JP5374762B2 - 反射型複屈折率測定装置 - Google Patents

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本発明は反射型複屈折率測定装置に関するものであり、例えば、ピックアップ光学系用レンズやカメラ付き携帯電話あるいはデジタルカメラ用レンズや液晶表示用材料の複屈折率やグルコースの濃度などの光学材料や生体を簡略に測定できる高精度で低価格な反射型複屈折率測定装置に関するものである。
従来の第1の複屈折率の測定法として、被測定媒体の偏波状態をミューラー行列として求める方法があった。
従来の第2の複屈折率の測定法として、複屈折率分散を測定する方法があり、光源にハロゲンランプなどの白色光源を用い、平行ニコル間にサンプルを置きその透過光が波数に対して余弦状に変化する原理から透過光強度を高速フーリエ変換(FFT)法により複屈折率を解析するものであった。この方法は液晶などの検査に用いられている。
従来の第3の複屈折率の測定方法として、入射偏波状態を変化させて試料を透過した光の幾何学的位相をポアンカレ球上に表示させ、複屈折率が存在した場合の各入射偏波の状態に対応する球上の点が囲む面積から複屈折率を求める方法があった。
従来の複屈折率の測定方法の比較は、下記の非特許文献1に記載されている。
また、糖尿病の検査におけるグルコースを透過する光の旋光性を測定する方法として、下記の非特許文献2に記載されている方法があった。非特許文献2に記載されている方法は、鉛ガラスのベルデ定数を利用し入射偏波状態を変調し検光子を通過する光の変化をロックインアンプで検出するものである。健康な人で0.005度という微小な旋光角の測定が必要であることが記載されている。
上記以外の複屈折率測定法として特許文献1の複屈折率測定装置がある。図3はこのループ型複屈折率測定原理を示す構成図で、その原理は特許文献1に詳しく述べられている。
光源1から発せられた光はカップラ21と偏光子31を経てカップラ22で左右両周り光に分岐される。図3において時計方向の光は偏波保持光ファイバ5のループを伝播し、非相反光学系 7を通過し位相変調器4を通過してカップラ22に戻ってくる。
一方、反時計方向の光は、はじめに位相変調器4を通過し、非相反光学系 7を通過して光ファイバループ状の偏波保持光ファイバ5を伝播しカップラ22に戻る。これら左右両周り光はカップラ22で干渉し、干渉強度は偏光子31、カップラ21を介して受光器9で電気信号に変換され、光ファイバジャイロの信号処理回路10によって左右両周り光の位相差を電圧として出力する。ここで用いた光ファイバジャイロは、ループ長が200m、位相変調器はPZTで共振周波数は20KHzのものである。
光ファイバジャイロは、ファイバループを含む系が回転するとSagnac効果によって左右両周り光に位相差が発生し、その位相差を測定する装置である。
即ち、リング干渉計のループ光路の途中に非相反光学系を設け直交する偏波モードが被測定試料を両方向に伝播するように設計し、リング干渉計として光ファイバジャイロの信号処理技術を応用した方法である
リング干渉計あるいは光ファイバジャイロスコープのセンシングループのなかに非相反光学系を設けその中に被測定試料を入れて複屈折率を測定するものである。この方法は、上記した複屈折率測定法と比較すると、小型で低価格で構成でき高精度という特徴がある。
大谷幸利氏:「総論:偏光・複屈折計測における最近の話題:0 Plus E、2003年11月号PP.1220−1225」 横田正幸氏他、「鉛ガラスファイバ偏光変調器を用いたグルコースセンサー:第31回光波センシング技術研究会、LST31−8、PP51−56,2003年8月」 特開2005−274380号公報
しかし、上記した第1の方法では、入射側で4種類の偏波状態を作り出す必要がある。
また、上記した第2の方法では、分光器を必要としFFT解析装置を必要とする。またこの方法ではミリラディアン以下の微小な複屈折率が測定できない。
上記した第3の方法においても、入射側で複数の偏波状態を作り出す必要がある。
すなわち、上記の従来の複屈折率の測定器は、いずれも装置が大掛かりで高価であった。
更に、上記した非特許文献2に記載されている方法では装置が大掛かりであるということと鉛ガラスが温度特性の影響を受けやすいという課題がある。
しかし、特許文献1の複屈折率測定装置の方法では、フィルム状の試料は測定できるがレンズは原理的にコリメート光学系が崩れるのでそのままでは測定できない。
また、屈折率整合剤に浸せば測定できるがインラインで測定する場合には不便である。またループに振動が加わったり騒音の影響を受けやすいという問題点もあった。
本発明の目的は、従来の複屈折率測定装置を大幅に簡略化し安価でコンパクトで高精度に複屈折率を測定できる複屈折率測定装置を提供することにある。
上記課題を解決し、上記目的を達成するために、例えば、リング干渉計のループを1本の偏波面保存光ファイバに置き換え、直交する偏波モードを入射し、その出力端にコリメート光学系と45度ファラデー回転素子と反射ミラーとで構成する光学系を設け、前記45度ファラデー回転素子と反射ミラーの間に被測定複屈折試料を置き互いに直交する偏波モードの往復の位相差を測定することによって試料の複屈折率を測定する。
この様に設計することで、従来の光ファイバジャイロの信号処理系と原理的に同じ信号処理技術を用いることが可能となる。なお、この光ファイバジャイロに関しては非特許文献3に詳しく記載されている。
即ち、本発明に係る一発明の実施の形態例の特筆すべき特徴は、光の干渉を利用していること、従来のループ型に対し反射型に改良して、従来は2個必要であった45度FR素子を1個で構成可能としたこと、小型で簡略化された構成の装置によって、非常に高精度に複屈折率を測定することができるようにしたことなどである。そして、ループ型のように振動や騒音の影響を受けないようにしたことである。
また、例えば請求項1に記載の例では、1本の偏波面保存光ファイバに互いに直交する偏波モードを伝播させ、その出力端にコリメート光学系と45度ファラデー回転素子と反射ミラーとで構成する光学系を設け、前記45度ファラデー回転素子と前記反射ミラーの間に被測定複屈折試料を置き、前記被測定複屈折試料を通過する互いに直交する偏波モードの往復の位相差を測定することによって試料の複屈折率を測定することを特徴とする反射型複屈折率測定装置とする。
また、請求項2に記載の例では、請求項1に記載の反射型複屈折率測定装置において、直交偏波モードの位相差を測定する方法としてリング干渉計の信号処理回路を用いたことを特徴とする反射型複屈折率測定装置とする。
更に、請求項3に記載の例では、請求項1又は2に記載の反射型複屈折率測定装置において、被測定試料を回転および3次元的に位置制御することができ、偏波面保存光ファイバのコリメートレンズの位置を可変にし被測定複屈折試料に入射するビーム径を可変にできることを特徴とする反射型複屈折率測定装置とする。
また請求項4に記載の例では、請求項1又は2に記載の反射型複屈折率測定装置において、伝送用偏波面保存光ファイバ出力端のコリメートレンズと45度ファラデー回転素子の間に4分の1波長板を置き左右両方向の円偏波成分を被測定試料に入射させ、ミラーで反射させて、偏波面保存光ファイバを伝送する互いに直交する偏波モードの往復の位相差を測定することによって試料の複屈折率を測定することを特徴とする反射型複屈折率測定装置とする。
請求項5に記載の例は、請求項4に記載の反射型複屈折率測定装置において、被測定試料を回転および2次元的に位置制御することができ、偏波面保存光ファイバのコリメートレンズの位置を可変にし被測定複屈折試料に入射するビーム径を可変にできることを特徴とする反射型複屈折率測定装置とする。
梶岡、於保「光ファイバジャイロの開発:第3回光波センシング技術研究会、LST3−9,PP55−62,1989年6月」
本発明によれば、光の干渉を利用しているので非常に高精度に複屈折率を測定することができる。
以下、本発明に係る一発明の実施の形態例を図面を参照して具体的に説明する。
図1は本発明に係る一発明の実施の形態例の基本光学系を示している。光源1から発せられた光は、カップラ21と偏光子31を経て偏波面保存光ファイバ5に入射される。偏光子31の後段に固有偏波軸を45度捻った部分11を設ける。これによってファイバ5には直交偏波モードが励振される。
偏波面保存光ファイバ5のコアには直交偏波モードが励振され位相変調器4で位相変調される。位相変調器はシリンダー状のPZTに偏波面保存光ファイバ5の一部を巻きつけ信号処理部10から正弦波信号で変調した。
直交偏波モードは偏波面保存光ファイバ5を伝播し、出力端でコリメートレンズ113でコリメートされ45度偏波面を回転させるファラデー素子62を透過し被測定物8(この場合はレンズ)に導かれる。この場合には被測定物がレンズであるためその焦点位置にミラー12を設け反射光が該レンズ8、45度ファラデー回転素子62、コリメートレンズ113を介して該偏波面保存光ファイバ5に再び入射するようにレンズ8とミラーの位置を調整した。
ミラー12で反射した光は被測定レンズを通過し再びもとの光路を逆に伝播しカップラ21を介して受光器9で検出される。干渉計の信号処理の方法は非特許文献3に記載されたいわゆる同期検波方法を採用した。
ここでファラデー回転素子の役割について考察するとファラデー回転素子によって偏波面保存光ファイバ5を往復する偏波モードが直交することがわかる。すなわちスロー軸モードで出力された光は反射されファースト軸モードで戻る。一方ファースト軸モードで出力された光は反射されスロー軸モードで戻る。
図1に示す本発明の実施の形態例の基本構成図には、偏波面保存光ファイバ5が1本しか示されていないが、偏波面まで考慮すれば偏波面保存光ファイバ5には2つの偏波モードが伝播しているのでそれぞれの偏波モードは1本の光ファイバをあたかもループがあるように両方向に伝播する。
本実施の形態例の測定方法の原理は、直交偏波モード間の位相差を検出するものであるので、偏波面保存光ファイバ5を往復する場合の位相差はファラデー回転素子によってキャンセルされ、被測定物8の複屈折の影響のみを検出できることになる。
ここで図1の光学系の図3に対する利点として、ファラデー回転素子が1個でよいので材料コストが低減できることが明らかである。また図3の構成では偏波面保存光ファイバ5自体が振動センサーになっているが、本実施の形態例の図1に示す構成においては、往復で直交偏波モードが入れ替わっているので影響がキャンセルされる。すなわち本実施の形態例は図3に対して耐環境特性が優れている。その他にも感度が図3に比較して2倍となることがわかる。
図1の構成でレンズの面内の複屈折率分布を計測したい場合には、コリメートレンズ113の位置を変化させビーム径をさまざまに変化させた場合の複屈折率を測定し差分をとることによって半径方向の複屈折率の変化を測定できる。
次に本発明に係る発明の実施の形態例のもう一つの実施例を図2を参照して以下に説明する。図2は図1の光学系においてファラデー回転素子62の前に4分の1波長板13を入れた構成となっている。
このようにすると、被測定対象8(この場合は血液)に左右両周り円偏波を入射できる。もし被測定対象に旋光特性があれば図2の測定系で検出できる。
以上説明したように、本実施の形態例によれば、光の干渉を利用しているので非常に高精度に複屈折率を測定することができる。また信号処理系および基本光学系はオールファイバ型のリング干渉計として商用化されているので、低価格でコンパクトである。
本実施の形態例では、上述したように従来のループ型に対し反射型に改良したので、45度FR素子が従来は2個必要であったものが1個でよく、構成が簡略化できる。またループ型のように振動や騒音の影響を受けない。またレンズなどが容易に測定できる。
以上説明したように、本発明に係る一発明の実施の形態例の反射型複屈折率測定装置は、光の干渉を利用しているので非常に高精度に複屈折率を測定することができ、また信号処理系および基本光学系はオールファイバ型のリング干渉計として商用化されているので低価格でコンパクトである。
更に、本実施の形態例では従来のループ型に対し反射型に改良したので45度FR素子が従来は2個必要であったものが1個でよく構成が簡略化できる。またループ型のように振動や騒音の影響を受けない。またレンズなどが容易に測定できる。
このような効果によって、本実施の形態例の反射型複屈折率測定装置は光学分野、表示装置など電子機器分野、医療分野などに広く用いることができ、これらの分野の発展に大きく寄与できるものである。
本発明に係る一発明の実施の形態例の複屈折率測定法の原理を示す基本構成図である。 本発明の実施の形態例の旋光角測定法の原理を示す基本構成図である。 従来のループ型複屈折率測定法の原理を示す基本構成図である。
符号の説明
1:光源(SLD,ASE)
21、22:カップラ
31:偏光子
4:位相変調器
5:偏波面保存光ファイバ
61、62:45度ファラデー回転光学素子
7:非相反光学系
8:被測定試料
9:受光器
10:信号処理系
11;捻り部分
111、112,113:コリメートレンズ
12:ミラー
13:4分の1波長板

Claims (4)

  1. 被測定複屈折試料部分の位相差を検出する信号処理系に光ファイバジャイロの信号処理技術を応用したリング干渉計の信号処理回路を用いた複屈折率測定装置において、
    偏波面保存光ファイバから被測定複屈折試料への照射光を出射する端部を照射光出射端、前記照射光出射端から出射された前記照射光が被測定複屈折試料を通り反射ミラーに反射されて再び前記偏波面保存光ファイバに入射する端部を反射光入射端ということにして、前記複屈折率測定装置は、
    前記照射光出射端と前記反射光入射端が同一端部であり、かつ、互いに直交する偏光モードの信号光を被測定試料への照射光として伝搬させるとともに被測定試料から反射した反射光を互いに直交する偏光モードの信号光として前記照射光とは逆方向へ伝搬させる1本の偏波面保存光ファイバと、
    前記照射光出射端兼前記反射光入射端に配置したコリメート光学系と45度ファラデー回転素子と反射ミラーとで構成する光学系と、
    前記45度ファラデー回転素子と前記反射ミラーの間に配置した被測定複屈折試料と
    で構成されており、
    前記照射光出射端から出射された互いに直交する前記第1の照射光と第2の照射光は、それぞれ前記コリメート光学系と前記45度ファラデー回転素子と前記被測定複屈折試料を経て前記反射ミラーに達し、前記反射ミラーで反射されて再び前記被測定複屈折試料と前記45度ファラデー回転素子と前記コリメート光学系を経て前記反射光入射端に達するようになっており、
    前記直交する照射光の偏光モードの一方を第1の偏光モード、他方を第2の偏光モードということにして、前記1本の偏波面保存光ファイバの前記照射光出射端兼前記反射光入射端から出射した第1の偏光モードの第1の照射光は前記光学系を通り第2の偏光モードの第1の反射光として前記照射光出射端兼前記反射光入射端に入射するとともに、前記1本の偏波面保存光ファイバの前記照射光出射端兼前記反射光入射端から出射した第2の偏光モードの第2の照射光は前記光学系を通り第1の偏光モードの第2の反射光として前記照射光出射端兼前記反射光入射端に入射するようになっており、
    前記照射光出射端兼反射光入射端に達して前記偏波面保存光ファイバに入射した前記反射光は互いに直交する偏光として前記照射光とは逆方向の同一方向に前記偏波面保存光ファイバを伝搬して、前記光ファイバ部分を往復伝搬する前記直交偏光モード間に位相差が発生しないようにして、前記被測定試料を通過する互いに直交する偏波モードの往復の位相差を測定することによって試料の複屈折率を測定する
    ことを特徴とする反射型複屈折率測定装置。
  2. 請求項1に記載の反射型複屈折率測定装置において、
    45度ファラデー回転素子と反射ミラーの間に被測定複屈折試料を配置して信号光が前記被測定複屈折試料を往復して透過できる構成にした
    ことを特徴とする反射型複屈折率測定装置。
  3. 請求項1に記載の反射型複屈折率測定装置において、
    前記偏波面保存光ファイバの照射光出射端兼反射光入射端のコリメートレンズと45度ファラデー回転素子の間に4分の1波長板を置き、左右両方向の円偏波成分を被測定複屈折試料に入射させ、前記ミラーで反射させ、再び前記被測定複屈折試料と前記45度ファラデー回転素子と前記4分の1波長板と前記コリメートレンズを経て前記反射光入射端に入射させ、前記被測定複屈折試料を通過する互いに直交する偏波モードの往復の位相差を測定することによって試料の複屈折率を測定する
    ことを特徴とする反射型複屈折率測定装置。
  4. 請求項2または3に記載の反射型複屈折率測定装置において、
    前記被測定複屈折試料がレンズの場合、前記被測定複屈折試料としてのレンズの焦点位置に反射ミラーをおく
    ことを特徴とする反射型複屈折率測定装置。
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