JP5486472B2 - Touch panel device and touch input point distance detection method of touch panel - Google Patents
Touch panel device and touch input point distance detection method of touch panel Download PDFInfo
- Publication number
- JP5486472B2 JP5486472B2 JP2010263709A JP2010263709A JP5486472B2 JP 5486472 B2 JP5486472 B2 JP 5486472B2 JP 2010263709 A JP2010263709 A JP 2010263709A JP 2010263709 A JP2010263709 A JP 2010263709A JP 5486472 B2 JP5486472 B2 JP 5486472B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- points
- point
- touch
- detecting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Description
本発明は、タッチパネル装置及びタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法に関し、特にタッチパネル上の２点を同時にタッチした際の２点間距離を検出可能な抵抗膜式のタッチパネル装置及び当該２点間距離を検出する方法に関する。 The present invention relates to a touch panel device and a touch input point distance detection method of a touch panel, and in particular, a resistive touch panel device capable of detecting a distance between two points when two points on the touch panel are touched simultaneously and the distance between the two points. It relates to a method of detecting.
従来のタッチパネル装置としては、例えば特許文献１に記載の技術がある。この技術は、タッチパネル上で２点がタッチされると、２層タッチパネルに設けた対向する端子間の抵抗値が低下する現象を利用して、２点タッチを判定するものである。
ここでは、２点タッチされたときの２点間の距離が大きいほど対向する端子間の抵抗値が大きくなることを利用して、Ｘ方向の端子間の抵抗値およびＹ方向の端子間の抵抗値に基づいて、Ｘ方向およびＹ方向の２点間の距離をそれぞれ検出している。
As a conventional touch panel device, for example, there is a technique described in
Here, using the fact that the resistance value between the opposing terminals increases as the distance between the two points when the two points are touched increases, the resistance value between the terminals in the X direction and the resistance between the terminals in the Y direction. Based on the value, the distance between two points in the X direction and the Y direction is detected.
しかしながら、対向する端子間の抵抗値は、２点間の距離だけでなくタッチ入力点の押圧力にも影響する。すなわち、２点間の距離が同じであっても、タッチ入力点の押圧力が異なると、対向する端子間の抵抗値は変化する。
したがって、上記特許文献１に記載のタッチパネル装置のように、単に対向する端子間の抵抗値に基づいて２点間距離を検出する方法では、正確な２点間距離を求めることができず、操作者の意図に反する操作が認識されてしまうおそれがある。
そこで、本発明は、タッチパネル上で２点がタッチされた際の２点間距離を精度良く検出することができるタッチパネル装置及びタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法を提供することを目的としている。
However, the resistance value between the opposing terminals affects not only the distance between the two points but also the pressing force at the touch input point. That is, even if the distance between the two points is the same, if the pressing force at the touch input point is different, the resistance value between the opposing terminals changes.
Therefore, the method of detecting the distance between two points based on the resistance value between the terminals facing each other as in the touch panel device described in
Therefore, an object of the present invention is to provide a touch panel device that can accurately detect a distance between two points when two points are touched on the touch panel, and a touch input point distance detection method of the touch panel.
本発明は、このような目的を達成するためになされたもので、請求項１に記載の発明は、一対の電極端子が対向する端辺部にそれぞれ設けられた２枚の抵抗膜を、上下で前記電極端子が直交するように互いに接触可能に近接対向させて構成したタッチパネルを備えるタッチパネル装置であって、一方の抵抗膜の一対の電極端子間に電源電圧を印加し、且つ他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第１の電圧検出手段と、前記一方の抵抗膜の一対の電極端子間に抵抗を介して電源電圧を印加し、且つ前記他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第２の電圧検出手段と、前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比に基づいて、前記タッチパネル上で２点がタッチされたか否かを判定する２点タッチ判定手段と、前記一方の抵抗膜の一方の電極端子に電源電圧を印加し、前記一方の抵抗膜の他方の電極端子を開放し、且つ前記他方の抵抗膜の一方の電極端子を開放し、前記他方の抵抗膜の他方の電極端子を接地した状態で、前記他方の抵抗膜の一方の電極端子の電圧を検出する第３の電圧検出手段と、前記一方の抵抗膜の一方の電極端子に電源電圧を印加し、前記一方の抵抗膜の他方の電極端子を開放し、且つ前記他方の抵抗膜の一方の電極端子を開放し、前記他方の抵抗膜の他方の電極端子を接地した状態で、前記一方の抵抗膜の他方の電極端子の電圧を検出する第４の電圧検出手段と、前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第３の電圧検出手段で検出した電圧と前記第４の電圧検出手段とで検出した電圧に基づいて、２点タッチ入力に共通の押圧力を検出する押圧力検出手段と、前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比と、前記押圧力検出手段で検出した押圧力とに基づいて、タッチされた２点間の距離を検出する２点間距離検出手段と、を備えることを特徴としている。
The present invention has been made in order to achieve such an object, and the invention according to
このように、タッチ入力の押圧力を考慮してタッチされた２点間の距離を検出するので、例えば、操作者が２点タッチした際に、２点間距離を一定としたままでタッチ開始時から徐々に押圧力を変化させるような操作を行った場合であっても、適正に一定の２点間距離を検出することができるなど、２点間距離を精度良く求めることができる。 In this way, since the distance between two touched points is detected in consideration of the pressing force of the touch input, for example, when the operator touches two points, the touch starts while the distance between the two points is kept constant. Even when an operation that gradually changes the pressing force from the time is performed, the distance between the two points can be accurately obtained, for example, a constant distance between the two points can be detected.
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、前記２点間距離検出手段は、前記タッチパネルが１点タッチされているときに前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比と、前記タッチパネルが２点タッチされているときに前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比との差分に基づいて、前記２点間の距離の基準値を算出する基準値算出手段と、前記押圧力検出手段で検出した押圧力が小さいほど、前記基準値算出手段で算出した前記２点間の距離の基準値を増加補正する補正手段と、を備えることを特徴としている。
The invention according to
このように、２点間の距離に応じて前記第１の電圧検出部で検出した電圧と前記第２の電圧検出部で検出した電圧との比が変化することを利用して、２点間距離を検出するので、適正に２点間距離を検出することができる。また、座標検出や２点タッチ判定に用いる測定電圧を用いて２点間距離を検出することができるので、新たに２点間距離検出用の電圧測定を行う必要がない。したがって、その分電圧測定の回数を削減することができる。 As described above, the ratio between the voltage detected by the first voltage detector and the voltage detected by the second voltage detector changes according to the distance between the two points. Since the distance is detected, the distance between the two points can be properly detected. Further, since the distance between two points can be detected using the measurement voltage used for coordinate detection and two-point touch determination, it is not necessary to newly perform voltage measurement for detecting the distance between the two points. Therefore, the number of voltage measurements can be reduced accordingly.
また、請求項３に記載の発明は、請求項１または２に記載の発明において、前記押圧力検出手段は、前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、タッチ入力の押圧力と相関関係にあり且つ各点の押圧力との相関度合いが同等又は略同等となる押圧パラメータを検出することを特徴としている。
このように、各点の押圧力の影響が同等程度となるような押圧パラメータを用いることで、各点の押圧力が異なる場合等であっても、より精度良く２点間距離を求めることができる。
According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect of the present invention, when the pressing force detecting means determines that two points are touched by the two-point touch determining means, the touch input pressing is performed. It is characterized by detecting a pressing parameter that is correlated with the pressure and that has the same or substantially the same degree of correlation with the pressing force at each point.
In this way, by using a pressing parameter that makes the influence of the pressing force at each point comparable, even when the pressing force at each point is different, the distance between the two points can be obtained more accurately. it can.
また、請求項４に記載の発明は、一対の電極端子が対向する端辺部にそれぞれ設けられた２枚の抵抗膜を、上下で前記電極端子が直交するように互いに接触可能に近接対向させて構成したタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法であって、一方の抵抗膜の一対の電極端子間に電源電圧を印加し、且つ他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第１の電圧検出ステップと、前記一方の抵抗膜の一対の電極端子間に抵抗を介して電源電圧を印加し、且つ前記他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第２の電圧検出ステップと、前記第１の電圧検出ステップにおいて検出された電圧と前記第２の電圧検出ステップにおいて検出された電圧との比に基づいて、前記タッチパネル上で２点がタッチされたか否かを判定する２点タッチ判定ステップと、前記一方の抵抗膜の一方の電極端子に電源電圧を印加し、前記一方の抵抗膜の他方の電極端子を開放し、且つ前記他方の抵抗膜の一方の電極端子を開放し、前記他方の抵抗膜の他方の電極端子を接地した状態で、前記他方の抵抗膜の一方の電極端子の電圧を検出する第３の電圧検出ステップと、前記一方の抵抗膜の一方の電極端子に電源電圧を印加し、前記一方の抵抗膜の他方の電極端子を開放し、且つ前記他方の抵抗膜の一方の電極端子を開放し、前記他方の抵抗膜の他方の電極端子を接地した状態で、前記一方の抵抗膜の他方の電極端子の電圧を検出する第４の電圧検出ステップと、前記２点タッチ判定ステップにおいて２点がタッチされたと判定されたとき、前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第３の電圧検出手段で検出した電圧と前記第４の電圧検出手段とで検出した電圧に基づいて、２点タッチ入力に共通の押圧力を検出する押圧力検出ステップと、前記２点タッチ判定ステップにおいて２点がタッチされたと判定されたとき、前記第１の電圧検出ステップにおいて検出された電圧と前記第２の電圧検出ステップにおいて検出された電圧との比と、前記押圧力検出ステップにおいて検出された押圧力とに基づいて、タッチされた２点間の距離を検出する２点間距離検出ステップと、を備えることを特徴としている。
このように、タッチ入力の押圧力を考慮してタッチされた２点間の距離を検出する方法
であるので、２点間距離を精度良く求めることができる。
According to a fourth aspect of the present invention, the two resistive films respectively provided on the end sides where the pair of electrode terminals face each other are placed close to each other so that they can contact each other so that the electrode terminals are perpendicular to each other. A touch input point distance detection method of a touch panel configured by applying a power supply voltage between a pair of electrode terminals of one resistance film, and shorting between a pair of electrode terminals of the other resistance film, A first voltage detection step for detecting a voltage of one of the pair of electrode terminals of the other resistance film; and a power supply voltage via a resistor between the pair of electrode terminals of the one resistance film. A second voltage detecting step of detecting a voltage of one of the pair of electrode terminals of the other resistive film in a state where the pair of electrode terminals of the other resistive film is short-circuited. And the first voltage detection step. On the basis of the ratio of the detected voltage in the a detected voltage second voltage detection step at two points on the touch panel and two-point touch judgment step of judging whether or not touched, the one A power supply voltage is applied to one electrode terminal of the resistance film, the other electrode terminal of the one resistance film is opened, and one electrode terminal of the other resistance film is opened, and the other of the other resistance film is opened. A third voltage detecting step of detecting a voltage of one electrode terminal of the other resistive film in a state where the electrode terminal is grounded, applying a power supply voltage to one electrode terminal of the one resistive film, Opening the other electrode terminal of one resistance film, opening one electrode terminal of the other resistance film, and grounding the other electrode terminal of the other resistance film, The voltage of the other electrode terminal A fourth voltage detecting step of leaving, when the two points is determined to have been touched in the two-point touch decision step, detected by the voltage detected by said first voltage detecting means and said third voltage detecting means Based on the voltage and the voltage detected by the fourth voltage detection means, it is determined that two points are touched in the pressing force detection step for detecting a pressing force common to the two-point touch input and the two-point touch determination step. When based on the ratio of the voltage detected in the first voltage detection step and the voltage detected in the second voltage detection step, and the pressing force detected in the pressing force detection step, A point-to-point distance detection step for detecting a distance between the two touched points.
In this way, since the distance between the two touched points is detected in consideration of the pressing force of the touch input, the distance between the two points can be obtained with high accuracy.
本発明によれば、タッチパネル上で２点がタッチされた際の２点間の距離を精度良く検出することができるので、操作者の意図に合致した操作を認識することができるタッチパネル装置とすることができる。 According to the present invention, since the distance between two points when the two points are touched on the touch panel can be detected with high accuracy, the touch panel device can recognize an operation that matches the operator's intention. be able to.
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
（第１の実施形態）
（構成）
図１は、本発明の実施形態におけるタッチパネル装置の構成を示す回路図である。
タッチパネル装置は、装置全体を制御する制御部１０と、必要な情報を表示するためのＬＣＤモジュール１１と、ＬＣＤモジュール１１上に設置されるタッチパネルＴＰとを備える。
タッチパネルＴＰは、２枚のタッチパネルＴＰ１，ＴＰ２から構成される。タッチパネルＴＰ１は、タッチパネルＴＰ２上に微小な隙間を設けて重ね合わせる。タッチパネルＴＰ１は、Ｙ方向に伸びた一対の電極からなる端子Ｙ１，Ｙ２間に延設された抵抗膜を有する。また、タッチパネルＴＰ２は、Ｙ方向に直交するＸ方向に伸びた一対の電極からなる端子Ｘ１，Ｘ２間に延設された抵抗膜を有する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
(First embodiment)
(Constitution)
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a touch panel device according to an embodiment of the present invention.
The touch panel device includes a
The touch panel TP includes two touch panels TP1 and TP2. The touch panel TP1 is superimposed on the touch panel TP2 with a small gap. The touch panel TP1 has a resistance film extending between terminals Y1 and Y2 made of a pair of electrodes extending in the Y direction. In addition, the touch panel TP2 includes a resistance film extending between the terminals X1 and X2 including a pair of electrodes extending in the X direction orthogonal to the Y direction.
タッチパネルＴＰ１及びＴＰ２は、それぞれの抵抗膜を張り合わせて構成されるアナログタッチパネルであり、人間の指やペン等でそのタッチ感応表面上のどこにタッチしても、そのタッチを検出できるようになっている。
また、このタッチパネル装置は、スイッチＳＷ１〜ＳＷ６を備える。
スイッチＳＷ１の一端は、所定の直流電圧を印加する電源ＶＤＤに接続され、その他端は、タッチパネルＴＰ１の端子Ｙ１に接続されている。スイッチＳＷ２の一端は電源ＶＤＤに接続され、その他端は抵抗Ｒ１を介してタッチパネルＴＰ１の端子Ｙ１に接続されている。スイッチＳＷ３の一端は接地接続され、その他端はタッチパネルＴＰ１の端子Ｙ２に接続されている。
The touch panels TP1 and TP2 are analog touch panels configured by sticking respective resistance films, and the touch can be detected by touching anywhere on the touch-sensitive surface with a human finger or a pen. .
The touch panel device also includes switches SW1 to SW6.
One end of the switch SW1 is connected to a power supply VDD that applies a predetermined DC voltage, and the other end is connected to a terminal Y1 of the touch panel TP1. One end of the switch SW2 is connected to the power supply VDD, and the other end is connected to the terminal Y1 of the touch panel TP1 via the resistor R1. One end of the switch SW3 is grounded, and the other end is connected to the terminal Y2 of the touch panel TP1.
また、スイッチＳＷ４の一端は電源ＶＤＤに接続され、その他端はタッチパネルＴＰ２の端子Ｘ１に接続されている。スイッチＳＷ５の一端は電源ＶＤＤに接続され、その他端は抵抗Ｒ２を介してタッチパネルＴＰ２の端子Ｘ１に接続されている。スイッチＳＷ６の一端は接地接続され、その他端はタッチパネルＴＰ２の端子Ｘ２に接続されている。
これらスイッチＳＷ１〜ＳＷ６は、制御部１０によってそれぞれ開閉状態が制御されるようになっている。
One end of the switch SW4 is connected to the power supply VDD, and the other end is connected to the terminal X1 of the touch panel TP2. One end of the switch SW5 is connected to the power supply VDD, and the other end is connected to the terminal X1 of the touch panel TP2 via the resistor R2. One end of the switch SW6 is grounded, and the other end is connected to the terminal X2 of the touch panel TP2.
The switches SW1 to SW6 are controlled to be opened and closed by the
制御部１０は、スイッチＳＷ１〜ＳＷ６を開閉制御し、所定の接続状態で各端子Ｘ１，Ｘ２，Ｙ１，Ｙ２に発生した電圧ＸＰ，ＸＮ，ＹＰ，ＹＮを取得する。ここで、制御部１０は、図示しないＡＤコンバータを備え、測定電圧をデジタルデータに変換する。
そして、制御部１０は、これらの取得した電圧値をもとに、タッチパネルＴＰ上で２点がタッチされたか否かを判定すると共に、１点がタッチされた場合にはそのタッチ位置（Ｘ座標，Ｙ座標）、２点がタッチされた場合には２点の中心座標と２点間の距離（Ｘ方向距離，Ｙ方向距離）を検出し、出力する。
The
Then, the
図２は、制御部１０で実行する初期化処理手順を示すフローチャートである。
この初期化処理は、タッチパネルＴＰがタッチされていないときに実行する。
先ずステップＳ１で、図３に示す状態での端子Ｘ１の電圧ＸＰ（電圧Ｒ＿ＸＰ）を取得する。すなわち、スイッチＳＷ５及びＳＷ６を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｘ１に抵抗Ｒ２を介して電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｘ２を接地接続する。このように、抵抗Ｒ２を介して端子Ｘ１，Ｘ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加する。そして、この状態で、端子Ｘ１の電圧レベルを測定する。
このとき測定される電圧レベルは、端子Ｘ１，Ｘ２間の抵抗値と既知の抵抗値Ｒ２とで分圧した値となる。このようにして、端子Ｘ１，Ｘ２間の抵抗値に相当する電圧レベルを求めることができる。なお、図３は、２点タッチした際の端子Ｘ１，Ｘ２間の回路構成を示している。
FIG. 2 is a flowchart showing an initialization processing procedure executed by the
This initialization process is executed when the touch panel TP is not touched.
First, in step S1, the voltage XP (voltage R_XP) of the terminal X1 in the state shown in FIG. 3 is acquired. That is, the switches SW5 and SW6 are closed and the other switches are controlled to be open, so that the voltage of the power supply VDD is applied to the terminal X1 via the resistor R2 and the terminal X2 is connected to the ground. Thus, the voltage of the power supply VDD is applied between the terminals X1 and X2 via the resistor R2. In this state, the voltage level of the terminal X1 is measured.
The voltage level measured at this time is a value obtained by dividing the resistance value between the terminals X1 and X2 and the known resistance value R2. In this way, a voltage level corresponding to the resistance value between the terminals X1 and X2 can be obtained. FIG. 3 shows a circuit configuration between the terminals X1 and X2 when two points are touched.
次に、ステップＳ２では、図４に示す状態での端子Ｙ１の電圧ＹＰ（電圧Ｒ＿ＹＰ）を取得する。すなわち、スイッチＳＷ２及びＳＷ３を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｙ１に抵抗Ｒ１を介して電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｙ２を接地接続する。このように、抵抗Ｒ１を介して端子Ｙ１，Ｙ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加する。そして、この状態で、端子Ｙ１の電圧レベルを測定する。 Next, in step S2, the voltage YP (voltage R_YP) of the terminal Y1 in the state shown in FIG. 4 is acquired. That is, the switches SW2 and SW3 are closed and the other switches are controlled to be open, so that the voltage of the power supply VDD is applied to the terminal Y1 via the resistor R1, and the terminal Y2 is grounded. In this way, the voltage of the power supply VDD is applied between the terminals Y1 and Y2 via the resistor R1. In this state, the voltage level of the terminal Y1 is measured.
このとき測定される電圧レベルは、端子Ｙ１，Ｙ２間の抵抗値と既知の抵抗値Ｒ１とで分圧した値となる。このようにして、端子Ｙ１，Ｙ２間の抵抗値に相当する電圧レベルを求めることができる。なお、図４は、２点タッチした際の端子Ｙ１，Ｙ２間の回路構成を示している。
次に、ステップＳ３では、前記ステップＳ１で取得した電圧Ｒ＿ＸＰを基準電圧Ｒ＿ＸＰ０に設定すると共に、前記ステップＳ２で取得した電圧Ｒ＿ＹＰを基準電圧Ｒ＿ＹＰ０に設定する。
そして、ステップＳ４では、前記ステップＳ３で設定した基準電圧Ｒ＿ＸＰ０，Ｒ＿ＹＰ０をメモリ（不図示）に記憶して、初期化処理を終了する。
The voltage level measured at this time is a value obtained by dividing the resistance value between the terminals Y1 and Y2 by the known resistance value R1. In this way, a voltage level corresponding to the resistance value between the terminals Y1 and Y2 can be obtained. FIG. 4 shows a circuit configuration between the terminals Y1 and Y2 when two points are touched.
Next, in step S3, the voltage R_XP acquired in step S1 is set to the reference voltage R_XP0, and the voltage R_YP acquired in step S2 is set to the reference voltage R_YP0.
In step S4, the reference voltages R_XP0 and R_YP0 set in step S3 are stored in a memory (not shown), and the initialization process ends.
図５は、制御部１０で実行するタッチ処理手順を示すフローチャートである。
このタッチ処理は、タッチパネルＴＰがタッチされているときに所定時間毎（２ｍｓｅｃ〜１０ｍｓｅｃ毎）に実行し、先ずステップＳ１１で、各種データを取得する。具体的には、電圧Ｒ＿ＸＰ，Ｒ＿ＹＰ，Ｘｐ１，Ｘｐ２，Ｙｐ１，Ｙｐ２，Ｚ１，Ｚ２を取得する。
電圧Ｒ＿ＸＰは、図３に示す状態で測定した電圧ＸＰであり、電圧Ｒ＿ＹＰは、図４に示す状態で測定した電圧ＹＰである。
FIG. 5 is a flowchart illustrating a touch processing procedure executed by the
This touch process is executed at predetermined time intervals (every 2 msec to 10 msec) when the touch panel TP is touched, and first, at step S11, various data are acquired. Specifically, the voltages R_XP, R_YP, Xp1, Xp2, Yp1, Yp2, Z1, and Z2 are acquired.
The voltage R_XP is the voltage XP measured in the state shown in FIG. 3, and the voltage R_YP is the voltage YP measured in the state shown in FIG.
また、電圧Ｘｐ１及びＸｐ２は、図６に示す状態で測定した電圧ＹＰ及びＹＮである。すなわち、図３の状態に対し、スイッチＳＷ５を開状態、スイッチＳＷ４を閉状態として、端子Ｘ１，Ｘ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加した状態で、他方のパネルの端子Ｙ１，Ｙ２の電圧レベルをそれぞれ測定する。
電圧Ｙｐ１及びＹｐ２は、図７に示す状態で測定した電圧ＸＰ及びＸＮである。すなわち、図４の状態に対し、スイッチＳＷ２を開状態、スイッチＳＷ１を閉状態として、端子Ｙ１，Ｙ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加した状態で、他方のパネルの端子Ｘ１，Ｘ２の電圧レベルをそれぞれ測定する。
Voltages Xp1 and Xp2 are voltages YP and YN measured in the state shown in FIG. That is, with respect to the state of FIG. 3, with the switch SW5 open and the switch SW4 closed, the voltage level of the power supply VDD is applied between the terminals X1 and X2, and the voltage levels of the terminals Y1 and Y2 of the other panel are Measure each.
The voltages Yp1 and Yp2 are the voltages XP and XN measured in the state shown in FIG. That is, with respect to the state of FIG. 4, with the switch SW2 open and the switch SW1 closed, the voltage level of the terminals X1 and X2 on the other panel is set with the voltage of the power supply VDD applied between the terminals Y1 and Y2. Measure each.
さらに、電圧Ｚ１は、図８に示す状態で測定した電圧ＸＰである。すなわち、電圧Ｚ１の測定時には、スイッチＳＷ１及びＳＷ６を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｙ１に電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｘ２を接地接続する。そして、この状態で、端子Ｙ１の電圧レベルを測定する。ここで、図８は、１点タッチした際の各端子間の回路構成を示している。 Further, the voltage Z1 is the voltage XP measured in the state shown in FIG. That is, when the voltage Z1 is measured, the switches SW1 and SW6 are closed and the other switches are controlled to be open, so that the voltage of the power supply VDD is applied to the terminal Y1 and the terminal X2 is grounded. In this state, the voltage level of the terminal Y1 is measured. Here, FIG. 8 shows a circuit configuration between the terminals when one point is touched.
また、電圧Ｚ２は、図９に示す状態で測定した電圧ＹＮである。すなわち、電圧Ｚ２の測定時には、図８と同様にスイッチＳＷ１及びＳＷ６を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｙ１に電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｘ２を接地接続する。そして、この状態で、端子Ｙ２の電圧レベルを測定する。ここで、図９は、１点タッチした際の各端子間の回路構成を示している。
なお、各種データを取得する際には、平均化処理等を実施するようにしてもよい。平均化処理としては、例えば、６データを取得し、その６データのうち最大値及び最小値を削除した後、残りの４データの平均を取る処理を行う。これにより、測定データの信頼性を向上させることができる。
Voltage Z2 is voltage YN measured in the state shown in FIG. That is, when the voltage Z2 is measured, the switches SW1 and SW6 are closed and the other switches are controlled to be open as in FIG. 8, so that the voltage of the power supply VDD is applied to the terminal Y1 and the terminal X2 is grounded. Connecting. In this state, the voltage level of the terminal Y2 is measured. Here, FIG. 9 shows a circuit configuration between the terminals when one point is touched.
In addition, when acquiring various data, an averaging process or the like may be performed. As the averaging process, for example, 6 data are acquired, and after the maximum value and the minimum value are deleted from the 6 data, a process of averaging the remaining 4 data is performed. Thereby, the reliability of measurement data can be improved.
次に、ステップＳ１２では、前記ステップＳ１１で取得した電圧Ｘｐ１及びＸｐ２に基づいて、下記（１）式をもとにＸ座標Ｘｐを算出し、前記ステップＳ１１で取得した電圧Ｙｐ１及びＹｐ２に基づいて、下記（２）式をもとにＹ座標Ｙｐを算出する。
Ｘｐ＝（Ｘｐ１＋Ｘｐ２）／２ ………（１）
Ｙｐ＝（Ｙｐ１＋Ｙｐ２）／２ ………（２）
ここで算出した座標（Ｘｐ，Ｙｐ）は、２点タッチの際の２点の中心座標となる。
次に、ステップＳ１３では、前記ステップＳ１１で取得した電圧Ｒ＿ＸＰと、メモリに記憶した基準電圧Ｒ＿ＸＰ０との差分（Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ）が、予め設定した判定閾値Ｄ＿ＸＹより大きいか否かを判定する。そして、Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ＞Ｄ＿ＸＹである場合には、２点タッチされていると判断して後述するステップＳ１５に移行する。
Next, in step S12, based on the voltages Xp1 and Xp2 acquired in step S11, the X coordinate Xp is calculated based on the following equation (1), and based on the voltages Yp1 and Yp2 acquired in step S11. The Y coordinate Yp is calculated based on the following equation (2).
Xp = (Xp1 + Xp2) / 2 (1)
Yp = (Yp1 + Yp2) / 2 (2)
The coordinates (Xp, Yp) calculated here are the center coordinates of two points at the time of two-point touch.
Next, in step S13, it is determined whether or not the difference (R_XP0-R_XP) between the voltage R_XP acquired in step S11 and the reference voltage R_XP0 stored in the memory is greater than a preset determination threshold D_XY. If R_XP0-R_XP> D_XY, it is determined that two points are touched, and the process proceeds to step S15 described later.
一方、Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ≦Ｄ＿ＸＹである場合にはステップＳ１４に移行し、前記ステップＳ１１で取得した電圧Ｒ＿ＹＰと、メモリに記憶した基準電圧Ｒ＿ＹＰ０との差分（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）が、予め設定した判定閾値Ｄ＿ＸＹより大きいか否かを判定する。そして、Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ≦Ｄ＿ＸＹである場合には、１点タッチであると判断してステップＳ１５に移行する。 On the other hand, if R_XP0−R_XP ≦ D_XY, the process proceeds to step S14, and a difference (R_YP0−R_YP) between the voltage R_YP acquired in step S11 and the reference voltage R_YP0 stored in the memory is set in advance as a determination threshold value. It is determined whether it is greater than D_XY. If R_YP0−R_YP ≦ D_XY, it is determined that the touch is one point, and the process proceeds to step S15.
ステップＳ１５では、前記ステップＳ１１で取得した電圧Ｘｐ１，Ｙｐ１をタッチ位置のＸＹ座標として出力し、タッチ処理を終了する。
一方、前記ステップＳ１４で、Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ＞Ｄ＿ＸＹであると判定した場合には、２点タッチされていると判断してステップＳ１６に移行し、押圧パラメータＸＺ２１を算出する。この押圧パラメータＸＺ２１は、タッチ入力点の押圧力と相関関係のあるパラメータであり、当該押圧力が大きいほど小さくなる値である。ここでは、次式をもとに押圧パラメータＸＺ２１を算出する。
ＸＺ２１＝Ｘｐ／４０９６（Ｚ２／Ｚ１−１） ………（３）
なお、上記（３）式は、１２ｂｉｔ（２12＝４０９６）の場合の算出式である。
In step S15, the voltages Xp1 and Yp1 acquired in step S11 are output as XY coordinates of the touch position, and the touch process is terminated.
On the other hand, if it is determined in step S14 that R_YP0-R_YP> D_XY, it is determined that two points are touched, the process proceeds to step S16, and the pressing parameter XZ21 is calculated. The pressing parameter XZ21 is a parameter having a correlation with the pressing force at the touch input point, and is a value that decreases as the pressing force increases. Here, the pressing parameter XZ21 is calculated based on the following equation.
XZ21 = Xp / 4096 (Z2 / Z1-1) (3)
The above equation (3) is a calculation equation for 12 bits (2 12 = 4096).
次に、ステップＳ１７では、前記ステップＳ１６で算出した押圧パラメータＸＺ２１が、予め設定した判定閾値Ｄ＿ＸＺ２１より小さいか否かを判定する。そして、ＸＺ２１≧Ｄ＿ＸＺ２１である場合には、タッチ入力点に一定圧力がかかっていないものと判断して、そのままタッチ処理を終了する。一方、ＸＺ２１＜Ｄ＿ＸＺ２１である場合には、タッチ入力点に一定圧力がかかっているものと判断してステップＳ１８に移行する。
ステップＳ１８では、次式をもとにＸ方向の２点間距離ＸＤｕａｌを算出する。
ＸＤｕａｌ＝Ａ・（Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ−Ｂ）・（ＸＺ２１＋Ｃ）＋Ｄ ………（４）
ここで、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄはそれぞれ予め設定した定数である。
Next, in step S17, it is determined whether or not the pressing parameter XZ21 calculated in step S16 is smaller than a preset determination threshold value D_XZ21. If XZ21 ≧ D_XZ21, it is determined that a constant pressure is not applied to the touch input point, and the touch process is terminated as it is. On the other hand, if XZ21 <D_XZ21, it is determined that a constant pressure is applied to the touch input point, and the process proceeds to step S18.
In step S18, a distance XDual between two points in the X direction is calculated based on the following equation.
XDual = A. (R_XP0-R_XP-B). (XZ21 + C) + D (4)
Here, A, B, C, and D are preset constants.
このように、基準電圧Ｒ＿ＸＰ０と電圧Ｒ＿ＸＰとの差分に基づいて算出される２点間距離基準値Ａ・（Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ−Ｂ）を、押圧パラメータＸＺ２１ともとに設定される補正係数（ＸＺ２１＋Ｃ）で補正することで、Ｘ方向の２点間距離ＸＤｕａｌを算出する。
次に、ステップＳ１９では、次式をもとにＹ方向の２点間距離ＹＤｕａｌを算出する。
ＹＤｕａｌ＝Ａ・（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ−Ｂ）・（ＸＺ２１＋Ｃ）＋Ｄ ………（５）
Thus, the correction coefficient (XZ21 + C) that is set together with the pressing parameter XZ21 by using the two-point distance reference value A · (R_XP0−R_XP−B) calculated based on the difference between the reference voltage R_XP0 and the voltage R_XP. By correcting with, the distance XDual between two points in the X direction is calculated.
Next, in step S19, the distance YDual between two points in the Y direction is calculated based on the following equation.
YDual = A. (R_YP0-R_YP-B). (XZ21 + C) + D (5)
このように、基準電圧Ｒ＿ＹＰ０と電圧Ｒ＿ＹＰとの差分に基づいて算出される２点間距離基準値Ａ・（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ−Ｂ）を、押圧パラメータＸＺ２１ともとに設定される補正係数（ＸＺ２１＋Ｃ）で補正することで、Ｙ方向の２点間距離ＹＤｕａｌを算出する。
そして、ステップＳ２０では、前記ステップＳ１８及びＳ１９で算出した２点間距離ＸＤｕａｌ及びＹＤｕａｌを出力し、ステップＳ２１に移行する。
ステップＳ２１では、前記ステップＳ１２で検出した２点の中心座標（Ｘｐ，Ｙｐ）を出力し、ステップＳ２２へ移行する。
Thus, the correction coefficient (XZ21 + C) that is set together with the pressure parameter XZ21 using the distance between the two-point reference value A · (R_YP0−R_YP−B) calculated based on the difference between the reference voltage R_YP0 and the voltage R_YP. The distance YDual between the two points in the Y direction is calculated by correcting with.
In step S20, the two-point distances XDual and YDual calculated in steps S18 and S19 are output, and the process proceeds to step S21.
In step S21, the central coordinates (Xp, Yp) of the two points detected in step S12 are output, and the process proceeds to step S22.
ステップＳ２２では、前記ステップＳ１１で取得した電圧Ｙｐ２が電圧Ｙｐ１より大きいか否かを判定する。そして、Ｙｐ２＞Ｙｐ１である場合にはステップＳ２３に移行し、２点の方向を示す情報ｄＹを“＋１”に設定して後述するステップＳ２５に移行する。一方、Ｙｐ２≦Ｙｐ１である場合にはステップＳ２４に移行し、上記ｄＹを“−１”に設定して後述するステップＳ２５に移行する。 In step S22, it is determined whether or not the voltage Yp2 acquired in step S11 is greater than the voltage Yp1. If Yp2> Yp1, the process proceeds to step S23, information dY indicating the direction of two points is set to “+1”, and the process proceeds to step S25 described later. On the other hand, if Yp2 ≦ Yp1, the process proceeds to step S24, dY is set to “−1”, and the process proceeds to step S25 described later.
２点の座標を（ｘａ，ｙａ）、（ｘｂ，ｙｂ）（但し、ｘａ＜ｘｂ）としたとき、２点の中心座標と２点間距離の情報では、ｙ座標値が入れ替わった（ｘａ，ｙｂ）、（ｘｂ，ｙａ）との区別ができない。図７の回路では、ＸＮの電圧はｙａの影響、ＸＰの電圧はｙｂの影響を受けやすいため、Ｙｐ２＞Ｙｐ１のときはｙａ＞ｙｂ、Ｙｐ２＜Ｙｐ１のときはｙａ＜ｙｂであると判断する。
すなわち、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＞ｙｂのときはｄＹ＝＋１、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＜ｙｂのときはｄＹ＝−１となる。
そして、ステップＳ２５では２点の方向を示す情報ｄＹを出力し、タッチ処理を終了する。
なお、図５のステップＳ１１が端子間抵抗測定手段に対応し、ステップＳ１３及びＳ１４が２点タッチ判定手段に対応し、ステップＳ１６が押圧力検出手段に対応し、ステップＳ１８及びＳ１９が２点間距離検出手段に対応している。
When the coordinates of the two points are (xa, ya) and (xb, yb) (where xa <xb), the y-coordinate values are interchanged in the information of the center coordinates of the two points and the distance between the two points (xa, yb) and (xb, ya) cannot be distinguished. In the circuit of FIG. 7, the voltage of XN is easily affected by ya and the voltage of XP is easily affected by yb. Therefore, it is determined that ya> yb when Yp2> Yp1, and ya <yb when Yp2 <Yp1. .
That is, dY = + 1 when xa <xb and ya> yb, and dY = −1 when xa <xb and ya <yb.
In step S25, information dY indicating the direction of the two points is output, and the touch process is terminated.
5 corresponds to the inter-terminal resistance measuring means, steps S13 and S14 correspond to the two-point touch determination means, step S16 corresponds to the pressing force detection means, and steps S18 and S19 are between the two points. It corresponds to the distance detection means.
（動作）
次に、本実施形態の動作について説明する。
今、操作者がタッチパネルＴＰをタッチしていない状態であるとすると、制御部１０は、図２の初期化処理を実行開始し、図３に示す接続状態となるようにスイッチＳＷ１〜ＳＷ６を制御して電圧Ｒ＿ＸＰを測定する（ステップＳ１）。次に、図４に示す接続状態となるようにスイッチＳＷ１〜ＳＷ６を制御して電圧Ｒ＿ＹＰを測定する（ステップＳ２）。そして、測定した電圧を、それぞれ電圧Ｒ＿ＸＰ０及び電圧Ｒ＿ＹＰ０として設定し（ステップＳ３）、これらをメモリに格納する（ステップＳ４）。
(Operation)
Next, the operation of this embodiment will be described.
Now, assuming that the operator is not touching the touch panel TP, the
その後、タッチパネルＴＰがタッチされると、制御部１０は図５のタッチ処理を実行開始する。そして、タッチ位置の座標検出、２点タッチ判定及び２点間距離の検出に用いる各種データ（電圧Ｒ＿ＸＰ，Ｒ＿ＹＰ，Ｘｐ１，Ｘｐ２，Ｙｐ１，Ｙｐ２，Ｚ１，Ｚ２）を取得する（ステップＳ１１）。
図１０は、１点タッチの場合の端子間抵抗の状態を示す図である。ここでは、Ａ点をタッチした場合を示している。
Thereafter, when the touch panel TP is touched, the
FIG. 10 is a diagram illustrating a state of resistance between terminals in the case of one-point touch. Here, a case where point A is touched is shown.
このように、１点タッチの場合、端子Ｙ１，Ｙ２間の抵抗値は、点Ａの位置にかかわらずＲ３＋Ｒ４＝Ｒ０（一定）であるため、電圧Ｒ＿ＹＰも点Ａの位置にかかわらず一定値となる。また、１点タッチの場合の端子間抵抗値は、タッチされていない場合の端子間抵抗値と等しく、１点タッチ時の電圧Ｒ＿ＹＰは、タッチされていないときの電圧Ｒ＿ＹＰ０と同じ値となる。同様に、１点タッチ時の電圧Ｒ＿ＸＰは、タッチされていないときの電圧Ｒ＿ＸＰ０と同じ値となる。
したがって、この場合にはＲ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ＜Ｄ＿ＸＹ（ステップＳ１３でＮｏ）、Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ＜Ｄ＿ＸＹ（ステップＳ１４でＮｏ）となるため、制御部１０は１点タッチであると判断し、タッチ位置の座標Ｘｐ１，Ｙｐ１を出力して（ステップＳ１５）タッチ処理を終了する。
In this way, in the case of one-point touch, the resistance value between the terminals Y1 and Y2 is R3 + R4 = R0 (constant) regardless of the position of the point A, so that the voltage R_YP is also a constant value regardless of the position of the point A. Become. Further, the inter-terminal resistance value in the case of one-point touch is equal to the inter-terminal resistance value in the case of not touching, and the voltage R_YP at the time of one-point touch becomes the same value as the voltage R_YP0 when not touched. Similarly, the voltage R_XP at the time of one-point touch has the same value as the voltage R_XP0 when not touched.
Therefore, in this case, R_XP0-R_XP <D_XY (No in step S13) and R_YP0-R_YP <D_XY (No in step S14), so that the
次に、２点タッチの場合について説明する。
図４に示すように、タッチパネルＴＰ上の点Ｂ１，Ｂ２をタッチした場合、端子Ｙ１，Ｙ２間には、Ｂ１，Ｂ２で上層パネル（タッチパネルＴＰ１）が下層パネル（タッチパネルＴＰ２）と接触することにより、抵抗Ｒ８〜Ｒ１０が発生する。ここで、抵抗Ｒ８は点Ｂ１での上下パネル間の抵抗値、抵抗Ｒ９は点Ｂ２での上下パネル間の抵抗値、Ｒ１０はタッチパネルＴＰ２上での点Ｂ１−Ｂ２間の抵抗値である。
Next, the case of two-point touch will be described.
As shown in FIG. 4, when the points B1 and B2 on the touch panel TP are touched, the upper panel (touch panel TP1) contacts the lower panel (touch panel TP2) at B1 and B2 between the terminals Y1 and Y2. Resistors R8 to R10 are generated. Here, the resistance R8 is the resistance value between the upper and lower panels at the point B1, the resistance R9 is the resistance value between the upper and lower panels at the point B2, and R10 is the resistance value between the points B1 and B2 on the touch panel TP2.
すなわち、２点タッチの場合、端子Ｙ１，Ｙ２間の抵抗値は、Ｒ５＋（Ｒ７／／（Ｒ８＋Ｒ９＋Ｒ１０））＋Ｒ６となる。ここで、「／／」は、並列接続の合成抵抗値を示す記号である。
このように、Ｂ１，Ｂ２間の抵抗（Ｒ７／／（Ｒ８＋Ｒ９＋Ｒ１０））は、上層パネル（タッチパネルＴＰ１）上での点Ｂ１−Ｂ２間の抵抗Ｒ７より小さくなる。そのため、２点タッチ時の電圧Ｒ＿ＹＰは、タッチされていないときの電圧Ｒ＿ＹＰ０より小さくなる。
That is, in the case of two-point touch, the resistance value between the terminals Y1 and Y2 is R5 + (R7 // (R8 + R9 + R10)) + R6. Here, “//” is a symbol indicating the combined resistance value of the parallel connection.
Thus, the resistance (R7 // (R8 + R9 + R10)) between B1 and B2 is smaller than the resistance R7 between the points B1 and B2 on the upper panel (touch panel TP1). Therefore, the voltage R_YP at the time of two-point touch is smaller than the voltage R_YP0 when not touched.
したがって、この場合にはＲ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ＞Ｄ＿ＸＹ（ステップＳ１４でＹｅｓ）となるため、制御部１０は２点タッチであると判断する。
このように、２点タッチのときは１点タッチのときと比較して各パネルの端子間抵抗値が小さくなることを利用して、２点タッチであるか否かを判定する。そして、２点タッチであると判定した場合には、その２点間の距離を算出する処理を行う。
Therefore, in this case, since R_YP0−R_YP> D_XY (Yes in step S14), the
In this way, it is determined whether or not the touch is a two-point touch by utilizing the fact that the resistance value between terminals of each panel is smaller in the case of a two-point touch than in the case of a one-point touch. If it is determined that the touch is a two-point touch, a process for calculating the distance between the two points is performed.
ところで、（Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ）や（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）は、上下パネルの接触点での接触抵抗値（タッチ入力点の押圧力）が一定である場合には２点間距離のみに相関のある値となる。しかしながら、２点間距離が一定であっても、接触抵抗値が変化すると、（Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ）や（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）も変化する。
図１１は、２点間距離を一定としたときの接触抵抗値と（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）との関係を示す図であり、横軸にパネルのＸ方向の抵抗値で正規化した接触抵抗値、縦軸に（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）を取っている。この図１１に示すように、押圧力が大きいほど、即ち接触抵抗値が小さいほど（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）は大きくなる。したがって、２点間距離を正確に算出するには、この接触抵抗値（押圧力）を考慮する必要がある。
By the way, (R_XP0-R_XP) and (R_YP0-R_YP) are values that correlate only with the distance between two points when the contact resistance value (the pressing force at the touch input point) at the contact point of the upper and lower panels is constant. It becomes. However, even if the distance between the two points is constant, if the contact resistance value changes, (R_XP0-R_XP) and (R_YP0-R_YP) also change.
FIG. 11 is a diagram showing the relationship between the contact resistance value when the distance between two points is constant and (R_YP0−R_YP), and the horizontal axis represents the contact resistance value normalized by the resistance value in the X direction of the panel. The vertical axis represents (R_YP0−R_YP). As shown in FIG. 11, the larger the pressing force, that is, the smaller the contact resistance value, the larger (R_YP0-R_YP). Therefore, in order to accurately calculate the distance between two points, it is necessary to consider this contact resistance value (pressing force).
そこで本実施形態では、接触抵抗値（押圧力）と相関関係のある押圧パラメータＸＺ２１を用いて２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを補正する。
１点タッチの場合の接触抵抗値Ｒｔは、Ｘ方向のタッチパネルＴＰ２のシート抵抗Ｒｘｐｌａｔｅが既知の場合、次式で求められる。
Ｒｔ＝Ｒｘｐｌａｔｅ・Ｘｐ／４０９６（Ｚ２／Ｚ１−１） ………（６）
そこで、上記（６）式をもとに上記（３）式に示すパラメータを設定し、これを押圧パラメータＸＺ２１として算出する（ステップＳ１６）。
Therefore, in the present embodiment, the distance between two points XDual and YDual is corrected using a pressing parameter XZ21 having a correlation with the contact resistance value (pressing force).
When the sheet resistance Rxplate of the touch panel TP2 in the X direction is known, the contact resistance value Rt in the case of one-point touch is obtained by the following equation.
Rt = Rxplate · Xp / 4096 (Z2 / Z1-1) (6)
Therefore, the parameter shown in the above equation (3) is set based on the above equation (6), and this is calculated as the pressing parameter XZ21 (step S16).
２点タッチの場合、上記（６）式をもとに算出した接触抵抗値Ｒｔは、電圧Ｚ１，Ｚ２の測定点に近い方に位置するタッチ入力点での接触抵抗値の影響を受け易くなるが、２点の接触抵抗値が同程度であれば、上記（３）式により接触抵抗にほぼ比例する値を得ることができる。そのため、本実施形態では、２点タッチの場合であっても、１点タッチの場合の接触抵抗算出式をもとに押圧パラメータＸＺ２１の算出式を設定する。このように、１点タッチ時の算出式で代用することで、押圧パラメータＸＺ２１の算出処理を簡潔にすることができる。 In the case of two-point touch, the contact resistance value Rt calculated based on the above equation (6) is easily affected by the contact resistance value at the touch input point located closer to the measurement point of the voltages Z1 and Z2. However, if the contact resistance values at the two points are approximately the same, a value substantially proportional to the contact resistance can be obtained from the above equation (3). For this reason, in the present embodiment, even in the case of two-point touch, the calculation formula of the pressing parameter XZ21 is set based on the contact resistance calculation formula in the case of one-point touch. In this way, the calculation process of the pressing parameter XZ21 can be simplified by substituting the calculation formula at the time of one-point touch.
次に、算出した押圧パラメータＸＺ２１を用いて、上記（４）式及び（５）式をもとに２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを算出する（ステップＳ１８，Ｓ１９）。
このとき、タッチ入力点の押圧力が大きいほど接触抵抗値は小さくなるため、上記（３）式における電圧Ｚ１と電圧Ｚ２とが近い値となって、Ｚ２／Ｚ１が“１”に近づく。つまり、押圧パラメータＸＺ２１は“０”に近づく。
Next, using the calculated pressing parameter XZ21, the distance between two points XDual, YDual is calculated based on the above equations (4) and (5) (steps S18, S19).
At this time, the larger the pressing force at the touch input point, the smaller the contact resistance value. Therefore, the voltage Z1 and the voltage Z2 in the above equation (3) are close to each other, and Z2 / Z1 approaches “1”. That is, the pressing parameter XZ21 approaches “0”.
したがって、タッチ入力点の押圧力が大きいほど、２点間距離基準値Ａ（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ−Ｂ）の補正量は小さくなる。換言すると、タッチ入力点の押圧力が小さいほど押圧パラメータＸＺ２１を大きな値に設定して、２点間距離基準値Ａ（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ−Ｂ）を増加する補正を行う。
このように、押圧力に応じて補正係数（ＸＺ２１＋Ｃ）を決定し、２点間距離基準値Ａ（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ−Ｂ）を補正するので、押圧力に応じた適正な２点間距離を求めることができる。
Therefore, the greater the pressing force at the touch input point, the smaller the correction amount for the distance reference value A between two points (R_YP0-R_YP-B). In other words, the pressing parameter XZ21 is set to a larger value as the pressing force at the touch input point is smaller, and the correction for increasing the two-point distance reference value A (R_YP0-R_YP-B) is performed.
In this way, the correction coefficient (XZ21 + C) is determined according to the pressing force and the two-point distance reference value A (R_YP0-R_YP-B) is corrected, so that an appropriate distance between the two points according to the pressing force is obtained. be able to.
図１２は、本発明の第１の実施形態の効果を説明するための図であり、押圧力に応じた２点間距離の補正を施した場合のＹＤｕａｌを示している。
この図１２に示すように、２点間距離を一定とし、押圧力を変化させてＹＤｕａｌを算出した場合、押圧力（接触抵抗値）の影響を抑制したＹＤｕａｌを算出することができる。これは、Ｘ方向の２点間距離ＸＤｕａｌについても同様である。
FIG. 12 is a diagram for explaining the effect of the first embodiment of the present invention, and shows YDual when the distance between two points is corrected according to the pressing force.
As shown in FIG. 12, when YDual is calculated by changing the pressing force with the distance between the two points constant, YDual in which the influence of the pressing force (contact resistance value) is suppressed can be calculated. The same applies to the distance XDual between two points in the X direction.
（効果）
このように、上記実施形態では、タッチパネル上の２点がタッチされているとき、タッチ入力点の押圧力を考慮して２点間の距離を算出する。そのため、例えば、操作者が２点間距離を一定として押圧力を変化させる操作を行った場合であっても、適正に一定の２点間距離を算出することができる。また、操作者が押圧力を変化させながら２点間距離を変化させる操作を行った場合に、２点間距離が一定であると誤判定してしまうのを防止することができる。このように、精度良く２点間距離を算出することができる。
(effect)
As described above, in the above embodiment, when two points on the touch panel are touched, the distance between the two points is calculated in consideration of the pressing force of the touch input point. Therefore, for example, even when the operator performs an operation of changing the pressing force while keeping the distance between the two points constant, the constant distance between the two points can be calculated appropriately. Further, when the operator performs an operation of changing the distance between the two points while changing the pressing force, it is possible to prevent erroneous determination that the distance between the two points is constant. Thus, the distance between two points can be calculated with high accuracy.
また、２点間距離を算出する際には、タッチパネルがタッチされていないときの端子間抵抗値と、タッチパネルがタッチされたときの端子間抵抗値との差分に基づいて２点間距離の基準値を算出し、この基準値を押圧力に応じて補正する。これにより、押圧力（接触抵抗値）の変化に伴う端子間抵抗値の変化分を補正することができるので、適正な２点間距離を算出することができる。
さらに、電圧Ｚ１，Ｚ２を測定し、演算により押圧力と相関関係のある押圧パラメータを求めるので、タッチ入力点の押圧力を検出するためのセンサ等を別途設ける必要がなく、タッチパネル装置の小型化及びコストの削減を実現することができる。
Further, when calculating the distance between two points, the reference of the distance between the two points based on the difference between the inter-terminal resistance value when the touch panel is not touched and the inter-terminal resistance value when the touch panel is touched. A value is calculated, and this reference value is corrected according to the pressing force. Thereby, since the change of the resistance value between terminals accompanying the change of pressing force (contact resistance value) can be correct | amended, the appropriate distance between two points can be calculated.
Further, since the voltage Z1 and Z2 are measured and a pressing parameter correlated with the pressing force is obtained by calculation, there is no need to separately provide a sensor or the like for detecting the pressing force at the touch input point, and the touch panel device can be downsized. In addition, cost reduction can be realized.
（応用例）
なお、上記第１の実施形態においては、２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを算出した後、これら２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを用いて、図１３に示す２点タッチのジェスチャ（拡大（２本の指を開く動作）、縮小（２本の指を閉じる動作）、回転（指を移動する動作））を判定するようにしてもよい。この場合、上述した図５のタッチ処理を実行した後、図１４に示すジェスチャ判断処理を実行する。
先ずステップＳ３１で、次式をもとに２点間距離の変化量ＤｕａｌＭｏｖｅを算出する。
ＤｕａｌＭｏｖｅ＝ＸＤｕａｌ−ＸＤｕａｌ０＋ＹＤｕａｌ−ＹＤｕａｌ０ ………（７）
ここで、ＸＤｕａｌ０，ＹＤｕａｌ０は前回のサンプリングで算出した２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌである。
(Application examples)
In the first embodiment, after calculating the two-point distances XDual and YDual, the two-point distance XDual and YDual are used to perform a two-point touch gesture (enlarged (two) (Operation to open a finger), reduction (operation to close two fingers), rotation (operation to move a finger)) may be determined. In this case, the gesture determination process shown in FIG. 14 is executed after the touch process shown in FIG. 5 is executed.
First, in step S31, a change amount DualMove of the distance between two points is calculated based on the following equation.
DualMove = XDual−XDual0 + YDual−YDual0 (7)
Here, XDual0 and YDual0 are the two-point distances XDual and YDual calculated in the previous sampling.
次にステップＳ３２では、Ｘ方向の２点間距離ＸＤｕａｌが前回値ＸＤｕａｌ０より大きいか否かを判定し、ＸＤｕａｌ＞ＸＤｕａｌ０である場合には、Ｘ方向の２点間距離が増加していると判断してステップＳ３３に移行し、ＸＤｕａｌ≦ＸＤｕａｌ０である場合には後述するステップＳ３６に移行する。
ステップＳ３３では、Ｙ方向の２点間距離ＹＤｕａｌが前回値ＹＤｕａｌ０より大きいか否かを判定し、ＹＤｕａｌ＞ＹＤｕａｌ０である場合には、Ｙ方向の２点間距離が増加していると判断してステップＳ３４に移行し、ＹＤｕａｌ≦ＹＤｕａｌ０である場合には後述するステップＳ４０に移行する。
Next, in step S32, it is determined whether or not the distance XDual between the two points in the X direction is greater than the previous value XDual0. If XDual> XDual0, it is determined that the distance between the two points in the X direction has increased. Then, the process proceeds to step S33. If XDual ≦ XDual0, the process proceeds to step S36 described later.
In step S33, it is determined whether or not the distance YDual between the two points in the Y direction is greater than the previous value YDual0. If YDual> YDual0, it is determined that the distance between the two points in the Y direction has increased. The process proceeds to step S34, and if YDual ≦ YDual0, the process proceeds to step S40 described later.
ステップＳ３４では、前記ステップＳ３１で算出した２点間距離の変化量ＤｕａｌＭｏｖｅが、予め設定した判定閾値ｎ１より大きいか否かを判定する。そして、ＤｕａｌＭｏｖｅ≦ｎ１である場合には後述するステップＳ４０に移行し、ＤｕａｌＭｏｖｅ＞ｎ１である場合には、ステップＳ３５に移行して２点タッチのジェスチャが拡大操作であると判断し、ジェスチャ判断処理を終了する。
ステップＳ３６では、Ｙ方向の２点間距離ＹＤｕａｌが前回値ＹＤｕａｌ０より小さいか否かを判定し、ＹＤｕａｌ＜ＹＤｕａｌ０である場合には、Ｙ方向の２点間距離が減少していると判断してステップＳ３７に移行し、ＹＤｕａｌ≧ＹＤｕａｌ０である場合には後述するステップＳ４０に移行する。
In step S34, it is determined whether or not the change amount DualMove of the distance between the two points calculated in step S31 is larger than a predetermined determination threshold value n1. If DualMove ≦ n1, the process proceeds to step S40, which will be described later. If DualMove> n1, the process proceeds to step S35, where it is determined that the two-point touch gesture is an enlargement operation, and gesture determination processing is performed. Exit.
In step S36, it is determined whether or not the distance YDual between the two points in the Y direction is smaller than the previous value YDual0. If YDual <YDual0, it is determined that the distance between the two points in the Y direction has decreased. The process proceeds to step S37, and if YDual ≧ YDual0, the process proceeds to step S40 described later.
ステップＳ３７では、前記ステップＳ３１で算出した２点間距離の変化量ＤｕａｌＭｏｖｅの符号を反転し、ステップＳ３８に移行する。そして、ステップＳ３８では、前記ステップＳ３７で設定した２点間距離の変化量ＤｕａｌＭｏｖｅが、予め設定した判定閾値ｎ２より大きいか否かを判定する。ＤｕａｌＭｏｖｅ≦ｎ２である場合には後述するステップＳ４０に移行し、ＤｕａｌＭｏｖｅ＞ｎ２である場合には、ステップＳ３９に移行して２点タッチのジェスチャが縮小操作であると判断し、ジェスチャ判断処理を終了する。 In step S37, the sign of the change amount DualMove of the distance between the two points calculated in step S31 is inverted, and the process proceeds to step S38. In step S38, it is determined whether or not the change amount DualMove of the distance between the two points set in step S37 is larger than a preset determination threshold value n2. If DualMove ≦ n2, the process proceeds to step S40, which will be described later. If DualMove> n2, the process proceeds to step S39, where it is determined that the two-point touch gesture is a reduction operation, and the gesture determination process ends. To do.
また、ステップＳ４０では、２点タッチのジェスチャが回転操作であると判断し、図１５に示す回転判断処理を実行してからジェスチャ判断処理を終了する。
図１５に示すように、回転判断処理では、先ずステップＳ４１でＸ方向変化量ｄＸｐ＝Ｘｐ−Ｘｐ０を算出する。ここで、Ｘｐ０は、前回のサンプリングで算出したＸ座標Ｘｐである。
次にステップＳ４２では、Ｙ方向変化量ｄＹｐ＝Ｙｐ−Ｙｐ０を算出する。ここで、Ｙｐ０は、前回のサンプリングで算出したＹ座標Ｙｐである。
In step S40, it is determined that the two-point touch gesture is a rotation operation, the rotation determination process shown in FIG. 15 is executed, and the gesture determination process is terminated.
As shown in FIG. 15, in the rotation determination process, first, in step S41, an X direction change amount dXp = Xp−Xp0 is calculated. Here, Xp0 is the X coordinate Xp calculated in the previous sampling.
Next, in step S42, a Y-direction change amount dYp = Yp−Yp0 is calculated. Here, Yp0 is the Y coordinate Yp calculated in the previous sampling.
次にステップＳ４３では、前記ステップＳ４１で算出したＸ方向変化量ｄＸｐが予め設定した回転判断閾値Ｄ＿Ｒｏｔ（＞０）より大きいか否かを判定する。そして、ｄＸｐ＞Ｄ＿Ｒｏｔである場合にはステップＳ４４に移行して、２点タッチのジェスチャが右回転操作であると判断し、回転判断処理を終了する。一方、ｄＸｐ≦Ｄ＿Ｒｏｔである場合にはステップＳ４５に移行し、前記ステップＳ４２で算出したＹ方向変化量ｄＹｐが回転判断閾値Ｄ＿Ｒｏｔより大きいか否かを判定する。そして、ｄＹｐ＞Ｄ＿Ｒｏｔである場合には前記ステップＳ４４に移行し、ｄＹｐ≦Ｄ＿Ｒｏｔである場合にはステップＳ４６に移行する。 Next, in step S43, it is determined whether or not the X-direction change amount dXp calculated in step S41 is greater than a preset rotation determination threshold value D_Rot (> 0). If dXp> D_Rot, the process proceeds to step S44, where it is determined that the two-point touch gesture is a right rotation operation, and the rotation determination process ends. On the other hand, if dXp ≦ D_Rot, the process proceeds to step S45, and it is determined whether or not the Y-direction change amount dYp calculated in step S42 is larger than the rotation determination threshold D_Rot. If dYp> D_Rot, the process proceeds to step S44. If dYp ≦ D_Rot, the process proceeds to step S46.
ステップＳ４６では、前記ステップＳ４１で算出したＸ方向変化量ｄＸｐが回転判断閾値−Ｄ＿Ｒｏｔより小さいか否かを判定する。そして、ｄＸｐ＜−Ｄ＿Ｒｏｔである場合にはステップＳ４７に移行して、２点タッチのジェスチャが左回転操作であると判断し、回転判断処理を終了する。一方、ｄＸｐ≧−Ｄ＿Ｒｏｔである場合にはステップＳ４８に移行し、前記ステップＳ４２で算出したＹ方向変化量ｄＹｐが回転判断閾値−Ｄ＿Ｒｏｔより小さいか否かを判定する。そして、ｄＹｐ＜−Ｄ＿Ｒｏｔである場合には前記ステップＳ４７に移行し、ｄＹｐ≧−Ｄ＿Ｒｏｔである場合にはそのまま回転判断処理を終了する。 In step S46, it is determined whether or not the X-direction change amount dXp calculated in step S41 is smaller than the rotation determination threshold -D_Rot. If dXp <−D_Rot, the process proceeds to step S47, where it is determined that the two-point touch gesture is a left rotation operation, and the rotation determination process ends. On the other hand, if dXp ≧ −D_Rot, the process proceeds to step S48, and it is determined whether or not the Y-direction change amount dYp calculated in step S42 is smaller than the rotation determination threshold −D_Rot. If dYp <−D_Rot, the process proceeds to step S47. If dYp ≧ −D_Rot, the rotation determination process is terminated.
上述したように、２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを算出する際に、押圧力に応じた補正を施し接触抵抗値の影響を抑制しているため、このようにして算出した２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを用いることで、精度の良いジェスチャ判定を行うことができる。
例えば、縮小の動作においては、２点が押され始めてから、２本指を閉じるにしたがって押圧力が徐々に大きくなる場合がある。このような場合、押圧力を考慮した補正を行わないと、時間経過に伴って（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）は図１６に示すように変化する。このように、実際の２点間距離は徐々に小さくなっているにもかかわらず、図中αで示す期間では（Ｒ＿ＹＰ０−Ｒ＿ＹＰ）が増加傾向にあり、２点間距離が増加している（拡大操作をしている）と誤判断してしまう。
As described above, when calculating the distance between two points XDual, YDual, the influence of the contact resistance value is suppressed by performing correction according to the pressing force, and thus the distance between the two points XDual, By using YDual, accurate gesture determination can be performed.
For example, in the reduction operation, the pressing force may gradually increase as the two fingers are closed after two points start to be pressed. In such a case, if correction in consideration of the pressing force is not performed, (R_YP0−R_YP) changes as shown in FIG. 16 as time elapses. Thus, although the actual distance between the two points is gradually decreasing, (R_YP0−R_YP) tends to increase during the period indicated by α in the figure, and the distance between the two points is increasing ( It is misjudged that you are performing an enlargement operation.
これに対して、本実施形態のように押圧力を考慮した補正を施すと、縮小操作時に押圧力が徐々に大きくなったとしても、図１７に示すように２点間距離（ここではＹＤｕａｌを示す）が徐々に減少しているのを確実に認識することができる。そのため、この場合には、２点が押されてから短時間で適正に縮小との判断を行うことができる。
このように、押圧力を考慮した補正を行うことでジェスチャの判断の確度を向上させることができ、操作者の意図に合致した操作を認識することができるタッチパネル装置とすることができる。
なお、ジェスチャ判断のみを行うタッチパネル装置とする場合には、上記（４）及び（５）式において、Ａ＝１，Ｄ＝０とすることもできる。これにより２点間距離の算出処理を簡潔にすることができる。
On the other hand, when correction is made in consideration of the pressing force as in this embodiment, even if the pressing force gradually increases during the reduction operation, the distance between the two points (here, YDual is set as shown in FIG. 17). (Shown) can be recognized with certainty. Therefore, in this case, it can be determined that the image is properly reduced in a short time after two points are pressed.
As described above, by performing correction in consideration of the pressing force, the accuracy of gesture determination can be improved, and a touch panel device that can recognize an operation that matches the operator's intention can be provided.
In the case of a touch panel device that performs only gesture determination, A = 1 and D = 0 in the above equations (4) and (5). Thereby, the calculation process of the distance between two points can be simplified.
（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。
この第２の実施形態は、前述した第１の実施形態において、２点間距離の算出に際し、上記（３）式をもとに算出した押圧パラメータＸＺ２１を用いているのに対し、２点タッチ時の各点の接触抵抗の影響を考慮した押圧パラメータＸＺ２１を用いるようにしたものである。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described.
The second embodiment uses the pressing parameter XZ21 calculated based on the above equation (3) when calculating the distance between the two points in the first embodiment described above, but the two-point touch. The pressing parameter XZ21 is used in consideration of the influence of contact resistance at each point at the time.
（構成）
２点タッチの場合、電圧Ｚ１，Ｚ２測定時は図１８に示す回路構成となる。すなわち、このときの抵抗モデルは図１９に示すようになる。
なお、ここでは、タッチされている２点をＡ，Ｂとし、タッチパネルＴＰ１側のタッチ入力点をＡ１，Ｂ１、タッチパネルＴＰ２側のタッチ入力点をＡ２，Ｂ２としている。また、タッチ入力点Ａの座標を（ｘａ，ｙａ）、タッチ入力点Ｂの座標を（ｘｂ，ｙｂ）とする。なお、ｘａ＜ｘｂである。
この第２の実施形態では、タッチパネルＴＰがタッチされているとき、前述した第１の実施形態と同様に、制御部１０で図５に示すタッチ処理を実行する。但し、この図５において、ステップＳ１６の処理が異なる。
(Constitution)
In the case of two-point touch, the circuit configuration shown in FIG. 18 is obtained when the voltages Z1 and Z2 are measured. That is, the resistance model at this time is as shown in FIG.
Here, two touched points are A and B, touch input points on the touch panel TP1 side are A1 and B1, and touch input points on the touch panel TP2 side are A2 and B2. Further, the coordinates of the touch input point A are (xa, ya) and the coordinates of the touch input point B are (xb, yb). Note that xa <xb.
In the second embodiment, when the touch panel TP is touched, the touch process shown in FIG. 5 is executed by the
本実施形態では、ステップＳ１６で図２０に示す押圧パラメータ算出処理を実行する。
先ずステップＳ５１で、タッチされた２点の位置関係を判定する。ここでは、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＞ｙｂであるか否かを判定し、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＞ｙｂである場合には、点Ａ，Ｂが図２１に示す位置関係にあると判断してステップＳ５２に移行する。具体的には、ステップＳ１１で測定したＹｐ１、Ｙｐ２に基づいて、Ｙｐ１＜Ｙｐ２のとき、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＞ｙｂと判断する。
In the present embodiment, the pressing parameter calculation process shown in FIG. 20 is executed in step S16.
First, in step S51, the positional relationship between the two touched points is determined. Here, it is determined whether or not xa <xb and ya> yb. If xa <xb and ya> yb, it is determined that the points A and B are in the positional relationship shown in FIG. The process proceeds to S52. Specifically, based on Yp1 and Yp2 measured in step S11, when Yp1 <Yp2, it is determined that xa <xb and ya> yb.
ステップＳ５２では、図２２（ａ）に示す状態での電圧ＸＮ（電圧Ｚ１ＮＰ）と、図２２（ｂ）に示す状態での電圧ＹＰ（電圧Ｚ２ＮＰ）を取得する。すなわち、端子Ｙ２に直接電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｘ１を接地接続する。そして、この状態で、端子Ｘ２及びＹ１の電圧レベルを測定する。
すなわち、この第２の実施形態では、端子Ｙ２に電源ＶＤＤ、端子Ｘ１にＧＮＤを接続可能な構成とする。
次にステップＳ５３では、次式をもとに押圧パラメータＸＺ２１ＮＰを算出する。
ＸＺ２１ＮＰ＝（４０９６−Ｘｐ）／４０９６（Ｚ２ＮＰ／Ｚ１ＮＰ−１） ………（８）
In step S52, the voltage XN (voltage Z1NP) in the state shown in FIG. 22A and the voltage YP (voltage Z2NP) in the state shown in FIG. 22B are acquired. That is, the voltage of the power supply VDD is directly applied to the terminal Y2, and the terminal X1 is grounded. In this state, the voltage levels of the terminals X2 and Y1 are measured.
That is, in the second embodiment, the power supply VDD can be connected to the terminal Y2, and the GND can be connected to the terminal X1.
Next, in step S53, the pressing parameter XZ21NP is calculated based on the following equation.
XZ21NP = (4096-Xp) / 4096 (Z2NP / Z1NP-1) (8)
また、前記（３）式をもとに、押圧パラメータＸＺ２１（以下、ＸＺ２１ＰＮと称す）を算出する。
そして、前記ＸＺ２１ＰＮと前記ＸＺ２１ＮＰとの平均を求め、それを最終的な押圧パラメータＸＺ２１としてから押圧パラメータ算出処理を終了する。
一方、前記ステップＳ５１で、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＜ｙｂであると判定した場合（ステップＳ１１で測定したＹｐ１、Ｙｐ２に基づいて、Ｙｐ１＞Ｙｐ２であると判定した場合）には、点Ａ，Ｂが図２３に示す位置関係にあると判断してステップＳ５４に移行する。
Further, a pressing parameter XZ21 (hereinafter referred to as XZ21PN) is calculated based on the equation (3).
And the average of said XZ21PN and said XZ21NP is calculated | required, and after making it into the final press parameter XZ21, a press parameter calculation process is complete | finished.
On the other hand, if it is determined in step S51 that xa <xb and ya <yb (when it is determined that Yp1> Yp2 based on Yp1 and Yp2 measured in step S11), points A and B Are in the positional relationship shown in FIG. 23, and the process proceeds to step S54.
ステップＳ５４では、図２４（ａ）に示す状態での電圧ＸＮ（電圧Ｚ１ＰＰ）と、図２４（ｂ）に示す状態での電圧ＹＮ（電圧Ｚ２ＰＰ）を取得する。すなわち、端子Ｙ１に直接電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｘ１を接地接続する。そして、この状態で、端子Ｘ２及びＹ２の電圧レベルを測定する。
次にステップＳ５５では、次式をもとに押圧パラメータＸＺ２１ＰＰを算出する。
ＸＺ２１ＰＰ＝（４０９６−Ｘｐ）／４０９６（Ｚ２ＰＰ／Ｚ１ＰＰ−１） ………（９）
そして、前記（９）式をもとに算出したＸＺ２１ＰＰを最終的な押圧パラメータＸＺ２１としてから、押圧パラメータ算出処理を終了する。
In step S54, the voltage XN (voltage Z1PP) in the state shown in FIG. 24A and the voltage YN (voltage Z2PP) in the state shown in FIG. 24B are acquired. That is, the voltage of the power supply VDD is directly applied to the terminal Y1, and the terminal X1 is grounded. In this state, the voltage levels of the terminals X2 and Y2 are measured.
Next, in step S55, the pressing parameter XZ21PP is calculated based on the following equation.
XZ21PP = (4096-Xp) / 4096 (Z2PP / Z1PP-1) (9)
Then, after the XZ21PP calculated based on the equation (9) is set as the final pressing parameter XZ21, the pressing parameter calculation process is terminated.
（動作）
次に、本発明の第２の実施形態の動作について説明する。
今、図２１に示す２点Ａ，Ｂをタッチしているものとする。この場合、Ｒ＿ＸＰ０−Ｒ＿ＸＰ＞Ｄ＿ＸＹ（図５のステップＳ１３でＹｅｓ）となるため、制御部１０は２点タッチであると判断する。すると、制御部１０は、図２０の押圧パラメータ算出処理を実行する。
このとき、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＞ｙｂ（ステップＳ５１でＹｅｓ）であるため、前記（３）式をもとに算出したＸＺ２１（ＸＺ２１ＰＮ）と前記（８）式をもとに算出したＸＺ２１ＮＰとの平均を、最終的な押圧パラメータＸＺ２１として算出する。
(Operation)
Next, the operation of the second exemplary embodiment of the present invention will be described.
Assume that two points A and B shown in FIG. 21 are touched. In this case, since R_XP0-R_XP> D_XY (Yes in step S13 in FIG. 5), the
At this time, since xa <xb and ya> yb (Yes in step S51), XZ21 (XZ21PN) calculated based on the above equation (3) and XZ21NP calculated based on the above equation (8) The average is calculated as the final pressing parameter XZ21.
図２１に示す２点Ａ，Ｂをタッチしている場合、タッチパネルＴＰ１上の抵抗Ｒｙ４と抵抗Ｒｙ５との関係は、Ｒｙ４＞Ｒｙ５となる。また、タッチパネルＴＰ２上の抵抗Ｒｘ４と抵抗Ｒｘ５との関係は、Ｒｘ４＞Ｒｘ５となる。そのため、前記（３）式のＸＺ２１ＰＮの算出に用いる電圧Ｚ１及びＺ２は、点Ａよりも点Ｂ側の接触抵抗値の影響を受け易くなる。 When the two points A and B shown in FIG. 21 are touched, the relationship between the resistance Ry4 and the resistance Ry5 on the touch panel TP1 is Ry4> Ry5. Further, the relationship between the resistor Rx4 and the resistor Rx5 on the touch panel TP2 is Rx4> Rx5. Therefore, the voltages Z1 and Z2 used for the calculation of XZ21PN in the equation (3) are more susceptible to the contact resistance value on the point B side than the point A.
したがって、ＸＺ２１ＰＮは、点Ｂの接触抵抗値の影響を大きく受けた値となる。換言すると、ＸＺ２１ＰＮは、点Ｂの接触抵抗値（押圧力）との相関度合いが、点Ａの接触抵抗値（押圧力）との相関度合いより高い押圧パラメータであると言える。
点Ａと点Ｂとで接触抵抗値が同程度の場合には、前述した第１の実施形態のように、前記（３）式をもとに算出したＸＺ２１ＰＮが実際の接触抵抗値Ｒｔにほぼ比例する。そのため、この場合には、このＸＺ２１ＰＮを押圧パラメータＸＺ２１として用いることで、２点間距離を正確に求めることができる。
ところが、点Ａと点Ｂとで接触抵抗値が異なる場合には、ＸＺ２１ＰＮをそのまま用いるより、ＸＺ２１ＰＮとＸＺ２１ＮＰとの平均を用いた方が、精度が良い。
Therefore, XZ21PN is a value greatly influenced by the contact resistance value at point B. In other words, it can be said that XZ21PN is a pressing parameter whose degree of correlation with the contact resistance value (pressing force) at point B is higher than the degree of correlation with the contact resistance value (pressing force) at point A.
When the contact resistance values at the points A and B are approximately the same, the XZ21PN calculated based on the equation (3) is almost equal to the actual contact resistance value Rt as in the first embodiment described above. Proportional. Therefore, in this case, the distance between two points can be accurately obtained by using this XZ21PN as the pressing parameter XZ21.
However, when the contact resistance values are different between the point A and the point B, it is more accurate to use the average of XZ21PN and XZ21NP than to use XZ21PN as it is.
ＸＺ２１ＮＰは、図２２（ａ）に示す状態での電圧ＸＮ（電圧Ｚ１ＮＰ）と、図２２（ｂ）に示す状態での電圧ＹＰ（電圧Ｚ２ＮＰ）に基づいて算出される値であり、この値は点Ａの接触抵抗値の影響を大きく受けた値となる。したがって、点Ｂの接触抵抗値の影響が大きいＸＺ２１ＰＮと点Ａの接触抵抗値の影響が大きいＸＺ２１ＮＰとの平均を取ることで、点Ａと点Ｂとの平均的な値を得ることができる。すなわち、点Ａでの接触抵抗値と点Ｂでの接触抵抗値との影響を同程度とした押圧パラメータＸＺ２１を得ることができる。その結果、２点間距離をより正確に求めることができる。 XZ21NP is a value calculated based on voltage XN (voltage Z1NP) in the state shown in FIG. 22 (a) and voltage YP (voltage Z2NP) in the state shown in FIG. 22 (b). This value is greatly influenced by the contact resistance value at point A. Therefore, the average value of point A and point B can be obtained by taking the average of XZ21PN, which is greatly influenced by the contact resistance value of point B, and XZ21NP, which is highly influenced by the contact resistance value of point A. That is, it is possible to obtain the pressing parameter XZ21 in which the influence of the contact resistance value at the point A and the contact resistance value at the point B is approximately the same. As a result, the distance between the two points can be obtained more accurately.
一方、図２３に示す２点Ａ，Ｂをタッチしている場合には、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＜ｙｂ（ステップＳ５１でＮｏ）であるため、前記（９）式をもとに算出したＸＺ２１ＰＰを、最終的な押圧パラメータＸＺ２１として算出する。
図２３に示す２点Ａ，Ｂをタッチしている場合、タッチパネルＴＰ１上の抵抗Ｒｙ４と抵抗Ｒｙ５との関係は、Ｒｙ４＞Ｒｙ５となる。また、タッチパネルＴＰ２上の抵抗Ｒｘ４と抵抗Ｒｘ５との関係は、Ｒｘ４＜Ｒｘ５となる。そのため、前記（３）式のＸＺ２１ＰＮの算出に用いる電圧Ｚ１は点Ｂ、電圧Ｚ２は点Ａの接触抵抗値の影響を受け易くなる。
On the other hand, when two points A and B shown in FIG. 23 are touched, since xa <xb and ya <yb (No in step S51), XZ21PP calculated based on the equation (9) is The final pressing parameter XZ21 is calculated.
When the two points A and B shown in FIG. 23 are touched, the relationship between the resistance Ry4 and the resistance Ry5 on the touch panel TP1 is Ry4> Ry5. Further, the relationship between the resistor Rx4 and the resistor Rx5 on the touch panel TP2 is Rx4 <Rx5. Therefore, the voltage Z1 used for the calculation of XZ21PN in the equation (3) is easily affected by the point B and the voltage Z2 is easily affected by the contact resistance value at the point A.
このとき、タッチ入力点の移動方向が変わらない場合には、前述した第１の実施形態のように、前記（３）式をもとに算出したＸＺ２１ＰＮが実際の接触抵抗値Ｒｔと相関のある値となる。そのため、この場合には、このＸＺ２１ＰＮを押圧パラメータＸＺ２１として、ジェスチャ判断に用いることができる。
ところが、ＸＺ２１ＰＮでは、電圧Ｚ１と電圧Ｚ２とで影響を受け易い点が異なるため、ジェスチャ判断や２点間距離の算出精度を向上させるためには、ＸＺ２１ＰＮの代わりにＸＺ２１ＰＰを使用することが望ましい。
At this time, if the movement direction of the touch input point does not change, XZ21PN calculated based on the equation (3) is correlated with the actual contact resistance value Rt, as in the first embodiment described above. Value. Therefore, in this case, this XZ21PN can be used as a pressing parameter XZ21 for gesture determination.
However, in XZ21PN, the points that are easily affected by voltage Z1 and voltage Z2 are different. Therefore, it is desirable to use XZ21PP instead of XZ21PN in order to improve the gesture determination and the calculation accuracy of the distance between two points.
ＸＺ２１ＰＰは、図２４（ａ）に示す状態での電圧ＸＮ（電圧Ｚ１ＰＰ）と、図２４（ｂ）に示す状態での電圧ＹＮ（電圧Ｚ２ＰＰ）に基づいて算出される値であり、この値は点Ａの影響を受け易くなるが、電圧Ｚ１ＰＰと電圧Ｚ２ＰＰとで影響を受け易い点が等しい。そのため、ＸＺ２１ＰＮをそのまま用いる場合と比較して、ＸＺ２１ＰＰを押圧パラメータＸＺ２１として用いた方が２点間距離の算出精度を上げることができる。 XZ21PP is a value calculated based on the voltage XN (voltage Z1PP) in the state shown in FIG. 24 (a) and the voltage YN (voltage Z2PP) in the state shown in FIG. 24 (b). It becomes easy to be influenced by the point A, but the points that are easily influenced by the voltage Z1PP and the voltage Z2PP are equal. Therefore, compared with the case where XZ21PN is used as it is, the calculation accuracy of the distance between two points can be improved by using XZ21PP as the pressing parameter XZ21.
（効果）
このように、上記第２の実施形態では、２点タッチ時における各点の接触抵抗の影響を考慮し、各点の押圧力との相関度合いが同等程度となる押圧パラメータを用いて２点間距離の補正を行うので、より精度良く２点間距離を算出することができる。
（応用例）
なお、上記第２の実施形態においては、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＜ｙｂであるとき、ＸＺ２１ＰＰを押圧パラメータＸＺ２１として用いる場合について説明したが、電極を入れ換えたＸＺ２１ＮＮを算出し、ＸＺ２１ＮＮとＸＺ２１ＰＰとの平均を最終的な押圧パラメータＸＺ２１とすることもできる。このように、点Ｂの影響を受け易いＸＺ２１ＮＮと点Ａの影響を受け易いＸＺ２１ＰＰの平均を取ることで、より２点間距離の算出精度を向上させることができる。
(effect)
As described above, in the second embodiment, the influence of the contact resistance of each point at the time of two-point touch is taken into consideration, and the point between the two points is used by using the pressing parameter that has the same degree of correlation with the pressing force at each point. Since the distance is corrected, the distance between the two points can be calculated with higher accuracy.
(Application examples)
In the second embodiment, when xa <xb and ya <yb, the case where XZ21PP is used as the pressing parameter XZ21 has been described. However, XZ21NN obtained by replacing electrodes is calculated, and the average of XZ21NN and XZ21PP is calculated. Can be used as the final pressing parameter XZ21. Thus, by calculating the average of the XZ21NN that is easily affected by the point B and the XZ21PP that is easily affected by the point A, the calculation accuracy of the distance between the two points can be further improved.
（第３の実施形態）
次に、本発明の第３の実施形態について説明する。
この第３の実施形態は、前述した第１及び第２の実施形態において、電圧Ｒ＿ＸＰ０，Ｒ＿ＹＰ０，Ｒ＿ＸＰ，Ｒ＿ＹＰを用いて２点間距離を算出しているのに対し、電圧Ｘｐ２１，Ｙｐ２１，ＲＸｐ２１，ＲＹｐ２１を用いて２点間距離を算出するようにしたものである。
(Third embodiment)
Next, a third embodiment of the present invention will be described.
In the third embodiment, the distance between two points is calculated using the voltages R_XP0, R_YP0, R_XP, R_YP in the first and second embodiments described above, whereas the voltages Xp21, Yp21, RXp21 are calculated. , RYp21 is used to calculate the distance between two points.
（構成）
図２５は、本発明の第３の実施形態におけるタッチパネル装置の構成を示す回路図である。
このタッチパネル装置は、スイッチＳＷ７及びＳＷ８を備えることを除いては、図１に示すタッチパネル装置と同様の構成を有する。そのため、ここでは構成の異なる部分を中心に説明する。
スイッチＳＷ７の一端はタッチパネルＴＰ１の端子Ｙ１に接続され、その他端はタッチパネルＴＰ１の端子Ｙ２に接続されている。また、スイッチＳＷ８の一端はタッチパネルＴＰ２の端子Ｘ１に接続され、その他端はタッチパネルＴＰ２の端子Ｘ２に接続されている。
(Constitution)
FIG. 25 is a circuit diagram showing a configuration of a touch panel device according to the third embodiment of the present invention.
This touch panel device has the same configuration as the touch panel device shown in FIG. 1 except that it includes switches SW7 and SW8. Therefore, here, the description will focus on the different parts.
One end of the switch SW7 is connected to the terminal Y1 of the touch panel TP1, and the other end is connected to the terminal Y2 of the touch panel TP1. One end of the switch SW8 is connected to the terminal X1 of the touch panel TP2, and the other end is connected to the terminal X2 of the touch panel TP2.
これらスイッチＳＷ７及びＳＷ８は、制御部１０によってそれぞれ開閉状態が制御されるようになっている。
制御部１０は、スイッチＳＷ１〜ＳＷ８を開閉制御し、所定の接続状態で各端子Ｘ１，Ｘ２，Ｙ１，Ｙ２に発生した電圧ＸＰ，ＸＮ，ＹＰ，ＹＮを取得する。ここで、制御部１０は、図示しないＡＤコンバータを備え、測定電圧をデジタルデータに変換する。
The switches SW7 and SW8 are controlled to be opened and closed by the
The
そして、制御部１０は、これらの取得した電圧値をもとに、タッチパネルＴＰ上で２点がタッチされたか否かを判定すると共に、１点がタッチされた場合にはそのタッチ位置（Ｘ座標，Ｙ座標）、２点がタッチされた場合には２点の中心座標（Ｘ座標，Ｙ座標）、２点間の距離（Ｘ方向距離，Ｙ方向距離）及び２点の方向を検出し、出力する。
この第３の実施形態では、制御部１０で図２に示す初期化処理は行わず、タッチパネルＴＰが１点タッチされている状態で、図２６に示す初期化処理を行う。
Then, the
In the third embodiment, the
先ずステップＳ６１で、図２７に示す状態での端子Ｙ１の電圧ＹＰ（電圧Ｘｐ２１）を取得する。すなわち、スイッチＳＷ４，ＳＷ６及びＳＷ７を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｘ１，Ｘ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加すると共に、端子Ｙ１，Ｙ２を接続した短絡状態とする。そして、この状態での端子Ｙ１の電圧レベルを測定する。なお、図２７は、２点タッチした際の端子Ｘ１，Ｘ２間の回路構成を示している。 First, in step S61, the voltage YP (voltage Xp21) of the terminal Y1 in the state shown in FIG. 27 is acquired. That is, the switches SW4, SW6 and SW7 are closed, and the other switches are controlled to be open so that the voltage of the power supply VDD is applied between the terminals X1 and X2 and the terminals Y1 and Y2 are connected. And Then, the voltage level of the terminal Y1 in this state is measured. FIG. 27 shows a circuit configuration between the terminals X1 and X2 when two points are touched.
次に、ステップＳ６２で、図２８に示す状態での端子Ｘ１の電圧ＸＰ（電圧Ｙｐ２１）を取得する。すなわち、スイッチＳＷ１，ＳＷ３及びＳＷ８を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｙ１，Ｙ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加すると共に、端子Ｘ１，Ｘ２を接続した短絡状態とする。そして、この状態での端子Ｘ１の電圧レベルを測定する。なお、図２８は、１点タッチした際の端子Ｙ１，Ｙ２間の回路構成を示している。 Next, in step S62, the voltage XP (voltage Yp21) of the terminal X1 in the state shown in FIG. 28 is acquired. That is, the switches SW1, SW3 and SW8 are closed, and the other switches are controlled to be open, so that the voltage of the power supply VDD is applied between the terminals Y1 and Y2, and the terminals X1 and X2 are connected. And Then, the voltage level of the terminal X1 in this state is measured. FIG. 28 shows a circuit configuration between the terminals Y1 and Y2 when one point is touched.
ステップＳ６３では、図２９に示す状態での端子Ｙ１の電圧ＹＰ（電圧ＲＸｐ２１）を取得する。すなわち、図２７の状態に対し、スイッチＳＷ４を開状態、スイッチＳＷ５を閉状態として、抵抗Ｒ２を介して端子Ｘ１，Ｘ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加すると共に、端子Ｙ１，Ｙ２を接続した短絡状態とする。そして、この状態での端子Ｙ１の電圧レベルを測定する。なお、図２９は、２点タッチした際の端子Ｘ１，Ｘ２間の回路構成を示している。 In step S63, the voltage YP (voltage RXp21) of the terminal Y1 in the state shown in FIG. 29 is acquired. That is, with respect to the state of FIG. 27, the switch SW4 is opened and the switch SW5 is closed, the voltage of the power supply VDD is applied between the terminals X1 and X2 via the resistor R2, and the terminals Y1 and Y2 are connected. State. Then, the voltage level of the terminal Y1 in this state is measured. FIG. 29 shows a circuit configuration between the terminals X1 and X2 when two points are touched.
次に、ステップＳ６４で、図３０に示す状態での端子Ｘ１の電圧ＸＰ（電圧ＲＹｐ２１）を取得する。すなわち、図２８の状態に対し、スイッチＳＷ１を開状態、スイッチＳＷ２を閉状態として、抵抗Ｒ１を介して端子Ｙ１，Ｙ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加すると共に、端子Ｘ１，Ｘ２を接続した短絡状態とする。そして、この状態での端子Ｘ１の電圧レベルを測定する。なお、図３０は、１点タッチした際の端子Ｙ１，Ｙ２間の回路構成を示している。 Next, in step S64, the voltage XP (voltage RYp21) of the terminal X1 in the state shown in FIG. 30 is acquired. That is, with respect to the state of FIG. 28, the switch SW1 is opened, the switch SW2 is closed, the voltage of the power supply VDD is applied between the terminals Y1 and Y2 via the resistor R1, and the terminals X1 and X2 are connected. State. Then, the voltage level of the terminal X1 in this state is measured. FIG. 30 shows a circuit configuration between the terminals Y1 and Y2 when one point is touched.
ステップＳ６５では、前記ステップＳ６１〜Ｓ６４でそれぞれ取得した電圧Ｘｐ２１，Ｙｐ２１，ＲＸｐ２１，ＲＹｐ２１に基づいて、次式をもとにＳＲＸＹを算出する。
ＳＲＸＹ＝４０９６・（ＲＸｐ２１＋ＲＹｐ２１）／（Ｘｐ２１＋Ｙｐ２１） ………（１０）
なお、上記（１０）式は、１２ｂｉｔ（２12＝４０９６）の場合の算出式である。
In step S65, SRXY is calculated based on the following equation based on the voltages Xp21, Yp21, RXp21, RYp21 acquired in steps S61 to S64, respectively.
SRXY = 4096 · (RXp21 + RYp21) / (Xp21 + Yp21) (10)
The above equation (10) is a calculation equation in the case of 12 bits (2 12 = 4096).
ステップＳ６６では、前記ステップＳ６１で取得した電圧Ｘｐ２１と、前記ステップＳ６３で取得した電圧ＲＸｐ２１とに基づいて、次式をもとにＳＲＸ０を算出する。
ＳＲＸ０＝４０９６・ＲＸｐ２１／Ｘｐ２１ ………（１１）
次に、前記ステップＳ６２で取得した電圧Ｙｐ２１と、前記ステップＳ６４で取得した電圧ＲＹｐ２１とに基づいて、次式をもとにＳＲＹ０を算出する。
ＳＲＹ０＝４０９６・ＲＹｐ２１／Ｙｐ２１ ………（１２）
In step S66, SRX0 is calculated based on the following equation based on the voltage Xp21 acquired in step S61 and the voltage RXp21 acquired in step S63.
SRX0 = 4096 · RXp21 / Xp21 (11)
Next, SRY0 is calculated based on the following equation based on the voltage Yp21 acquired in step S62 and the voltage RYp21 acquired in step S64.
SRY0 = 4096 · RYp21 / Yp21 (12)
そして、ステップＳ６７では、前記ステップＳ６６で算出した値ＳＲＸ０及びＳＲＹ０をメモリ（不図示）に記憶して、初期化処理を終了する。
また、制御部１０は、タッチパネルＴＰがタッチされているとき、図５に示すタッチ処理の代わりに図３１に示すタッチ処理を行う。
先ずステップＳ７１で、各種データを取得する。具体的には、電圧Ｘｐ２１，Ｙｐ２１，ＲＸｐ２１，ＲＹｐ２１を取得する。
In step S67, the values SRX0 and SRY0 calculated in step S66 are stored in a memory (not shown), and the initialization process ends.
Further, when the touch panel TP is touched, the
First, in step S71, various data are acquired. Specifically, the voltages Xp21, Yp21, RXp21, and RYp21 are acquired.
電圧Ｘｐ２１は、図２７に示す状態で測定した電圧ＹＰであり、電圧Ｙｐ２１は、図２８に示す状態で測定した電圧ＸＰである。また、電圧ＲＸｐ２１は、図２９に示す状態で測定した電圧ＹＰであり、電圧ＲＹｐ２１は、図３０に示す状態で測定した電圧ＸＰである。
次にステップＳ７２に移行して、前記ステップＳ７１で取得した各電圧と、メモリに記憶したＳＲＸＹとに基づいて、次式をもとにＤＸＹを算出する。
ＤＸＹ＝ＳＲＸＹ・（Ｘｐ２１＋Ｙｐ２１）／４０９６−（ＲＸｐ２１＋ＲＹｐ２１） ………（１３）
The voltage Xp21 is the voltage YP measured in the state shown in FIG. 27, and the voltage Yp21 is the voltage XP measured in the state shown in FIG. Voltage RXp21 is voltage YP measured in the state shown in FIG. 29, and voltage RYp21 is voltage XP measured in the state shown in FIG.
Next, the process proceeds to step S72, where DXY is calculated based on the following equation based on each voltage acquired in step S71 and SRXY stored in the memory.
DXY = SRXY. (Xp21 + Yp21) / 4096- (RXp21 + RYp21) (13)
ステップＳ７３では、前記ステップＳ７２で算出したＤＸＹが、予め設定した判定閾値Ｄｕａｌ＿ＤＸＹより大きいか否かを判定する。ＳＲＸＹは、１点タッチ時には一定値となり、２点タッチ時には１点タッチ時より小さくなることから、上記ＤＸＹは、１点タッチ時に０、２点タッチ時に０より大きい値となる。そこで、判定閾値Ｄｕａｌ＿ＤＸＹは、０又は所定のマージンを設けた０より大きい値に設定する。
そして、ＤＸＹ≦Ｄｕａｌ＿ＤＸＹであるときには１点タッチであると判定し、ステップＳ７４に移行して、前記ステップＳ７１で取得した電圧Ｘｐ２１，Ｙｐ２１をタッチ位置のＸＹ座標として出力してからタッチ処理を終了する。
In step S73, it is determined whether or not DXY calculated in step S72 is larger than a preset determination threshold Dual_DXY. SRXY is a constant value at the time of one-point touch and is smaller than that at the time of one-point touch at the time of two-point touch. Therefore, DXY is 0 at the time of one-point touch and a value greater than 0 at the time of two-point touch. Therefore, the determination threshold Dual_DXY is set to 0 or a value larger than 0 with a predetermined margin.
Then, when DXY ≦ Dual_DXY, it is determined that the touch is one point, the process proceeds to step S74, the voltages Xp21 and Yp21 acquired in step S71 are output as the XY coordinates of the touch position, and the touch process is terminated. .
一方、ＤＸＹ＞Ｄｕａｌ＿ＤＸＹであるときには２点タッチであると判定し、ステップＳ７５に移行する。このステップＳ７５では、電圧Ｙｐ１を取得する。電圧Ｙｐ１は、図３２に示す状態で測定した電圧ＸＰである。すなわち、図４の状態に対し、スイッチＳＷ２を開状態、スイッチＳＷ１及びＳＷ３を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｙ１，Ｙ２間に電源ＶＤＤの電圧を印加した状態で、他方のパネルの端子Ｘ１の電圧レベルを測定する。
次にステップＳ７６に移行して、前記ステップＳ７１で取得した電圧Ｙｐ２１が前記ステップＳ７５で取得した電圧Ｙｐ１より大きいか否かを判定する。そして、Ｙｐ２１＞Ｙｐ１であるときにはステップＳ７７に移行し、Ｙｐ２１≦Ｙｐ１であるときには後述するステップＳ７９に移行する。
ステップＳ７７では、２点の方向を示す情報ｄＹを“＋１”に設定し、ステップＳ７８に移行する。
On the other hand, when DXY> Dual_DXY, it is determined that the touch is two-point, and the process proceeds to step S75. In step S75, the voltage Yp1 is acquired. The voltage Yp1 is the voltage XP measured in the state shown in FIG. That is, the voltage of the power supply VDD is applied between the terminals Y1 and Y2 by controlling the switch SW2 in the open state, the switches SW1 and SW3 in the closed state, and the other switches in the open state with respect to the state of FIG. In the state, the voltage level of the terminal X1 of the other panel is measured.
Next, the process proceeds to step S76, where it is determined whether or not the voltage Yp21 acquired in step S71 is greater than the voltage Yp1 acquired in step S75. When Yp21> Yp1, the process proceeds to step S77, and when Yp21 ≦ Yp1, the process proceeds to step S79 described later.
In step S77, the information dY indicating the direction of the two points is set to “+1”, and the process proceeds to step S78.
ステップＳ７８では電圧Ｚ１，Ｚ２を取得し、後述するステップＳ８１に移行する。電圧Ｚ１，Ｚ２は、図３３（ａ）に示す状態で測定した電圧ＸＰと、図３３（ｂ）に示す状態で測定した電圧ＹＮである。すなわち、スイッチＳＷ１及びＳＷ６を閉状態とし、それ以外のスイッチを開状態に制御することで、端子Ｙ１に電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｘ２を接地接続する。そして、この状態で、端子Ｘ１及びＹ２の電圧レベルを測定する。ここで、図３３は、点Ａ及び点Ｂを２点タッチした際の各端子間の回路構成を示しており、タッチパネルＴＰ１側のタッチ入力点をＡ１，Ｂ１、タッチパネルＴＰ２側のタッチ入力点をＡ２，Ｂ２としている。 In step S78, voltages Z1 and Z2 are acquired, and the process proceeds to step S81 described below. The voltages Z1 and Z2 are the voltage XP measured in the state shown in FIG. 33A and the voltage YN measured in the state shown in FIG. That is, the switches SW1 and SW6 are closed and the other switches are controlled to be open, so that the voltage of the power supply VDD is applied to the terminal Y1 and the terminal X2 is grounded. In this state, the voltage levels of the terminals X1 and Y2 are measured. Here, FIG. 33 shows a circuit configuration between the terminals when two points A and B are touched. A1 and B1 are touch input points on the touch panel TP1, and touch input points on the touch panel TP2 side. A2 and B2.
また、ステップＳ７９では、２点の方向を示す情報ｄＹを“−１”に設定し、ステップＳ８０に移行する。
ステップＳ８０では電圧Ｚ１ＰＰ，Ｚ２ＰＰを取得し、ステップＳ８１に移行する。電圧Ｚ１ＰＰ，Ｚ２ＰＰは、図３４（ａ）に示す状態での電圧ＸＮと、図３４（ｂ）に示す状態での電圧ＹＮである。すなわち、端子Ｙ１に直接電源ＶＤＤの電圧を与えると共に、端子Ｘ１を接地接続した状態で、端子Ｘ２及びＹ２の電圧レベルを測定する。そして、このようにして測定した電圧Ｚ１ＰＰ，Ｚ２ＰＰを、電圧Ｚ１，Ｚ２として設定する。ここで、図３４は、点Ａ及び点Ｂを２点タッチした際の各端子間の回路構成を示しており、タッチパネルＴＰ１側のタッチ入力点をＡ１，Ｂ１、タッチパネルＴＰ２側のタッチ入力点をＡ２，Ｂ２としている。
In step S79, the information dY indicating the direction of the two points is set to “−1”, and the process proceeds to step S80.
In step S80, voltages Z1PP and Z2PP are acquired, and the process proceeds to step S81. The voltages Z1PP and Z2PP are the voltage XN in the state shown in FIG. 34 (a) and the voltage YN in the state shown in FIG. 34 (b). That is, the voltage level of the terminals X2 and Y2 is measured while the voltage of the power supply VDD is directly applied to the terminal Y1 and the terminal X1 is grounded. The voltages Z1PP and Z2PP thus measured are set as voltages Z1 and Z2. Here, FIG. 34 shows a circuit configuration between the terminals when two points A and B are touched. Touch input points on the touch panel TP1 side are A1, B1, and touch input points on the touch panel TP2 side. A2 and B2.
２点の座標を（ｘａ，ｙａ）、（ｘｂ，ｙｂ）（但し、ｘａ＜ｘｂ）としたとき、２点の中心座標と２点間距離の情報では、ｙ座標値が入れ替わった（ｘａ，ｙｂ）、（ｘｂ，ｙａ）との区別ができない。図３２の回路では、ＸＰの電圧（電圧Ｙｐ１）はｙｂの影響を受けやすいため、Ｙｐ２１＞Ｙｐ１のときはｙａ＞ｙｂ、Ｙｐ２１＜Ｙｐ１のときはｙａ＜ｙｂであると判断する。
すなわち、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＞ｙｂのときはｄＹ＝＋１、ｘａ＜ｘｂ且つｙａ＜ｙｂのときはｄＹ＝−１となる。
ステップＳ８１では、押圧パラメータＸＺ２１を算出する。この押圧パラメータＸＺ２１は、タッチ入力点の押圧力と相関関係のあるパラメータであり、当該押圧力が大きいほど小さくなる値である。ここでは、次式をもとに押圧パラメータＸＺ２１を算出する。
ＸＺ２１＝Ｘｐ２１／４０９６（Ｚ２／Ｚ１−１） ………（１４）
When the coordinates of the two points are (xa, ya) and (xb, yb) (where xa <xb), the y-coordinate values are interchanged in the information of the center coordinates of the two points and the distance between the two points (xa, yb) and (xb, ya) cannot be distinguished. In the circuit of FIG. 32, the XP voltage (voltage Yp1) is easily affected by yb. Therefore, it is determined that ya> yb when Yp21> Yp1, and ya <yb when Yp21 <Yp1.
That is, dY = + 1 when xa <xb and ya> yb, and dY = −1 when xa <xb and ya <yb.
In step S81, the pressing parameter XZ21 is calculated. The pressing parameter XZ21 is a parameter having a correlation with the pressing force at the touch input point, and is a value that decreases as the pressing force increases. Here, the pressing parameter XZ21 is calculated based on the following equation.
XZ21 = Xp21 / 4096 (Z2 / Z1-1) (14)
次に、ステップＳ８２に移行して、前記ステップＳ８１で算出した押圧パラメータＸＺ２１が、予め設定した判定閾値Ｄ＿ＸＺ２１より小さいか否かを判定する。そして、ＸＺ２１≧Ｄ＿ＸＺ２１である場合には、タッチ入力点に一定圧力がかかっていないものと判断して、そのままタッチ処理を終了する。一方、ＸＺ２１＜Ｄ＿ＸＺ２１である場合には、タッチ入力点に一定圧力がかかっているものと判断してステップＳ８３に移行する。
ステップＳ８３では、次式をもとにＸ方向の２点間距離ＸＤｕａｌを算出する。
ＸＤｕａｌ＝Ａ・（ＳＲＸ０−４０９６・ＲＸｐ２１／Ｘｐ２１−Ｂ）・（ＸＺ２１＋Ｃ）＋Ｄ ………（１５）
ここで、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄはそれぞれ予め設定した定数である。
Next, the process proceeds to step S82, and it is determined whether or not the pressing parameter XZ21 calculated in step S81 is smaller than a predetermined determination threshold value D_XZ21. If XZ21 ≧ D_XZ21, it is determined that a constant pressure is not applied to the touch input point, and the touch process is terminated as it is. On the other hand, if XZ21 <D_XZ21, it is determined that a constant pressure is applied to the touch input point, and the process proceeds to step S83.
In step S83, a distance XDual between two points in the X direction is calculated based on the following equation.
XDual = A. (SRX0-4096.RXp21 / Xp21-B). (XZ21 + C) + D (15)
Here, A, B, C, and D are preset constants.
このように、１点タッチ時の電圧Ｘｐ２１と電圧ＲＸｐ２１との比であるＳＲＸ０と、２点タッチ時の電圧Ｘｐ２１と電圧ＲＸｐ２１との比との差分に基づいて算出される２点間距離基準値Ａ・（ＳＲＸ０−４０９６・ＲＸｐ２１／Ｘｐ２１−Ｂ）を、押圧パラメータＸＺ２１ともとに設定される補正係数（ＸＺ２１＋Ｃ）で補正することで、Ｘ方向の２点間距離ＸＤｕａｌを算出する。
次に、ステップＳ８４では、次式をもとにＹ方向の２点間距離ＹＤｕａｌを算出する。
ＹＤｕａｌ＝Ａ・（ＳＲＹ０−４０９６・ＲＹｐ２１／Ｙｐ２１−Ｂ）・（ＸＺ２１＋Ｃ）＋Ｄ ………（１６）
As described above, the two-point distance reference value calculated based on the difference between the ratio SRX0 between the voltage Xp21 and the voltage RXp21 at the time of one-point touch and the ratio between the voltage Xp21 and the voltage RXp21 at the time of the two-point touch. A · (SRX0-4096 · RXp21 / Xp21-B) is corrected by the correction coefficient (XZ21 + C) set together with the pressing parameter XZ21, thereby calculating the distance XDual between two points in the X direction.
Next, in step S84, the distance YDual between two points in the Y direction is calculated based on the following equation.
YDual = A. (SRY0-4096.RYp21 / Yp21-B). (XZ21 + C) + D (16)
このように、１点タッチ時の電圧Ｙｐ２１と電圧ＲＹｐ２１との比であるＳＲＹ０と、２点タッチ時の電圧Ｙｐ２１と電圧ＲＹｐ２１との比との差分に基づいて算出される２点間距離基準値Ａ・（ＳＲＹ０−４０９６・ＲＹｐ２１／Ｙｐ２１−Ｂ）を、押圧パラメータＸＺ２１ともとに設定される補正係数（ＸＺ２１＋Ｃ）で補正することで、Ｙ方向の２点間距離ＹＤｕａｌを算出する。
そして、ステップＳ８５では、２点の中心座標（Ｘｐ２１，Ｙｐ２１）と、２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌと、２点の方向を示す情報ｄＹとを出力し、タッチ処理を終了する。
以上のように、２点間の距離に応じてＲＸｐ２１／Ｘｐ２１やＲＹｐ２１／Ｙｐ２１が変化することを利用して、２点間距離ＸＤｕａｌ及びＹＤｕａｌを算出する。
As described above, the distance reference value between two points calculated based on the difference between SRY0 which is the ratio of the voltage Yp21 and the voltage RYp21 at the time of one point touch and the ratio of the voltage Yp21 and the voltage RYp21 at the time of the two point touch. By correcting A · (SRY0-4096 · RYp21 / Yp21-B) with the correction coefficient (XZ21 + C) set together with the pressing parameter XZ21, the distance YDual between two points in the Y direction is calculated.
In step S85, the center coordinates (Xp21, Yp21) of the two points, the distances XDual, YDual between the two points, and information dY indicating the direction of the two points are output, and the touch process is terminated.
As described above, the distance between two points XDual and YDual is calculated by using the change of RXp21 / Xp21 and RYp21 / Yp21 according to the distance between the two points.
なお、上述した処理においては、各種データを取得する際に、平均化処理等を実施するようにしてもよい。平均化処理としては、例えば、６データを取得し、その６データのうち最大値及び最小値を削除した後、残りの４データの平均を取る処理を行う。これにより、測定データの信頼性を向上させることができる。
また、図３１において、ステップＳ７１（特に図２７及び図２８）が第１の電圧検出手段に対応し、ステップＳ７１（特に図２９及び図３０）が第２の電圧検出手段に対応している。さらに、ステップＳ７２及びＳ７３が２点タッチ判定手段に対応し、ステップＳ８３及びＳ８４が２点間距離検出手段に対応している。また、ステップＳ７６〜８１が押圧力検出手段に対応している。
In the above-described processing, averaging processing or the like may be performed when various data are acquired. As the averaging process, for example, 6 data are acquired, and after the maximum value and the minimum value are deleted from the 6 data, a process of averaging the remaining 4 data is performed. Thereby, the reliability of measurement data can be improved.
In FIG. 31, step S71 (especially FIGS. 27 and 28) corresponds to the first voltage detection means, and step S71 (especially FIGS. 29 and 30) corresponds to the second voltage detection means. Further, steps S72 and S73 correspond to the two-point touch determination unit, and steps S83 and S84 correspond to the two-point distance detection unit. Steps S76 to S81 correspond to the pressing force detection means.
（動作）
次に、本発明の第３の実施形態の動作について説明する。
今、操作者がタッチパネルＴＰ上の２点をタッチしているものとする。このとき、２点間距離が比較的短いものとすると、２点タッチ時のＲＸｐ２１／Ｘｐ２１やＲＹｐ２１／Ｙｐ２１は、１点タッチ時のＲＸｐ２１／Ｘｐ２１（＝ＳＲＸ０）やＲＹｐ２１／Ｙｐ２１（＝ＳＲＹ０）に比較的近い値となる。
そのため、制御部１０は、上記（１５）及び（１６）式をもとに、２点間距離ＸＤｕａｌ及びＹＤｕａｌを比較的小さい値に算出する（ステップＳ８３，Ｓ８４）。
(Operation)
Next, the operation of the third embodiment of the present invention will be described.
Assume that the operator is touching two points on the touch panel TP. At this time, assuming that the distance between the two points is relatively short, RXp21 / Xp21 and RYp21 / Yp21 at the time of two-point touch become RXp21 / Xp21 (= SRX0) and RYp21 / Yp21 (= SRY0) at the time of one-point touch. A relatively close value.
Therefore, the
２点タッチ時のＲＸｐ２１／Ｘｐ２１やＲＹｐ２１／Ｙｐ２１は、２点間距離が長いほど、ＳＲＸ０やＳＲＹ０と比較して小さい値となる。そのため、２点間距離が比較的長い場合には、制御部１０は、上記（１５）及び（１６）式をもとに、２点間距離ＸＤｕａｌ及びＹＤｕａｌを比較的大きい値に算出する（ステップＳ８３，Ｓ８４）。
以上のように、２点間の距離に応じて電圧比ＲＸｐ２１／Ｘｐ２１やＲＹｐ２１／Ｙｐ２１が変化することを利用するので、適正に２点間距離を算出することができる。
RXp21 / Xp21 and RYp21 / Yp21 at the time of two-point touch are smaller values as compared to SRX0 and SRY0 as the distance between the two points is longer. Therefore, when the distance between the two points is relatively long, the
As described above, since the voltage ratios RXp21 / Xp21 and RYp21 / Yp21 change according to the distance between the two points, the distance between the two points can be calculated appropriately.
また、押圧パラメータＸＺ２１を用い、タッチ入力の押圧力に応じて２点間距離を補正する。このとき、押圧パラメータＸＺ２１の算出に際し、２点の方向に応じて電圧Ｚ１，Ｚ２の測定方法を変更する。
２点の方向ｄＹ＝＋１のとき、すなわちｘａ＜ｘｂ且つｙａ＞ｙｂのときに図３３の接続状態で測定した電圧ＸＰ，ＹＮは、共に点Ａよりも点Ｂ側の接触抵抗値の影響を受け易い。一方、２点の方向ｄＹ＝−１のとき、すなわちｘａ＜ｘｂ且つｙａ＜ｙｂのときは、図３３（ａ）の接続状態で測定した電圧ＸＰは点Ｂ、図３３（ｂ）の接続状態で測定した電圧ＹＮは点Ａの接触抵抗値の影響を受け易い。このように、影響を受け易い点が異なると２点間距離の算出精度を向上させることができない。
Further, the distance between the two points is corrected according to the pressing force of the touch input using the pressing parameter XZ21. At this time, when calculating the pressing parameter XZ21, the measurement method of the voltages Z1 and Z2 is changed according to the directions of the two points.
When the direction dY of the two points is d + 1, that is, when xa <xb and ya> yb, the voltages XP and YN measured in the connection state of FIG. Easy to receive. On the other hand, when the direction dY = −1 of two points, that is, when xa <xb and ya <yb, the voltage XP measured in the connection state of FIG. The voltage YN measured in (5) is easily influenced by the contact resistance value at the point A. Thus, if the points that are easily affected are different, the calculation accuracy of the distance between the two points cannot be improved.
そこで、ｄＹ＝−１のときは、図３４の接続状態で測定した電圧ＸＮ，ＹＮを電圧Ｚ１，Ｚ２として用いる。２点の方向ｄＹ＝−１のとき、すなわちｘａ＜ｘｂ且つｙａ＜ｙｂのときに図３４の接続状態で測定した電圧ＸＮ，ＹＮは、共に点Ａの接触抵抗値の影響を受け易い値である。
このように、２点の方向に応じて電圧Ｚ１，Ｚ２の測定方法を変更することで、２点タッチ時の各点の接触抵抗の影響を考慮した押圧パラメータを算出することができる。その結果、２点間距離の算出精度を向上させることができる。
Therefore, when dY = −1, the voltages XN and YN measured in the connection state of FIG. 34 are used as the voltages Z1 and Z2. The voltages XN and YN measured in the connection state of FIG. 34 when the direction of the two points dY = −1, that is, when xa <xb and ya <yb are both values that are easily affected by the contact resistance value at point A. is there.
As described above, by changing the measurement method of the voltages Z1 and Z2 according to the direction of the two points, it is possible to calculate the pressing parameter considering the influence of the contact resistance at each point when the two points are touched. As a result, the calculation accuracy of the distance between the two points can be improved.
なお、ここでは、ｄＹ＝＋１のとき、図３３の接続状態で測定した電圧ＸＰ，ＹＮ（電圧Ｚ１，Ｚ２）に基づいて押圧パラメータＸＺ２１を算出する場合について説明したが、当該押圧パラメータＸＺ２１と、図３３の状態に対し、端子Ｙ２に直接電源ＶＤＤの電圧を与えると共に端子Ｘ１を接地接続した状態で測定した電圧ＸＮ，ＹＰ（電圧Ｚ１ＮＰ，Ｚ２ＮＰ）に基づいて算出した押圧パラメータＸＺ２１ＮＰとの平均を、最終的な押圧パラメータＸＺ２１としてもよい。 Here, the case where the pressing parameter XZ21 is calculated based on the voltages XP and YN (voltages Z1 and Z2) measured in the connection state of FIG. 33 when dY = + 1 has been described. 33, the average of the pressing parameter XZ21NP calculated based on the voltages XN and YP (voltages Z1NP and Z2NP) measured in a state where the voltage of the power supply VDD is directly applied to the terminal Y2 and the terminal X1 is grounded. The final pressing parameter XZ21 may be used.
また、同様に、ｄＹ＝−１のときは、図３４の接続状態で測定した電圧ＸＮ，ＹＮ（電圧Ｚ１ＰＰ，Ｚ２ＰＰ）に基づいて算出した押圧パラメータＸＺ２１と、図３４の状態に対し、端子Ｙ２に直接電源ＶＤＤの電圧を与えると共に端子Ｘ２を接地接続した状態で測定した電圧ＸＰ，ＹＰ（電圧Ｚ１ＮＮ，Ｚ２ＮＮ）に基づいて算出した押圧パラメータＸＺ２１ＮＮとの平均を、最終的な押圧パラメータＸＺ２１としてもよい。
このように、点Ａの影響を受け易い押圧パラメータと点Ｂの影響を受け易い押圧パラメータの平均を取ることで、より２点間距離の算出精度を向上させることができる。
Similarly, when dY = −1, the pressing parameter XZ21 calculated based on the voltages XN and YN (voltages Z1PP and Z2PP) measured in the connection state of FIG. 34 and the state of FIG. The average of the pressing parameter XZ21NN calculated based on the voltages XP and YP (voltages Z1NN and Z2NN) measured in a state where the voltage of the power supply VDD is directly applied to the terminal X2 and grounded is also used as the final pressing parameter XZ21. Good.
Thus, by calculating the average of the pressure parameter that is easily affected by the point A and the pressure parameter that is easily affected by the point B, the calculation accuracy of the distance between the two points can be further improved.
（効果）
このように、上記第３の実施形態では、２点間の距離に応じて電圧比ＲＸｐ２１／Ｘｐ２１やＲＹｐ２１／Ｙｐ２１が変化することを利用して、２点間距離を検出するので、適正に２点間距離を検出することができる。また、座標検出や２点タッチ判定に用いる測定電圧を用いて２点間距離を検出するので、新たに２点間距離検出用の電圧測定を行う必要がない。したがって、その分電圧測定の回数を削減することができる。
（応用例）
なお、上記第３の実施形態においては、上述した第１の実施形態と同様に、２点間距離ＸＤｕａｌ，ＹＤｕａｌを用いて、図１３に示す２点タッチのジェスチャ（拡大、縮小、回転）を判定することもできる。
(effect)
As described above, in the third embodiment, the distance between the two points is detected by using the change in the voltage ratios RXp21 / Xp21 and RYp21 / Yp21 according to the distance between the two points. The distance between points can be detected. In addition, since the distance between the two points is detected using the measurement voltage used for coordinate detection and two-point touch determination, it is not necessary to newly perform voltage measurement for detecting the distance between the two points. Therefore, the number of voltage measurements can be reduced accordingly.
(Application examples)
In the third embodiment, the two-point touch gesture (enlargement, reduction, rotation) shown in FIG. 13 is performed using the two-point distances XDual and YDual, as in the first embodiment. It can also be determined.
（変形例）
なお、上記第１及び第２の実施形態においては、２点タッチ判定部として、電圧Ｒ＿ＸＰと基準電圧Ｒ＿ＸＰ０との差分が判定閾値Ｄ＿ＸＹより大きいか否かに応じて２点タッチであるか否かを判定する方法を採用する場合について説明したが、２点タッチにより電極端子間の抵抗値が小さくなることを利用した別の方法を採用することもできる。
また、上記各実施形態においては、電圧Ｚ１，Ｚ２を測定し演算により押圧力と相関関係のある押圧パラメータＸＺ２１を求める場合について説明したが、圧電素子等により構成されるセンサを設け、そのセンサでタッチ入力の押圧力を検出するようにしてもよい。
(Modification)
In the first and second embodiments, as the two-point touch determination unit, whether or not the two-point touch is made according to whether or not the difference between the voltage R_XP and the reference voltage R_XP0 is larger than the determination threshold D_XY. Although the case where the method of judging this is adopted has been described, another method using the fact that the resistance value between the electrode terminals becomes small by two-point touch can also be adopted.
In each of the above-described embodiments, the case where the pressure parameters XZ21 having a correlation with the pressing force is obtained by measuring the voltages Z1 and Z2 has been described. The pressing force of touch input may be detected.
１０…制御部、１１…ＬＣＤモジュール、ＴＰ１，ＴＰ２…タッチパネル、Ｘ１，Ｘ２…端子（Ｘ方向）、Ｙ１，Ｙ２…端子（Ｙ方向）、ＳＷ１〜ＳＷ８…スイッチ
DESCRIPTION OF
Claims (4)
一方の抵抗膜の一対の電極端子間に電源電圧を印加し、且つ他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第１の電圧検出手段と、
前記一方の抵抗膜の一対の電極端子間に抵抗を介して電源電圧を印加し、且つ前記他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第２の電圧検出手段と、
前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比に基づいて、前記タッチパネル上で２点がタッチされたか否かを判定する２点タッチ判定手段と、
前記一方の抵抗膜の一方の電極端子に電源電圧を印加し、前記一方の抵抗膜の他方の電極端子を開放し、且つ前記他方の抵抗膜の一方の電極端子を開放し、前記他方の抵抗膜の他方の電極端子を接地した状態で、前記他方の抵抗膜の一方の電極端子の電圧を検出する第３の電圧検出手段と、
前記一方の抵抗膜の一方の電極端子に電源電圧を印加し、前記一方の抵抗膜の他方の電極端子を開放し、且つ前記他方の抵抗膜の一方の電極端子を開放し、前記他方の抵抗膜の他方の電極端子を接地した状態で、前記一方の抵抗膜の他方の電極端子の電圧を検出する第４の電圧検出手段と、
前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第３の電圧検出手段で検出した電圧と前記第４の電圧検出手段とで検出した電圧に基づいて、２点タッチ入力に共通の押圧力を検出する押圧力検出手段と、
前記２点タッチ判定手段で２点がタッチされたと判定したとき、前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比と、前記押圧力検出手段で検出した押圧力とに基づいて、タッチされた２点間の距離を検出する２点間距離検出手段と、を備えることを特徴とするタッチパネル装置。 A touch panel device comprising a touch panel configured such that two resistive films provided respectively on end sides where a pair of electrode terminals are opposed face each other so as to be able to contact each other so that the electrode terminals are perpendicular to each other. ,
One of the pair of electrode terminals of the other resistance film in a state where a power supply voltage is applied between the pair of electrode terminals of one resistance film and the pair of electrode terminals of the other resistance film is short-circuited. First voltage detecting means for detecting the voltage of the electrode terminal;
A pair of electrode terminals of the other resistance film in a state where a power supply voltage is applied between the pair of electrode terminals of the one resistance film via a resistor and the pair of electrode terminals of the other resistance film is short-circuited. A second voltage detecting means for detecting the voltage of one of the electrode terminals;
Two-point touch determination means for determining whether or not two points are touched on the touch panel based on a ratio between the voltage detected by the first voltage detection means and the voltage detected by the second voltage detection means When,
A power supply voltage is applied to one electrode terminal of the one resistance film, the other electrode terminal of the one resistance film is opened, and one electrode terminal of the other resistance film is opened, and the other resistance A third voltage detecting means for detecting a voltage of one electrode terminal of the other resistive film in a state where the other electrode terminal of the film is grounded;
A power supply voltage is applied to one electrode terminal of the one resistance film, the other electrode terminal of the one resistance film is opened, and one electrode terminal of the other resistance film is opened, and the other resistance A fourth voltage detecting means for detecting a voltage of the other electrode terminal of the one resistance film in a state where the other electrode terminal of the film is grounded;
When the two-point touch determination means determines that two points have been touched, the voltage detected by the first voltage detection means, the voltage detected by the third voltage detection means, and the fourth voltage detection means A pressing force detecting means for detecting a pressing force common to the two-point touch input based on the detected voltage ;
When the two-point touch determination means determines that two points are touched, the ratio between the voltage detected by the first voltage detection means and the voltage detected by the second voltage detection means, and the pressing force detection means And a point-to-point distance detecting means for detecting a distance between the two touched points based on the pressing force detected in step (b).
前記タッチパネルが１点タッチされているときに前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比と、前記タッチパネルが２点タッチされているときに前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第２の電圧検出手段で検出した電圧との比との差分に基づいて、前記２点間の距離の基準値を算出する基準値算出手段と、
前記押圧力検出手段で検出した押圧力が小さいほど、前記基準値算出手段で算出した前記２点間の距離の基準値を増加補正する補正手段と、を備えることを特徴とする請求項１に記載のタッチパネル装置。 The point-to-point distance detecting means is
When the touch panel is touched at one point, the ratio between the voltage detected by the first voltage detection means and the voltage detected by the second voltage detection means, and when the touch panel is touched at two points A reference value calculating means for calculating a reference value of a distance between the two points based on a difference between a ratio of a voltage detected by the first voltage detecting means and a voltage detected by the second voltage detecting means; ,
As the pressing force detected by said pressing force detecting means is small, in claim 1, characterized in that it comprises a correcting means for increasing corrects the reference value of the distance between the two points calculated by the reference value calculating means The touch panel device described.
一方の抵抗膜の一対の電極端子間に電源電圧を印加し、且つ他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第１の電圧検出ステップと、
前記一方の抵抗膜の一対の電極端子間に抵抗を介して電源電圧を印加し、且つ前記他方の抵抗膜の一対の電極端子間を短絡した状態で、前記他方の抵抗膜の一対の電極端子のうち何れか一方の電極端子の電圧を検出する第２の電圧検出ステップと、
前記第１の電圧検出ステップにおいて検出された電圧と前記第２の電圧検出ステップにおいて検出された電圧との比に基づいて、前記タッチパネル上で２点がタッチされたか否かを判定する２点タッチ判定ステップと、
前記一方の抵抗膜の一方の電極端子に電源電圧を印加し、前記一方の抵抗膜の他方の電極端子を開放し、且つ前記他方の抵抗膜の一方の電極端子を開放し、前記他方の抵抗膜の他方の電極端子を接地した状態で、前記他方の抵抗膜の一方の電極端子の電圧を検出する第３の電圧検出ステップと、
前記一方の抵抗膜の一方の電極端子に電源電圧を印加し、前記一方の抵抗膜の他方の電極端子を開放し、且つ前記他方の抵抗膜の一方の電極端子を開放し、前記他方の抵抗膜の他方の電極端子を接地した状態で、前記一方の抵抗膜の他方の電極端子の電圧を検出する第４の電圧検出ステップと、
前記２点タッチ判定ステップにおいて２点がタッチされたと判定されたとき、前記第１の電圧検出手段で検出した電圧と前記第３の電圧検出手段で検出した電圧と前記第４の電圧検出手段とで検出した電圧に基づいて、２点タッチ入力に共通の押圧力を検出する押圧力検出ステップと、
前記２点タッチ判定ステップにおいて２点がタッチされたと判定されたとき、前記第１の電圧検出ステップにおいて検出された電圧と前記第２の電圧検出ステップにおいて検出された電圧との比と、前記押圧力検出ステップにおいて検出された押圧力とに基づいて、タッチされた２点間の距離を検出する２点間距離検出ステップと、を備えることを特徴とするタッチパネルのタッチ入力点間距離検出方法。 Detecting the distance between touch input points of a touch panel configured by two resistive films provided on the end sides where a pair of electrode terminals are opposed to each other so as to be close to each other so that the electrode terminals are perpendicular to each other so as to be in contact with each other A method,
One of the pair of electrode terminals of the other resistance film in a state where a power supply voltage is applied between the pair of electrode terminals of one resistance film and the pair of electrode terminals of the other resistance film is short-circuited. A first voltage detection step of detecting a voltage of the electrode terminal;
A pair of electrode terminals of the other resistance film in a state where a power supply voltage is applied between the pair of electrode terminals of the one resistance film via a resistor and the pair of electrode terminals of the other resistance film is short-circuited. A second voltage detection step for detecting the voltage of one of the electrode terminals;
Two-point touch for determining whether or not two points are touched on the touch panel based on a ratio of the voltage detected in the first voltage detection step and the voltage detected in the second voltage detection step A determination step;
A power supply voltage is applied to one electrode terminal of the one resistance film, the other electrode terminal of the one resistance film is opened, and one electrode terminal of the other resistance film is opened, and the other resistance A third voltage detecting step of detecting a voltage of one electrode terminal of the other resistive film in a state where the other electrode terminal of the film is grounded;
A power supply voltage is applied to one electrode terminal of the one resistance film, the other electrode terminal of the one resistance film is opened, and one electrode terminal of the other resistance film is opened, and the other resistance A fourth voltage detecting step of detecting a voltage of the other electrode terminal of the one resistive film in a state where the other electrode terminal of the film is grounded;
When it is determined in the two-point touch determination step that two points are touched, the voltage detected by the first voltage detection means, the voltage detected by the third voltage detection means, and the fourth voltage detection means A pressing force detecting step for detecting a pressing force common to the two-point touch input based on the voltage detected in
When it is determined in the two-point touch determination step that two points are touched, the ratio of the voltage detected in the first voltage detection step and the voltage detected in the second voltage detection step is A touch-point distance detection method for a touch panel, comprising: a point-to-point distance detection step for detecting a distance between two touched points based on the pressing force detected in the pressure detection step.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010263709A JP5486472B2 (en) | 2009-11-26 | 2010-11-26 | Touch panel device and touch input point distance detection method of touch panel |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009269081 | 2009-11-26 | ||
| JP2009269081 | 2009-11-26 | ||
| JP2010263709A JP5486472B2 (en) | 2009-11-26 | 2010-11-26 | Touch panel device and touch input point distance detection method of touch panel |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2011134316A JP2011134316A (en) | 2011-07-07 |
| JP5486472B2 true JP5486472B2 (en) | 2014-05-07 |
Family
ID=44346916
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010263709A Expired - Fee Related JP5486472B2 (en) | 2009-11-26 | 2010-11-26 | Touch panel device and touch input point distance detection method of touch panel |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5486472B2 (en) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101364888B1 (en) | 2009-11-26 | 2014-02-19 | 아사히 가세이 일렉트로닉스 가부시끼가이샤 | Touch panel device and touch input point spacing distance detection method of touch panel |
| JP5642500B2 (en) * | 2010-07-22 | 2014-12-17 | 富士通コンポーネント株式会社 | Touch panel position detection method, touch panel, touch panel initialization method |
| JP5830396B2 (en) * | 2012-01-31 | 2015-12-09 | 富士通コンポーネント株式会社 | Position detection method for touch panel and touch panel |
| JP5460758B2 (en) * | 2012-01-31 | 2014-04-02 | 富士ソフト株式会社 | Touch position correction processing method and program for touch panel |
| JP2014149796A (en) * | 2013-02-04 | 2014-08-21 | Sharp Corp | Position detection apparatus, image processing apparatus, and position detection method |
| JP6158615B2 (en) * | 2013-07-05 | 2017-07-05 | 富士通コンポーネント株式会社 | Touch panel |
| JP5971430B2 (en) * | 2013-11-05 | 2016-08-17 | 株式会社村田製作所 | Touch input device |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08161099A (en) * | 1994-10-05 | 1996-06-21 | Ricoh Co Ltd | Operation panel |
| TWI234115B (en) * | 2002-04-03 | 2005-06-11 | Htc Corp | Method and device of setting threshold pressure for touch panel |
| JP2009048233A (en) * | 2007-08-13 | 2009-03-05 | Mitsubishi Electric Corp | Touch panel input device |
| JP5403905B2 (en) * | 2007-12-14 | 2014-01-29 | 富士通コンポーネント株式会社 | Resistive touch panel |
| JP2009176114A (en) * | 2008-01-25 | 2009-08-06 | Mitsubishi Electric Corp | Touch panel device and user interface device |
-
2010
- 2010-11-26 JP JP2010263709A patent/JP5486472B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2011134316A (en) | 2011-07-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| WO2011065011A1 (en) | Touch panel device and touch input point spacing distance detection method of touch panel | |
| JP5486472B2 (en) | Touch panel device and touch input point distance detection method of touch panel | |
| JP5336341B2 (en) | Touch panel device | |
| JP2009048233A (en) | Touch panel input device | |
| JP2009176114A (en) | Touch panel device and user interface device | |
| KR101743334B1 (en) | Position detection method in touch panel and touch panel | |
| US8416215B2 (en) | Implementation of multi-touch gestures using a resistive touch display | |
| CN104281343B (en) | Touch panel | |
| JP5403905B2 (en) | Resistive touch panel | |
| JP2008165575A (en) | Touch panel device | |
| TWI578218B (en) | Touch panel device and touch panel device position detection method | |
| JP5132593B2 (en) | Touch panel device | |
| KR101112630B1 (en) | Digital Apparatus for Touch Screen and Method for Compensating its distorted coordinate Therefore | |
| Calpe-Maravilla et al. | Dual touch and gesture recognition in 4-wire resistive touchscreens | |
| JP2994155B2 (en) | Resistive tablet | |
| EP3531255B1 (en) | Touch panel device | |
| TWI424333B (en) | Input apparatus and input method | |
| JP2022092351A (en) | Touch panel device, controller and program | |
| Calpe et al. | AD7879 Controller Enables Gesture Recognition on Resistive Touch Screens | |
| JP2021179799A (en) | Touch panel device | |
| JP2009032128A (en) | Touch panel device | |
| JP2012168977A (en) | Resistance type touch panel | |
| JP2003316516A (en) | Display device having resistance film contact type touch panel |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130711 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131218 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140114 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140129 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140218 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140221 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5486472 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |