JP5727419B2 - 感度補償のための方法および装置 - Google Patents
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Description
Xdc=Va_p*K(Temp,Z)/(R(Temp)*C(Temp,Z))
ここで、
・Xdc=前記所与の位置の位置信号
・Va_p=処理されたVa
・K=「アクチュエータ」21の属性:ニュートン毎アンペア
・R=「アクチュエータ」コイルの抵抗
・C=ニュートン毎メートルで測ったばね定数
較正ステップでは、前記パラメータK、R、Cの少なくとも一つが較正される。
Va_p=Xact_setp*Cal*S(Temp_cal,Z_cal)/S(Temp_write,Z_write)
(図2)
ここで、
Calは、たとえばUS6771297において記載されている較正(calibration)の結果であり、
S(Temp_cal,Z_cal)=
(A_T+B_T*Temp_cal+C_T*Temp_cal^2)*
(A_Z+B_Z*Vz_cal+C_Z*Vz_cal^2)
S(Temp_write,Z_write)=
(A_T+B_T*Temp_write+C_T*Temp_write^2)*
(A_Z+B_Z*Vz_write+C_Z*Vz_write^2)
ここで、
・A_T、B_T、C_T、A_Z、B_Z、C_Zは定数
・VzはZアクチュエータにかかる電圧
・Temp_calおよびVz_calは較正の間のそれぞれ温度およびVz
・Temp_writeおよびVz_writeは書き込みの間のそれぞれ温度およびVz。
本発明のさらなる目的、特徴および効果は、付属の図面とともに参照する、本発明の実施形態の以下の詳細な記述から明らかとなるであろう。
Xdc=Va_p*K(Temp,Z)/(R(Temp)*C(Temp,Z))
・Xdc=前記所与の位置の位置信号
・Va_p=処理されたVa
・K=「アクチュエータ」21の属性:ニュートン毎アンペア
・R=「アクチュエータ」コイルの抵抗
・C=ニュートン毎メートルで測ったばね定数
・K、R、CはTempおよびZの関数である。
(A_T+B_T*Temp+C_T*Temp^2)*(A_Z+B_Z*Vz+C_Z*Vz^2)
ここで、Tempは(測定された)温度であり、Vzは軸方向アクチュエータにかかる電圧である。
Va_p=Va*S(Temp_cal,Z_cal)/S(Temp_write,Z_write)
定数A_T、B_T、C_T、A_Z、B_Z、C_Zはアクチュエータの製造者から選られうる。あるいはまた、定数は、異なる深さ、よって異なるZ値にある較正領域をもつ特別に設計された光ディスクによって測定されてもよい。較正ディスクは、温度依存性を得るために種々の温度のもとで走らされる。
〔書類名〕 特許請求の範囲
〔態様1〕
ディスクドライブ・システムの位置アクチュエータのための、ピックアップ・ユニットのレンズを所与の位置に変位させるための制御電圧を発生させる方法であって、アクチュエータは開ループ制御システムによって動作させられ、当該方法が:
・当該制御システムへの入力位置信号から制御電圧を発生させるための制御システムの較正段階と;
・前記制御電圧をフィードフォワード・システムにおいて処理して処理済み制御信号を生成する段階と;
・前記処理済み制御信号を、前記レンズを前記所与の位置に変位させるために前記位置アクチュエータに与える段階、
とを有する方法。
〔態様2〕
ピックアップ・ユニットのレンズの較正が行われた軸方向位置からの軸方向距離Z値に依存するある属性を、前記フィードフォワード・システムによる使用のために測定する段階と、ピックアップ・ユニットの温度が測定される段階とをさらに有する、態様1記載の方法。
〔態様3〕
ピックアップ・ユニットの温度に依存するある属性を、前記フィードフォワード・システムによる使用のために測定する段階をさらに有する、態様1または2記載の方法。
〔態様4〕
前記処理済み制御信号が、レンズの、較正が行われた軸方向位置からの推定された距離および/またはピックアップ・ユニットの推定された温度に依存して処理される、態様1ないし3のうちいずれか一項記載の方法。
〔態様5〕
前記位置アクチュエータが、公式:
Xdc=Va_p*K(Temp,Z)/(R(Temp)*C(Temp,Z))
ここで、
・Xdc=前記所与の位置の位置信号
・Va_p=処理されたVa
・K=「アクチュエータ」21の属性:ニュートン毎アンペア
・R=「アクチュエータ」コイルの抵抗
・C=ニュートン毎メートルで測ったばね定数
に従って動作する、態様1ないし4のうちいずれか一項記載の方法。
〔態様6〕
前記較正段階が、前記パラメータK、R、Cのうちの少なくとも一つを較正する、態様5記載の方法。
〔態様7〕
前記パラメータの温度およびZ値の依存性が推定され、前記処理する段階は、前記制御電圧を前記処理済み電圧に調整することによる、前記パラメータの依存性の補償に関わる、態様5または6記載の方法。
〔態様8〕
前記処理済み電圧が、公式:
Va_p=Xact_setp*Cal*S(Temp_cal,Z_cal)/S(Temp_write,Z_write)
ここで、
Calは較正の結果
S(Temp,Z)=
(A_T+B_T*Temp+C_T*Temp^2)*
(A_Z+B_Z*Vz+C_Z*Vz^2)
であり、
・A_T、B_T、C_T、A_Z、B_Z、C_Zは定数、
・VzはZアクチュエータにかかる電圧、
・Temp_calおよびVz_calは較正の間のそれぞれ温度およびVz、
・Temp_writeおよびVz_writeは書き込みの間のそれぞれ温度およびVz、
に従って計算される、態様1ないし7のうちいずれか一項記載の方法。
〔態様9〕
ディスクドライブ・システムの位置アクチュエータのための、ピックアップ・ユニットのレンズを所与の位置に変位させるための制御電圧を発生させる、態様1ないし8のうちいずれか一項記載の方法を実行する装置であって、アクチュエータは開ループ制御システムによって動作させられ、当該装置が:
・当該制御システムへの入力位置信号から制御電圧を発生させるための制御システムの較正のための較正手段と;
・前記制御電圧をフィードフォワード・システムにおいて処理して処理済み制御信号を生成する処理手段と;
・前記処理済み制御信号を受けて、前記レンズを前記所与の位置に変位させる位置アクチュエータ、
とを有する装置。
〔態様10〕
さらに温度センサーを有する、態様9記載の装置。
〔態様11〕
ピックアップ・ユニットのレンズの較正が行われた軸方向位置からの軸方向距離Z値を、たとえば実際のアクチュエータ・ドライバの入力によって、あるいはその出力によって推定する手段をさらに有する、態様9または10記載の装置。
Claims (10)
- ディスクドライブ・システムの位置アクチュエータのための、ピックアップ・ユニットのレンズを所与の位置に変位させるための処理済み制御信号を発生させる方法であって、アクチュエータは開ループ制御システムによって動作させられ、当該方法が:
・所与の設定点(Xact_setp)に基づいて較正データを使って制御電圧(Va)を発生させる段階と;
・前記制御電圧をフィードフォワード・システムにおいて処理して処理済み制御信号(Va_p)を生成する段階と;
・前記処理済み制御信号を、前記レンズを前記所与の位置に変位させるために前記位置アクチュエータに与える段階、
とを有しており、
前記位置アクチュエータは圧電トランスデューサまたはコイルと磁石をもつ電磁トランスデューサであり、前記処理済み制御信号を生成する前記処理は、前記レンズの、較正が行われた軸方向位置からの推定もしくは測定された距離に依存した処理である、
方法。 - ピックアップ・ユニットのレンズの較正が行われた軸方向位置からの軸方向距離Z値に依存するある属性を、前記フィードフォワード・システムによる使用のために測定する段階と、ピックアップ・ユニットの温度が測定される段階とをさらに有する、請求項1記載の方法。
- ピックアップ・ユニットの温度に依存するある属性を、前記フィードフォワード・システムによる使用のために測定する段階をさらに有する、請求項1または2記載の方法。
- 前記位置アクチュエータが電磁トランスデューサであり、公式:
Xdc=Va_p*K(Temp,Z)/(R(Temp)*C(Temp,Z))
ここで、
・Xdc=前記所与の位置の位置信号
・K=「アクチュエータ」21の属性:ニュートン毎アンペア
・R=「アクチュエータ」コイルの抵抗
・C=ニュートン毎メートルで測ったばね定数
に従って動作する、請求項1ないし3のうちいずれか一項記載の方法。 - 前記較正段階が、前記パラメータK、R、Cのうちの少なくとも一つを較正する、請求項4記載の方法。
- 前記パラメータの温度およびZ値の依存性が推定され、前記処理する段階は、前記制御電圧を前記処理済み制御信号に調整することによる、前記パラメータの依存性の補償に関わる、請求項4または5記載の方法。
- 前記処理済み制御信号が、公式:
Va_p=Xact_setp*Cal*S(Temp_cal,Z_cal)/S(Temp_write,Z_write)
ここで、
Calは較正の結果
S(Temp,Z)=
(A_T+B_T*Temp+C_T*Temp^2)*
(A_Z+B_Z*Vz+C_Z*Vz^2)
であり、
・A_T、B_T、C_T、A_Z、B_Z、C_Zは定数、
・VzはZアクチュエータにかかる電圧、
・Temp_calおよびVz_calは較正の間のそれぞれ温度およびVz、
・Temp_writeおよびVz_writeは書き込みの間のそれぞれ温度およびVz、
に従って計算される、請求項1ないし6のうちいずれか一項記載の方法。 - ディスクドライブ・システムの位置アクチュエータのための、ピックアップ・ユニットのレンズを所与の位置に変位させるための処理済み制御信号を発生させる、請求項1ないし7のうちいずれか一項記載の方法を実行する装置であって、アクチュエータは開ループ制御システムによって動作させられ、当該装置が:
・所与の設定点に基づいて較正データを使って制御電圧を発生させる手段と;
・前記制御電圧をフィードフォワード・システムにおいて処理して処理済み制御信号を生成する処理手段と;
・前記処理済み制御信号を受けて、前記レンズを前記所与の位置に変位させる位置アクチュエータ、
とを有しており、
前記位置アクチュエータは圧電トランスデューサまたはコイルと磁石をもつ電磁トランスデューサであり、前記処理手段は、前記レンズの、較正が行われた軸方向位置からの推定もしくは測定された距離に依存して前記処理済み制御信号を処理するよう適応されている、
装置。 - さらに温度センサーを有する、請求項8記載の装置。
- ピックアップ・ユニットのレンズの較正が行われた軸方向位置からの軸方向距離Z値を、たとえば実際のアクチュエータ・ドライバの入力によって、あるいはその出力によって推定する手段をさらに有する、請求項8または9記載の装置。
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