JP5652473B2 - イオン分析装置及びその使用方法 - Google Patents
イオン分析装置及びその使用方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5652473B2 JP5652473B2 JP2012507814A JP2012507814A JP5652473B2 JP 5652473 B2 JP5652473 B2 JP 5652473B2 JP 2012507814 A JP2012507814 A JP 2012507814A JP 2012507814 A JP2012507814 A JP 2012507814A JP 5652473 B2 JP5652473 B2 JP 5652473B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- ions
- waveform
- vacuum region
- vacuum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/622—Ion mobility spectrometry
- G01N27/624—Differential mobility spectrometry [DMS]; Field asymmetric-waveform ion mobility spectrometry [FAIMS]
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
K(E/N)=K(0)[1+α2(E/N)2+α4(E/N)4+...]・・・(1)
試料からイオンを生成するイオン化源と、
イオン検出器と
を備え、使用時に、イオンを前記イオン源から前記イオン検出器に向かってイオン光軸に沿って飛行させる装置であって、該装置がさらに、
微分型イオン移動度分光器を含む第1真空領域と、
質量分析器を含む第2真空領域と
を含む真空空間と
前記第2真空領域の圧力を前記第1真空領域の圧力よりも低くするように構成された排気手段と、
前記イオン化源を前記第1真空領域に接続するイオン入口穴と
を備え、
使用時に、質量分析の前に前記試料から生成したイオンの微分型イオン移動度分析を実行するように、前記イオン光軸上で前記第1真空領域が前記第2真空領域よりも前段に配置されており、
使用時に、前記微分型イオン移動度分光器を含む前記第1真空領域が0.005kPaから40kPaの範囲の圧力に設定され、前記微分型イオン移動度分光器が20kHzから25MHzの範囲の周波数を有する非対称波形により駆動されること
を特徴とする。
(a) 2つの平行平板電極、
(b) 2つの同心円筒電極、及び
(c) 共通軸の周りで円周状に配置された複数の細長い電極からなり、電極の長軸が平行である多重極
の中から選択された電極配置を備える。
イオン化源と、
第1真空領域と第2真空領域を含む真空空間であって、該第1真空空間は前記イオン源からイオンを該第1真空空間に導入するイオン注入口を備える真空空間と、
前記第1真空領域に配置された微分型イオン移動度分光器と、
前記第2真空空間に配置された質量分析器であって、使用時にはイオンがイオン光軸に沿って前記イオン化源から前記第1真空領域を通って該質量分析器へ飛行し、使用時には試料から生成したイオンが質量分析を行う前に微分型イオン移動度分析される質量分析器と、
を備え、
使用時には前記微分型イオン移動度分光器を含む前記第1真空領域の圧力は0.005kPa 〜40kPaの範囲内であり、前記微分型イオン移動度分光器を20kHz〜25MHzの範囲の周波数を有する非対称波形により駆動する
ことを特徴とする。
(a) イオン化源においてサンプルからイオンを生成する
(b) イオン注入口を通じて、真空空間の第1真空領域に前記イオンを輸送する
(c) 前記第1真空領域において、前記イオンの質量分析を行う前に前記イオンの微分型イオン移動度分析を行う
(d) 微分型イオン移動度分析の後、前記イオンを前記真空空間の第2真空領域に移送する
(e) 前記第2真空領域において前記イオンの質量分析を行う
ステップを含み、
ステップ(c)が20kHz〜25MHzの範囲内の周波数を有する非対称波形を前記イオンに与えることを含み、ステップ(c)が0.005kPa〜40kPaの範囲の圧力において実行される
ことを特徴とする。
試料からイオンを生成するイオン化源と、
イオン検出器と
を備え、
使用時にはイオンは前記イオン化源から前記イオン検出器までイオン光軸に沿って飛行し、前記装置はさらに、
微分型イオン移動度分光器を含む第1真空領域と、
質量分析器を含む第2真空領域と、
を含む真空空間と、
前記第2真空領域の圧力が前記第1真空領域の圧力よりも低くなるように構成された排気手段と、
前記イオン化源を前記第1真空領域に接続するイオン注入口と
を備え、
使用時に、前記試料から生成されたイオンが質量分析の前に微分型イオン移動度分析されるように、前記イオン光軸上において前記第1真空領域が前記第2真空領域の前段に位置しており、
前記微分型イオン移動度分光器は多重極を備え、そこでは複数の細長い電極が共通軸周りで円周状に配置され、電極の長軸が平行になっており、
前記装置は、前記多重極の内部に(i)双極子場と(ii)より高次の電場を与えるように構成された波形生成器を含む
ことを特徴とする。
(a) イオン化源において試料からイオンを生成する
(b) イオン注入口を通じて真空空間の第1真空領域に前記イオンを輸送する
(c) 前記第1真空領域において、前記イオンの質量分析に先立って前記イオンの微分型イオン移動度分析を行う
(d) 微分型イオン移動度分析の後、前記イオンを前記真空空間の第2領域に輸送する
(e) 前記第2真空領域において前記イオンの質量分析を実行する
ステップを含み、
ステップ(c)は、共通軸の周りで円周状に配置され、電極の長軸が平行に配置された複数の細長い電極を備えた多重極により微分型イオン移動度分析を実行することを含み、また、ステップ(c)が前記多重極内に(i)双極子場と(ii)より高次の電場を与えることを含む
ことを特徴とする。
試料からイオンを生成するイオン化源と、
イオン検出器と
を備え、
使用時に、イオンは前記イオン化源から前記イオン検出器までイオン光軸に沿って飛行し、前記装置はさらに、
微分型イオン移動度分光器を含む第1真空領域と、
質量分析器を含む第2真空領域と、
を含む真空空間と、
前記第2真空領域の圧力が前記第1真空領域の圧力よりも低くなるように構成された排気手段と、
前記イオン化源を前記第1真空領域に接続するイオン注入口と、
を備え、
使用時に、前記試料から生成されたイオンが質量分析の前に微分型イオン移動度分析されるように、前記イオン光軸上において前記第1真空領域が前記第2真空領域の前段に位置している
ことを特徴とする。
(a) イオン化源において試料からイオンを生成する
(b) イオン注入口を通じて真空空間の第1真空領域に前記イオンを輸送する
(c) 前記第1真空領域において、前記イオンの質量分析に先立って前記イオンの微分型イオン移動度分析を行う
(d) 微分型イオン移動度分析の後、前記イオンを前記真空空間の第2領域に輸送する
(e) 前記第2真空領域において前記イオンの質量分析を実行する
ステップを含むことを特徴とする。
圧力0.01mbar、内径2.5mmの多重極配置におけるシミュレーションでは、一波形周期の間の衝突回数が不十分であり、拡散が起こることが示された。DMSチャンネルを通るイオンの通過率は実質的にゼロとなった。圧力の大きさを1オーダー増加させる、つまり0.1mbarにすることで、DMSの性能に大きな効果がもたらされた。上述した2つのモデルイオンを使用したシミュレーション結果では透過率が約5%となり、DMSでイオン分離を行うに十分なものになった。拡散を抑え、透過率を向上させるには、0.1mbarより高い圧力が概ね適切である。また、0.1mbarより高い圧力で、より高次の電場を用いることによってのみ拡散効果を相殺し得る点は留意しなければならない。
圧力10mbarにおける、さらなるDMSのシミュレーション分析では、上記2つのモデルイオンの場合に、周波数を1MHzから10KHzに抑えるとイオン通過率に大きな効果が得られることが分かった。イオン振動振幅はデバイスの大きさに比べて広く(例えば2mmの高さ)、DMS電極におけるイオン損失は深刻になり、シミュレーションでの通過率は1%未満となった。イオン振動振幅は分析空間の大きさよりも小さく維持しなければならない。例えば、上述した両モデルイオンの、1MHzにおけるイオン振動振幅は0.5mmより大きく、つまり、計算において用いた5mmの分析空間に比べて1桁小さい。
上述のとおり、周波数に関するDMSの有用な使用範囲は、イオンの通過時間によって制限される。さらなるシミュレーションでは、25MHzで使用した場合、透過率が80%を超えるほどに高まるにもかかわらず、イオン分離は悪化し、C3H7 +イオンとC3H5 +イオンの分離が見られなかった。
Claims (19)
- 試料からイオンを生成するイオン化源と、
イオン検出器と
を備え、使用時に、イオンを前記イオン源から前記イオン検出器に向かってイオン光軸に沿って飛行させる装置であって、該装置がさらに、
極性が交互に切り替わる周期的な非対称波形により形成される非対称電場を用いて前記イオン光軸に対して垂直な方向にイオンを振動させる微分型イオン移動度分光器を含む第1真空領域と、
質量分析器を含む第2真空領域と
を含む真空空間と
前記第2真空領域の圧力を前記第1真空領域の圧力よりも低くするように構成された排気手段と、
前記イオン化源を前記第1真空領域に接続するイオン入口穴と
を備え、
使用時に、質量分析の前に前記試料から生成したイオンの微分型イオン移動度分析を実行するように、前記イオン光軸上で前記第1真空領域が前記第2真空領域よりも手前に配置されており、
使用時に、前記微分型イオン移動度分光器を含む前記第1真空領域が2kPaから40kPaの範囲の圧力に設定され、前記微分型イオン移動度分光器が20kHzから25MHzの範囲の周波数を有する非対称波形により駆動され、
前記装置が、前記微分型イオン移動度分光器にガス媒体を供給するように前記第1真空領域へのガスの流れを形成するガスフロー手段を含むこと
を特徴とするイオン分析装置。 - 前記周波数が1.5MHzから5MHzの範囲内であることを特徴とする請求項1に記載のイオン分析装置。
- 前記微分型イオン移動度分光器の分析ギャップdが1mmから15mmの範囲内であることを特徴とする請求項1または2に記載のイオン分析装置。
- 前記ガスフロー手段により供給されるガスが、前記イオン化源のガスとは異なることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のイオン分析装置。
- 前記微分型イオン移動度分光器に与える非対称波形がデジタル波形生成器により与えられることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載のイオン分析装置。
- 前記装置が、前記非対称波形を前記微分型イオン移動度分光器の少なくとも一つの電極に対して与えるように構成された波形生成器と、第1波形と第2波形を切り替える波形切り替え手段とを含むことを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載のイオン分析装置。
- 前記波形が、負荷サイクル50%である第1波形と、負荷サイクルが50%ではない第2波形の間で切り替え可能であることを特徴とする請求項6に記載のイオン分析装置。
- 前記波形が、イオン通過モードとイオン分離モードとの間で切り替え可能であることを特徴とする請求項6に記載のイオン分析装置。
- 前記装置が、前記波形の負荷サイクルを0.55から0.5の範囲内で変更できるように構成されていることを特徴とする請求項6から8のいずれかに記載のイオン分析装置。
- 前記装置が、使用時に前記イオンが前記微分型イオン移動度分光器を通過するような電場を与えるイオン通過電場手段を含むことを特徴とする請求項1から9のいずれかに記載のイオン分析装置。
- 前記第2真空領域が前記質量分析器の前段に衝突冷却セルを含むことを特徴とする請求項1から10のいずれかに記載のイオン分析装置。
- 前記装置が、前記第1真空領域において前記イオン入口と関連付けられたガスフロー修正手段を含み、該ガスフロー修正手段が、使用時に、前記微分型イオン移動度分光器に対して実質的に層流のガスフローを形成することを特徴とする請求項1から11のいずれかに記載のイオン分析装置。
- 前記微分型イオン移動度分光器が、
(a) 2枚の平行平板電極
(b) 2つの同心円筒電極、及び
(c) 共通軸の周りで円周状に配置された複数の細長い電極からなり、電極の長軸が平行である多重極
から選択された電極配置を備えることを特徴とする請求項1から12のいずれかに記載のイオン分析装置。 - 前記微分型イオン移動度分光器が多重極を備え、前記装置が、前記多重極の内部に(i) 双極子場、及び(ii)より高次の電場を形成するように構成された波形生成器を含むことを特徴とする請求項13に記載のイオン分析装置。
- 使用時に、前記第2真空領域の圧力が10-4kPaよりも低いことを特徴とする請求項1から14のいずれかに記載のイオン分析装置。
- 前記質量分析器が、四重極フィルタ、飛行時間型分析器(TOF)、直線RFイオントラップ、及び静電イオントラップのいずれかであることを特徴とする請求項1から15のいずれかに記載のイオン分析装置。
- イオン分析方法であって、
(a) イオン化源においてサンプルからイオンを生成する
(b) イオン注入口を通じて、真空空間の第1真空領域に前記イオンを輸送する
(c) 前記第1真空領域において、前記イオンの質量分析を行う前に前記イオンの微分型イオン移動度分析を行う
(d) 極性が交互に切り替わる周期的な非対称波形により形成される非対称電場を用いて前記イオン光軸に対して垂直な方向にイオンを振動させる微分型イオン移動度分析の後、前記イオンを前記真空空間の第2真空領域に移送する
(e) 前記第2真空領域において前記イオンの質量分析を行う
ステップを含み、
使用時に、前記微分型イオン移動度分光器を含む前記第1真空領域の圧力が2kPaから40 kPaの範囲内であり、前記微分型イオン移動度分光器が20kHzから25MHzの範囲の周波数を有する非対称波形により駆動され、
前記方法が、前記微分型イオン移動度分光器にガス媒体を供給するような前記第1真空領域へのガスの流れの形成を含むことを特徴とするイオン分析方法。 - イオン分析装置であって、
試料からイオンを生成するイオン化源と、
イオン検出器と
を備え、
使用時に、イオンは前記イオン化源から前記イオン検出器までイオン光軸に沿って飛行し、前記装置はさらに、
微分型イオン移動度分光器を含む第1真空領域と、
質量分析器を含む第2真空領域と、
を含む真空空間と、
前記第2真空領域の圧力が前記第1真空領域の圧力よりも低くなるように構成された排気手段と、
前記イオン化源を前記第1真空領域に接続するイオン注入口と
を備え、
使用時に、前記試料から生成されたイオンが質量分析の前に微分型イオン移動度分析されるように、前記イオン光軸上において前記第1真空領域が前記第2真空領域の前段に位置しており、
前記微分型イオン移動度分光器は多重極を備え、そこでは複数の細長い電極が共通軸周りで円周状に配置され、電極の長軸が平行になっており、
前記装置は、前記多重極の内部に(i)双極子場と(ii)より高次の電場を与えるように構成された波形生成器を含む
ことを特徴とするイオン分析装置。 - イオン分析方法であって、該方法は
(a) イオン化源において試料からイオンを生成する
(b) イオン注入口を通って真空空間の第1真空領域にイオンを輸送する
(c) 前記第1真空領域において、前記イオンの質量分析に先立って前記イオンの微分型イオン移動度分析を行う
(d) 微分型イオン移動度分析の後、前記イオンを前記真空空間の第2領域に移動する
(e) 前記第2真空領域において前記イオンの質量分析を実行する
ステップを含み、
ステップ(c)は、共通軸の周りで円周状に配置され、電極の長軸が平行に配置された複数の細長い電極を備えた多重極による微分型イオン移動度分析の実行を含み、ステップ(c)が前記多重極内に(i)双極子場と(ii)より高次の電場を与えることを含む
ことを特徴とするイオン分析方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GBGB0907619.1A GB0907619D0 (en) | 2009-05-01 | 2009-05-01 | Ion analysis apparatus and method of use |
GB0907619.1 | 2009-05-01 | ||
PCT/GB2010/000873 WO2010125357A2 (en) | 2009-05-01 | 2010-04-30 | Ion analysis apparatus and method of use |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012525672A JP2012525672A (ja) | 2012-10-22 |
JP2012525672A5 JP2012525672A5 (ja) | 2013-05-30 |
JP5652473B2 true JP5652473B2 (ja) | 2015-01-14 |
Family
ID=40792192
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012507814A Active JP5652473B2 (ja) | 2009-05-01 | 2010-04-30 | イオン分析装置及びその使用方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8610054B2 (ja) |
EP (1) | EP2425446B1 (ja) |
JP (1) | JP5652473B2 (ja) |
CN (2) | CN105181781B (ja) |
GB (1) | GB0907619D0 (ja) |
WO (1) | WO2010125357A2 (ja) |
Families Citing this family (51)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5237734B2 (ja) * | 2008-09-24 | 2013-07-17 | 日本電子株式会社 | 収差補正装置および該収差補正装置を備える荷電粒子線装置 |
GB201205009D0 (en) * | 2012-03-22 | 2012-05-09 | Micromass Ltd | Multi-dimensional survey scans for improved data dependent acquisitions (DDA) |
WO2013171569A1 (en) * | 2012-05-18 | 2013-11-21 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Reducing interferences in isobaric tag-based quantification |
GB2502155B (en) * | 2012-05-18 | 2020-05-27 | Fasmatech Science And Tech Sa | Apparatus and method for controlling ions |
GB2508574B (en) * | 2012-06-24 | 2014-12-17 | Fasmatech Science And Technology Sa | Improvements in and relating to the control of ions |
EP3892990A1 (en) | 2013-03-06 | 2021-10-13 | Micromass UK Limited | Optimised ion mobility separation timescales for targeted ions |
GB2512640A (en) * | 2013-04-04 | 2014-10-08 | Fasmatech Science And Technology Sa | Improvements in and relating to the production and control of ions |
GB201309282D0 (en) | 2013-05-23 | 2013-07-10 | Shimadzu Corp | Circuit for generating a voltage waveform |
EP3011583B1 (en) * | 2013-06-21 | 2024-05-29 | DH Technologies Development PTE. Ltd. | Contamination filter for mass spectrometer |
EP3014648B1 (en) | 2013-06-27 | 2018-10-24 | Implant Sciences Corporation | Dual polarity spark ion source |
CN104282525A (zh) * | 2013-07-01 | 2015-01-14 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种大气压下的离子聚焦传输透镜 |
US20160187296A1 (en) * | 2013-08-14 | 2016-06-30 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Ion Mobility Method and Apparatus |
US9734997B2 (en) * | 2013-12-17 | 2017-08-15 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer and mass spectrometry method |
CN103745906B (zh) * | 2013-12-23 | 2016-04-27 | 聚光科技(杭州)股份有限公司 | 一种离子测量装置 |
CA2932671A1 (en) * | 2013-12-31 | 2015-07-09 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Vacuum dms with high efficiency ion guides |
EP3089812B1 (en) * | 2013-12-31 | 2024-01-10 | DH Technologies Development PTE. Ltd. | Jet injector inlet for a differential mobility spectrometer and method of analyzing ions |
JP6090201B2 (ja) * | 2014-02-19 | 2017-03-08 | 株式会社島津製作所 | マススペクトルデータ処理装置及びマススペクトルデータ処理方法 |
GB2525194B (en) * | 2014-04-14 | 2017-03-29 | Thermo Fisher Scient (Bremen) Gmbh | Method of assessing vacuum conditions in a mass spectrometer |
CN104051220B (zh) * | 2014-06-03 | 2017-01-18 | 清华大学深圳研究生院 | 一种离子分离装置 |
GB201410369D0 (en) * | 2014-06-11 | 2014-07-23 | Micromass Ltd | Monitoring IMS environment for improved CCS accuracy and precision |
US9941106B2 (en) * | 2014-06-11 | 2018-04-10 | Micromass Uk Limited | Quadrupole robustness |
US10388505B2 (en) * | 2014-06-11 | 2019-08-20 | Micromass Uk Limited | Monitoring ion mobility spectrometry environment for improved collision cross section accuracy and precision |
CN104237058A (zh) * | 2014-09-23 | 2014-12-24 | 中国科学技术大学 | 一种热重分子束质谱联用装置 |
GB2531292B (en) * | 2014-10-14 | 2019-06-12 | Smiths Detection Watford Ltd | Method and apparatus |
US10184914B2 (en) * | 2015-03-09 | 2019-01-22 | Shimadzu Corporation | Parallel plate-type non-uniform electric field ion mobility spectrometry device |
CN106340437B (zh) * | 2015-07-09 | 2019-03-22 | 株式会社岛津制作所 | 质谱仪及其应用的减少离子损失和后级真空负载的方法 |
EP3338298A4 (en) * | 2015-08-21 | 2019-04-17 | Pharmacadence Analytical Services, LLC | NEW METHOD FOR ASSESSING THE PERFORMANCE OF A SYSTEM FOR IONIZING AT ATMOSPHERIC PRESSURE |
JP2017090393A (ja) * | 2015-11-17 | 2017-05-25 | 株式会社島津製作所 | イオン移動度分離装置 |
US20180350581A1 (en) * | 2015-11-27 | 2018-12-06 | Shimadzu Corporation | Ion transfer apparatus |
WO2017168282A1 (en) * | 2016-04-02 | 2017-10-05 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Systems and methods for effective gap filtering and atmospheric pressure rf heating of ions |
CN107271575B (zh) * | 2016-04-08 | 2020-01-14 | 株式会社岛津制作所 | 离子迁移谱和质谱并行分析的方法及装置 |
EP3446326B1 (en) * | 2016-04-19 | 2023-12-27 | Micromass UK Limited | Transfer tube calibration |
US10458944B2 (en) * | 2016-06-03 | 2019-10-29 | Bruker Daltonik Gmbh | Trapped ion mobility spectrometer with high ion storage capacity |
WO2018069982A1 (ja) * | 2016-10-11 | 2018-04-19 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド及び質量分析装置 |
CN108091544B (zh) * | 2016-11-21 | 2019-09-06 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种基于微分迁移谱离子筛选的质谱化学电离源 |
CN109390206A (zh) * | 2017-08-04 | 2019-02-26 | 中国科学技术大学 | 小型化便携式质谱仪及用于产生水团簇离子的离子源装置 |
US11408853B2 (en) | 2018-01-17 | 2022-08-09 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | DM-SWATH acquisition to improve MSMS confidence |
CN108404592B (zh) * | 2018-05-10 | 2021-03-19 | 苏州大学附属第二医院 | 一种可有效提高集气效果的手术室用麻醉废气净化装置 |
JP2020020746A (ja) * | 2018-08-03 | 2020-02-06 | 株式会社リコー | 検出装置 |
CN112912991A (zh) * | 2018-11-29 | 2021-06-04 | 株式会社岛津制作所 | 质量分析装置 |
GB2586787A (en) * | 2019-08-30 | 2021-03-10 | Shimadzu Corp | Device for performing field asymmetric waveform ion mobility spectrometry |
GB2591069A (en) * | 2019-08-30 | 2021-07-21 | Shimadzu Corp | Device for performing field asymmetric waveform ion mobility spectrometry |
GB2586786A (en) * | 2019-08-30 | 2021-03-10 | Shimadzu Corp | Device for performing field asymmetric waveform ion mobility spectrometry |
US11293898B2 (en) * | 2020-02-06 | 2022-04-05 | Thermo Finnigan Llc | Duty cycle improvement for a mass spectrometer using ion mobility separation |
CN113871284A (zh) * | 2020-06-30 | 2021-12-31 | 株式会社岛津制作所 | 质谱仪 |
US11092569B1 (en) * | 2020-07-05 | 2021-08-17 | Cannabix Technologies Inc. | Apparatus and methods for detection of molecules |
US11273465B1 (en) * | 2020-09-17 | 2022-03-15 | Desaraju Subrahmanyam | Tunable electrostatic ion and fluid flow generator and electroacoustic transducer |
CN112595562B (zh) * | 2020-12-11 | 2022-12-06 | 中国科学院工程热物理研究所 | 可灵活布置的质谱同温原位采样接口和质谱同温原位采样方法 |
CN115705992A (zh) * | 2021-08-11 | 2023-02-17 | 株式会社岛津制作所 | 离子迁移谱-质谱联用分析装置 |
WO2024061468A1 (en) * | 2022-09-23 | 2024-03-28 | Shimadzu Corporation | Differential ion mobility analysis |
WO2024061469A1 (en) * | 2022-09-23 | 2024-03-28 | Shimadzu Corporation | Differential ion mobility spectrometry |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000063949A1 (en) | 1999-04-16 | 2000-10-26 | Mds Inc. | Mass spectrometer, including coupling of an atmospheric pressure ion source to a low pressure mass analyzer |
CA2401722C (en) | 2000-03-14 | 2009-10-20 | National Research Council Of Canada | Faims apparatus and method with laser-based ionization source |
GB0031342D0 (en) | 2000-12-21 | 2001-02-07 | Shimadzu Res Lab Europe Ltd | Method and apparatus for ejecting ions from a quadrupole ion trap |
CA2391060C (en) | 2001-06-21 | 2011-08-09 | Micromass Limited | Mass spectrometer |
US7091481B2 (en) * | 2001-08-08 | 2006-08-15 | Sionex Corporation | Method and apparatus for plasma generation |
JP2006521006A (ja) * | 2003-03-03 | 2006-09-14 | ブリガム・ヤング・ユニバーシティ | 直交加速飛行時間型質量分析のための新規な電子イオン化源 |
EP1820202A2 (en) * | 2004-12-07 | 2007-08-22 | Micromass UK Limited | Mass spectrometer |
US7351960B2 (en) | 2005-05-16 | 2008-04-01 | Thermo Finnigan Llc | Enhanced ion desolvation for an ion mobility spectrometry device |
WO2007056488A1 (en) * | 2005-11-07 | 2007-05-18 | Sionex Corporation | Method and apparatus for ion mobility based sample analysis |
GB0522933D0 (en) * | 2005-11-10 | 2005-12-21 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
EP1982349B1 (en) * | 2006-02-07 | 2018-07-25 | DH Technologies Development Pte. Ltd. | Chemical noise reduction for mass spectrometry |
EP2033209B1 (en) * | 2006-05-22 | 2020-04-29 | Shimadzu Corporation | Parallel plate electrode arrangement apparatus and method |
US20090283674A1 (en) | 2006-11-07 | 2009-11-19 | Reinhold Pesch | Efficient Atmospheric Pressure Interface for Mass Spectrometers and Method |
GB0622780D0 (en) | 2006-11-15 | 2006-12-27 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
US7550717B1 (en) | 2006-11-30 | 2009-06-23 | Thermo Finnigan Llc | Quadrupole FAIMS apparatus |
GB0703578D0 (en) | 2007-02-23 | 2007-04-04 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
CN101067616B (zh) * | 2007-06-06 | 2011-07-20 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 纵向高场不对称波形离子迁移谱装置 |
-
2009
- 2009-05-01 GB GBGB0907619.1A patent/GB0907619D0/en not_active Ceased
-
2010
- 2010-04-30 EP EP10722167.3A patent/EP2425446B1/en active Active
- 2010-04-30 WO PCT/GB2010/000873 patent/WO2010125357A2/en active Application Filing
- 2010-04-30 US US13/318,317 patent/US8610054B2/en active Active
- 2010-04-30 CN CN201510495958.7A patent/CN105181781B/zh active Active
- 2010-04-30 JP JP2012507814A patent/JP5652473B2/ja active Active
- 2010-04-30 CN CN201080019355.5A patent/CN102449727B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB0907619D0 (en) | 2009-06-10 |
US20120056085A1 (en) | 2012-03-08 |
CN105181781A (zh) | 2015-12-23 |
CN102449727A (zh) | 2012-05-09 |
CN102449727B (zh) | 2015-09-09 |
JP2012525672A (ja) | 2012-10-22 |
EP2425446B1 (en) | 2015-07-01 |
CN105181781B (zh) | 2018-08-21 |
EP2425446A2 (en) | 2012-03-07 |
US8610054B2 (en) | 2013-12-17 |
WO2010125357A2 (en) | 2010-11-04 |
WO2010125357A3 (en) | 2011-01-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5652473B2 (ja) | イオン分析装置及びその使用方法 | |
US8822915B2 (en) | Atmospheric pressure ionization mass spectrometer | |
US7781728B2 (en) | Ion transport device and modes of operation thereof | |
US8941058B2 (en) | Utilizing gas flows in mass spectrometers | |
US7514673B2 (en) | Ion transport device | |
JP5234019B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP5233670B2 (ja) | 質量分析装置 | |
US6744047B2 (en) | Multipole ion guide for mass spectrometry | |
US8637810B2 (en) | Atmospheric pressure ionization mass spectrometer | |
US20110147575A1 (en) | Ion funnel for mass spectrometry | |
US11195710B2 (en) | Hybrid mass spectrometric system | |
US11270877B2 (en) | Multipole ion guide | |
US20170148620A1 (en) | Ion transport apparatus and mass spectrometer using the same | |
JP2013545243A (ja) | 質量分析法における改良及び質量分析法に関係する改良 | |
JP2005259483A (ja) | 質量分析装置 | |
JP5673848B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP4844557B2 (ja) | 質量分析装置 | |
US8003938B2 (en) | Apertured diaphragms between RF ion guides | |
May | Development of a cryogenic drift cell spectrometer and methods for improving the analytical figures of merit for ion mobility-mass spectrometry analysis |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130402 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130402 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140318 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140516 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141021 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141103 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5652473 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |