JP5713276B2 - 軸受劣化判断方法と装置 - Google Patents
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Description
前記各変動追跡処理では、
(A)前記軸受で支持した回転体を回転させ、当該回転により生じる振動に基づいて振動データを生成し、
(B)前記回転体にバランス変化を与え、
(C)前記軸受で支持した前記回転体を回転させ、当該回転により生じる振動に基づいて振動データを生成し、
(D)前記(A)と(C)で生成した振動データと、前記(B)で与えたバランス変化とに基づいて、前記回転体の影響係数を算出し、
最初に行った前記変動追跡処理の前記(D)で算出した影響係数を初期影響係数として、2回目以降に行う前記各変動追跡処理では、さらに、
(E)当該変動追跡処理の前記(D)で算出した影響係数と初期影響係数とのずれを求め、このずれが許容値より大きいかどうかを判断し、
(F)当該判断に基づいて前記軸受の劣化を示す劣化通知信号を出力する、ことを特徴とする軸受劣化判断方法が提供される。
前記カウント数が、予め設定した回数に達したら、前記(F)において前記劣化通知信号を出力する。
影響係数の前記変動を取得するための影響係数変動データ取得装置と、
前記変動に基づいて、前記軸受の劣化を判断する劣化判断部と、を備え、
前記影響係数変動データ取得装置は、前記各変動追跡処理において、
(a)前記軸受で支持した回転体を回転させることで生じる振動に基づいて振動データを生成し、
(b)バランス変化が与えられ前記軸受で支持された前記回転体を回転させることで生じる振動に基づいて振動データを生成し、
(c)前記(a)と(b)で生成された振動データと、前記(b)で与えられた前記バランス変化とに基づいて、前記回転体の影響係数を算出し、
最初に行った前記変動追跡処理の前記(c)で算出した影響係数を初期影響係数として、前記劣化判断部は、2回目以降に行う前記各変動追跡処理について、
(d)当該変動追跡処理の前記(c)で算出した影響係数と初期影響係数とのずれを求め、このずれが許容値より大きいかどうかを判断し、
(e)当該判断に基づいて前記軸受の劣化を示す劣化通知信号を出力する、ことを特徴とする軸受劣化判断装置が提供される。
よって、このように軸受が劣化したと判断したら、例えば、軸受を新しいものに交換することで、軸受の劣化によるアンバランス計測精度の低下を防止できる。
アンバランス修正装置20は、軸受劣化判断装置10と除去加工装置11を備える。
図1では、第1および第2の振動センサ5a,5bが、支持体3において互いに異なる位置に取り付けられている。
振動データを、複素数で表す。図2(B)は、複素数で表した振動データを示す。図2(B)のように、1次振動の振幅の大きさ(絶対値)をRとし、上述の位相θを偏角として、振動データは複素数で表わされる(以下、同様)。演算装置9は、振動センサ5aまたは5bからの振動信号と角度センサ7からの回転角信号から、複素数の振動データを生成する(以下、同様)。
なお、第1および第2の修正対象部13aおよび13bは、回転体13の中心軸C方向に関する位置が互いに異なっている。
好ましくは、第1実施形態は、中心軸C方向の長さが短い回転体13を対象とし、第2実施形態は、中心軸C方向に長い回転体13を対象とする。また、第1実施形態では、1つの振動センサ5aを使用し、第2実施形態では、第1および第2の振動センサ5a,5bを使用する。
図3は、上述したアンバランス修正装置20を用いた第1実施形態によるアンバランス修正方法を示すフローチャートである。第1実施形態によるアンバランス修正方法の実行中に、上述した軸受劣化判断装置10により第1実施形態による軸受劣化判断方法(変動追跡処理)が実行される。
なお、第1実施形態による軸受劣化判断方法(すなわち、変動追跡処理)は、後述するステップS1およびステップS8〜S11からなる。
ステップS1では、後で行うステップS2で使用する軸受3aにより影響係数取得用の回転体13を回転自在に支持するように当該回転体13を支持体3に設置し、この状態で、ステップS1(すなわち、ステップS21、S22)において回転体13を回転させる。
また、影響係数取得用の回転体13は、後述のステップS2、S3で使用する回転体13と異なる。
また、ステップS21では、このように振動センサ5aが計測した振動と角度センサ7が計測した回転角に基づいて、演算装置9が、振動データa0を生成する。
また、ステップS22では、このように振動センサ5aが計測した振動と角度センサ7が計測した回転角に基づいて、演算装置9が、振動データa1を生成する。
α=(a1−a0)/ΔMT ・・・(1)
ΔMT=AT(cosθT+jsinθT) ・・・(2)
ここで、jは虚数単位であり、ATは、ステップS22で第1の修正対象部13aに取り付けた試し錘の質量と、第1の修正対象部13aにおいて当該試し錘を取り付けた位置と回転体13の中心軸Cとの距離との積であり、θTは、回転体13において当該試し錘を取り付けた周方向位置(中心軸C回り方向における位置。以下同様)を示す位相である。なお、θTの原点は、角度センサ7による検出回転角の原点と一致する。
U=a/α ・・・(3)
一方、ステップS5における判断がNOである場合には、ステップS6へ進む。
Aを絶対値とし、偏角をθとし、jを虚数単位として、アンバランスデータUを次式(4)で表す。
U=A(cosθ+jsinθ) ・・・(4)
ここで、Aは、アンバランス量を示し、Aはxとyの積であるとした場合に、xは、回転体13の中心軸CからステップS6での除去加工位置までの半径方向距離であり、yは、ステップS6で除去加工(切削)する質量である。一方、θは、前記除去加工位置の周方向位置を示す。従って、ステップS6において、切削工具11aは、xとθが示す半径方向位置と周方向位置に位置決めされた状態で、除去加工質量がyになるまで中心軸Cと平行な方向に移動する。この時、位置制御部11cは、切削工具11aの寸法や修正対象部13aの密度などに基づいて、切削工具11aを中心軸Cと平行な方向に移動させる距離を算出し、該距離に基づいて駆動機構11bを制御する。
なお、ステップS6の除去加工を、切削対象の回転体13が支持体3に支持された状態で行ってもよいし、別の場所で行ってもよい。前者の場合、位置制御部11cは、角度センサ7の回転角に基づいて、中心軸C回り方向に関して切削工具11aを前記周方向位置に位置決めしてよい。また、第1の修正対象部13aの除去加工では、例えば、回転体13における修正対象部13aと反対側の軸方向端部を、適宜の手段で把持して回転体13が回転しないようにしておくのがよい。
一方、ステップS7の判断がNOである場合には、ステップS2へ戻る。この場合、戻ったステップS2では、前回のステップS1やS3で使用した軸受3aで次の回転体13を支持するように当該回転体13を支持体3に設置する。この状態で次のステップS3を行う。以降の処理は、上述と同じである。
ステップS8では、前回のステップS1やS3で使用した軸受3aで影響係数取得用の回転体13を支持するように当該回転体13を支持体3に設置し、この状態で、ステップS8を行う。
ステップS8は、上述したステップS21〜S23を有する。すなわち、ステップS8では、ステップS1と同じ処理を行う。
次式(5)により前記ずれDを算出する。式(5)において||は絶対値を意味する。
D=|β−α| ・・・(5)
一方、ステップS9における判断がNOである場合には、ステップS12へ進む。
一方、ステップS10における判断がNOである場合には、ステップS12へ進む。
ステップS11を行ったら、次に、ステップS1へ戻る。
図3は、上述したアンバランス修正装置20を用いた第2実施形態によるアンバランス修正方法を示すフローチャートでもある。第2実施形態によるアンバランス修正方法の実行中に、上述し軸受劣化判断装置10により第2実施形態による軸受劣化判断方法(変動追跡処理)が実行される。
なお、第2実施形態による軸受劣化判断方法(すなわち、変動追跡処理)は、後述するステップS1およびステップS8〜S11からなる。
ステップS1では、後で行うステップS2で使用する軸受3aにより影響係数取得用の回転体13を回転自在に支持するように当該回転体13を支持体3に設置する。この状態で、ステップS1(すなわち、ステップS31〜S33)において回転体13を回転させる。
また、影響係数取得用の回転体13は、後述のステップS2、S3で使用する回転体13と異なる。
また、ステップS31では、このように第1の振動センサ5aが計測した振動と角度センサ7が計測した回転角に基づいて、演算装置9が、第1の振動データap0を生成するとともに、このように第2の振動センサ5bが計測した振動と角度センサ7が計測した回転角に基づいて、演算装置9が、第2の振動データaq0を生成する。
また、ステップS32では、このように第1の振動センサ5aが計測した振動と角度センサ7が計測した回転角に基づいて、演算装置9が、第1の振動データapbを生成するとともに、このように第2の振動センサ5bが計測した振動と角度センサ7が計測した回転角に基づいて、演算装置9が、第2の振動データaqbを生成する。
また、ステップS33では、このように第1の振動センサ5aが計測した振動と角度センサ7が計測した回転角に基づいて、演算装置9が、第1の振動データapdを生成するとともに、このように第2の振動センサ5bが計測した振動と角度センサ7が計測した回転角に基づいて、演算装置9が、第2の振動データaqdを生成する。
ΔMTb=ATb(cosθTb+jsinθTb) ・・・(7)
ここで、jは虚数単位であり、ATbは、ステップS32で第1の修正対象部13aに取り付けた試し錘の質量と、第1の修正対象部13aにおいて当該試し錘を取り付けた位置と回転体13の中心軸Cとの距離との積であり、θTbは、回転体13において当該試し錘を取り付けた周方向位置を示す位相である。なお、θTbの原点は、角度センサ7による検出回転角の原点と一致する。
同様に、[数1]の式(6)におけるΔMTdは、次式(8)で表わされる。
ΔMTd=ATd(cosθTd+jsinθTd) ・・・(8)
ここで、jは虚数単位であり、ATdは、ステップS33で第2の修正対象部13bに取り付けた試し錘の質量と、第2の修正対象部13bにおいて当該試し錘を取り付けた位置と回転体13の中心軸Cとの距離との積であり、θTdは、回転体13において当該試し錘を取り付けた周方向位置を示す位相である。なお、θTdの原点は、角度センサ7による検出回転角の原点と一致する。
または、ステップS4で算出した第1のアンバランスデータUbが示すアンバランス量と、ステップS4で算出した第2のアンバランスデータUdが示すアンバランス量とのうち大きい方の値がしきい値以下であるかを判断する。
または、ステップS4で算出した第1のアンバランスデータUbが示すアンバランス量が、第1のアンバランスデータ用のしきい値以下であり、かつ、ステップS4で算出した第2のアンバランスデータUdが示すアンバランス量が、第2のアンバランスデータ用のしきい値以下であるかを判断する。この場合、好ましくは、第1のアンバランスデータ用のしきい値は、第2のアンバランスデータ用のしきい値と異なるのがよい。
一方、ステップS5における判断がNOである場合には、ステップS6へ進む。
また、ステップS6において、ステップS4で算出した第2のアンバランスデータUdが示す除去加工位置と除去加工量に基づいて、回転体13の第2の修正対象部13bを除去加工(切削)する。なお、ここでの除去加工位置は、回転体13に設けた前記円盤状部材の外周部13b上にあり、図1(B)において一点鎖線L2上にある。図1(B)において、一点鎖線L2上に重複している破線で描いた円は、一点鎖線L2上に位置決めされた状態の切削工具11aを示す。
一方、ステップS7における判断がNOである場合には、ステップS2へ戻る。この場合、戻ったステップS2では、前回のステップS1やS3で使用した軸受3aで次の回転体13を支持するように当該回転体13を支持体3に設置する。この状態で次のステップS3を行う。以降の処理は、上述と同じである。
ステップS8では、前回のステップS1やS3で使用した軸受3aにより、前記影響係数取得用の回転体13を回転自在に支持するように当該回転体13を支持体3に設置し、この状態で、ステップS8を行う。
ステップS8は、上述したステップS31〜S34を有する。すなわち、ステップS8では、ステップS1と同じ処理を行うことで、次の[数3]の式(11)により影響係数β1,b、β1,d、β2,b、β2,dを算出する。
以下の式(12)〜(15)により、D1,b、D1,d、D2,b、D2,dを算出する。各式(12)〜(15)において||は絶対値を意味する。
D1,b = |β1,b−α1,b| ・・・(12)
D1,d = |β1,d−α1,d| ・・・(13)
D2,b = |β2,b−α2,b| ・・・(14)
D2,d = |β2,d−α2,d| ・・・(15)
(C1)D1,b、D1,d、D2,b、D2,dのうち最も大きい値が、前記許容値より大きいかどうかを判断する。
(C2)D1,b、D1,d、D2,b、D2,dの和または平均値が、前記許容値より大きいかどうかを判断する。
(C3)D1,bがD1,b用の許容値より大きく、かつ、D1,dがD1,d用の許容値より大きく、かつ、D2,bがD2,b用の許容値より大きく、かつ、D2,dがD2,d用の許容値より大きいかどうかを判断する。
一方、ステップS9における判断がNOである場合には、ステップS12へ進む。
一方、ステップS10における判断がNOである場合には、ステップS12へ進む。
ステップS11を行ったら、次に、ステップS1へ戻る。
上述の第1実施形態または第2実施形態において、ステップS10を省略してもよい。この場合には、ステップS9の判断がYESの場合には、ステップS11へ進む。
上述の第2実施形態では、2つの振動センサ5a,5bを支持体3に取り付けていたが、代わりに、1つの振動センサを支持体3に取り付けてもよい。この場合、次のようにステップS1またはステップS8を行う。
また、ステップS31において、回転機械の回転体13を第1の回転速度と異なる第2の回転速度で回転させ、この状態で、振動センサが、回転体13を支持する支持体3の振動を計測しながら、角度センサ7が回転角を計測する。このように計測した振動と回転角に基づいて、演算装置9が、第2の振動データaq0を生成する。
ステップS32では、第1の振動データapbを生成した場合と同じバランス変化を与えられ、軸受3aで支持した回転体13を前記第2の回転速度で回転させる。この回転時に、振動センサが、回転体13を支持する支持体3の振動を計測しながら、角度センサ7が回転角を計測する。このように計測した振動と回転角に基づいて、演算装置9が、第2の振動データaqbを生成する。
ステップS33では、第1の振動データapdを生成した場合と同じバランス変化を与えられ、軸受3aで支持した回転体13を前記第2の回転速度で回転させる。この回転時に、振動センサが、回転体13を支持する支持体3の振動を計測しながら、角度センサ7が回転角を計測する。このように計測した振動と回転角に基づいて、演算装置9が、第2の振動データaqdを生成する。
上述では、修正対象部13a、13bの除去加工は、軸方向に行われたが、半径方向に行われてもよい。
上述では、初期影響係数を、試し錘を用いて回転体13にバランス変化を与えることで取得したが、初期影響係数を、回転体13を除去加工して回転体13にバランス変化を与えることで取得してもよい。
上述の実施形態では、除去加工装置11は、修正対象部13a、13bを切削することにより修正対象部13a、13bを除去加工したが、代わりに、除去加工装置11は、修正対象部13a、13bにレーザビームを照射して、修正対象部13a、13bを溶融して除去加工するレーザ加工装置であってもよい。この場合、ステップS6の除去加工では、アンバランスデータUの上記xとθが示す修正対象部13a、13b上の半径方向位置と周方向位置(除去加工位置)にレーザビームを照射し除去加工質量が上述したyになるまでレーザ加工を行う。なお、除去加工質量とレーザ加工条件(例えば、レーザビームの照射時間やエネルギー密度)との関係を予め実験で求めておき、この関係に基づいてレーザ加工を行うのがよい。
上述の実施形態では、除去加工装置11は、修正対象部13a、13bを切削することにより修正対象部13a、13bを除去加工したが、代わりに、除去加工装置11は、放電加工で、修正対象部13a、13bを溶融し当該溶融部分を吹き飛ばすことにより修正対象部13a、13bを除去加工する放電加工機であってもよい。この場合、ステップS6の除去加工では、支持体3から回転体13を取り外して、支持体3と別の場所に設けた放電加工機に回転体13を設置し、放電加工機の電極を、アンバランスデータUの上記xとθが示す半径方向位置と周方向位置(除去加工位置)に位置決めした状態で、除去加工質量が上述したyになるまで放電加工を行う。なお、除去加工質量と放電加工条件(例えば、放電時間、放電電圧)との関係を予め実験で求めておき、この関係に基づいて放電加工を行うのがよい。
上述のステップS7において、影響係数を前回取得してから設定時間以上経過したかを判断する代わりに、ステップS1またはS8を前回行ってから、アンバランス処理を実行した回転体13の数が設定数に達したかを判断してもよい。すなわち、ステップS1またはS8を前回行ってからステップS2を行った回数が、設定数に達したかを判断してもよい。
潤滑油が供給される軸受3aの代わりに、気体軸受を用いてもよい。気体軸受15は、図5に示すように、支持体3に組み込まれており、ラジアル軸受面17、スラスト軸受面19、給気孔21、23および排気孔25から構成される。給気孔21はラジアル軸受面17に開口し、給気孔23はスラスト軸受面19に開口する。図示しない気体供給源から給気孔21を通して、加圧気体が、ラジアル軸受面17と回転体13のラジアルジャーナル27との間に供給される。図示しない気体供給源から給気孔23を通して、加圧気体が、スラスト軸受面19と回転体13のスラストジャーナル29との間に供給される。ラジアル軸受面17とラジアルジャーナル27との間に供給された加圧気体により、回転体13のラジアルジャーナル27を支持し、スラスト軸受面19とスラストジャーナル29との間に供給された加圧気体により、回転体13のスラストジャーナル29を支持する。このように、気体軸受15により回転体13を回転自在に支持する。なお、ラジアル軸受面17とラジアルジャーナル27との間に供給された加圧気体は、排気孔25から支持体3の外部に排出される。
なお、気体軸受15の劣化とは、ラジアル軸受面17やスラスト軸受面19が回転体13と擦れて傷ついたり摩耗したりすることを意味する。
回転体13において、複数の回転翼(例えば、タービン翼)が周方向に間隔をおいて設けられている場合には、角度センサ7が検出する回転角の原点を、光電センサと近接センサとにより検出する。
光電センサに関して、この場合、回転体13において、1つの回転翼が位置する、回転軸C周りの周方向位置に光反射部を設ける。光を反射する光反射部は、例えば、塗装によるマーキングである。静止側における前記周方向に関する設置位置に光電センサを設ける。光反射部が、回転体13の回転により前記設置位置に来た時に、光電センサは、前記光反射部を検出して検出信号を出力する。
近接センサは、回転体13の回転により各回転翼が前記設置位置に来た時に、該回転翼を検出できる位置に設けられる。従って、各回転翼が、回転により当該設置位置に来た時に、近接センサも検出信号を出力する。
光電センサと近接センサの両方から検出信号が出力されている時に、角度センサ7が検出する回転角をゼロ(原点)にする。これにより、角度センサ7の回転角検出精度が向上する。例えば、前記塗装の色むら、位置ずれ、剥がれ等により、回転角検出精度の低下を防止できる。
Claims (5)
- 複数の回転機械の回転体を順に軸受で支持して該回転体のアンバランスデータを取得することにおいて、前記軸受で支持された回転体のバランス変化に対する該回転体の振動変化を示すデータを影響係数として、影響係数の変動を検出する変動追跡処理を時間間隔をおいて繰り返し行い、この変動に基づいて前記軸受の劣化を判断する軸受劣化判断方法であって、
前記各変動追跡処理では、
(A)前記軸受で支持した回転体を回転させ、当該回転により生じる振動に基づいて振動データを生成し、
(B)前記回転体にバランス変化を与え、
(C)前記(B)の後に、前記軸受で支持した前記回転体を回転させ、当該回転により生じる振動に基づいて振動データを生成し、
(D)前記(A)と(C)で生成した振動データと、前記(B)で与えたバランス変化とに基づいて、前記回転体の影響係数を算出し、
最初に行った前記変動追跡処理の前記(D)で算出した影響係数を初期影響係数として、2回目以降に行う前記各変動追跡処理では、さらに、
(E)当該変動追跡処理の前記(D)で算出した影響係数と初期影響係数とのずれを求め、このずれが許容値より大きいかどうかを判断し、
(F)当該判断に基づいて前記軸受の劣化を示す劣化通知信号を出力する、ことを特徴とする軸受劣化判断方法。 - 前記(E)において、前記ずれが前記許容値よりも大きいと判断する度に、当該判断をした回数であるカウント数を1つ増やし、
前記カウント数が、予め設定した回数に達したら、前記(F)において前記劣化通知信号を出力する、ことを特徴とする請求項1に記載の軸受劣化判断方法。 - 前記(E)において、前記ずれが前記許容値よりも大きいと判断したら前記(F)において前記劣化通知信号を出力する、ことを特徴とする請求項1に記載の軸受劣化判断方法。
- 影響係数取得用の同じ回転体を用いて前記各変動追跡処理を行う、ことを特徴とする請求項1、2または3に記載の軸受劣化判断方法。
- 複数の回転機械の回転体を順に軸受で支持して該回転体のアンバランスデータを取得することにおいて、前記軸受で支持された回転体のバランス変化に対する該回転体の振動変化を示すデータを影響係数として、影響係数の変動を検出する変動追跡処理を時間間隔をおいて繰り返し行い、この変動に基づいて前記軸受の劣化を判断するために使用される軸受劣化判断装置であって、
影響係数の前記変動を取得するための影響係数変動データ取得装置と、
前記変動に基づいて、前記軸受の劣化を判断する劣化判断部と、を備え、
前記影響係数変動データ取得装置は、前記各変動追跡処理において、
(a)前記軸受で支持した回転体を回転させることで生じる振動に基づいて振動データを生成し、
(b)バランス変化が与えられた前記回転体を前記軸受で支持した状態で回転させることで生じる振動に基づいて振動データを生成し、
(c)前記(a)と(b)で生成された振動データと、前記(b)で与えられた前記バランス変化とに基づいて、前記回転体の影響係数を算出し、
最初に行った前記変動追跡処理の前記(c)で算出した影響係数を初期影響係数として、前記劣化判断部は、2回目以降に行う前記各変動追跡処理について、
(d)当該変動追跡処理の前記(c)で算出した影響係数と初期影響係数とのずれを求め、このずれが許容値より大きいかどうかを判断し、
(e)当該判断に基づいて前記軸受の劣化を示す劣化通知信号を出力する、ことを特徴とする軸受劣化判断装置。
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