JP5574460B2 - Image display device and display image inspection method - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 326
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 16
- 101100519293 Neurospora crassa (strain ATCC 24698 / 74-OR23-1A / CBS 708.71 / DSM 1257 / FGSC 987) pdx-1 gene Proteins 0.000 description 38
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 23
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 101150050307 PDX2 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 230000003902 lesion Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
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-
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- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
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- G—PHYSICS
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- Theoretical Computer Science (AREA)
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Description
本発明は、医療用画像等の高画質・高精細な画像を表示する画像表示装置及び表示画像検査方法に関する。 The present invention relates to an image display device and a display image inspection method for displaying high-quality and high-definition images such as medical images.
医療機関でX線写真の画像を表示する場合など、患者の病巣などを識別するに当たり、微妙な輝度の違いを表示させて、読み取る必要がある。このため、医療用の画像表示装置においては、優れたグレースケール再現性が要求されている。医用画像と通信の標準規格としてDICOM(Digtal Imaging and Communication in Medicine)が定められている。病院内外で異なる製造業者の、異なる種類のデジタル画像機器を、ネットワークや、画像記録媒体を介して相互に接続して、医用画像情報のやり取りや、データ伝送を可能とすることを目的としている。すなわち、DICOM規格に沿った表示装置では、どの装置で見ても医用画像の整合性を取ることが可能となる。 When a patient's lesion or the like is identified, such as when displaying an X-ray image in a medical institution, it is necessary to display and read a subtle difference in luminance. For this reason, excellent gray scale reproducibility is required in medical image display devices. DICOM (Digital Imaging and Communication in Medicine) is defined as a standard for medical images and communication. It is an object to enable exchange of medical image information and data transmission by connecting different types of digital image devices of different manufacturers inside and outside the hospital via a network or an image recording medium. That is, in a display device that complies with the DICOM standard, it is possible to maintain the consistency of medical images when viewed with any device.
DICOM規格では、表示装置のグレースケール再現性について定められており、グレースケール画像の表示のための標準表示関数が明記されている。人間の目は、画像の明るい領域よりも、暗い領域において相対的に高い感度を示す特性を持つため、この標準表示関数は非線形となる。そこで、DICOMでは、平均的な観察者が識別可能な最小の輝度差を表すJND(Just Noticeable Difference、最小弁別閥と呼ばれている)インデックスと輝度値との関係を測定し、この標準表示関数をグレースケール標準表示関数として定めている。このため、医用画像表示装置では、表示できる黒表示時の輝度値(黒輝度)と白表示時の輝度値(白輝度)とから、このグレースケール標準表示関数を求め、DICOMに対応したグレースケール再現性を実現している。このDICOMに対応した表示装置として、JNDや、DICOMガンマ特性に応じてLUT(Look Up Table)を求める技術が提案されている(例えば、特許文献1参照)。 The DICOM standard defines the gray scale reproducibility of the display device, and specifies a standard display function for displaying a gray scale image. Since the human eye has a characteristic of relatively higher sensitivity in a dark area than in a bright area of an image, this standard display function is non-linear. Therefore, DICOM measures the relationship between the JND (Just Notifiable Difference) index representing the minimum luminance difference that can be identified by the average observer and the luminance value, and this standard display function. Are defined as gray scale standard display functions. Therefore, in the medical image display device, the gray scale standard display function is obtained from the luminance value at the time of black display (black luminance) and the luminance value at the time of white display (white luminance), and the gray scale corresponding to DICOM is obtained. Reproducibility is realized. As a display device compatible with DICOM, a technique for obtaining a LUT (Look Up Table) according to JND or DICOM gamma characteristics has been proposed (see, for example, Patent Document 1).
図5は、上述したDICOM規格に合致したグレースケール再現性を実現する画像表示装置の構成を示すブロック図である。この図5に示す画像表示装置1Aは、アクティブマトリクス駆動型の液晶表示装置であり、この画像表示装置1Aは、映像信号処理部11と、制御部12と、テスト信号生成部13と、駆動部15と、テスト領域駆動部16と、バックライト駆動部17と、表示部21Aと、を有して構成される。
FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of an image display device that realizes gray scale reproducibility that conforms to the above-mentioned DICOM standard. The
図5に示す画像表示装置1Aにおいて、映像信号処理部11は、外部接続された映像信号発生装置等(図示せず)から映像信号が供給され、この供給された映像信号に対して必要な信号処理を施し、表示部21Aに出力する。また、この映像信号処理部11では、DICOMガンマ特性に従って、供給された映像信号のビデオレベルを変換する。また、表示部21Aは、通常の画像信号(画質検査用のテスト信号と対比する意味での画像信号)を表示する表示素子領域22Aと、後述する画質管理用のテスト信号を表示するテスト領域23Bと、バックライト24と、テスト領域23Bの前面に設けられるセンサ部25とを有している。表示部21A内の表示素子領域22A及びテスト領域23B内の素子(画素)は、後述する駆動部15及びテスト領域駆動部16により表示駆動される。
In the
上記テスト領域23Bは、表示素子領域22Aの外側に格子(マトリクス)状に配置される所定個数の素子(画素)で形成される領域であり、このテスト領域23B内の画素にテスト信号が表示される。センサ部25は、テスト領域23Bの前面に設けられるフロントセンサであり、このセンサ部25によりテスト領域23B内に表示されるテスト信号の画像を検出し、その検出信号を制御部12に出力する。なお、テスト領域23Bとセンサ部25とは、表示素子領域22Aの外枠内に隠されるようにして配置され、表示画面の前面側(ユーザ側)からは見えないようにして配置されている。
The
テスト領域23Bに表示されるテスト信号は、テスト信号生成部13により生成される信号であり、例えば、全白信号や、中間階調信号(グレースケール信号)等である。このテスト信号をテスト領域23Bに表示し、このテスト領域23Bに表示された画像をセンサ部25により検出することにより、供給される映像信号がDICOMガンマ特性に従って正しく変換されているか否かを検出する。このセンサ部25で検出された信号は制御部12に向けて出力される。
The test signal displayed in the
制御部12は、センサ部25からテスト領域23Bの画像の検出信号が供給され、この検出信号を基に、映像信号処理部11において映像信号がDICOMガンマ特性に従って正しく変換されるように、当該映像信号処理部11における変換動作を制御する。
これにより、画像表示装置1Aは、表示部21Aに画像を表示する際に、DICOM規格に合致したグレースケールの再現性を確保することができる。また、画像表示装置1Aは、バックライト24における輝度の経年変化を補正することができる。The
Thereby, the
図6は、表示素子領域22Aとテスト領域23Bの構成について示す図である。この図6に示すように、テスト領域23Bは、通常の画像信号を表示する表示素子領域22Aの外側(この例では最上部)に、この表示素子領域22Aに隣接するようにして設けられている。この図に示すように、表示素子領域22Aは、行方向にn個、列方向にm個の素子(以下「画素」とも呼ぶ)を格子(マトリクス)状に配置して構成される。より具体的には、スイッチング素子(TFT)のゲートに接続されるゲート制御線GL1〜GLnと、このゲート制御線GL1〜GLnに交差するように列方向に配列されたソース線(信号線)SL1〜SLmと、のそれぞれの交点にn×m個の画素PD(及びスイッチング素子(TFT))が配置される。この表示素子領域22A内の各画素PDは、ゲート制御線GL1〜GLnと、ソース線SL1〜SLmを通して、駆動部15により駆動される。この駆動部15には、ゲート駆動回路15Aと、ソース駆動回路15Bとが含まれる。
FIG. 6 is a diagram showing the configuration of the
ゲート駆動回路15Aは、ゲート制御線GL1〜GLnにゲート制御信号(ゲート線選択信号)を出力する回路である。また、ソース駆動回路15Bは、ソース線(信号線)SL1〜SLmに画像の表示信号(通常の画像信号或いはテスト信号)を出力する回路である。このゲート駆動回路15Aとソース駆動回路15Bにより、ゲート制御線GL1〜GLnとソース線SL1〜SLmとの各交点に配されたスイッチング素子(TFT)を選択し、この選択したスイッチング素子(TFT)に繋がる画素PDに画像の表示信号を供給する。
The
また、テスト領域23Bは4つの画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4で構成されている。より具体的には、ゲート制御線GLx1及びGLx2と、ソース線SLr及びSLr+1とのそれぞれの交点に、スイッチング素子(TFT)及び画素PDt1〜PDt4とが配置されている。そして、テスト領域駆動部16は、テスト領域23B内の画素PDt1〜PDt4を駆動するための駆動回路であり、このテスト領域駆動部16内のテスト領域ゲート駆動回路16Aによりゲート制御線GLx1及びGLx2に出力されるゲート制御信号が生成される。このテスト領域23Bとテスト領域駆動部16の構成により、テスト領域23B内の画素PDt1〜PDt4に対して、テスト領域駆動部16からゲート制御線GLx1及びGLx2を通してゲート制御信号が送られ、また、ソース駆動回路15Bからソース線SLr及びSLr+1を通してテスト信号が送られる。
The
以上説明したように、画像表示装置1Aにおいては、テスト領域23Bを設けるとともに、このテスト領域23B内の画素PDt1〜PDt4に表示される画像をセンサ部25により検出する。制御部12は、センサ部25からテスト領域23Bの画像の検出信号が供給され、この検出信号を基に、映像信号処理部11において映像信号がDICOMガンマ特性に従って正しく変換されるように、当該映像信号処理部11における変換動作を制御する。
As described above, in the
しかしながら、画像表示装置1Aにおいては、表示素子領域22Aを駆動する駆動部15に加えて、さらにテスト領域23Bを駆動するためのテスト領域駆動部16を追加する必要がある。すなわち、テスト領域23B内の画素PDt1〜PDt4を駆動するためのテスト領域ゲート駆動回路16A等が必要になる。さらには、テスト領域23B内のスイッチング素子(TFT)を駆動するためのゲート制御線GLx1及びGLx2(テスト領域駆動部16からテスト領域23Bに至るまでの信号線)を表示部21(より正確には液晶パネル上)に追加する必要がある。このため、画像表示装置1Aにおける回路構成が複雑化し、また、テスト領域23B内の画素PDt1〜PDt4を駆動するための制御が複雑化する。このため、画像表示装置1Aの製造コストが上昇するという問題があった。
However, in the
このように、解決する課題は、表示素子領域の外側に表示画像検査用のテスト領域を配置する際に、このテスト領域内の画素を駆動するための専用の駆動部を不要とし、画像表示装置における回路構成を簡略化することができるとともに、テスト領域にテスト信号を表示する際の制御を簡略化できる、画像表示装置、及び表示画像検査方法を提供することにある。 Thus, the problem to be solved is that when a test region for display image inspection is arranged outside the display element region, a dedicated drive unit for driving the pixels in the test region is unnecessary, and the image display device It is possible to provide an image display apparatus and a display image inspection method capable of simplifying the circuit configuration of the apparatus and simplifying control when displaying a test signal in a test area.
本発明の画像表示装置は、格子状に配置された複数の素子によって画像を表示する表示素子領域と、前記表示素子領域外に前記表示素子領域から、前記格子状に配列された前記表示素子領域の素子の一の配列方向に沿って並べて設けられる所定数の素子を備えるテスト領域と、前記表示される画像の画質を管理するために前記テスト領域に画像を表示させるテスト信号を生成するテスト信号生成部と、前記テスト信号と、前記表示素子領域に画像を表示する画像信号とを切り替える信号切替部と、前記テスト領域の素子と前記同じ制御信号が供給される前記表示素子領域の素子に、前記テスト信号を供給するように前記信号切替部を制御する制御部と、を備え、前記テスト領域の素子には、前記テスト領域と並べて設けられている前記表示素子領域の素子に供給される制御信号と同じ制御信号が、前記テスト領域と前記表示素子領域とをともに駆動する第1の駆動部から供給され、前記テスト領域と並べて設けられている前記表示素子領域の素子に供給されるテスト信号と同じテスト信号が、前記テスト領域と前記表示素子領域とをともに駆動する第2の駆動部から供給され、前記テスト領域の素子は、前記格子状に配列された前記表示素子領域の素子の一の配列方向に沿って前記素子のゲートを制御するゲート制御信号を供給するゲート制御線と、前記ゲート制御線と直交し、前記素子に表示させるテスト信号を供給するソース線とを、前記同じ制御信号と前記同じテスト信号が供給される前記表示素子領域の素子と共用することを特徴とする。 The image display device of the present invention, a display element area for displaying a plurality of elements thus images arranged in a grid, from the display element area outside the display device region, wherein the display elements arranged in the grid pattern A test area having a predetermined number of elements arranged side by side along one arrangement direction of elements in the area, and a test for generating a test signal for displaying an image in the test area in order to manage the image quality of the displayed image A signal generation unit, a signal switching unit that switches between the test signal and an image signal for displaying an image in the display element region, and an element in the display element region that is supplied with the same control signal as an element in the test region , and a control unit for controlling the signal switching unit to supply the test signal, the element of the test area, the display element is provided side by side with the test area The display element region, which is supplied in parallel with the test region, is supplied from a first drive unit that drives the test region and the display element region together with the control signal supplied to the elements in the region The same test signal as the test signal supplied to the element is supplied from a second driving unit that drives both the test area and the display element area, and the elements in the test area are arranged in the lattice shape. A gate control line for supplying a gate control signal for controlling the gates of the elements along one arrangement direction of the elements in the display element region, and a test signal orthogonal to the gate control lines and displayed on the elements are supplied. The source line is shared with the element in the display element region to which the same control signal and the same test signal are supplied .
本発明の画像表示装置においては、画像を表示する複数の素子が格子状に配列された表示素子領域の外側に、この表示素子領域の一の方向に沿って並べて設けられる所定数の素子を備えるテスト領域を設ける。このテスト領域の素子には、このテスト領域と並べて設けられている表示素子領域の素子に供給される制御信号と同じ制御信号を供給し、また、テスト領域の素子には、このテスト領域と並べて設けられている表示素子領域の素子に供給されるテスト信号と同じテスト信号を供給する。
これにより、表示素子領域の外側に表示画像の検査用のテスト領域を配置する際に、このテスト領域の素子を駆動するための専用の駆動部を省略することができ、回路構成を簡略化することができる。また、テスト領域にテスト信号を表示する際の制御を簡略化できる。In the image display device of the present invention, a predetermined number of elements are provided outside the display element region in which a plurality of elements for displaying an image are arranged in a lattice pattern along one direction of the display element region. A test area is provided. The same control signal as the control signal supplied to the elements in the display element area provided in parallel with the test area is supplied to the elements in the test area, and the elements in the test area are aligned with the test area. The same test signal as the test signal supplied to the element in the provided display element region is supplied.
Thus, when a test area for inspecting a display image is arranged outside the display element area, a dedicated drive unit for driving elements in the test area can be omitted, and the circuit configuration is simplified. be able to. Further, it is possible to simplify the control when displaying the test signal in the test area.
以下、本発明の実施の形態を、添付図面を参照して説明する。
図1は、本発明の実施形態に係わる画像表示装置の構成を示すブロック図である。図1に示す画像表示装置1は、上述したDICOM規格に合致したグレースケール再現性を実現するアクティブマトリクス駆動型の液晶表示装置である。図1に示すように、画像表示装置1は、映像信号処理部11と、制御部12と、テスト信号生成部13と、信号切替部14と、駆動部15と、バックライト駆動部17と、表示部21と、を有して構成される。この表示部21は、液晶表示パネルであり、通常の画像信号(画質検査用のテスト信号と対比する意味での画像信号)を表示する表示素子領域22と、テスト信号を表示するテスト領域23と、バックライト24と、センサ部25と、を有している。Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an image display apparatus according to an embodiment of the present invention. An
なお、図1に示す画像表示装置1は、図5に示す画像表示装置1Aと比較して、図1に示す信号切替部14が新たに追加され、また、図5に示すテスト領域駆動部16を削除した点が異なる。また、図1に示すテスト領域23内の画素の駆動方法が、図5に示すテスト領域23B内の画素の駆動方法と異なる。他の構成については、図1に示す画像表示装置1と図5に示す画像表示装置1Aとは同様な構成のものであり、このため、同一の構成部分には同一の符号を付している。
In addition, the
図1に示す画像表示装置1において、映像信号処理部11は、外部接続された映像信号発生装置等(図示せず)から映像信号が供給され、この供給された映像信号に対して必要な信号処理(例えば、データフォーマット変換や、色変換等)を施す。また、この映像信号処理部11は、DICOMガンマ特性に従って、供給された映像信号のビデオレベルを変換して駆動部15に出力する。この映像信号処理部11は、供給された映像信号による入力画像のデータをDICOMガンマ特性に準じて変換させる元データとして、DICOMガンマ特性に準じた出力輝度値と、入力画像の入力輝度値とを対応付けたLUT(ルックアップテーブル)11Aを有しており、このLUT(ルックアップテーブル)11Aを参照して、供給された映像信号のビデオレベルを変換する。
In the
制御部12は、画像表示装置1内の各処理部を統括して制御し、画像表示装置1に必要とされる処理機能を実現する。テスト信号生成部13は、制御部12により制御され、テスト領域23に画像表示させるテスト信号(例えば、グレースケール信号等)を生成する。信号切替部14は、供給される映像信号とテスト信号とのいずれかの信号を選択し、この選択した信号を駆動部15に出力する。この信号切替部14は、表示部21内の表示素子領域22に通常の画像信号を表示するタイミングにおいては映像信号を選択し、表示部21内のテスト領域23にテスト信号を表示するタイミングにおいてはテスト信号を選択して駆動部15に出力する。駆動部15は、ゲート駆動回路15Aと、ソース駆動回路15Bを有しており、ゲート駆動回路15Aにより、表示素子領域22及びテスト領域23内の画素に対してゲート制御信号を出力し、ソース駆動回路15Bにより、表示素子領域22及びテスト領域23内の画素に対してソース信号(画素に表示する信号)を出力する。
The
表示部21は、通常の画像信号を表示する表示素子領域22と、画質検査用のテスト信号を表示するテスト領域23と、バックライト24と、フロントセンサとなるセンサ部25とを有している。表示素子領域22は、図2に示すように、n×m個の画素が格子(マトリクス)状に配列されて構成される画素領域であり、通常の画像信号が表示される画素領域である。なお、より正確には、後述するように一部の画素にテスト信号が表示される。
The
テスト領域23は、表示素子領域22の外側に、一の方向(例えば、図2に示すX(行)方向)に沿って格子状に配置される所定個数(例えば、4個や、16個等)の素子で形成される画素領域であり、このテスト領域23内の画素にはテスト信号が表示される。また、センサ部25がテスト領域23の前面に設けられ、このセンサ部25によりテスト領域23内に表示される画像(テスト信号に対応する画像)を検出し、センサ部25は、この検出信号を制御部12に出力する。
A predetermined number (for example, four, sixteen, etc.) of
なお、テスト領域23内の画素(より正確には表示素子領域22内の一部の画素を含む)とセンサ部25とは、表示素子領域22の外周部を覆うように設けられた筐体の外枠の内部に配置されている。それゆえ、テスト領域23内の画素と表示素子領域22内の一部の画素とセンサ部25とは、表示部21の正面、すなわち表示画面が表示されている側に位置するユーザ側からは見えないように隠されている。バックライト24は、制御部12により制御されるバックライト駆動部17により駆動され、このバックライト駆動部17は、制御部12の指示に応じた輝度で発光するようにバックライト24を駆動する。
It should be noted that the pixels in the test area 23 (more precisely, some pixels in the
上記構成において、制御部12は、テスト信号生成部13に制御指令を送り、このテスト信号生成部13によりテスト信号を生成させる。このテスト信号は、例えば、全白信号や、複数段階のグレースケール信号等である。そして、このテスト信号をテスト領域23に画像として表示させる際には、1画面分(1フレーム)の画像を表示する走査期間中において、このテスト領域23にテスト信号を表示するタイミングに合わせて、信号切替部14が、テスト信号生成部13により生成されたテスト信号を選択する。信号切替部14は、この選択したテスト信号を駆動部15に出力し、駆動部15は、このテスト信号をテスト領域23に表示する。
In the above configuration, the
センサ部25は、テスト領域23に表示されたテスト信号の画像(例えば、グレースケール画像の輝度)を検出し、センサ部25は、この画像の検出信号を制御部12に出力する。制御部12は、センサ部25からテスト領域23に表示された画像の検出信号が供給され、この検出信号を基に、表示部21に表示された映像信号がDICOMガンマ特性に従って正しく変換されているか否かを判定する。そして、その映像信号がDICOMガンマ特性に従って正しく変換されていない場合は、映像信号がDICOMガンマ特性に従って正しく変換されるように、すなわちグレースケール再現性が確保されるようにLUT11Aに保持されるテーブル値を補正する。これにより、画像表示装置1は、DICOM規格に合致したグレースケール再現性が確保されるように、映像信号処理部11の動作を制御することができる。また、画像表示装置1は、センサ部25から供給された検出信号を基に、バックライト24における輝度の経年変化についても補正することができる。
The
なお、画像表示装置1は、CPU、ROM、RAM、タイマ、及びカウンタ等を有するマイクロコントローラやマイクロコンピュータ等を有しており、この画像表示装置1において行われる処理の過程は、プログラムの形式でROM等に記憶されており、このプログラムをCPUが読み出して実行することによって、画像表示装置1に必要な処理機能が実現される。すなわち、映像信号処理部11、制御部12、テスト信号生成部13、信号切替部14、駆動部15、バックライト駆動部17、及び表示部21等において行われる各処理の全部または1部の処理は、CPUがROM等から上記プログラムを読み出して、情報の加工、演算処理を実行することにより、実現されるものである。
The
また、図2は、表示素子領域とテスト領域の構成を示す図である。この図2に示すように、テスト領域23は、通常の画像信号を表示する表示素子領域22の最上部側(Y方向側)に付加された形状で形成される。表示素子領域22は、行方向にn個、列方向にm個の画素PD(合計n×m個の画素PD)を格子状に配置して形成される。すなわち、表示素子領域22は、ゲート制御線GL1〜GLnと、このゲート制御線GL1〜GLnに交差するように列方向に配列されたソース線(信号線)SL1〜SLmとのそれぞれの交点に画素PDを配置して形成される。
FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the display element region and the test region. As shown in FIG. 2, the
ゲート駆動回路15Aは、ゲート制御線GL1〜GLnにゲート制御信号(ゲート選択信号)を出力する回路である。また、ソース駆動回路15Bは、ソース線SL1〜SLmに画像の表示信号(通常の画像信号或いはテスト信号)を出力する回路である。このゲート駆動回路15Aとソース駆動回路15Bとにより、ゲート制御線GL1〜GLnとソース線SL1〜SLmの各交点に配されたスイッチング素子(TFT)を選択し、この選択したスイッチング素子(TFT)に繋がる画素PDに画像の表示信号(通常の画像信号或いはテスト信号)を供給する。
The
また、テスト領域23は、4つの画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4を格子状に配列して構成されている。このテスト領域23内において、各画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4のスイッチング素子(TFT)のゲートは共通接続されるとともに、表示素子領域22内のゲート制御線GL1に接続されている。すなわち、各画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4のゲート制御線は、テスト領域23に隣接する画素PDx1、PDx2のゲート制御線GL1に共通接続されている。
The
また、同じ列(Y方向)に並ぶ2つの画素PDt1及びPDt2のソース線は共通接続されるとともに、表示素子領域22内のソース線SLrに接続されている。すなわち、2つの画素PDt1及びPDt2のソース線は、テスト領域23に隣接する表示素子領域22内の画素PDx1のソース線に共通接続されている。また、同じ列(Y方向)に並ぶ2つの画素PDt3及びPDt4のソース線は共通接続されるとともに、表示素子領域22内のソース線SLr+1に接続される。すなわち、画素PDt3及びPDt4のソース線は、テスト領域23に隣接する表示素子領域22内の画素PDx2のソース線に共通接続されている。
The source lines of the two pixels PDt1 and PDt2 arranged in the same column (Y direction) are connected in common and also connected to the source line SLr in the
従って、テスト領域23内の同じ列(Y方向)に並ぶ画素PDt1及びPDt2と、この画素PDt1及びPDt2と同じ列(Y方向)に並ぶ表示素子領域22内の画素PDx1とは、同じゲート制御線GL1からの信号によりスイッチング素子(TFT)が制御され、また同じソース線SLrにより画像の表示信号(ここではテスト信号)が供給される。すなわち、テスト領域23内の画素PDt1及びPDt2には、表示素子領域22内の画素PDx1と同じテスト信号が表示される。
Accordingly, the pixels PDt1 and PDt2 arranged in the same column (Y direction) in the
同様にして、テスト領域23内の同じ列(Y方向)に並ぶ画素PDt3及びPDt4と、この画素PDt3及びPDt4と同じ列に並ぶ表示素子領域22内の画素PDx2とは、同じゲート制御線GL1からの信号によりスイッチング素子(TFT)が制御され、また同じソース線SLr+1により画像の表示信号(ここではテスト信号)が供給される。すなわち、テスト領域23内の画素PDt3及びPDt4には、表示素子領域22内の画素PDx2と同じテスト信号が表示される。
Similarly, the pixels PDt3 and PDt4 arranged in the same column (Y direction) in the
従って、テスト信号生成部13により生成されたテスト信号をテスト領域23に画像として表示させる際には、1画面表示(1フレームの画像を表示)する走査期間中において、表示素子領域22内の画素PDx1及びPDx2のそれぞれが選択されるタイミングにおいて、当該画素PDx1及びPDx2にテスト信号を画像として表示させることにより、テスト領域23内の画素に同じテスト信号を画像として表示させることができる。すなわち、表示素子領域22内の最上部の2つの画素PDx1、PDx2を利用して、テスト領域23内の画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4にテスト信号を表示することができる。
Accordingly, when the test signal generated by the test
これにより、テスト領域23内の画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4を駆動するための専用の駆動部(例えば、図5に示すテスト領域駆動部16)が不要になり、回路構成を簡略化できる。また、画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4を駆動する信号線(ゲート制御線及びソース線)を、表示素子領域22内の画素PDx1、PDx2の信号線と共用化でき、テスト領域23内の画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4に接続される信号配線を簡略化できるとともに、テスト領域23内の画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4にテスト信号を表示させる際の制御が簡単になる。
This eliminates the need for a dedicated drive unit (for example, the test
なお、テスト領域23内の画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4と、表示素子領域22内の画素PDx1、PDx2と、センサ部25とは、表示素子領域22の外周部を覆うように設けられた筐体の内部(以下「表示素子領域22の外枠内」という。)に配置されており、表示画面の前面側(ユーザ)からは隠されて見えないようにして配置されている。すなわち、図2に示す態様では、テスト領域23内の画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4と、表示素子領域22内の画素PDx1、PDx2との合計6個の画素が見えないように隠される。また、図2に示す態様では、テスト領域23内に配置される画素が4つの場合を示しているが、より多数の画素を配置することができる。例えば、後述する図3に示すように16個の画素を格子状に配置することができ、また、例えば、16×16個の画素を格子状に配置することもできる。
The pixels PDt1, PDt2, PDt3, and PDt4 in the
また、図3は、テスト領域及び表示素子領域におけるテスト信号の表示態様を示す図である。図3(A)に示すように、テスト信号をテスト領域23に画像として表示させる際には、1画面表示(1フレームの画像を表示)する走査期間T(垂直同期信号により規定される走査期間)おいて、前述の表示素子領域22内の画素(テスト信号の表示に利用される画素)のそれぞれの画素が選択されるタイミングにおいて、テスト領域23にテスト信号の画像を表示させる。
FIG. 3 is a diagram showing a display mode of test signals in the test area and the display element area. As shown in FIG. 3A, when a test signal is displayed as an image in the
また、図3(B)は、図3(A)に示すテスト領域23の部分を拡大して示した図である。但し、この図3(B)では、テスト領域23内に4×4個の画素(合計16個の画素)を格子状に配置した例を示している。この図3(B)に示すように、テスト信号の表示に使用される表示素子領域22内の画素(破線aで囲まれる画素)のそれぞれが選択されるタイミングにおいて、当該表示素子領域22内の画素にテスト信号を表示(破線a内の左側の素子から順番にテスト信号を表示)することにより、これに合わせて、テスト領域23内の16個の画素にテスト信号を表示(左側の列から4個ずつ順番にテスト信号を表示)することができる。
なお、前述したように、テスト領域23内の画素と、表示素子領域22内の画素(破線aで囲まれる画素)とは、表示素子領域22の外枠内に隠れるようにして配置されており、図3に示す例では、合計20個の画素とセンサ部25とが外枠内に隠される。FIG. 3B is an enlarged view of a portion of the
As described above, the pixels in the
また、図4は、テスト領域の他の実施態様を示す図である。前述した図2に示す例では、表示素子領域22の最上部側(Y方向側)にテスト領域23を配置する例を示したが、図4に示すように、表示素子領域22の最端部側(X方向側)にテスト領域23Aを配置することもできる。
FIG. 4 is a diagram showing another embodiment of the test area. In the example shown in FIG. 2 described above, the example in which the
この図4に示すように、テスト領域23Aは、通常の画像信号を表示する表示素子領域22の最端部側(X方向側)に付加された形状で形成される。このテスト領域23Aは、4つの画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4を格子状に配列して構成されている。このテスト領域23内において、各画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4のソース線は共通接続されるとともに、表示素子領域22内のソース線SLmに接続される。そして、同じ行(X方向)に並ぶ2つの画素PDt1及びPDt2のスイッチング素子(TFT)のゲートは共通接続されるとともに、表示素子領域22内のゲート制御線GLrに接続される。また、同じ行(X方向)に並ぶ2つの画素PDt3及びPDt4のスイッチング素子(TFT)のゲートは共通接続されるとともに、ゲート制御線GLr+1に接続される。
As shown in FIG. 4, the
従って、テスト領域23A内の同じ行(X方向)に並ぶ画素PDt1及びPDt2と、同じ行(X方向)に並ぶ表示素子領域22内の画素PDx1とは、同じゲート制御線GLrでスイッチング素子(TFT)が制御され、また同じソース線SLmにより画像の表示信号(ここではテスト信号)が与えられる。すなわち、テスト領域23A内の画素PDt1及びPDt2には、表示素子領域22内の画素PDx1が駆動されるタイミングにおいて、この画素PDx1と同じテスト信号が表示される。
Accordingly, the pixels PDt1 and PDt2 arranged in the same row (X direction) in the
同様にして、テスト領域23A内の同じ行(X方向)に並ぶ画素PDt3及びPDt4と、同じ行(X方向)に並ぶ表示素子領域22内の画素PDx2とは、同じゲート制御線GLr+1により供給される制御信号によりスイッチング素子(TFT)が制御され、また同じソース線SLmにより画像の表示信号(ここではテスト信号)が供給される。すなわち、テスト領域23A内の画素PDt3及びPDt4には、表示素子領域22内の画素PDx2が駆動されるタイミングにおいて、この画素PDx2と同じテスト信号が表示される。
Similarly, the pixels PDt3 and PDt4 arranged in the same row (X direction) in the
従って、テスト信号をテスト領域23Aに画像として表示させる際には、1画面表示(1フレームの画像を表示)する走査期間中において、表示素子領域22内の画素PDx1及びPDx2のそれぞれが選択されるタイミングにおいて、当該画素PDx1及びPDx2にテスト信号の画像を表示させることにより、テスト領域23A内の画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4についても同じテスト信号の画像を表示させることができる。
Accordingly, when the test signal is displayed as an image in the
なお、テスト領域23A内の画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4と、表示素子領域22内の画素PDx1、PDx2と、センサ部25とは、表示素子領域22の外枠内に配置されており、表示素子領域22の前面側(ユーザ)からは隠れて見えないようにされている。
Note that the pixels PDt1, PDt2, PDt3, and PDt4 in the
以上説明したように、上記実施形態の画像表示装置1においては、表示素子領域22の外側に表示画像の画質を検査するためのテスト領域23または23Aを配置する際に、このテスト領域内の画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4を駆動するための専用の駆動回路(例えば、図5に示すテスト領域駆動部16)を省略することができ、回路構成を簡略化することができる。また、テスト領域23内の画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4を駆動する信号線(ゲート制御線およびソース線)として、表示素子領域22内の画素(テスト領域23に隣接し、テスト信号の表示に利用される画素PDx1、PDx2)を駆動する信号線(ゲート制御線およびソース線)を用いることができるため、テスト領域23内の画素に接続される信号配線を簡略化できる。また、テスト領域23及び23A内の画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4にテスト信号を表示させる際の制御を簡略化できる。
As described above, in the
なお、ここで、本発明と上述した実施形態との対応関係について補足して説明しておく。上記実施形態において、本発明における画像表示装置は、画像表示装置1が対応する。また、本発明における表示素子領域は、表示部21内の表示素子領域22が対応する。また、本発明におけるテスト領域は、表示部21内のテスト領域23及びテスト領域23Aが対応する。また、本発明における第1の駆動部は、駆動部15内のゲート駆動回路15Aが対応し、本発明における第2の駆動部は、ソース駆動回路15Bが対応する。
Here, the correspondence between the present invention and the above-described embodiment will be supplementarily described. In the above embodiment, the image display device according to the present invention corresponds to the
また、本発明におけるテスト信号生成部は、テスト信号生成部13が対応し、本発明における信号切替部は、信号切替部14が対応し、また、本発明における制御部は、制御部12が対応する。また、本発明における表示素子領域内の画像を表示する素子は、表示素子領域22内の画素(画素PD、画素PDx1、PDx2)が対応し、本発明におけるテスト領域の素子は、テスト領域23及び23A内の画素(画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4)が対応する。また、本発明における表示素子領域の素子は、表示素子領域22内の画素(画素PD、PDx1、PDx2)が対応する。
Further, the test signal generation unit in the present invention corresponds to the test
(1)そして、上記実施形態において、本発明の画像表示装置1は、格子状に配置された複数の素子に画像を表示する表示素子領域22と、表示素子領域22外に表示素子領域22から、上記格子状に配列された表示素子領域22の素子の一の配列方向(例えば、図2に示すX方向)に沿って並べて設けられる所定数の素子を備えるテスト領域23と、を備え、テスト領域23の素子(画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4)には、テスト領域23と並べて設けられている上記表示素子領域22の素子(画素PDx1、PDx2)に供給される制御信号と同じ制御信号(ゲート制御信号)が、テスト領域23と表示素子領域22とをともに駆動する第1の駆動部(ゲート駆動回路15A)から供給され、テスト領域23と並べて設けられている上記表示素子領域22の素子(画素PDx1、PDx2)に供給されるテスト信号と同じテスト信号が、テスト領域23と表示素子領域22とをともに駆動する第2の駆動部(ソース駆動回路15B)から供給される。
(1) In the above embodiment, the
このような構成の画像表示装置1においては、表示素子領域22の外側に一の配列方向(例えば、図2に示すX方向)に沿って所定数の素子(画素PDt1、PDt2、PDt3、PDt4)が配列されるテスト領域23を設ける。そして、テスト領域23内の素子(画素PDt1〜PDt4)には、このテスト領域23内の素子(画素PDt1〜PDt4)と並べて設けられている表示素子領域22内の素子(画素PDx1、PDx2)に供給される制御信号と同じ制御信号(ゲート信号)を供給し、また、同じ表示素子領域22内の素子(画素PDx1、PDx2)に供給されるテスト信号(画素PDx1、PDxの表示信号としてテスト信号を与える場合の当該テスト信号)と同じテスト信号を供給する。
In the
これにより、表示素子領域22の外側に表示画像の検査用のテスト領域23を配置する際に、このテスト領域23内の素子(画素PDt1〜PDt4)を駆動するための専用の駆動部(例えば、図5に示すテスト領域駆動部16)を省略することができ、回路構成を簡略化することができる。また、テスト領域23内の素子(画素PDt1〜PDt4)を駆動する信号線(ゲート制御線およびソース線)として、表示素子領域22内の素子(画素PDx1、PDx2)を駆動する信号線(ゲート制御線および信号線ソース線)を用いることができるため、テスト領域23内の素子(画素PDt1〜PDt4)に接続される信号配線を簡略化できるとともに、テスト領域23内の素子(画素PDt1〜PDt4)にテスト信号を表示する際の制御を簡略化できる。
As a result, when the
(2)また、上記実施形態において、本発明の画像表示装置1は、テスト領域23の素子(画素PDt1〜PDt4)に表示するテスト信号を生成するテスト信号生成部13と、テスト領域23の素子(画素PDt1〜PDt4)に表示するテスト信号と、表示素子領域22に表示する画像信号とを切り替える信号切替部14と、テスト領域23の素子(画素PDt1〜PDt4)と同じ制御信号(ゲート信号)が供給される表示素子領域22の素子(画素PDx1、PDx2)に、テスト信号を供給するように信号切替部14を制御する制御部12と、を備える。
(2) In the above embodiment, the
このような構成の画像表示装置1においては、テスト信号生成部13により、テスト領域23に表示するテスト信号を生成する。このテスト信号は、例えば、全白信号や、複数段階のグレースケール信号等である。そして、制御部12は、1画面表示(1フレームの画面表示)の走査期間中に、表示素子領域22の素子(画素PDx1及びPDx2)が選択されるタイミングにおいて、当該表示素子領域22の素子(画素PDx1及びPDx2)にテスト信号を表示させるように信号切替部14を制御する。
In the
これにより、表示素子領域22の素子(画素PDx1及びPDx2)にテスト信号を表示させることにより、同時にテスト領域23内の素子(画素PDt1〜PDt4)にテスト信号を表示させることができる。
Thereby, by displaying the test signal on the elements (pixels PDx1 and PDx2) in the
(3)また、上記実施形態において、テスト領域23の素子(画素PDt1〜PDt4)は、格子状に配列された表示素子領域22の素子の一の配列方向(例えば、図2に示すX方向)に沿って素子(画素PDt1〜PDt4)のゲート(スイッチング素子(TFT))を制御するゲート制御信号を供給するゲート制御線と、このゲート制御線と直交し、素子(画素PDt1〜PDt4)に表示するテスト信号を供給するソース線とを、同じ制御信号と同じテスト信号が供給される表示素子領域22の素子(画素PDx1、PDx2)と共用する。
(3) In the above embodiment, the elements in the test area 23 (pixels PDt1 to PDt4) are arranged in one direction of the elements in the
このような構成の画像表示装置1においては、テスト領域23の素子(画素PDt1〜PDt4)は、ゲート制御信号を供給するゲート制御線と、テスト信号を供給するソース線とを、同じゲート制御信号と同じテスト信号が供給される表示素子領域22の素子(画素PDx1、PDx2)と共用する。
これにより、テスト領域23内の素子(画素PDt1〜PDt4)を駆動する信号線(ゲート制御線およびソース線)として、表示素子領域22内の素子(画素PDx1、PDx2)を駆動する信号線(ゲート制御線およびソース線)を用いることができる。このため、テスト領域23内の素子(画素PDt1〜PDt4)への信号線の配線を簡略化できる。In the
Accordingly, signal lines (gates for driving elements (pixels PDx1, PDx2) in the
(4)また、上記実施形態において、上記テスト信号は、テスト領域23の素子(画素PDt1〜PDt4)に表示する輝度を切り替える信号である。
これにより、テスト信号を、全白信号や、グレースケール信号等の輝度を切り替える信号とし、このテスト信号により表示される画像をセンサ部25により検出することにより、制御部12は、映像信号処理部11において映像信号がDICOMガンマ特性に従って正しく変換されるように、当該映像信号処理部11を制御することができる。このため、画像表示装置1は、供給される映像信号を表示部に表示する際に、DICOM規格に合致したグレースケール再現性を確保することができる。(4) In the above embodiment, the test signal is a signal for switching the luminance displayed on the elements (pixels PDt1 to PDt4) in the
As a result, the test signal is a signal for switching the luminance such as an all white signal or a gray scale signal, and the image displayed by the test signal is detected by the
(5)また、上記実施形態において、テスト領域23は、表示素子領域22に隣接するように配置されるとともに表示素子領域22の行方向(図2に示すX方向)に沿って所定数の素子(画素PDt1〜PDt4)が格子状に並べて設けられ、テスト領域23の素子(画素PDt1〜PDt4)のゲート制御線は、表示素子領域22内の素子であってテスト領域23の素子(画素PDt1〜PDt4)に隣接する素子(画素PDx1、PDx2)のゲート制御線に接続され、テスト領域23の素子(画素PDt1〜PDt4)のソース線は、テスト領域23内の素子(画素PDt1〜PDt4)に隣接するとともに同じ列に並べて配置されている表示素子領域22の素子(画素PDx1、PDx2)のソース線に接続される。
(5) In the above embodiment, the
これにより、表示素子領域22の外側に表示画像の検査用のテスト領域23を行方向(図2に示すX方向)に並べて配置する際に、このテスト領域23内の素子(画素PDt1〜PDt4)を駆動するための専用の駆動部(例えば、図5に示すテスト領域駆動部16)を省略することができ、回路構成を簡略化することができる。また、テスト領域23内の素子(画素PDt1〜PDt4)を駆動する信号線(ゲート制御線およびソース線)として、表示素子領域22内の素子(画素PDx1、PDx2)を駆動する信号線(ゲート制御線をソース線)を用いることができるため、テスト領域23内の素子(画素PDt1〜PDt4)に接続される信号配線を簡略化できるとともに、テスト領域23内の素子(画素PDt1〜PDt4)にテスト信号を表示する際の制御を簡略化できる。
Thus, when the
(6)また、上記実施形態において、テスト領域23Aは、表示素子領域22に隣接するように配置されるとともに表示素子領域22の列方向(図4に示すY方向)に沿って所定数の素子(画素PDt1〜PDt4)が格子状に並べて設けられ、テスト領域23Aの素子(画素PDt1〜PDt4)のゲート制御線は、テスト領域23Aの素子(画素PDt1〜PDt4)に隣接するとともにテスト領域23Aの素子(画素PDt1〜PDt4)と同じ行に並べて配置されている表示素子領域22の素子(画素PDx1、PDx2)のゲート制御線に接続され、テスト領域23Aの素子(画素PDt1〜PDt4)のソース線は、表示素子領域22内の素子であってテスト領域23Aの素子(画素PDt1〜PDt4)に隣接する素子(画素PDx1、PDx2)のソース線に接続される。
(6) In the above embodiment, the
これにより、表示素子領域22の外側に表示画像の検査用のテスト領域23Aを列方向(図4に示すY方向)に並べて配置する際に、このテスト領域23A内の素子(画素PDt1〜PDt4)を駆動するための専用の駆動部(例えば、図5に示すテスト領域駆動部16)を省略することができ、回路構成を簡略化することができる。また、テスト領域23A内の素子(画素PDt1〜PDt4)を駆動する信号線(ゲート制御線およびソース線)として、表示素子領域22内の素子(画素PDx1、PDx2)を駆動する信号線(ゲート制御線をソース線)を用いることができるため、テスト領域23A内の素子(画素PDt1〜PDt4)に接続される信号配線を簡略化できるとともに、テスト領域23A内の素子(画素PDt1〜PDt4)にテスト信号を表示する際の制御を簡略化できる。
Thus, when the
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明の画像表示装置は、上述の図示例にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。 Although the embodiment of the present invention has been described above, the image display apparatus of the present invention is not limited to the above illustrated example, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention. Of course.
1,1A…画像表示装置
11…映像信号処理部
11A…LUT
12…制御部
13…テスト信号生成部
14…信号切替部
15…駆動部
15A…ゲート駆動回路
15B…ソース駆動回路
16…テスト領域駆動部
17…バックライト駆動部
21,21A…表示部
22,22A…表示素子領域
23,23A,23B…テスト領域
24…バックライト
25…センサ部
GL1〜GLn…ゲート制御線
SL1〜SLm…ソース線
PD,PDt1,PDt2,PDt3,PDt4,PDx1,PDx2…画素(素子)DESCRIPTION OF
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記表示素子領域外に前記表示素子領域から、前記格子状に配列された前記表示素子領域の素子の一の配列方向に沿って並べて設けられる所定数の素子を備えるテスト領域と、
前記表示される画像の画質を管理するために前記テスト領域に画像を表示させるテスト信号を生成するテスト信号生成部と、
前記テスト信号と、前記表示素子領域に画像を表示する画像信号とを切り替える信号切替部と、
前記テスト領域の素子と前記同じ制御信号が供給される前記表示素子領域の素子に、前記テスト信号を供給するように前記信号切替部を制御する制御部と、
を備え、
前記テスト領域の素子には、
前記テスト領域と並べて設けられている前記表示素子領域の素子に供給される制御信号と同じ制御信号が、前記テスト領域と前記表示素子領域とをともに駆動する第1の駆動部から供給され、
前記テスト領域と並べて設けられている前記表示素子領域の素子に供給されるテスト信号と同じテスト信号が、前記テスト領域と前記表示素子領域とをともに駆動する第2の駆動部から供給され、
前記テスト領域の素子は、
前記格子状に配列された前記表示素子領域の素子の一の配列方向に沿って前記素子のゲートを制御するゲート制御信号を供給するゲート制御線と、
前記ゲート制御線と直交し、前記素子に表示させるテスト信号を供給するソース線とを、
前記同じ制御信号と前記同じテスト信号が供給される前記表示素子領域の素子と共用する
ことを特徴とする画像表示装置。 A display element area for displaying the result image into a plurality of elements arranged in a grid,
A test region comprising a predetermined number of elements arranged side by side along one array direction of the elements of the display element region arranged in a lattice form from the display element region outside the display element region;
A test signal generation unit for generating a test signal for displaying an image in the test area in order to manage image quality of the displayed image;
A signal switching unit that switches between the test signal and an image signal for displaying an image in the display element region;
A control unit that controls the signal switching unit to supply the test signal to an element in the display element region to which the same control signal as the element in the test region is supplied;
With
The elements in the test area include
The same control signal as the control signal supplied to the elements in the display element region provided side by side with the test region is supplied from a first drive unit that drives both the test region and the display element region,
The same test signal as the test signal supplied to the elements in the display element region provided side by side with the test region is supplied from a second drive unit that drives both the test region and the display element region,
The elements in the test area are
A gate control line for supplying a gate control signal for controlling a gate of the element along one arrangement direction of the elements in the display element region arranged in the lattice pattern;
A source line that is orthogonal to the gate control line and supplies a test signal to be displayed on the element;
An image display apparatus, which is shared with elements in the display element region to which the same control signal and the same test signal are supplied .
前記テスト領域の素子のゲート制御線は、
前記表示素子領域内の素子であって前記テスト領域の素子に隣接する素子のゲート制御線に接続され、
前記テスト領域の素子のソース線は、
前記テスト領域内の素子に隣接するとともに同じ列に並べて配置されている前記表示素子領域の素子のソース線に接続される
ことを特徴とする請求項1に記載の画像表示装置。 The test area is arranged adjacent to the display element area and a predetermined number of elements are arranged in a grid along the row direction of the display element area.
The gate control line of the element in the test region is
Connected to a gate control line of an element in the display element region and adjacent to the element in the test region;
The source line of the element in the test region is
The image display device according to claim 1, wherein the image display device is connected to a source line of an element in the display element region that is adjacent to the element in the test region and arranged in the same column.
前記テスト領域の素子のゲート制御線は、
前記テスト領域の素子に隣接するとともに前記テスト領域の素子と同じ行に並べて配置されている前記表示素子領域の素子のゲート制御線に接続され、
前記テスト領域の素子のソース線は、
前記表示素子領域内の素子であって前記テスト領域の素子に隣接する素子のソース線に接続される
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の画像表示装置。 The test area is arranged adjacent to the display element area and a predetermined number of elements are arranged in a grid along the column direction of the display element area,
The gate control line of the element in the test region is
Connected to the gate control line of the element of the display element region adjacent to the element of the test region and arranged in the same row as the element of the test region;
The source line of the element in the test region is
The image display apparatus according to claim 1 or claim 2, characterized in that it is connected to a source line of the elements adjacent to the element of the test area a device of the display element region.
テスト領域が前記表示素子領域外に前記表示素子領域から、前記格子状に配列された前記表示素子領域の素子の一の配列方向に沿って並べて設けられる所定数の素子を備える過程と、
前記表示される画像の画質を管理するために前記テスト領域に画像を表示させるテスト信号を生成する過程と、
信号切替部が、前記テスト信号と、前記表示素子領域に画像を表示する画像信号とを切り替える過程と、
前記テスト領域の素子と前記同じ制御信号が供給される前記表示素子領域の素子に、前記テスト信号を供給するように前記信号切替部を制御する過程と、
前記テスト領域の素子には、
前記テスト領域と並べて設けられている前記表示素子領域の素子に供給される制御信号と同じ制御信号が、前記テスト領域と前記表示素子領域とをともに駆動する第1の駆動部から供給され、
前記テスト領域と並べて設けられている前記表示素子領域の素子に供給されるテスト信号と同じテスト信号が、前記テスト領域と前記表示素子領域とをともに駆動する第2の駆動部から供給される過程と、
前記テスト領域の素子は、
前記格子状に配列された前記表示素子領域の素子の一の配列方向に沿って前記素子のゲートを制御するゲート制御信号を供給するゲート制御線と、
前記ゲート制御線と直交し、前記素子に表示させるテスト信号を供給するソース線とを、
前記同じ制御信号と前記同じテスト信号が供給される前記表示素子領域の素子と共用する過程と
を含むことを特徴とする表示画像検査方法。 A process in which the display element area to display the result image into a plurality of elements arranged in a grid,
A process in which a test region includes a predetermined number of elements provided side by side along one array direction of the elements of the display element region arranged in a lattice form from the display element region outside the display element region;
Generating a test signal for displaying an image in the test area in order to manage the image quality of the displayed image;
A process in which the signal switching unit switches between the test signal and an image signal for displaying an image on the display element region;
Controlling the signal switching unit to supply the test signal to an element in the display element region to which the same control signal as the element in the test region is supplied;
The elements in the test area include
The same control signal as the control signal supplied to the elements in the display element region provided side by side with the test region is supplied from a first drive unit that drives both the test region and the display element region,
A process in which the same test signal as the test signal supplied to the elements in the display element area provided side by side with the test area is supplied from a second drive unit that drives both the test area and the display element area When,
The elements in the test area are
A gate control line for supplying a gate control signal for controlling a gate of the element along one arrangement direction of the elements in the display element region arranged in the lattice pattern;
A source line that is orthogonal to the gate control line and supplies a test signal to be displayed on the element;
A display image inspection method, comprising: a step of sharing with the elements in the display element region to which the same control signal and the same test signal are supplied .
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2011/052900 WO2012108041A1 (en) | 2011-02-10 | 2011-02-10 | Image display device and display image inspection method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2012108041A1 JPWO2012108041A1 (en) | 2014-07-03 |
JP5574460B2 true JP5574460B2 (en) | 2014-08-20 |
Family
ID=46638280
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012556717A Expired - Fee Related JP5574460B2 (en) | 2011-02-10 | 2011-02-10 | Image display device and display image inspection method |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5574460B2 (en) |
WO (1) | WO2012108041A1 (en) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2011
- 2011-02-10 JP JP2012556717A patent/JP5574460B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2011-02-10 WO PCT/JP2011/052900 patent/WO2012108041A1/en active Application Filing
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2012108041A1 (en) | 2012-08-16 |
JPWO2012108041A1 (en) | 2014-07-03 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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