JP5347507B2 - 信号品質測定装置、スペクトラム測定回路、プログラム - Google Patents
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Description
図10は、本発明の第1の実施形態の信号品質測定装置の全体構成を示すブロック図である。なお、後述の第2〜第3の実施形態の信号品質測定装置の全体構成は、図10と同様である。
本実施形態の信号品質測定装置は、全体構成は図10に示したものと同様であるが、スペクトラム測定回路101の構成が、図12に示したものとは異なる。
本実施形態の信号品質測定装置は、全体構成は図10に示したものと同様であるが、スペクトラム測定回路101の構成が、図12に示したものとは異なる。
図22は、本発明の第4の実施形態の信号品質測定装置の構成の一部を示すブロック図である。
Claims (28)
- 試験対象の送信器および受信器と、前記送信器から出力された被測定信号を減衰させた上で前記受信器に入力する波形減衰器と、前記送信器から出力された前記被測定信号の信号強度を測定するスペクトラム測定回路と、を有する信号品質測定装置において、
前記スペクトラム測定回路は、
位相変調量の設定が切り替えられる度に、クロック信号の位相を当該位相変調量だけずらした位相変調信号を出力するN(Nは2以上の整数)相クロック発生回路と、
前記送信器から出力された前記被測定信号と前記N相クロック発生回路から出力された前記位相変調信号との積をとるミキサ回路と、
前記ミキサ回路の出力信号の平均電圧値を出力する平均値出力回路と、
前記N相クロック発生回路の前記位相変調量ごとに、前記平均値出力回路から出力される前記平均電圧値を格納するメモリと、
前記メモリに格納された、前記N相クロック発生回路の前記位相変調量ごとの前記平均電圧値を用いて、前記被測定信号の信号強度を演算する演算器と、を有する、信号品質測定装置。 - 前記N相クロックの周波数は、測定したい周波数成分の周波数と同一あるいはその整数分の1の周波数である、請求項1に記載の信号品質測定装置。
- 前記ミキサ回路は、前記N相クロック発生回路から出力された前記位相変調信号に応じて開閉し、閉じた状態において前記送信器から出力された前記被測定信号を通過出力させるスイッチである、請求項1または2に記載の信号品質測定装置。
- 前記N相クロック発生回路は、前記被測定信号のキャリア周波数成分の信号強度の測定において、Nの値が4以上に固定され、位相が互いに異なり、かつ周波数が同一であり、かつそれぞれの位相の値が既知である前記位相変調信号を出力する、請求項1から3のいずれか1項に記載の信号品質測定装置。
- 前記N相クロック発生回路は、前記被測定信号のキャリア周波数成分の信号強度の測定において、前記位相変調量を(360°/N)*M(Mは0以上N−1以下の整数)とし、前記位相変調量の設定の切り替えの際にはNの値が固定でMの値が切り替えられる、請求項1から3のいずれか1項に記載の信号品質測定装置。
- 前記N相クロック発生回路は、Nの値が4に固定される、請求項4または5に記載の信号品質測定装置。
- 前記N相クロック発生回路は、Nの値が8に固定される、請求項4または5に記載の信号品質測定装置。
- 前記平均値出力回路から出力された前記平均電圧値と参照電圧値との大小を判定するコンパレータと、
前記コンパレータによる判定結果に応じてカウンタ値が増減するカウンタと、
前記カウンタのカウンタ値をディジタル値からアナログ値に変換し、変換したアナログ値に応じた前記参照電圧値を前記コンパレータに出力するディジタル−アナログ変換器と、をさらに有し、
前記メモリは、前記平均値出力回路から出力された前記平均電圧値と前記参照電圧値とが等しくなった時点における前記カウンタのカウンタ値を、前記平均電圧値として格納する、請求項4から7のいずれか1項に記載の信号品質測定装置。 - 前記N相クロック発生回路は、
前記被測定信号のK(Kは2以上の整数)次高調波成分の信号強度の測定において、前記位相変調量を(360°/K*J)*(M/N)(Jは0以上K−1以下の整数)とし、前記位相変調量の設定の切り替えの際にはNの値が固定でJおよびMの値が切り替えられる第1のN相クロック発生回路と、
前記被測定信号のK次高調波成分の信号強度の測定において、前記位相変調量を(360°/K*J)*(M/N)+(180°/K)とし、前記位相変調量の設定の切り替えの際にはNの値が固定でJおよびMの値が切り替えられる第2のN相クロック発生回路と、
前記第1のN相クロック発生回路の出力信号の電圧値と前記第2のN相クロック発生回路の出力信号の反転電圧値とのNANDを演算し、該演算結果を前記位相変調信号として出力する論理回路と、含む、請求項1から3のいずれか1項に記載の信号品質測定装置。 - 前記波形減衰器は、
外部から電圧が印加される第1および第2の端子と、
一端が前記第1の端子に接続される第1の抵抗と、
一端が前記第2の端子に接続され、他端が前記第1の抵抗の他端に接続される第2の抵抗と、
一端が前記第1および第2の抵抗の接続点に接続され、他端が接地される第3の抵抗と、を有する、請求項1から9のいずれか1項に記載の信号品質測定装置。 - 被測定信号の信号強度を測定するスペクトラム測定回路において、
位相変調量の設定が切り替えられる度に、クロック信号の位相を当該位相変調量だけずらした位相変調信号を出力するN(Nは2以上の整数)相クロック発生回路と、
前記被測定信号と前記N相クロック発生回路から出力された前記位相変調信号との積をとるミキサ回路と、
前記ミキサ回路の出力信号の平均電圧値を出力する平均値出力回路と、
前記N相クロック発生回路の前記位相変調量ごとに、前記平均値出力回路から出力される前記平均電圧値を格納するメモリと、
前記メモリに格納された、前記N相クロック発生回路の前記位相変調量ごとの前記平均電圧値を用いて、前記被測定信号の信号強度を演算する演算器と、を有する、スペクトラム測定回路。 - 前記N相クロックの周波数は、測定したい周波数成分の周波数と同一あるいはその整数分の1の周波数である、請求項11に記載のスペクトラム測定回路。
- 前記ミキサ回路は、前記N相クロック発生回路から出力された前記位相変調信号に応じて開閉し、閉じた状態において前記被測定信号を通過出力させるスイッチである、請求項11または12に記載のスペクトラム測定回路。
- 前記N相クロック発生回路は、前記被測定信号のキャリア周波数成分の信号強度の測定において、Nの値が4以上に固定され、位相が互いに異なり、かつ周波数が同一であり、かつそれぞれの位相の値が既知である前記位相変調信号を出力する、請求項11から13のいずれか1項に記載のスペクトラム測定回路。
- 前記N相クロック発生回路は、前記被測定信号のキャリア周波数成分の信号強度の測定において、前記位相変調量を(360°/N)*M(Mは0以上N−1以下の整数)とし、前記位相変調量の設定の切り替えの際にはNの値が固定でMの値が切り替えられる、請求項11から13のいずれか1項に記載のスペクトラム測定回路。
- 前記N相クロック発生回路は、Nの値が4に固定される、請求項14または15に記載のスペクトラム測定回路。
- 前記N相クロック発生回路は、Nの値が8に固定される、請求項14または15に記載のスペクトラム測定回路。
- 前記平均値出力回路から出力された前記平均電圧値と参照電圧値との大小を判定するコンパレータと、
前記コンパレータによる判定結果に応じてカウンタ値が増減するカウンタと、
前記カウンタのカウンタ値をディジタル値からアナログ値に変換し、変換したアナログ値に応じた前記参照電圧値を前記コンパレータに出力するディジタル−アナログ変換器と、をさらに有し、
前記メモリは、前記平均値出力回路から出力された前記平均電圧値と前記参照電圧値とが等しくなった時点における前記カウンタのカウンタ値を、前記平均電圧値として格納する、請求項14から17のいずれか1項に記載のスペクトラム測定回路。 - 前記N相クロック発生回路は、
前記被測定信号のK(Kは2以上の整数)次高調波成分の信号強度の測定において、前記位相変調量を(360°/K*J)*(M/N)(Jは0以上K−1以下の整数)とし、前記位相変調量の設定の切り替えの際にはNの値が固定でJおよびMの値が切り替えられる第1のN相クロック発生回路と、
前記被測定信号のK次高調波成分の信号強度の測定において、前記位相変調量を(360°/K*J)*(M/N)+(180°/K)とし、前記位相変調量の設定の切り替えの際にはNの値が固定でJおよびMの値が切り替えられる第2のN相クロック発生回路と、
前記第1のN相クロック発生回路の出力信号の電圧値と前記第2のN相クロック発生回路の出力信号の反転電圧値とのNANDを演算し、該演算結果を前記位相変調信号として出力する論理回路と、含む、請求項11から13のいずれか1項に記載のスペクトラム測定回路。 - 被測定信号の信号強度を測定するコンピュータを、
位相変調量の設定が切り替えられる度に、クロック信号の位相を当該位相変調量だけずらした位相変調信号を出力するN(Nは2以上の整数)相クロック発生手段と、
前記被測定信号と前記N相クロック発生手段から出力された前記位相変調信号との積をとるミキサ手段と、
前記ミキサ手段の出力信号の平均電圧値を出力する平均値出力手段と、
前記N相クロック発生手段の前記位相変調量ごとに、前記平均値出力手段から出力される前記平均電圧値を格納する記憶手段と、
前記記憶手段に格納された、前記N相クロック発生手段の前記位相変調量ごとの前記平均電圧値を用いて、前記被測定信号の信号強度を演算する演算手段と、として機能させるためのプログラム。 - 前記N相クロックの周波数は、測定したい周波数成分の周波数と同一あるいはその整数分の1の周波数である、請求項20に記載のプログラム。
- 前記ミキサ手段は、前記N相クロック発生手段から出力された前記位相変調信号に応じて開閉し、閉じた状態において前記被測定信号を通過出力させる、請求項20または21に記載のプログラム。
- 前記N相クロック発生手段は、前記被測定信号のキャリア周波数成分の信号強度の測定において、Nの値が4以上に固定され、位相が互いに異なり、かつ周波数が同一であり、かつそれぞれの位相の値が既知である前記位相変調信号を出力する、請求項20から22のいずれか1項に記載のプログラム。
- 前記N相クロック発生手段は、前記被測定信号のキャリア周波数成分の信号強度の測定において、前記位相変調量を(360°/N)*M(Mは0以上N−1以下の整数)とし、前記位相変調量の設定の切り替えの際にはNの値が固定でMの値が切り替えられる、請求項20から22のいずれか1項に記載のプログラム。
- 前記N相クロック発生手段は、Nの値が4に固定される、請求項23または24に記載のプログラム。
- 前記N相クロック発生手段は、Nの値が8に固定される、請求項23または24に記載のプログラム。
- 前記コンピュータを、
前記平均値出力手段から出力された前記平均電圧値と参照電圧値との大小を判定する手段と、
前記判定結果に応じてカウンタ値が増減するカウンタ手段と、
前記カウンタ値をディジタル値からアナログ値に変換し、変換したアナログ値に応じた前記参照電圧値を前記コンパレータに出力する手段と、としてさらに機能させ、
前記記憶手段は、前記平均値出力手段から出力された前記平均電圧値と前記参照電圧値とが等しくなった時点における前記カウンタ手段のカウンタ値を、前記平均電圧値として格納する、請求項23から26のいずれか1項に記載のプログラム。 - 前記N相クロック発生手段は、
前記被測定信号のK(Kは2以上の整数)次高調波成分の信号強度の測定において、前記位相変調量を(360°/K*J)*(M/N)(Jは0以上K−1以下の整数)とし、前記位相変調量の設定の切り替えの際にはNの値が固定でJおよびMの値が切り替えられる第1のN相クロック発生手段と、
前記被測定信号のK次高調波成分の信号強度の測定において、前記位相変調量を(360°/K*J)*(M/N)+(180°/K)とし、前記位相変調量の設定の切り替えの際にはNの値が固定でJおよびMの値が切り替えられる第2のN相クロック発生手段と、
前記第1のN相クロック発生手段の出力信号の電圧値と前記第2のN相クロック発生手段の出力信号の反転電圧値とのNANDを演算し、該演算結果を前記位相変調信号として出力する論理手段と、含む、請求項20から22のいずれか1項に記載のプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008552085A JP5347507B2 (ja) | 2007-01-05 | 2007-12-18 | 信号品質測定装置、スペクトラム測定回路、プログラム |
Applications Claiming Priority (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007000567 | 2007-01-05 | ||
JP2007000567 | 2007-01-05 | ||
JP2007146818 | 2007-06-01 | ||
JP2007146818 | 2007-06-01 | ||
JP2008552085A JP5347507B2 (ja) | 2007-01-05 | 2007-12-18 | 信号品質測定装置、スペクトラム測定回路、プログラム |
PCT/JP2007/074329 WO2008081713A1 (ja) | 2007-01-05 | 2007-12-18 | 信号品質測定装置、スペクトラム測定回路、プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2008081713A1 JPWO2008081713A1 (ja) | 2010-04-30 |
JP5347507B2 true JP5347507B2 (ja) | 2013-11-20 |
Family
ID=39588398
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008552085A Expired - Fee Related JP5347507B2 (ja) | 2007-01-05 | 2007-12-18 | 信号品質測定装置、スペクトラム測定回路、プログラム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8355884B2 (ja) |
EP (1) | EP2103948A4 (ja) |
JP (1) | JP5347507B2 (ja) |
WO (1) | WO2008081713A1 (ja) |
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US8941541B2 (en) | 1999-09-20 | 2015-01-27 | Fractus, S.A. | Multilevel antennae |
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- 2007-12-18 JP JP2008552085A patent/JP5347507B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-12-18 EP EP07850815.7A patent/EP2103948A4/en not_active Withdrawn
- 2007-12-18 WO PCT/JP2007/074329 patent/WO2008081713A1/ja active Application Filing
- 2007-12-18 US US12/522,243 patent/US8355884B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2008081713A1 (ja) | 2010-04-30 |
EP2103948A1 (en) | 2009-09-23 |
WO2008081713A1 (ja) | 2008-07-10 |
EP2103948A4 (en) | 2013-09-25 |
US20100094577A1 (en) | 2010-04-15 |
US8355884B2 (en) | 2013-01-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121106 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121212 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |