JP5477382B2 - 製品検査装置、製品検査方法及びコンピュータプログラム - Google Patents
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Description
図1は、本発明の実施の形態1に係る製品検査装置の構成例を示すブロック図である。実施の形態1に係る製品検査装置は、製品の所定の特性を示す特性値を測定する測定部1と、測定した特性値を演算する演算処理部2とを備えている。
本実施の形態2に係る製品検査装置では、算出した消費者リスクCRに基づいて製品ロット11が良ロットであるか否かを判定する。なお、本実施の形態2に係る製品検査装置の構成例を示すブロック図は、実施の形態1の図1に示した構成例を示すブロック図と同じであるため、詳細な説明は省略する。
本発明の実施の形態3に係る製品検査装置では、測定値標準偏差GRRを製品10の特性値を測定する前に、不確かさを評価する手法、測定システム解析MSAの手法等を用いて予め算出しておくのではなく、製品ロット11に含まれる一部又は全部の製品10の特性値を測定した結果に基づき算出する。なお、本実施の形態3に係る製品検査装置の構成例を示すブロック図は、実施の形態1の図1に示した構成例を示すブロック図と同じであるため、詳細な説明は省略する。
2 演算処理部
3 みなし標準偏差算出部
4 測定値標準偏差算出部
5 判定部
6 リスク算出部
7 製品ロット判定部
10 製品
11 製品ロット
21 CPU
22 メモリ
23 記憶装置
24 I/Oインタフェース
25 ビデオインタフェース
26 可搬型ディスクドライブ
27 測定インタフェース
28 内部バス
41 分類部
42 再分類部
43 推定個数算出部
44 標準偏差算出部
61 製品標準偏差算出部
62 リスク演算部
90 可搬型記録媒体
230 コンピュータプログラム
241 キーボード
242 マウス
251 表示装置
Claims (15)
- 製品の所定の特性を示す特性値を測定する測定部と、
測定した特性値のバラツキの標準偏差をみなし標準偏差として算出するみなし標準偏差算出部と、
前記測定部自体の測定結果のバラツキを示す測定値バラツキの標準偏差を測定値標準偏差として算出する測定値標準偏差算出部と、
前記製品の良否を判定する特性値の上限値と下限値とを規定する検査規格を基準として、測定した特性値が、前記上限値以下、下限値以上の範囲に含まれるか否かで前記製品が良品であるか否かを判定する判定部と、
前記測定値バラツキにより製品規格外の製品が良品であると誤って判定される確率である消費者リスク、及び前記測定値バラツキにより製品規格内の製品が不良品であると誤って判定される確率である生産者リスクを、測定した特性値の平均値、前記みなし標準偏差、前記測定値標準偏差に基づき算出するリスク算出部と、
算出した消費者リスクが所定の消費者リスク以下であるか否か、及び/又は算出した生産者リスクが所定の生産者リスク以下であるか否かに基づき、製品ロットが良ロットであるか否かを判定する製品ロット判定部と
を備え、
前記製品ロット判定部において、前記製品ロットが不良ロットであると判定された場合、
前記判定部は、測定した特性値が、前記検査規格で規定した特性値の上限値以下及び下限値以上の範囲に属する前記製品、又は上限値から上限値より小さい所定値までの範囲に属する前記製品及び下限値から下限値より大きい所定値までの範囲に属する前記製品、若しくはいずれか一方の範囲に属する前記製品の特性値を再測定し、再測定した特性値に基づき、前記製品が良品であるか否かを、前記検査規格を基準として再判定するようにしてあることを特徴とする製品検査装置。 - 製品の所定の特性を示す特性値を測定する測定部と、
測定した特性値のバラツキの標準偏差をみなし標準偏差として算出するみなし標準偏差算出部と、
前記測定部自体の測定結果のバラツキを示す測定値バラツキの標準偏差を測定値標準偏差として算出する測定値標準偏差算出部と、
前記製品の良否を判定する特性値の上限値と下限値とを規定する検査規格を基準として、測定した特性値が、前記上限値以下、下限値以上の範囲に含まれるか否かで前記製品が良品であるか否かを判定する判定部と、
前記測定値バラツキにより製品規格外の製品が良品であると誤って判定される確率である消費者リスク、及び前記測定値バラツキにより製品規格内の製品が不良品であると誤って判定される確率である生産者リスクを、測定した特性値の平均値、前記みなし標準偏差、前記測定値標準偏差に基づき算出するリスク算出部と、
算出した消費者リスクが所定の消費者リスク以下であるか否か、及び/又は算出した生産者リスクが所定の生産者リスク以下であるか否かに基づき、製品ロットが良ロットであるか否かを判定する製品ロット判定部と
を備え、
前記製品ロット判定部において、前記製品ロットが良ロットであると判定された場合、
前記判定部は、測定した特性値が、前記検査規格で規定した特性値の上限値より大きい範囲に属する前記製品及び下限値より小さい範囲に属する前記製品、若しくはいずれか一方の範囲に属する前記製品、又は上限値から上限値より大きい所定値までの範囲に属する前記製品及び下限値から下限値より小さい所定値までの範囲に属する前記製品、若しくはいずれか一方の範囲に属する前記製品の特性値を再測定し、再測定した特性値に基づき、前記製品が良品であるか否かを、前記検査規格を基準として再判定するようにしてあることを特徴とする製品検査装置。 - 前記上限値より小さい又は大きい所定値は、前記上限値より前記測定値標準偏差の3倍小さい又は大きい値であり、前記下限値より大きい又は小さい所定値は、前記下限値より前記測定値標準偏差の3倍大きい又は小さい値であることを特徴とする請求項1又は2に記載の製品検査装置。
- 前記リスク算出部は、
前記みなし標準偏差及び前記測定値標準偏差に基づいて、前記製品の特性値バラツキの標準偏差を製品標準偏差として算出する製品標準偏差算出部と、
算出した前記製品標準偏差の確率分布を複数の区間に分け、各区間の確率分布が前記測定値標準偏差の確率分布に従うと仮定して、前記製品規格外の区間に属する前記製品が、前記製品規格内の区間に属する製品であると誤って判定される確率を前記消費者リスクとして算出し、前記製品規格内の区間に属する前記製品が、前記製品規格外の区間に属する製品であると誤って判定される確率を生産者リスクとして算出するリスク演算部と
を備えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の製品検査装置。 - 前記測定値標準偏差算出部は、
測定した特性値に基づき、前記検査規格に応じて前記製品を良品と不良品とに分類する分類部と、
良品又は不良品に分類された前記製品の特性値を再測定し、再測定した特性値に基づき、前記製品を前記検査規格に応じて良品と不良品とに再分類する再分類部と、
前記製品の特性値バラツキの標準偏差及び前記測定値標準偏差を変数とする前記みなし標準偏差の確率分布に基づいて、少なくとも一度再分類した場合に良品に再分類された前記製品の個数又は不良品に再分類された前記製品の個数を良品又は不良品に再分類された前記製品の推定個数として算出する推定個数算出部と、
少なくとも一度再分類した場合に良品に再分類された前記製品の個数又は不良品に再分類された前記製品の個数と、良品又は不良品に再分類された前記製品の推定個数とが略一致するように前記みなし標準偏差の確率分布の前記変数を変更し、変更した変数を前記製品の特性値バラツキの標準偏差及び前記測定値標準偏差として算出する標準偏差算出部と
を備えることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の製品検査装置。 - 製品を検査する製品検査装置で実行することが可能な製品検査方法において、
前記製品検査装置は、
製品の所定の特性を示す特性値を測定部が測定する工程と、
測定した特性値のバラツキの標準偏差をみなし標準偏差として算出する工程と、
前記測定部自体の測定結果のバラツキを示す測定値バラツキの標準偏差を測定値標準偏差として算出する工程と、
前記製品の良否を判定する特性値の上限値と下限値とを規定する検査規格を基準として、測定した特性値が、前記上限値以下、下限値以上の範囲に含まれるか否かで前記製品が良品であるか否かを判定する工程と、
前記測定値バラツキにより製品規格外の製品が良品であると誤って判定される確率である消費者リスク、及び前記測定値バラツキにより製品規格内の製品が不良品であると誤って判定される確率である生産者リスクを、測定した特性値の平均値、前記みなし標準偏差、前記測定値標準偏差に基づき算出する工程と、
算出した消費者リスクが所定の消費者リスク以下であるか否か、及び/又は算出した生産者リスクが所定の生産者リスク以下であるか否かに基づき、製品ロットが良ロットであるか否かを判定する工程と
を含み、
前記製品ロットが不良ロットであると判定された場合、測定した特性値が、前記検査規格で規定した特性値の上限値以下及び下限値以上の範囲に属する前記製品、又は上限値から上限値より小さい所定値までの範囲に属する前記製品及び下限値から下限値より大きい所定値までの範囲に属する前記製品、若しくはいずれか一方の範囲に属する前記製品の特性値を再測定し、再測定した特性値に基づき、前記製品が良品であるか否かを、前記検査規格を基準として再判定する工程を含むことを特徴とする製品検査方法。 - 製品を検査する製品検査装置で実行することが可能な製品検査方法において、
前記製品検査装置は、
製品の所定の特性を示す特性値を測定部が測定する工程と、
測定した特性値のバラツキの標準偏差をみなし標準偏差として算出する工程と、
前記測定部自体の測定結果のバラツキを示す測定値バラツキの標準偏差を測定値標準偏差として算出する工程と、
前記製品の良否を判定する特性値の上限値と下限値とを規定する検査規格を基準として、測定した特性値が、前記上限値以下、下限値以上の範囲に含まれるか否かで前記製品が良品であるか否かを判定する工程と、
前記測定値バラツキにより製品規格外の製品が良品であると誤って判定される確率である消費者リスク、及び前記測定値バラツキにより製品規格内の製品が不良品であると誤って判定される確率である生産者リスクを、測定した特性値の平均値、前記みなし標準偏差、前記測定値標準偏差に基づき算出する工程と、
算出した消費者リスクが所定の消費者リスク以下であるか否か、及び/又は算出した生産者リスクが所定の生産者リスク以下であるか否かに基づき、製品ロットが良ロットであるか否かを判定する工程と
を含み、
前記製品ロットが良ロットであると判定された場合、測定した特性値が、前記検査規格で規定した特性値の上限値より大きい範囲に属する前記製品及び下限値より小さい範囲に属する前記製品、若しくはいずれか一方の範囲に属する前記製品、又は上限値から上限値より大きい所定値までの範囲に属する前記製品及び下限値から下限値より小さい所定値までの範囲に属する前記製品、若しくはいずれか一方の範囲に属する前記製品の特性値を再測定し、再測定した特性値に基づき、前記製品が良品であるか否かを、前記検査規格を基準として再判定する工程を含むことを特徴とする製品検査方法。 - 前記上限値より小さい又は大きい所定値は、前記上限値より前記測定値標準偏差の3倍小さい又は大きい値であり、前記下限値より大きい又は小さい所定値は、前記下限値より前記測定値標準偏差の3倍大きい又は小さい値であることを特徴とする請求項6又は7に記載の製品検査方法。
- 前記製品検査装置は、
前記みなし標準偏差及び前記測定値標準偏差に基づいて、前記製品の特性値バラツキの標準偏差を製品標準偏差として算出する工程と、
算出した前記製品標準偏差の確率分布を複数の区間に分け、各区間の確率分布が前記測定値標準偏差の確率分布に従うと仮定して、前記製品規格外の区間に属する前記製品が、前記製品規格内の区間に属する製品であると誤って判定される確率を前記消費者リスクとして算出し、前記製品規格内の区間に属する前記製品が、前記製品規格外の区間に属する製品であると誤って判定される確率を生産者リスクとして算出する工程と
を含むことを特徴とする請求項6乃至8のいずれか一項に記載の製品検査方法。 - 前記製品検査装置は、
測定した特性値に基づき、前記検査規格に応じて前記製品を良品と不良品とに分類する工程と、
良品又は不良品に分類された前記製品の特性値を再測定し、再測定した特性値に基づき、前記製品を前記検査規格に応じて良品と不良品とに再分類する工程と、
前記製品の特性値バラツキの標準偏差及び前記測定値標準偏差を変数とする前記みなし標準偏差の確率分布に基づいて、少なくとも一度再分類した場合に良品に再分類された前記製品の個数又は不良品に再分類された前記製品の個数を良品又は不良品に再分類された前記製品の推定個数として算出する工程と、
少なくとも一度再分類した場合に良品に再分類された前記製品の個数又は不良品に再分類された前記製品の個数と、良品又は不良品に再分類された前記製品の推定個数とが略一致するように前記みなし標準偏差の確率分布の前記変数を変更し、変更した変数を前記製品の特性値バラツキの標準偏差及び前記測定値標準偏差として算出する工程と
を含むことを特徴とする請求項6乃至9のいずれか一項に記載の製品検査方法。 - 製品を検査する製品検査装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、
前記製品検査装置を、
製品の所定の特性を示す特性値を測定する測定手段、
測定した特性値のバラツキの標準偏差をみなし標準偏差として算出するみなし標準偏差算出手段、
前記測定手段自体の測定結果のバラツキを示す測定値バラツキの標準偏差を測定値標準偏差として算出する測定値標準偏差算出手段、
前記製品の良否を判定する特性値の上限値と下限値とを規定する検査規格を基準として、測定した特性値が、前記上限値以下、下限値以上の範囲に含まれるか否かで前記製品が良品であるか否かを判定する判定手段、
前記測定値バラツキにより製品規格外の製品が良品であると誤って判定される確率である消費者リスク、及び前記測定値バラツキにより製品規格内の製品が不良品であると誤って判定される確率である生産者リスクを、測定した特性値の平均値、前記みなし標準偏差、前記測定値標準偏差に基づき算出するリスク算出手段、及び
算出した消費者リスクが所定の消費者リスク以下であるか否か、及び/又は算出した生産者リスクが所定の生産者リスク以下であるか否かに基づき、製品ロットが良ロットであるか否かを判定する製品ロット判定手段
として機能させ、
前記製品ロット判定手段において、前記製品ロットが不良ロットであると判定された場合、
前記判定手段を、測定した特性値が、前記検査規格で規定した特性値の上限値以下及び下限値以上の範囲に属する前記製品、又は上限値から上限値より小さい所定値までの範囲に属する前記製品及び下限値から下限値より大きい所定値までの範囲に属する前記製品、若しくはいずれか一方の範囲に属する前記製品の特性値を再測定し、再測定した特性値に基づき、前記製品が良品であるか否かを、前記検査規格を基準として再判定する手段として機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。 - 製品を検査する製品検査装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、
前記製品検査装置を、
製品の所定の特性を示す特性値を測定する測定手段、
測定した特性値のバラツキの標準偏差をみなし標準偏差として算出するみなし標準偏差算出手段、
前記測定手段自体の測定結果のバラツキを示す測定値バラツキの標準偏差を測定値標準偏差として算出する測定値標準偏差算出手段、
前記製品の良否を判定する特性値の上限値と下限値とを規定する検査規格を基準として、測定した特性値が、前記上限値以下、下限値以上の範囲に含まれるか否かで前記製品が良品であるか否かを判定する判定手段、
前記測定値バラツキにより製品規格外の製品が良品であると誤って判定される確率である消費者リスク、及び前記測定値バラツキにより製品規格内の製品が不良品であると誤って判定される確率である生産者リスクを、測定した特性値の平均値、前記みなし標準偏差、前記測定値標準偏差に基づき算出するリスク算出手段、及び
算出した消費者リスクが所定の消費者リスク以下であるか否か、及び/又は算出した生産者リスクが所定の生産者リスク以下であるか否かに基づき、製品ロットが良ロットであるか否かを判定する製品ロット判定手段
として機能させ、
前記製品ロット判定手段において、前記製品ロットが良ロットであると判定された場合、
前記判定手段を、測定した特性値が、前記検査規格で規定した特性値の上限値より大きい範囲に属する前記製品及び下限値より小さい範囲に属する前記製品、若しくはいずれか一方の範囲に属する前記製品、又は上限値から上限値より大きい所定値までの範囲に属する前記製品及び下限値から下限値より小さい所定値までの範囲に属する前記製品、若しくはいずれか一方の範囲に属する前記製品の特性値を再測定し、再測定した特性値に基づき、前記製品が良品であるか否かを、前記検査規格を基準として再判定する手段として機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。 - 前記上限値より小さい又は大きい所定値は、前記上限値より前記測定値標準偏差の3倍小さい又は大きい値であり、前記下限値より大きい又は小さい所定値は、前記下限値より前記測定値標準偏差の3倍大きい又は小さい値であることを特徴とする請求項11又は12に記載のコンピュータプログラム。
- 前記リスク算出手段を、
前記みなし標準偏差及び前記測定値標準偏差に基づいて、前記製品の特性値バラツキの標準偏差を製品標準偏差として算出する製品標準偏差算出手段、及び
算出した前記製品標準偏差の確率分布を複数の区間に分け、各区間の確率分布が前記測定値標準偏差の確率分布に従うと仮定して、前記製品規格外の区間に属する前記製品が、前記製品規格内の区間に属する製品であると誤って判定される確率を前記消費者リスクとして算出し、前記製品規格内の区間に属する前記製品が、前記製品規格外の区間に属する製品であると誤って判定される確率を生産者リスクとして算出するリスク演算手段
として機能させることを特徴とする請求項11乃至13のいずれか一項に記載のコンピュータプログラム。 - 前記測定値標準偏差算出手段を、
測定した特性値に基づき、前記検査規格に応じて前記製品を良品と不良品とに分類する分類手段、
良品又は不良品に分類された前記製品の特性値を再測定し、再測定した特性値に基づき、前記製品を前記検査規格に応じて良品と不良品とに再分類する再分類手段、
前記製品の特性値バラツキの標準偏差及び前記測定値標準偏差を変数とする前記みなし標準偏差の確率分布に基づいて、少なくとも一度再分類した場合に良品に再分類された前記製品の個数又は不良品に再分類された前記製品の個数を良品又は不良品に再分類された前記製品の推定個数として算出する推定個数算出手段、及び
少なくとも一度再分類した場合に良品に再分類された前記製品の個数又は不良品に再分類された前記製品の個数と、良品又は不良品に再分類された前記製品の推定個数とが略一致するように前記みなし標準偏差の確率分布の前記変数を変更し、変更した変数を前記製品の特性値バラツキの標準偏差及び前記測定値標準偏差として算出する標準偏差算出手段
として機能させることを特徴とする請求項11乃至14のいずれか一項に記載のコンピュータプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011515984A JP5477382B2 (ja) | 2009-05-29 | 2010-05-18 | 製品検査装置、製品検査方法及びコンピュータプログラム |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009130455 | 2009-05-29 | ||
JP2009130455 | 2009-05-29 | ||
JP2011515984A JP5477382B2 (ja) | 2009-05-29 | 2010-05-18 | 製品検査装置、製品検査方法及びコンピュータプログラム |
PCT/JP2010/058325 WO2010137488A1 (ja) | 2009-05-29 | 2010-05-18 | 製品検査装置、製品検査方法及びコンピュータプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2010137488A1 JPWO2010137488A1 (ja) | 2012-11-12 |
JP5477382B2 true JP5477382B2 (ja) | 2014-04-23 |
Family
ID=43222599
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011515984A Active JP5477382B2 (ja) | 2009-05-29 | 2010-05-18 | 製品検査装置、製品検査方法及びコンピュータプログラム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9037436B2 (ja) |
JP (1) | JP5477382B2 (ja) |
CN (1) | CN102449645B (ja) |
WO (1) | WO2010137488A1 (ja) |
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US20150220489A1 (en) | 2015-08-06 |
US9037436B2 (en) | 2015-05-19 |
US9870343B2 (en) | 2018-01-16 |
CN102449645B (zh) | 2016-09-28 |
WO2010137488A1 (ja) | 2010-12-02 |
JPWO2010137488A1 (ja) | 2012-11-12 |
US20120095803A1 (en) | 2012-04-19 |
CN102449645A (zh) | 2012-05-09 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A521 | Request for written amendment filed |
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