JP5406159B2 - 光線路試験装置及び光線路試験方法 - Google Patents
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Description
図4及び図5は、実施形態1の光線路試験装置301を説明する図である。図4は、通信システム全体の中における光線路試験装置301の位置及び機能を説明し、図5は、光線路試験装置301の構造を説明している。
波長λ1の光パルスで光伝送路を測定するOTDR31と、
波長λ1と異なる波長λ2の光のパワーレベルを測定するOPM32と、
OTDR31が接続されるポート51、OPM32が接続されるポート52、及びポート51からの光とポート52からの光を合波して出力するポート53を有し、ポート53から入力された光を波長λ1を含む光と波長λ2を含む光に分波してそれぞれポート51とポート52へ出力する光合分波器45と、
OLT111とONU112とを接続する光ファイバ103に配置され、光ファイバ103のONU112側に対して光を入出力する第1ポート、及び光ファイバ103のOLT111側に対して光を入出力する第2ポートを有する光カプラ16と、
光合分波器45のポート53の接続先を光カプラ16の第1ポートと第2ポートのいずれかに切り替えるファイバセレクタFS15と、
を備える。
OTDR31に、光合分波器45のポート51、ポート53、FS15、及び光カプラ16の第1ポート16−11の経路で、光パルスを光ファイバ103のONU112側に結合させて光パルスによる光ファイバ103の後方散乱光を測定させるとともに、OPM32に、光カプラ16の第1ポート16−11、FS15、光合分波器45のポート53、及びポート52の経路で、ONU112から光ファイバ103に出力された上り信号光の一部を受信して上り信号光のパワーレベルを測定させる第2手順と、
FS15に、光合分波器45のポート53の接続先を光カプラ16の第2ポート16−12に切り替えさせる第3手順と、
OPM32に、光カプラ16の第2ポート16−12、FS15、光合分波器45のポート53、及びポート52の経路で、OLT111から光ファイバ103に出力された下り信号光の一部を受信して下り信号光のパワーレベルを測定させる第4手順と、
を順に行う。
図6及び図7は、実施形態2の光線路試験装置302を説明する図である。光線路試験装置302は図4及び図5の通信システムより規模が大きい通信システムを光線路試験することができる。ここで、規模が大きいとは光ファイバ103の数が多いという意味である。
光線路試験装置301及び光線路試験装置302は、光フィルタ124と光合分波器45の一方が波長λu1(λ1<λu1)以上の光を遮断し、他方が波長λd1(λd1<λ1)以下の光を遮断することで、光フィルタ124から光合分波器45のポート53までの経路が波長λd1より長く波長λu1より短い光を透過する光透過特性となる。
12:試験用通信ネットワーク
13:OTM(光線路試験モジュール)
14:IDM/FTM(架)
15:FS(ファイバセレクタ)
16:光カプラ
21:OTU
22:FTES
31:OTDR
32:OPM
33、34:可動側光ファイバ
35:固定側光ファイバ
41:OTU
43:OTM
45:光合分波器
47:FTES
51、52、53:ポート
101:通信設備ビル
102:ユーザ宅
103:光ファイバ
104:光ケーブル
111:OLT
112:ONU
121、122、123、124:光フィルタ
221:V溝基板
300、301、302:光線路試験装置
Claims (6)
- 波長λ1の光パルスで光ファイバを測定する光パルス試験器(OTDR:Optical Time Domain Reflectometer)と、
波長λ1と異なる波長λ2の前記光ファイバを伝搬する信号光のパワーレベルを測定する光パワーメータ(OPM:Optical Power Meter)と、
前記OTDRが接続されるポート(51)、前記OPMが接続されるポート(52)、及び前記ポート(51)からの光と前記ポート(52)からの光を合波して出力するポート(53)を有し、前記ポート(53)から入力された光を波長λ1の前記光パルスによる前記光ファイバの反射光及び後方散乱光を含む光と波長λ2の前記信号光を含む光に分波してそれぞれ前記ポート(51)と前記ポート(52)へ出力する光合分波器と、
局側終端装置(OLT:Optical Line Terminal)と加入者側終端装置(ONU:Optical Network Unit)とを接続する前記光ファイバに配置され、前記光ファイバの前記ONU側に対して光を入出力する第1ポート、及び前記光ファイバの前記OLT側に対して光を入出力する第2ポートを有する光カプラと、
前記光合分波器の前記ポート(53)の接続先を前記光カプラの前記第1ポートと前記第2ポートのいずれかに切り替えるファイバセレクタと、
を備える光線路試験装置。
- 前記光ファイバが複数である場合に、
前記光カプラは、前記光ファイバ毎に配置され、
前記ファイバセレクタは、前記光合分波器の前記ポート(53)の接続先を試験対象の前記光ファイバに設置された前記光カプラの前記第1ポートと前記第2ポートのいずれかに切り替えることを特徴とする請求項1に記載の光線路試験装置。 - 前記ファイバセレクタは、1×m光スイッチ(mは2以上の任意の整数)が複数段接続されていることを特徴とする請求項2に記載の光線路試験装置。
- 前記光合分波器の前記ポート(51)と前記OTDRとの間に光フィルタをさらに備え、
前記光フィルタと前記光合分波器の一方が波長λu1(λ1<λu1)以上の光を遮断し、他方が波長λd1(λd1<λ1)以下の光を遮断することで、
前記光フィルタから前記光合分波器の前記ポート(53)までの経路が波長λd1より長く波長λu1より短い光を透過する光透過特性となることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の光線路試験装置。 - 光線路試験を行う際、
前記ファイバセレクタは、前記光合分波器の前記ポート(53)の接続先を試験対象となる前記光ファイバに配置された前記光カプラの前記第1ポートに切り替え、
前記OTDRは、前記光合分波器の前記ポート(51)、前記ポート(53)、前記ファイバセレクタ、及び前記光カプラの前記第1ポートの経路で、光パルスを前記光ファイバの前記ONU側に結合して前記光パルスによる前記光ファイバの後方散乱光を測定するとともに、
前記OPMは、前記光カプラの前記第1ポート、前記ファイバセレクタ、前記光合分波器の前記ポート(53)、及び前記ポート(52)の経路で、前記ONUから前記光ファイバに出力された上り信号光の一部を受信して前記上り信号光のパワーレベルを測定し、
続いて前記ファイバセレクタは、前記光合分波器の前記ポート(53)の接続先を前記光カプラの前記第2ポートに切り替え、
前記OPMは、前記光カプラの前記第2ポート、前記ファイバセレクタ、前記光合分波器の前記ポート(53)、及び前記ポート(52)の経路で、前記OLTから前記光ファイバに出力された下り信号光の一部を受信して前記下り信号光のパワーレベルを測定することを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の光線路試験装置。 - 請求項1から4のいずれかに記載の光線路試験装置の光線路試験方法であって、
前記ファイバセレクタに、前記光合分波器の前記ポート(53)の接続先を試験対象となる前記光ファイバに配置された前記光カプラの前記第1ポートに切り替えさせる第1手順と、
前記OTDRに、前記光合分波器の前記ポート(51)、前記ポート(53)、前記ファイバセレクタ、及び前記光カプラの前記第1ポートの経路で、光パルスを前記光ファイバの前記ONU側に結合させて前記光パルスによる前記光ファイバの後方散乱光を測定させるとともに、前記OPMに、前記光カプラの前記第1ポート、前記ファイバセレクタ、前記光合分波器の前記ポート(53)、及び前記ポート(52)の経路で、前記ONUから前記光ファイバに出力された上り信号光の一部を受信して前記上り信号光のパワーレベルを測定させる第2手順と、
前記ファイバセレクタに、前記光カプラの前記第2ポートに切り替えさせる第3手順と、
前記OPMに、前記光カプラの前記第2ポート、前記ファイバセレクタ、前記光合分波器の前記ポート(53)、及び前記ポート(52)の経路で、前記OLTから前記光ファイバに出力された下り信号光の一部を受信して前記下り信号光のパワーレベルを測定させる第4手順と、
を順に行うことを特徴とする光線路試験方法。
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JP2010232885A JP5406159B2 (ja) | 2010-10-15 | 2010-10-15 | 光線路試験装置及び光線路試験方法 |
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