JP5574530B2 - 実装基板検査装置及び実装基板検査方法 - Google Patents
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Description
或は、予め専門のエンジニアが各部品の検査の重要度を設定したデータを検査対象部品ライブラリに格納しておけば、検査エリアシーケンスの作成時に作業者が各部品の検査の重要度を設定する必要がなく、作業者の設定ミスによる検査品質の低下を確実に防止できる。
更に、本発明では、検査エリアシーケンスを作成する際に、実装基板のいずれか1つの角部周辺に最初の検査エリアを検査対象部品がより多く含まれるように配置し、以後、先に配置した検査エリアから移動した位置に次の検査エリアを検査対象部品がより多く含まれるように配置するという処理を繰り返すことで、実装基板上の全ての検査対象部品がいずれかの検査エリア内に収まるように検査エリアシーケンスを作成するようにしているため、最初の検査エリアを実装基板のいずれか1つの角部周辺に配置すれば、検査エリアの撮像順序を時計回り方向又は反時計回り方向のみとするように検査エリアシーケンスを作成することができ、カメラの移動距離を短くできる。
図1に示すように、実装基板検査装置は、実装基板の検査エリアを撮像するカメラ11と、このカメラ11をXY方向に移動させるXY移動装置12と、部品が実装された実装基板を搬送する基板搬送装置13と、これらの動作を制御する制御装置14等を備えた構成となっている。
検査エリアシーケンスを作成する際に、まず、実装基板のいずれか1つの角部に最初の検査エリアを検査対象部品がより多く含まれるように配置し、最初の検査エリアから時計回り方向に検査エリアを順番に配置する時計回り方向の検査エリアシーケンス作成処理と反時計回り方向に検査エリアを順番に配置する反時計回り方向の検査エリアシーケンス作成処理を行う。各検査エリアシーケンス作成処理では、先に配置した検査エリアから移動した位置に次の検査エリアを検査対象部品がより多く含まれるように配置するという処理を繰り返すことで、実装基板上の全ての検査対象部品がいずれかの検査エリア内に収まるように検査エリアシーケンスを作成する。
図5の例では、実装基板の左上の角部に配置した最初の検査エリアから下方に移動した位置に2番目の検査エリアを配置する。この際、2番目の検査エリア内に収める候補となる部品のうち、Y座標が一番大きく、X座標が一番小さい部品Cを2番目の検査エリアの左側上端に収める。一般に、先の検査エリアから下方に移動した位置に次の検査エリアを配置する場合は、次の検査エリア内に収める候補となる部品のうち、Y座標が一番大きく、X座標が一番小さい部品を次の検査エリアの左側上端に収めるように配置する。
尚、実装基板の右上の角部に最初の検査エリアを配置して、時計回り方向の検査エリアシーケンスを作成する場合は、上述した反時計回り方向の検査エリアシーケンスを作成する方法の説明において、「X座標が一番大きい」を「X座標が一番小さい」、「X座標が一番小さい」を「X座標が一番大きい」とそれぞれ読み替え、「右」を「左」、「左」を「右」とそれぞれ読み替えれば良い。
Claims (4)
- 部品が実装された実装基板の検査対象領域に複数の検査エリアを設定し、前記複数の検査エリアを1つずつ順番にカメラで撮像して当該検査エリア内の部品実装状態を検査する実装基板検査装置において、
前記実装基板に実装する各部品の検査の重要度を設定する検査重要度設定手段と、
目標タクトを設定する目標タクト設定手段と、
前記検査エリアの位置とエリア数と撮像順序を決める検査エリアシーケンスを作成する際に前記目標タクトに応じて検査の重要度の低い方の部品を検査対象から除外して前記検査エリアシーケンスをより少ないエリア数で前記実装基板上の全ての検査対象部品がいずれかの検査エリア内に収まるように作成する検査エリアシーケンス作成手段とを備え、
前記検査エリアシーケンス作成手段は、前記実装基板のいずれか1つの角部周辺に最初の検査エリアを検査対象部品がより多く含まれるように配置し、以後、先に配置した検査エリアから移動した位置に次の検査エリアを検査対象部品がより多く含まれるように配置するという処理を繰り返すことで、前記実装基板上の全ての検査対象部品がいずれかの検査エリア内に収まるように検査エリアシーケンスを作成することを特徴とする実装基板検査装置。 - 前記各部品の検査の重要度は、少なくとも前記実装基板上の部品間の間隔、部品サイズ及び部品のリードピッチを考慮して設定されることを特徴とする請求項1に記載の実装基板検査装置。
- 前記検査エリアシーケンス作成手段は、前記実装基板の4つの角部について、それぞれの角部周辺に配置した最初の検査エリアから時計回り方向に検査エリアを順番に配置する時計回り方向の検査エリアシーケンス作成処理と反時計回り方向に検査エリアを順番に配置する反時計回り方向の検査エリアシーケンス作成処理を行って、合計8通りの検査エリアシーケンスを作成し、これらの検査エリアシーケンスの中からエリア数とカメラ移動距離がより少ない検査エリアシーケンスを1つだけ採用することを特徴とする請求項1又は2に記載の実装基板検査装置。
- 部品が実装された実装基板の検査対象領域に複数の検査エリアを設定し、前記複数の検査エリアを1つずつ順番にカメラで撮像して当該検査エリア内の部品実装状態を検査する実装基板検査方法において、
前記実装基板に実装する各部品の検査の重要度と目標タクトを設定し、
前記目標タクトに応じて検査の重要度の低い方の部品を検査対象から除外して、前記検査エリアの位置とエリア数と撮像順序を決める検査エリアシーケンスを、より少ないエリア数で前記実装基板上の全ての検査対象部品がいずれかの検査エリア内に収まるように作成する実装基板検査方法であって、
前記実装基板のいずれか1つの角部周辺に最初の検査エリアを検査対象部品がより多く含まれるように配置し、以後、先に配置した検査エリアから移動した位置に次の検査エリアを検査対象部品がより多く含まれるように配置するという処理を繰り返すことで、前記実装基板上の全ての検査対象部品がいずれかの検査エリア内に収まるように検査エリアシーケンスを作成することを特徴とする実装基板検査方法。
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