JP5744299B2 - Thermal air flow sensor - Google Patents
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Description
本発明は、熱式空気流量センサに係る。
The present invention relates to a thermal air flow sensor.
従来、自動車などの内燃機関の吸入空気通路に設けられ、吸入空気量を測定する空気流量センサとして、熱式のものが質量空気量を直接検知できることから主流となってきている。 2. Description of the Related Art Conventionally, a thermal type air flow sensor that is provided in an intake air passage of an internal combustion engine such as an automobile and measures an intake air amount has become mainstream because it can directly detect the mass air amount.
最近では、半導体マイクロマシニング技術によりシリコン基板上に抵抗体や絶縁層膜を堆積した後で、KOHなどを代表とする溶材でシリコン基板の一部を除去し、薄膜部（ダイアフラム）を形成する空気流量センサが高速応答性を有することや、その応答性の速さを利用して逆流検出も可能であることから注目されている。また近年では、基板部（プリント基板や、セラミック基板など）の部品低減を目的として、流量検出素子や回路基板などを同一のリードフレーム上に実装し、その外周部を射出成形法により樹脂で封止することで、流量検出素子などを一体にした樹脂パッケージを作成することの検討が進められている。
一方、LSIやマイコンなどの半導体回路素子を樹脂で封止する場合は、回路素子とリードフレームはシート接着剤を用いて接着されることが多い。シート接着材の一般的な使用方法は、半導体回路ウエハの状態で裏面側にシート接着材を貼り付けて、ダイシング工程で個片化する際にシート接着層も同時に切断することによって、半導体回路チップ裏面全面にシート接着材が張り付いた状態となる。これによって、個片化された半導体回路素子をそのままリードフレーム上に実装することができるので、溶剤式の接着材を使用する時のように溶剤を印刷する工程が省けるといった利点がある。
電子素子と支持基板との接着について、特許文献１に記載の発明がある。
Recently, after depositing a resistor or insulating layer film on a silicon substrate by semiconductor micromachining technology, a part of the silicon substrate is removed with a solution such as KOH to form a thin film (diaphragm). Attention has been paid to the fact that the flow rate sensor has a high-speed response and that the backflow can be detected using the speed of the response. In recent years, in order to reduce the parts of the board (printed board, ceramic board, etc.), the flow detection element and circuit board are mounted on the same lead frame, and the outer periphery is sealed with resin by injection molding. By stopping the process, it has been studied to create a resin package in which the flow rate detecting element is integrated.
On the other hand, when a semiconductor circuit element such as an LSI or a microcomputer is sealed with resin, the circuit element and the lead frame are often bonded using a sheet adhesive. A general method for using a sheet adhesive is to attach a sheet adhesive on the back side in the state of a semiconductor circuit wafer, and cut the sheet adhesive layer at the same time when separating into individual pieces in a dicing process. The sheet adhesive is attached to the entire back surface. As a result, the separated semiconductor circuit elements can be mounted on the lead frame as they are, and there is an advantage that a step of printing a solvent can be omitted as in the case of using a solvent-type adhesive.
Regarding the adhesion between the electronic element and the support substrate, there is an invention described in Patent Document 1.
半導体素子に薄膜部が形成された流量検出素子を支持基板に実装する場合に、薄膜部の裏面領域が密封状態になってしまうと、温度変化や圧力変化に伴って裏面領域に密封される空気の体積が変動してしまい、薄膜部が変形する場合がある。その様な場合には、センサの特性が変化してしまうので空気流量を検出する際に誤差が生じる可能性がある。そのため、薄肉部の裏面領域を密封しないような熱式空気流量センサと支持基板との接着が求められている。
特許文献１には、取付ベースと電子部品との間を接着固定するための電子部品用接着シートに、平面視で各々所定面積を有する複数の開口部が形成されていることが開示されている。特許文献１によれば、電子部品とシート接着剤を張り合わせる際のエア巻き込みによる凸部形成を防止することができるので、取付ベースと電子部品の密着性を向上できる。
しかしながら、特許文献１で扱われている電子部品はICチップなどを代表とした、裏面加工が施されていない集積回路チップである。それゆえ特許文献１は、流量検出素子の薄膜部の裏面領域を密封しないようにするといった課題についてはなんら考慮がされていない。
本発明の目的は、検出精度の高い熱式空気流量センサを提供することである。
When a flow rate detection element having a thin film portion formed on a semiconductor element is mounted on a support substrate, if the back surface region of the thin film portion is in a sealed state, the air sealed to the back surface region due to temperature change or pressure change May change, and the thin film portion may be deformed. In such a case, the characteristics of the sensor will change, and an error may occur when detecting the air flow rate. Therefore, there is a demand for adhesion between the thermal air flow sensor and the support substrate so as not to seal the back surface region of the thin wall portion.
Patent Document 1 discloses that a plurality of openings each having a predetermined area in a plan view are formed in an electronic component adhesive sheet for bonding and fixing between an attachment base and an electronic component. . According to Patent Document 1, since it is possible to prevent the formation of a convex portion due to air entrainment when the electronic component and the sheet adhesive are bonded together, the adhesion between the mounting base and the electronic component can be improved.
However, the electronic component dealt with in Patent Document 1 is an integrated circuit chip that is not subjected to back surface processing, such as an IC chip. Therefore, in Patent Document 1, no consideration is given to the problem of preventing the back surface region of the thin film portion of the flow rate detecting element from being sealed.
An object of the present invention is to provide a thermal air flow sensor with high detection accuracy.
上記目的を達成するために、本発明の熱式空気流量センサは、ダイアフラムに形成される発熱抵抗体を有する半導体素子と、前記半導体素子を搭載する側の搭載面と、一方が前記搭載面のうち前記ダイアフラムの裏面側に対応する領域に開口する連通孔と、を有する支持部材と、前記半導体素子と前記支持部材とを接着し、連通孔を有するシート接着剤と、前記支持部材に形成される連通孔と、前記シート接着剤に形成される連通孔とを用いて形成される連通通路と、を有する。
In order to achieve the above object, a thermal air flow sensor of the present invention includes a semiconductor element having a heating resistor formed in a diaphragm, a mounting surface on the side where the semiconductor element is mounted, and one of the mounting surfaces. Of these, a support member having a communication hole that opens in a region corresponding to the rear surface side of the diaphragm, a sheet adhesive having a communication hole for bonding the semiconductor element and the support member, and the support member are formed. that has a communication hole, and a communicating passage formed by using a communication hole formed in the sheet adhesive.
本発明によれば、検出精度の高い熱式空気流量センサを提供することができる。
The present invention can provide a thermal air flow sensor with high detection accuracy.
本発明の熱式空気流量センサについて、図８を用いて説明する。
本発明の熱式空気流量センサは、吸入空気１を自動車の内燃機関（図示せず）に供給するための吸気管路５内に、ハウジング３と、半導体パッケージ２とを設ける。
ハウジング３は、外部と電気的に接続するためのコネクタ部１２と、回路が配設される回路室１６と、ハウジング３を吸気管路５に固定するフランジ部４と、吸入空気１の一部を取り込む副通路６を備えている。
コネクタ部１２は、コネクタ端子８を有している。コネクタ端子８は、一端が回路室１６に延伸して半導体パッケージ２と回路室１６内で電気的に接続され、もう一端がコネクタ部１２の嵌合部に延伸して外部端子と電気的に接続される。
ハウジング３は回路室１６とコネクタ部１２の嵌合部に連通する連通孔９が構成されている。連通孔９により、回路室１６を吸気管外と連通しており、回路室１６が密閉されることを防止している。
半導体パッケージ２は、リードフレーム１０と半導体基板２０と回路素子と温度センサとを封止樹脂６０により一体成型することにより作成される。また、半導体パッケージ２は、流量検出部７を吸入空気にさらすように、樹脂６０で覆わずに部分的に露出する領域を有している。流量検出部７は、副通路６内に設けられ、副通路６内を流れる流体の流量から、吸入空気１の流量を算出する。
The thermal air flow sensor of the present invention will be described with reference to FIG.
The thermal air flow sensor of the present invention includes a housing 3 and a semiconductor package 2 in an intake pipe 5 for supplying intake air 1 to an internal combustion engine (not shown) of an automobile.
The housing 3 includes a connector portion 12 for electrical connection to the outside, a circuit chamber 16 in which a circuit is disposed, a flange portion 4 that fixes the housing 3 to the intake pipe 5, and a part of the intake air 1. Is provided.
The connector portion 12 has connector terminals 8. One end of the connector terminal 8 extends to the circuit chamber 16 and is electrically connected to the semiconductor package 2 in the circuit chamber 16, and the other end extends to the fitting portion of the connector portion 12 and is electrically connected to the external terminal. Is done.
The housing 3 includes a communication hole 9 that communicates with a fitting portion between the circuit chamber 16 and the connector portion 12. The communication hole 9 communicates the circuit chamber 16 with the outside of the intake pipe and prevents the circuit chamber 16 from being sealed.
The semiconductor package 2 is formed by integrally molding the lead frame 10, the semiconductor substrate 20, the circuit element, and the temperature sensor with a sealing resin 60. Further, the semiconductor package 2 has a region that is partially exposed without being covered with the resin 60 so that the flow rate detection unit 7 is exposed to the intake air. The flow rate detector 7 is provided in the sub-passage 6 and calculates the flow rate of the intake air 1 from the flow rate of the fluid flowing in the sub-passage 6.
本発明の第一実施例を図１から図３を用いて説明する。
A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
図１に示されるように、流量検出素子１５はシリコンなどの半導体基板２０上に絶縁膜層および抵抗体層の積層構造膜２６が形成されており、水酸化カリウム（ＫＯＨ）などを用いて半導体基板２６の裏面側を部分的に除去することでダイアフラム２５を形成している。ダイアフラム２５上に、発熱抵抗体２１と、上流側測温抵抗体２２と、下流側測温抵抗体２３と、が形成される。また半導体基板２０の表面には電極パッド４０が形成されており金線などのワイヤボンディング５０を介して半導体基板２０の外部と電気的に接続される。この流量検出素子１５は、リードフレーム１０上にシート接着剤３０で固定されている。
As shown in FIG. 1, the flow rate detection element 15 includes a laminated structure film 26 of an insulating film layer and a resistor layer formed on a semiconductor substrate 20 such as silicon, and a semiconductor using potassium hydroxide (KOH) or the like. The diaphragm 25 is formed by partially removing the back side of the substrate 26. On the diaphragm 25, the heating resistor 21, the upstream temperature measuring resistor 22, and the downstream temperature measuring resistor 23 are formed. An electrode pad 40 is formed on the surface of the semiconductor substrate 20 and is electrically connected to the outside of the semiconductor substrate 20 via a wire bonding 50 such as a gold wire. The flow rate detection element 15 is fixed on the lead frame 10 with a sheet adhesive 30.
リードフレーム１０にはダイアフラム２５の裏面側の空洞部の換気を目的とした換気孔１１が形成されている。さらに換気孔３５がシート接着剤３０に形成されている。シート接着剤３０のダイアフラム開口端部２４とリードフレーム１０に形成された換気孔１１とが一致する領域内に換気孔３５を形成することで形成することで、ダイアフラム２５の裏面側の空洞部とリードフレーム１０に形成された換気孔１１とを連通している。
A ventilation hole 11 is formed in the lead frame 10 for the purpose of ventilating the cavity on the back side of the diaphragm 25. Further, a ventilation hole 35 is formed in the sheet adhesive 30. By forming the ventilation hole 35 in the region where the diaphragm opening end 24 of the sheet adhesive 30 and the ventilation hole 11 formed in the lead frame 10 coincide with each other, the cavity on the back side of the diaphragm 25 is formed. The ventilation hole 11 formed in the lead frame 10 is communicated.
したがって、図1に示す構造体においてダイアフラム２５の裏面側の空洞部は換気孔１１、３５を介して外気と連通することができる。
Therefore, in the structure shown in FIG. 1, the cavity on the back side of the diaphragm 25 can communicate with the outside air through the ventilation holes 11 and 35.
次に、図１の構造体を用いて、ダイアフラム２５を含む領域を部分的に露出するように樹脂封止した構造について図２を用いて示す。
図１の構造体の外周部は、封止樹脂６０によって封止されるが、流量検出部であるダイアフラム２５を含む領域を部分的に露出するための開口部６１が封止樹脂６０に形成されている。また、リードフレーム１０に形成された換気孔１１と外気とを連通するための開口部６２が、封止樹脂６０の開口部６１が形成されている反対側に形成されている。開口部６２を設けることにより、流量検出素子１５やリードフレーム１０を封止樹脂６０により封止した場合でも、ダイアフラム裏面が外気と連通し、密封状態となることを回避できる。
Next, a structure in which the region including the diaphragm 25 is resin-sealed so as to partially expose the structure of FIG. 1 will be described with reference to FIG.
The outer peripheral portion of the structure of FIG. 1 is sealed with a sealing resin 60, but an opening 61 is formed in the sealing resin 60 to partially expose a region including the diaphragm 25 that is a flow rate detection unit. ing. Further, an opening 62 for communicating the ventilation hole 11 formed in the lead frame 10 with the outside air is formed on the opposite side where the opening 61 of the sealing resin 60 is formed. By providing the opening 62, even when the flow rate detection element 15 and the lead frame 10 are sealed with the sealing resin 60, it is possible to prevent the rear surface of the diaphragm from communicating with the outside air and being in a sealed state.
封止樹脂６０により流量検出素子１５やリードフレーム１０を封止すると、ダイアフラム裏面側に形成される空洞部が密閉されてしまう。自動車の吸気系に配置される熱式空気流量センサは、-４０〜１３０℃の温度変化の生じる環境下に配置されるため、密閉空間に空気が封止されてしまうと、この温度環境化において封止された空気が熱膨張することによりダイアフラム２５が変形してしまう可能性がある。ダイアフラム２５が変形した場合、ダイアフラム２５上に形成されている発熱抵抗体２１、上流側側温抵抗体２２、下流側側温抵抗体２３の抵抗値が変化してしまうので、流量検出時に誤差が生じてしまう。本実施例によれば、リードフレーム１０とシート接着剤３０と封止樹脂６０とにそれぞれ換気孔１１、３５、６２を設けることでダイアフラム２５の裏面側が大気と連通しているので、熱式空気流量センサが高温化にさらされたとしてもダイアフラムの変形を抑えることができる。それゆえ、本発明によると熱による検出誤差を抑制することができるので、検出精度の高い熱式流量センサを提供することができる。
When the flow rate detecting element 15 and the lead frame 10 are sealed with the sealing resin 60, the cavity formed on the back side of the diaphragm is sealed. Since the thermal air flow sensor disposed in the intake system of an automobile is disposed in an environment where a temperature change of −40 to 130 ° C. occurs, if air is sealed in a sealed space, There is a possibility that the diaphragm 25 is deformed by the thermal expansion of the sealed air. When the diaphragm 25 is deformed, the resistance values of the heating resistor 21, the upstream temperature resistor 22, and the downstream temperature resistor 23 formed on the diaphragm 25 change, so that an error occurs when detecting the flow rate. It will occur. According to the present embodiment, the lead frame 10, the sheet adhesive 30 and the sealing resin 60 are provided with the ventilation holes 11, 35 and 62, respectively, so that the back side of the diaphragm 25 communicates with the atmosphere. Even if the flow sensor is exposed to high temperature, the deformation of the diaphragm can be suppressed. Therefore, according to the present invention, detection errors due to heat can be suppressed, so that a thermal flow sensor with high detection accuracy can be provided.
次に、樹脂封止をする方法について図３を用いて説明する。
流量検出素子１５とリードフレーム１０とを封止樹脂６０で一体に封止して作成した半導体パッケージ２は、空気流量を検出するために、ダイアフラム２５を直接測定媒体である吸入空気にさらす必要がある。封止樹脂６０から部分的に露出し、測定媒体に曝されていなければならない。これを実現する方法として、流量検出素子１５を実装したリードフレーム１０を下金型８０と上金型８１で挟み込む。この時、下金型８０、上金型８１を問わずに封止樹脂を流し込む挿入口８２が設けられている。さらに、開口部６１を形成するために、上金型８１とは別の金型である入れ駒８３を上金型８１に挿入するような構造としており、この入れ駒８３を上部から荷重をかけて流量検出素子１５の表面と密着させる。
また、下金型にはリードフレーム１０に形成された換気孔１１に封止樹脂が流れ込まないように突起部が形成されている。この突起部とリードフレーム１０とを、換気孔１１を含む領域とで密着させることで開口部６２が形成されるようになる。この状態で挿入口８２から封止樹脂６０を流し込めば、図２に示した半導体パッケージを製造することができる。
本発明の第二実施例について図4から図６を用いて説明する。なお、第一実施例と同じ構成については説明を省略する。
Next, a resin sealing method will be described with reference to FIG.
In the semiconductor package 2 formed by integrally sealing the flow rate detection element 15 and the lead frame 10 with the sealing resin 60, it is necessary to expose the diaphragm 25 directly to the intake air as the measurement medium in order to detect the air flow rate. is there. It must be partially exposed from the sealing resin 60 and exposed to the measurement medium. As a method for realizing this, the lead frame 10 on which the flow rate detecting element 15 is mounted is sandwiched between the lower mold 80 and the upper mold 81. At this time, an insertion port 82 through which the sealing resin is poured regardless of the lower mold 80 and the upper mold 81 is provided. Further, in order to form the opening 61, a structure is adopted in which a slot 83, which is a mold different from the upper mold 81, is inserted into the upper mold 81, and a load is applied to the slot 83 from above. Then, it is brought into close contact with the surface of the flow rate detecting element 15.
Further, the lower mold is formed with a protrusion so that the sealing resin does not flow into the ventilation hole 11 formed in the lead frame 10. The protrusion 62 and the lead frame 10 are brought into close contact with the region including the ventilation hole 11 so that the opening 62 is formed. If the sealing resin 60 is poured from the insertion port 82 in this state, the semiconductor package shown in FIG. 2 can be manufactured.
A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The description of the same configuration as in the first embodiment is omitted.
図4に示されるように、本発明の第二実施例は、半導体基板２０とリードフレーム１０との間に基板支持部材７０を設けている。半導体基板２０と基板支持部材７０とがシート接着剤３０によって接着されている。基板支持部材７０は、ダイアフラム２５の裏面側に形成される空洞領域に換気孔７１が形成され、換気孔７１が設けられる面と同一面上であって半導体基板２０が設けられていない領域に換気孔７２が形成されている。シート接着剤３０は、ダイアフラム２５の裏面側の空洞部と基板支持体に設けられた換気孔７１とを連通するために換気孔３５が形成されている。さらに、基板支持部材７０に設けられた溝７３とリードフレーム１０とによって連通通路を形成し、該連通通路を介して換気孔７１と換気孔７２を連通させている。上記構成によりダイアフラム２５の裏面側の空洞部が密封されることを防止している。
As shown in FIG. 4, in the second embodiment of the present invention, a substrate support member 70 is provided between the semiconductor substrate 20 and the lead frame 10. The semiconductor substrate 20 and the substrate support member 70 are bonded by the sheet adhesive 30. The substrate support member 70 has a ventilation hole 71 formed in a hollow area formed on the back side of the diaphragm 25, and is ventilated in an area where the semiconductor substrate 20 is not provided on the same surface as the surface where the ventilation hole 71 is provided. A hole 72 is formed. In the sheet adhesive 30, a ventilation hole 35 is formed in order to communicate the cavity on the back surface side of the diaphragm 25 and the ventilation hole 71 provided in the substrate support. Furthermore, a communication path is formed by the groove 73 provided in the substrate support member 70 and the lead frame 10, and the ventilation hole 71 and the ventilation hole 72 are communicated with each other through the communication path. With the above configuration, the cavity on the back side of the diaphragm 25 is prevented from being sealed.
このような構造体の利点として、半導体パッケージ２の裏面側が別の支持部材に全面接着されるような、図2で示される開口部６２が半導体パッケージと接着している支持部材により密封されてしまう場合にダイアフラム裏面側の空洞部の密封を防止するのに有効である。
As an advantage of such a structure, the opening 62 shown in FIG. 2 is sealed by the support member bonded to the semiconductor package, such that the back surface side of the semiconductor package 2 is bonded to another support member. In this case, it is effective to prevent sealing of the cavity on the back side of the diaphragm.
なお、図4を用いた説明では、基板支持部材７０に溝７３を形成した構造となっているが、リードフレーム１０に溝７３形成して、基板支持部材７０とリードフレーム１０とで連通通路を構成する場合も同様の効果が得られる。
次に、図４の構造体を用いて、ダイアフラム２５を含む領域を部分的に露出するように樹脂封止した構造について図５を用いて示す。
図５に示されるように、基板支持部材７０に形成された換気孔７２と外気とを連通するような開口部６３が封止樹脂６０に設けられている。上記構成により、封止樹脂６０で流量検出素子１５とリードフレーム１０と基板支持部材７０とを一体に封止する場合でも、ダイアフラム２５の裏面側の空洞部が密封されることを防いでいるので、流量検出誤差を抑制することができる。そのため、本発明の第二実施例は、検出精度の高い熱式流量センサを提供することができる。
第二実施例を用いた熱式流量計について図６を用いて説明する。
流量検出部７が副通路６内に配置され、換気孔７２および開口部６３が回路室１６内に配置されている。ダイアフラム２５の裏面側の空洞部は、シート接着剤３０に設けられる換気孔３５と、基板支持部材７０に設けられる換気孔７１と、基板支持部材７０とリードフレーム１０とによって形成された連通路と、基板支持部材７０に設けられる換気孔７２と、封止樹脂６０にも設けられる開口部６３とを介して回路室１６内に連通される。また、回路室１６はハウジング３に設けられた換気孔９を介して吸気管外と連通している。上記構成によって、ダイアフラム２５の裏面側の空洞部が密封されることを防止している。
第二実施例の利点としては、ダイアフラム２５の裏面側の空洞部をダストなどの汚損物が流れている副通路と連通するのでなく、回路室１６を介して吸気管外の外気と連通することができるので、ダイアフラム２５の裏面側の空洞部にダストなどの汚損物が飛来することを抑制でき、耐汚損性が向上することができる点である。また、副通路６を流れるダストやオイルなどにより開口部６３や換気孔７２が塞がることがないので、信頼性が向上する。
In the description using FIG. 4, the substrate support member 70 has a groove 73, but the lead frame 10 is formed with a groove 73, and a communication path is formed between the substrate support member 70 and the lead frame 10. The same effect can be obtained also when configured.
Next, a structure in which the region including the diaphragm 25 is resin-sealed so as to partially expose the structure shown in FIG. 4 will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 5, an opening 63 is provided in the sealing resin 60 so as to communicate the ventilation hole 72 formed in the substrate support member 70 with the outside air. With the above configuration, even when the flow rate detecting element 15, the lead frame 10, and the substrate support member 70 are integrally sealed with the sealing resin 60, the cavity on the back side of the diaphragm 25 is prevented from being sealed. The flow rate detection error can be suppressed. Therefore, the second embodiment of the present invention can provide a thermal flow sensor with high detection accuracy.
A thermal flow meter using the second embodiment will be described with reference to FIG.
The flow rate detection unit 7 is disposed in the auxiliary passage 6, and the ventilation hole 72 and the opening 63 are disposed in the circuit chamber 16. The cavity on the back side of the diaphragm 25 is a ventilation hole 35 provided in the sheet adhesive 30, a ventilation hole 71 provided in the substrate support member 70, and a communication path formed by the substrate support member 70 and the lead frame 10. The circuit chamber 16 communicates with each other through a ventilation hole 72 provided in the substrate support member 70 and an opening 63 provided also in the sealing resin 60. The circuit chamber 16 communicates with the outside of the intake pipe through a ventilation hole 9 provided in the housing 3. With the above configuration, the cavity on the back surface side of the diaphragm 25 is prevented from being sealed.
As an advantage of the second embodiment, the cavity on the back side of the diaphragm 25 is not communicated with a sub-passage through which dirt such as dust flows but communicated with outside air outside the intake pipe via the circuit chamber 16. Therefore, it is possible to suppress the fouling material such as dust from flying into the cavity on the back surface side of the diaphragm 25, and to improve the fouling resistance. Further, since the opening 63 and the ventilation hole 72 are not blocked by dust, oil, or the like flowing through the sub passage 6, reliability is improved.
本発明の第三実施例を、図７を用いて説明する。
A third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
図７（a）は、半導体基板２０を裏面から見た場合の外観を示している。本実施例においては、ダイアフラム２５の裏面側の開口形状に対し、リードフレーム１０に形成された換気孔１１の方が小さい場合を示した図である。この場合、ダイアフラム２５の裏面側に形成される空洞部と換気孔１１を連通させるために一致させる領域はリードフレーム１０に設けられる換気孔１１の領域となる。つまり、換気孔１１の領域がダイアフラム裏面開口端部内２４のどの場所に形成される場合おいても、ダイアフラム２５の裏面側の空洞部を密封させないためには、換気孔１１の領域に少なくとも一つ以上の換気孔がシート接着剤３０に設けられている必要がある。
図７（ｂ）および図７（ｃ）に示されるように、本発明の第三実施例のシート接着剤３０には複数の換気孔３５が形成されている。多数個設けられた換気孔３５は、所定の間隔で３６，３７設けられている。ここで、所定の間隔とは、隣り合う連通孔の中心間の距離のことを示す。上述したとおり、換気孔３５はダイアフラムの裏面側の空洞部とリードフレーム１０に設けられた換気孔１１とを連通するように設けられる必要がある。そこで、所定の間隔３６，３７の内最も大きい間隔を、ダイアフラム裏面開口端部２４の領域とリードフレーム１０に形成された換気孔１１の領域とが一致する領域の最小寸法よりも小さくしている。上記構成により、ダイアフラム裏面開口端部２４の領域には、シート接着剤３０に設けられた複数個の換気孔３５のうち、少なくともひとつが必ず位置するようになるので、ダイアフラム２５裏面側の空洞部の密封を回避することができる。
本発明の第三実施例によれば、シート接着剤３０を流量検出素子に貼り付ける際の位置合わせが不要となり、製造工程を簡略化できるので、より低コストにダイアフラム２５の裏面側の空洞部の密封を防止できる。そのため、本発明の第三実施例によると流量検出誤差を抑制することができるので、検出精度の高い熱式流量センサを提供することができる。
また、換気孔３５の寸法は、半導体基板の外周部２７とダイアフラム裏面開口端部２４の間隔の最小寸法２８よりも小さくなるように構成されている。封止樹脂６０で流量検出素子１５などを樹脂封止する場合、換気孔の寸法が大きすぎると、流量検出素子１５の接着面とリードフレーム１０との間にダイアフラム２５の裏面側の空洞部と検出素子１５外とを連通するような隙間が発生してしまう。この隙間から封止樹脂６０がダイアフラム２５の裏面側へ漏れてしまう虞があるところ、上記構成によって該連通するような隙間が形成されないようにしているので、封止樹脂６０がダイアフラム２５の裏面側の空洞部に漏れ出ることを防止することができる。そのため、樹脂成形時の信頼性が向上する。
本発明の第三実施例のシート接着剤３０を、本発明の第一実施例および本発明の第二実施例に適応すると、ダイアフラム２５の裏面側の空洞部の密封を、低コストに実現できる。
なお、本発明の第一実施例から第二実施例における換気孔３５は、説明上円の形状としているが、その形状が正方形や長方形、あるいはだ円などのその他の形状であっても同様の効果が得られる。
FIG. 7A shows an appearance when the semiconductor substrate 20 is viewed from the back surface. In this embodiment, the ventilation hole 11 formed in the lead frame 10 is smaller than the opening shape on the back surface side of the diaphragm 25. In this case, a region formed in order to communicate the cavity formed on the back surface side of the diaphragm 25 and the ventilation hole 11 is a region of the ventilation hole 11 provided in the lead frame 10. In other words, in order to prevent the cavity on the back surface side of the diaphragm 25 from being sealed no matter where the region of the ventilation hole 11 is formed in any part of the diaphragm back surface opening end portion 24, at least one region in the ventilation hole 11 region. The above ventilation holes need to be provided in the sheet adhesive 30.
As shown in FIGS. 7B and 7C, a plurality of ventilation holes 35 are formed in the sheet adhesive 30 of the third embodiment of the present invention. A large number of ventilation holes 35 are provided 36 and 37 at predetermined intervals. Here, the predetermined interval indicates a distance between the centers of adjacent communication holes. As described above, the ventilation hole 35 needs to be provided so that the cavity on the back side of the diaphragm communicates with the ventilation hole 11 provided in the lead frame 10. Therefore, the largest interval among the predetermined intervals 36 and 37 is made smaller than the minimum dimension of the region where the region of the diaphragm back surface opening end 24 and the region of the ventilation hole 11 formed in the lead frame 10 coincide. . With the above configuration, since at least one of the plurality of ventilation holes 35 provided in the sheet adhesive 30 is always located in the region of the diaphragm back surface opening end portion 24, the cavity portion on the back surface side of the diaphragm 25 is provided. Sealing can be avoided.
According to the third embodiment of the present invention, alignment at the time of attaching the sheet adhesive 30 to the flow rate detecting element becomes unnecessary, and the manufacturing process can be simplified, so that the cavity on the back side of the diaphragm 25 can be reduced at a lower cost. Can be prevented. Therefore, according to the third embodiment of the present invention, since the flow rate detection error can be suppressed, a thermal flow rate sensor with high detection accuracy can be provided.
Further, the size of the ventilation hole 35 is configured to be smaller than the minimum size 28 of the interval between the outer peripheral portion 27 of the semiconductor substrate and the diaphragm back surface opening end portion 24. When sealing the flow rate detection element 15 or the like with the sealing resin 60, if the dimension of the ventilation hole is too large, the cavity on the back side of the diaphragm 25 is between the adhesive surface of the flow rate detection element 15 and the lead frame 10. A gap that communicates with the outside of the detection element 15 is generated. The sealing resin 60 may leak to the back side of the diaphragm 25 from this gap. However, since the gap is not formed by the above configuration, the sealing resin 60 is on the back side of the diaphragm 25. It is possible to prevent leakage into the hollow portion. Therefore, the reliability at the time of resin molding improves.
When the sheet adhesive 30 of the third embodiment of the present invention is applied to the first embodiment of the present invention and the second embodiment of the present invention, sealing of the cavity on the back surface side of the diaphragm 25 can be realized at low cost. .
In addition, although the ventilation hole 35 in the first embodiment to the second embodiment of the present invention has a circular shape for the sake of explanation, the same is true even if the shape is other shapes such as a square, a rectangle, or an ellipse. An effect is obtained.
1・・・吸入空気
2・・・半導体パッケージ
3・・・ハウジング
4・・・フランジ部
5・・・吸気管路
6・・・副通路
7・・・流量検出部
8・・・コネクタ端子
9・・・換気孔
10・・・リードフレーム
11・・・換気孔
12・・・コネクタ部
15・・・流量検出素子
16・・・回路室
20・・・半導体基板
21・・・発熱抵抗体
22・・・上流側温抵抗体
23・・・下流側温抵抗体
24・・・ダイアフラム裏面開口端部
25・・・ダイアフラム
26・・・絶縁膜層および抵抗体層の積層構造膜
27・・・半導体素子裏面外周部
28・・・ダイアフラム裏面開口端から半導体素子裏面外周部との最小寸法
30・・・シート接着剤
35・・・換気孔
36・・・所定の間隔
37・・・所定の間隔
40・・・電極パッド
50・・・ボンディングワイヤ
60・・・封止樹脂
61・・・開口部
62・・・開口部
63・・・開口部
70・・・基板支持部材
71・・・換気孔
72・・・換気孔
73・・・溝
80・・・モールド下金型
81・・・モールド上金型
82・・・樹脂流し口
83・・・入れ駒
1 ... Intake air
2 ... Semiconductor package
3 ... Housing
4 ... Flange
5 ... Intake pipe
6 ... Sub-passage
7 ... Flow rate detector
8 ... Connector terminal
9 ... Ventilation hole
10 ... Lead frame
11 ... Ventilation hole
12 ... Connector
15 ... Flow detection element
16 ... Circuit room
20 ... Semiconductor substrate
21 ... Heat resistor
22 ... Upstream temperature resistor
23 ・ ・ ・ Downstream temperature resistor
24 ・ ・ ・ Diaphragm back surface opening edge
25 ... Diaphragm
26 ... Laminated structure film of insulating film layer and resistor layer
27 ・ ・ ・ Semiconductor element backside outer periphery
28 ... Minimum dimension from the diaphragm opening to the outer periphery of the back of the semiconductor element
30 ... Sheet adhesive
35 ... Ventilation hole
36 ... predetermined interval
37 ... predetermined interval
40 ... Electrode pad
50 ... Bonding wire
60 ・ ・ ・ Sealing resin
61 ... Opening
62 ... Opening
63 ... Opening
70 ... Substrate support member
71 ・ ・ ・ Ventilation hole
72 ... Ventilation hole
73 ・ ・ ・ Groove
80 ... Under mold
81 ... Mold on mold
82 ... Resin outlet
83 ...
Claims (9)
前記半導体素子を搭載する側の搭載面と、一方が前記搭載面のうち前記ダイアフラムの裏面側に対応する領域に開口する連通孔と、を有する支持部材と、
前記半導体素子と前記支持部材とを接着し、連通孔を有するシート接着剤と、
前記支持部材に形成される連通孔と、前記シート接着剤に形成される連通孔とを用いて形成される連通通路と、
を有する熱式物理量検出装置。 A semiconductor element having a heating resistor formed in a diaphragm;
A support member having a mounting surface on the side on which the semiconductor element is mounted, and a communication hole that opens in a region corresponding to the back surface side of the diaphragm on the mounting surface,
Adhering the semiconductor element and the support member, a sheet adhesive having a communication hole,
A communication passage formed using a communication hole formed in the support member and a communication hole formed in the sheet adhesive;
A thermal physical quantity detection device comprising:
前記樹脂は、前記ダイアフラムを露出させるための第一の開口部と、前記支持部材に設けられた連通孔を露出させるための第二の開口部とを有している請求項３に記載の熱式空気流量センサ。 Having a resin that integrally seals the support member and the flow rate detecting element;
The heat according to claim 3, wherein the resin has a first opening for exposing the diaphragm and a second opening for exposing a communication hole provided in the support member. Air flow sensor.
前記支持部材は、一方が前記搭載面のうち前記半導体素子に覆われていない領域に開口する第二の連通孔と、前記搭載面と対向する面に設けられた溝と、を有し、
前記連通通路は、前記第二の連通孔と前記溝とを用いて形成される請求項１に記載の熱式物理量検出装置。 A lead frame bonded to the support member;
The support member has a second communication hole that opens in a region of the mounting surface that is not covered with the semiconductor element, and a groove provided in a surface facing the mounting surface,
The thermal physical quantity detection device according to claim 1, wherein the communication path is formed using the second communication hole and the groove.
前記支持部材は、一方が前記搭載面のうち前記半導体素子に覆われていない領域に開口する第二の連通孔を有し、
前記連通通路は、前記第二の連通孔と前記溝とを用いて形成される請求項１に記載の熱式物理量検出装置。 A lead frame having a groove bonded to the support member and formed on a surface on the support member side;
The support member has a second communication hole that opens in a region of the mounting surface that is not covered with the semiconductor element,
The thermal physical quantity detection device according to claim 1, wherein the communication path is formed using the second communication hole and the groove.
前記樹脂は、前記ダイアフラムを露出させるための第一の開口部と、前記支持部材に設けられた第二の連通孔を露出させるための第二の開口部とを有している請求項７または請求項８に記載の熱式空気流量センサ。 A resin that integrally seals the lead frame, the support member, and the semiconductor element;
The said resin has the 1st opening part for exposing the said diaphragm, and the 2nd opening part for exposing the 2nd communicating hole provided in the said supporting member. The thermal air flow sensor according to claim 8.
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