単位となる各機械設備に対応付けて記憶される。
時系列データ記憶部11に記憶される時系列データには、センサデータの他に、環境データとしてイベントデータ、稼働データ、負荷データ、保守履歴データなどが含まれるようにしてもよい。これらのデータは、何れもそれぞれが取得された時刻に対応付けられている。
ここで、イベントデータとは、機械設備の運転状態を示すものであり、例えば、機械設備の起動や停止などの運転パターンの制御状態を示すものである。
稼働データとは、機械設備の運転時間や操作時間などの稼働時間やその累積時間を示すものである。例えば、ショベルなどでは、走行時間や旋回動作の時間などの動作の詳細時間が該当する。
負荷データとは、機械設備にかかる負荷状態を示すものであり、例えば、エンジンにかかる負荷の状況や燃費、医療設備における患者数、工作機械における被加工物の硬さなどが該当する。
保守履歴データとは、機械設備に関して過去の故障内容、部品交換などの作業履歴を示すものであり、保守作業として行われた作業項目のリストが含まれている。
異常測度算出部12は、時系列データ記憶部11に記憶されている現在及び過去の時系列データを参照して、この時系列データを学習データとした統計的手法により、機械設備の正常状態からの乖離の大きさを示す指標である異常測度を算出するものである。また、異常測度算出部12は、センサデータ抽出部18から異常測度を算出する際に用いるセンサデータの種別を入力して、当該特定の種別のセンサデータからなる多次元センサデータを用いて異常測度を算出する。異常測度算出部12は、算出した異常測度を近似式算出部13、異常予兆検知部16及び参照期間設定部19に出力する。また、異常測度算出部12は、算出した異常測度を時系列データとして不図示の記憶手段に蓄積しておき、近似式算出部13などからの要求に応じた期間についての異常測度の時系列データを出力するように構成してもよい。
また、異常測度算出部12は、図2に示すように、第1異常測度算出部121と、第2異常測度算出部122と、異常測度統合部123と、フィルタ処理部124とを備えている。第1異常測度算出部121及び第2異常測度算出部122は、互いに異なる手法により異常測度を算出するものである。第1異常測度算出部121及び第2異常測度算出部122は、それぞれが算出した異常測度を異常測度統合部123に出力する。
異常測度を算出する手法としては、ベクトル量子化法や局所部分空間法などを用いることができる。これらの異常測度を算出する手法の説明については後記する。
なお、第1異常測度算出部121及び第2異常測度算出部122は、それぞれ、多次元のセンサデータをそのまま多次元ベクトルとして用いてもよいが、特徴変換を施した特徴量を用いるようにしてもよい。特徴変換の手法としては、例えば、主成分分析、独立成分分析、ウェーブレット変換などを用いることができる。特徴変換を施すことによって、時系列データの次元数を低減したり、異常測度の感度を向上させたりすることが可能となる。
異常測度統合部123は、第1異常測度算出部121及び第2異常測度算出部122から、それぞれが算出した異常測度を入力し、2つの異常測度を1つの値に統合して、フィルタ処理部124に出力する。
2つの異常測度を統合する方法としては、調和平均、加重平均などを用いることができる。特に、異なる手法によって算出された異常測度を、それぞれの異常測度の特性を損なわずに、かつ、それぞれの異常測度の特性が強調され過ぎないように統合するには、調和平均を用いることが好ましい。
なお、異常測度を算出するために用いる手法は、2つに限定されるものではなく、1つであってもよいし、3つ以上であってもよい。また、3つ以上の手法で異常測度を算出する場合は、調和平均することで1つの値に統合することが好ましい。
フィルタ処理部124は、異常測度統合部123から1つに統合された異常測度を入力し、異常診断の感度又は信頼性を向上させたり、ノイズを除去するために、時間軸方向に所定のフィルタ処理を施すものである。フィルタ処理部124によるフィルタ処理後の異常測度は、図1に示す近似式算出部13、異常予兆検知部16及び参照期間設定部19に出力される。
なお、本実施形態では、統合した異常測度にフィルタ処理を施すようにしたが、各手法により算出された異常測度にフィルタ処理を施した後に、統合するようにしてもよい。
フィルタ処理の方法としては、例えば、所定の時間幅についての移動平均を算出する移動平均フィルタや、所定の時間幅についての最小値を算出する最小値フィルタ、所定の時間幅についての最大値を算出する最大値フィルタなどを用いることができる。
フィルタ処理として最小値フィルタを用いた場合は、例えば、図5に示すように、上下に大きく振動しながら変化する異常測度の波形200が、図6に示すように、細かいピークの下限値を接続したような波形201に変換される。最小値フィルタを用いることで、ノイズの重畳によって異常測度が過大に評価されることを抑制することができる。このため、高い確度で異常診断を行うことができる。
また、フィルタ処理として最大値フィルタを用いた場合は、異常測度の最大値を逃さずに把握することができる。このため、高い感度で異常診断を行うことができる。
また、フィルタ処理として移動平均フィルタを用いた場合は、最大値フィルタと最小値フィルタとの中間的な特性の異常診断を行うことができる。
なお、これのらフィルタ処理において、フィルタサイズである時間幅は、異常測度の周波数特性や異常測度に含まれるノイズ成分の周波数特性などに応じて、適宜に定めることができる。
ここで、異常測度を算出する2つの手法について、例として説明する。
本実施形態では、何れの手法においても、診断対象である機械設備が正常に稼働している間にセンサで測定することで得られた時系列データ(以下、「正常データ」ともいう)を用いるものである。
なお、前記したように、センサデータを特徴変換した特徴量の時系列データを用いるようにしてもよい。
(ベクトル量子化法)
まず、図3を参照して、ベクトル量子化法について説明する。
ベクトル量子化法においては、正常データを学習データとして予めクラスタリングをしておき、診断対象となる現在の時系列データ(以下、「診断データ」ともいう)と、当該診断データが所属するクラスタとの距離に基づいて異常測度を算出するものである。
ベクトル量子化法によれば、予め生成したクラスタを用いることで、高速に、また安定した精度で異常測度を算出することができる。
クラスタリングの方法としては、例えば、k平均法を用いることができる。また、診断データが所属するクラスタの判定には、例えば、k−NN法を用いることができる。
図3に示すように、学習データが、クラスタA(黒丸「●」で示した学習データをメンバxとするクラスタ)とクラスタB(黒四角「■」で示した学習データをメンバxとするクラスタ)とにクラスタリングされているとする。k−NN法によれば、図3に破線の円で示したように、まず、診断データqの最近傍のk個(図3の例では5個)のメンバxA,xBを抽出する。そして、各クラスタについて抽出されたメンバ数を計数して、抽出されたメンバ数の最も多いクラスタが、診断データqの所属クラスタであると判定する。図3に示した例では、クラスタBの所属するメンバxが3個と最も多く抽出されたため、診断データqの所属クラスタはクラスタBと判定される。
異常測度は、診断データqと所属クラスタであるクラスタBの代表値c(例えば、所属メンバの重心を用いることができる)との距離dを用いて算出することができる。
なお、異常測度は、診断データqと所属クラスタの代表値cとの距離dをそのまま用いてもよいが、正規化することが好ましい。ここで正規化は、距離dを、所属クラスタの広がりを示す半径で除することで行うことができる。クラスタの半径は、特に限定されるものではないが、例えば、代表値cから各メンバまでの距離の平均値、代表値cから最遠に位置するメンバまでの距離、メンバの標準偏差又は標準偏差を定数倍したもの、などを用いることができる。
なお、診断データqの所属クラスタの判定は、k−NN法に限定されるものではない。例えば、診断データqと各クラスタの代表値cとの距離が最も近いクラスタを所属クラスタであると判定することもできる。
(局所部分空間法)
次に、図4を参照して、局所部分空間法について説明する。
局所部分空間法では、診断データqの最近傍のk個の正常データを抽出し、診断データqから、抽出されたk個の正常データで定められる(k−1)次元の部分空間へ降ろした垂線の長さに基づいて異常測度を算出するものである。
局所部分空間法によれば、蓄積された正常データから、診断データに類似する正常データを抽出して用いるため、機械設備の状態変化が激しい場合でも、精度を保った異常測度の算出が可能である。
図4に示した例では、k=3として、3個の正常データx,x,xが抽出されている。ここで、3個の正常データで定められる2次元の部分空間SSは平面である。そして、診断データqから部分空間SSに降ろした垂線の足Xbまでの距離dを算出する。異常測度は、当該距離dをそのまま用いてもよいが、正規化することが好ましい。ここで正規化は、例えば、距離dを抽出したk個の正常データの標準偏差で除することで行うことができる。
なお、本実施形態では、例えば、第1異常測度算出部121がベクトル量子化法を用い、第2異常測度算出部122が局所部分空間法を用いて、それぞれ前記した手順で異常測度を算出する。
図1に戻って、異常診断装置1の構成について説明を続ける。
近似式算出部13は、異常測度算出部12から入力した過去及び現在の異常測度(フィルタ処理部124によってフィルタ処理を施された異常測度)を用いて、当該異常測度の推移を示す多項式による近似式を算出するものである。また、近似式算出部13は、参照期間設定部19から、近似式を算出する際に参照する異常測度の時系列データの参照期間についての情報を入力する。近似式算出部13は、当該情報で指示された参照期間の異常測度の時系列データにフィットする近似式を算出する。ここで、近似式を算出するとは、近似式である多項式の各係数を算出することである。また、近似式算出部13は、算出した近似式を、異常測度推定部14に出力する。
更にまた、近似式算出部13は、近似式の係数の誤差についても算出することが好ましい。これによって、近似式の信頼性を、誤差の大きさで示すことができる。近似式算出部13が係数の誤差を算出する場合は、当該係数の誤差も異常測度推定部14に出力する。
なお、近似式である多項式の次数は特に限定されるものではなく、1次以上の多項式を用いことができる。また、多項式の次数を、オペレータからの指示に応じて適宜に選択可能なように構成してもよい。例えば、図6に示すように、異常測度の推移(実線で示した波形201)と選択した次数の近似式を用いて描画した曲線(破線で示した波形202)とを表示装置や印刷装置などにグラフ表示して、オペレータが当該グラフ表示された異常測度の推移を示す曲線にフィットする適切な次数が決まるまで、次数の選択と近似式の再計算とを繰り返すことができるようにしてもよい。
ここで、異常測度の多項式近似について、3次関数で近似する場合を例に説明する。
異常測度をy、時刻をxとしたとき、異常測度yは、時刻xの3次関数として、係数a,b,c,dを用いて式(1)のように表すことができる。
y=ax+bx+cx+d ・・・(1)
係数a,b,c,dは、実測データである(x,y)の時系列データを用いて、最小二乗法を適用することで算出することができる。多項式の次数が1次、2次又は4次以上の場合も、係数の数が増減するが、最小二乗法により算出することができる。
また、係数a,b,c,dの各最確値についての誤差は、測定値である(x,y)の近似式からの誤差の分布から統計的な手法で求めることができる。すなわち、x,yの近似式からの誤差が正規分布に従うと仮定した場合に、x,yの誤差の標準偏差などから、係数a,b,c,dについて、標準誤差を算出することができる。
更に簡単な例として、異常測度yを、時刻xの1次関数で近似する場合について説明する。この場合は、近似式は、係数a,bを用いて、式(2)のように表すことができる。
y=ax+b ・・・(2)
また、係数a,bは、次のような手順で算出される。すなわち、測定値の個数をNとし、x,yについての個々の実測値を、添字iを用いて、y,xのように表し、測定値xにほとんど誤差がないと仮定すると、係数a,bは、それぞれ式(3.1),式(3.2)のように表され、更に、係数a,bの標準誤差σ,σは、式(4.3)で表されるyの誤差の標準偏差σを用いて、それぞれ式(4.1),式(4.2)のように表される。
Figure 0005771317
異常測度推定部14は、近似式算出部13から近似式として多項式の係数及び係数の誤差を入力し、当該近似式を用いて、現時点から将来にかけての所定の期間を推定期間(図7では、時刻t0から時刻t2までの期間)とし、将来の異常測度を推定する。ここで、将来の異常測度を推定するとは、例えば、近似式として前記した式(1)を用いた場合は、係数a,b,c,dと、推定期間について適宜な間隔(例えば、時系列データのサンプリングと同じ間隔)で、各時刻xについての異常測度yを算出することである。異常測度推定部14は、推定期間について算出した異常測度を、RUL算出部15及び出力部17に出力する。
なお、異常測度の推定期間は、予め定められた一定の長さの期間であってもよく、オペレータにより、キーボードやポインティングデバイスなどの適宜な入力手段を用いて指定されるようにしてもよい。
RUL算出部(稼働継続可能時間算出部)15は、異常測度推定部14から推定期間について算出された異常測度を入力して、当該推定期間の異常測度の推移に基づいて、RUL(稼働継続可能時間)を算出する。RUL算出部15は、算出したRULを、出力部17に出力する。
ここで、図7を参照して、RULを算出する方法について説明する。
なお、図7において、波形201は異常測度の実測値を示し、実線で示した波形202は近似式を用いて算出された現在の時刻までの異常測度を示し、破線で示した波形203は近似式を用いて算出された推定期間の異常測度の最確値を示している。また、過去の時刻t1から現在の時刻t0までの期間が、近似式を算出する際に参照される参照期間である。
また、閾値THは、機械設備が正常に稼働可能な限界となる異常測度の上限値を示すものである。すなわち、推定された異常測度の波形203が閾値THに達する時刻までは、機械設備が稼働可能であることを示す。従って、現在の時刻t0から推定された異常測度が当該閾値THに達する時刻までの時間を、RULの推定値(図7参照)として算出することができる。
更に、近似式を算出する際に、近似式の誤差、すなわち、近似式である多項式の係数の誤差を算出することで、当該誤差を用いて、近似式の上限値と下限値とを推定することができる。図7に示すように、推定期間において波形203は、推定された異常測度の最確値を示し、波形203の上下に点線で示した波形は、異常測度の推定値の上下限値を示すものである。
このように、推定された異常測度の最確値に加えて、例えば、式(2)において、係数a,bを最確値から標準誤差σ、σの1.96倍変化させた近似式を用いて、95%の信頼区間における異常測度の上下限値を算出することで、推定値の信頼性を把握することができる。また、異常測度の推定誤差に加えて、又は代えて、異常測度の上下限値の波形が閾値THを超える時刻を用いてRULの推定誤差を算出するようにしてもよい。
また、図7に示すように、各波形201,202,203、閾値TH、RUL推定値、RUL推定誤差などを表示してオペレータに提示することにより、異常測度の将来の推移やその信頼性(妥当性)を、オペレータが容易に把握することができる。
更に、本実施形態では、新たな診断データ(時系列データ)を取得するごとに、異常測度を算出し、当該最新の異常測度を加えた参照期間を設定し直して、逐次に近似式を算出し、更には、RULを算出し直すものである。
このように、時系列データを取得するごとに参照期間を設定し直して異常測度の近似式を再計算するため、最新の近似式に基づいてRULを推定することができる。また、近似式やRULなどの再計算に伴い、図7に示した波形等の表示内容も更新される。このため、RULの推定などの機械設備の異常診断を、常に高い精度で行うことができる。また、近似式として多項式を用いるため、非常に短いで間隔で時系列データを取得する場合でも、時系列データを取得するごとに容易に近似式を算出することができる。
図1に戻って、異常診断装置1の構成について説明を続ける。
異常予兆検知部16は、異常測度算出部12から、最新の時系列データについて算出された異常測度を入力し、当該異常測度が所定の閾値を超えているかどうかを判定することで、異常予兆の有無を検知する。異常測度が所定の閾値を超える場合は、異常予兆検知部16は、機械設備に「異常予兆あり」と診断し、当該診断結果を出力部17に出力する。
なお、異常予兆を検知するための閾値は、RULを算出するために用いた閾値THを用いることもできるが、当該閾値THよりも更に低いレベルの閾値を用いて、RULで推定される時期よりも早期に異常予兆を検知するようにしてもよい。
出力部17は、異常測度推定部14から推定期間について算出された異常測度の時系列データを入力し、RUL算出部15からRULを入力し、異常予兆検知部16から異常予兆の有無の診断結果を入力し、これらの入力データを表示するものである。また、出力部17は、これらの入力データの表示に代えて、又は加えて、不図示の上位システムであるAHM(asset health management)やEAM(enterprise asset management)にこれらのデータを出力する。また、出力部17は、更に、異常測度算出部12から過去の異常測度を入力し、近似式算出部13から近似式を入力して、図7に示すように、異常測度に関するデータをグラフ表示するようにしてもよい。
センサデータ抽出部18は、時系列データ記憶部11に蓄積された多次元のセンサデータから、異常測度に大きく影響する1又は2以上のセンサデータを抽出し、抽出したセンサデータの種別を異常測度算出部12に出力する。異常測度を算出するために用いるセンサデータの次元数を低減することで、異常測度の算出のための処理負荷を低減することができる。なお、センサデータ抽出を行わないで、異常測度算出部12は、すべての種別のセンサデータを用いて異常測度を算出するようにしてもよい。
センサデータの抽出方法としては、例えば、各センサデータ間のインパルス応答を利用することができる。すなわち、時系列データ記憶部11に蓄積されている過去に取得された時系列データを用いて各センサデータの異常測度に対するインパルス応答を調べておき、異常測度の変化に大きな影響を与えるセンサデータを予め抽出しておくことができる。
また、他の抽出方法として、異常測度が大きく変化した際に、異常測度に対する寄与度の大きなセンサデータを予め抽出するようにしてもよい。
参照期間設定部19は、異常測度算出部12から過去の異常測度の時系列データを入力し、近似式算出部13がを算出するために参照する異常測度の時系列データの期間を決定するものである。参照期間設定部19は、決定した過去の異常測度の参照期間を近似式算出部13の出力する。
参照期間設定部19は、過去の異常測度の推移を解析し、例えば、異常測度の変化の勾配が所定の閾値以上となった時点(例えば、図7の時刻t1)を始点とし、現時点(図7の時刻t0)を終点とする期間を、近似式算出のための参照期間(図7参照)として決定する。また、参照期間設定部19は、異常測度の推移を示すグラフにおいて、勾配が正の変曲点に対応する時刻を参照期間の始点とするようにしてもよい。
また、参照期間設定部19は、キーボードやマウスなどの入力手段を介してオペレータからの指示による参照期間を入力し、当該入力した参照期間を近似式算出部13に出力するようにしてもよい。
[異常診断装置の動作]
次に、図8及び図9を参照(適宜図1及び図2参照)して、実施形態に係る異常診断装置1が異常診断処理を行う動作について説明する。
図9に示すように、異常診断装置1は、時系列データ取得部10によって、機械設備に設置されたセンサの測定値であるセンサデータを時系列データとして取得する(ステップS10)。時系列データ取得部10によって取得された時系列データは、時系列データ記憶部11に正常データのデータベースとして蓄積される。なお、機械設備が正常でない状態、例えば、不図示の評価手段によってデータの妥当性が否定された時系列データは、時系列データ記憶部11に蓄積されない。
また、時系列データ記憶部11には、予め、異常測度の算出に必要な量の正常データが蓄積されているものとする。
次に、異常診断装置1は、異常測度算出部12によって、ステップS10で取得された最新の時系列データを診断データとして、過去の正常データを適宜に参照して、当該診断データについての異常測度を算出する(ステップS11)。
ここで、図9を参照して、異常測度算出部12によって行われる異常測度算出処理ステップ(S11)について説明する。
異常測度算出部12は、第1異常測度算出部121によって、第1の手法(例えば、ベクトル量子化法)を用いて異常測度を算出する(ステップS21)。
次に、異常測度算出部12は、第2異常測度算出部122によって、第2の手法(例えば、局所部分空間法)を用いて異常測度を算出する(ステップS22)。
なお、ステップS21とステップS22とは、何れを先に行ってもよく、並行して行ってもよい。
また、ステップ21及びステップS22で用いられるセンサデータの種別は、予め、センサデータ抽出部18によって抽出されているものとする。
次に、異常測度算出部12は、異常測度統合部123によって、ステップS21及びステップS22で算出された異常測度を1つの値に統合する(ステップS23)。
次に、異常測度算出部12は、フィルタ処理部124によって、ステップS23で1つの値に統合された異常測度について、最新の異常測度を含む異常測度の時系列データに最小値フィルタなどの所定のフィルタ処理を施す(ステップS24)。なお、異常測度算出部12が算出した異常測度の時系列データは、異常測度算出部12内の記憶手段に蓄積されているものとする。
図8に戻って、異常診断装置1の動作について説明を続ける。
異常診断装置1は、参照期間設定部19によって、近似式を算出するために用いる異常測度の時系列データの参照期間を設定する(ステップS12)。
次に、異常診断装置1は、近似式算出部13によって、ステップS12で設定された参照期間の時系列データを用いて、異常測度の推移を示す近似式を算出する(ステップS13)。
次に、異常診断装置1は、ステップS13で算出された近似式を用いて、推定期間である所定の将来の期間について、所定の時間間隔(例えば、時系列データのサンプリング間隔)で、異常測度を算出(推定)する(ステップS14)。
次に、異常診断装置1は、RUL算出部15によって、ステップS14で算出された異常測度の推定値を用いて、RULを算出する(ステップS15)。
次に、異常診断装置1は、異常予兆検知部16によって、ステップS11で算出された診断データについての異常測度を用いて、異常予兆の有無を診断する(ステップS16)。なお、ステップS16は、ステップS11以降の何れのタイミング行ってもよい。
次に、異常診断装置1は、出力部17によって、ステップS15で算出されたRUL、ステップS16で診断された異常予兆の有無、ステップS14で算出された異常測度の推定値などの診断結果を、不図示の表示装置に表示し、又は/及び外部の上位システムに出力する。
また、異常診断装置1は、ステップS10からステップS17までの処理を、診断データとして新たな時系列データを取得するごとに実行する。
なお、本発明は前記した実施形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、前記した実施形態は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。また、各実施形態の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
また、前記の各構成、機能、処理部、処理手段等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現してもよい。また、前記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、テープ、ファイル等の情報は、メモリや、ハードディスク、SSD(Solid State Drive)等の記録装置、又は、ICカード、SDカード、DVD等の記録媒体に置くことができる。
また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
1 異常診断装置
10 時系列データ取得部
11 時系列データ記憶部
12 異常測度算出部
13 近似式算出部
14 異常測度推定部
15 異常予兆検知部
16 RUL算出部(稼働継続可能時間算出部)
17 出力部
18 センサデータ抽出部
19 参照期間設定部
121 第1異常測度算出部
122 第2異常測度算出部
123 異常測度統合部
124 フィルタ処理部
200 異常測度の波形
201 フィルタ処理後の異常測度の波形
202 近似式の波形
203 推定期間の近似式の波形
TH 閾値

Claims (5)

  1. 機械設備の異常を診断する異常診断装置であって、
    前記機械設備に設置した複数のセンサからのセンサデータを時系列データとして取得する時系列データ取得部と、
    前記時系列データを学習データとした統計的手法により、前記機械設備の正常状態からの乖離の大きさを示す指標である異常測度を算出する異常測度算出部と、
    前記異常測度に対して、所定の時間幅における最小値を算出する最小値フィルタ処理又は所定の時間幅についての最大値を算出する最大値フィルタ処理の内の何れかのフィルタ処理を施すフィルタ処理部と、
    過去に取得した前記時系列データに基づいて算出した前記異常測度の推移を、前記フィルタ処理が施された異常測度を用いて、多項式により近似した近似式を算出する近似式算出部と、
    前記近似式を用いて、将来の所定の時点までの異常測度を推定する異常測度推定部と、を備え、
    前記時系列データ取得部によって前記時系列データを取得するごとに、前記異常測度算出部によって最新の前記時系列データについての異常測度を算出し、前記近似式算出部によって前記最新の時系列データについての異常測度を前記推移に加えた前記近似式を算出し、前記異常測度推定部によって前記近似式を用いて将来の異常測度を推定することを特徴とする異常診断装置。
  2. 前記異常測度算出部は、2以上の手法により異常測度を算出し、
    前記2以上の手法により算出した異常測度を統合する異常測度統合部を更に備え、
    前記異常測度統合部は、2以上の手法による異常測度の調和平均を算出することで前記異常測度を統合することを特徴とする請求項1に記載の異常診断装置。
  3. 前記異常測度推定部は、異常測度の最確値に加えて、統計的手法により算出される所定の前記異常測度の信頼区間の上限値又は/及び下限値を算出することで前記推定を行うことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の異常診断装置。
  4. 前記最新の時系列データを取得した時点から前記異常測度の推定値が所定の閾値を超えるまでの期間を、前記機械設備が継続して稼働可能な時間を示す稼働継続可能時間として算出する稼働継続可能時間算出部を更に備えることを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れか一項に記載の異常診断装置。
  5. 機械設備の異常を診断する異常診断方法であって、
    前記機械設備に設置した複数のセンサからのセンサデータを時系列データとして取得する時系列データ取得処理ステップと、
    前記時系列データを学習データとした統計的手法により、前記機械設備の正常状態からの乖離の大きさを示す指標である異常測度を算出する異常測度算出処理ステップと、
    前記異常測度に対して、所定の時間幅における最小値を算出する最小値フィルタ処理又は所定の時間幅についての最大値を算出する最大値フィルタ処理の内の何れかのフィルタ処理を施すフィルタ処理ステップと、
    過去に取得した前記時系列データに基づいて算出した前記異常測度の推移を、前記フィルタ処理が施された異常測度を用いて、多項式により近似した近似式を算出する近似式算出処理ステップと、
    前記近似式を用いて、将来の所定の時点までの異常測度を推定する異常測度推定処理ステップと、を含み、
    前記時系列データを取得するごとに、当該最新の時系列データについての異常測度を算出し、当該最新の時系列データについての異常測度を前記推移に加えた前記近似式を算出し、その近似式を用いて将来の異常測度を推定することを特徴とする異常診断方法。
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