JP5682551B2 - 孔加工物品の検査装置及び検査方法 - Google Patents
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Description
(1)孔数
列毎の孔数については、予め定められた所定個数として、例えば3個までの孔10の欠如(抜け)が許容される。従って、57個≦計測孔数≦60個、の範囲内ならば、適合となり、上記範囲を外れていれば、不適合(NG)となる。
列毎の孔ピッチaについては、例えば、孔ピッチa=0.41mm±0.1mmが規格(第1規定範囲)とされている。従って、0.31mm≦計測孔ピッチa≦0.51mm、の範囲内ならば、適合となる。但し、上記のように孔10の一部の欠如を許容するため、孔10の個数毎に、更に次のように条件が付加される。
全ての孔ピッチaが、0.31mm≦計測孔ピッチa≦0.51mm、の範囲内ならば適合。
1箇所(最大)の孔ピッチaのみ、0.62mm≦計測孔ピッチa≦1.02mmの範囲内で(図19(b)参照)、
且つ、残りの全ての孔ピッチaが、0.31mm≦計測孔ピッチa≦0.51mm、の範囲内ならば適合。
孔10が2個連続で抜けているケースが考えられるので、1箇所(最大)の孔ピッチaのみ、0.93mm≦計測孔ピッチa≦1.53mmの範囲内で(図19(c)参照)、
或いは、上記範囲内が存在しなければ、別々の2箇所で夫々1個の孔10が抜けているので、2箇所の孔ピッチaのみ、0.62mm≦計測孔ピッチa≦1.02mmの範囲内で、
且つ、残りの全ての孔ピッチaが、0.31mm≦計測孔ピッチa≦0.51mm、の範囲内ならば適合。
孔10が3個連続で抜けているケースが考えられるので、1箇所(最大)の孔ピッチaのみ、1.24mm≦計測孔ピッチa≦2.04mmの範囲内で(図19(d)参照)、
或いは、2個連続で抜けている箇所と、1個が抜けている箇所とが存在するケースでは、1箇所(最大)で、0.93mm≦計測孔ピッチa≦1.53mmの範囲内且つ、1箇所(2番目に大きい)で0.62mm≦計測孔ピッチa≦1.02mmの範囲内で、
或いは、別々の3箇所で夫々1個の孔10が抜けているケースでは、3箇所の孔ピッチaのみ、0.62mm≦計測孔ピッチa≦1.02mmの範囲内で、
且つ、残りの全ての孔ピッチaが、0.31mm≦計測孔ピッチa≦0.51mm、の範囲内ならば適合。
列間孔ピッチbについては、例えば、列間孔ピッチb=0.2mm±0.05mmが規格(第2規定範囲)とされている。従って、0.15mm≦計測列間孔ピッチb≦0.25mm、の範囲内ならば、適合となる。但し、上記のように孔10の一部の欠如を許容するため、孔10の個数毎に、更に次のように条件が付加される。
全ての列間孔ピッチbが、0.15mm≦計測列間孔ピッチb≦0.25mm、の範囲内ならば適合。
図20(b)に示すように、比較列の1個の孔10が欠如していても、対象列から見れば、隣り合う左右どちらかに関しては比較列の孔10が存在するので、全ての列間孔ピッチbが、0.15mm≦計測列間孔ピッチb≦0.25mm、の範囲内ならば適合。
比較列の孔10が2個連続で抜けているケースが考えられるので、図20(c)に示すように、1箇所(最大)の列間孔ピッチbのみ、3倍の、0.45mm≦計測列間孔ピッチb≦0.75mmの範囲内で、且つ、残りの全ての列間孔ピッチbが、0.15mm≦計測列間孔ピッチb≦0.25mm、の範囲内ならば適合。
或いは、別々の2箇所で夫々1個の孔10が抜けている場合には、上記(b)と同様の考え方で、全ての列間孔ピッチbが、0.15mm≦計測列間孔ピッチb≦0.25mm、の範囲内ならば適合。
比較列の孔10が3個連続で抜けているケースが考えられるので、図20(d)に示すように、1箇所(最大)の列間孔ピッチbが、3倍の、0.45mm≦計測列間孔ピッチb≦0.75mmの範囲内で、隣りの1箇所(2番目)の列間孔ピッチbも、0.45mm≦計測列間孔ピッチb≦0.75mmの範囲内で、且つ、残りの全ての列間孔ピッチbが、0.15mm≦計測列間孔ピッチb≦0.25mm、の範囲内ならば適合。
或いは、比較列の孔10が、1箇所について2個連続で抜けていると共に、別の箇所で1個が抜けている場合には、上記(c)の考え方と同様に、1箇所(最大)の列間孔ピッチbのみが、0.45mm≦計測列間孔ピッチb≦0.75mmの範囲内で、且つ、残りの全ての列間孔ピッチbが、0.15mm≦計測列間孔ピッチb≦0.25mm、の範囲内ならば適合。
或いは、比較列の孔10が、3箇所で別々に抜けているケースでは、全ての列間孔ピッチbが、0.15mm≦計測列間孔ピッチb≦0.25mm、の範囲内ならば適合。
各列に関して、列間孔ピッチbの平均値を算出する。このとき、孔数が60に満たない場合でも、列間孔ピッチbの一列の合計を、60で除算した値と平均値とする。
0.10mm≦平均孔ピッチb≦0.30、の範囲内ならば適合とする。
個々の孔10の径(直径寸法)dについては、0.00mm<計測列径d≦0.29mm、の範囲内であれば適合。
全ての孔10の孔径dの平均値が、0.22mm≦計測平均孔径d≦0.26mm、の範囲内ならば適合。
個々の孔径d及び平均値の双方において適合した場合に、適合とする。
(a)孔位置の規格
個々の孔10の位置(コアステータ6の鍔状部6a側の端部からの軸方向の距離)は、第1列の孔10については、11.0mm±0.03mmの範囲内、第2列の孔10については、11.3mm±0.03mmの範囲内であれば、適合とする。
図4(b)にも示したように、各列の孔10は15個ずつの4グループ(分割1〜分割4)に分けられる。この際、孔数が60個に満たない場合には、分割4のグループの孔10の個数を減らす。各グループについて、孔10の軸方向位置の平均を求める。平均の最大値と最小値との差が、0.05mm以下であれば適合とする。
各列について、同列軸方向ズレgの最大値(孔10の軸方向位置の最大値と最小値との差)が、最大同列軸方向ズレg≦0.10mmであれば、適合とする。
各列について、全ての孔10の軸方向位置の平均値を算出する。第1列については、
10.95mm≦平均値≦11.05mmの範囲内であれば適合。第2列については、
11.25mm≦平均値≦11.35mmの範囲内であれば適合。
図21に示すように、第1列の全ての孔10の軸方向位置の平均値と、第2列の全ての孔10の軸方向位置の平均値との差を、軸方向間隔cとして求める。
0.27mm≦軸方向間隔c≦0.33mmの範囲内であれば適合とする。
上記全てが適合と判断されたときに、孔10の軸方向位置について適合(OK)と判断される。
Claims (8)
- 円周方向に沿って一定ピッチで所定個数の孔を形成する孔加工を、少なくとも1列以上施してなる円筒状部を有する孔加工物品に関して、前記孔加工の適否を検査する孔加工物品の検査装置において、
前記孔加工物品の円筒状部の孔形成領域を直径方向から全周に渡って撮影する撮影手段と、
この撮影手段の撮影した画像データから、前記各孔を抽出する抽出手段と、
この抽出手段により抽出された前記孔の全周分の個数を求めると共に、隣り合う孔間の孔ピッチを検出する検出手段と、
この検出手段により検出された前記孔の個数及び前記各孔ピッチの良否を判定する判定手段とを備え、
前記判定手段は、前記孔の個数に関して予め決められた所定個数までの当該孔の欠如を許容すると共に、前記各孔ピッチが、予め決められた第1規定範囲内にあるかどうかを、前記孔の一部の欠如を許容するため、該孔の欠如数と、該第1規定範囲の上限値及び下限値の倍数とを用いた条件を付加しながら比較し、全体としての孔ピッチの良否の判定を行うことを特徴とする孔加工物品の検査装置。 - 前記孔加工物品の円筒状部には、2列以上に渡って複数個の孔が千鳥状に並ぶように形成されており、
前記検出手段は、前記孔の全周分の個数を前記各列毎に求めると共に、前記各列内における隣り合う孔間の各孔ピッチを検出することに加えて、軸方向に並ぶ列間に位置して隣り合う孔間の列間孔ピッチを検出し、
前記判定手段は、前記列間孔ピッチが、予め決められた第2規定範囲内にあるかどうかを、前記各列における孔の一部の欠如を許容するため、該各列の孔の欠如数と、該第2規定範囲の上限値及び下限値の倍数とを用いた条件を付加しながら比較し、全体としての列間孔ピッチの良否の判定を行うことを特徴とする請求項1記載の孔加工物品の検査装置。 - 前記検出手段は、更に、前記各列における各孔の軸方向の形成位置を検出し、
前記判定手段は、前記各列内における孔の軸方向の形成位置に関して、位置ずれ量の最大値を、予め決められた列内しきい値と比較することにより、良否を判定することを特徴とする請求項1又は2記載の孔加工物品の検査装置。 - 前記判定手段は、前記各列内における孔を円周方向に複数個ずつに区分した複数のグループに分け、
前記各グループに内における孔の軸方向の形成位置に関して、位置ずれ量の最大値を、予め決められたグループ内しきい値と比較すると共に、
前記各グループの孔の軸方向の形成位置の平均値に関して、グループ間でのズレ量の最大値を、予め決められたグループ間しきい値と比較することにより、良否を判定することを特徴とする請求項3記載の孔加工物品の検査装置。 - 円周方向に沿って一定ピッチで所定個数の孔を形成する孔加工を、少なくとも1列以上施してなる円筒状部を有する孔加工物品に関して、前記孔加工の適否を検査する孔加工物品の検査方法において、
前記孔加工物品の円筒状部の孔形成領域を直径方向から全周に渡って撮影装置により撮影する撮影工程と、
この撮影工程において撮影された画像データから、前記各孔を抽出する抽出工程と、
この抽出工程において抽出された前記孔の全周分の個数を求めると共に、隣り合う孔間の孔ピッチを検出する検出工程と、
この検出工程において検出された前記孔の個数及び前記各孔ピッチの良否を判定する判定工程とを備え、
前記判定工程では、前記孔の個数に関して予め決められた所定個数までの当該孔の欠如を許容すると共に、前記各孔ピッチが、予め決められた第1規定範囲内にあるかどうかを、前記孔の一部の欠如を許容するため、該孔の欠如数と、該第1規定範囲の上限値及び下限値の倍数とを用いた条件を付加しながら比較し、全体としての孔ピッチの良否の判定を行うことを特徴とする孔加工物品の検査方法。 - 前記孔加工物品の円筒状部には、2列以上に渡って複数個の孔が千鳥状に並ぶように形成されており、
前記検出工程においては、前記孔の全周分の個数を前記各列毎に求めると共に、前記各列内における隣り合う孔間の各孔ピッチを検出することに加えて、軸方向に並ぶ列間に位置して隣り合う孔間の列間孔ピッチを検出し、
前記判定工程においては、前記列間孔ピッチが、予め決められた第2規定範囲内にあるかどうかを、前記各列における孔の一部の欠如を許容するため、該各列の孔の欠如数と、該第2規定範囲の上限値及び下限値の倍数とを用いた条件を付加しながら比較し、全体としての列間孔ピッチの良否の判定を行うことを特徴とする請求項5記載の孔加工物品の検査方法。 - 前記検出工程においては、更に、前記各列における各孔の軸方向の形成位置を検出し、
前記判定工程においては、前記各列内における孔の軸方向の形成位置に関して、位置ずれ量の最大値を、予め決められた列内しきい値と比較することにより、良否を判定することを特徴とする請求項5又は6記載の孔加工物品の検査方法。 - 前記判定工程においては、前記各列内における孔を円周方向に複数個ずつに区分した複数のグループに分け、
前記各グループに内における孔の軸方向の形成位置に関して、位置ずれ量の最大値を、予め決められたグループ内しきい値と比較すると共に、
前記各グループの孔の軸方向の形成位置の平均値に関して、グループ間でのズレ量の最大値を、予め決められたグループ間しきい値と比較することにより、良否を判定することを特徴とする請求項7記載の孔加工物品の検査方法。
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