JP5563067B2 - 試験装置によってセキュアドチップへのアクセスを認証する方法 - Google Patents
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Description
- 試験装置によって、セキュアドチップにより生成されたチャレンジを受信するステップと、
- 試験装置によって、双方向数値演算を適用することにより受信されたチャレンジを試験鍵と組み合わせるステップであって、試験鍵は試験装置の固有識別子から導き出されるステップと、
- 暗号を得るために、共通鍵によって双方向性数値演算の結果を暗号化するステップであって、共通鍵はセキュアドチップの固有識別子から導き出されるステップと、
- 試験装置によって暗号をセキュアドチップに送信するステップと、
- セキュアドチップによって、共通鍵で暗号を解読するステップと、
- チャレンジで、試験装置によって以前に用いられた数値演算の逆演算を適用することによって、試験鍵を表すイメージ鍵を得るステップと、
- 暗号一方向性関数でイメージ鍵の予想されるダイジェストを算出するステップと、
- 予想されたダイジェストを基準ダイジェストと比較することによって有効性を確認するステップと、
- イメージ鍵のダイジェストと基準ダイジェストとの比較の結果がポジティブである場合は、試験装置によって、試験モードでセキュアドチップにアクセスするステップと、を含む。
- 共通鍵CK、
- 暗号の一方向性関数Fから得られた試験鍵TKのダイジェストF(TK)、
- 及び試験装置(TD)によって格納されたプログラムに含まれた演算又は関数opの逆op−1を入力データに適用することが可能なプログラム
を格納する。
Claims (15)
- 試験装置(TD)によってセキュアドチップ(SC)へのアクセスを認証する方法であって、前記試験装置(TD)は少なくとも1つの共通鍵(CK)及び1つの試験鍵(TK)を格納し、前記試験鍵(TK)に双方向性数値演算(op)を適用するための手段を有し、前記セキュアドチップ(SC)は同じ共通鍵(CK)及び前記試験鍵(TK)への暗号関数の適用から生じる基準ダイジェストF(TK)を格納し、入力データに前記双方向性数値演算(op)の逆演算(op― 1 )を適用するための手段を有する方法において、
前記試験装置(TD)によって、前記セキュアドチップ(SC)によって生成されたチャレンジ(R)を受信するステップと、
前記試験装置(TD)によって、前記双方向性数値演算(op)を適用することによって、前記受信されたチャレンジ(R)を前記試験鍵(TK)と組み合わせるステップであって、前記試験鍵(TK)は前記試験装置の固有識別子から導き出されるステップと、
暗号CK(TK op R)を得るために、前記共通鍵(CK)によって前記双方向性数値演算の結果(TK op R)を暗号化するステップであって、前記共通鍵(CK)は前記セキュアドチップ(SC)の固有識別子から導き出されるステップと、
前記試験装置(TD)によって前記暗号CK(TK op R)を前記セキュアドチップ(SC)に送信するステップと、
前記セキュアドチップ(SC)によって、前記暗号CK(TK op R)を前記共通鍵(CK)により解読するステップと、
前記チャレンジ(R)によって、前記試験装置(TD)により以前に用いられた前記数値演算(op)の逆演算(op―1)を適用することによって前記試験鍵(TK)を表すイメージ鍵(TK′)を得るステップと、
暗号一方向関数によって前記イメージ鍵(TK′)の予想されるダイジェストF(TK′)を算出するステップと、
前記予想されるダイジェストF(TK′)を前記基準ダイジェストF(TK)と比較することによって有効性を確認するステップと、
前記イメージ鍵(TK′)の前記ダイジェストF(TK′)と前記基準ダイジェストF(TK)との前記比較の結果がポジティブである場合は、前記試験装置(TD)によって、試験モードで前記セキュアドチップ(SC)にアクセスするステップと、
を含む方法。 - 前記予想されるダイジェストが前記イメージ鍵(TK′)にハッシュ関数(F)を適用することによって得られることを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記基準ダイジェストF(TK)がプレーン・データ(PD)セット及び暗号データセット(CD)を含み、前記イメージ鍵(TK′)が、結果として生じるイメージ暗号データセット(CD′)を得るために前記プレーン・データセット(PD)が適用される暗号モジュール(CM)用の鍵として使用され、前記比較が、前記基準ダイジェストF(TK)の前記暗号データセット(CD)と前記算出されたイメージ暗号データ(CD′)セットとの間で行われることを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記試験装置(TD)による前記チャレンジ(R)の前記受信は、前記試験装置(TD)が認証の要求(RQ)を前記セキュアドチップ(SC)に送信し、前記要求(RQ)を受信した前記セキュアドチップ(SC)が前記試験装置(TD)に前記チャレンジ(R)を戻すことにより実現されることを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記セキュアドチップ(SC)が、前記イメージ鍵(TK′)の前記ダイジェストF(TK′)と前記基準ダイジェストF(TK)との間の前記比較の結果を示す応答メッセージ(M)を前記試験装置(TD)に戻すことを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記チャレンジ(R)が、前記セキュアドチップ(SC)により、ハードウェア疑似乱数発生器によって、又は格納された生成プログラムで実施されるアルゴリズムによって生成されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記チャレンジ(R)が、前記セキュアドチップ(SC)に対する前記試験装置(TD)の各接続において、又は前記セキュアドチップ(SC)に送信された各試験要求において所与の開始値から増減するカウンタによって生成されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記チャレンジ(R)が、所定の精度を有する現在の日付及び時間を含んでいるタイムスタンプを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記試験装置(TD)及び前記セキュアドチップ(SC)が複数の共通鍵(CK)を格納することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記試験装置(TD)が複数の試験鍵(TK)を格納し、前記セキュアドチップ(SC)が、前記試験装置(TD)内に格納された対応する試験鍵(TK)によって各々算出された複数のダイジェストF(TK)を格納することを特徴とする請求項9に記載の方法。
- 前記試験装置(TD)及び前記セキュアドチップ(SC)内に格納された各共通鍵(CK)、前記試験装置(TD)内に格納された各試験鍵(TK)、並びに前記セキュアドチップ(SC)内に格納された前記対応するダイジェストF(TK)に、アクセス認証プロセスの間に特定の試験鍵(TKi)、共通鍵(CKj)、及びダイジェストF(TKi)を選択するためのインデックス(I、J)が付随していることを特徴とする請求項9に記載の方法。
- 前記試験装置(TD)により前記セキュアドチップ(SC)に送信された前記暗号CK(TK op R)に、暗号CKj(TKi op R)に用いられた前記それぞれの試験及び共通鍵(TKi、CKj)の前記インデックス(I、J)が付随していることを特徴とする請求項11に記載の方法。
- 前記セキュアドチップ(SC)が、前記暗号CK(TK op R)を解読するために用いられる前記共通鍵(CK)を示すための前記受信されたインデックス(J)と、前記暗号CK(TK op R)から判断された前記試験鍵(TK)の有効性を確認するために用いられる前記ダイジェストF(TK)のインデックス(I)とを選択することを特徴とする請求項11に記載の方法。
- 前記暗号CKj(TKi op R)に用いられた前記試験鍵(TKi)の前記インデックス(I)が、前記暗号CKj(TKi op R)で送信された前記インデックス(J)に対応する前記共通鍵(CKj)で暗号化されていることを特徴とする請求項12に記載の方法。
- 前記セキュアドチップ(SC)が、前記暗号CKj(TKi op R)を付随する前記インデックス(J)により示された前記共通鍵(CKj)で前記試験鍵(TKi)の前記インデックス(I)を解読し、前記解読されたインデックス(I)が、前記暗号CKj(TKi op R)から判断された前記試験鍵(TKi)の有効性を確認するために適切なダイジェストF(TKi)を選択するために使われていることを特徴とする請求項14に記載の方法。
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