JP5365329B2 - Manufacturing failure factor analysis support device - Google Patents
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Description
本発明は、複数の作業工程を経て製品が製造されるまでの間に複数の作業工程から抽出した製造履歴情報を蓄積し、蓄積した製造履歴情報から指定した情報項目について、指定した製品の製造ロット番号または個体識別番号とのマトリックス表示を行い、製造不良要因を解析できるようにした製造不良要因解析支援装置に関するものである。 The present invention accumulates manufacturing history information extracted from a plurality of work processes until a product is manufactured through a plurality of work processes, and manufactures a specified product for information items specified from the accumulated manufacturing history information. The present invention relates to a manufacturing failure factor analysis support apparatus that displays a matrix with lot numbers or individual identification numbers and can analyze manufacturing failure factors.
近年、非接触で情報の書込みと読出しが可能なＩＣタグなどの情報記録媒体、およびネットワークやデータベースなどの情報技術の発展、普及により、製造現場ではその製造に関わる製品、部品、設備、作業者などに関する情報および製品の検査結果情報などを従来より数多く計算機上に取り込み、それらの情報を製品の製造ロット番号や製品の個体識別番号に紐付けて管理することが比較的簡単に行えるようになってきている。その中で、製品出荷後に招来したクレーム(苦情)や工場内の検査工程で発生した不良要因の迅速な特定が求められている。 In recent years, with the development and popularization of information recording media such as IC tags that can write and read information in a non-contact manner and information technology such as networks and databases, products, parts, facilities, and workers involved in the production at manufacturing sites. It is now relatively easy to retrieve information related to such information and product inspection result information on a computer, and manage the information by associating it with the product production lot number and product individual identification number. It is coming. Among them, there is a demand for prompt identification of complaints (complaints) that have been brought in after product shipment and defect factors that have occurred in the inspection process in the factory.
不良要因を特定するために要する時間を短くする方法として、一般的には、収集・蓄積した製造履歴情報を利用目的に応じて或るキーワードで検索した情報を表形式のテキストデータで表示する方法が多く利用されている。たとえば、下記特許文献１では、不良要因となる製造装置を特定するために或る製品の製造ロット番号毎に製造装置処理履歴、不良発生件数、および不良内容をテキストベースによる表形式の表示を行うことで、不良要因となる工程や装置の特定を速やかに行えるよう支援する提案がなされている。 As a method of shortening the time required to identify the cause of failure, generally, a method of displaying information retrieved by a certain keyword according to the purpose of using the collected and accumulated manufacturing history information as tabular text data Is widely used. For example, in Patent Document 1 below, in order to identify a manufacturing apparatus that is a cause of a defect, a manufacturing apparatus processing history, the number of occurrences of defects, and the contents of defects are displayed in a text-based table format for each production lot number of a certain product. Thus, proposals have been made to support the rapid identification of processes and devices that cause defects.
また、下記特許文献２では、異常ロットの工程番号及び装置番号、異常ロットのχ２検定値、不良ロット識別情報、並びに不良ロットのスタックマップを作成して不良原因一覧表として出力し不良原因装置を特定する不良原因装置特定システムが提案されている。 Further, in Patent Document 2 below, the process number and device number of the abnormal lot, the χ 2 test value of the abnormal lot, the defective lot identification information, and the stack map of the defective lot are generated and output as a defect cause list, and the defect cause device There has been proposed a system for identifying the cause of failure that identifies the above.
また、下記特許文献３には、複数の製造工程にまたがってワークが移動する際に、各工程の各ポイントで使用材料・製造条件・検査結果・設備稼働状況などのそのワークの詳細製造情報を収集して、収集した使用材料・製造条件・検査結果・設備稼働状況などの各ワークの詳細製造情報を各ワークデータ(計画番号,ロット番号,製造条件番号,ワーク状態データ,設備稼働状態データ,ワーク番号)と紐付けた上で、大量データ保存容量を持つ保存管理手段で管理する製造情報管理方法が開示されている。 In addition, in Patent Document 3 below, when a workpiece moves across a plurality of manufacturing processes, detailed manufacturing information of the workpiece such as materials used, manufacturing conditions, inspection results, and equipment operating status at each point of each process. Collect and collect the detailed manufacturing information of each workpiece such as used materials, manufacturing conditions, inspection results, equipment operating status, etc. for each work data (plan number, lot number, manufacturing condition number, work status data, equipment operating status data, A manufacturing information management method is disclosed that is managed by a storage management means having a large data storage capacity after being associated with a work number).
しかしながら上記特許文献１に記載された従来技術では、テキストベースによる表形式になっていても各セルの違いを判断するには視認性が悪いため、使用装置、使用部品ロット番号、製造条件などの切替りが発生した製品の製造ロット番号および個体識別番号を特定するのは手間と時間が掛かるという問題がある。また上記特許文献２に記載された従来技術では、統計手法を用いて異常ロットを特定するため製品製造ロット番号を特定するための手間と時間が掛かるという問題がある。また上記特許文献３に記載された従来技術では、ワーク毎の検査結果情報を、ワークデータをキーにして紐付けして保存・管理することで、ワーク毎に製造条件情報と検査結果情報を対比することができるものの、製品単位、製造順に並べた製品の製造ロット番号とその製造に係わる情報項目とをマトリックス表に表現して製造情報不良解析を具体的に行う構成については何も言及していない。 However, in the prior art described in the above-mentioned Patent Document 1, since the visibility is not good for determining the difference between cells even in a text-based table format, the device used, the part number used, the manufacturing conditions, etc. There is a problem that it takes time and labor to specify the production lot number and individual identification number of a product that has been switched. Moreover, in the prior art described in the above-mentioned Patent Document 2, there is a problem that it takes time and labor to specify a product manufacturing lot number because an abnormal lot is specified using a statistical method. In the prior art described in Patent Document 3, the inspection result information for each workpiece is stored and managed in association with the workpiece data as a key, so that the manufacturing condition information and the inspection result information can be compared for each workpiece. However, nothing is mentioned about the configuration for concretely analyzing the manufacturing information failure by expressing the manufacturing lot number of the products arranged in the order of products in the order of manufacturing and the information items related to the manufacturing in a matrix table. Absent.
一方、本件出願人により先に出願された特願2007-223869(以下、先願という)では、製品単位、製造順に並べた製品の製造ロット番号または個体識別番号と、その製造に係わる情報項目とのマトリックス表上に、対応した情報項目の内容を同一内容毎に括って表示する方法を提案している。 On the other hand, in Japanese Patent Application No. 2007-223869 (hereinafter referred to as the prior application) filed earlier by the present applicant, the production lot number or individual identification number of the products arranged in the order of production and production, and information items related to the production, We propose a method of displaying the contents of corresponding information items in the same matrix on the matrix table.
しかしながら、前記先願では、情報項目の値をマトリックス表上のセル内に表現しなければならないため、一つのセル幅が長くなり、情報項目の値の桁数によっては画面内の表示列数が少なくなり、スクロールを広範囲に行う必要がでる。そのため、広範囲の状況を見ることができない場合が発生し、その場合は情報項目の値が切替る製品の製造ロット番号および個体識別番号を特定し難いという問題がある。 However, in the prior application, since the value of the information item must be expressed in a cell on the matrix table, the width of one cell becomes long, and the number of display columns in the screen depends on the number of digits of the value of the information item. It becomes less and it is necessary to scroll in a wide range. For this reason, there are cases where a wide range of situations cannot be seen. In this case, there is a problem that it is difficult to specify the production lot number and individual identification number of the product whose information item value is switched.
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、製品出荷後に招来したクレームや工場内の検査工程で発生した不良要因の迅速な特定を支援する製造不良要因解析支援装置を提供することにある。 The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and the object of the present invention is to provide a manufacturing defect that supports the rapid identification of a complaint that has been incurred after product shipment or a defect factor that has occurred in an inspection process in a factory. It is to provide a factor analysis support device.
上記課題を解決するために本発明は、作業工程の製造にかかわる製品、部品、設備、作業者の情報および製品の検査良否、不良現象などの検査結果情報を収集する工程情報収集手段と、該工程情報収集手段が収集した情報を製品の製造ロット番号または個体識別番号に紐付けて製造履歴情報として管理できるよう蓄積する製造履歴情報蓄積手段と、該製造履歴情報蓄積手段に蓄積された前記製造履歴情報を読み込み、解析支援を行うために前記製造履歴情報の中で指定した、製品単位、製造順に並べた製品の製造ロット番号または個体識別番号とその製造に係わる情報項目の値とを抽出してマトリックス表を構成し、該マトリックス表において製品の製造ロット番号が持つ情報項目の値の交点にシンボルを表示できるよう制御する解析支援制御手段と、該解析支援制御手段の制御に基づいて前記マトリックス表と該マトリックス表において前記シンボルを表示する製造履歴情報表示手段と、を備え、前記解析支援制御手段は、指定工程の製造順に時系列に並べた、製品の製造ロット番号または個体識別番号に対応する、検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい一連の製品の製造ロット番号または個体識別番号のグループの内、条件指定により最古、最新、または最も高い不良率を含むグループのいずれかが前記マトリックス表画面上の中心付近になるように制御することを特徴とする。 The present invention in order to solve the above problems, products involved in the production of work steps, components, equipment, worker information and product inspection quality of, and process information collecting means for collecting test result information including failure phenomena, the Manufacturing history information accumulating means for accumulating information collected by the process information collecting means so as to be managed as manufacturing history information in association with a production lot number or individual identification number of the product, and the manufacturing accumulated in the manufacturing history information accumulating means Reads the history information and extracts the product lot number or individual identification number of the products arranged in the product unit, in the order of manufacture and the value of the information item related to the manufacture, specified in the manufacturing history information to perform analysis support. An analysis support system that controls the display of symbols at intersections of information item values of product production lot numbers in the matrix table. And means, and the production history information display means for displaying the symbols in the matrix table and the matrix table based on the control of the analysis support control unit, wherein the analysis supporting control means chronological production sequence specifying step According to the conditions specified in the group of production lot numbers or individual identification numbers of a series of products whose defect rate in the inspection process is higher than a predetermined threshold corresponding to the product production lot number or individual identification number the oldest, you and controls to date, or any of the highest group that includes the failure rate becomes the vicinity of the center on the matrix table screen.
また前記解析支援制御手段は、別の態様として、前記マトリックス表画面にて表示された状態から指示により条件指定における１つ下位のグループが前記マトリックス表画面上の中心付近になるように制御すること、さらには前記マトリックス表画面にて表示された状態から指示により条件指定における１つ上位のグループが前記マトリックス表画面上の中心付近になるように制御する。
Further , as another aspect , the analysis support control means performs control so that the group lower by one in the condition designation is near the center on the matrix table screen according to an instruction from the state displayed on the matrix table screen. In addition, control is performed so that the next higher group in the condition designation is near the center on the matrix table screen by an instruction from the state displayed on the matrix table screen.
本発明の製造不良要因解析支援装置によれば、使用部品ロット番号、作業者、および製造条件などの切替りが発生した製品製造ロット番号または個体識別番号をビジュアルに素早く特定することができるため、不良の発生要因を素早く推定することが可能となり、ひいては、不良要因を推定したことにより後々影響が出てくる製品(影響製品)の特定を迅速に行うことができるという効果がある。 According to the manufacturing failure factor analysis support device of the present invention, it is possible to quickly visually identify the product manufacturing lot number or the individual identification number in which switching has occurred such as the used part lot number, the worker, and the manufacturing conditions. It is possible to quickly estimate the cause of failure, and as a result, it is possible to quickly identify a product (affected product) that will be affected later by estimating the failure factor.
特に、製品出荷後に招来したクレームや工場内の検査工程で発生した不良の発生がある製造ロット番号に多発しているような場合にその不良要因の特定を迅速に行うことができる。 In particular, it is possible to quickly identify the cause of a defect when there are frequent occurrences in a production lot number where there are complaints that have occurred after product shipment or defects that have occurred in the inspection process in the factory.
以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
図１は、本発明の実施形態に係る製造不良要因解析支援装置の構成を示すブロック図である。図１において本発明の実施形態に係る製造不良要因解析支援装置は、バス１００を介して解析支援制御手段２００、製造履歴情報蓄積手段３００、製造履歴情報表示手段４００、および、第１の情報取得手段１１０〜第４の情報取得手段１４０が接続される構成である。そして解析支援制御手段２００は、一般の情報処理装置にあてはめれば、プログラムによって制御される中央制御装置ユニットに相当し、また製造履歴情報蓄積手段３００はＲＡＭ（Random Access Memory）に相当し、製造履歴情報表示手段４００はディスプレイ(出力装置)に相当し、さらに第１の情報取得手段１１０〜第４の情報取得手段１４０は入力装置に相当する。なお解析支援制御手段２００を制御するためのプログラムを格納するプログラム格納部は図１には示していないが、解析支援制御手段２００内に備えられているものとする。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a manufacturing failure factor analysis support apparatus according to an embodiment of the present invention. 1, a manufacturing failure factor analysis support apparatus according to an embodiment of the present invention includes an analysis support control unit 200, a manufacturing history information storage unit 300, a manufacturing history information display unit 400, and a first information acquisition via a bus 100. The means 110 to the fourth information acquisition means 140 are connected. The analysis support control means 200 corresponds to a central control unit controlled by a program if applied to a general information processing apparatus, and the manufacturing history information storage means 300 corresponds to a RAM (Random Access Memory). The history information display unit 400 corresponds to a display (output device), and the first information acquisition unit 110 to the fourth information acquisition unit 140 correspond to an input device. A program storage unit for storing a program for controlling the analysis support control unit 200 is not shown in FIG. 1, but is provided in the analysis support control unit 200.
ここで第１の情報取得手段１１０〜第４の情報取得手段１４０の構成について説明すると、たとえば第１の情報取得手段１１０は、製造にかかわる作業工程１に配置されており、工程情報収集手段１１２および製品、部品、設備、作業者などの製造にかかわる情報の記憶部（以下、単に、“記憶部”と称する）１１４を備えている。記憶部１１４は、図示していないが作業工程１に配置された工程端末(パソコン)を使って工程作業従事者(図示せず)が作業に従事する過程で作業工程における製品、部品、設備、作業者などの製造にかかわる情報を入力するようにし、入力された上記製造にかかわる情報は工程端末(パソコン)と情報取得手段１１０とのインタフェース(図示せず)を経て記憶部１１４に記憶される。 Here, the configuration of the first information acquisition unit 110 to the fourth information acquisition unit 140 will be described. For example, the first information acquisition unit 110 is arranged in the work process 1 related to the manufacture, and the process information collection unit 112. And a storage unit (hereinafter simply referred to as “storage unit”) 114 for information related to the manufacture of products, parts, equipment, workers, and the like. The storage unit 114 is not shown in the drawing, but a process worker (not shown) is engaged in work using a process terminal (personal computer) arranged in the work process 1, and the product, parts, equipment, Information related to manufacturing such as an operator is input, and the input information related to manufacturing is stored in the storage unit 114 via an interface (not shown) between the process terminal (personal computer) and the information acquisition means 110. .
いま解析支援制御手段２００が、プログラムに基づいて第１の情報取得手段１１０から情報を取得するための制御を実行すると、第１の情報取得手段１１０に係る工程情報収集手段１１２は、記憶部１１４に記憶されている作業工程１における製品、部品、設備、作業者などの製造にかかわる情報を収集し、収集した上記製造にかかわる情報を解析支援制御手段２００にバス１００を経由して伝送する。解析支援制御手段２００は、上記製造にかかわる情報を製造履歴情報として管理するために製品の製造ロット番号（製造ロットNo.）や識別番号などに紐付けて製造履歴情報蓄積手段３００に格納して管理する。 When the analysis support control unit 200 executes control for acquiring information from the first information acquisition unit 110 based on a program, the process information collection unit 112 related to the first information acquisition unit 110 includes a storage unit 114. Information related to the manufacture of products, parts, equipment, workers, etc. in the work process 1 is collected, and the collected information related to the manufacture is transmitted to the analysis support control means 200 via the bus 100. The analysis support control unit 200 stores the information related to the manufacturing in the manufacturing history information accumulating unit 300 in association with the manufacturing lot number (manufacturing lot No.) or the identification number of the product in order to manage the information as manufacturing history information. to manage.
ここで上記製品、部品、設備、作業者などの製造にかかわる情報について説明すると、製品の情報としては製造ロット番号（または、製品個々の識別番号）、型式名称などであり、部品の情報としては型式名称、部品ロット番号（部品ロットNo.）などであり、設備の情報としては設備識別番号、動作設定値、製造条件などであり、作業者の情報としては作業者名（作業者識別番号）などである。 Here, the information related to the manufacture of the above products, parts, equipment, workers, etc. will be explained. The product information is the production lot number (or product identification number), model name, etc. Model name, part lot number (part lot number), etc., equipment information such as equipment identification number, operation set value, manufacturing conditions, etc., and worker information (worker identification number) Etc.
同様に、解析支援制御手段２００が、プログラムに基づいて第３の情報取得手段１３０から情報を取得するための制御を実行すると、第３の情報取得手段１３０に係る工程情報収集手段１３２は、記憶部１３４に記憶されている検査工程１における製品、部品、設備、作業者などの検査にかかわる情報および製品の検査良否、不良現象などの検査結果情報を収集し、収集した上記検査にかかわる情報等を解析支援制御手段２００にバス１００を経由して伝送する。解析支援制御手段２００は、上記検査にかかわる情報等を製造履歴情報として管理するために製品の製造ロット番号（製造ロットNo.）や識別番号などに紐付けて製造履歴情報蓄積手段３００に格納して管理する。 Similarly, when the analysis support control unit 200 executes control for acquiring information from the third information acquisition unit 130 based on the program, the process information collection unit 132 related to the third information acquisition unit 130 stores the information. Collecting information related to the inspection of products, parts, equipment, workers, etc. and inspection result information such as product inspection quality and failure phenomena stored in the inspection process 1 stored in the unit 134, etc. Is transmitted to the analysis support control means 200 via the bus 100. The analysis support control unit 200 stores the information related to the inspection in the manufacturing history information accumulating unit 300 in association with the product manufacturing lot number (manufacturing lot number), the identification number, etc. in order to manage the manufacturing history information. Manage.
なお上記においては第２の情報取得手段１２０は図１では作業工程ｎと表示し、第４の情報取得手段１４０は図１では検査工程ｋと表示して、作業工程２，・・，(ｎ−１)および検査工程２，・・，(ｋ−１)に係る中間の工程についての表示をそれぞれ省略している。なお検査工程は作業工程の合間に挿入される場合が多いことから一般的にはｎ≧ｋに設定される。 In the above description, the second information acquisition means 120 is indicated as work process n in FIG. 1, and the fourth information acquisition means 140 is indicated as inspection process k in FIG. -1) and intermediate processes related to inspection steps 2,..., (K-1) are omitted. Since the inspection process is often inserted between work processes, n ≧ k is generally set.
上記において紐付け管理は、リレーショナルデータベース(relational database)を使用して製品の製造ロット番号や識別番号などを主キーとして管理するような方法でも良い。また製品の製造ロット番号や識別番号などと各種製造(検査)情報を紐付けられれば、リスト構造などの独自のデータベース構成で管理することも可能である。一例として、図５に製品の製造ロット番号に各種製造(検査)情報を紐付けるデータ管理形態の例を示す。 In the above, the association management may be a method in which a production lot number or an identification number of a product is managed as a primary key using a relational database. In addition, if various manufacturing (inspection) information can be associated with a production lot number or identification number of a product, it can be managed with a unique database structure such as a list structure. As an example, FIG. 5 shows an example of a data management form in which various production (inspection) information is linked to a production lot number of a product.
次に解析支援制御手段２００は製造不良要因の解析支援のためプログラムに基づいて製造履歴情報表示手段４００に対して製造履歴情報の表示を実行する。図２は、本発明の実施形態に係る製造不良要因解析支援装置により作成される解析支援のための図３および図４に示すような指定された製品の製造ロット番号（または個体識別番号）と指定された情報項目の取り得る値を１行としたマトリックス表を表示する製造履歴情報表示画面作成処理フローである。 Next, the analysis support control unit 200 displays the manufacturing history information on the manufacturing history information display unit 400 based on the program for the analysis support of the manufacturing defect factor. FIG. 2 shows a manufacturing lot number (or individual identification number) of a designated product as shown in FIGS. 3 and 4 for analysis support created by the manufacturing failure factor analysis support apparatus according to the embodiment of the present invention. It is a manufacturing history information display screen creation processing flow for displaying a matrix table in which a possible value of a specified information item is one row.
図６は、本発明の実施形態に係る解析支援制御手段２００の構成を示すブロック図である。図２のフローチャートに示すように、解析支援制御手段２００の製造履歴情報検索手段２１０は検索条件指定・記憶手段２２０に記憶されている、あらかじめ指定された検索条件に適合した製造履歴情報を製造履歴情報蓄積手段３００から読み込み、それを検索後製造履歴情報記憶手段２３０に記憶する（ステップS11）。次いで解析支援制御手段２００のマトリックス表生成手段２４０は、検索後製造履歴情報記憶手段２３０に記憶された製造履歴情報を基に、表示製造情報項目指定・記憶手段２５０に設定されている製造情報項目「部品ロット番号、作業者名、製造条件（製造工程周辺の温湿度、製造設備の設定値や実績値など）など製造にかかわる情報項目」の取り得る値を行の項目とし、検索されている製品の製造ロット番号（または個体識別番号）を製造時間順（早い順、または遅い順）に列の項目として、マトリックス表を作成し、製造履歴情報表示手段４００に表示する（ステップS12）。 FIG. 6 is a block diagram showing the configuration of the analysis support control means 200 according to the embodiment of the present invention. As shown in the flowchart of FIG. 2, the manufacturing history information search unit 210 of the analysis support control unit 200 stores manufacturing history information that is stored in the search condition designation / storage unit 220 and that matches the search conditions specified in advance. It is read from the information storage means 300 and stored in the post-search manufacturing history information storage means 230 (step S11). Next, the matrix table generation means 240 of the analysis support control means 200 is based on the manufacturing history information stored in the post-search manufacturing history information storage means 230, and the manufacturing information items set in the display manufacturing information item designation / storage means 250. The values that can be taken in the “information items related to manufacturing, such as part lot number, worker name, manufacturing conditions (temperature and humidity around the manufacturing process, setting values and actual values of manufacturing equipment, etc.)” are searched as row items. A matrix table is created with the production lot number (or individual identification number) of the product as a column item in the order of production time (early order or late order) and displayed on the production history information display means 400 (step S12).
ちなみに、図３は、本発明の実施形態に係る製造不良要因解析支援装置により作成された製造履歴情報の第１（表形式）の表示画面例を示す図であり、また図４は、本発明の実施形態に係る製造不良要因解析支援装置により作成された製造履歴情報の第２（グラフ形式）の表示画面例を示す図である。 Incidentally, FIG. 3 is a diagram showing a first (tabular form) display screen example of manufacturing history information created by the manufacturing failure factor analysis support apparatus according to the embodiment of the present invention, and FIG. 4 shows the present invention. It is a figure which shows the example of a 2nd (graph form) display screen of the manufacture log | history information produced by the manufacture defect factor analysis assistance apparatus which concerns on this embodiment.
次いで解析支援制御手段２００のマトリックス表シンボル表示手段２６０は、表示したマトリックス表上において、製品の製造ロット番号（または個体識別番号）の持つ情報項目の値にあたるセル（グラフ形式では交点）に、表示製造情報項目指定・記憶手段２５０にあらかじめ設定されている形状でシンボルを表示する（ステップS13）。ここで、製品の製造ロット番号（または個体識別番号）に対応する検査工程の不良率が解析支援制御手段２００の表示製造情報項目指定・記憶手段２５０にあらかじめ設定されている閾値より大きい場合は、それに対応してあらかじめ設定されているシンボルの形状または色に変えて表示する。 Next, the matrix table symbol display means 260 of the analysis support control means 200 displays the information in the cell corresponding to the value of the information item of the product production lot number (or individual identification number) on the displayed matrix table (intersection in the graph format). The symbol is displayed in a shape preset in the manufacturing information item designation / storage means 250 (step S13). Here, when the defect rate of the inspection process corresponding to the production lot number (or individual identification number) of the product is larger than a threshold value preset in the display manufacturing information item designation / storage means 250 of the analysis support control means 200, Correspondingly, the symbol shape or color set in advance is changed and displayed.
本明細書において「不良現象」は、たとえば、製品の外観検査などで検出されるキズ、汚れ、へこみ、破損、変形などの一般的に不良と認識される現象のほか、プリント板実装であれば、はんだブリッジ、未はんだ、誤実装などの現象を含むものと定義する。 In this specification, the “defect phenomenon” is, for example, a phenomenon that is generally recognized as a defect such as a scratch, dirt, dent, breakage, or deformation detected by an appearance inspection of a product, or a printed circuit board mounting. It is defined to include phenomena such as solder bridge, unsoldering, and incorrect mounting.
次に製造履歴情報表示手段４００上への図３、図４に示すような製造履歴情報表示によってもたらされる製造不良要因の解析例を以下に説明する。図３は、表形式で製造情報項目に「(1) 部品ロットA」、「(2) A工程作業者No.」を指定した場合の表示例である。また、図４は、グラフ形式で製造情報項目に「(1) 部品ロットA」、「(2) A工程作業者No.」を指定した場合の表示例である。上述したように解析支援制御手段２００による製造不良要因解析支援に基づいて製造履歴情報表示手段４００に図３、図４に示すような製造履歴情報表示がなされ、この製造履歴情報表示を見て解析者が以下のような不良要因を簡単に推定することができる。例えば、図３、図４では製品製造ロット番号「製品PLOT004〜製品PLOT007」における検査工程ｋの不良率がそれぞれ8％、15％、12％、7％と他の製品製造ロット番号に比べて高くなっているのが見て取れる。ここで、マトリックス表上の製造情報項目「部品AロットNo.」に着目すると、製品製造ロット番号「製品PLOT004〜製品PLOT007」は部品AロットNo.が部品ALOT003となっていて他の製品製造ロット番号と異なっているのが見て取れる。このためこの部品ALOT003の部品ロット番号が不良要因候補であると簡単に推定できる。このようにして、不良要因を推定したことにより後々影響が出てくる製品(影響製品)、たとえば、上記例では不良要因の候補と判断できる部品ALOT003を包含する製品製造ロット番号「製品PLOT004〜製品PLOT007」の製品すべてを迅速に特定することができる。 Next, an example of analyzing the cause of manufacturing failure caused by the display of manufacturing history information as shown in FIGS. 3 and 4 on the manufacturing history information display means 400 will be described below. FIG. 3 is a display example when “(1) Parts lot A” and “(2) A process worker No.” are specified in the manufacturing information item in a table format. FIG. 4 is a display example when “(1) Parts lot A” and “(2) A process worker No.” are specified in the manufacturing information item in a graph format. As described above, the manufacturing history information display unit 400 displays the manufacturing history information as shown in FIGS. 3 and 4 based on the manufacturing failure factor analysis support by the analysis support control unit 200. The person can easily estimate the following failure factors. For example, in FIGS. 3 and 4, the defect rate of the inspection process k in the product production lot numbers “Product PLOT004 to Product PLOT007” is 8%, 15%, 12% and 7%, respectively, which is higher than other product production lot numbers. You can see that it is. Here, paying attention to the manufacturing information item “part A lot number” on the matrix table, the product manufacturing lot number “product PLOT004 to product PLOT007” has the part A lot number of part ALOT003 and other product manufacturing lots. You can see that it is different from the number. Therefore, it can be easily estimated that the part lot number of this part ALOT003 is a defect factor candidate. In this way, a product (influenced product) that will be affected later by estimating the failure factor, for example, a product production lot number “product PLOT004 to product including part ALOT003 that can be determined as a failure factor candidate in the above example” All the products of “PLOT007” can be identified quickly.
また、図３、図４では製品製造ロット番号「製品PLOT011〜製品PLOT012」における検査工程1の不良率がそれぞれ5％、7％と他の製品製造ロット番号に比べて高くなっているのが見て取れる。ここで、マトリックス表上の製造情報項目「A工程作業者No.」に着目すると、製品製造ロット番号「製品PLOT011〜製品PLOT012」はA工程作業者No.が作業者003となっていて他の製品製造ロット番号と異なっているのが見て取れる。このためこの作業者003のA工程作業者が不良要因候補であると簡単に推定できる。このようにして、不良要因を推定したことにより後々影響が出てくる製品(影響製品)、たとえば、上記例では不良要因の候補と判断できる作業者003を包含する製品製造ロット番号「製品PLOT011〜製品PLOT012」の製品すべてを迅速に特定することができる。 In addition, in FIGS. 3 and 4, it can be seen that the defect rate in the inspection process 1 in the product production lot numbers “Product PLOT011 to Product PLOT012” is 5% and 7%, respectively, which is higher than other product production lot numbers. . Here, paying attention to the manufacturing information item “A process worker No.” on the matrix table, the product manufacturing lot number “product PLOT011 to product PLOT012” has the A process worker No. as the worker 003. You can see that it is different from the product production lot number. For this reason, it can be easily estimated that the worker in the process A of the worker 003 is a defect factor candidate. In this way, a product (influenced product) that will be affected later by estimating the defect factor, for example, in the above example, a product production lot number “product PLOT011˜ All products of the product “PLOT012” can be quickly identified.
さらに、解析支援制御手段２００による製造不良要因解析支援に基づいて製造履歴情報表示手段４００に図３、図４に示すような製造履歴情報表示がなされる際に、製品の製造ロット番号または個体識別番号に対応する検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい場合に、当該シンボルの形状または色を前記不良率が閾値以下の場合とは異ならせることで視認性が向上するため、より迅速な判定が可能となる。 Further, when the manufacturing history information as shown in FIGS. 3 and 4 is displayed on the manufacturing history information display unit 400 based on the manufacturing failure factor analysis support by the analysis support control unit 200, the manufacturing lot number or individual identification of the product is performed. When the defect rate of the inspection process corresponding to the number is larger than a predetermined threshold value, visibility is improved by making the shape or color of the symbol different from the case where the defect rate is equal to or less than the threshold value. Rapid determination is possible.
また、解析支援制御手段２００による製造不良要因解析支援に基づいて製造履歴情報表示手段４００に図３、図４に示すような製造履歴情報表示を表示する際に、検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい一連の製品の製造ロット番号または個体識別番号のグループを製造履歴情報表示画面上の中心付近に位置付くようにするための条件をあらかじめ指定しておくことができる。条件としては、「最古」、「最新」、または「最も高い不良率を含む」などの条件を指定できる。 Further, when displaying the manufacturing history information display as shown in FIGS. 3 and 4 on the manufacturing history information display means 400 based on the manufacturing failure factor analysis support by the analysis support control means 200, the defect rate of the inspection process is designated in advance. It is possible to designate in advance a condition for positioning a group of production lot numbers or individual identification numbers of a series of products larger than the set threshold value near the center on the production history information display screen. As the condition, a condition such as “oldest”, “latest”, or “including the highest defect rate” can be designated.
例えば、「最古」の条件が指定されていれば、検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい一連の製品の製造ロット番号または個体識別番号のグループの内、指定工程の製造（開始または完了）時刻が最も過去のグループを表示可能な画面エリア上の中心付近に位置付くように配置して、製造履歴情報表示手段４００に表示する。 For example, if the “oldest” condition is specified, the manufacturing process of the specified process within the group of manufacturing lot numbers or individual identification numbers of a series of products in which the defect rate of the inspection process is greater than a predetermined threshold value ( It is arranged so as to be positioned near the center on the screen area where the group with the earliest start or completion time can be displayed, and is displayed on the manufacturing history information display means 400.
また、例えば、「最新」の条件が指定されていれば、検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい一連の製品の製造ロット番号または個体識別番号のグループの内、指定工程の製造（開始または完了）時刻が最も新しいグループを表示可能な画面エリア上の中心付近に位置付くように配置して、製造履歴情報表示手段４００に表示する。 In addition, for example, if the “latest” condition is specified, the manufacturing process of the specified process within the group of manufacturing lot numbers or individual identification numbers of a series of products in which the defect rate of the inspection process is larger than a predetermined threshold value. The group having the newest (start or completion) time is arranged so as to be positioned near the center on the screen area where it can be displayed, and displayed on the manufacturing history information display means 400.
また、例えば、「最も高い不良率を含む」の条件が指定されていれば、検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい一連の製品の製造ロット番号または個体識別番号のグループの内、最も高い不良率を含むグループを表示可能な画面エリア上の中心付近に位置付くように配置して、製造履歴情報表示手段４００に表示する。 Further, for example, if the condition “including the highest defect rate” is specified, the defect rate of the inspection process is within a group of production lot numbers or individual identification numbers of a series of products that are larger than a predetermined threshold value. The group including the highest defect rate is arranged so as to be positioned near the center on the displayable screen area and displayed on the manufacturing history information display means 400.
上述の表示動作を実現するための処理手順を図７に示す。すなわち図７は、本発明の実施形態に係る解析支援制御手段により対象製品（またはロット）グループを画面エリア上の中心付近に位置付くようにする製造履歴情報表示画面作成処理フローである。 FIG. 7 shows a processing procedure for realizing the display operation described above. That is, FIG. 7 is a manufacturing history information display screen creation processing flow in which the target product (or lot) group is positioned near the center on the screen area by the analysis support control means according to the embodiment of the present invention.
図７のステップS21における「表示指示」において、初回表示指定の時は、ステップS22において、検査工程の不良率が指定された閾値よりも大きい製造ロット番号（または個体識別番号）の時系列的に連続したグループを抽出し、次に、ステップS23において、時系列的に連続したグループの内、指定された条件に一致するグループが表示可能エリアの中心付近に位置付くようにデータ配置し、ステップS24において、製造履歴情報表示手段４００に表示する。 In the “display instruction” in step S21 of FIG. 7, when the initial display is designated, in step S22, the production lot number (or individual identification number) having a defect rate in the inspection process larger than the designated threshold is displayed in time series. A continuous group is extracted, and then in step S23, data is arranged so that a group that matches a specified condition among the continuous groups in time series is positioned near the center of the displayable area, and step S24 is performed. Are displayed on the manufacturing history information display means 400.
この初回表示指定に基づく初回表示後に、ステップS21における「表示指示」で次グループ表示指定（次グループの表示指示を意味する画面上のボタンやカーソルキーなどを押下すること）した場合には、ステップS25において、現在表示可能エリアの中心付近に配置しているグループの一つ下位に条件が一致するグループを表示可能な画面エリア上の中心付近に位置付くように配置して、ステップS24において、製造履歴情報表示手段４００に表示する。このとき、現表示グループが最後の時は、先頭のグループを中心付近とするかまたはそのままとするかのいずれかの方法を選択することが可能である。一つ下位に条件が一致するグループとは、例えば、条件が「最古」の場合は指定工程の製造（開始または完了）時刻が現表示グループの次に過去側のグループ、また条件が「最新」の場合は指定工程の製造（開始または完了）時刻が現表示グループの次に未来側のグループ、さらに条件が「最も高い不良率を含む」の場合は現表示グループの次に低い不良率を含むグループである。 After the initial display based on this initial display specification, if the next group display is specified in the “display instruction” in step S21 (by pressing a button or a cursor key on the screen that indicates the display instruction of the next group) In S25, the group matching the condition is positioned so as to be positioned near the center on the displayable screen area in the lower level of the group currently arranged near the center of the displayable area. It is displayed on the history information display means 400. At this time, when the current display group is the last, it is possible to select a method of setting the top group near the center or leaving it as it is. For example, if the condition is the "oldest", the group that matches the condition one level lower is the group that is the manufacturing process (start or completion) of the specified process in the past next to the current display group. ”If the manufacturing (start or completion) time of the specified process is the next group next to the current display group, and if the condition is“ includes the highest defect rate ”, the next lowest defect rate of the current display group Including group.
さらに、ステップS21における「表示指示」で前グループ表示指定（前グループの表示指示を意味する画面上のボタンやカーソルキーなどを押下すること）した場合には、ステップS26において、現在表示可能エリアの中心付近に配置しているグループの一つ上位に条件が一致するグループを表示可能な画面エリア上の中心付近に位置付くように配置して、ステップS24において、製造履歴情報表示手段４００に表示する。このとき、現表示グループが先頭の時は、最後のグループを中心付近とするかまたはそのままとするかのいずれかの方法を選択することが可能である。一つ上位に条件が一致するグループとは、例えば、条件が「最古」の場合は指定工程の製造（開始または完了）時刻が現表示グループの次に未来側のグループ、また条件が「最新」の場合は指定工程の製造（開始または完了）時刻が現表示グループの次に過去側のグループ、さらに条件が「最も高い不良率を含む」の場合は現表示グループの次に高い不良率を含むグループである。 Furthermore, when the previous group display is specified in the “display instruction” in step S21 (by pressing a button or a cursor key on the screen indicating the previous group display instruction), in step S26, the currently displayable area is displayed. A group matching the condition is positioned so as to be positioned in the vicinity of the center on the displayable screen area at a position higher than the group arranged near the center, and displayed on the manufacturing history information display unit 400 in step S24. . At this time, when the current display group is at the top, it is possible to select either the method of setting the last group near the center or leaving it as it is. For example, if the condition is the "oldest", the group with the condition that is one level higher is, for example, the manufacturing (start or completion) time of the specified process is the next group next to the current display group, and the condition is "latest" ”If the manufacturing (start or completion) time of the specified process is the previous group next to the current display group, and if the condition is“ includes the highest defect rate ”, the next highest defect rate of the current display group Including group.
また上述した初回表示指定に基づく初回表示後に、表示されたグループの位置を任意に変えたい場合は、手動でスクロールしたり、ページ切替えを行うこと等により変更することもできる。 In addition, after the initial display based on the above-described initial display designation, when it is desired to arbitrarily change the position of the displayed group, it can be changed by manually scrolling or switching pages.
このようにすることにより、上述したマトリックス表上に検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい一連の製品の製造ロット番号または個体識別番号のグループが複数ある場合でも対象となる見たいグループの表示が容易にできる。 In this way, the above-mentioned matrix table is to be viewed even when there are a plurality of groups of production lot numbers or individual identification numbers of a series of products in which the defect rate of the inspection process is larger than a predetermined threshold value. The group can be displayed easily.
１００ バス
１１０ 第１の情報取得手段
１１２ 工程情報収集手段
１１４ 記憶部
１２０ 第２の情報取得手段
１２２ 工程情報収集手段
１２４ 記憶部
１３０ 第３の情報取得手段
１３２ 工程情報収集手段
１３４ 記憶部
１４０ 第４の情報取得手段
１４２ 工程情報収集手段
１４４ 記憶部
２００ 解析支援制御手段
２１０ 製造履歴情報検索手段
２２０ 検索条件指定・記憶手段
２３０ 検索後製造履歴情報記憶手段
２４０ マトリックス表生成手段
２５０ 表示製造情報項目指定・記憶手段
２６０ マトリックス表シンボル表示手段
３００ 製造履歴情報蓄積手段
４００ 製造履歴情報表示手段
100 Bus 110 First Information Acquisition Unit 112 Process Information Collection Unit 114 Storage Unit 120 Second Information Acquisition Unit 122 Process Information Collection Unit 124 Storage Unit 130 Third Information Acquisition Unit 132 Process Information Collection Unit 134 Storage Unit 140 Fourth Information acquisition means 142 Process information collection means 144 Storage unit 200 Analysis support control means 210 Manufacturing history information search means 220 Search condition specification / storage means 230 Post-search manufacturing history information storage means 240 Matrix table generation means 250 Display manufacturing information item specification / Storage means 260 Matrix table symbol display means 300 Manufacturing history information storage means 400 Manufacturing history information display means
Claims (2)
該工程情報収集手段が収集した情報を製品の製造ロット番号または個体識別番号に紐付けて製造履歴情報として管理できるよう蓄積する製造履歴情報蓄積手段と、
該製造履歴情報蓄積手段に蓄積された前記製造履歴情報を読み込み、解析支援を行うために前記製造履歴情報の中で指定した、製品単位、製造順に並べた製品の製造ロット番号または個体識別番号とその製造に係わる情報項目の値とを抽出してマトリックス表を構成し、該マトリックス表において製品の製造ロット番号が持つ情報項目の値の交点にシンボルを表示できるよう制御する解析支援制御手段と、
該解析支援制御手段の制御に基づいて前記マトリックス表と該マトリックス表において前記シンボルを表示する製造履歴情報表示手段と、を備え、
前記解析支援制御手段は、指定工程の製造順に時系列に並べた、製品の製造ロット番号または個体識別番号に対応する、検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい一連の製品の製造ロット番号または個体識別番号のグループの内、条件指定により最古、最新、または最も高い不良率を含むグループのいずれかが前記マトリックス表画面上の中心付近になるように制御することを特徴とする製造不良要因解析支援装置。 Process information collection means for collecting information on products, parts, equipment, workers involved in manufacturing of work processes, and inspection result information such as product inspection quality, defect phenomena;
And manufacturing history information storing means for storing to manage information collected is the process information collection means as a link with and manufacturing history information in the production lot number or identification number of the product,
Read the manufacturing history information stored in the manufacturing history information storage means, and specify the product lot number or individual identification number of the products arranged in the order of products, specified in the manufacturing history information to perform analysis support An analysis support control means for extracting a value of an information item related to the production to constitute a matrix table, and controlling so that a symbol can be displayed at the intersection of the value of the information item possessed by the production lot number of the product in the matrix table;
Based on the control of the analysis support control means, the matrix table and manufacturing history information display means for displaying the symbol in the matrix table ,
The analysis support control means manufactures a series of products in which the defect rate of the inspection process is larger than a predetermined threshold corresponding to the product production lot number or individual identification number arranged in time series in the specified process manufacturing order. Of the lot number or individual identification number groups, control is performed so that one of the oldest, the latest, or the group containing the highest defect rate is specified near the center on the matrix table screen according to the condition specification. Manufacturing failure factor analysis support device.
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