JP5567322B2 - Test flow presentation computer program, test flow presentation computer system - Google Patents

Description

本発明は、利用者がコンピュータシステムを使用して利用することができる、ＬＳＩのテストフロー作成を支援するテストフロー提示コンピュータプログラム、に関するものである。   The present invention relates to a test flow presentation computer program that supports the creation of an LSI test flow that can be used by a user using a computer system.

ＬＳＩのテストフローを作成する際に、従来は、確たる基準も無く、知識と経験を元に手探りで製造上の不良を発見するテストフローの作成が行われていた。製造上の不良を発見するテストを説明すると、ＬＳＩの生産においては、製造工程で発生した不良の検出を目的として、テストが行われる。一例としては、製造中に微小なホコリが付着することによって信号線が短絡または断線したりすることがあるので、このような影響を受けた製品を不良品として発見することである。   Conventionally, when creating an LSI test flow, there has been no standard, and a test flow for finding defects in manufacturing based on knowledge and experience has been created. A description will be given of a test for finding a manufacturing defect. In the production of an LSI, a test is performed for the purpose of detecting a defect generated in a manufacturing process. As an example, since a signal line may be short-circuited or disconnected due to a minute dust adhering during manufacturing, the affected product is discovered as a defective product.

近年の高度に集積されたＬＳＩにおいては、設計者が設計したままの回路に対して動作検証用のパターンを適用するだけでは充分に故障を検出できない。そのため、テスト容易化設計（ＤＦＴ）技術に基づいて回路を修正し、また、適切なテストパターンを生成する必要がある。この、回路に対するＤＦＴの適用およびテストパターン生成の一連の手続きをテストフローと呼ぶ。テストフローの作成は、従来は確たる基準もなく、知識と経験を元に手探りで行われていた。   In a highly integrated LSI in recent years, a failure cannot be detected sufficiently only by applying an operation verification pattern to a circuit as designed by a designer. Therefore, it is necessary to modify the circuit based on the design for testability (DFT) technique and generate an appropriate test pattern. A series of procedures for applying a DFT to a circuit and generating a test pattern is called a test flow. In the past, the creation of a test flow has been carried out frantically based on knowledge and experience, without any definite standard.

しかし、知識と経験を元に手探りで製造上の不良を発見するテストフローの作成手法では、技術者のミスや、技術者によって判断が異なることがあり、不必要なテストをテストフローに含めることによって、不要にＬＳＩの回路規模が大きくなったり、パターン増加によるテストコスト増、良品・不良品を正確に判別できないことによる歩留まり損失（良品1チップあたりの製造コスト増加）、製造上の不良を発見するのに必要なテストを見落とすことによる市場不良の増加（信頼性の低下）、といった不都合がある。   However, in the method of creating a test flow that discovers manufacturing defects based on knowledge and experience, the mistakes of engineers and judgments may differ depending on the engineer, and unnecessary tests should be included in the test flow. Unnecessarily increases the LSI circuit scale, increases test costs due to increased patterns, yield loss (increased manufacturing cost per non-defective product), and manufacturing defects due to inaccurate discrimination of non-defective / defective products There is an inconvenience such as an increase in market defects (decrease in reliability) due to oversight of tests necessary for the operation.

必要なテストを見落とした場合、不良品が出荷されてしまう。不必要なテストをテストフローに含めてしまうと、本来良品である半導体を不良品としてしまう。良品を不良品と判断してしまう誤判定が発生しうる要因としては、例えば、テストしてはいけないパスに対してパターン生成をしてしまった場合が考えられる。具体的には、スキャン回路によって、通常動作では遷移できない状態に移行できるため、この状態でテストしてしまった場合など、である。他にも、テスト時は通常動作時より回路活性化率が高くなる（あちこち一斉にパタパタ動く）ため、テスト時のみ電力が足りなくなって遅く見えてしまい、プロセスばらつきとの相乗効果で一部のチップがスペックを下回ってしまう場合、などが考えられる。   If a necessary test is overlooked, defective products will be shipped. If an unnecessary test is included in the test flow, a semiconductor that is originally a good product is regarded as a defective product. As a factor that may cause an erroneous determination that determines that a non-defective product is a defective product, for example, a case where a pattern is generated for a path that should not be tested is considered. More specifically, the scan circuit can make a transition to a state that cannot be changed in normal operation, and thus the test is performed in this state. In addition, since the circuit activation rate during test is higher than that during normal operation (moves in and out all at once), power is insufficient only during the test and it looks slow. If the chip falls below the spec, etc.

テストフロー生成のやり直しを行わなければならない場合は、設計開発工数増加に繋がってしまうという不都合がある。これらの不都合を解決するため、知識や経験の浅い技術者でも最適なテストフローを作成することが出来る手法が望まれていた。   If the test flow generation needs to be performed again, there is an inconvenience that it leads to an increase in design development man-hours. In order to solve these inconveniences, there has been a demand for a technique that enables even an inexperienced engineer to create an optimal test flow.

以下の特許文献１には、ＬＳＩのテストに関する技術が開示されている。
特開２００６−３１３５４号公報 Patent Document 1 below discloses a technique related to LSI testing.
JP 2006-31354 A

本発明の解決しようとする課題は、技術者の知識や経験に依存することなく、良品を良品として、不良品を不良品として正確に検出するために必要となるテストを含み、不必要なテストを含まないテストフローの作成を実現することである。   The problems to be solved by the present invention include tests necessary for accurately detecting a non-defective product as a non-defective product and a defective product as a non-defective product without depending on the knowledge and experience of an engineer. It is to create a test flow that does not include.

具体的には、必ずしも数学的な最適を保証するものでなくとも、設計開発工数を（人手でやるよりずっと）削減することや、製造コスト及びテストコストを削減すること、製造されたＬＳＩの信頼性を向上させること、ができるテストフローの作成の自動化を実現することである。   Specifically, even if mathematical optimization is not necessarily guaranteed, the design and development man-hours can be reduced (much more than manually), the manufacturing and test costs can be reduced, and the reliability of the manufactured LSI can be reduced. It is to realize automation of the creation of a test flow that can improve the performance.

１、   1,

（１）
そこで、上記課題を解決するため、本発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、情報を記憶する記憶手段と、情報を処理する処理手段と、利用者に情報を表示する出力手段と、利用者からの命令を受け付ける入力手段とを備えたコンピュータシステムにおけるコンピュータプログラムであって、ＬＳＩのテストフロー作成を支援するテストフロー提示コンピュータプログラムである。 (1)
In order to solve the above problems, a test flow presentation computer program according to the present invention includes a storage means for storing information, a processing means for processing information, an output means for displaying information to a user, and a user. And a test flow presentation computer program for supporting the creation of an LSI test flow.

また、前記コンピュータシステムの記憶手段は、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けを含むテスト難易度算出要素データベースを記憶し、
前記テスト難易度算出要素データベースの数値をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであるテストメニューレコードを２以上含む、テストメニューデータベースを記憶し、
前記ＤＦＴ手法と前記優先度との関連付けを１以上含むテストフローデータベースを記憶している。 The storage means of the computer system is a test including an association of a net list, the number of package pins, the number of test pins, a desired operating frequency, process technology information, power consumption during testing, and tester capacity. Store the difficulty calculation element database,
The test difficulty level calculation formula that calculates the test difficulty level based on the numerical value of the test difficulty level calculation element database, the test difficulty level reference formula, the DFT method, and the test menu record that is the association with the priority are 2 Including the test menu database,
A test flow database including one or more associations between the DFT technique and the priority is stored.

そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに、以下の（１）及び（２）の処理を行わせ、以下の（３）の処理も行わせること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。   Then, the processing means of the computer system is caused to perform the following processes (1) and (2) for each test menu record in the test menu database of the storage means, and also perform the following process (3). The test flow presentation computer program characterized by the above.

（１） 前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードごとにテスト難易度を算出すること、

（２） 当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードから、
当該算出したテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させること、

（３） 前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示すること。
(1) Based on the test difficulty calculation formula,
The association of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the process technology information, the power consumption during the test, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means. Of these, using one or more information, calculating a test difficulty level for each test menu record in the test menu database,

(2) From the test menu record of the test menu database,
All the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated test difficulty are specified, and the association between the identified DFT technique and the priority is the test flow database of the storage unit To remember,

(3) Associating the DFT technique and priority stored in the test flow database of the storage means,
Sorting DFT methods in the order of the associated priorities, storing the sorted DFT methods in the storage means as a test flow, and displaying and presenting them on the output means.

（２）
ここで、「記憶手段」とは、例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ＨＤＤ等のコンピュータシステムにおける記憶装置が該当する。
「処理手段」とは、例えば、ＣＰＵ等のコンピュータシステムにおける演算装置や、通信ネットワークで接続されたコンピュータシステムにおける中央処理サーバコンピュータが該当する。
「出力手段」とは、例えば、ディスプレイ等のコンピュータシステムにおける情報を表示する出力装置や、通信ネットワークで接続されたコンピュータシステムにおける情報端末としての携帯電話端末やパーソナルコンピュータ等が該当する。
「入力手段」とは、例えば、キーボード、マウス、タッチパネル等のコンピュータシステムにおける入力装置や、通信ネットワークで接続されたコンピュータシステムにおける情報端末としての携帯電話端末やパーソナルコンピュータ等が該当する。 (2)
Here, the “storage means” corresponds to a storage device in a computer system such as a RAM, a ROM, and an HDD, for example.
The “processing means” corresponds to, for example, an arithmetic device in a computer system such as a CPU or a central processing server computer in a computer system connected via a communication network.
The “output means” corresponds to, for example, an output device that displays information in a computer system such as a display, a mobile phone terminal as an information terminal in a computer system connected via a communication network, a personal computer, or the like.
The “input means” corresponds to, for example, an input device in a computer system such as a keyboard, a mouse, a touch panel, a mobile phone terminal or a personal computer as an information terminal in a computer system connected via a communication network.

「コンピュータシステム」は、パーソナルコンピュータ等の１のハードウェア内にて完結して構成される場合もあるし、複数のコンピュータにより構成される場合もある。複数のコンピュータにより構成される場合の例として、通信ネットワークで接続されたコンピュータシステムにおいて、「処理手段」は中央処理サーバコンピュータ、「記憶手段」は中央処理サーバコンピュータが管理する記憶装置、「出力手段」や「入力手段」としては中央処理サーバコンピュータと通信する情報端末（携帯電話、パーソナルコンピュータ）、等の場合が該当する。   The “computer system” may be configured entirely within one piece of hardware such as a personal computer, or may be configured with a plurality of computers. As an example in the case of being configured by a plurality of computers, in a computer system connected by a communication network, “processing means” is a central processing server computer, “storage means” is a storage device managed by the central processing server computer, “output means” "Or" input means "corresponds to the case of an information terminal (mobile phone, personal computer), etc. that communicates with the central processing server computer.

「ネットリスト」とは、ＬＳＩの回路記述の一種であり、回路は論理ゲートの接続として現される。ＬＳＩ設計フローにおいて、ネットリストはレジスタ転送レベル（ＲＴＬ）で記述された回路の論理合成によって得られる。この「ネットリスト」により、ＬＳＩ設計図の回路のゲート数、回路内のＦＦ数、機能ピン数（回路のプライマリ入力、プライマリ出力数）が決定される。
また、「パッケージピン数」とは、チップの使用として決定されるＬＳＩを収めるパッケージに備わっている接続ピン数である。
「テストピン数」とは、「パッケージピン数」のうち、「機能ピン数」及び「電源・グランドピン数」を除いた、ＬＳＩのテストに使用できるピン数のことである。
「機能ピン数」とは、ＬＳＩの本来の回路に使用される必要ピン数である。
「電源・グランドピン数」とは、電源供給及び、接地に使用されるピンのピン数のことであり、信号のやりとり以外に使用されるピンのピン数である。これらの合計数を電源・グランドピン数と呼ぶ。 A “net list” is a kind of LSI circuit description, and a circuit is represented as a connection of logic gates. In the LSI design flow, the netlist is obtained by logic synthesis of circuits described at the register transfer level (RTL). This “net list” determines the number of gates of the circuit in the LSI design drawing, the number of FFs in the circuit, and the number of function pins (the number of primary inputs and primary outputs of the circuit).
Further, the “number of package pins” is the number of connection pins provided in a package that accommodates an LSI that is determined as the use of a chip.
The “number of test pins” is the number of pins that can be used for LSI testing, excluding the “number of functional pins” and the “number of power supply / ground pins” among the “number of package pins”.
The “number of functional pins” is the necessary number of pins used in the original circuit of the LSI.
The “number of power / ground pins” is the number of pins used for power supply and grounding, and is the number of pins used for other than signal exchange. The total number of these is called the number of power supply / ground pins.

「希望動作周波数」とは、ＬＳＩの回路が実動作する場合に保証されるべき周波数のことである。実動作速度テスト（遅延テスト、機能テストなど）を行う場合には、テスト周波数の決定要因となる。
「プロセステクノロジー情報」とは、半導体工場の性能、及びそこで製造される半導体製品そのものに関する情報であり、クリーンルームの塵除去能力、最小加工線幅、配線材料、メタル層の数、などが該当する。 The “desired operating frequency” is a frequency that should be guaranteed when an LSI circuit actually operates. When performing an actual operation speed test (delay test, function test, etc.), it becomes a determining factor of the test frequency.
“Process technology information” is information about the performance of a semiconductor factory and the semiconductor product itself manufactured there, and corresponds to dust removal capability of a clean room, minimum processing line width, wiring material, number of metal layers, and the like.

「テスト時の消費電力」とは、テスト対象の半導体製品が通常の動作によって消費する電力（通常時の消費電力）とは異なり、半導体製品をテストする際に消費される電力である。近年の低消費電力設計が適用された回路では、通常時の消費電力よりも、テスト時の消費電力のほうが大きくなることが多い。半導体の設計は通常時の消費電力を念頭に行われるため、テスト時の消費電力によって、製品が故障してしまう可能性もある。テスト時の消費電力を抑えるようテスト手法を選択する必要がある。
「テスター容量」とは、ＬＳＩのテストを実行するテスターのメモリ容量である。 “Power consumption at the time of test” is power consumed when testing a semiconductor product, unlike power consumed by a semiconductor product to be tested by normal operation (power consumption at normal time). In a circuit to which a low power consumption design in recent years is applied, the power consumption during the test is often larger than the power consumption during the normal time. Since semiconductor design is performed with power consumption in the normal state in mind, there is a possibility that the product may break down due to power consumption during the test. It is necessary to select a test method to reduce power consumption during the test.
The “tester capacity” is a memory capacity of a tester that executes an LSI test.

「テスト難易度算出式」とは、テスト難易度算出要素データベースの数値をもとにテスト難易度を算出するための算出式であって、テスト難易度算出要素データベースの数値の１以上の情報を変数として、テスト難易度を算出するための式である。
「テスト難易度」とは、それぞれのＤＦＴ手法を適用したＬＳＩのテストの難易度について、数値で難易度を表したものである。
「テスト難易度基準式」とは、テスト難易度算出式により算出されたテスト難易度が、当該基準式を満たしているか否かにより、特定の「ＤＦＴ手法」が必要であるか否かを判断するための判定式である。
「ＤＦＴ手法」とは、ＬＳＩのテストを行うため、設計段階でテストの際に必要となる回路の追加や工夫を施す手法である。これにより、ＬＳＩのテストの適用時間を短縮し、テスト対象範囲を拡大したテストを実施することが出来る。
「優先度」とは、それぞれのＤＦＴ手法を実施するために適した順番を表す優先順位を表したものである。それぞれのＤＦＴ手法を実施する順番を誤ると、不都合が生じる場合があるからである。
「テストメニューレコード」とは、テスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであり、テストメニューデータベースを構成する各レコードである。テストメニューデータベースは、テストメニューレコードを２以上含んでいる。 The “test difficulty calculation formula” is a calculation formula for calculating the test difficulty based on the numerical value of the test difficulty calculation element database, and one or more pieces of information of the numerical value of the test difficulty calculation element database This is an equation for calculating the test difficulty level as a variable.
The “test difficulty” is a numerical value representing the difficulty of testing an LSI to which each DFT technique is applied.
“Test difficulty standard expression” means whether or not a specific “DFT technique” is necessary based on whether the test difficulty calculated by the test difficulty calculation expression satisfies the standard expression It is a judgment formula for doing.
The “DFT method” is a method for adding a circuit or a device necessary for a test at the design stage in order to test an LSI. As a result, it is possible to reduce the application time of the LSI test and perform a test with an expanded test target range.
The “priority” indicates a priority order indicating an order suitable for performing each DFT method. This is because if the order of performing each DFT method is wrong, inconvenience may occur.
The “test menu record” is an association of a test difficulty level calculation formula, a test difficulty level reference formula, a DFT method, and a priority level, and is each record constituting the test menu database. The test menu database includes two or more test menu records.

「当該算出したテスト難易度が満たすテスト難易度基準式」とは、テスト難易度基準式で要求される基準を、算出されたテスト難易度が満足する、という意味である。
「当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし」とは、優先度が表す優先順位の順に、ＤＦＴ手法をソートする、という意味である。 The “test difficulty standard expression satisfied by the calculated test difficulty level” means that the calculated test difficulty level satisfies the standard required by the test difficulty standard expression.
“Sort DFT methods in the order of the associated priorities” means that the DFT methods are sorted in the order of priorities represented by the priorities.

（３）
本発明では、前記（１）の処理により、テスト難易度算出式に基づいて、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、それぞれのテストメニューデータベースに記憶されているＬＳＩのテストごと（ＤＦＴ手法ごと、テストメニューレコードごと）に、テスト難易度が算出される。
そして、前記（２）の処理により、それぞれのテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに算出したテスト難易度に応じたＤＦＴ手法と優先度との関連付けを特定し、テストフローデータベースに記憶させていく。
その上で、テストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度との関連付けを、前記（３）の処理により、テストフローとして矛盾が生じないように、優先度を基準としてソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示させる。 (3)
In the present invention, the test of the LSI stored in each test menu database from the test difficulty calculation element database storing information related to the circuit design drawing based on the test difficulty calculation formula by the processing of (1). The test difficulty level is calculated every time (each DFT method and each test menu record).
Then, by the process (2), the association between the DFT technique and the priority corresponding to the test difficulty calculated for each test menu record in each test menu database is specified and stored in the test flow database.
After that, the association between the DFT technique and the priority stored in the test flow database is sorted by the priority so that no inconsistency occurs as a test flow by the processing of (3), and the sorting is performed. The DFT method is stored in the storage means as a test flow, and is displayed and presented on the output means.

この一連のハードウェア資源が協調した情報処理の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
よって、技術者の知識や経験に依存することなく、良品を良品として、不良品を不良品として正確に検出するために必要となるテストを含み、不必要なテストを含まないテストフローの作成を自動化することができる。
また、必ずしも数学的な最適を保証するものでなくとも、設計開発工数を人手でやるよりも削減することや、製造コスト及びテストコストを削減すること、製造されたＬＳＩの信頼性を向上させること、についてテストフローの作成を自動化することができる。 Whether each DFT method is required from the test difficulty calculation element database that stores information related to the circuit design drawing, which is composed of information created by the circuit designer as a result of information processing in which this series of hardware resources cooperates By calculating the test difficulty level, determining with the test difficulty level reference formula, and sorting in order of priority, a test flow without contradiction can be automatically obtained.
Therefore, without relying on the knowledge and experience of engineers, the creation of a test flow that includes the tests necessary to accurately detect non-defective products as non-defective products and defective products as non-defective products, and does not include unnecessary tests. Can be automated.
Even if it does not necessarily guarantee mathematical optimization, it can reduce design and development man-hours rather than manually, reduce manufacturing and test costs, and improve the reliability of manufactured LSIs. The test flow creation can be automated.

２、   2,

（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記記憶手段に、さらに、前記テスト難易度算出要素データベースの数値と前記ＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出する第２のテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式とＤＦＴ手法と優先度との関連付けと、を含む第２のテストメニューデータベースを記憶している。 (1)
In addition, a test flow presentation computer program according to another invention further includes a second test difficulty level for calculating a test difficulty level based on the numerical value of the test difficulty level calculation element database and the DFT technique. A second test menu database including a calculation formula, a test difficulty level reference formula, an association between a DFT technique and a priority is stored.

そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに、以下の（１）及び（２）の処理を行わせ、以下の（３）、（４）、（５）の処理も行わせること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。   Then, the processing means of the computer system performs the following processes (1) and (2) for each test menu record in the test menu database of the storage means, and the following (3), (4), ( A test flow presentation computer program characterized in that the processing of 5) is also performed.

（１） 前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに第１のテスト難易度を算出すること、

（２） 当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードから、
当該算出した第１のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させること、

（３） 前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースにおける第２のテスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
第２のテスト難易度を算出すること、

（４） 前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースから、
当該算出した第２のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させること、

（５） 前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示すること。
(1) Based on the test difficulty calculation formula,
The association of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the process technology information, the power consumption during the test, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means. Using one or more information,
Calculating a first test difficulty for each test menu record in the test menu database;

(2) From the test menu record of the test menu database,
All the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated first test difficulty are specified, and the association between the identified DFT technique and the priority is stored in the storage unit. Memorize it in the test flow database,

(3) Based on a second test difficulty level calculation formula in the second test menu database of the storage means,
A DFT technique stored in a test flow database of the storage means;
The association of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the process technology information, the power consumption during the test, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means. Using one or more information,
Calculating a second test difficulty level;

(4) From the second test menu database of the storage means,
All the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated second test difficulty are specified, and the association between the identified DFT technique and the priority is stored in the storage unit. Memorize it in the test flow database,

(5) Associating the DFT technique and the priority stored in the test flow database of the storage means,
Sorting DFT methods in the order of the associated priorities, storing the sorted DFT methods in the storage means as a test flow, and displaying and presenting them on the output means.

（２）
ここで、「第２のテスト難易度算出式」とは、テスト難易度算出要素データベースの数値とＤＦＴ手法とをもとに、テスト難易度を算出するための算出式であって、テスト難易度算出要素データベースの数値の１以上の情報と、１以上のＤＦＴ手法を変数として、テスト難易度を算出するための式である。
「第２のテストメニューデータベース」は、第２のテストメニューレコードを１以上含んでいる。
「第２のテストメニューレコード」とは、第２のテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであり、第２のテストメニューデータベースを構成する各レコードである。 (2)
Here, the “second test difficulty level calculation formula” is a calculation formula for calculating the test difficulty level based on the numerical value of the test difficulty level calculation element database and the DFT method. This is an equation for calculating the test difficulty level using one or more pieces of information in the calculation element database and one or more DFT methods as variables.
The “second test menu database” includes one or more second test menu records.
The “second test menu record” is an association of the second test difficulty level calculation formula, the test difficulty level reference formula, the DFT technique, and the priority, and constitutes the second test menu database. Each record.

（３）
本発明では、前記（１）の処理により、テスト難易度算出式に基づいて、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、それぞれのテストメニューデータベースに記憶されているＬＳＩのテストごと（ＤＦＴ手法ごと、テストメニューレコードごと）に、テスト難易度が算出される。
そして、前記（２）の処理により、それぞれのテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに算出したテスト難易度に応じたＤＦＴ手法と優先度との関連付けを特定し、テストフローデータベースに記憶させていく。 (3)
In the present invention, the test of the LSI stored in each test menu database from the test difficulty calculation element database storing information related to the circuit design drawing based on the test difficulty calculation formula by the processing of (1). The test difficulty level is calculated every time (each DFT method and each test menu record).
Then, by the process (2), the association between the DFT technique and the priority corresponding to the test difficulty calculated for each test menu record in each test menu database is specified and stored in the test flow database.

さらに、前記（３）の処理により、第２のテスト難易度算出式に基づいて、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースと、テストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法とから、それぞれの第２のテストメニューデータベースに記憶されているＬＳＩのテストごと（ＤＦＴ手法ごと、第２のテストメニューレコードごと）に、第２のテスト難易度が算出される。
そして、前記（４）の処理により、それぞれの第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードごとに算出したテスト難易度に応じたＤＦＴ手法と優先度との関連付けを特定し、テストフローデータベースに記憶させていく。 Further, by the process of (3), based on the second test difficulty level calculation formula, from the test difficulty level calculation element database storing information related to the circuit design drawing, and the DFT technique stored in the test flow database, A second test difficulty level is calculated for each LSI test (for each DFT technique and for each second test menu record) stored in each second test menu database.
Then, by the process of (4), the association between the DFT technique and the priority corresponding to the test difficulty calculated for each second test menu record of each second test menu database is specified, and the test flow database Let me remember.

その上で、テストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度との関連付けを、前記（５）の処理により、テストフローとして矛盾が生じないように、優先度を基準としてソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示させる。   On that basis, the association between the DFT technique and the priority stored in the test flow database is sorted by the priority so that no inconsistency occurs as a test flow by the processing of (5). The DFT method is stored in the storage means as a test flow, and is displayed and presented on the output means.

この一連のハードウェア資源が協調した情報処理の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
特に、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースだけではなく、すでに必要と判断したＤＦＴ手法の情報も元にして、さらに各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、第２のテスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができるため、柔軟なテストフロー作成が可能となる。 Whether each DFT method is required from the test difficulty calculation element database that stores information related to the circuit design drawing, which is composed of information created by the circuit designer as a result of information processing in which this series of hardware resources cooperates By calculating the test difficulty level, determining with the test difficulty level reference formula, and sorting in order of priority, a test flow without contradiction can be automatically obtained.
In particular, the second test difficulty level indicates whether each DFT method is necessary based not only on the test difficulty level calculation element database storing information related to the circuit design drawing but also on the DFT method information already determined to be necessary. Since the test flow without any contradiction can be automatically obtained, the test flow can be created flexibly.

３、   3,

（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記記憶手段に、さらに、第２のテストメニューデータベースに第２のテストメニューレコードを２以上含んで記憶している。 (1)
A test flow presentation computer program according to another invention further stores two or more second test menu records in the storage means and in a second test menu database.

そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、
前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに、以下の（１）及び（２）の処理を行わせ、
前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードごとに、以下の（３）及び（４）の処理を行わせ、
以下の（５）の処理も行わせること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。 And in the processing means of the computer system,
The following processing (1) and (2) is performed for each test menu record in the test menu database of the storage means,
For each second test menu record in the second test menu database of the storage means, the following processes (3) and (4) are performed:
The following processing (5) is also performed,
Is a test flow presentation computer program characterized by

（１） 前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに第１のテスト難易度を算出すること、

（２） 当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードから、
当該算出した第１のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させること、

（３） 前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースにおける第２のテスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
当該第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードごとに第２のテスト難易度を算出すること、

（４） 前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードから、
当該算出した第２のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させること、

（５） 前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示すること。
(1) Based on the test difficulty calculation formula,
The association of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the process technology information, the power consumption during the test, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means. Using one or more information,
Calculating a first test difficulty for each test menu record in the test menu database;

(2) From the test menu record of the test menu database,
All the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated first test difficulty are specified, and the association between the identified DFT technique and the priority is stored in the storage unit. Memorize it in the test flow database,

(3) Based on a second test difficulty level calculation formula in the second test menu database of the storage means,
A DFT technique stored in a test flow database of the storage means;
The association of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the process technology information, the power consumption during the test, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means. Using one or more information,
Calculating a second test difficulty level for each second test menu record in the second test menu database;

(4) From the second test menu record of the second test menu database of the storage means,
All the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated second test difficulty are specified, and the association between the identified DFT technique and the priority is stored in the storage unit. Memorize it in the test flow database,

(5) Associating the DFT technique and the priority stored in the test flow database of the storage means,
Sorting DFT methods in the order of the associated priorities, storing the sorted DFT methods in the storage means as a test flow, and displaying and presenting them on the output means.

（２）
本発明では、この一連のハードウェア資源が協調した情報処理の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
特に、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースだけではなく、すでに必要と判断したＤＦＴ手法の情報も元にして、さらに各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、第２のテスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができるため、柔軟なテストフロー作成が可能となる。
さらに、テストメニューデータベースには、２以上のテストメニューレコードが存在し、第２のテストメニューデータベースには、２以上の第２のテストメニューレコードが存在しているため、夫々のデータベースのレコードに、より多面的、詳細で柔軟な判断基準を設定することができる。 (2)
In the present invention, as a result of information processing in which a series of hardware resources cooperates, each DFT method is obtained from a test difficulty level calculation element database storing information related to a circuit design drawing, which is composed of information created by a circuit designer. By calculating the test difficulty level as to whether it is necessary, judging by the test difficulty level reference formula, and sorting in order of priority, a test flow with no contradiction can be automatically obtained.
In particular, the second test difficulty level indicates whether each DFT method is necessary based not only on the test difficulty level calculation element database storing information related to the circuit design drawing but also on the DFT method information already determined to be necessary. Since the test flow without any contradiction can be automatically obtained, the test flow can be created flexibly.
Furthermore, since there are two or more test menu records in the test menu database and two or more second test menu records exist in the second test menu database, each database record includes: More versatile, detailed and flexible criteria can be set.

４、   4,

（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記記憶手段のテストメニューデータベースが、前記テスト難易度算出要素データベースの数値又は前記テスト難易度算出要素データベースの数値及び前記ＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであるテストメニューレコードを２以上含んでいる。 (1)
Further, in the test flow presentation computer program according to another invention, the test menu database of the storage means is based on the numerical value of the test difficulty calculation element database or the numerical value of the test difficulty calculation element database and the DFT technique. It includes two or more test menu records that are associations between a test difficulty level calculation formula for calculating the test difficulty level, a test difficulty level reference formula, a DFT technique, and a priority level.

そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、
前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードについて、以下の（１）及び（２）の処理と、（３）及び（４）の処理を行わせ、
以下の（５）の処理も行わせること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。 And in the processing means of the computer system,
For the test menu record in the test menu database of the storage means, the following processes (1) and (2) and processes (3) and (4) are performed:
The following processing (5) is also performed,
Is a test flow presentation computer program characterized by

（１） 前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
第１のテスト難易度を算出すること、

（２） 当該テストメニューデータベースから、
当該算出した第１のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させること、

（３） 前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
第２のテスト難易度を算出すること、

（４） 前記記憶手段のテストメニューデータベースから、
当該算出した第２のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させること、

（５） 前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示すること。
(1) Based on the test difficulty calculation formula,
The association of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the process technology information, the power consumption during the test, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means. Using one or more information,
Calculating the first test difficulty,

(2) From the test menu database
All the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated first test difficulty are specified, and the association between the identified DFT technique and the priority is stored in the storage unit. Memorize it in the test flow database,

(3) Based on the test difficulty calculation formula,
A DFT technique stored in a test flow database of the storage means;
The association of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the process technology information, the power consumption during the test, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means. Using one or more information,
Calculating a second test difficulty level;

(4) From the test menu database of the storage means,
All the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated second test difficulty are specified, and the association between the identified DFT technique and the priority is stored in the storage unit. Memorize it in the test flow database,

(5) Associating the DFT technique and the priority stored in the test flow database of the storage means,
Sorting DFT methods in the order of the associated priorities, storing the sorted DFT methods in the storage means as a test flow, and displaying and presenting them on the output means.

（２）
「テストメニューレコード」には、前記テスト難易度算出要素データベースの数値をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式が存在するレコードと、前記テスト難易度算出要素データベースの数値及び前記ＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式が存在するレコード、がある。
よって、「前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードについて、以下の（１）及び（２）の処理と、（３）及び（４）の処理を行わせ」とは、前記テスト難易度算出要素データベースの数値をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式が存在するレコードについては、少なくとも（１）及び（２）の処理を行い、前記テスト難易度算出要素データベースの数値及び前記ＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式が存在するレコードについては、少なくとも（３）及び（４）の処理を行う、という程度の意味である。 (2)
The “test menu record” includes a record including a test difficulty level calculation formula for calculating the test difficulty level based on the numerical value of the test difficulty level calculation element database, the numerical value of the test difficulty level calculation element database, and the DFT There is a record having a test difficulty level calculation formula for calculating the test difficulty level based on the method.
Therefore, “the following processing (1) and (2) and processing (3) and (4) are performed on the test menu record in the test menu database of the storage means” is the calculation of the test difficulty level. For a record having a test difficulty level calculation formula for calculating the test difficulty level based on the numerical value of the element database, at least the processes (1) and (2) are performed, and the numerical value of the test difficulty level calculation element database and the This means that at least the processes (3) and (4) are performed for a record in which there is a test difficulty level calculation formula for calculating the test difficulty level based on the DFT method.

（３）   (3)

本発明では、この一連のハードウェア資源が協調した情報処理の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
特に、テストフローデータベースにＤＦＴ手法が蓄積されていない段階では、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースの情報からテストフローを生成し、テストフローデータベースにＤＦＴ手法が蓄積された段階では、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースの情報と、テストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法とから、テストフローを生成することができる。
例えば、複数のレコードから構成される１のテストメニューデータベースだけでも、柔軟で詳細な設定が可能となる。 In the present invention, as a result of information processing in which a series of hardware resources cooperates, each DFT method is obtained from a test difficulty level calculation element database storing information related to a circuit design drawing, which is composed of information created by a circuit designer. By calculating the test difficulty level as to whether it is necessary, judging by the test difficulty level reference formula, and sorting in order of priority, a test flow with no contradiction can be automatically obtained.
In particular, when the DFT technique is not accumulated in the test flow database, a test flow is generated from the information of the test difficulty calculation element database storing information related to the circuit design drawing, and the DFT technique is accumulated in the test flow database. Then, it is possible to generate a test flow from the information of the test difficulty level calculation element database storing information related to the circuit design drawing and the DFT technique stored in the test flow database.
For example, only one test menu database composed of a plurality of records can be set flexibly and in detail.

５、   5,

（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記コンピュータシステムの記憶手段が、さらに、前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールとの関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、を記憶している。 (1)
In the test flow presentation computer program according to another invention, the storage means of the computer system further stores a CAD tool specifying database including an association between the DFT technique and the CAD tool, and one or more CAD tools. A CAD tool environment constraint database is stored.

そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、さらに、以下の（６）の処理を行わせること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。

（６） 前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースに含まれる前記ＤＦＴ手法のうち、前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれている前記ＣＡＤツールに関連付いているＤＦＴ手法のみを、
前記記憶手段における前記テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用すること。 A test flow presentation computer program characterized by causing the processing means of the computer system to further perform the following process (6).

(6) Of the DFT methods included in the CAD tool identification database of the storage unit, only the DFT methods associated with the CAD tool included in the CAD tool environment constraint database of the storage unit are
Adopting the DFT technique as the test flow in the storage means.

（２）
ここで、「ＣＡＤツール環境制約データベース」とは、コンピュータシステムの利用者が利用することができるＣＡＤツールソフトウェアの環境制約を表すデータベースである。ＣＡＤツールソフトウェアは、高価なものが多く、テストフローで提示されたＤＦＴ手法を実現するＣＡＤツールソフトウェアが利用者の環境に存在しない場合があるため、環境制約を判断するために「ＣＡＤツール環境制約データベース」が利用される。
また、「ＣＡＤツール特定データベース」とは、ＤＦＴ手法を具体的に実現するためのＣＡＤツールソフトウェアを特定するデータベースである。特定のＤＦＴ手法を具体的に実現するためのＣＡＤツールソフトウェアが、２以上存在するケースがあるからである。 (2)
Here, the “CAD tool environment constraint database” is a database representing the environment constraints of CAD tool software that can be used by a user of a computer system. The CAD tool software is often expensive, and the CAD tool software that realizes the DFT method presented in the test flow may not exist in the user's environment. Database "is used.
The “CAD tool specifying database” is a database for specifying CAD tool software for specifically realizing the DFT method. This is because there are cases where there are two or more CAD tool softwares for specifically realizing a specific DFT technique.

（３）
本発明により、事前に、コンピュータシステムの利用者がＣＡＤツールソフトウェア環境制約をＣＡＤツール環境制約データベースに入力しておく事により、利用することができるＣＡＤツールソフトウェアについてのＤＦＴ手法のみが、テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用される。
これにより、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは、作成されなくなるため、個々の利用者の環境に合致した現実的なテストフロー作成が実現できる。 (3)
According to the present invention, only a DFT method for CAD tool software that can be used by inputting a CAD tool software environment constraint into a CAD tool environment constraint database in advance by a computer system user as a test flow. The DFT method is adopted.
As a result, a test flow that cannot be realized in the user's environment is not created, so that realistic test flow creation that matches the individual user's environment can be realized.

６、   6.

（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記コンピュータシステムの記憶手段が、さらに、前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールと使用優先度とスクリプト生成情報との関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、を記憶している。 (1)
According to another aspect of the present invention, there is provided a test flow presentation computer program in which a storage unit of the computer system further includes a CAD tool specifying database including associations of the DFT technique, CAD tool, use priority, and script generation information, A CAD tool environment constraint database that stores the CAD tools described above is stored.

そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、さらに、前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法ごとに、以下の（６）の処理を行わせ、前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法の順番に対応したＣＡＤプランを作成すること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。

（６） 前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールのうち、前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースで当該ＤＦＴ手法に関連付いており、関連付いている使用優先度が最も高いＣＡＤツールと、当該特定したＣＡＤツールに関連付いているスクリプト生成情報を特定し、
当該特定したＣＡＤツール及びスクリプト生成情報を、当該ＤＦＴ手法に関連付けて、前記ＣＡＤプランとして前記記憶手段に記憶させること。 Then, the processing means of the computer system is further caused to perform the following processing (6) for each DFT technique stored in the storage means as the test flow, and stored in the storage means as the test flow. A test flow presentation computer program characterized by creating a CAD plan corresponding to the order of the DFT method.

(6) Among the CAD tools included in the CAD tool environment constraint database of the storage means, the CAD tool specific database of the storage means is associated with the DFT technique, and the associated use priority is the highest. Identify the CAD tool and script generation information associated with the identified CAD tool,
The specified CAD tool and script generation information are stored in the storage unit as the CAD plan in association with the DFT method.

（２）
ここで、「スクリプト生成情報」とは、特定のＤＦＴ手法を実現するためのコンピュータプログラムの一種であるスクリプトを生成するための情報である。ＤＦＴ手法及びＣＡＤツールの組み合わせによって、特定することができる。
「使用優先度」とは、それぞれのＤＦＴ手法を実現するための各種のＣＡＤツールのうち、ＣＡＤツールの使用を優先する順番を表す優先順位を表したものである。特定のＤＦＴ手法を実現するためのＣＡＤツールが複数存在する場合、ＬＳＩの特性や、ＣＡＤツールの特徴、等から、使用の優先順位をつけた方がよいことが多々あるからである。 (2)
Here, the “script generation information” is information for generating a script that is a kind of computer program for realizing a specific DFT technique. It can be specified by a combination of DFT technique and CAD tool.
“Usage priority” represents a priority order indicating the order of priority for use of CAD tools among various CAD tools for realizing each DFT method. This is because, when there are a plurality of CAD tools for realizing a specific DFT technique, it is often better to give priority to use based on the characteristics of the LSI, the characteristics of the CAD tool, and the like.

また、「テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法の順番に対応したＣＡＤプランを作成する」とは、テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法に関連付いているスクリプト生成情報を元にして、テストフローとしてのＤＦＴ手法の順番にスクリプト生成し、テストフローに沿ったテストを実行するためのプログラムをＣＡＤで生成することを意味する。
「前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールのうち、前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースで当該ＤＦＴ手法に関連付いており、関連付いている使用優先度が最も高いＣＡＤツール」とは、ＣＡＤツール環境制約データベースに含まれている利用者が利用可能なＣＡＤツールのうち、当該ＤＦＴ手法について最も使用を優先すべきＣＡＤツール、という意味である。
「当該特定したＣＡＤツール及びスクリプト生成情報を、当該ＤＦＴ手法に関連付けて、前記ＣＡＤプランとして前記記憶手段に記憶させる」とは、優先度とＤＦＴ手法とＣＡＤツールとスクリプト生成情報との関連付けを1以上含む、ＣＡＤプランを、記憶手段に記憶させる、という意味である。 “Creating a CAD plan corresponding to the order of DFT methods stored in the storage unit as a test flow” means that script generation information associated with the DFT method stored in the storage unit as a test flow is generated. This means that scripts are generated in the order of the DFT technique as a test flow, and a program for executing a test along the test flow is generated by CAD.
“A CAD tool that is associated with the DFT method in the CAD tool specific database of the storage means among the CAD tools included in the CAD tool environment constraint database of the storage means, and has the highest use priority associated with the DFT technique. "Means a CAD tool that should be given the highest priority for use in the DFT method among the CAD tools included in the CAD tool environment constraint database that can be used by the user.
“The specified CAD tool and script generation information are associated with the DFT method and stored in the storage means as the CAD plan” means that the priority, the DFT method, the CAD tool, and the script generation information are associated with each other. The CAD plan including the above is stored in the storage means.

（３）
本発明により、事前に、コンピュータシステムの利用者がＣＡＤツールソフトウェア環境制約をＣＡＤツール環境制約データベースに入力しておく事により、利用することができるＣＡＤツールソフトウェアについてのＤＦＴ手法のみが、テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用される。これにより、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは、作成されなくなるため、個々の利用者の環境に合致した現実的なテストフロー作成が実現できる。
特に、スクリプト生成情報に基づいて、テストフローとしての優先度が表すＤＦＴ手法の順番通りに、テストを実行するためのスクリプト生成情報に基づいてスクリプト生成されるため、ＣＡＤですぐ実行することができるＣＡＤプランを得ることができる。
また、得られたＣＡＤプランでは、各々のＤＦＴ手法を実現するＣＡＤツールの選択を利用者が任意に決めずとも、利用者の環境に合致したＣＡＤツールの特定がなされている。 (3)
According to the present invention, only a DFT method for CAD tool software that can be used by inputting a CAD tool software environment constraint into a CAD tool environment constraint database in advance by a computer system user as a test flow. The DFT method is adopted. As a result, a test flow that cannot be realized in the user's environment is not created, so that realistic test flow creation that matches the individual user's environment can be realized.
In particular, since the script is generated based on the script generation information for executing the test in the order of the DFT method represented by the priority as the test flow based on the script generation information, it can be immediately executed by CAD. You can get a CAD plan.
Further, in the obtained CAD plan, the CAD tool that matches the user's environment is specified without the user arbitrarily selecting the CAD tool for realizing each DFT method.

７、   7,

（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記コンピュータシステムの記憶手段が、さらに、前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールと使用優先度とスクリプト生成情報との関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、前記ＣＡＤツールを２以上関連付けたＣＡＤツールフローと、コンバート方法情報と、の関連付けを含むコンバートデータベースと、１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、を記憶している。 (1)
According to another aspect of the present invention, there is provided a test flow presentation computer program, wherein the storage means of the computer system further includes a CAD tool specifying database including an association of the DFT technique, CAD tool, use priority, and script generation information, A conversion database including association of CAD tool flows associated with two or more CAD tools and conversion method information, and a CAD tool environment constraint database storing one or more CAD tools are stored.

そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、さらに、以下の（６）、（７）の処理を行わせること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。

（６） 前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法ごとに、
前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールのうち、前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースで当該ＤＦＴ手法に関連付いており、関連付いている使用優先度が最も高いＣＡＤツールと、当該特定したＣＡＤツールに関連付いているスクリプト生成情報を特定し、
当該特定したＣＡＤツール及びスクリプト生成情報を、当該ＤＦＴ手法に関連付けて、ＣＡＤプランとして前記記憶手段に記憶させ、
前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法の順番に対応したＣＡＤプランを作成すること、

（７） 当該ＣＡＤプランとして前記記憶手段に記憶されたＣＡＤツールの順番に基づいて、
前記記憶手段のコンバートデータベースから、当該ＣＡＤツールの順番に該当する前記ＣＡＤツールフローを特定し、特定したＣＡＤツールフローに関連付いているコンバート方法情報に基づき、当該ＣＡＤツールの順番にコンバートスクリプトを関連付けて挿入し、前記記憶手段のＣＡＤプランに記憶させること。 A test flow presentation computer program characterized by causing the processing means of the computer system to further perform the following processes (6) and (7).

(6) For each DFT technique stored in the storage means as the test flow,
Among the CAD tools included in the CAD tool environment constraint database of the storage means, the CAD tool specific database of the storage means is associated with the DFT method, and the CAD tool with the highest use priority associated with Identify the script generation information associated with the identified CAD tool,
The specified CAD tool and script generation information are associated with the DFT method and stored in the storage means as a CAD plan.
Creating a CAD plan corresponding to the order of DFT techniques stored in the storage means as the test flow;

(7) Based on the order of the CAD tools stored in the storage means as the CAD plan,
The CAD tool flow corresponding to the order of the CAD tool is identified from the conversion database of the storage means, and the conversion script is associated with the order of the CAD tool based on the conversion method information associated with the identified CAD tool flow. Inserted and stored in the CAD plan of the storage means.

（２）
ここで、「ＣＡＤツールフロー」とは、ＣＡＤツールを特定の順番に２以上関連付けた情報であって、ＣＡＤツールが特定の順番に実行される場合に、コンバートスクリプトの実行の可否を判断するために利用される。
「ＣＡＤツールフロー」の具体例として、「コンバート元ＣＡＤツール」と「コンバート先ＣＡＤツール」とを関連付け、ＣＡＤツールの順番を表す構成が考えられる。
「コンバートスクリプト」とは、特定のＣＡＤで使用できる形式のデータを、他のＣＡＤでも利用できる形式のデータに変換するプログラムである。
「コンバート方法情報」とは、コンバートスクリプトが必要か否かと、必要ならば具体的にどのコンバートスクリプトが必要か、を表す情報である。 (2)
Here, the “CAD tool flow” is information that associates two or more CAD tools in a specific order, and determines whether or not the conversion script can be executed when the CAD tools are executed in a specific order. Used for
As a specific example of the “CAD tool flow”, a configuration in which the “converting CAD tool” and the “converting CAD tool” are associated with each other and the order of the CAD tools can be considered.
A “convert script” is a program that converts data in a format that can be used in a specific CAD into data in a format that can also be used in another CAD.
“Conversion method information” is information indicating whether or not a conversion script is necessary, and which conversion script is specifically required if necessary.

「前記記憶手段のコンバートデータベースから、当該ＣＡＤツールの順番に該当する前記ＣＡＤツールフローを特定し」とは、ＣＡＤツールを特定の順番に２以上関連付けた情報であるＣＡＤツールフローのうち、ＣＡＤプランに記憶されているＣＡＤツールの順番と合致するものを特定する、という意味である。ＣＡＤプランに記憶されているＣＡＤツールの順番について、全部一致だけでなく、ＣＡＤツールの順番の一部一致も含む。
「特定したＣＡＤツールフローに関連付いているコンバート方法情報に基づき、当該ＣＡＤツールの順番にコンバートスクリプトを関連付けて挿入し」とは、合致したＣＡＤツールフローに関連付いているコンバート方法情報に基づいて、コンバートスクリプトが必要な場合には、必要となるＣＡＤプランのＣＡＤツールの順番に、コンバートスクリプトを挿入して関連付ける、という意味である。 “Specify the CAD tool flow corresponding to the CAD tool order from the conversion database of the storage means” means that a CAD plan out of CAD tool flows, which is information that associates two or more CAD tools in a specific order. This means that a tool that matches the order of CAD tools stored in is identified. The CAD tool order stored in the CAD plan includes not only all matches but also partial match of CAD tool orders.
"Based on the conversion method information associated with the specified CAD tool flow, insert the conversion script in association with the CAD tool in order" is based on the conversion method information associated with the matched CAD tool flow. When a conversion script is required, this means that the conversion script is inserted and associated in the order of the CAD tool of the required CAD plan.

（３）
本発明により、事前に、コンピュータシステムの利用者がＣＡＤツールフローと、コンバートスクリプトと、の関連付けを含むコンバートデータベースを入力しておく事により、ＣＡＤプランとしてのＣＡＤツールの順番に、コンバートスクリプトの実行を必要とするものが含まれる場合、コンバートスクリプトを、当該ＣＡＤツールの順番に挿入する。
これにより、異なるＣＡＤでテストフローを実行する際にも、利用者がＣＡＤツール環境の差異を意識せずに、ＣＡＤプランを生成する事ができる。 (3)
According to the present invention, a computer system user inputs in advance a conversion database including an association between a CAD tool flow and a conversion script, thereby executing the conversion script in the order of the CAD tools as a CAD plan. Are included, the conversion script is inserted in the order of the CAD tool.
As a result, even when the test flow is executed with different CAD, the user can generate the CAD plan without being aware of the difference in the CAD tool environment.

８、   8,

（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記コンピータシステムの記憶手段が、さらに、１以上の前記ＤＦＴ手法と、前記テスト難易度算出要素データベースの数値と、をもとにテスト制約値を算出するテスト制約見積式を１以上記憶している。 (1)
Further, in the test flow presentation computer program according to another invention, the storage means of the computer system further includes a test constraint value based on one or more of the DFT methods and the numerical value of the test difficulty calculation element database. One or more test constraint estimation formulas for calculating are stored.

そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、さらに、以下の（６）、（７）、（８）の処理を行わせること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。

（６） 前記記憶手段のテスト制約見積式ごとに、当該テスト制約見積式に基づいて、
前記テストフローデータベースとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報と、
をもとにテスト制約値を算出し、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報をテスト制約基準値とし、

（７） 当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値をすべて満たす場合は、前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示し、

（８） 当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値を満たさない場合は、満たさないテスト制約値を前記出力手段に表示させ提示すること。 A test flow presentation computer program characterized by causing the processing means of the computer system to further perform the following processes (6), (7), and (8).

(6) For each test constraint estimation formula of the storage means, based on the test constraint estimation formula,
A DFT technique stored in the storage means as the test flow database;
One or more of the associations of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the power consumption during testing, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means Information and
Calculate the test constraint value based on
One or more of the associations of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the power consumption during testing, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means Use the information as test constraint reference values,

(7) When the test constraint value calculated for each test constraint estimation formula satisfies all the test constraint reference values, the association between the DFT technique and the priority stored in the test flow database of the storage means Sort the DFT methods in the order of priorities attached, store the sorted DFT methods in the storage means as a test flow, and display and present them on the output means;

(8) When the test constraint value calculated for each test constraint estimation formula does not satisfy the test constraint reference value, the test constraint value that does not satisfy the test constraint value is displayed on the output means and presented.

（２）
ここで、
「テスト制約見積式」とは、１以上のＤＦＴ手法と、テスト難易度算出要素データベースの数値と、をもとにテスト制約値を算出するための算出式である。
「テスト制約値」とは、それぞれのＤＦＴ手法を適用したＬＳＩのテストについて、制約条件について数値で度合いを表したものである。
「テスト制約基準値」とは、テスト制約見積式により算出されたテスト制約値が、当該基準値を満たしているか否かにより、特定の「ＤＦＴ手法」を実現すべきか否か、テスト難易度算出要素データベースの数値を修正すべきか否か、などを判断するための判定値である。 (2)
here,
The “test constraint estimation formula” is a calculation formula for calculating a test constraint value based on one or more DFT methods and the numerical value of the test difficulty calculation element database.
The “test constraint value” is a numerical value representing a constraint condition for an LSI test to which each DFT method is applied.
“Test constraint reference value” means whether or not a specific “DFT method” should be realized depending on whether or not the test constraint value calculated by the test constraint estimation formula satisfies the reference value. This is a determination value for determining whether or not the numerical value in the element database should be corrected.

（３）
本発明により、テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、テスト制約基準値を満たすかどうか判断し、満たす場合はテストフローを表示し、満たさない場合は、満たさないテスト制約値を表示し、再入力の助けとすることができる。
これにより、テスト制約基準値を満たさないテストフローの生成、実行を、利用者が修正する事ができるため、テストのやり直し等による時間、費用のロスが削減できる。
特に、具体的にどのテスト制約値が問題となっているのかを利用者が知ることができるため、利用者が、どのようにテスト難易度算出要素データベースの数値を修正すればよいかについての情報を得ることができる。 (3)
According to the present invention, it is determined whether or not the test constraint value calculated for each test constraint estimation formula satisfies the test constraint reference value, and if so, the test flow is displayed, and if not, the unsatisfied test constraint value is displayed. Can help with re-entry.
As a result, since the user can correct the generation and execution of the test flow that does not satisfy the test constraint reference value, it is possible to reduce time and cost loss due to re-execution of the test.
In particular, the user can know which test constraint value is the problem, so information on how the user should modify the numerical value of the test difficulty calculation factor database Can be obtained.

９、   9,

（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記コンピータシステムの記憶手段が、さらに、１以上の前記ＤＦＴ手法と、前記テスト難易度算出要素データベースの数値と、をもとにテスト制約値を算出するテスト制約見積式を１以上記憶し、テスト制約基準値修正式を１以上記憶している。 (1)
Further, in the test flow presentation computer program according to another invention, the storage means of the computer system further includes a test constraint value based on the one or more DFT methods and the numerical value of the test difficulty calculation element database. One or more test constraint estimation formulas for calculating are stored, and one or more test constraint reference value correction formulas are stored.

そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、さらに、以下の（６）、（７）、（８）の処理を行わせること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。

（６） 前記記憶手段のテスト制約見積式ごとに、当該テスト制約見積式に基づいて、
前記テストフローデータベースとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報と、
をもとにテスト制約値を算出し、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報をテスト制約基準値とし、

（７） 当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値をすべて満たす場合は、前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示し、

（８） 当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値を満たさない場合は、当該テスト制約基準値のうち満たさないテスト制約基準値について、前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、前記（１）−（７）の処理を行うこと。 A test flow presentation computer program characterized by causing the processing means of the computer system to further perform the following processes (6), (7), and (8).

(6) For each test constraint estimation formula of the storage means, based on the test constraint estimation formula,
A DFT technique stored in the storage means as the test flow database;
One or more of the associations of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the power consumption during testing, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means Information and
Calculate the test constraint value based on
One or more of the associations of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the power consumption during testing, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means Use the information as test constraint reference values,

(7) When the test constraint value calculated for each test constraint estimation formula satisfies all the test constraint reference values, the association between the DFT technique and the priority stored in the test flow database of the storage means Sort the DFT methods in the order of priorities attached, store the sorted DFT methods in the storage means as a test flow, and display and present them on the output means;

(8) When the test constraint value calculated for each test constraint estimation formula does not satisfy the test constraint criterion value, the test constraint criterion of the storage unit is used for the test constraint criterion value that is not satisfied among the test constraint criterion values. Updating the information in the test difficulty calculation element database of the storage means based on the value correction formula, and performing the processes (1) to (7).

（２）
「テスト制約基準値修正式」とは、テスト制約値、テスト制約基準値、などの情報を変数として、テスト難易度算出要素データベースの１以上の数値を修正するための算出式である。
「当該テスト制約基準値のうち満たさないテスト制約基準値について、前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し」とは、テスト制約基準値のうち、満たさないテスト制約基準値やテスト制約値を変数として、テスト制約基準値修正式により、テスト難易度算出要素データベースのうち、当該満たさないテスト制約基準値に関する値を更新することを意味する。 (2)
The “test constraint reference value correction formula” is a calculation formula for correcting one or more numerical values in the test difficulty calculation element database using information such as test constraint values and test constraint reference values as variables.
“For the test constraint reference value that is not satisfied among the test constraint reference values, update the information in the test difficulty calculation element database of the storage means based on the test constraint reference value correction formula of the storage means” Using the test constraint standard value or test constraint value that is not satisfied among the constraint standard values as a variable, the value related to the test constraint standard value that is not satisfied in the test difficulty calculation element database is updated by the test constraint standard value correction formula. Means.

（３）
本発明により、テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、テスト制約基準値を満たすかどうか判断し、満たす場合はテストフローを表示し、満たさない場合は、満たさないテスト制約基準値について、前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、再度、処理を行う。
これにより、テスト制約基準値を満たさないテストフローの生成、実行について、利用者が明示的に修正しなくても、テスト制約基準値を満たすようになるまで、再度のテストフロー作成が行われる。 (3)
According to the present invention, it is determined whether or not the test constraint value calculated for each test constraint estimation formula satisfies the test constraint reference value. Based on the test constraint reference value correction formula of the storage means, the information in the test difficulty level calculation element database of the storage means is updated, and the process is performed again.
As a result, the test flow is generated again until the test constraint reference value is satisfied even if the user does not explicitly modify the generation and execution of the test flow that does not satisfy the test constraint reference value.

１０、   10,

（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記コンピータシステムの記憶手段が、さらに、
前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールとの関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、
１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、
テスト制約基準値修正式を１以上記憶している。 (1)
Moreover, in the test flow presentation computer program according to another invention, the storage means of the computer system further includes:
A CAD tool specific database including an association between the DFT method and a CAD tool;
A CAD tool environment constraint database storing one or more of the CAD tools;
One or more test constraint reference value correction formulas are stored.

そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、さらに、以下の（６）、（７）の処理を行わせること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。

（６） 前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースに含まれる前記ＤＦＴ手法のうち、前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれている前記ＣＡＤツールに関連付いているＤＦＴ手法についてのみを、
前記記憶手段における前記テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用すること、

（７） 当該テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用しないＤＦＴ手法について、
前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、前記（１）−（６）の処理を行うこと。
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。 A test flow presentation computer program characterized by causing the processing means of the computer system to further perform the following processes (6) and (7).

(6) Of the DFT methods included in the CAD tool identification database of the storage unit, only the DFT method associated with the CAD tool included in the CAD tool environment constraint database of the storage unit,
Adopt as a DFT technique as the test flow in the storage means;

(7) About DFT method not adopted as DFT method as the test flow
Updating the information in the test difficulty calculation element database of the storage means based on the test constraint reference value correction formula of the storage means, and performing the processes (1) to (6).
Is a test flow presentation computer program characterized by

（２）
「当該テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用しないＤＦＴ手法について、前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し」とは、テストフローデータベースのＤＦＴ手法として採用しなかったＤＦＴ手法について、当該ＤＦＴ手法を必要と判断したテストメニューデータベース又は第２のテストメニューデータベースのレコードに存在する、テスト難易度算出式又は第２のテスト難易度算出式において変数として要求されたテスト難易度算出要素データベースの値について、テスト制約基準値修正式に基づいて値の更新を行うこと、を意味する。
ここで、「テスト制約基準値修正式」に与えられる変数として、テスト難易度又は第２のテスト難易度や、テスト難易度算出式又は第２のテスト難易度算出式において変数として要求されたテスト難易度算出要素データベースの値、が考えられる。 (2)
“Regarding DFT technique not adopted as DFT technique as the test flow, the information in the test difficulty calculation element database of the storage means is updated based on the test constraint reference value correction formula of the storage means” means test flow For DFT methods not adopted as the DFT method of the database, the test difficulty level calculation formula or the second test difficulty level calculation that exists in the record of the test menu database or the second test menu database determined to require the DFT method. This means that the value of the test difficulty calculation element database requested as a variable in the formula is updated based on the test constraint reference value correction formula.
Here, as a variable given to the “test constraint reference value correction formula”, the test requested as a variable in the test difficulty level or the second test difficulty level, or the test difficulty level calculation formula or the second test difficulty level calculation formula The value of the difficulty calculation element database can be considered.

（３）
本発明により、ＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールに関連付いていないＤＦＴ手法については、テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用せず、テスト制約基準値修正式に基づいて、テスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、再度、処理を行う。
これにより、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは作成されず、利用者が明示的に修正しなくても、利用者の環境では実現することができるテストフローの作成がなされるまで、再度のテストフロー作成が行われる。
特に、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは、作成されなくなるため、個々の利用者の環境に合致した現実的なテストフロー作成が実現できる。 (3)
According to the present invention, the DFT method that is not related to the CAD tool included in the CAD tool environment constraint database is not adopted as the DFT method as the test flow, and the test difficulty level based on the test constraint reference value correction formula. The information in the calculation element database is updated and the process is performed again.
As a result, a test flow that cannot be realized in the user's environment is not created, and a test flow that can be realized in the user's environment without any explicit modification by the user is created. Until then, the test flow is created again.
In particular, since a test flow that cannot be realized in the user's environment is not created, realistic test flow creation that matches the environment of each user can be realized.

１１、   11,

（１）
なお、上記の発明に関し、用語等の補足説明を行う。 (1)
It should be noted that supplementary explanations of terms etc. will be given with respect to the above invention.

（２）
以下は、一般的にＬＳＩのテストの設計・製造制約として与えられるものである。

ネットリスト
設計者が作成した回路記述（通常RTL）を論理合成したものである。
回路のゲート数、回路内のFF数、機能ピン数（回路のプライマリ入力、プライマリ出力数）が決定される。

動作周波数
回路が実動作する場合に保証されるべき周波数である。
実動作速度テストを行う場合、テスト周波数の決定要因である。
実動作速度： 遅延テスト、機能テストなど
ＤＦＴ回路の挿入の可否に対する制約となる。
ＤＦＴ挿入によって回路内の機能パスの遅延が増加する可能性がある。よって、動作周波数を満たさなくなってはいけない。

テクノロジ（プロセスルール）
チップの仕様として決定される。
チップサイズの決定要因である。
同じゲート数なら先端プロセスほどチップサイズは小さくなる。
製造コストの決定要因となる。
先端プロセス： 単位面積あたりの製造コストは大きく、製品立ち上げコストは大きくなる。
故障モデルの決定要因である。
先端プロセス： 遅延テストなどを行う必要がある。

パッケージ
チップの仕様として決定される。
使用可能な総ピン数が決定される。
(2)
The following are generally given as design / manufacturing constraints for LSI testing.

Netlist This is a logical synthesis of a circuit description (usually RTL) created by the designer.
The number of gates in the circuit, the number of FFs in the circuit, and the number of functional pins (number of primary inputs and primary outputs of the circuit) are determined.

Operating frequency This is the frequency that should be guaranteed when the circuit actually operates.
When performing an actual operation speed test, it is a determinant of the test frequency.
Actual operation speed: Delay test, function test, etc. Restriction on whether or not DFT circuit can be inserted.
The DFT insertion can increase the delay of the functional path in the circuit. Therefore, the operating frequency must not be satisfied.

Technology (process rules)
It is determined as the specification of the chip.
It is a determinant of chip size.
If the number of gates is the same, the chip size becomes smaller as the advanced process.
It becomes a determinant of manufacturing cost.
Advanced process: Manufacturing cost per unit area is large, and product launch cost is high.
It is a determinant of the failure model.
Advanced process: Delay testing is required.

It is determined as the specification of the package chip.
The total number of pins that can be used is determined.

（３） 以下は、一般的にＬＳＩのテスト設計者が決定できるものである。

テストピン数
通常、使用可能な総ピン数−機能ピン数、により算出される。
電源およびクロックピン数として決定される。
機能ピンをテスト時にテストピンとして流用することが可能なケースも存在する。
テスト制御ピン（テストモード、スキャンイネーブル等）、テストデータ入力、テストデータ出力、テストデータの入力および出力、でピンを共有するケースも存在する。
最低5本あればテストが可能である。
JTAGインタフェース： 制御コマンドおよびデータをシリアル入出力（テスト実行時間は非常に長くなる）

外部入力／出力スキャンチェーン数
チップ外部に引き出された、スキャンチェーンに接続されているピン数である。
テストピンのうち、テストデータを入力／出力するピン数である。
圧縮マクロを使用しない場合、内部スキャンチェーン数と等しい。
圧縮マクロを使用する場合、圧縮率の決定要因となる。
圧縮率 = 内部スキャンチェーン数／外部入力スキャンチェーン数、の関係になる。
テストデータ量の決定要因となる。

内部スキャンチェーン本数、内部スキャン長
内部スキャンチェーン本数： 回路内に存在するスキャンチェーンの本数である。
内部スキャン長： 回路内に存在するスキャンチェーンの1本あたりの最大の長さである。
ＦＦ間の距離などの問題によって、各スキャンチェーンの長さは等しくならない可能性がある。
スキャンチェーンの長さが等しい場合、ＦＦ数＝内部スキャンチェーン本数＊スキャン長、の関係になる。
配線混雑の影響により、上限が存在する。
圧縮マクロの分散化によって上限を増加可能である。

故障モデルおよびカバレージ
テストパターン生成（ATPG）において対象となる故障モデル、および目標故障カバレージである。
代表的な故障モデルとして、縮退故障モデル、遷移遅延故障モデル、がある。

縮退故障モデル(Stuck-at fault model)
回路内の配線が欠陥によって0または1に固定すると仮定する。
低速でテスト可能である。
ATPGによって容易に高カバレージ(95%、99%、100%など)を達成可能である。
標準的に適用される。

遷移遅延故障モデル(Transition delay fault model)
回路内の配線に欠陥による信号伝播遅延が発生すると仮定する。
実動作速度でのテストが要求される。
高カバレージの達成が困難である。
パターン生成が困難である。
パターン数が非常に増加する可能性がある。
先端プロセス(＜90nm)において適用が要求される。

テストパターン数の決定要因
実際のパターン数はATPG実行後に決定される。
歩留り損失および市場不良率（テスト見逃し）の決定要因である。
歩留り損失： 良品を不良品として判断すること。
市場不良： 不良品を良品として判断すること。
定量的な評価は困難である。

テスト実行時間
テスタによってテストパターンを実行する時間である。
テスト実行時間＝(１／テスト周波数)＊(テストパターン数＋１)＊１、の関係になる。
パターンの適用に必要なクロック数は、
1パターンの適用に必要なクロック数： 縮退故障の場合には、内部スキャン長＋１となる。
データをスキャンイン→1クロック動作（パターン実行）→スキャンアウト、の流れになる。
スキャンアウトは次のデータのスキャンインと同時になる。
遅延テストの場合には、内部スキャン長＋２、の関係になる。
パターン実行時に２クロック動作、または1クロック余計にシフト→1クロック動作。
２個のパターンを連続して実行する必要があるため、遅延テストでは、スキャンイン／アウトは低速で行い、パターン実行だけ実速度で行う場合も、低速なテスタを使用可能であるが、実行時間は増加する。

テストデータ量
テスタが保持する、1チップに対して適用されるテストデータの総量（ビット数）である。
パターン数、外部スキャンチェーン数、内部スキャン長から決定される。
テストデータ量＝パターン数＊{(外部入力スキャンチェーン数＊内部スキャン長)+(外部出力スキャンチェーン数＊内部スキャン長)}、の関係になる。
各パターンに対して、入力値 および出力期待値を保持する必要がある。
テスタの決定要因となる。
全データをテスタメモリに搭載不可(メモリ量＜データ量)である。
テスト中にテストデータの追加読み込み→実行時間の大幅な増加の可能性がある。

圧縮マクロ
外部スキャン入力から入力されたデータを内部スキャンに展開する（入力展開）。
内部スキャンから出力されるテスト応答を圧縮して外部スキャンピンに出力する（応答圧縮）。
入力展開および応答圧縮で異なる圧縮率を適用可能である。
テストデータ量の決定要因となる。
圧縮によって1パターンあたりのデータ量が削減できる。
高圧縮率→ＡＴＰＧ生成が困難に→パターン数が増加する可能性がある。
同じ圧縮率でもＥＤＡベンダによる効率の違いがある（パターン数、カバレージ、付加面積）。
Ａ社のマクロを付加→Ｂ社のツールでＡＴＰＧ生成、はおそらく不可能である。
チップサイズの決定要因となる。
圧縮マクロ：付加回路
高圧縮率→より大きな付加回路となる。
元々の回路：大→付加回路の影響：相対的に小さくなる。
設計・製造コストの決定要因となる。
圧縮マクロを使用する権利をＥＤＡベンダから購入する必要がある。
→使用可能な圧縮マクロが限定されている可能性がある。

チップサイズ
回路のゲート数、ＤＦＴによるオーバヘッド(ＦＦ→スキャンＦＦ、圧縮マクロ)、テクノロジによって決定される。
正確なチップサイズは配置配線後に決定される。
見積：同一テクノロジであればチップサイズはゲート数にほぼ比例する。
製造コストの決定要因となる。

テスタ(Automatic Test Equipment: ATE)
最大動作周波数、搭載メモリ容量、ピン数など、様々なパラメータがある。
テストデータ量、テスト周波数、ピン数などにより、あるテスタを利用可能か決定できる。
テスタ適用コストを決定→製造コストの決定要因となる。
１チップあたりのテストコスト＝１秒あたりのテスタ適用コスト＊テスト実行時間(秒)、の関係になる。
(3) The following can generally be determined by the LSI test designer.

Number of test pins Usually calculated by the total number of usable pins minus the number of functional pins.
Determined as power supply and clock pin count.
In some cases, functional pins can be used as test pins during testing.
There are cases where pins are shared by test control pins (test mode, scan enable, etc.), test data input, test data output, and test data input and output.
Testing is possible with at least five.
JTAG interface: Serial input / output of control commands and data (test execution time is very long)

Number of external input / output scan chains This is the number of pins connected to the scan chain drawn outside the chip.
This is the number of test pins that input / output test data.
If no compression macro is used, it is equal to the number of internal scan chains.
When a compression macro is used, it becomes a determinant of the compression rate.
Compression rate = number of internal scan chains / number of external input scan chains.
Determining the amount of test data.

Number of internal scan chains, internal scan length Number of internal scan chains: Number of scan chains existing in the circuit.
Internal scan length: This is the maximum length per scan chain that exists in the circuit.
Due to problems such as the distance between the FFs, the lengths of the scan chains may not be equal.
When the lengths of the scan chains are equal, the relationship is FF number = number of internal scan chains * scan length.
There is an upper limit due to the influence of wiring congestion.
The upper limit can be increased by distributing compressed macros.

Fault model and coverage The target fault model and target fault coverage in test pattern generation (ATPG).
Typical fault models include a stuck-at fault model and a transition delay fault model.

Stuck-at fault model
Assume that the wiring in the circuit is fixed at 0 or 1 due to a defect.
Testable at low speed.
ATPG can easily achieve high coverage (95%, 99%, 100%, etc.).
Standard applies.

Transition delay fault model
It is assumed that a signal propagation delay due to a defect occurs in the wiring in the circuit.
Tests at actual operating speed are required.
Achieving high coverage is difficult.
Pattern generation is difficult.
The number of patterns can increase significantly.
Application is required in advanced processes (<90 nm).

Factors that determine the number of test patterns The actual number of patterns is determined after ATPG execution.
Determinants of yield loss and market failure rate (test miss).
Yield loss: Judge a good product as a defective product.
Market failure: Judge a defective product as a good product.
Quantitative evaluation is difficult.

Test execution time This is the time to execute the test pattern by the tester.
Test execution time = (1 / test frequency) * (test pattern number + 1) * 1.
The number of clocks required to apply the pattern is
Number of clocks required to apply one pattern: In the case of stuck-at fault, the internal scan length is +1.
The flow of data scan-in → 1 clock operation (pattern execution) → scan-out.
Scan-out is performed simultaneously with scan-in of the next data.
In the case of a delay test, the relationship is internal scan length +2.
2 clock operation at the time of pattern execution, or shift to 1 clock extra → 1 clock operation.
Since it is necessary to execute two patterns in succession, in the delay test, scan-in / out is performed at a low speed, and even when only pattern execution is performed at an actual speed, a low-speed tester can be used. Will increase.

Test data amount This is the total amount of test data (number of bits) applied to one chip, held by the tester.
It is determined from the number of patterns, the number of external scan chains, and the internal scan length.
Test data amount = number of patterns * {(number of external input scan chains * internal scan length) + (number of external output scan chains * internal scan length)}.
For each pattern, it is necessary to hold the input value and the expected output value.
Determining the tester.
All data cannot be loaded in the tester memory (memory amount <data amount).
During the test, additional loading of test data may result in a significant increase in execution time.

Compression macro Expands data input from external scan input into internal scan (input expansion).
The test response output from the internal scan is compressed and output to the external scan pin (response compression).
Different compression rates can be applied for input expansion and response compression.
Determining the amount of test data.
The amount of data per pattern can be reduced by compression.
High compression ratio → ATPG generation is difficult → the number of patterns may increase.
Even with the same compression ratio, there is a difference in efficiency depending on the EDA vendor (number of patterns, coverage, additional area).
Add macro of company A → ATPG generation with company B's tool is probably impossible.
Determinant of chip size.
Compression macro: Additional circuit High compression ratio → Larger additional circuit.
Original circuit: Large → Additional circuit effect: Relatively small.
It becomes a determinant of design and manufacturing costs.
The right to use the compressed macro needs to be purchased from an EDA vendor.
→ The available compression macros may be limited.

Chip size Determined by the number of circuit gates, DFT overhead (FF → scan FF, compression macro), and technology.
The exact chip size is determined after placement and routing.
Estimate: For the same technology, the chip size is roughly proportional to the number of gates.
It becomes a determinant of manufacturing cost.

Tester (Automatic Test Equipment: ATE)
There are various parameters such as maximum operating frequency, installed memory capacity, and pin count.
Depending on the amount of test data, test frequency, number of pins, etc., it can be determined whether a certain tester can be used.
Determining tester application cost → Determining manufacturing cost.
Test cost per chip = Tester application cost per second * Test execution time (seconds).

以上のように、本発明を利用すると、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。   As described above, when the present invention is used, a test flow without any contradiction is automatically generated from a test difficulty level calculation element database that stores information related to a circuit design diagram, which is composed of information created by a circuit designer. Can be obtained.

本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例を図示したものである。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a processing flow diagram performed by a test flow presentation computer system according to the present invention. 本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例を図示したものである。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a processing flow diagram performed by a test flow presentation computer system according to the present invention. 本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例を図示したものである。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a processing flow diagram performed by a test flow presentation computer system according to the present invention. 本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例を図示したものである。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a processing flow diagram performed by a test flow presentation computer system according to the present invention. 本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが使用するデータベースの図の一例を図示したものである。1 is a diagram illustrating an example of a database used by a test flow presentation computer system according to the present invention. 本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例を図示したものである。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a processing flow diagram performed by a test flow presentation computer system according to the present invention. 本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例を図示したものである。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a processing flow diagram performed by a test flow presentation computer system according to the present invention. 本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが使用するデータベースの図の一例を図示したものである。1 is a diagram illustrating an example of a database used by a test flow presentation computer system according to the present invention. 本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが使用するデータベースの図の一例を図示したものである。1 is a diagram illustrating an example of a database used by a test flow presentation computer system according to the present invention.

以下、本発明の実施形態を、図面を参照しつつ説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

１、 本発明の実施の構成について   1. About the configuration of the present invention

（１）
本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムは、出力手段と、処理手段と、入力手段と、記憶手段と、から構成されている。そして、これら各手段は、バスを介して電気的に接続し、相互に情報の伝達（信号の通信）を行うことができる。 (1)
The test flow presentation computer system according to the present invention includes an output unit, a processing unit, an input unit, and a storage unit. These means can be electrically connected via a bus to transmit information (signal communication) to each other.

テストフロー提示コンピュータシステムにおける構成要素を更に詳述する。
出力手段は、情報をテストフロー提示コンピュータシステムの利用者に表示するための出力装置であり、例えば液晶やＣＲＴ方式等のディスプレイ装置が該当する。
また、処理手段は、上記他の手段（装置）に働きかける計算装置であり、例えばＣＰＵが該当する。
入力手段は、テストフロー提示コンピュータシステムの利用者からの命令を受け付ける入力装置であり、例えばマウスやキーボードが該当する。
記憶手段は、大量の情報を記憶させておく補助記憶装置や、処理手段による実行の対象となる情報を記憶させておく主記憶装置であり、例えばハードディスク（ＨＤＤ）やメインメモリが該当する。
バスは、テストフロー提示コンピュータシステムの内部で各手段が情報を通信するための伝送路である。 The components in the test flow presentation computer system will be described in further detail.
The output means is an output device for displaying information to the user of the test flow presentation computer system, and corresponds to a display device such as a liquid crystal display or a CRT method.
The processing means is a computing device that works on the other means (device), and corresponds to, for example, a CPU.
The input means is an input device that receives a command from a user of the test flow presentation computer system, and corresponds to, for example, a mouse or a keyboard.
The storage means is an auxiliary storage device that stores a large amount of information or a main storage device that stores information to be executed by the processing means, and corresponds to a hard disk (HDD) or a main memory, for example.
The bus is a transmission path for each means to communicate information within the test flow presentation computer system.

本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムは、パーソナルコンピュータのようなローカルのコンピュータシステムであっても実施が可能であり、当該前提により以下説明を行う。
しかし、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムは、複数のコンピュータシステムから構成される場合もある。
例えば、クライアント側のコンピュータシステムが出力手段及び入力手段となり、サーバ側のコンピュータシステムが処理手段及び記憶手段となり、インターネットなどの広域通信回線がバスとなることによって、複数のコンピュータシステムから構成される場合も考えられる。 The test flow presentation computer system according to the present invention can be implemented even by a local computer system such as a personal computer, and will be described below based on the premise.
However, the test flow presentation computer system according to the present invention may be composed of a plurality of computer systems.
For example, when a computer system on the client side serves as output means and input means, a computer system on the server side serves as processing means and storage means, and a wide area communication line such as the Internet serves as a bus, the system is composed of a plurality of computer systems. Is also possible.

（２）
次に、テストフロー提示コンピュータシステムの記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている各種情報について説明する。
記憶手段としてのＨＤＤは、各種のデータベースと、テストフロー提示コンピュータプログラムと、ＯＳその他プログラムを、データベースやファイルの形式により記憶している。
各種のデータベースとして、テスト難易度算出要素データベース、テストメニューデータベース、テストフローデータベース、ＣＡＤツール特定データベース、ＣＡＤツール環境制約データベース、コンバートデータベース、等がある。
これら各種のデータベースは、同種のデータベースが２以上存在することもある。例えば、テストメニューデータベースが２以上存在することによる、第２のテストメニューデータベース、第３のテストメニューデータベース、が存在することもある。 (2)
Next, various types of information stored in the HDD as storage means of the test flow presentation computer system will be described.
The HDD as storage means stores various databases, a test flow presentation computer program, an OS, and other programs in the form of databases and files.
Examples of various databases include a test difficulty calculation element database, a test menu database, a test flow database, a CAD tool specific database, a CAD tool environment constraint database, and a convert database.
Of these various databases, there may be two or more of the same kind of databases. For example, there may be a second test menu database and a third test menu database due to the presence of two or more test menu databases.

そして、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている各情報を、記憶手段としてのメモリに読み込むことにより、プログラムやデータの解釈・実行を行なう。
また、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＯＳその他プログラムと、テストフロー提示コンピュータプログラムを、記憶手段としてのメモリに読み込んで解釈し、実行する事により、本発明に係るテストフロー提示処理等が行なわれるのである。 Then, the CPU as the processing means reads each information stored in the HDD as the storage means into the memory as the storage means, thereby interpreting and executing the program and data.
In addition, the CPU as the processing unit reads the OS and other programs stored in the HDD as the storage unit and the test flow presentation computer program into the memory as the storage unit, interprets them, and executes them, thereby achieving the present invention. Such a test flow presentation process or the like is performed.

このように、本実施形態では、初期状態として記憶手段としてのＨＤＤに各情報が記憶されているとして説明するが、初期状態において記憶手段としてのメモリに各情報が全て記憶されていても当然実施は可能である。   As described above, in this embodiment, the description will be made assuming that each information is stored in the HDD as the storage unit as the initial state. However, even if all the information is stored in the memory as the storage unit in the initial state, it is naturally performed. Is possible.

２、 本発明の実施のフローについて   2. Flow of implementation of the present invention

図１は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例である。同図に基づいて、本発明の実施のフローを説明する。   FIG. 1 is an example of a processing flow diagram performed by a test flow presentation computer system according to the present invention. Based on the same figure, the flow of implementation of this invention is demonstrated.

（１）
まず、入力手段としてのマウスやキーボードを介し、テストフロー提示処理の命令を受信すると、処理手段としてのＣＰＵは、記憶手段としてのＨＤＤのテスト難易度算出式に基づいて、テスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、テストメニューデータベースのテストメニューレコードごとにテスト難易度を算出する。
図１のフローでは、Ｃ１‐（１）の処理が該当する。図１のＣ１−Ｂのテストメニューデータベースでは、ネットリスト、希望動作周波数、プロセステクノロジー情報、がテスト難易度算出式の変数となっている。 (1)
First, when a test flow presentation process command is received via a mouse or keyboard as an input means, the CPU as a processing means performs a test difficulty calculation element database based on the test difficulty calculation formula of the HDD as a storage means. Using one or more of the associations of netlist, package pin count, test pin count, desired operating frequency, process technology information, power consumption during test, and tester capacity The test difficulty is calculated for each test menu record in the test menu database.
In the flow of FIG. 1, the process of C1- (1) corresponds. In the test menu database of C1-B in FIG. 1, the net list, the desired operating frequency, and the process technology information are variables of the test difficulty level calculation formula.

（２）
次に、処理手段としてのＣＰＵが、算出したテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを記憶手段としてのＨＤＤのテストフローデータベースに記憶させる。
図１のフローでは、Ｃ１‐（２）‐Ａ、Ｃ１‐（２）‐Ｂの処理が該当する。
Ｃ１‐（１）、Ｃ１‐（２）‐Ａ、Ｃ１‐（２）‐Ｂの処理は、テストメニューデータベースのテストメニューレコードの全てについて処理を行う。 (2)
Next, the CPU as the processing means specifies all the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated test difficulty, and associates the identified DFT technique with the priority. Are stored in the test flow database of the HDD as the storage means.
In the flow of FIG. 1, the processing of C1- (2) -A and C1- (2) -B corresponds.
The processing of C1- (1), C1- (2) -A, and C1- (2) -B is performed for all the test menu records in the test menu database.

（３）
そして、記憶手段としてのＨＤＤのテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶させ、出力手段としてのディスプレイ装置に表示させ提示する。
図１のフローでは、Ｃ１‐（３）の処理が該当する。 (3)
Then, the association between the DFT method and the priority stored in the test flow database of the HDD as the storage unit is sorted in the order of the associated priority, and the sorted DFT method is used as the storage unit as the test flow. It is stored in the HDD, displayed on a display device as output means, and presented.
In the flow of FIG. 1, the process of C1- (3) corresponds.

（４）
すなわち、テスト難易度算出式に基づいて、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、それぞれのテストメニューデータベースに記憶されているＬＳＩのテストごと（ＤＦＴ手法ごと、テストメニューレコードごと）に、テスト難易度が算出される。
そして、それぞれのテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに算出したテスト難易度に応じたＤＦＴ手法と優先度との関連付けを特定し、テストフローデータベースに記憶させていく。
その上で、テストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度との関連付けを、テストフローとして矛盾が生じないように、優先度を基準としてソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示させる。 (4)
That is, based on the test difficulty level calculation formula, from the test difficulty level calculation element database storing information on the circuit design drawing, for each LSI test stored in each test menu database (for each DFT technique, for each test menu record) ), The test difficulty level is calculated.
Then, the association between the DFT technique and the priority corresponding to the test difficulty calculated for each test menu record in each test menu database is specified and stored in the test flow database.
Then, the association between the DFT method and the priority stored in the test flow database is sorted based on the priority so that no inconsistency occurs as the test flow, and the sorted DFT method is stored as the test flow. The information is stored in the means and displayed on the output means.

この一連のハードウェア資源が協調した情報処理の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
図１では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ１‐Ａのテスト難易度算出要素データベースと、Ｃ１‐Ｂのテストメニューデータベースとから、本発明に係る処理により、Ｃ１‐Ｃのテストフローデータベースの内容を得ることができる。 Whether each DFT method is required from the test difficulty calculation element database that stores information related to the circuit design drawing, which is composed of information created by the circuit designer as a result of information processing in which this series of hardware resources cooperates By calculating the test difficulty level, determining with the test difficulty level reference formula, and sorting in order of priority, a test flow without contradiction can be automatically obtained.
In FIG. 1, a C1-C test flow database is obtained from the C1-A test difficulty calculation element database and the C1-B test menu database stored in the HDD as a storage means by the processing according to the present invention. You can get the contents of

３、 本発明の他の実施形態について   3. Other embodiments of the present invention

図２は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。   FIG. 2 is an example of a processing flow diagram performed by the test flow presentation computer system according to the present invention. The flow of another embodiment of the present invention will be described based on FIG.

（１）
他の実施形態では、さらに、テスト難易度算出要素データベースの数値とＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出する第２のテスト難易度算出式と、テスト難易度とＤＦＴ手法と優先度との関連付けと、を含む第２のテストメニューデータベースが記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている。
そして、図１のフローでの、Ｃ１‐（１）、Ｃ１‐（２）‐Ａ、Ｃ１‐（２）‐Ｂの処理に該当する、図２のフローでの、Ｃ２‐（１）、Ｃ２‐（２）‐Ａ、Ｃ２‐（２）‐Ｂの処理を、テストメニューデータベースのテストメニューレコードの全てについて処理を行う。ここまでは、図１のフローと同様である。 (1)
In another embodiment, the second test difficulty calculation formula for calculating the test difficulty based on the numerical value of the test difficulty calculation element database and the DFT method, and the test difficulty, the DFT method, and the priority A second test menu database including the association is stored in the HDD as the storage means.
Then, C2- (1), C2 in the flow of FIG. 2 corresponding to the processing of C1- (1), C1- (2) -A, C1- (2) -B in the flow of FIG. -Processes (2) -A and C2- (2) -B are performed for all test menu records in the test menu database. Up to this point, the flow is the same as that shown in FIG.

（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤの第２のテストメニューデータベースにおける第２のテスト難易度算出式に基づいて、記憶手段としてのＨＤＤのテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、記憶手段としてのＨＤＤのテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、第２のテスト難易度を算出する。
図２のフローでは、Ｃ２‐（３）‐Ａの処理が該当する。 (2)
Then, the CPU as the processing means has a DFT method stored in the test flow database of the HDD as the storage means based on the second test difficulty level calculation formula in the second test menu database of the HDD as the storage means; , HDD test difficulty calculation element database as a storage means, netlist, number of package pins, number of test pins, desired operating frequency, process technology information, power consumption during testing, tester capacity, Among the associations, the second test difficulty level is calculated using one or more pieces of information.
In the flow of FIG. 2, the process of C2- (3) -A corresponds.

（３）
続いて、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤの第２のテストメニューデータベースから、算出した第２のテスト難易度が満たす第２のテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを記憶手段としてのテストフローデータベースに記憶させる。
図２のフローでは、Ｃ２‐（３）‐Ｂ、Ｃ２‐（４）の処理が該当する。 (3)
Subsequently, the CPU as the processing unit has a DFT method associated with the second test difficulty level reference expression satisfied by the calculated second test difficulty level from the second test menu database of the HDD as the storage unit. All the associations with the priorities are specified, and the association between the specified DFT technique and the priorities is stored in a test flow database as a storage unit.
In the flow of FIG. 2, the processes of C2- (3) -B and C2- (4) are applicable.

（４）
次に、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤのテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶させ、出力手段としてディスプレイ装置に表示させ提示する。
図２のフローでは、Ｃ２‐（５）の処理が該当する。 (4)
Next, the CPU as the processing unit sorts the DFT methods stored in the test flow database of the HDD as the storage unit, and sorts the DFT methods in the order of the associated priorities. The DFT method is stored as a test flow in the HDD as the storage unit, and is displayed on the display device as the output unit and presented.
In the flow of FIG. 2, the process of C2- (5) corresponds.

（５）
この実施形態の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
特に、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースだけではなく、すでに必要と判断したＤＦＴ手法の情報も元にして、さらに各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、第２のテスト難易度を算出し、第２のテスト難易度基準式で判断し、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができるため、柔軟なテストフロー作成が可能となる。
図２では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ２‐Ａのテスト難易度算出要素データベースと、Ｃ２‐Ｂのテストメニューデータベースと、Ｃ２‐Ｄの第２のテストメニューデータベースとから、本発明に係る処理により、Ｃ２‐Ｅのテストフローデータベースの内容を得ることができる。 (5)
As a result of this embodiment, the test difficulty level is calculated as to whether each DFT method is necessary or not from the test difficulty level calculation element database storing information related to the circuit design diagram, which is composed of information created by the circuit designer. The test flow without any contradiction can be automatically obtained by judging with the test difficulty standard expression and sorting in order of priority.
In particular, the second test difficulty level indicates whether each DFT method is necessary based not only on the test difficulty level calculation element database storing information related to the circuit design drawing but also on the DFT method information already determined to be necessary. , And the determination based on the second test difficulty level reference formula can be automatically obtained, so that a test flow having no contradiction can be automatically obtained, so that a flexible test flow can be created.
In FIG. 2, the present invention includes a C2-A test difficulty level calculation element database, a C2-B test menu database, and a C2-D second test menu database stored in an HDD as a storage means. By the processing according to the above, the contents of the C2-E test flow database can be obtained.

４、 本発明の他の実施形態２について   4. Other embodiment 2 of the present invention

図３は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。   FIG. 3 is an example of a process flow diagram performed by the test flow presentation computer system according to the present invention. The flow of another embodiment of the present invention will be described based on FIG.

（１）
他の実施形態では、記憶手段としてのＨＤＤに第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードが２以上含まれ、処理手段としてのＣＰＵが、第２のテストメニューレコードごとに上記の第２のテスト難易度算出処理を行い、テストフローデータベースへの記憶処理を行う。 (1)
In another embodiment, two or more second test menu records of the second test menu database are included in the HDD as the storage means, and the CPU as the processing means performs the second test menu record for each second test menu record. The test difficulty level calculation process is performed, and the storage process to the test flow database is performed.

（２）
図２のフローでの、Ｃ２‐（１）、Ｃ２‐（２）‐Ａ、Ｃ２‐（２）‐Ｂの処理に該当する、図３のフローでの、Ｃ３‐（１）、Ｃ３‐（２）‐Ａ、Ｃ３‐（２）‐Ｂの処理を、テストメニューデータベースのテストメニューレコードの全てについて処理を行う。ここまでは、図２のフローと同様である。
さらに、図２のフローでの、Ｃ２‐（３）‐Ａ、Ｃ２‐（３）‐Ｂ、Ｃ２‐（４）の処理に該当する、図３のフローでの、Ｃ３‐（３）‐Ａ、Ｃ３‐（３）‐Ｂ、Ｃ３‐（４）の処理を、第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードの全てについて処理を行う。
そして、図２のフローでの、Ｃ２‐（５）の処理に該当するＣ３‐（５）の処理を行う。 (2)
3 corresponding to the processing of C2- (1), C2- (2) -A, C2- (2) -B in the flow of FIG. 2, C3- (1), C3- ( 2) The processes of -A and C3- (2) -B are performed for all the test menu records in the test menu database. Up to this point, the flow is the same as that in FIG.
Further, C3- (3) -A in the flow of FIG. 3 corresponding to the processing of C2- (3) -A, C2- (3) -B, C2- (4) in the flow of FIG. , C3- (3) -B, C3- (4) are processed for all the second test menu records in the second test menu database.
Then, the process C3- (5) corresponding to the process C2- (5) in the flow of FIG. 2 is performed.

（３）
この実施形態の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
特に、テストメニューデータベースには、２以上のテストメニューレコードが存在し、第２のテストメニューデータベースには、２以上の第２のテストメニューレコードが存在しているため、夫々のデータベースのレコードに、より多面的、詳細で柔軟な判断基準を設定することができる。
図３では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ３‐Ａのテスト難易度算出要素データベースと、Ｃ３‐Ｂのテストメニューデータベースと、Ｃ３‐Ｄの第２のテストメニューデータベースとから、本発明に係る処理により、Ｃ３‐Ｅのテストフローデータベースの内容を得ることができる。 (3)
As a result of this embodiment, the test difficulty level is calculated as to whether each DFT method is necessary or not from the test difficulty level calculation element database storing information related to the circuit design diagram, which is composed of information created by the circuit designer. The test flow without any contradiction can be automatically obtained by judging with the test difficulty standard expression and sorting in order of priority.
In particular, since two or more test menu records exist in the test menu database and two or more second test menu records exist in the second test menu database, each database record includes More versatile, detailed and flexible criteria can be set.
In FIG. 3, the present invention includes a C3-A test difficulty level calculation element database, a C3-B test menu database, and a C3-D second test menu database stored in an HDD as a storage means. By the processing according to the above, the contents of the C3-E test flow database can be obtained.

５、 本発明の他の実施形態３について   5. Other embodiment 3 of the present invention

図４は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。   FIG. 4 is an example of a processing flow diagram performed by the test flow presentation computer system according to the present invention. The flow of another embodiment of the present invention will be described based on FIG.

（１）
他の実施形態では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているテストメニューデータベースは、テスト難易度算出要素データベースの数値又はテスト難易度算出要素データベースの数値及びＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式とＤＦＴ手法と優先度との関連付けであるテストメニューレコードを２以上含んでいる。 (1)
In another embodiment, the test menu database stored in the HDD as the storage means calculates the test difficulty based on the numerical value of the test difficulty calculation element database or the numerical value of the test difficulty calculation element database and the DFT technique. The test difficulty level calculation formula, the test difficulty level reference formula, the DFT method, and two or more test menu records that are associated with the priority are included.

（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵが、上記の第２のテスト難易度算出処理において、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、第２のテスト難易度を算出する。 (2)
Then, the CPU as the processing means stores the DFT technique stored in the test flow database stored in the HDD as the storage means and the HDD as the storage means in the second test difficulty level calculation process. Among the associations of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, process technology information, power consumption during testing, and tester capacity in the test difficulty calculation element database The second test difficulty level is calculated using one or more pieces of information.

（３）
図３のフローでの、Ｃ３‐（１）、Ｃ３‐（２）‐Ａ、Ｃ３‐（２）‐Ｂの処理に該当する、図４のフローでの、Ｃ４‐（１）、Ｃ４‐（２）‐Ａ、Ｃ４‐（２）‐Ｂの処理を、テストメニューデータベースのテストメニューレコードの全てについて処理を行う。ここまでは、図３のフローと同様である。
さらに、図３のフローでの、Ｃ３‐（３）‐Ａ、Ｃ３‐（３）‐Ｂ、Ｃ３‐（４）の処理に該当する、図４のフローでの、Ｃ４‐（３）‐Ａ、Ｃ４‐（３）‐Ｂ、Ｃ４‐（４）の処理を、テストメニューデータベースのテストメニューレコードの全てについて処理を行う。
そして、図３のフローでの、Ｃ３‐（５）の処理に該当するＣ４‐（５）の処理を行う。 (3)
4 corresponding to the processing of C3- (1), C3- (2) -A, C3- (2) -B in the flow of FIG. 3, C4- (1), C4- ( 2) -A and C4- (2) -B are processed for all test menu records in the test menu database. Up to this point, the flow is the same as the flow of FIG.
Further, C4- (3) -A in the flow of FIG. 4 corresponding to the processing of C3- (3) -A, C3- (3) -B, C3- (4) in the flow of FIG. , C4- (3) -B and C4- (4) are processed for all test menu records in the test menu database.
Then, the process C4- (5) corresponding to the process C3- (5) in the flow of FIG. 3 is performed.

（４）
この実施形態の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
特に、テストフローデータベースにＤＦＴ手法が蓄積されていない段階では、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースの情報からテストフローを生成し、テストフローデータベースにＤＦＴ手法が蓄積された段階では、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースの情報と、テストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法とから、テストフローを生成することができる。
例えば、複数のレコードから構成される１のテストメニューデータベースだけでも、柔軟で詳細な設定が可能となる。 (4)
As a result of this embodiment, the test difficulty level is calculated as to whether each DFT method is necessary or not from the test difficulty level calculation element database storing information related to the circuit design diagram, which is composed of information created by the circuit designer. The test flow without any contradiction can be automatically obtained by judging with the test difficulty standard expression and sorting in order of priority.
In particular, when the DFT technique is not accumulated in the test flow database, a test flow is generated from the information of the test difficulty calculation element database storing information related to the circuit design drawing, and the DFT technique is accumulated in the test flow database. Then, it is possible to generate a test flow from the information of the test difficulty level calculation element database storing information related to the circuit design drawing and the DFT technique stored in the test flow database.
For example, only one test menu database composed of a plurality of records can be set flexibly and in detail.

（５）
図４では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ４‐Ａのテスト難易度算出要素データベースと、Ｃ４‐Ｂのテストメニューデータベースとから、本発明に係る処理により、Ｃ４‐Ｃのテストフローデータベースの内容を得ることができる。 (5)
In FIG. 4, a C4-C test flow database is obtained from the C4-A test difficulty calculation element database and the C4-B test menu database stored in the HDD as the storage means by the processing according to the present invention. You can get the contents of

６、 本発明の他の実施形態４について   6. Other embodiment 4 of the present invention

図５は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが使用するデータベースの図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。   FIG. 5 is an example of a database diagram used by the test flow presentation computer system according to the present invention. The flow of another embodiment of the present invention will be described based on FIG.

（１）
他の実施形態では、さらに、ＤＦＴ手法とＣＡＤツールとの関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、１以上のＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、が記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている。 (1)
In another embodiment, a CAD tool identification database including an association between a DFT method and a CAD tool and a CAD tool environment constraint database storing one or more CAD tools are stored in the HDD as a storage unit. .

（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール特定データベースに含まれるＤＦＴ手法のうち、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールに関連付いているＤＦＴ手法についてのみを、記憶手段としてのＨＤＤにおけるテストフローとしてのＤＦＴ手法として採用する。 (2)
The CPU as the processing unit is associated with the CAD tool included in the CAD tool environment constraint database of the HDD as the storage unit among the DFT methods included in the CAD tool specifying database of the HDD as the storage unit. Only the DFT method is adopted as the DFT method as the test flow in the HDD as the storage means.

（３）
この実施形態の結果、事前に、コンピュータシステムの利用者がＣＡＤツールソフトウェア環境制約をＣＡＤツール環境制約データベースに入力しておく事により、利用することができるＣＡＤツールソフトウェアについてのＤＦＴ手法のみが、テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用される。
これにより、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは、作成されなくなるため、個々の利用者の環境に合致した現実的なテストフロー作成が実現できる。 (3)
As a result of this embodiment, only the DFT method for the CAD tool software that can be used by inputting the CAD tool software environment constraint into the CAD tool environment constraint database in advance by the user of the computer system is tested. It is adopted as a DFT technique as a flow.
As a result, a test flow that cannot be realized in the user's environment is not created, so that realistic test flow creation that matches the individual user's environment can be realized.

（４）
図５では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ５‐ＡのＣＡＤツール特定データベースと、Ｃ５‐ＢのＣＡＤツール環境制約データベースとから、本発明に係る処理により、ＤＦＴ手法「スキャン生成」の場合はＣＡＤツール「スキャンツール１」、ＤＦＴ手法「ＡＴＰＧパターン生成」の場合はＣＡＤツール「ＡＴＰＧツール１」、と特定でき、環境制約もクリアするため、テストフローのＤＦＴ手法として採用される。
一方、ＤＦＴ手法「遅延テストパターン生成」の場合はＣＡＤツール「ＡＴＰＧツール２」が特定できるものの、環境制約をクリアしないため、テストフローのＤＦＴ手法として採用されない。 (4)
In FIG. 5, the DFT technique “scan generation” is performed from the C5-A CAD tool identification database stored in the HDD as the storage means and the CAD tool environment constraint database of C5-B by the processing according to the present invention. In this case, the CAD tool “scan tool 1” can be specified, and in the case of the DFT method “ATPG pattern generation”, the CAD tool “ATPG tool 1” can be specified.
On the other hand, in the case of the DFT method “delayed test pattern generation”, although the CAD tool “ATPG tool 2” can be specified, it does not clear the environmental constraints and is not adopted as the DFT method of the test flow.

７、 本発明の他の実施形態５について   7. Other embodiment 5 of the present invention

図６は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。   FIG. 6 is an example of a process flow diagram performed by the test flow presentation computer system according to the present invention. The flow of another embodiment of the present invention will be described based on FIG.

（１）
他の実施形態では、さらに、ＤＦＴ手法とＣＡＤツールと使用優先度とスクリプト生成情報との関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、１以上のＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、が記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている。 (1)
In another embodiment, a CAD tool specifying database including an association of a DFT technique, a CAD tool, a usage priority, and script generation information, and a CAD tool environment constraint database storing one or more CAD tools are stored in the storage unit. Is stored in the HDD.

（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵが、テストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶されたＤＦＴ手法ごとに、以下の処理を行わせ、テストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶されたＤＦＴ手法の順番に対応したＣＡＤプランを作成する。
具体的には、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールのうち、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール特定データベースで当該ＤＦＴ手法に関連付いており、関連付いている使用優先度が最も高いＣＡＤツールと、当該特定したＣＡＤツールに関連付いているスクリプト生成情報を特定し、当該特定したＣＡＤツール及びスクリプト生成情報を、当該ＤＦＴ手法に関連付けて、ＣＡＤプランとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶させる。 (2)
Then, the CPU as the processing unit performs the following processing for each DFT method stored in the HDD as the storage unit as the test flow, and in the order of the DFT methods stored in the HDD as the storage unit as the test flow. Create a corresponding CAD plan.
Specifically, the CPU as the processing means is associated with the DFT method in the CAD tool specific database of the HDD as the storage means among the CAD tools included in the CAD tool environment constraint database of the HDD as the storage means. The associated CAD tool having the highest use priority and the script generation information associated with the identified CAD tool are identified, and the identified CAD tool and script generation information are associated with the DFT method. As a CAD plan, it is stored in the HDD as the storage means.

（３）
図６のフローでは、Ｃ６‐（６）‐Ａ、Ｃ６‐（６）‐Ｂ、Ｃ６‐（６）‐Ｃ、Ｃ６‐（６）‐Ｄ、Ｃ６‐（６）‐Ｅの処理が該当する。
Ｃ６‐（６）‐Ｂ、Ｃ６‐（６）‐Ｃ、Ｃ６‐（６）‐Ｄ、Ｃ６‐（６）‐Ｅの処理については、ＣＡＤプランのＤＦＴ手法全てについて、ＣＡＤツール及びスクリプト生成情報が特定されるまで、繰り返し行う。
ＣＡＤツール環境制約データベースに、テストフローデータベースのＤＦＴ手法に該当するＣＡＤツールが全く存在しない場合は、ＣＡＤプランのＣＡＤツール及びスクリプト生成情報をブランクとして処理する、ということも考えられる。 (3)
In the flow of FIG. 6, the processes of C6- (6) -A, C6- (6) -B, C6- (6) -C, C6- (6) -D, and C6- (6) -E are applicable. .
For C6- (6) -B, C6- (6) -C, C6- (6) -D, and C6- (6) -E, CAD tool and script generation information for all DFT methods of CAD plan Repeat until it is identified.
If there is no CAD tool corresponding to the DFT method of the test flow database in the CAD tool environment constraint database, the CAD tool and script generation information of the CAD plan may be processed as blanks.

（４）
この実施形態の結果、事前に、コンピュータシステムの利用者がＣＡＤツールソフトウェア環境制約をＣＡＤツール環境制約データベースに入力しておく事により、利用することができるＣＡＤツールソフトウェアについてのＤＦＴ手法のみが、テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用される。これにより、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは、作成されなくなるため、個々の利用者の環境に合致した現実的なテストフロー作成が実現できる。
特に、スクリプト生成情報に基づいて、テストフローとしての優先度が表すＤＦＴ手法の順番通りに、テストを実行するためのスクリプト生成情報に基づいてスクリプト生成されるため、ＣＡＤですぐ実行することができるＣＡＤプランを得ることができる。
また、得られたＣＡＤプランでは、各々のＤＦＴ手法を実現するＣＡＤツールの選択を利用者が任意に決めずとも、利用者の環境に合致したＣＡＤツールの特定がなされている。 (4)
As a result of this embodiment, only the DFT method for the CAD tool software that can be used by inputting the CAD tool software environment constraint into the CAD tool environment constraint database in advance by the user of the computer system is tested. It is adopted as a DFT technique as a flow. As a result, a test flow that cannot be realized in the user's environment is not created, so that realistic test flow creation that matches the individual user's environment can be realized.
In particular, since the script is generated based on the script generation information for executing the test in the order of the DFT method represented by the priority as the test flow based on the script generation information, it can be immediately executed by CAD. You can get a CAD plan.
Further, in the obtained CAD plan, the CAD tool that matches the user's environment is specified without the user arbitrarily selecting the CAD tool for realizing each DFT method.

（５）
図６では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ６‐Ａのテストフローデータベースと、Ｃ６‐ＢのＣＡＤツール特定データベースと、Ｃ６‐ＣのＣＡＤツール環境制約データベースとから、本発明に係る処理により、Ｃ６‐ＤのＣＡＤプランの内容を得ることができる。
各種のＤＦＴ手法について、ＣＡＤツール環境制約データベースに存在し、使用優先度がより高いＣＡＤツールが選択されている。 (5)
In FIG. 6, the C6-A test flow database, the C6-B CAD tool identification database, and the C6-C CAD tool environment constraint database stored in the HDD as the storage means are used in the processing according to the present invention. Thus, the contents of the CAD plan of C6-D can be obtained.
For various DFT methods, a CAD tool that exists in the CAD tool environment constraint database and has a higher use priority is selected.

８、 本発明の他の実施形態６について   8. Other embodiment 6 of the present invention

図７は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。   FIG. 7 is an example of a process flow diagram performed by the test flow presentation computer system according to the present invention. The flow of another embodiment of the present invention will be described based on FIG.

（１）
他の実施形態では、さらに、ＤＦＴ手法とＣＡＤツールと使用優先度とスクリプト生成情報との関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、ＣＡＤツールを２以上関連付けたＣＡＤツールフローと、コンバート方法情報と、の関連付けを含むコンバートデータベースと、１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、が記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている。 (1)
In another embodiment, a CAD tool identification database including an association of a DFT method, a CAD tool, a usage priority, and script generation information, a CAD tool flow in which two or more CAD tools are associated, and conversion method information A conversion database including association and a CAD tool environment constraint database for storing one or more CAD tools are stored in the HDD as storage means.

（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵが、テストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶されたＤＦＴ手法ごとに、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールのうち、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール特定データベースで当該ＤＦＴ手法に関連付いており、関連付いている使用優先度が最も高いＣＡＤツールと、当該特定したＣＡＤツールに関連付いているスクリプト生成情報を特定し、
当該特定したＣＡＤツール及びスクリプト生成情報を、当該ＤＦＴ手法に関連付けて、ＣＡＤプランとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶させ、テストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶されたＤＦＴ手法の順番に対応したＣＡＤプランを作成する。 (2)
Then, the CPU as the processing means, as the storage means, out of the CAD tools included in the CAD tool environment constraint database of the HDD as the storage means for each DFT technique stored in the HDD as the storage means as a test flow. In the CAD tool identification database of the HDD, the CAD tool with the highest usage priority associated with the DFT method and the script generation information associated with the identified CAD tool are identified,
The CAD tool and the script generation information identified are associated with the DFT method, stored in the HDD as the storage unit as a CAD plan, and the CAD corresponding to the order of the DFT methods stored in the HDD as the storage unit as a test flow Create a plan.

（３）
さらに、処理手段としてのＣＰＵが、当該ＣＡＤプランとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶されたＣＡＤツールの順番に基づいて、記憶手段としてのＨＤＤのコンバートデータベースから、当該ＣＡＤツールの順番に該当するＣＡＤツールフローを特定し、特定したＣＡＤツールフローに関連付いているコンバート方法情報に基づき、当該ＣＡＤツールの順番にコンバートスクリプトを関連付けて挿入し、記憶手段としてのＨＤＤにＣＡＤプランに記憶させる。 (3)
Further, based on the order of the CAD tools stored in the HDD as the storage means as the CAD plan, the CPU as the processing means, from the converted database of the HDD as the storage means, the CAD tool corresponding to the order of the CAD tools. Based on the conversion method information associated with the specified CAD tool flow, the flow is specified, and the conversion script is inserted in association with the CAD tool in the order of the CAD tool flow, and stored in the CAD plan in the HDD as the storage means.

（４）
図７のフローでは、Ｃ７‐（６）‐Ａ、Ｃ７‐（６）‐Ｂ、Ｃ７‐（６）‐Ｃ、Ｃ７‐（６）‐Ｄ、Ｃ７‐（６）‐Ｅ、Ｃ７‐（６）‐Ｆ、Ｃ７‐（６）‐Ｇ、Ｃ７‐（６）‐Ｈの処理が該当する。
Ｃ７‐（６）‐Ｉ、Ｃ７‐（６）‐Ｊ、Ｃ７‐（６）‐Ｋ、Ｃ７‐（６）‐Ｌ、Ｃ７‐（６）‐Ｍ、Ｃ７‐（６）‐Ｎ、Ｃ７‐（６）‐Ｏ、Ｃ７‐（６）‐Ｐ、Ｃ７‐（６）‐Ｑの処理は、ＣＡＤプランのＣＡＤツールの順番に該当するＣＡＤツールフローが、コンバートデータベースに全く存在しない場合を想定した処理である。
つまり、Ａ社のＤＦＴ１用のＣＡＤツールからＢ社のＤＦＴ２用のＣＡＤツールへのコンバートスクリプトを持っているが、Ａ社のＤＦＴ１用のＣＡＤツールからＣ社のＤＦＴ２用のＣＡＤツールへのコンバートスクリプトを持っていないとする。この場合、ＡからＢのコンバートスクリプト（方法情報）だけがコンバートデータベースにある。
ここで、ＣＡＤプランにすでにＤＦＴ１用にＡ社のＣＡＤツールが選ばれてしまっている場合、ＣＡＤツール特定データベースだけを使用すると、ＤＦＴ２用に、Ｃ社のＣＡＤツールが選ばれたとしても、Ａ社のＣＡＤツールからＣ社のＣＡＤツールにデータをコンバートする方法が無いことが、コンバートデータベースから分かる。
そこで、Ａ社のＣＡＤツールではなく、Ｃ社のＤＦＴ１用のＣＡＤツールをＣＡＤプランに採用し直す作業が必要になる。よって、ＣＡＤツールの組み合わせであるＣＡＤツールフローが存在しないこともあり得るため、ＣＡＤツールＡの特定ができたかどうかの判断を、Ｃ７‐（６）‐Ｉ、Ｃ７‐（６）‐Ｐで行っている。 (4)
In the flow of FIG. 7, C7- (6) -A, C7- (6) -B, C7- (6) -C, C7- (6) -D, C7- (6) -E, C7- (6 ) -F, C7- (6) -G, C7- (6) -H.
C7- (6) -I, C7- (6) -J, C7- (6) -K, C7- (6) -L, C7- (6) -M, C7- (6) -N, C7- (6) -O, C7- (6) -P, C7- (6) -Q processing assumes that no CAD tool flow corresponding to the CAD tool order in the CAD plan exists in the conversion database. It is processing.
In other words, although there is a conversion script from the CAD tool for DFT1 of Company A to the CAD tool for DFT2 of Company B, the conversion script from the CAD tool for DFT1 of Company A to the CAD tool for DFT2 of Company C Suppose you don't have In this case, only the A to B conversion scripts (method information) are in the conversion database.
Here, if the CAD tool of company A has already been selected for DFT1 in the CAD plan, if only the CAD tool specific database is used, even if the CAD tool of company C is selected for DFT2, A It can be seen from the conversion database that there is no method for converting data from the CAD tool of the company to the CAD tool of the company C.
Therefore, it is necessary to re-adopt the CAD tool for DFT1 of Company C in the CAD plan instead of the CAD tool of Company A. Therefore, there is a possibility that there is no CAD tool flow that is a combination of CAD tools. Therefore, whether or not CAD tool A has been specified is determined by C7- (6) -I and C7- (6) -P. ing.

（５）
この実施形態の結果、事前に、コンピュータシステムの利用者がＣＡＤツールフローと、コンバートスクリプトと、の関連付けを含むコンバートデータベースを入力しておく事により、ＣＡＤプランとしてのＣＡＤツールの順番に、コンバートスクリプトの実行を必要とするものが含まれる場合、コンバートスクリプトを、当該ＣＡＤツールの順番に挿入する。
これにより、異なるＣＡＤでテストフローを実行する際にも、利用者がＣＡＤツール環境の差異を意識せずに、ＣＡＤプランを生成する事ができる。 (5)
As a result of this embodiment, the user of the computer system inputs the conversion database including the association between the CAD tool flow and the conversion script in advance, thereby converting the conversion script in the order of the CAD tools as the CAD plan. Are included, the conversion script is inserted in the order of the CAD tool.
As a result, even when the test flow is executed with different CAD, the user can generate the CAD plan without being aware of the difference in the CAD tool environment.

（６）
図７では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ７‐Ａのテストフローデータベースと、Ｃ７‐ＢのＣＡＤツール特定データベースと、Ｃ７‐ＣのＣＡＤツール環境制約データベースと、Ｃ７‐Ｄのコンバートデータベースとから、本発明に係る処理により、Ｃ７‐ＥのＣＡＤプランの内容を得ることができる。 (6)
In FIG. 7, a C7-A test flow database, a C7-B CAD tool identification database, a C7-C CAD tool environment constraint database, and a C7-D conversion database stored in the HDD as a storage means. Thus, the contents of the C7-E CAD plan can be obtained by the processing according to the present invention.

９、 本発明の他の実施形態７について   9. Other embodiment 7 of the present invention

図８は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが使用するデータベースの図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。   FIG. 8 is an example of a database diagram used by the test flow presentation computer system according to the present invention. The flow of another embodiment of the present invention will be described based on FIG.

（１）
他の実施形態では、さらに、１以上のＤＦＴ手法と、テスト難易度算出要素データベースの数値と、をもとにテスト制約値を算出するテスト制約見積式を１以上、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている。 (1)
In another embodiment, one or more test constraint estimation formulas for calculating a test constraint value based on one or more DFT methods and a numerical value of the test difficulty calculation element database are stored in the HDD as a storage unit. Has been.

（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤのテスト制約見積式ごとに、当該テスト制約見積式に基づいて、テストフローデータベースとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶されたＤＦＴ手法と、記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報と、をもとにテスト制約値を算出し、記憶手段としてのＨＤＤのテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報をテスト制約基準値とする。 (2)
Then, the CPU as the processing means, for each test constraint estimation formula of the HDD as the storage means, based on the test constraint estimation formula, the DFT technique stored in the HDD as the storage means as the test flow database, and the storage means One or more pieces of information among the associations of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the power consumption during the test, and the tester capacity of the test difficulty calculation element database of The test constraint value is calculated based on the above, and the test difficulty calculation factor database of the HDD as the storage means, the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the power consumption during the test, and Among the associations with the tester capacity, one or more pieces of information are set as test constraint reference values.

（３）
次に、処理手段としてのＣＰＵが、当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値をすべて満たす場合は、記憶手段としてのＨＤＤのテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶させ、出力手段としてのディスプレイに表示させ提示する。 (3)
Next, when the test constraint values calculated for each test constraint estimation formula by the CPU as the processing unit satisfy all the test constraint reference values, the DFT technique stored in the test flow database of the HDD as the storage unit The DFT method is sorted in the order of the associated priorities, the sorted DFT method is stored in the HDD as the storage unit as a test flow, displayed on the display as the output unit, and presented. .

（４）
処理手段としてのＣＰＵが、当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値を満たさない場合は、満たさないテスト制約値を出力手段としてのディスプレイに表示させ提示する。 (4)
When the test constraint value calculated for each test constraint estimation formula by the CPU as the processing means does not satisfy the test constraint reference value, the test constraint value that is not satisfied is displayed and displayed on the display as the output means.

（５）
この実施形態の結果、テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、テスト制約基準値を満たすかどうか判断し、満たす場合はテストフローを表示し、満たさない場合は、満たさないテスト制約値を表示し、再入力の助けとすることができる。
これにより、テスト制約基準値を満たさないテストフローの生成、実行を、利用者が修正する事ができるため、テストのやり直し等による時間、費用のロスが削減できる。
特に、具体的にどのテスト制約値が問題となっているのかを利用者が知ることができるため、利用者が、どのようにテスト難易度算出要素データベースの数値を修正すればよいかについての情報を得ることができる。 (5)
As a result of this embodiment, it is determined whether or not the test constraint value calculated for each test constraint estimation formula satisfies the test constraint reference value. If it satisfies, the test flow is displayed. Can be displayed and help with re-entry.
As a result, since the user can correct the generation and execution of the test flow that does not satisfy the test constraint reference value, it is possible to reduce time and cost loss due to re-execution of the test.
In particular, the user can know which test constraint value is the problem, so information on how the user should modify the numerical value of the test difficulty calculation factor database Can be obtained.

図８では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ８‐Ａのテスト難易度算出要素データベースと、Ｃ８‐Ｂのテスト制約データベースとから、本発明に係る処理により、テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、テスト制約基準値を満たすかどうか判断し、満たす場合はテストフローを表示し、満たさない場合は、満たさないテスト制約値を表示する。   In FIG. 8, calculation is performed for each test constraint estimation formula from the C8-A test difficulty level calculation element database and the C8-B test constraint database stored in the HDD as the storage means by the processing according to the present invention. It is determined whether or not the test constraint value satisfies the test constraint reference value. When the test constraint value is satisfied, the test flow is displayed. When the test constraint value is not satisfied, the test constraint value that is not satisfied is displayed.

１０、 本発明の他の実施形態８について   10. Other embodiment 8 of the present invention

（１）
他の実施形態では、１以上のＤＦＴ手法と、前記テスト難易度算出要素データベースの数値と、をもとにテスト制約値を算出するテスト制約見積式を１以上、テスト制約基準値修正式を１以上、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている。 (1)
In another embodiment, the test constraint estimation formula for calculating the test constraint value based on one or more DFT methods and the numerical value of the test difficulty calculation element database is 1 or more, and the test constraint reference value correction formula is 1 As described above, it is stored in the HDD as the storage means.

（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤのテスト制約見積式ごとに、当該テスト制約見積式に基づいて、テストフローデータベースとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶されたＤＦＴ手法と、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報と、をもとにテスト制約値を算出し、記憶手段としてのＨＤＤのテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報をテスト制約基準値とする。 (2)
Then, for each test constraint estimation formula of the HDD as the storage means, the CPU as the processing means, based on the test constraint estimation formula, the DFT technique stored in the HDD as the storage means as the test flow database, and the storage One or more pieces of information among the associations of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the power consumption at the time of testing, and the tester capacity of the means for calculating the test difficulty level of the means The test constraint value is calculated based on the above, and the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, and the power consumption during the test in the HDD test difficulty calculation element database as a storage means And one or more pieces of information in the association with the tester capacity are set as test constraint reference values.

（３）
次に、処理手段としてのＣＰＵが、当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値をすべて満たす場合は、記憶手段としてのＨＤＤのテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶させ、出力手段のディスプレイに表示させ提示する。 (3)
Next, when the test constraint values calculated for each test constraint estimation formula by the CPU as the processing unit satisfy all the test constraint reference values, the DFT technique stored in the test flow database of the HDD as the storage unit The DFT methods are sorted in the order of the associated priorities, the sorted DFT methods are stored in the HDD as a storage unit as a test flow, displayed on the display of the output unit, and presented.

（４）
続いて、処理手段としてのＣＰＵが、当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値を満たさない場合は、当該テスト制約基準値のうち満たさないテスト制約基準値について、記憶手段としてのＨＤＤのテスト制約基準値修正式に基づいて、記憶手段としてのＨＤＤのテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、再度のテストフロー提示処理を行う。 (4)
Subsequently, when the test constraint value calculated for each test constraint estimation formula by the CPU as the processing means does not satisfy the test constraint reference value, the test constraint reference value that does not satisfy the test constraint reference value Based on the test constraint reference value correction formula for the HDD as the storage means, the information in the test difficulty calculation element database of the HDD as the storage means is updated, and the test flow presentation process is performed again.

（５）
この実施形態の結果、テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、テスト制約基準値を満たすかどうか判断し、満たす場合はテストフローを表示し、満たさない場合は、満たさないテスト制約基準値について、前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、再度、処理を行う。
これにより、テスト制約基準値を満たさないテストフローの生成、実行について、利用者が明示的に修正しなくても、テスト制約基準値を満たすようになるまで、再度のテストフロー作成が行われる。 (5)
As a result of this embodiment, it is determined whether or not the test constraint value calculated for each test constraint estimation formula satisfies the test constraint reference value. If the test constraint value is satisfied, the test flow is displayed. , Based on the test constraint reference value correction formula of the storage means, the information in the test difficulty calculation element database of the storage means is updated, and the process is performed again.
As a result, the test flow is generated again until the test constraint reference value is satisfied even if the user does not explicitly modify the generation and execution of the test flow that does not satisfy the test constraint reference value.

１１、 本発明の他の実施形態９について   11. Other embodiment 9 of the present invention

図９は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが使用するデータベースの図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。   FIG. 9 is an example of a database diagram used by the test flow presentation computer system according to the present invention. The flow of another embodiment of the present invention will be described based on FIG.

（１）
他の実施形態では、前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールとの関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、テスト制約基準値修正式を、１以上記憶手段としてのＨＤＤに記憶している。 (1)
In another embodiment, a CAD tool identification database including an association between the DFT method and a CAD tool, a CAD tool environment constraint database storing one or more CAD tools, and one or more test constraint reference value correction expressions are stored. It is stored in the HDD as a means.

（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵは、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール特定データベースに含まれるＤＦＴ手法のうち、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールに関連付いているＤＦＴ手法についてのみを、記憶手段としてのＨＤＤにおけるテストフローとしてのＤＦＴ手法として採用する。 (2)
The CPU as the processing unit is associated with the CAD tool included in the CAD tool environment constraint database of the HDD as the storage unit out of the DFT methods included in the CAD tool specifying database of the HDD as the storage unit. Only the DFT method is adopted as the DFT method as a test flow in the HDD as the storage means.

（３）
次に、処理手段としてのＣＰＵは、当該テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用しないＤＦＴ手法について、記憶手段としてのＨＤＤのテスト制約基準値修正式に基づいて、記憶手段としてのＨＤＤのテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、再度のテストフロー提示処理を行う。 (3)
Next, the CPU as the processing means calculates the test difficulty level of the HDD as the storage means based on the test constraint reference value correction formula of the HDD as the storage means for the DFT technique that is not adopted as the DFT technique as the test flow. Update the information in the element database and perform the test flow presentation process again.

（４）
この実施形態の結果、ＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールに関連付いていないＤＦＴ手法については、テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用せず、テスト制約基準値修正式に基づいて、テスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、再度、処理を行う。
これにより、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは作成されず、利用者が明示的に修正しなくても、利用者の環境では実現することができるテストフローの作成がなされるまで、再度のテストフロー作成が行われる。
特に、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは、作成されなくなるため、個々の利用者の環境に合致した現実的なテストフロー作成が実現できる。 (4)
As a result of this embodiment, the DFT method not associated with the CAD tool included in the CAD tool environment constraint database is not adopted as the DFT method as the test flow, and the test is performed based on the test constraint reference value correction formula. The information in the difficulty level calculation element database is updated, and the process is performed again.
As a result, a test flow that cannot be realized in the user's environment is not created, and a test flow that can be realized in the user's environment without any explicit modification by the user is created. Until then, the test flow is created again.
In particular, since a test flow that cannot be realized in the user's environment is not created, realistic test flow creation that matches the environment of each user can be realized.

図９では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ１０‐ＡのＣＡＤツール特定データベースと、Ｃ１０‐ＢのＣＡＤツール環境制約データベースとから、本発明に係る処理により、ＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールに関連付いているＤＦＴ手法のみを、テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用し、テスト制約基準値修正式に基づいて、テスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、再度、処理を行う。   In FIG. 9, the CAD tool environment constraint database of C10-A stored in the HDD as the storage means and the CAD tool environment constraint database of C10-B are included in the CAD tool environment constraint database by the processing according to the present invention. Only the DFT method associated with the CAD tool currently used is adopted as the DFT method as the test flow, the information in the test difficulty calculation element database is updated based on the test constraint reference value correction formula, and the process is performed again. I do.

本発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラム、コンピュータシステムを、生産、販売することにより、産業の発達に寄与することができる。   The production and sale of the test flow presentation computer program and computer system according to the present invention can contribute to the development of the industry.

Claims (11)

情報を記憶する記憶手段と、情報を処理する処理手段と、利用者に情報を表示する出力手段と、利用者からの命令を受け付ける入力手段とを備えたコンピュータシステムにおけるコンピュータプログラムであって、
ＬＳＩのテストフロー作成を支援するテストフロー提示コンピュータプログラムであり、

前記記憶手段は、
ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けを含むテスト難易度算出要素データベースを記憶し、
前記テスト難易度算出要素データベースの数値をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであるテストメニューレコードを２以上含む、テストメニューデータベースを記憶し、
前記ＤＦＴ手法と前記優先度との関連付けを１以上含むテストフローデータベースを記憶し、

前記処理手段に、
前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに、

（１） 前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードごとにテスト難易度を算出する処理を行わせ、

（２） 当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードから、
当該算出したテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させる処理を行わせ、


更に、前記処理手段に、

（３） 前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示する処理を行わせること、

を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。

A computer program in a computer system comprising storage means for storing information, processing means for processing information, output means for displaying information to a user, and input means for receiving instructions from the user,
A test flow presentation computer program that supports the creation of an LSI test flow,

The storage means
Stores the test difficulty calculation element database including the netlist, package pin count, test pin count, desired operating frequency, process technology information, power consumption during test, and tester capacity,
The test difficulty level calculation formula that calculates the test difficulty level based on the numerical value of the test difficulty level calculation element database, the test difficulty level reference formula, the DFT method, and the test menu record that is the association with the priority are 2 Including the test menu database,
Storing a test flow database including one or more associations between the DFT method and the priority;

In the processing means,
For each test menu record in the test menu database of the storage means,

(1) Based on the test difficulty calculation formula,
The association of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the process technology information, the power consumption during the test, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means. Using one or more information,
Have the test difficulty level calculated for each test menu record in the test menu database,

(2) From the test menu record of the test menu database,
All the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated test difficulty are specified, and the association between the identified DFT technique and the priority is the test flow database of the storage unit Process to memorize,


Furthermore, the processing means includes

(3) Associating the DFT technique and priority stored in the test flow database of the storage means,
Sorting the DFT techniques in the order of the associated priorities, storing the sorted DFT techniques in the storage means as a test flow, and causing the output means to display and present the processes;

A computer program for presenting a test flow.

情報を記憶する記憶手段と、情報を処理する処理手段と、利用者に情報を表示する出力手段と、利用者からの命令を受け付ける入力手段とを備えたコンピュータシステムにおけるコンピュータプログラムであって、
ＬＳＩのテストフロー作成を支援するテストフロー提示コンピュータプログラムであり、

前記記憶手段は、
ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けを含むテスト難易度算出要素データベースを記憶し、
前記テスト難易度算出要素データベースの数値をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであるテストメニューレコードを２以上含む、テストメニューデータベースを記憶し、
前記テスト難易度算出要素データベースの数値と前記ＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出する第２のテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式とＤＦＴ手法と優先度との関連付けと、を含む第２のテストメニューデータベースを記憶し、
前記ＤＦＴ手法と前記優先度との関連付けを１以上含むテストフローデータベースを記憶し、

前記処理手段に、
前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに、

（１） 前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに第１のテスト難易度を算出する処理を行わせ、

（２） 当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードから、
当該算出した第１のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させる処理を行わせ、


更に、前記処理手段に、

（３） 前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースにおける第２のテスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
第２のテスト難易度を算出する処理を行わせ、

（４） 前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースから、
当該算出した第２のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させる処理を行わせ、

（５） 前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示する処理を行わせること、

を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。

A computer program in a computer system comprising storage means for storing information, processing means for processing information, output means for displaying information to a user, and input means for receiving instructions from the user,
A test flow presentation computer program that supports the creation of an LSI test flow,

The storage means
Stores the test difficulty calculation element database including the netlist, package pin count, test pin count, desired operating frequency, process technology information, power consumption during test, and tester capacity,
The test difficulty level calculation formula that calculates the test difficulty level based on the numerical value of the test difficulty level calculation element database, the test difficulty level reference formula, the DFT method, and the test menu record that is the association with the priority are 2 Including the test menu database,
A second test difficulty level calculation formula for calculating the test difficulty level based on the numerical value of the test difficulty level calculation element database and the DFT method, and the association between the test difficulty level reference formula, the DFT method and the priority level. Storing a second test menu database including:
Storing a test flow database including one or more associations between the DFT method and the priority;

In the processing means,
For each test menu record in the test menu database of the storage means,

(1) Based on the test difficulty calculation formula,
The association of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the process technology information, the power consumption during the test, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means. Using one or more information,
Processing for calculating the first test difficulty for each test menu record in the test menu database;

(2) From the test menu record of the test menu database,
All the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated first test difficulty are specified, and the association between the identified DFT technique and the priority is stored in the storage unit. Have the process stored in the test flow database,


Furthermore, the processing means includes

(3) Based on a second test difficulty level calculation formula in the second test menu database of the storage means,
A DFT technique stored in a test flow database of the storage means;
The association of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the process technology information, the power consumption during the test, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means. Using one or more information,
Have the process to calculate the second test difficulty,

(4) From the second test menu database of the storage means,
All the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated second test difficulty are specified, and the association between the identified DFT technique and the priority is stored in the storage unit. Have the process stored in the test flow database,

(5) Associating the DFT technique and the priority stored in the test flow database of the storage means,
Sorting the DFT techniques in the order of the associated priorities, storing the sorted DFT techniques in the storage means as a test flow, and causing the output means to display and present the processes;

A computer program for presenting a test flow.

情報を記憶する記憶手段と、情報を処理する処理手段と、利用者に情報を表示する出力手段と、利用者からの命令を受け付ける入力手段とを備えたコンピュータシステムにおけるコンピュータプログラムであって、
ＬＳＩのテストフロー作成を支援するテストフロー提示コンピュータプログラムであり、

前記記憶手段は、
ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けを含むテスト難易度算出要素データベースを記憶し、
前記テスト難易度算出要素データベースの数値をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであるテストメニューレコードを２以上含む、テストメニューデータベースを記憶し、
前記テスト難易度算出要素データベースの数値と前記ＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出する第２のテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けである第２のテストメニューレコードを２以上含む、第２のテストメニューデータベースを記憶し、
前記ＤＦＴ手法と前記優先度との関連付けを１以上含むテストフローデータベースを記憶し、

前記処理手段に、
前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに、

（１） 前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに第１のテスト難易度を算出する処理を行わせ、

（２） 当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードから、
当該算出した第１のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させる処理を行わせ、


前記処理手段に、
前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードごとに、

（３） 前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースにおける第２のテスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
当該第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードごとに第２のテスト難易度を算出する処理を行わせ、

（４） 前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードから、
当該算出した第２のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させる処理を行わせ、


更に、前記処理手段に、

（５） 前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示する処理を行わせること、

を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。

A computer program in a computer system comprising storage means for storing information, processing means for processing information, output means for displaying information to a user, and input means for receiving instructions from the user,
A test flow presentation computer program that supports the creation of an LSI test flow,

The storage means
Stores the test difficulty calculation element database including the netlist, package pin count, test pin count, desired operating frequency, process technology information, power consumption during test, and tester capacity,
The test difficulty level calculation formula that calculates the test difficulty level based on the numerical value of the test difficulty level calculation element database, the test difficulty level reference formula, the DFT method, and the test menu record that is the association with the priority are 2 Including the test menu database,
Associating the second test difficulty calculation formula for calculating the test difficulty based on the numerical value of the test difficulty calculation element database and the DFT technique, the test difficulty reference formula, the DFT technique, and the priority Storing a second test menu database including two or more second test menu records,
Storing a test flow database including one or more associations between the DFT method and the priority;

In the processing means,
For each test menu record in the test menu database of the storage means,

(1) Based on the test difficulty calculation formula,
The association of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the process technology information, the power consumption during the test, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means. Using one or more information,
Processing for calculating the first test difficulty for each test menu record in the test menu database;

(2) From the test menu record of the test menu database,
All the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated first test difficulty are specified, and the association between the identified DFT technique and the priority is stored in the storage unit. Have the process stored in the test flow database,


In the processing means,
For each second test menu record in the second test menu database of the storage means,

(3) Based on a second test difficulty level calculation formula in the second test menu database of the storage means,
A DFT technique stored in a test flow database of the storage means;
The association of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the process technology information, the power consumption during the test, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means. Using one or more information,
Performing a process of calculating the second test difficulty level for each second test menu record in the second test menu database;

(4) From the second test menu record of the second test menu database of the storage means,
All the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated second test difficulty are specified, and the association between the identified DFT technique and the priority is stored in the storage unit. Have the process stored in the test flow database,


Furthermore, the processing means includes

(5) Associating the DFT technique and the priority stored in the test flow database of the storage means,
Sorting the DFT techniques in the order of the associated priorities, storing the sorted DFT techniques in the storage means as a test flow, and causing the output means to display and present the processes;

A computer program for presenting a test flow.

情報を記憶する記憶手段と、情報を処理する処理手段と、利用者に情報を表示する出力手段と、利用者からの命令を受け付ける入力手段とを備えたコンピュータシステムにおけるコンピュータプログラムであって、
ＬＳＩのテストフロー作成を支援するテストフロー提示コンピュータプログラムであり、

前記記憶手段は、
ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けを含むテスト難易度算出要素データベースを記憶し、
前記テスト難易度算出要素データベースの数値又は前記テスト難易度算出要素データベースの数値及びＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであるテストメニューレコードを２以上含む、テストメニューデータベースを記憶し、
前記ＤＦＴ手法と前記優先度との関連付けを１以上含むテストフローデータベースを記憶し、

前記処理手段に、
前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードについて、

（１） 前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
第１のテスト難易度を算出する処理を行わせ、

（２） 当該テストメニューデータベースから、
当該算出した第１のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させる処理を行わせ、

（３） 前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
第２のテスト難易度を算出する処理を行わせ、

（４） 前記記憶手段のテストメニューデータベースから、
当該算出した第２のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させる処理を行わせ、


更に、前記処理手段に、

（５） 前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示する処理を行わせること、

を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。

A computer program in a computer system comprising storage means for storing information, processing means for processing information, output means for displaying information to a user, and input means for receiving instructions from the user,
A test flow presentation computer program that supports the creation of an LSI test flow,

The storage means
Stores the test difficulty calculation element database including the netlist, package pin count, test pin count, desired operating frequency, process technology information, power consumption during test, and tester capacity,
A test difficulty calculation formula for calculating a test difficulty based on a numerical value of the test difficulty calculation element database or a numerical value of the test difficulty calculation element database and a DFT technique, a test difficulty reference expression, a DFT technique, Storing a test menu database including two or more test menu records that are associated with priorities;
Storing a test flow database including one or more associations between the DFT method and the priority;

In the processing means,
About the test menu record of the test menu database of the storage means,

(1) Based on the test difficulty calculation formula,
The association of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the process technology information, the power consumption during the test, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means. Using one or more information,
Have the process to calculate the first test difficulty,

(2) From the test menu database
All the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated first test difficulty are specified, and the association between the identified DFT technique and the priority is stored in the storage unit. Have the process stored in the test flow database,

(3) Based on the test difficulty calculation formula,
A DFT technique stored in a test flow database of the storage means;
The association of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the process technology information, the power consumption during the test, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means. Using one or more information,
Have the process to calculate the second test difficulty,

(4) From the test menu database of the storage means,
All the associations between the DFT technique and the priority associated with the test difficulty standard expression satisfied by the calculated second test difficulty are specified, and the association between the identified DFT technique and the priority is stored in the storage unit. Have the process stored in the test flow database,


Furthermore, the processing means includes

(5) Associating the DFT technique and the priority stored in the test flow database of the storage means,
Sorting the DFT techniques in the order of the associated priorities, storing the sorted DFT techniques in the storage means as a test flow, and causing the output means to display and present the processes;

A computer program for presenting a test flow.

請求項１乃至４記載のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムにおいて、
前記コンピュータシステムの記憶手段は、さらに、
前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールとの関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、
１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、
を記憶し、

前記処理手段に、さらに、

（６） 前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースに含まれる前記ＤＦＴ手法のうち、前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれている前記ＣＡＤツールに関連付いているＤＦＴ手法についてのみを、
前記記憶手段における前記テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用する処理を行わせること、

を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。

In the test flow presentation computer program according to any one of claims 1 to 4,
The storage means of the computer system further includes:
A CAD tool specific database including an association between the DFT method and a CAD tool;
A CAD tool environment constraint database storing one or more of the CAD tools;
Remember

In the processing means,

(6) Of the DFT methods included in the CAD tool identification database of the storage unit, only the DFT method associated with the CAD tool included in the CAD tool environment constraint database of the storage unit,
Performing a process adopted as a DFT technique as the test flow in the storage means;

A computer program for presenting a test flow.

請求項１乃至４記載のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムにおいて、
前記コンピュータシステムの記憶手段は、さらに、
前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールと使用優先度とスクリプト生成情報との関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、
１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、
を記憶し、

前記処理手段に、さらに、前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法ごとに、

（６） 前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールのうち、前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースで当該ＤＦＴ手法に関連付いており、関連付いている使用優先度が最も高いＣＡＤツールと、当該特定したＣＡＤツールに関連付いているスクリプト生成情報を特定し、
当該特定したＣＡＤツール及びスクリプト生成情報を、当該ＤＦＴ手法に関連付けて、前記ＣＡＤプランとして前記記憶手段に記憶させる処理を行わせ、

前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法の順番に対応したＣＡＤプランを作成すること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。

In the test flow presentation computer program according to any one of claims 1 to 4,
The storage means of the computer system further includes:
A CAD tool identification database including an association of the DFT method, CAD tool, use priority, and script generation information;
A CAD tool environment constraint database storing one or more of the CAD tools;
Remember

For each DFT technique stored in the storage means as the test flow in the processing means,

(6) Among the CAD tools included in the CAD tool environment constraint database of the storage means, the CAD tool specific database of the storage means is associated with the DFT technique, and the associated use priority is the highest. Identify the CAD tool and script generation information associated with the identified CAD tool,
The associated CAD tool and script generation information are associated with the DFT method, and the storage unit stores the CAD plan as the CAD plan.

Creating a CAD plan corresponding to the order of DFT techniques stored in the storage means as the test flow;
A computer program for presenting a test flow.

請求項１乃至４記載のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムにおいて、
前記コンピュータシステムの記憶手段は、さらに、
前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールと使用優先度とスクリプト生成情報との関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、
前記ＣＡＤツールを２以上関連付けたＣＡＤツールフローと、コンバート方法情報と、の関連付けを含むコンバートデータベースと、
１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、
を記憶し、

前記処理手段に、さらに、

（６） 前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法ごとに、
前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールのうち、前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースで当該ＤＦＴ手法に関連付いており、関連付いている使用優先度が最も高いＣＡＤツールと、当該特定したＣＡＤツールに関連付いているスクリプト生成情報を特定し、
当該特定したＣＡＤツール及びスクリプト生成情報を、当該ＤＦＴ手法に関連付けて、ＣＡＤプランとして前記記憶手段に記憶させ、
前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法の順番に対応したＣＡＤプランを作成する処理を行わせ、

（７） 当該ＣＡＤプランとして前記記憶手段に記憶されたＣＡＤツールの順番に基づいて、
前記記憶手段のコンバートデータベースから、当該ＣＡＤツールの順番に該当する前記ＣＡＤツールフローを特定し、特定したＣＡＤツールフローに関連付いているコンバート方法情報に基づき、当該ＣＡＤツールの順番にコンバートスクリプトを関連付けて挿入し、前記記憶手段のＣＡＤプランに記憶させる処理を行わせること、

を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。

In the test flow presentation computer program according to any one of claims 1 to 4,
The storage means of the computer system further includes:
A CAD tool identification database including an association of the DFT method, CAD tool, use priority, and script generation information;
A conversion database including an association of two or more CAD tool flows associated with the CAD tool flow and conversion method information;
A CAD tool environment constraint database storing one or more of the CAD tools;
Remember

In the processing means,

(6) For each DFT technique stored in the storage means as the test flow,
Among the CAD tools included in the CAD tool environment constraint database of the storage means, the CAD tool specific database of the storage means is associated with the DFT method, and the CAD tool with the highest use priority associated with Identify the script generation information associated with the identified CAD tool,
The specified CAD tool and script generation information are associated with the DFT method and stored in the storage means as a CAD plan.
A process of creating a CAD plan corresponding to the order of the DFT methods stored in the storage means as the test flow;

(7) Based on the order of the CAD tools stored in the storage means as the CAD plan,
The CAD tool flow corresponding to the order of the CAD tool is identified from the conversion database of the storage means, and the conversion script is associated with the order of the CAD tool based on the conversion method information associated with the identified CAD tool flow. Inserting and storing the data in the CAD plan of the storage means,

A computer program for presenting a test flow.

請求項１乃至４記載のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムにおいて、
前記コンピュータシステムの記憶手段は、さらに、
１以上の前記ＤＦＴ手法と、前記テスト難易度算出要素データベースの数値と、をもとにテスト制約値を算出するテスト制約見積式を１以上記憶し、

前記処理手段に、さらに、

（６） 前記記憶手段のテスト制約見積式ごとに、当該テスト制約見積式に基づいて、
前記テストフローデータベースとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報と、
をもとにテスト制約値を算出し、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報をテスト制約基準値とする処理を行わせ、

（７） 当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値をすべて満たす場合は、前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示する処理を行わせ、

（８） 当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値を満たさない場合は、満たさないテスト制約値を前記出力手段に表示させ提示する処理を行わせること、

を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。

In the test flow presentation computer program according to any one of claims 1 to 4,
The storage means of the computer system further includes:
Storing one or more test constraint estimation formulas for calculating a test constraint value based on the one or more DFT methods and the numerical value of the test difficulty calculation element database;

In the processing means,

(6) For each test constraint estimation formula of the storage means, based on the test constraint estimation formula,
A DFT technique stored in the storage means as the test flow database;
One or more of the associations of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the power consumption during testing, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means Information and
Calculate the test constraint value based on
One or more of the associations of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the power consumption during testing, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means Let the information be processed as a test constraint reference value,

(7) When the test constraint value calculated for each test constraint estimation formula satisfies all the test constraint reference values, the association between the DFT technique and the priority stored in the test flow database of the storage means Sorting the DFT methods in the order of priorities attached, storing the sorted DFT methods in the storage means as a test flow, and displaying and presenting them on the output means,

(8) If the test constraint value calculated for each test constraint estimation formula does not satisfy the test constraint reference value, the test means that does not satisfy the test constraint value is displayed on the output means and presented.

A computer program for presenting a test flow.

請求項１乃至４記載のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムにおいて、
前記コンピュータシステムの記憶手段は、さらに、
１以上の前記ＤＦＴ手法と、前記テスト難易度算出要素データベースの数値と、をもとにテスト制約値を算出するテスト制約見積式を１以上記憶し、
テスト制約基準値修正式を１以上記憶し、

前記処理手段に、さらに、

（６） 前記記憶手段のテスト制約見積式ごとに、当該テスト制約見積式に基づいて、
前記テストフローデータベースとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報と、
をもとにテスト制約値を算出し、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報をテスト制約基準値とする処理を行わせ、

（７） 当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値をすべて満たす場合は、前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示する処理を行わせ、

（８） 当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値を満たさない場合は、当該テスト制約基準値のうち満たさないテスト制約基準値について、前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、前記（１）−（７）の処理を行わせること、

を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。

In the test flow presentation computer program according to any one of claims 1 to 4,
The storage means of the computer system further includes:
Storing one or more test constraint estimation formulas for calculating a test constraint value based on the one or more DFT methods and the numerical value of the test difficulty calculation element database;
Store one or more test constraint reference value correction formulas,

In the processing means,

(6) For each test constraint estimation formula of the storage means, based on the test constraint estimation formula,
A DFT technique stored in the storage means as the test flow database;
One or more of the associations of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the power consumption during testing, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means Information and
Calculate the test constraint value based on
One or more of the associations of the net list, the number of package pins, the number of test pins, the desired operating frequency, the power consumption during testing, and the tester capacity in the test difficulty calculation element database of the storage means Let the information be processed as a test constraint reference value,

(7) When the test constraint value calculated for each test constraint estimation formula satisfies all the test constraint reference values, the association between the DFT technique and the priority stored in the test flow database of the storage means Sorting the DFT methods in the order of priorities attached, storing the sorted DFT methods in the storage means as a test flow, and displaying and presenting them on the output means,

(8) If the test constraint value calculated for each test constraint estimation formula does not satisfy the test constraint criterion value, the test constraint criterion of the storage unit is used for the test constraint criterion value that is not satisfied among the test constraint criterion values. Updating the information in the test difficulty calculation element database of the storage means based on the value correction formula, and performing the processes (1) to (7);

A computer program for presenting a test flow.

請求項１乃至４記載のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムにおいて、
前記コンピュータシステムの記憶手段は、さらに、
前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールとの関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、
１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、
テスト制約基準値修正式を１以上記憶し、

前記処理手段に、さらに、

（６） 前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースに含まれる前記ＤＦＴ手法のうち、前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれている前記ＣＡＤツールに関連付いているＤＦＴ手法についてのみを、
前記記憶手段における前記テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用する処理を行わせ、

（７） 当該テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用しないＤＦＴ手法について、
前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、前記（１）−（６）の処理を行わせること、

を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。

In the test flow presentation computer program according to any one of claims 1 to 4,
The storage means of the computer system further includes:
A CAD tool specific database including an association between the DFT method and a CAD tool;
A CAD tool environment constraint database storing one or more of the CAD tools;
Store one or more test constraint reference value correction formulas,

In the processing means,

(6) Of the DFT methods included in the CAD tool identification database of the storage unit, only the DFT method associated with the CAD tool included in the CAD tool environment constraint database of the storage unit,
The processing adopted as the DFT technique as the test flow in the storage means is performed,

(7) About DFT method not adopted as DFT method as the test flow
Updating the information in the test difficulty calculation element database of the storage unit based on the test constraint reference value correction formula of the storage unit, and performing the processes (1) to (6);

A computer program for presenting a test flow.

情報を記憶する記憶手段と、情報を処理する処理手段と、利用者に情報を表示する出力手段と、利用者からの命令を受け付ける入力手段と、を備えたコンピュータシステムであって、
前記記憶手段が、請求項１乃至１０のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムの各情報を記憶し、
前記処理手段が、請求項１乃至１０のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムの各処理を行うこと、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータシステム。 A computer system comprising storage means for storing information, processing means for processing information, output means for displaying information to a user, and input means for receiving a command from the user,
The storage means stores each information of the test flow presentation computer program according to any one of claims 1 to 10,
The processing means performs each process of the test flow presentation computer program according to any one of claims 1 to 10.
A test flow presentation computer system characterized by: