JP5644580B2 - 異状判定装置及び異状判定方法 - Google Patents
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Description
(1)波長1384nmにおける反射率が0.35以下であり、波長1500nmにおける反射率が1未満の条件を満たす画素を、対象物撮像画素と判断した。
(2)波長1384nmにおける反射率に対する波長1300nmにおける反射率の比が1.2未満であり、且つ、波長1500nmにおける反射率が1未満の条件を満たす画素を対象物撮像画素と判断した。
(3)全ての画素を対象物撮像画素として使用した。
(A)波長1450nmにおける反射率と波長1270nmにおける反射率との比が所定の範囲に有る場合に、異状があると判断する方法
(B)主成分分析(PCA)
の2つの方法により、判定を行った。また(3)については、平均化処理を行った平均反射スペクトルについて、(A)(B)の2つの方法で判断を行った。それぞれの検出率(比較サンプルをただしく異状有りと判定した割合)と、誤検出率(基準サンプルを異状有りと判定した割合)とを表1に示す。
Claims (6)
- 検査対象物が収容された容器を撮像して得られたスペクトル画像に基づいて、該検査対象物の異状の有無を判定する異状判定装置であって、
前記容器に対して複数波長の光を照射する照射手段と、
前記照射手段より照射された光による前記容器からの反射光を受光することで、容器を撮像してスペクトル画像を得る撮像手段と、
前記撮像手段による撮像によって得られた前記スペクトル画像に含まれる全画素から前記検査対象物に係る情報が含まれる対象物撮像画素を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段により抽出された全ての前記対象物撮像画素における各波長に対するスペクトル強度の平均を求め、平均反射スペクトルを算出する平均化手段と、
前記平均化手段により算出された前記平均反射スペクトルに基づいて、前記検査対象物の異状の有無を判定する判定手段と、
を備えることを特徴とする異状判定装置。 - 前記照射手段は、波長1200〜2400nmの範囲に含まれる複数の波長の光を照射することを特徴とする請求項1記載の異状判定装置。
- 前記抽出手段は、前記スペクトル画像に含まれる各画素において、波長1200〜2400nmの範囲に含まれる第1の波長での反射率と、波長1200〜2400nmの範囲に含まれて前記第1の波長とは異なる第2の波長での反射率と、の比を算出し、この結果に基づいて当該画素が前記対象物撮像画素であるかを判断する
ことを特徴とする請求項2記載の異状判定装置。 - 前記抽出手段は、前記スペクトル画像に含まれる各画素において、波長1200〜2400nmの範囲に含まれる第3の波長での反射率が所定の範囲にあるか否かに基づいて当該画素が前記対象物撮像画素であるかを判断する
ことを特徴とする請求項2又は3記載の異状判定装置。 - 前記抽出手段は、前記スペクトル画像に含まれる各画素において、波長1200〜2400nmの範囲に含まれる第4の波長での反射率が1以上である場合には当該画素を前記対象物撮像画素から排除する
ことを特徴とする請求項3又は4記載の異状判定装置。 - 検査対象物が収容された容器を撮像して得られたスペクトル画像に基づいて、該検査対象物の異状の有無を判定する異状判定方法であって、
前記容器に対して複数波長の光を照射する照射ステップと、
前記照射ステップにおいて照射された光による前記容器からの反射光を受光することで、容器を撮像してスペクトル画像を得る撮像ステップと、
前記撮像ステップにおいて撮像によって得られた前記スペクトル画像に含まれる全画素から前記検査対象物に係る情報が含まれる対象物撮像画素を抽出する抽出ステップと、
前記抽出ステップにおいて抽出された全ての前記対象物撮像画素における各波長に対するスペクトル強度の平均を求め、平均反射スペクトルを算出する平均化ステップと、
前記平均化ステップにより算出された前記平均反射スペクトルに基づいて、前記検査対象物の異状の有無を判定する判定ステップと、
を有することを特徴とする異状判定方法。
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