JP5555660B2 - 放射線計測装置及びその方法 - Google Patents
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Description
放射線検出器が100ns以下の発光減衰時間を有するシンチレータであることにある。
本実施例は、デジタル信号加算回路4の前段にアナログデジタル変換器2を配置し、デジタル信号加算回路4がアナログデジタル変換器2で生成されたデジタルパルス信号46を入力するので、デジタル信号加算回路4及びこれよりも後段の各回路における信号処理をデジタル処理にすることができ、他機器、例えば、表示装置との接続、すなわち情報の受け渡しが容易になる。また、デジタル信号加算回路4の前段にアナログデジタル変換器2を配置することによって、アナログパルス信号を早い段階でデジタル化することができ、誘導ノイズ等の電気ノイズに対する耐ノイズ性能が向上する。
Claims (13)
- 放射線を検出して放射線検出信号であるアナログパルス信号を出力する放射線検出器と、前記放射線検出器から出力される前記アナログパルス信号ごとに、このアナログパルス信号を複数のデジタル信号に変換するアナログデジタル変換装置と、前記アナログデジタル変換装置から出力される前記複数のデジタル信号を前記アナログパルス信号ごとに加算して前記アナログパルス信号ごとに加算値を求めるデジタル信号加算装置と、これらの加算値を用いて放射線エネルギースペクトルを生成し、この放射線エネルギースペクトルの情報を用いて前記放射線検出器で検出される放射性核種の定量分析及びエネルギー分析を行うスペクトル生成装置とを備え、
前記放射線検出器が100ns以下の発光減衰時間を有するシンチレータであり、
前記放射線検出器から出力される前記アナログパルス信号を増幅し、増幅した前記アナログパルス信号を前記アナログデジタル変換装置に出力する前置増幅器を備え、前記前置増幅器が、入力する前記アナログパルス信号を、立ち上がり時間が前記アナログパルス信号の時間幅以下であるアナログパルス信号に整形することを特徴とする放射線計測装置。 - 前記アナログパルス信号ごとに、前記アナログデジタル変換装置から出力される前記複数のデジタル信号のうち閾値を超える前記デジタル信号を弁別し、前記アナログパルス信号ごとに、弁別された複数のデジタル信号を前記デジタル信号加算装置に出力するスレッショルド装置を備えた請求項1に記載の放射線計測装置。
- 1つの前記アナログパルス信号においてこのアナログパルス信号の5つ以上のサンプル点を前記デジタル信号に変換する前記アナログデジタル変換装置を備えた請求項2に記載の放射線計測装置。
- 前記アナログパルス信号ごとに、前記デジタル信号が前記閾値を超えた時点から、前記閾値を超えた前記弁別された複数のデジタル信号を加算して前記加算値を求める前記デジタル信号加算装置を備えた請求項3に記載の放射線計測装置。
- 前記アナログパルス信号ごとに、前記デジタル信号が前記閾値を超えた時点から、予め設定された設定時間内に存在する前記弁別された複数のデジタル信号を加算して前記加算値を求める前記デジタル信号加算装置を備えた請求項3に記載の放射線計測装置。
- 放射線を検出して放射線検出信号であるアナログパルス信号を出力する放射線検出器と、前記放射線検出器から出力される前記アナログパルス信号ごとに、このアナログパルス信号を複数のデジタル信号に変換するアナログデジタル変換装置と、前記アナログデジタル変換装置から出力される前記複数のデジタル信号を前記アナログパルス信号ごとに加算して前記アナログパルス信号ごとに加算値を求めるデジタル信号加算装置と、これらの加算値を用いて放射線エネルギースペクトルを生成し、この放射線エネルギースペクトルの情報を用いて前記放射線検出器で検出される放射性核種の定量分析及びエネルギー分析を行うスペクトル生成装置とを備え、
前記アナログパルス信号ごとに、前記アナログデジタル変換装置から出力される前記複数のデジタル信号のうち閾値を超える前記デジタル信号を弁別し、前記アナログパルス信号ごとに、弁別された複数のデジタル信号を前記デジタル信号加算装置に出力するスレッショルド装置を備え、
1つの前記アナログパルス信号においてこのアナログパルス信号の5つ以上のサンプル点を前記デジタル信号に変換する前記アナログデジタル変換装置を備え、
前記アナログパルス信号ごとに、前記アナログデジタル変換装置から出力される前記複数のデジタル信号を用いて該当する前記アナログパルス信号の微分波形を求める前記スレッショルド装置、及び前記微分波形が微分閾値を超えた時点から、前記微分波形がグラウンドレベルと交差する2つ目のクロス点の時点までに存在する前記弁別された複数のデジタル信号を加算して前記加算値を求める前記デジタル信号加算装置を備えたことを特徴とする放射線計測装置。 - 前記スレッショルド装置、前記デジタル信号加算装置及び前記スペクトル生成装置を含む書き換え可能なゲートアレイを備えた請求項2ないし6のいずれか1項に記載の放射線計測装置。
- 前記放射線検出器が、半導体放射線検出器、シンチレーション検出器及びダイヤモンド放射線検出器のいずれかである請求項1ないし7のいずれか1項に記載の放射線計測装置。
- 前記放射線検出器が前記シンチレーション検出器であるとき、前記アナログデジタル変換装置が、50MHz〜2GHzの範囲内でサンプリング周期を有するアナログデジタル変換装置である請求項8に記載の放射線計測装置。
- 放射線を検出した、100ns以下の発光減衰時間を有するシンチレータである放射線検出器から出力されるアナログパルス信号ごとに、このアナログパルス信号を複数のデジタル信号に変換し、前記複数のデジタル信号を前記アナログパルス信号ごとに加算して前記アナログパルス信号ごとに加算値を求め、これらの加算値を用いて放射線エネルギースペクトルを生成し、前記放射線エネルギースペクトルの情報を用いて前記放射線検出器で検出される前記放射線を放出する放射性核種の定量分析及びエネルギー分析を行う放射線計測方法であって、
前記アナログパルス信号ごとに、前記複数のデジタル信号のうち閾値を超える前記デジタル信号を弁別し、前記アナログパルス信号ごとに、弁別された複数のデジタル信号を用いて前記加算値を求め、
1つの前記アナログパルス信号においてこのアナログパルス信号の5つ以上のサンプル点を前記デジタル信号に変換し、
前記アナログパルス信号ごとに、前記複数のデジタル信号を用いて該当する前記アナログパルス信号の微分波形を求め、前記微分波形が微分閾値を超えた時点から、前記微分波形がグラウンドレベルと交差する2つ目のクロス点の時点までに存在する前記弁別された複数のデジタル信号を加算して前記加算値を求めることを特徴とする放射線計測方法。 - 放射線を検出した、100ns以下の発光減衰時間を有するシンチレータである放射線検出器から出力されるアナログパルス信号ごとに、このアナログパルス信号を複数のデジタル信号に変換し、前記複数のデジタル信号を前記アナログパルス信号ごとに加算して前記アナログパルス信号ごとに加算値を求め、これらの加算値を用いて放射線エネルギースペクトルを生成し、前記放射線エネルギースペクトルの情報を用いて前記放射線検出器で検出される前記放射線を放出する放射性核種の定量分析及びエネルギー分析を行う放射線計測方法であって、
前記放射線検出器から出力される前記アナログパルス信号を増幅し、この増幅において、入力する前記アナログパルス信号を、立ち上がり時間が前記アナログパルス信号の時間幅以下であるアナログパルス信号に整形することを特徴とする放射線計測方法。 - 前記放射線検出器として、半導体放射線検出器、シンチレーション検出器及びダイヤモンド放射線検出器のいずれかを用いる請求項10または11に記載の放射線計測方法。
- 前記放射線検出器として前記シンチレーション検出器を用いるとき、前記アナログパルス信号の前記複数のデジタル信号への変換が、50MHz〜2GHzの範囲内のサンプリング周期で行われる請求項12に記載の放射線計測方法。
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