JP5554463B2 - 比吸収率測定装置 - Google Patents
比吸収率測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5554463B2 JP5554463B2 JP2005189720A JP2005189720A JP5554463B2 JP 5554463 B2 JP5554463 B2 JP 5554463B2 JP 2005189720 A JP2005189720 A JP 2005189720A JP 2005189720 A JP2005189720 A JP 2005189720A JP 5554463 B2 JP5554463 B2 JP 5554463B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electric field
- magnetic field
- phantom
- measuring apparatus
- specific
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 title claims description 59
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 102
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 85
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 72
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 47
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 21
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000004613 tight binding model Methods 0.000 claims description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000035699 permeability Effects 0.000 claims description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 31
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 4
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 3
- 238000007405 data analysis Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0807—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
- G01R29/0814—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning
- G01R29/0857—Dosimetry, i.e. measuring the time integral of radiation intensity; Level warning devices for personal safety use
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)
- Mobile Radio Communication Systems (AREA)
Description
Thomas Schmid, Oliver Egger, and Niels Kuster, "Automated E-Field Scanning System for Dosimetric Assessment", IEEE Trans. MTT-44, No.1, pp.105-113, Jan. 1996 M.Y. Kanda, M. Ballen, M.G. Douglas, A.V. Gessner and C.K. Chou, "Fast SAR determination of gram-averaged SAR from 2-D coarse scans", Abstract Book of the Bioelectromagnetics Society 25th Annual Meeting, June 22-27, 2003 M.G. Douglas, M.Y. Kanda and C.K. Chou, "Post-processing errors in peak spatial average SAR measurements of wireless handsets", Abstract Book of the Bioelectromagnetics Society 25th Annual Meeting, June 22-27, 2003 O. Merckel, J.-Ch Bolomey, G. Fleury, "Extension of the parametric rapid SAR measurement to the SAM phantom", Abstract Book of the 6th International Congress of the European Bioelectromagnetics Association, Nov. 13-15, 2003
2 容器
3 電界・磁界検出用プローブ
31 プローブ先端
32 ケーブル
33 プローブ
4 プローブ走査装置
5 信号伝送ケーブル
6 電界検出装置
7 プロセッサ装置
71 測定操作部
72 3次元電界/磁界計算部
73 比吸収率計算部
8 被測定機
9 走査装置
10 基準アンテナ
Claims (20)
- 人体の電気定数を模擬したファントム内に挿入され、当該ファントム内の2次元的な電界もしくは磁界の振幅および位相を測定するプローブ手段と、
上記プローブ手段の測定結果に基づき、測定点における2次元的な電界および磁界を波源として放射する3次元の電界分布E(x,y,z)を、上記ファントムの被測定機が近接して配置される表面から距離dの2次元平面の測定面をSd、当該測定面における2次元の電界分布をEd(x,y)、磁界分布をHd(x,y)、角周波数をω、透磁率をμ、上記測定面からzの正方向に向く法線単位ベクトルをn、グリーン関数をφとして、
上記電界計算手段の計算結果に基づいて、比吸収率SARを、導電率をσ、密度をρとして、
上記ファントムは高誘電率であること、上記ファントムの形状は上記被測定機から放射された電磁波の入射が測定面Sd以外の面では相対的に小さいこと、および、上記ファントムの形状は測定面Sd以外の面での反射が相対的に小さいことの条件を満たすことを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項1に記載の比吸収率測定装置において、
上記プローブ手段は、上記ファントム内の2次元的な電界および磁界の振幅および位相を測定することを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項1に記載の比吸収率測定装置において、
上記プローブ手段は、上記ファントム内の2次元的な電界もしくは磁界のうちの一方の振幅および位相を測定し、
上記プローブ手段の測定結果に基づき、測定された2次元的な電界もしくは磁界から、測定されない側の磁界もしくは電界の分布を計算する磁界/電界計算手段を備えたことを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項1乃至3のいずれか一項に記載の比吸収率測定装置において、
上記ファントムは液体で構成され、
上記プローブ手段を上記ファントム内で2次元的に移動して測定を行うことを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項1乃至3のいずれか一項に記載の比吸収率測定装置において、
上記ファントムは固体で構成され、
上記プローブ手段を上記ファントム内に固定し、
電磁波を放射する被測定機を2次元的に移動して測定を行うことを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項3に記載の比吸収率測定装置において、
上記磁界/電界計算手段は、測定された2次元的な電界もしくは磁界から、マクスウェルの方程式に基づき、測定されない側の磁界もしくは電界の分布を計算することを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項1乃至6のいずれか一項に記載の比吸収率測定装置において、
上記プローブ手段は、電界センサとして電気光学変換素子を用い、磁界センサとして磁気光学変換素子を用いることを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項1乃至6のいずれか一項に記載の比吸収率測定装置において、
上記プローブ手段は、電界センサとして微小ダイポールと導波路型光変調器を用い、磁界センサとして微小ループと導波路型光変調器を用いることを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項7または8のいずれか一項に記載の比吸収率測定装置において、
上記プローブ手段は、3軸等方性センサもしくは1軸センサであることを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項1乃至9のいずれか一項に記載の比吸収率測定装置において、
上記プローブ手段を単数としたことを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項1乃至9のいずれか一項に記載の比吸収率測定装置において、
上記プローブ手段を複数としたことを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項1乃至9のいずれか一項に記載の比吸収率測定装置において、
上記プローブ手段を複数とし、アレイ化して配置したことを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項12に記載の比吸収率測定装置において、
上記アレイの各軸方向に沿って上記プローブ手段を交互に配置したことを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項1乃至13のいずれか一項に記載の比吸収率測定装置において、
上記プローブ手段による測定点間を補間して測定結果に含めることを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項1乃至14のいずれか一項に記載の比吸収率測定装置において、
上記プローブ手段は、上記ファントムに垂直に入射する電界もしくは磁界の成分以外の成分を測定することを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項1乃至15のいずれか一項に記載の比吸収率測定装置において、
電界もしくは磁界の位相測定のために、基準用のアンテナもしくはセンサを別に設けることを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項1乃至16のいずれか一項に記載の比吸収率測定装置において、
上記プローブ手段の較正のために、基準用のアンテナもしくはセンサを別に設けることを特徴とする比吸収率測定装置。 - 請求項1乃至17のいずれか一項に記載の比吸収率測定装置において、
上記電界計算手段は、電界の測定値もしくは計算値が最大となる部分につき、測定もしくは計算された2次元的な電界および磁界を波源として放射する電界の3次元的な分布を計算し、それ以外の部分につき、上記2次元的な電界および磁界を波源として放射する電界の3次元的な分布から計算される減衰関数に基づいて電界の3次元的な分布を計算することを特徴とする比吸収率測定装置。 - 人体の電気定数を模擬したファントム内に挿入され、当該ファントム内の2次元的な電界もしくは磁界の振幅および位相を測定するプローブ手段と、
上記プローブ手段の測定結果に基づき、測定点における2次元的な電界および磁界を波源として放射する3次元の電界分布E(x,y,z)を、上記ファントムの被測定機が近接して配置される表面から距離dの2次元平面の測定面をSd、当該測定面における2次元の電界分布をEd(x,y)、磁界分布をHd(x,y)、角周波数をω、透磁率をμ、上記測定面からzの正方向に向く法線単位ベクトルをn、グリーン関数をφとして、
上記ファントムは高誘電率であること、上記ファントムの形状は上記被測定機から放射された電磁波の入射が測定面Sd以外の面では相対的に小さいこと、および、上記ファントムの形状は測定面Sd以外の面での反射が相対的に小さいことの条件を満たすことを特徴とする電磁界分布測定装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005189720A JP5554463B2 (ja) | 2004-07-05 | 2005-06-29 | 比吸収率測定装置 |
CA2511134A CA2511134C (en) | 2004-07-05 | 2005-06-29 | Measurement system of specific absorption rate |
KR1020050058077A KR100741432B1 (ko) | 2004-07-05 | 2005-06-30 | 비흡수율 측정 장치 |
EP05254113A EP1615041B1 (en) | 2004-07-05 | 2005-06-30 | Measurement system of specific absorption rate |
US11/169,646 US7583089B2 (en) | 2004-07-05 | 2005-06-30 | Measurement system of specific absorption rate |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004198050 | 2004-07-05 | ||
JP2004198050 | 2004-07-05 | ||
JP2005189720A JP5554463B2 (ja) | 2004-07-05 | 2005-06-29 | 比吸収率測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006047297A JP2006047297A (ja) | 2006-02-16 |
JP5554463B2 true JP5554463B2 (ja) | 2014-07-23 |
Family
ID=34979740
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005189720A Active JP5554463B2 (ja) | 2004-07-05 | 2005-06-29 | 比吸収率測定装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7583089B2 (ja) |
EP (1) | EP1615041B1 (ja) |
JP (1) | JP5554463B2 (ja) |
KR (1) | KR100741432B1 (ja) |
CA (1) | CA2511134C (ja) |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100365420C (zh) * | 2003-02-26 | 2008-01-30 | 松下电器产业株式会社 | 无线电通信装置用比吸收率测定装置 |
FR2859064B1 (fr) * | 2003-08-18 | 2005-12-30 | Satimo Sa | Dispositif de controle du debit d'absorption specifique d'objets rayonnants fabriques en serie et notamment de telephones portables |
CA2511134C (en) | 2004-07-05 | 2011-04-19 | Ntt Docomo, Inc. | Measurement system of specific absorption rate |
JP5669337B2 (ja) | 2006-10-23 | 2015-02-12 | 株式会社Nttドコモ | 比吸収率を測定するためのシステム及び方法 |
EP2074435B1 (en) * | 2006-10-27 | 2014-01-08 | Telefonaktiebolaget LM Ericsson (publ) | Rapid absorption measurement |
JP5572281B2 (ja) * | 2007-02-28 | 2014-08-13 | 株式会社Nttドコモ | 比吸収率測定装置及び方法 |
CN101038313B (zh) * | 2007-04-05 | 2011-04-06 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种mat中rartut比吸收率的测量方法 |
JP2010044021A (ja) * | 2008-08-18 | 2010-02-25 | Nec Corp | 比吸収率測定装置、比吸収率測定方法及び比吸収率測定プログラム |
JP5596610B2 (ja) * | 2011-03-31 | 2014-09-24 | 株式会社Nttドコモ | 局所平均吸収電力測定方法 |
EP2610628B1 (en) * | 2011-12-30 | 2018-05-16 | Art-Fi | Measuring an electromagnetic field |
US20150105031A1 (en) * | 2012-04-19 | 2015-04-16 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson(Publ) | Efficient Whole-Body SAR Estimation |
JP6042693B2 (ja) * | 2012-10-22 | 2016-12-14 | 株式会社日本自動車部品総合研究所 | ポインティングベクトル計測装置 |
US20140266149A1 (en) * | 2013-03-12 | 2014-09-18 | Motorola Mobility Llc | Cover-testing fixture for radio frequency sensitive devices |
US9237531B2 (en) * | 2013-03-13 | 2016-01-12 | Qualcomm Incorporated | Real-time exposure assessment |
USD795925S1 (en) * | 2014-04-16 | 2017-08-29 | Hitachi, Ltd. | Display screen or portion thereof with icon |
WO2016003006A1 (ko) * | 2014-07-01 | 2016-01-07 | 대한민국(미래창조과학부 국립전파연구원장) | 전자파흡수율 측정시 불확정도 개선을 위한 신호 공급 시스템 |
US9684023B2 (en) * | 2015-06-30 | 2017-06-20 | Microsoft Technology Licensing, Llc | RF measurement device and system |
JP6996729B2 (ja) * | 2017-02-23 | 2022-01-17 | 株式会社国際電気通信基礎技術研究所 | 電磁界データ取得システム、飛行体、端末装置、および、プログラム |
US11940477B2 (en) | 2018-01-12 | 2024-03-26 | University Of Notre Dame Du Lac | Methods and apparatus for determining electromagnetic exposure compliance of multi-antenna devices |
JP7040189B2 (ja) * | 2018-03-20 | 2022-03-23 | Tdk株式会社 | 電磁波測定点算出装置及び放射妨害波測定装置 |
CN110068737B (zh) * | 2019-04-17 | 2021-10-22 | 武汉科技大学 | 一种模拟和探测流体运动所致电磁现象的装置 |
KR20220111490A (ko) * | 2021-02-02 | 2022-08-09 | 인천대학교 산학협력단 | 원거리의 전기장을 이용하여 근거리의 전기장을 추정하는 전자파 측정 장치 |
CN116660668B (zh) * | 2023-07-26 | 2023-10-20 | 中山香山微波科技有限公司 | 射频振荡器、液体电参数检测电路及sar测试设备 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63200075A (ja) * | 1987-02-14 | 1988-08-18 | Nozomi Hasebe | 導電性材料のシ−ルド効果測定法及び装置 |
US5363050A (en) * | 1990-08-31 | 1994-11-08 | Guo Wendy W | Quantitative dielectric imaging system |
JP2956718B2 (ja) * | 1991-07-23 | 1999-10-04 | 日本電気株式会社 | 電磁界分布測定装置及び電磁波源解析システム及び電磁界解析システム |
JPH05232169A (ja) * | 1991-12-26 | 1993-09-07 | Kyocera Corp | 電磁界解析方法及び装置 |
JP3049190B2 (ja) * | 1994-07-13 | 2000-06-05 | 日本電信電話株式会社 | 電界センサ装置 |
JP2737661B2 (ja) * | 1994-09-21 | 1998-04-08 | 日本電気株式会社 | Sar測定方法およびsar測定装置 |
JPH08162841A (ja) * | 1994-12-12 | 1996-06-21 | Risaburo Sato | 放射抵抗が周波数に無関係なアンテナ装置 |
JPH1090328A (ja) * | 1996-09-13 | 1998-04-10 | Tokin Corp | 光電界センサ |
JPH10232252A (ja) * | 1997-02-20 | 1998-09-02 | Advantest Corp | 3次元波源分布のホログラム観測方法 |
JPH10311805A (ja) * | 1997-05-09 | 1998-11-24 | N T T Ido Tsushinmo Kk | 吸収電力測定装置及びその校正方法 |
JP4295368B2 (ja) * | 1998-04-07 | 2009-07-15 | 株式会社ケンウッド | 電磁界解析方法 |
JP3147100B2 (ja) * | 1998-09-18 | 2001-03-19 | 日本電気株式会社 | Sar測定センサ及びsar測定装置 |
JP3689578B2 (ja) * | 1999-01-25 | 2005-08-31 | 株式会社日立製作所 | 磁界プローブ校正機能を有する近傍磁界測定装置および電磁波発生源探査装置 |
EP1070966A1 (en) | 1999-07-22 | 2001-01-24 | Siemens Aktiengesellschaft | A method and device for determining the electrical field strength acting on an anatomical model |
US6525657B1 (en) * | 2000-04-25 | 2003-02-25 | Aprel, Inc. | Apparatus and method for production testing of the RF performance of wireless communications devices |
JP3539937B2 (ja) * | 2001-06-22 | 2004-07-07 | 株式会社エー・イー・ティー・ジャパン | 放射電磁波のベクトル測定方法および装置 |
EP1326070B1 (en) * | 2001-08-08 | 2013-07-10 | NTT DoCoMo, Inc. | Absorption power measuring device |
JP2003087207A (ja) * | 2001-09-10 | 2003-03-20 | Kenwood Corp | 携帯形端末等のsar検査装置およびsar検査方法 |
JP2003279611A (ja) * | 2002-03-26 | 2003-10-02 | Hitachi Ltd | 電磁波発生源探査装置 |
EP1359428B1 (en) * | 2002-04-22 | 2005-04-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Apparatus for measuring specific absorption rate based on near magnetic field for use in radio apparatus |
JP2004069372A (ja) * | 2002-08-02 | 2004-03-04 | Taiyo Yuden Co Ltd | 遠方電磁界強度の算出方法及び装置、遠方電磁界強度の算出プログラム、及び、そのプログラムを記録した記録媒体 |
JP2004069592A (ja) * | 2002-08-08 | 2004-03-04 | Telecommunication Advancement Organization Of Japan | 光導波路型ループアンテナ |
FR2851823B1 (fr) * | 2003-02-27 | 2005-09-02 | Ecole Superieure Electricite | Procede et systeme pour mesurer un debit d'absorption specifique das |
CA2511134C (en) | 2004-07-05 | 2011-04-19 | Ntt Docomo, Inc. | Measurement system of specific absorption rate |
-
2005
- 2005-06-29 CA CA2511134A patent/CA2511134C/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-06-29 JP JP2005189720A patent/JP5554463B2/ja active Active
- 2005-06-30 US US11/169,646 patent/US7583089B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-06-30 EP EP05254113A patent/EP1615041B1/en not_active Not-in-force
- 2005-06-30 KR KR1020050058077A patent/KR100741432B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20060012530A1 (en) | 2006-01-19 |
KR100741432B1 (ko) | 2007-07-23 |
EP1615041A1 (en) | 2006-01-11 |
KR20060049266A (ko) | 2006-05-18 |
CA2511134A1 (en) | 2006-01-05 |
US7583089B2 (en) | 2009-09-01 |
EP1615041B1 (en) | 2011-07-27 |
CA2511134C (en) | 2011-04-19 |
JP2006047297A (ja) | 2006-02-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5554463B2 (ja) | 比吸収率測定装置 | |
US7683632B2 (en) | Specific absorption rate measurement system and method | |
JP4635544B2 (ja) | 電界分布測定方法及び電界分布測定装置 | |
US11480535B2 (en) | System, device and methods for measuring substances′ dielectric properties using microwave sensors | |
US20080110242A1 (en) | Apparatus and Method for Determining Physical Parameters in an Object Using Acousto-Electric Interaction | |
US20150377778A1 (en) | Scattering tomography method and scattering tomography device | |
US10222352B2 (en) | Method and device for improving the SAFT analysis when measuring irregularities | |
CN100443889C (zh) | 比吸收率测量装置 | |
Mojabi et al. | Eigenfunction contrast source inversion for circular metallic enclosures | |
Schenone et al. | Experimental assessment of a novel hybrid scheme for quantitative GPR imaging | |
López et al. | On the use of an Equivalent Currents-based Technique to improve Electromagnetic Imaging | |
CN104280458A (zh) | 一种利用超声相控阵检测孔型缺陷的定量评价方法 | |
CN109765435B (zh) | 用于电场电位的空中测量的测量***和测量方法 | |
He et al. | 2D imaging system with optical tracking for EMI source localization | |
Chen et al. | Limitations of the Free Space VSWR Measurements for chamber validations | |
US20060254358A1 (en) | Apparatus and a method for determining the spatial distribution of physical parameters in an object | |
US10996295B1 (en) | Noise generation source search device and noise generation source search method | |
Kharkovsky et al. | Microwave imaging with a 3-axis multifunctional scanning system | |
Shahir et al. | Millimetre‐wave multi‐view near‐field scattering tomography system | |
JP2018141724A (ja) | 計測装置および計測方法 | |
Gordiyenko et al. | Biological objects parameters meter based on microwave microscope with coaxial resonant sensor | |
Enyakov | Parameter measurement for the acoustic output of hand-held ultrasonic fetal heartbeat detectors | |
Rodríguez | Evaluation of a new coded GPR system for Non-Destructive Testing | |
Salvadé et al. | Experimental evaluation of a prototype of a microwave imaging system | |
Zhang et al. | Sensitivity-based imaging with near-zone microwave raster scanning |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080306 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110221 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110419 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110613 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120221 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120419 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20121030 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130118 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20130125 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20130315 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140529 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5554463 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |