JP5737386B2 - フーリエ変換型分光計およびフーリエ変換型分光方法 - Google Patents
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Description
Erasable Programmable Read Only Memory)等の不揮発性記憶素子、このCPUのいわゆるワーキングメモリとなるRAM(Random Access Memory)等の揮発性記憶素子およびその周辺回路等を備えたマイクロコンピュータによって構成される。そして、制御演算部41には、プログラムを実行することによって、機能的に、スペクトル演算部411と、センターバースト位置演算部412とが構成される。
Claims (9)
- 測定対象の被測定光が入射され、前記被測定光の入射位置から干渉位置までの間に、第1透明基板の一方の面上に形成された半透鏡によって形成される2個の第1および第2光路を備え、前記被測定光を前記半透鏡で2個の第1および第2被測定光に分岐して前記第1光路の固定鏡および光軸方向に移動する前記第2光路の移動鏡にそれぞれ入射させ、前記固定鏡で反射された前記第1被測定光および前記移動鏡で反射された前記第2被測定光を前記半透鏡で互いに干渉させるマイケルソン干渉計と、
前記第1および第2光路のそれぞれが仮に同一の媒質で形成され、前記移動鏡が静止時の基準位置に位置し、かつ、前記第1透明基板の厚さを無視した場合に前記第1および第2光路間の光路差がゼロとなるように前記半透鏡、前記固定強および前記移動鏡をそれぞれ配置した場合において実際には前記厚さを持つ前記第1透明基板により前記第1および第2光路間に位相差が生じる前記第2光路にさらに配置され、前記第1および第2光路間の位相差をさらに拡大する第1位相差板と、
所定の線幅を持つレーザ光を前記マイケルソン干渉計に入射させることによって得られた前記レーザ光の干渉光における光強度の包絡線を検波し、前記検波された包絡線の極大値を与える位置をセンターバーストの位置として検出するセンターバースト位置検出部と、
前記マイケルソン干渉計によって得られた前記被測定光の干渉光を受光して前記被測定光の干渉光における光強度を出力する第1受光部と、
前記第1受光部の出力をアナログ信号からディジタル信号へ変換して被測定光のインターフェログラムを出力する1個のアナログ−ディジタル変換部と、
前記アナログ−ディジタル変換器で変換したディジタル信号の前記被測定光のインターフェログラムを、前記センターバースト位置検出部によって検出されたセンターバーストの位置に基づいてフーリエ変換を行うことによって前記被測定光のスペクトルを求めるスペクトル演算部とを備えること
を特徴とするフーリエ変換型分光計。 - 前記マイケルソン干渉計は、前記第1および第2光路を通過するそれぞれの光において、光路延長を伴う屈折領域数の差が2以上となるように、少なくとも一方の光路中に第2透明基板から成る光学素子を備えること
を特徴とする請求項1に記載のフーリエ変換型分光計。 - 前記被測定光を前記半透鏡で2個の第1および第2被測定光に分岐する場合において、前記半透鏡で反射された前記半透鏡の反射側に配置される第2位相差板をさらに備え、
前記第2位相差板は、前記半透鏡で生じる位相差と異なる位相差を生じさせること
を特徴とする請求項2に記載のフーリエ変換型分光計。 - 測定対象の被測定光が入射され、前記被測定光の入射位置から干渉位置までの間に、複数の光学素子によって形成される2個の光路を備え、前記2個の光路のそれぞれが仮に同一の媒質で形成されている場合に前記2個の光路間の光路差がゼロとなるように前記複数の光学素子を配置した場合において実際には前記光路間に位相差を持つ有位相差干渉計と、
所定の線幅を持つレーザ光を前記有位相差干渉計に入射させることによって得られた前記レーザ光の干渉光における光強度の包絡線を検波し、前記検波された包絡線の極大値を与える位置をセンターバーストの位置として検出するセンターバースト位置検出部と、
前記有位相差干渉計によって得られた前記被測定光のインターフェログラムを、前記センターバースト位置検出部によって検出されたセンターバーストの位置に基づいてフーリエ変換を行うことによって前記被測定光のスペクトルを求めるスペクトル演算部とを備えること
を特徴とするフーリエ変換型分光計。 - 後記第2受光部の出力のゼロクロスを検出し、前記検出したゼロクロスタイミングをサンプリングタイミングとして前記アナログ−ディジタル変換部へ出力するゼロクロス検出部とをさらに備え、
前記センターバースト位置検出部は、所定の線幅を持つレーザ光を前記マイケルソン干渉計に入射させる位置測定用光源と、前記マイケルソン干渉計によって得られた前記レーザ光の干渉光を受光して前記レーザ光の干渉光における光強度を出力する第2受光部と、前記第2受光部の出力の包絡線を検波する包絡線検波部と、前記包絡線検波部で検波された包絡線の極大値を与える位置を前記センターバーストの位置として検出するセンターバースト位置演算部とを備えること
を特徴とする請求項1に記載のフーリエ変換型分光計。 - 前記位置測定用光源は、単色レーザ光を高周波重畳することによって前記所定の線幅を持つレーザ光を放射するレーザ装置であること
を特徴とする請求項5に記載のフーリエ変換型分光計。 - 前記位置測定用光源は、前記所定の線幅を持つレーザ光を放射する半導体レーザであること
を特徴とする請求項5に記載のフーリエ変換型分光計。 - 前記センターバースト位置演算部は、前記包絡線検波部で検波された包絡線上の2点間の差分情報に基づいて前記包絡線検波部で検波された包絡線の極大値を与える位置を前記センターバーストの位置として検出すること
を特徴とする請求項5に記載のフーリエ変換型分光計。 - 測定対象の被測定光が入射され、前記被測定光の入射位置から干渉位置までの間に、透明基板の一方の面上に形成された半透鏡によって形成される2個の第1および第2光路を備え、前記被測定光を前記半透鏡で2個の第1および第2被測定光に分岐して前記第1光路の固定鏡および光軸方向に移動する前記第2光路の移動鏡にそれぞれ入射させ、前記固定鏡で反射された前記第1被測定光および前記移動鏡で反射された前記第2被測定光を前記半透鏡で互いに干渉させ、前記第1および第2光路のそれぞれが仮に同一の媒質で形成され、前記移動鏡が静止時の基準位置に位置し、かつ、前記第1透明基板の厚さを無視した場合に前記第1および第2光路間の光路差がゼロとなるように前記半透鏡、前記固定強および前記移動鏡をそれぞれ配置した場合において実際には前記厚さを持つ前記第1透明基板により前記第1および第2光路間に位相差が生じる前記第2光路にさらに配置され前記第1および第2光路間の位相差をさらに拡大する第1位相差板を備えるマイケルソン干渉計によって得られた前記被測定光の干渉光を受光して前記被測定光の干渉光における光強度を出力する受光工程と、
前記受光工程の出力をアナログ信号からディジタル信号へ1個のアナログ−ディジタル変換器で変換して前記被測定光のインターフェログラムを出力するアナログ−ディジタル変換工程と、
所定の線幅を持つレーザ光を前記マイケルソン干渉計に入射させることによって得られた前記レーザ光の干渉光における光強度の包絡線を検波し、前記検波された包絡線の極大値を与える位置をセンターバーストの位置として検出するセンターバースト位置検出工程と、
前記アナログ−ディジタル変換工程で変換したディジタル信号の前記被測定光のインターフェログラムを、前記センターバースト位置検出工程によって検出されたセンターバーストの位置に基づいてフーリエ変換を行うことによって前記被測定光のスペクトルを求めるスペクトル演算工程とを備えること
を特徴とするフーリエ変換型分光方法。
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