JP5307890B2 - 構造用シールの密封性をチェックする方法および装置 - Google Patents

Description

本発明は、構造用シールの密封性をチェックする方法および装置に関する。より詳しくは、本発明は、非導電性であるか、極く僅かな導電性を有し、かつ空気と比較して高い電気破壊強度を有する膜形式の構造用シールであって、該構造用シールの内面または外面に配置されかつ構造用シールの実質的に全面に亘って延びかつ試験電圧が印加される導電層が設けられた構造用シールの損傷箇所または欠陥箇所、より詳しくは材料厚さが減少した弱化箇所を検出する方法、および非導電性であるか、極く僅かな導電性を有する材料で作られかつ空気と比較して高い電気破壊強度を有し、損傷箇所または欠陥箇所、より詳しくは構造用シールの材料厚さが減少した弱化箇所を検出するための電圧源を備えた試験装置と、構造用シールの内側および外側に配置されかつ実質的に構造用シールの全面に亘って延びている導電層とを有する膜形式の構造用シールに関する。

これまで、膜形式シールが、構造用シールのかなりの割合を代表している。構造用シールの目的は、地下水、地中水および雨水の浸透に対して建造物を信頼性をもって保護し、したがって基礎構造に対する損傷、および建造物の全寿命に亘る建造物の使用の妨げを防止することにある。一般に、膜形式シールは、歴青質材料または厚手のプラスチック材料からなり、これらは現代では入手可能でありかつ一般にウェブ型製品として工業的に製造されているが、建設現場で表面に適用されるシーリング材料としてますます広く使用されている。機能を達成するためには、膜形式シールは耐水性をもたなくてはならない。

製品の欠陥、欠陥ある処理、不適当な荷重および天候の作用は、膜形式構造用シールの密封性の喪失をもたらし、このため、当該損傷を的を絞った態様で直ぐに解消すべく直ちに識別されない場合には建造物に更なる大きい損傷を引き起こしてしまう。したがって、これまでの建造物への損傷の大部分は、構造用シールへの損傷により引き起こされていた。また、シールが損傷を受けていることが判明している場合でも、規則的に損傷を修理することはしばしば不可能である。なぜならば、損傷を受けた箇所の位置を突き止めることが困難なことがあり、またしばしば建造物の構造内にアクセス不可能に埋め込まれている場合があるからである。したがって、膜形式構造用シールが損傷を受けると、更に損傷が広がる可能性がある。

このような背景に対し、できる限り早くシールの損傷を認識しかつできる限り正確にこの損傷を突き止めることを目的として、密封性をモニタリングしかつ構造用シールの漏洩を突き止める方法を提供することが多年に亘って既に試みられてきた。現在利用できる解決方法は、次のような特性に特徴を有している。

簡単で慣用的な形式のシステム：これらのシステムでは、シールは、シールの乾燥させるべき側面で、浸透した漏洩水を検査中に識別できるようにした視覚チェック方法が提供されるように構成されている。電気式水分検出器を付加することにより、モニタリングを自動化することもできる。この構造の欠点は、漏洩を突き止めることは事実上不可能でありかつ凝縮水の外観からは漏洩水を区別できず、このため決定的な漏洩識別が事実上不可能なことにある。他の欠点は、チェックが、いつでも、試験の時点でシールが水を負荷するか、既に水を負荷していることに基づいて行われることである。

真空システム：これらのシステムでは、シールが２つの層を有し、これらの層間に排気可能な中間スペースが形成されるように構成されている。この制御スペースを特定の負圧まで真空引きするならば、経時圧力増大に基づいてシールの密封性を判定できる。このシステムの１つの長所は、水の負荷とは無関係にシールの密封性を判定できることである。この方法の欠点は、二重シールシステムが高コストであること、および漏洩の場合に、的を絞った態様で損傷箇所を突き止める方法がないことである。

電気−抵抗システム：これらのシステムは、材料に関して、膜形式シールは高い電気抵抗および高い破壊強度を有するという事実を利用している。種々の構成を利用できる。

ポテンショメータ法では、濡れたシール外面と接触層（または接触層がない場合は建造物構造）との間に電圧を印加したときに生じる電界が、漏洩箇所に電流を通すことにより、シールの濡れた外面上、またはシールの下の乾燥させることを意図した側面上の電気接触層内で測定される。これらの方法は、技術的実施方法によっては非常に有効であり、或る場合には、完全に自動化された密封性モニタリングおよび漏洩箇所の正確な突き止めを可能にする。

下記特許文献１には、シーリングフィルムが開示されており、該シーリングフィルムの両面の各々は、非導電層で覆われた内側導電層を有している。このシールに漏洩が生じた場合には、漏洩の発生は、導電層から地面または導電性支持媒体へと流れる電流を測定することにより識別される。

これらの方法の欠点は、漏洩の識別は、基本的に、シールが水または濡れたカバー材料を負荷するとき、または浸透する水分により導電性経路が漏洩箇所に形成されたときにのみ可能なことである。測定を上方のシール面から行う場合には、シールをチェックすべく、試験装置を用いて全シール面を手作業で試験しなければならない。これはかなりの時間を要するだけでなく、充分な特殊知識がある場合にのみ信頼性ある結果が得られるに過ぎない。

この欠点は、下記特許文献２に開示されているように、スパークブラシとして知られている可動試験電極を用いて、建造物とは反対側の非カバー面に高電圧を印加することにより解消される。反対側の電極は、シールが敷かれる接地建造物構造またはシールの直ぐ下または後ろの建造物に対面する側面上の付加導電層上にあり、この層は、シールの下または後ろに緩く敷かれるか、シールに確実に連結される。次に、シールの損傷を受けた箇所の上で試験電極が案内されると、無傷のシール面と比較して破壊強度が低下される。これは、損傷を受けた結果として、無傷のシールの材料厚さより薄くなっていること、またはシール材料よりかなり小さい破壊強度を有するエアギャップが存在するに過ぎないことによる。これらの条件の結果として、損傷箇所上を通過するときにスパークが点火される。これは装置により検出され、したがって信頼性をもって識別される。比較的低い試験電圧でのみ作動できるようにするため、入手できる幾つかのシステムでは、試験は、スパークブラシではなく水スプレー装置を用いて行われる。この方法では、電圧が水ジェットを介してシールに印加され、水ジェットは次に、キャピラリー型損傷個所内にも浸透し、損傷個所で導電性連結を形成する。

既知の高電圧試験方法の欠点はシールを完全に露出させなくてはならないことであり、もしもこれらの方法が試験媒体として水を用いて行われるならば、水は流出して、シールの縁部を通って電気的接続部を形成し、測定結果を歪めてしまう。シール全体を試験用電極を用いて試験しなければならないので、この方法は、特に大きいシールまたはアクセスが困難なシールを試験すべき場合に非常に時間を要してしまう。試験中に試験電極を用いて全表面をブラッシングしない場合（この場合には規則的にモニタリングされない）には、測定が不正確になる危険がある。したがって、既知の高電圧試験は、次の建造作業中に建造物シールを規則的に試験するのには適していない。この場合には、シールにアクセスするのがしばしば不可能になるからである。

特にトンネルのシールでは、シールの損傷は非常に重大な危険を招く。なぜならば、シールの損傷は、水が完成されたトンネルに流入するときに最初に識別されるからである。これは、排水を、シールに作用する静圧負荷圧力が設定される前およびシールが水を負荷する前に、最初に止めなくてはならないことによる。この場合に発生する圧力により、シールに損傷を与える更なる危険が生じる。なぜならば、外部圧力が増大すると、シールがコンクリートの内側シェルに対して一層強く押し付けられるからである。内側シェルの領域がコンクリートで完全に充填されていない場合には、シールは、更なる損傷の危険が生じる態様で、内側シェルの露出した補強体に対して押し付けられて、孔が開いてしまう。経験上判明していることであるが、水は、シールの漏洩が実際に生じている場所でコンクリートの内側シェルから出るのではなく、トンネルチューブのセグメント間の継手の漏れ易いギャップまたはコンクリートのクラックを通って出るまで、コンクリートの内側シェルの後ろに流路を見出すという事実により、この問題は更に悪化する。

シールは、検査できない態様でトンネルの内側シェルの後ろに隠され、漏洩位置に関する情報が全く得られないか、漠然とした情報が得られるに過ぎないので、これまで、トンネルシールの漏洩の補修には、大きい領域に亘って高価なインジェクションプロセスが必要とされた。このため、補修がかなり大きいメインテナンスコストを永久的に発生させるにもかかわらず、多くのトンネルが漏れ易い状態に留まっており、多大な費用を投じてもしばしば不成功に終わっている。したがって、下記非特許文献１では、全部で６３個のスイスのトンネルが、そのシーリングシステムの有効性について試験されている。その後、確立された漏洩に対してインジェクションプロセスによる補修を行った後でも、依然として１３個のトンネルが漏れ易いと区分され、そのうち１０個のみが圧縮水を含むトンネルであった。これらの残念な結果の背景に対しておよび漏れ易いトンネルの（しばしば、うまくいかない）補修およびメインテナンスの莫大なコストの観点から、非特許文献１の報告は、トンネルのシールを最初から密封性をもたせることを可能にするあらゆることをすべきとの緊急提言に結論つけている。

しかしながら、この目的は、シールの品質、したがってシールの密封性を建造中および建造物の個々の建造フェーズの直ぐ後に試験でき、安定した客観的な測定結果を用いて損傷を規則的に確立でき、確立された損傷を簡単な方法で突き止めることができ、かつ構造用シールの損傷をもたらす、残りの建造作業の欠陥または弱点（例えば不完全なコンクリート作業）が、同様に規則的に検出されかつシールへの損傷が更なる損傷として生じる前の適当な方法により解消される場合にのみ達成できる。

ドイツ国特許ＤＥ ４１ ２５ ４３０ Ｃ２公報 国際特許公開ＷＯ ００／０１８９５ Ａ１公報

スイス連邦道路局（Swiss Federal Roads Office (FEDRO)）によるジョイントリサーチプロジェクトの結果に関する報告である２００４年の年報「材料試験および研究を行うスイス連邦研究所（Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research(EMPA)）

本発明の目的は、非導電性であるか、極く僅かな導電性を有する膜形式構造用シールのチェック方法であって、シールが支持体上に配置されるか、上面および／または下面が露出されているか補強体で覆われているか、建造物の構造中にアクセス不可能に埋入されているか否かにかかわらず、膜形式構造用シールの全表面に亘って密封性をチェックできる膜形式構造用シールのチェック方法を提供することにある。所望の方法は、試験すべきシールが濡れた材料で未だ覆われていないか、水と接触している場合でも密封性をチェックできるようにすることである。より詳しくは、所望の方法は、試験すべきシールの損傷を受けたすべての箇所を絞り込むか、好ましくは突き止めることができるようにすることである。また、本発明の目的は、所望の方法を実施できる対応試験装置が設けられた膜形式構造用シールを提供することにある。

上記目的は、特許請求の範囲の記載の請求項１の特徴を有する方法および請求項１６の特徴を有する構造用シールにより達成される。

本発明による方法は、空気と比較して高い電気破壊強度を有する非導電性であるか、極く僅かな導電性を有する膜形式の構造用シールの損傷箇所または欠陥箇所、より詳しくは材料厚さが減少した弱化箇所を検出すべく機能する。構造用シールには、（第１）導電層が設けられており、該導電層は、構造用シールの内側または外側に配置されかつ構造用シールの実質的に全面に亘って延びている。本発明によれば、上記損傷箇所、欠陥箇所および／または弱化箇所を検出するため、他の導電層が使用される。この導電層は、構造用シールにより上記第１導電層から電気的に分離されかつ構造用シールの実質的に全面に亘って延びている。両導電層には試験電圧が印加され、該電圧の強度は、構造用シールに非導電性の損傷箇所、欠陥箇所および／または弱化箇所がある場合に、これらの箇所に、電気的破壊強度を超えて電気スパークまたはアークが形成されるように選択される。試験電圧は、電気スパークまたはアークの形成に付随して生じる電気破壊が、試験すべき構造用シールに相当する非損傷および／または非弱化構造用シールに生じる破壊試験電圧より低くなるように選択される。

本明細書において、用語「極く僅かな導電性」とは、１０^１０Ω・ｃｍより大きい電気抵抗率を有するシールまたはシーリング材料を意味する。

用語「実質的に全表面に亘って」とは、密封性をチェックすべき構造用シールまたはプラスチック材料のシーリングウェブの少なくとも表面領域に亘って適切な導電層が延びていることを意味するものと理解すべきである。例えば、隣接するプラスチック材料のシーリングウェブに溶接するため、任意であるが、プラスチック材料の縁部領域を導電層を設けることなく形成することもできる。本発明によれば、試験すべき平らな構造用シールまたはプラスチック材料のシーリングウェブの面積の少なくとも９０％を、導電層で全体的に覆うことが好ましい。

本発明による方法は、冒頭で述べた従来技術の試験方法の欠点を呈することはない。本発明による方法は、膜形式の非導電性または極く僅かな導電性を有する構造用シールの密封性を、適切なシールを露出させることなくかつシールの試験すべき領域内で水分または水の影響を与えることなく、その全面に亘ってチェックすることができる。更に、これらの束縛がある場合でも、本発明の方法を用いてシールを試験することができる。

また本発明による方法は、試験すべきシールの損傷を受けた全ての箇所を空間的に局所化することができる。永久的に設置されるポテンショメータ法と組合せることにより、完成した水負荷型トンネル構造でのシールのモニタリングを行うこともできる。

本発明の好ましい実施形態によれば、導電層に印加される試験電圧は、電気スパークまたはアークの発生に付随する電気破壊が、試験すべき構造用シールに相当する非損傷シールおよび／または非弱化構造用シールに生じる電圧のせいぜい８０％となるように選択される。このようにして、材料の腐食または層厚の減少により引き起こされる、試験すべきシールの弱化箇所は信頼性をもって検出される一方、必要目標厚さを有するシールの無傷の表面領域は電圧により破壊されないことが確保される。

本発明の他の実施形態では、一定試験電圧による作動の代わりに、試験電圧は連続的または増分的に増大されおよび／または試験は複数の試験間隔で行われる。試験電圧は、無傷のシールに対応する最小試験電圧に到達するまで、全ての連続試験間隔で増大する。各場合に実際に到達する破壊電圧の使用により、異なる損傷プロファイル（例えば材料厚さの減少または浸透漏洩）を区別できる。また、試験電圧を特定時間維持することは有利である。なぜならば、特に損傷が小さい場合に、試験電圧および該試験電圧の結果生じる電界の影響を受けて、点火チャネル（該チャネルを介してスパークが放電される）が損傷箇所に形成されるまでに時間がかかる場合があるからである。

本発明の他の実施形態では、試験すべきシールは、好ましくは個々の試験部分に細分される。一方の導電層または両方の導電層は、部分毎に試験すべきシールの個々の試験部分に電圧が印加されるようにセグメント化され、これは、各シーリングウェブセグメントも試験セグメントを形成するようにして有利に行われる。

本発明の他の実施形態では、建造現場での本発明の試験方法の簡単な適用を可能にするため、表面試験に必要な導電層および試験すべきシールは、導電層および少なくとも１つの電気的絶縁性シーリング層で作られた予形成多層サンドイッチシステムとして構成される。導電層は、例えば接着、積層、バッキング、同時押出し、蒸着、コーティングまたはこれらの組合せにより、一部または全面が適当な方法でシールに連結される。この場合、導電層は、好ましくは、１０^６Ωより小さい表面抵抗および１０^５Ω・ｃｍより小さい抵抗率を有する。

本発明による方法の他の有利な実施形態は、空間的に相互に分離された少なくとも２つの供給箇所を介して導電層の１つに試験電圧を印加し、電流または対応する電気的な値、より詳しくは損傷箇所、欠陥箇所および／または弱化箇所での電気破壊時の電圧を測定し、電流または対応する電気的な値、より詳しくは電圧の比から損傷箇所、欠陥箇所および／または弱化箇所の位置を決定することからなる。このようにして、試験すべきシールがアクセスできないか、一部がアクセスできるに過ぎない場合でも、シールの損傷箇所、欠陥箇所および／または弱化箇所の位置を比較的正確に測定できる。

この場合、電圧比は、ガルバニック接続を行うことなく、間接的に導電層の１つに容量結合される１つ以上の測定プローブを用いて測定するのが好ましい。これにより、簡単かつフレキシブルな方法で、測定プローブを連結することができる。かくして、測定プローブは、シールの損傷箇所、欠陥箇所および／または弱化箇所の位置を、任意であるがより迅速に決定しかつ突き止めることができるように、簡単な方法で移動できる。しかしながら、電圧比はまた、導電層の１つに直接接続される測定プローブを用いて測定することもできる。

本発明による方法の他の実施形態は、構造用シールの導電性当接層、例えばじめじめした基礎、より詳しくは依然としてじめじめしているか、硬化しているコンクリート層が導電層の１つとして使用される。この場合、第２導電層すなわち付加導電層は作られず、その代わり、既に存在する導電当接層が使用され、コストの節約を行うことができる。例えば、フラットルーフの場合には、比較的滑らかなコンクリート表面を導電性当接層として使用できる。

本発明による方法の他の有利な実施形態は、少なくとも構造用シールのアクセス可能な側に配置された導電層には、非導電層、好ましくは明るい色に着色された電気的な絶縁性を有するプラスチック材料のフィルムが設けられていることに特徴を有している。この非導電層は、電気ショックに対して保護する。明るい色に着色されたこの層の形態は、構造用シールの内部または領域内で作業している人に視覚条件に好ましい効果を与え、機械的損傷の視覚検出に更に役立つ。

慣用の構造用シールをできる限り簡単かつ迅速に適用するには、構造用シールを、例えば同時押出しまたはバッキングにより、サンドイッチ型複合フィルムまたは複合シーリングウェブとして導電層および電気的絶縁層（プラスチック材料のフィルム）と一緒に工業的に予形成するのが有利である。特に、種々の層が同時押出しされる場合には、ときどき、中間層すなわち埋入された導電層に欠陥箇所が生じ、これにより、後で試験すべき構造用シールの欠陥箇所、損傷箇所および／または弱化箇所の信頼性ある検出が妨げられる。視認できない導電層のあらゆる弱化箇所を検出するため、本発明による方法の他の実施形態は、電気容量測定を用いて、構造用シールの少なくともアクセス可能な側に配置された導電層が全表面に亘って形成されているか否か、および／または構造用シールの後ろ側に配置された導電層が全面に亘って形成されているか否かを試験することができる。

本発明による膜形式の構造用シールは、空気と比較して高い電気破壊強度を有するように非導電性材料からなる。構造用シールには、損傷箇所または欠陥箇所、より詳しくは構造用シールの材料厚さが減少した弱化箇所を検出するための電圧源を備えた試験装置が設けられる。また、本発明による構造用シールには（第１）導電層が設けられており、該第１導電層は、構造用シールの内側または外側に配置されかつ実質的に構造用シールの全面に亘って延びている。本発明によれば、構造用シールに他の導電層が設けられており、該導電層は、構造用シールにより前記（第１）導電層から電気的に分離されかつ構造用シールの実質的に全面に亘って延びている。試験装置は、両導電層を介して構造用シールに印加される試験電圧のレベルを調節する手段を有する。試験電圧は、ゼロまたはゼロより大きい最小値から、電気スパークまたはアークの形成に付随して生じる電気破壊が、試験すべき構造用シールに相当する非損傷構造用シールおよび／または非弱化構造用シールに生じる破壊電圧より予防的大きさだけ低くかつ構造用シールの厚さに対応する空気経路の破壊強度の破壊電圧より予防的大きさだけ高い電圧まで、連続的または段階的に増大される。

本発明による構造用シールの他の好ましくかつ有利な実施形態は、特許請求の範囲の記載の実施態様項および以下の記載において与えられる。以下、本発明の幾つかの実施形態を示す添付図面を参照して本発明をより詳細に説明する。

本発明による構造用シールを備えたトンネルを示す断面図である。 本発明による構造用シールの一例を示す拡大断面図である。 本発明による構造用シールの他の例を示す拡大断面図である。 本発明による構造用シールの他の例を示す拡大断面図である。 本発明による構造用シールの他の例を示す拡大断面図である。 本発明による構造用シールの他の例を示す拡大断面図である。

図１に示すトンネルのルーフアーチは、掘削１の完了直後に、吹付けコンクリート２と、スチール補強体とにより覆われている。この形式のトンネルは、慣用的に、軸線方向のサブ部分で不連続に前進される。補強された吹付けコンクリート２は外側ルーフアーチを形成し、その内面は構造用シール３で覆われている。構造用シール３は、外側ルーフアーチ２の領域内の岩石からの水および水分の浸透を防止するためのものである。次に、構造用シール３の内側は、コンクリートで作られた内側ルーフアーチ４（以下、インナーシェルと呼ぶ）で覆われる。内側ルーフアーチすなわちインナーシェル４がコンクリート打ちされる前に、構造用シール３の密封性がチェックされる。この目的のため、構造用シール３には、存在する可能性のあるあらゆる損傷個所すなわち欠陥個所を検出する試験装置５が設けられる。

試験すべき構造用シール３は、空気と比較して、材料調質された高い絶縁抵抗および高い破壊強度を有するシールである。２つの導電層６、７を介して、両導電層６、７間の全ての箇所で、試験すべき平らなシール（シーリングウェブ）３に対して垂直に電界が発生されるように、試験電圧（接地してもよいし、接地しなくてもよい）が、適当な電圧源８を用いて、試験すべきシーリング面に印加される。尚、両導電層６、７は、本発明によれば、試験すべきシール３の両外面に当接して配置されるか、一方の導電層６または７がシール３の外面に当接して配置されかつ他方の導電層７または６がシール３の内側に配置されるか、両導電層６、７がシール３の内側に配置されるようにして配置される。この場合、両導電層６、７は、いつでも、非導電性シーリング材料（すなわち、試験すべきシール３すなわちシーリングウェブ）の層により、構造的に相互に電気的に分離される。使用される電圧源８によっては、これは定電界および／または交番電界とすることができる。本発明にしたがって平らなシール３の損傷をチェックするには、無傷のシーリングウェブ３について、シール３のあらゆる箇所で破壊強度を超えないが、損傷を受けていない状態と比較して、電圧がチャージ（charged、beaufschlagten（英、独訳））されたシーリングウェブ３の材料厚さが減少している箇所および／またはシーリングの損傷または製造による欠陥がある箇所では破壊強度を超えるように、電圧がチャージされる導電層６、７間の試験電圧が選択される。この目的では、試験すべき平らなシールすなわちシーリングウェブ３の１ｍｍ厚さ当たり少なくとも１０００ボルトの試験電圧を使用するのが有利である。この結果、これらの箇所で電圧破壊が生じ、これは、本発明により種々の方法で検出されかつ突き止められる。このようにして、構造用シール３またはその全表面上に一体のそれぞれのシーリングウェブの密封性をチェックでき、かつ損傷個所に水または水分または直接短絡回路を存在させることなくシール３への損傷を測定でき、これらの条件下で本発明の方法を用いて、シール３への損傷を依然として信頼性をもって検出できる。かくして、本発明の方法は、従来技術と比較してかなり優れた開発状態を達成し、シール３の信頼できる品質試験を行ないかつシール３の設置位置とは独立して、極端な場合には自由に吊り下がるシール３でも、試験方法の実施に水または水分を必要とすることなく、簡単かつ信頼性ある態様でシールの損傷を測定しかつ突き止めることができる。

本発明によれば、本発明の方法を遂行すべく導電層６、７を介して平らなシール３に印加される電圧のレベル並びに電圧源８から試験装置への電流のレベルは、試験プロセス中に測定される。平らなシール３に損傷個所および／または欠陥箇所が存在する場合には、これらの箇所での損傷によって導電層６、７の間に直接短絡回路が引き起こされなければ、これらの損傷箇所および／または欠陥箇所で破壊強度を超えてしまう。したがって試験すべき平らなシール３を通る電圧破壊が生じ、アークを介して両導電層６、７間を流れる突然の放電電流が生じる。このことは、試験すべきシール３での試験電圧が低下しかつチャージング電流（charging current、Ladestrom（英、独訳））が増大することを意味し、これは、本発明によれば、試験電圧およびチャージング電流の測定値の測定進行から検出される。無傷のシーリング材料の抵抗と比較して小さい抵抗をもつ短絡回路を引き起こす損傷が導電層６、７にある場合には、これは、スパーク放電を生じさせるには不充分な低い試験電圧でも、非損傷シールの場合よりもかなり高い短絡回路電流が流れるという事実に基づいて検出される。したがって、短絡回路に基づいた損傷プロファイルも、本発明の方法を用いて信頼性をもって確立される。これとは異なり、短絡回路電流またはアーク放電電流が生じることなく所定の試験電圧に到達する場合、特に、最高試験電圧が、いかなる放電効果も生じることなく長時間に亘って既に印加されている場合には、シールは無傷であると類別される。試験対象の電気抵抗は、電圧を電流で除した値（商）から決定され、他の品質基準として使用するのが好ましい。

本発明によれば、点火スパークの位置すなわち短絡回路の位置したがって損傷箇所の空間位置は、試験電圧が、空間的に相互に充分に分離された少なくとも２つの供給位置９、１０（図１参照）を介して供給される場合に割り当てられる。供給位置９、１０は、細長い形状の試験部分の場合には、試験部分の対向する２つの狭い端部に位置するのが好ましい。電気破壊の瞬間すなわちアーク電流が流れる間または短絡回路の場合に短絡回路電流が流れる間の電流の流れまたは対応する電気的値例えば電圧は、それぞれの供給ラインで測定され、スパークすなわち短絡回路の位置したがって損傷箇所の位置が電流の流れまたは対応する電圧比からの優れた近似に決定できる。なぜならば、この比は、スパークすなわち短絡回路の位置からの供給位置の距離の比にほぼ一致するからである。損傷による短絡回路または損傷によるスパーク放電の位置の場合には、電圧比はまた、２つの導電層６、７の１つでは直接に、または電気的測定回路にガルバニック接続することなく、例えばシール３の見える側から、１つ以上の容量結合プローブにより間接的に測定される。

これとは別にまたはこれに加えて、点火スパークまたは電気アークは、本発明によれば、適当な検出器（図示せず）を用いて、点火スパークまたは電気アークから生じる電磁干渉信号（バーストとして知られている）を検出することにより、および／または適当な方法（例えば適当なイメージディスプレイ方法）により損傷を受けた箇所で電気アークから生じる光および／または温度放射効果および／または材料加熱効果を検出しかつ評価することにより検出される。これはまた、検出した干渉信号および／または光および／または熱放射効果および／または材料加熱効果も使用されて、スパークおよび／または短絡回路位置したがって損傷個所を突き止めるのにも使用できる。この目的のため、例えばカメラ（図示せず）より詳しくは温度イメージングカメラを使用することもできる。

しかしながら、最も簡単な場合には、スパーク経路は、本発明によれば、スパークが存在している間に電気アークを検出しかつ突き止めることにより、またはスパークが発生している間またはスパーク電流が発生した後または短絡回路電流が破壊された（broken down、Erliegen gekommen ist（英、独訳））後にスパーク腐食および／または熱の作用によりシール３の見える側に引き起こされる変化を利用して損傷個所を検出しかつ突き止めることにより、純粋に視覚的に突き止められる。

この目的のためには、損傷箇所で明瞭に認識可能な熱効果が得られるまで、損傷箇所または短絡回路でのスパークを維持するのが有利である。

本発明の他の実施形態では、導電層６、７の少なくとも一方は導電性不織布、織物または編み物または他の平らな材料の形態をなしており、その必要な導電性は、導電性粒子および／または繊維および／またはヤーンおよび／またはワイヤを、固有の非導電性不織布、織物または編み物または平らな材料に付加することにより、および／または固有の非導電性不織布、織物または編み物または平らな部材に適当な導電性物質をコーティングまたは含浸することにより、および／または固有の非導電性不織布、織物または編み物または平らな材料に金属を蒸着することにより達成できる。および／または、不織布、織物または編み物または平らな材料は、導電性繊維および／またはヤーンを用いることにより、試験を実施するのに必要な導電性を有するものが使用される。

本発明による方法または本発明による装置の他の実施形態では、不織布材料または他の平らな材料の導電性は、不織布材料または他の平らな材料の基板材料に高吸湿性物質を塗布することにより達成される。或いは、不織布材料または他の平らな材料を、特定の空気湿度以上で、物質の少なくとも一部が水分中で解離して吸湿性を帯び、不織布材料または平らな材料に本発明の方法を実施するのに充分なイオノゲン導電性（ionogenic electrical conductivity、elektrische Leitaehigkeit（英、独訳））を誘発する。この場合、吸湿性物質は、水性フェーズで塗布されるのが好ましい。

本発明による試験装置または構成の他の実施形態では、不織布材料または他の平らな材料からなる、試験すべきシーリングに対面する表面の微小構造は、導電性繊維、粒子、ヤーンおよび／またはワイヤが表面から突出するようにして作られ、これは、導電層６、７間に試験電圧が印加されたときに、このような突出部分に高電界強度のピークが生じるようにして行われる。この結果、電気アークの点火が適当な損傷条件下で促進される。

本発明による構造用シールすなわち試験構造の他の実施形態では、不織布材料または平らな材料６、７の基板材料は、熱可塑性ポリマーよりかなり高い耐熱性を有するコンポーネンツ、好ましくはガラス繊維、金属繊維および／またはカーボン繊維および／またはより高い耐熱導電性粒子、繊維および／またはヤーンからなる。これにより、不織布材料または平らな材料６、７が、電気アークの領域内で早期溶融すること、または電気アークの発生時に生じた熱により接着、燃焼または蒸発することが防止される。これにより、アークが早期消滅してしまうこと、および視覚検出に必要な熱誘発可視材料変化および損傷箇所で行われるサーモグラフィック検出のための充分な材料加熱をすることなく、この時点で再び点火できなくなることが防止される。

本発明による方法の他の実施形態では、試験すべきシール３の境界を定める導電層の一方または両方ともが、建造物構造の一部、例えばシール３の当接部材（例えば図１の外側ルーフアーチ２）および／またはシール３の構造用カバーであり、かつ試験方法を実施するのに充分な、シーリング材料よりもかなり高い導電性を有している。これにより、本発明の試験方法を実施する上で、サンドイッチ態様でシール３に一体化された導電層６、７の一方または両方の使用を省略できる。

本発明による構造用シールまたは試験構造の他の実施形態では、導電層６、７の少なくとも一方はシール３の縁部まで案内されず、試験電圧がチャージされる２つの層間のエアギャップの長さしたがって破壊強度が、密封性試験に使用される試験電圧より大きくなるようにするだけで充分である（図２および図３参照）。

本発明による構造用シールまたは試験構造の他の実施形態では、導電層６、７の少なくとも一方は、シーリングウェブ３の内側に配置され、この内方の導電層６はシーリングウェブ３より全体的に小さい。導電層６は、ウェブ３の長手方向両側で、電気的絶縁シーリング材料により完全に包囲され、試験方法を実施する第２導電層７と比較して、シーリングウェブ３の長手方向縁部で充分に高い破壊強度が達成される（図２参照）。

本発明による構造用シールまたは試験構造の他の実施形態では、シールすなわちシーリングウェブ３が敷設された後に岩石側すなわちシール下面に配置された導電層６は、導電性不織布の形態をなしており、この導電性不織布は、シール３の縁部まで大きくフラッシュした態様でシーリングウェブ３の長手方向側面上に案内されるが、試験すべきシーリングウェブ３の他の長手方向側面上の溶接ゾーン１１の幅方向に、ウェブ３の縁部から引っ込められている。このため、隣接するシーリングウェブ３に溶接する前に、高価な方法で溶接ゾーンから不織布を除去する必要はない（図３参照）。

本発明による構造用シールまたは試験構造の他の実施形態では、シーリングウェブ３のこの自由に配置される溶接縁部１１（該縁部１１は、導電性不織布６、７で覆われていない）には、容易に除去できる導電層６１、７１が設けられており、該導電層６１、７１は適当な方法で導電性不織布６、７に電気的に接続されている（図３、４）。これにより、試験後および溶接前に高価な方法で導電層６、７を溶接ゾーン１１から除去する必要なく、本発明による方法を用いて、隣接するシーリングウェブ３に溶接する前に、その全幅に亘って試験すべきシーリングウェブ３を試験できる。したがって、後で溶接ゾーンとなる領域１１に配置される導電層６１、７１は、導電性を有する自己接着フィルム、または導電性を有する自己接着不織布、または導電性を有しかつ払拭または洗浄できるコーティングで構成するのが好ましい。

本発明による構造用シールまたは試験構造の他の実施形態では、導電層６、７が溶接ゾーン１１の領域にも設けられている。この場合、シールの後面に配置された不織布が、試験すべきシーリングウェブ３の全幅に亘って配置されるが、溶接ゾーン１１の領域内ではシーリングウェブ３と比較して不織布の引っ張り接着力は小さい。このため、密封性試験の後および溶接の前では、高い費用をかけることなく、溶接ゾーンの領域内の不織布を除去でき、かつその後に、折り畳むか切断することにより溶接ゾーン１１から取出すことができる。導電層６、７のそれぞれの折畳みが、図５に矢印で示されている。

本発明による構造用シールまたは試験構造の他の実施形態では、導電層６、７の少なくとも一方、好ましくは、試験すべきシール３の内側すなわちシール３のアクセス可能で見ることができる側に配置された導電層７の導電性は、導電層６、７間の短絡回路の場合に、最大限可能な試験電圧および完全な電気的チャージがシールに加えられた場合でも、最大限可能な試験電圧およびチャージされたシール３の内部抵抗を決定する導電層７を通る放電電流が充分に制限されるように設定される。これにより、シールのどの場所であるか否かにかかわらず、試験電圧が印加されているシールに部外者が接近したりまたは接触しても、試験装置５自体への危険または人の健康および安全に対する危険を無くすことができる。この目的のため、この導電層７または両導電層６、７は、１０^４Ωより大きい表面抵抗および１０^３Ω・ｃｍより大きい抵抗率を有するのが好ましい。特に、本発明による構造用シールの好ましい実施形態では、内側の導電層７の見える側には、非導電性フィルムまたは保護層１２（図６）が配置されかつ好ましくは明るい色に着色する。

本発明による構造用シールまたは試験構造の他の実施形態では、必要な導電層６、７の少なくとも一方は、金属フィルムまたは金属化プラスチック材料のフィルムまたは他の金属または金属化された平らな材料の形態をなしており、少なくとも一方の表面は非導電性を有している。好ましくは、プラスチック材料フィルムは、金属化されたものまたは導電性増強物質を添加することにより導電性をもたせたものまたは本質的に導電性を有するプラスチック材料の使用により導電性をもたせたものが使用される。またプラスチック材料フィルムは、その非導電性側面がシール３から遠い側を向くようにシール３上に配置される。これにより、このように構成されたシール３の表面に接触したときに、導電層７の縁部が試験部分の縁部で明らかに絶縁されておりかつ導電層７の非導電性後面が損傷を受けていない限り、試験電圧と電気的に接触することはない。このように形成された導電層７と、スチール補強体、例えばシール３の製造後に敷設されたトンネルのインナーシェル４との間の電気抵抗を測定すると、本発明によれば、シール３に当接して補強体が配置されているか否かが判定される。既にシールは上面に損傷を受けている場合はシールに孔が開いていなくても、ライン電流または導電層６、７の一方の少なくとも２つの間隔を隔てた供給ラインまたは少なくとも２か所の間隔を隔てた測定箇所で測定したときの抵抗比または電圧比を測定することにより、上記方法で損傷位置を突き止めることができ、これにより、コンクリート打ちを行う前に、危険個所を検出しかつ除去することもできる。

本発明による構造用シールまたは試験構造の他の実施形態では、一方の導電層が、試験すべきシール３に強固に連結されるように形成されており、試験すべきシーリングウェブ３の少なくとも一方の長手方向側面上の導電層はウェブ３の端部までは案内されず、端部から充分な距離を隔てている。したがって、導電層を接合ゾーン１１まで延ばすことなく、シーリングウェブ３を隣接ウェブ３に溶接することができる。

本発明による構造用シールまたは試験構造の他の実施形態では、導電層６、７の少なくとも一方は、連結すべきウェブの縁部まで、したがって接合ゾーンまで延びるように形成され、連結プロセス中は接合ゾーン１１内に留まりかつ接合プロセス中はシール３の材料と混合される。シールの材料は、導電層６、７の導電性が接合領域内で遮断されるように接合により可塑化される。

本発明による構造用シールまたは試験構造の他の実施形態では、導電層６、７の少なくとも一方は、試験すべきシール３上の除去可能なフィルム形式の層の形態をなしており、この層は、個々のシーリングウェブ３の接合のために必要ならば、再びシール３から少なくとも一部を除去できる。

本発明による方法の他の実施形態では、上記導電層はまた、コンクリート打ちプロセス中に、例えば、トンネルのインナーシェルをコンクリート打ちするときに、コンクリート打ちすべき環状空間がコンクリートで完全に充填されたか否か、または圧縮水を次に打つときにトンネルシールがインナーシェルの補強体上に保護されないように押し付けられる非充填領域が存在するか否かをチェックするのにも使用される。この目的のため、本発明によれば、建造物の構造または使用されたコンクリートといかなる電気的接触もしない一方または両方の導電層の電気容量は、コンクリート打ちの間またはコンクリート打ちの後に、使用されるコンクリートに対して測定され、その測定値は、目標値または比較値と比較される。

本発明の実施または適用はトンネルに限定されるものではない。それどころか、本発明による方法または構造用シールは、ごみ処理地、液体リザーバおよび／またはルーフ、より詳しくはフラットルーフの気密性をチェックする場合にも有利に適用できる。

２ 吹付けコンクリート
３ 構造用シール（シーリングウェブ）
４ インナーシェル（ルーフアーチ）
５ 試験装置
６、７ 導電層
１１ 溶接縁部
１２ 非導電フィルム（保護層）
６１、７１ 容易に除去できる導電層

Claims (43)

1. 非導電性であるか、極く僅かな導電性を有し、かつ空気と比較して高い電気破壊強度を有する膜形式の構造用シール（３）であって、該構造用シール（３）の内面または外面に配置されかつ構造用シール（３）の実質的に全面に亘って延びかつ試験電圧が印加される導電層（６）が設けられた構造用シール（３）の損傷箇所または欠陥箇所、より詳しくは材料厚さが減少した弱化箇所を検出する方法において、前記損傷箇所、欠陥箇所または弱化箇所を検出すべく他の導電層（７）が使用され、該導電層（７）は構造用シール（３）により前記導電層（６）から電気的に分離されかつ構造用シール（３）の実質的に全面に亘って延びており、電圧がチャージされる両導電層（６、７）間の試験電圧のレベルは、構造用シール（３）に、少なくとも１つの非導電性であるか、極く僅かな導電性を有する損傷箇所、欠陥箇所および／または弱化箇所がある場合に、電気破壊強度を超え、損傷箇所、欠陥箇所および／または弱化箇所に電気的スパークまたはアークが形成されるように選択され、試験電圧は、電気的スパークまたはアークの形成に付随して生じる電気破壊が、試験すべき構造用シール（３）に相当する非損傷構造用シールおよび／または非弱化構造用シールに生じる破壊試験電圧より低くなるように選択されることを特徴とする方法。
2. 前記試験電圧は、ゼロまたはゼロより大きい最小値から、電気スパークまたはアークの形成に付随して生じる電気破壊が、試験すべき構造用シール（３）に相当する非損傷構造用シールおよび／または非弱化構造用シールに生じる破壊電圧より予防的大きさだけ低い電圧まで、連続的または段階的に増大されることを特徴とする請求項１記載の方法。
3. 前記試験すべき構造用シール（３）は複数の試験間隔で試験され、試験電圧は、該電圧が、電気スパークまたはアークの形成に付随して生じる電気破壊が試験すべき構造用シール（３）に相当する非損傷構造用シールおよび／または非弱化構造用シールに生じる破壊試験電圧より予防的大きさだけ低い電圧に到達するまで、全ての連続的試験間隔で増大されることを特徴とする請求項１または２記載の方法。
4. 前記導電層に印加される試験電圧は、試験すべき構造用シール（３）の１ｍｍ厚さ当たり少なくとも１０００ボルトとなるように選択されることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項記載の方法。
5. 前記導電層（６、７）に印加される試験電圧は、電気スパークまたはアークの形成に付随して生じる電気破壊が試験すべき構造用シール（３）に相当する非損傷構造用シールおよび／または非弱化構造用シールに生じる電圧のせいぜい８０％となるように選択されることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項記載の方法。
6. 前記試験電圧が導電層に印加されるときの点火スパークまたは電気アークの様子は、点火スパークおよび／または電気アークから生じる電磁干渉信号を検出器を用いて検出することにより、および／または点火スパークおよび／または電気アークから生じる光、熱放射および／または材料加熱効果を検出しかつ評価することにより検出されることを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項記載の方法。
7. 前記導電層（６、７）を介して、試験すべき構造用シールに印加される電圧のレベルおよび／または導電層（６、７）のうちの一方への電圧源（８）からの電流の流れが測定されることを特徴とする請求項１〜６のいずれか１項記載の方法。
8. 前記試験電圧は、空間的に相互に分離された少なくとも２つの供給箇所（９、１０）を介して、導電層（６、７）のうちの一方に供給され、電流または対応する電気的な値、より詳しくは電圧は、損傷箇所、欠陥箇所および／または弱化箇所で電気破壊中に測定され、損傷箇所、欠陥箇所および／または弱化箇所の位置は、電流または対応する電気的な値、より詳しくは電圧比から決定されることを特徴とする請求項１〜７のいずれか１項記載の方法。
9. 前記電圧比は、導電層（６、７）のうちの一方に直接接続された測定プローブを用いて測定されることを特徴とする請求項８記載の方法。
10. 前記電圧比は、ガルバニック接続することなく、導電層（６、７）のうちの一方に間接的に容量結合された１つ以上の測定プローブを用いて測定されることを特徴とする請求項８記載の方法。
11. 前記試験すべき構造用シール（３）は個々の試験部分に細分されており、導電層の少なくとも一方は、試験電圧が導電層（６、７）のそれぞれのセグメントに印加されたときに、電圧のチャージングが関連試験部分に制限されるようにセグメント化されていることを特徴とする請求項１〜１０のいずれか１項記載の方法。
12. 前記構造用シール（３）が継手により相互連結されたプラスチック材料のシーリングウェブから形成されており、導電層（６、７）の少なくとも１つが、連結すべきプラスチック材料のシーリングウェブ（３）の縁部まで、したがって接合ゾーン（１１）まで延び、連結プロセス中に接合ゾーン（１１）内に留まりかつ接合プロセス中に、接合により可塑化されるプラスチック材料のシーリングウェブの材料と混合されるように形成され、前記導電層の導電性が接合領域において遮断されることを特徴とする請求項１〜１１のいずれか１項記載の方法。
13. 前記構造用シール（３）の導電性当接層（２）が導電層の１つとして使用されることを特徴とする請求項１〜１２のいずれか１項記載の方法。
14. 少なくとも構造用シール（３）のアクセス可能な側に配置された導電層（７）には、非導電層（１２）、好ましくは明るい色に着色されたプラスチック材料のフィルムが設けられていることを特徴とする請求項１〜１３のいずれか１項記載の方法。
15. 少なくとも前記構造用シール（３）のアクセス可能な側に配置された導電層（７）が全面に亘って形成されているか否か、および／または構造用シール（３）の後面に配置された導電層（６）が全面に亘って形成されているか否かが、電気容量測定を用いて試験されることを特徴とする請求項１〜１４のいずれか１項記載の方法。
16. 非導電性であるか、極く僅かな導電性を有する材料で作られかつ空気と比較して高い電気破壊強度を有し、損傷箇所または欠陥箇所、より詳しくは構造用シール（３）の材料厚さが減少した弱化箇所を検出するための電圧源を備えた試験装置（５）と、構造用シール（３）の内側または外側に配置されかつ実質的に構造用シール（３）の全面に亘って延びている導電層（６）とを有する膜形式の構造用シール（３）において、他の導電層（７）が設けられており、該導電層（７）は、構造用シール（３）により前記導電層（６）から電気的に分離されかつ構造用シール（３）の実質的に全面に亘って延びており、前記試験装置（５）は、両導電層を介して構造用シールに印加される電圧のレベルを設定する手段を有し、試験電圧は、ゼロまたはゼロより大きい最小値から、電気スパークまたはアークの形成に付随して生じる電気破壊が、試験すべき構造用シール（３）に相当する非損傷構造用シールおよび／または非弱化構造用シールに生じる破壊電圧より予防的大きさだけ低い電圧まで、連続的または段階的に増大されることを特徴とする膜形式の構造用シール（３）。
17. 前記試験装置（５）は点火スパークおよび／または電気アークを検出する検出器を有していることを特徴とする請求項１６記載の構造用シール。
18. 前記検出器は、少なくとも１つのカメラ、より詳しくはサーマルイメージングカメラであることを特徴とする請求項１７記載の構造用シール。
19. 前記試験装置（５）は、少なくとも１つの電圧計（１５、１６）および／または少なくとも１つの電流計を有していることを特徴とする請求項１６〜１８のいずれか１項記載の構造用シール。
20. 前記試験装置は少なくとも２つの供給ライン（１３、１４）を有し、試験電圧が、空間的に相互に分離された供給箇所（９、１０）を介して導電層（６、７）の一方に印加されることを特徴とする請求項１６〜１９のいずれか１項記載の構造用シール。
21. 前記試験装置（５）は、構造用シールの損傷箇所、欠陥箇所および／または弱化箇所での電気破壊中に供給ライン（１３、１４）を通って流れる電流および／または電気的な値、より詳しくはこれらの電流に比例する電圧を測定するための１つ以上の測定プローブを有していることを特徴とする請求項１６〜２０のいずれか１項記載の構造用シール。
22. 前記１つ以上の測定プローブは、供給ライン（１３、１４）または導電層（６、７）のうちの一方にガルバニック接続されていることを特徴とする請求項２１記載の構造用シール。
23. 前記１つ以上の測定プローブは、供給ライン（１３、１４）または導電層（６、７）のうちの一方に容量結合できることを特徴とする請求項２１記載の構造用シール。
24. 前記導電層（６、７）のうちの少なくとも一方のセグメント化により、個々の試験部分に細分化されていることを特徴とする請求項１６〜２３のいずれか１項記載の構造用シール。
25. 継手により相互連結されたプラスチック材料のシーリングウェブから形成されており、導電層（６、７）の一方が、相互連結された２つのプラスチック材料のシーリングウェブの縁部まで、したがって接合ゾーン（１１）内に延びており、この導電層の導電性は接合ゾーン内で遮断されることを特徴とする請求項１６〜２４のいずれか１項記載の構造用シール。
26. 前記導電層（６、７）の少なくとも一方が、構造用シール（３）の縁部から一定距離を隔てた位置に終端しており、両導電層（６、７）間の構造用シール（３）の縁部上で延びている空気路の破壊強度は、構造用シールが損傷を受けないときおよび／または弱化されないときの構造用シールの電気破壊強度より大きいことを特徴とする請求項１６〜２５のいずれか１項記載の構造用シール。
27. 前記導電層（６、７）および膜形式の非導電性または極く僅かな導電性を有する構造用シール（３）は、予形成された多層サンドイッチシステムとして構成され、導電層（６、７）は、これらを電気的に分離する構造用シール（３）に実質的におよび／または確実に接続されていることを特徴とする請求項１６〜２６のいずれか１項記載の構造用シール。
28. 前記導電層（６、７）は、１０^６Ωより小さい電気表面抵抗および／または１０^５Ω・ｃｍより小さい電気抵抗率を有していることを特徴とする請求項１６〜２７のいずれか１項記載の構造用シール。
29. 前記導電層（６、７）の少なくとも一方は、導電性粒子、繊維、ヤーンおよび／またはワイヤが設けられた固有の非導電性材料から製造される不織布、編み物、フィルムまたは他の平らな材料から形成されていることを特徴とする請求項１６〜２８のいずれか１項記載の構造用シール。
30. 前記導電層（６、７）の少なくとも一方は、導電性繊維および／またはヤーンから製造される不織布、編み物または他の平らな材料から形成されることを特徴とする請求項１６〜２８のいずれか１項記載の構造用シール。
31. 前記導電層（６、７）の少なくとも一方は、導電性材料、より詳しくは蒸着金属層のコーティングが設けられた固有の非導電性材料、不織布、編み物、フィルムまたは平らな材料から製造された不織布、編み物、フィルムまたは他の平らな材料から形成されていることを特徴とする請求項１６〜２８のいずれか１項記載の構造用シール。
32. 前記導電層（６、７）の少なくとも一方は、吸湿物質が設けられた固有の非導電性材料、不織布または平らな材料から製造された不織布、編み物または他の平らな材料から形成されていることを特徴とする請求項１６〜２８のいずれか１項記載の構造用シール。
33. 前記導電層（６、７）の少なくとも一方は不織布、編み物または他の平らな材料から形成され、試験すべき構造用シールに対面するこれらの表面は、導電性繊維、ヤーンおよび／またはワイヤが構造用シール（３）に向かって表面から突出するように作られることを特徴とする請求項１６〜２８のいずれか１項記載の構造用シール。
34. 前記導電層（６、７）の少なくとも一方は、ガラス繊維、金属繊維および／またはカーボン繊維から製造された不織布または編み物または他の平らな材料から形成されており、不織布または編み物または平らな材料の基板材料が専らガラス繊維からなる場合には、ガラス繊維に導電性粒子、繊維、ヤーンおよび／またはワイヤ、導電性コーティングまたは吸湿物質が設けられていることを特徴とする請求項１６〜２８のいずれか１項記載の構造用シール。
35. 前記導電層（６、７）の少なくとも一方は、構造用シール（３）が形成されるプラスチック材料のシーリングウェブの内側に配置され、この導電層（６）はプラスチック材料のシーリングウェブより全体的に小さく、導電層（６）は、プラスチック材料のシーリングウェブの長手方向側部で電気的絶縁性を有するシーリング材料により完全に包囲されていることを特徴とする請求項１６〜３４のいずれか１項記載の構造用シール。
36. 互いに一体に溶接できるプラスチック材料のシーリングウェブから形成されており、導電層（６、７）の一方は、それぞれのプラスチック材料のシーリングウェブの後面に連結され、後面に配置されたこの導電層は、プラスチック材料の一方の長手方向縁部に一致または事実上一致しておりかつ後面の接合縁部を形成する幅だけ他の長手方向縁部からオフセットして終端していることを特徴とする請求項１６〜３４のいずれか１項記載の構造用シール。
37. 前記後面の接合縁部（１１）には、後面に配置された導電層（６、７）に電気的に接続された容易に除去できる導電性縁部層（６１、７１）が設けられていることを特徴とする請求項３６記載の構造用シール。
38. 前記導電性縁部層（６１、７１）は、導電性自己接着性フィルム、導電性自己接着性不織布または導電性の払拭または洗浄可能なコーティングからなることを特徴とする請求項３７記載の構造用シール。
39. 互いに一体に溶接できるプラスチック材料のシーリングウェブから形成されており、導電層（６、７）の一方は、それぞれのプラスチック材料のシーリングウェブの後面に連結され、プラスチック材料のシーリングウェブの全幅に亘って延びており、かつ極く小さい引っ張り接着強度で、後面接合縁部を形成する縁部領域内でプラスチック材料のシーリングウェブに連結されていることを特徴とする請求項１６〜３４のいずれか１項記載の構造用シール。
40. 前記導電層（６、７）の少なくとも一方、より詳しくは構造用シール（３）のアクセス可能な見える側面に配置された導電層（７）の表面導電性は、両導電層間の短絡回路の場合に最高可能試験電圧およびシールの完全電気的チャージが印加される場合でも、最大可能短絡回路電流すなわち放電電流が、生命に危険を及ぼさないレベルに制限されるように設定されることを特徴とする請求項１６〜３９のいずれか１項記載の構造用シール。
41. この導電層または両導電層（６、７）は、１０^４Ωより大きい表面抵抗および／または１０^３Ω・ｃｍより大きい電気抵抗率を有していることを特徴とする請求項４０記載の構造用シール。
42. 前記導電層（６、７）の少なくとも一方は、金属フィルム、金属化プラスチック材料フィルム、導電性増強物質の添加により導電性が付されたプラスチック材料フィルム、本質的に導電性を有するプラスチック材料で作られた導電性プラスチック材料フィルム、金属の平らな材料または金属化された平らな材料から形成されており、構造用シール（３）から離れる側を向いた導電層の側面は非導電性となるように形成されおよび／または非導電層（１２）が設けられることを特徴とする請求項１６〜４１のいずれか１項記載の構造用シール。
43. 前記非導電層（１２）は、電気的な絶縁性を有しかつ明るい色に着色されたプラスチック材料の層からなることを特徴とする請求項４２記載の構造用シール。

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