JP5477236B2 - X線撮影装置 - Google Patents

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この発明は、被検体に向けてX線を照射するX線管と、このX線管から照射され前記被検体を通過したX線を検出するフラットパネルディテクタ等のX線検出部と、X線管と被検体との間に配設されX線管から被検体に向けて照射されるX線照射野を調整するコリメータ機構とを備えたX線撮影装置に関する。
このようなX線撮影装置において、コリメータ機構を利用してX線管から被検体である患者に向けて照射されるX線照射野を調整するときには、コリメータ機構に対し患者とは逆側に配設された照視野ランプを点灯させることにより光照射野を形成し、この光照射野によりコリメータ機構により調整されたX線照射野を視認するようにしている。
このような従来のX線撮影装置においては、照視野ランプの点灯スイッチを押した場合には、一定時間だけ照視野ランプが点灯する構成が採用されている。また、特許文献1には、照視野の調整作業が終了したことを検出して、その一定時間後に照視野ランプを消灯するようにしたX線撮影装置が開示されている。
特開2007−15733号公報
照視野ランプを長時間点灯させると、照視野ランプからの発熱により装置の温度が上昇し、オペレータや患者に火傷等の危険がある。このため、点灯時間が一定以上になったときや、サーモスタット等により装置の温度が一定以上となったことを検出したときには、安全装置が働いて照視野ランプの点灯が禁止される構成となっている。このような構成を採用した場合には、その後X線撮影を継続する場合には、装置の温度が一定以下となったタイミングを見計らって、撮影を再開する必要がある。このとき、装置の温度が一定以下となったか否かを認定することは困難である。また、装置に温度計を付設して装置の温度を測定することも可能ではあるが、装置の製造コストが上昇するという問題がある。
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、装置の製造コストを上昇させることなく、装置の温度が一定以上となることを防止することができ、また、装置の温度が一定以下となったときにはX線撮影を再開することが可能なX線撮影装置を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、被検体に向けてX線を照射するX線管と、前記X線管から照射され前記被検体を通過したX線を検出するX線検出部と、前記X線管と前記被検体との間に配設され、前記X線管から前記被検体に向けて照射されるX線照射野を調整するコリメータ機構と、前記コリメータ機構により調整されたX線照射野を視認可能とするための照射野ランプと、を備えたX線撮影装置において、前記照射野ランプの点灯時間と温度上昇との関係、および、前記照視野ランプの消灯時間と温度降下との関係を示す温度昇降データを記憶する記憶手段と、前記照射野ランプの点灯時間および消灯時間と前記温度昇降データとから、現在の照視野ランプの温度を演算する疑似温度カウンターと、前記疑似温度カウンターにより演算した照視野ランプの温度が設定温度を超えたときに前記照視野ランプの点灯を禁止するとともに、前記疑似温度カウンターにより演算した照視野ランプの温度が設定温度以下となったときに前記照視野ランプの点灯を許可する点灯制御部とを備えたことを特徴とする。
請求項1に記載の発明によれば、疑似温度カウンターにより演算した照視野ランプの温度が設定温度を超えたときに照視野ランプの点灯を禁止するとともに、疑似温度カウンターにより演算した照視野ランプの温度が設定温度以下となったときに前記照視野ランプの点灯を許可する点灯制御部の作用により、装置の温度が一定以上となることを防止することができ、また、装置の温度が一定以下となったときにはX線撮影を再開することが可能となる。このとき、疑似温度カウンターを利用することから、装置に温度センサを設置する場合に比べ、装置の製造コストの上昇を防止することが可能となる。
この発明に係るX線撮影装置の概要図である。 この発明に係るX線撮影装置におけるX線照射部3等の要部を示す概要図である。 制御部41におけるこの発明を実行するための主要な電気的構成を示すブロック図である。 記憶部44に記憶された温度昇降データを示すグラフである。 疑似温度カウンター45により演算された現在の照視野ランプ24の温度(疑似温度)を示すグラフである。
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は、この発明に係るX線撮影装置の概要図である。
このX線撮影装置は、被検体である患者1を載置するテーブル2と、患者1に向けてX線を照射するX線管7を備えたX線照射部3と、X線検出部としてのフラットパネルディテクタ4と、複数の可動絞り6を備えるコリメータ機構とを備える。X線管7から照射されたX線は、患者1を透過してフラットパネルディテクタ4に入射する。フラットパネルディテクタ4は、入射したX線に対応した画像信号を出力する。
なお、コリメータ機構は、矩形状の領域を形成するための4枚の可動絞り6を備える。X線撮影を行うときには、後述する照視野ランプ24を点灯した状態で、図示しない駆動モータの駆動で可動絞り6を各々移動させることにより、X線の曝射範囲を設定する。そして、この状態でX線管7からX線を照射することにより、4枚の可動絞り6により規定された曝射範囲にのみX線が照射される。
図2は、この発明に係るX線撮影装置におけるX線照射部3等の要部を示す概要図である。
このX線照射部3は、複数種の付加フィルターが配設された回転板11と、この回転板11を回転させるモータ12とを備えた付加フィルター移動機構を有する。また、X線照射部3は、コリメータ機構に対し患者1とは逆側に配設され、コリメータ機構により調整されたX線照射野を視認するための光照射野を形成する、光照射野形成手段としての照視野ランプ24およびミラー25を備える。この照視野ランプ24から照射された光は、ミラー25により反射され、コリメータ機構における複数の可動絞り6によりその照射領域を制限された後に、患者1に照射される。このとき、X線管7からミラー25を透過して患者1に照射されるX線と、照視野ランプ24からミラー25で反射されて患者1に照射される光とは、その光軸が一致しており、また、その焦点も一致している。このため、コリメータ機構により形成されるX線照射野と光照射野は一致する。
回転板11を回転させるモータ12と照視野ランプ24とは、制御部41に連結されており、この制御部41により制御される。すなわち、この制御部41は、回転板11を回転させるモータ12を制御して、回転板11を回転させる。また、この制御部41は、照視野ランプ24の点灯状態を制御する。この制御部41には、オペレータが各種の情報を入力するための操作部42と、各種の情報を表示するための表示部43とが接続されている。
図3は、制御部41におけるこの発明を実行するための主要な電気的構成を示すブロック図である。
この制御部41は、照射野ランプ24の点灯時間と温度上昇との関係、および、照視野ランプ24の消灯時間と温度降下との関係を示す温度昇降データを記憶する記憶部44と、照射野ランプ24の点灯時間および消灯時間と記憶部44に記憶した温度昇降データとから、現在の照視野ランプ24の温度を演算する疑似温度カウンター45と、疑似温度カウンター45により演算した照視野ランプ24の温度が設定温度を超えたときに照視野ランプ24の点灯を禁止するとともに、疑似温度カウンター45により演算した照視野ランプ24の温度が設定温度以下となったときに照視野ランプ24の点灯を許可する点灯制御部46とを備える。
図4は、記憶部44に記憶された温度昇降データを示すグラフである。
図4において実線で示す照射野ランプ24の点灯時間と温度上昇との関係は、照視野ランプ24を一定時間点灯させ、そのときの照視野ランプ24の温度を温度計で実際に測定することにより求められる。また、図4において破線で示す照視野ランプ24の消灯時間と温度降下との関係は、一定温度まで上昇した照視野ランプ24を消灯し、そのときの照視野ランプ24の温度を温度計で実際に測定することにより求められる。これらの記憶部44に記憶された照射野ランプ24の点灯時間と温度上昇との関係、および、照視野ランプ24の消灯時間と温度降下との関係を示す温度昇降データは、記憶部44に記憶される。
以上のような構成を有するX線撮影装置によりX線撮影を行う場合において、光照射野を利用してX線照射野を確認するために照視野ランプ24を点灯させたときには、照射野ランプ24の温度が上昇する。疑似温度カウンター45は、このときの照射野ランプ24の点灯時間および消灯時間と記憶部44に記憶した温度昇降データとから、現在の照視野ランプ24の温度を演算する。
図5は、疑似温度カウンター45により演算された現在の照視野ランプ24の温度(疑似温度)を示すグラフである。
疑似温度カウンター45は、記憶部44に記憶した温度昇降データを利用し、照射野ランプ24の点灯時間および消灯時間に基づいて現在の照視野ランプ24の温度を演算する。すなわち、照視野ランプ24が点灯しているときには、図4において実線で示す照射野ランプ24の点灯時間と温度上昇との関係を利用して、疑似温度を上昇させる。一方、照視野ランプ24が消灯しているときには、図4において破線で示す照射野ランプ24の点灯時間と温度降下との関係を利用して、疑似温度を降下させる。これにより、図5において実線で示すように、照視野ランプ24の温度変化が疑似温度として常に観察されることになる。
照視野ランプ24を連続して点灯し、疑似温度カウンター45により演算した照視野ランプ24の疑似温度が第1の設定温度T1を越えたときには、点灯制御部46が照視野ランプの点灯を禁止する。そして、疑似温度カウンター45は、照視野ランプ24の消灯による照視野ランプ24の温度低下を常に演算して監視する。点灯制御部46は、疑似温度カウンター45により演算した照視野ランプ24の温度が第2の設定温度T2以下となったときに前記照視野ランプの点灯を許可する。これにより、再度、照視野ランプ24を点灯してX線照射野を確認することが可能となる。なお、照視野ランプ24の点灯の禁止および許可の状態は表示部43に表示され、オペレータが常に確認することが可能となっている。
以上のように、この発明に係るX線撮影装置においては、照視野ランプ24の点灯により装置の温度が一定以上となることを防止することができ、また、装置の温度が一定以下となったときにはX線撮影を速やかに再開することが可能となる。また、照視野ランプ24の温度を測定するための温度計を設置する必要がないことから、装置の製造コストの上昇を防止することが可能となる。
なお、上述した実施形態においては、照視野ランプ24の点灯を許可するための第2の設定温度T2を、照視野ランプ24の点灯を禁止するための第1の設定温度T1より低い温度に設定している。しかしながら、照視野ランプ24の点灯を禁止するための第1の設定温度T1と、照視野ランプ24の点灯を許可するための第2の設定温度T2とは、必ずしも別の温度とする必要はなく、これらを同じ温度として設定してもよい。但し、これらの設定温度を同じ温度とした場合には、照視野ランプ24の点灯が禁止されて照視野ランプ24の温度が下がった直後に、再度、照視野ランプ24を点灯させた場合、短時間で照視野ランプ24の点灯が再び禁止されることになる。このため、このような場合には、照視野ランプ24の点灯が禁止されてから許可されるまでの間に、一定のタイムラグを設定する等の対応をとることが好ましい。
また、上述した実施形態においては、疑似温度カウンター45により演算した照視野ランプ24の温度が第1の設定温度T1を越えたときに照視野ランプ24の点灯を禁止しているが、これにくわえて、疑似温度カウンター45により演算した照視野ランプ24の温度が第1の設定温度T1に近づいたときに、照視野ランプ24の連続点灯可能時間を短縮するようにしてもよい。すなわち、照視野ランプ24の点灯操作を行ったときに30秒間の連続点灯で照視野ランプが消灯する設定となっていた場合に、疑似温度カウンター45により演算した照視野ランプ24の温度が第1の設定温度T1に近づくに従って、連続点灯時間を25秒または20秒程度に短縮して、照視野ランプ24の温度上昇を緩やかなものとするようにしてもよい。
1 患者
2 テーブル
3 X線照射部
4 フラットパネルディテクタ
6 可動絞り
7 X線管
11 回転板
12 モータ
24 照視野ランプ
25 ミラー
41 制御部
42 操作部
43 表示部
44 記憶部
45 疑似温度カウンター
46 点灯制御部

Claims (1)

  1. 被検体に向けてX線を照射するX線管と、
    前記X線管から照射され前記被検体を通過したX線を検出するX線検出部と、
    前記X線管と前記被検体との間に配設され、前記X線管から前記被検体に向けて照射されるX線照射野を調整するコリメータ機構と、
    前記コリメータ機構により調整されたX線照射野を視認可能とするための照射野ランプと、
    を備えたX線撮影装置において、
    前記照射野ランプの点灯時間と温度上昇との関係、および、前記照視野ランプの消灯時間と温度降下との関係を示す温度昇降データを記憶する記憶手段と、
    前記照射野ランプの点灯時間および消灯時間と前記温度昇降データとから、現在の照視野ランプの温度を演算する疑似温度カウンターと、
    前記疑似温度カウンターにより演算した照視野ランプの温度が設定温度を超えたときに前記照視野ランプの点灯を禁止するとともに、前記疑似温度カウンターにより演算した照視野ランプの温度が設定温度以下となったときに前記照視野ランプの点灯を許可する点灯制御部と、
    を備えたことを特徴とするX線撮影装置。
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