JP5303231B2 - Coating device - Google Patents

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Description

本発明は、塗布装置に関する。   The present invention relates to a coating apparatus.

液晶ディスプレイなどの表示パネルを構成するガラス基板上には、配線や電極、カラーフィルタなどの微細なパターンが形成されている。一般的にこのようなパターンは、例えばフォトリソグラフィなどの手法によって形成される。フォトリソグラフィ法では、ガラス基板上にレジスト膜を塗布形成する塗布工程、このレジスト膜をパターン露光する露光工程、その後に当該レジスト膜を現像する現像工程がそれぞれ行われる。   On a glass substrate constituting a display panel such as a liquid crystal display, fine patterns such as wirings, electrodes, and color filters are formed. In general, such a pattern is formed by a technique such as photolithography. In the photolithography method, a coating process for coating a resist film on a glass substrate, an exposure process for pattern exposure of the resist film, and a development process for developing the resist film are performed.

このうち塗布工程では、スリットノズルを有する塗布装置が用いられる。このような塗布装置として、例えばスリットノズルの下方を通過するようにガラス基板を搬送しつつレジストを塗布する構成が知られている。当該塗布装置においては、基板にレジストを塗布した後、スリットノズルの下流側で外部の搬出ロボットなどを介して基板が搬出される構成になっている。この構成では、基板が搬出されるまでの間、スリットノズルの下流側に基板が待機されている状態となる。近年の塗布装置においては、基板1枚あたりの処理時間(タクト)を短縮させるため、基板の搬送方向にスリットノズルを複数配置する構成などが知られている。
特開2005−236092号公報
Among these, in the coating process, a coating apparatus having a slit nozzle is used. As such a coating apparatus, for example, a configuration is known in which a resist is applied while a glass substrate is conveyed so as to pass under a slit nozzle. In the coating apparatus, after a resist is applied to the substrate, the substrate is unloaded via an external unloading robot or the like on the downstream side of the slit nozzle. In this configuration, the substrate is in a standby state on the downstream side of the slit nozzle until the substrate is carried out. In recent coating apparatuses, a configuration in which a plurality of slit nozzles are arranged in the substrate transport direction in order to shorten the processing time (tact) per substrate is known.
Japanese Patent Laid-Open No. 2005-236092

しかしながら、上記のような基板を搬送しつつレジストを塗布する塗布装置においては、スリットノズルに対して基板搬送方向の下流側に基板を待機させたままレジスト塗布動作を行うと、スリットノズルを通過した基板と待機位置で待機している基板とが重なってしまうこととなる。基板同士が重なってしまうのを回避するためには、スリットノズルの下流側で待機している基板が待機位置から退避するまで(基板が搬出されるまで)塗布動作を待機させる必要がある。   However, in the coating apparatus that coats the resist while transporting the substrate as described above, when the resist coating operation is performed while the substrate is waiting on the downstream side in the substrate transport direction with respect to the slit nozzle, the slit nozzle is passed. The substrate and the substrate waiting at the standby position will overlap. In order to avoid the overlapping of the substrates, it is necessary to wait for the coating operation until the substrate waiting on the downstream side of the slit nozzle is retracted from the standby position (until the substrate is unloaded).

スリットノズルを複数用いて塗布処理を行う場合であっても同様に、基板が待機位置から退避するまで(基板が搬出されるまで)塗布動作を待機させる必要がある。このため折角複数のスリットノズルを配置させる構成としてもタクトが十分に短縮されず、塗布装置全体の処理効率が向上しにくいという問題がある。   Similarly, even when the coating process is performed using a plurality of slit nozzles, it is necessary to wait for the coating operation until the substrate is retracted from the standby position (until the substrate is unloaded). For this reason, even if it is the structure which arrange | positions a plurality of slit nozzles at a folding angle, there is a problem that the tact is not sufficiently shortened and it is difficult to improve the processing efficiency of the entire coating apparatus.

以上のような事情に鑑み、本発明の目的は、タクトの短縮化をより確実に実現可能な塗布装置を提供することにある。   In view of the circumstances as described above, an object of the present invention is to provide a coating apparatus capable of more reliably realizing tact shortening.

上記目的を達成するため、基板を搬送する基板搬送部と、当該基板搬送部によって搬送させつつ前記基板に液状体を塗布する複数の塗布部とを備える塗布装置であって、前記基板搬送部は、基板搬送方向の一方の端部に前記基板を搬入する基板搬入領域を有し、前記基板搬送方向の他方の端部に前記基板を搬出する基板搬出領域を有し、複数の前記塗布部は、少なくとも隣接する2つの塗布部間の距離が前記基板の前記基板搬送方向の寸法よりも大きくなるように前記基板搬入領域と前記基板搬出領域との間に配置されており、前記基板搬送部は、前記基板を浮上させる浮上機構と、前記浮上機構によって浮上した状態の前記基板のうち前記基板搬送方向に直交する方向の第一端部を保持可能に配置され、前記基板搬送方向に移動可能な第一搬送機と、前記浮上機構によって浮上した状態の前記基板のうち前記基板搬送方向に直交する方向の第二端部を保持可能に配置され、前記基板搬送方向に移動可能な第二搬送機とを有し、前記基板搬送部に複数の前記基板が搬入される場合に、前記第一搬送機と前記第二搬送機とが交互に前記基板を搬送するように、かつ、前記第一搬送機に保持された前記基板と前記第二搬送機に保持された前記基板とが複数の前記塗布部のうち異なる前記塗布部に搬送されるように前記第一搬送機及び前記第二搬送機を制御する搬送制御部を更に備えることを特徴とする。 In order to achieve the above object, the coating apparatus includes a substrate transport unit that transports a substrate, and a plurality of coating units that apply the liquid material to the substrate while being transported by the substrate transport unit. A substrate carry-in area for carrying the substrate at one end in the substrate carrying direction, a substrate carry-out area for carrying out the substrate at the other end in the substrate carrying direction, and a plurality of the coating units The substrate transfer unit is disposed between the substrate carry-in region and the substrate carry-out region so that at least a distance between two adjacent coating units is larger than a dimension of the substrate in the substrate transfer direction. A floating mechanism for levitating the substrate, and a first end portion in a direction orthogonal to the substrate conveyance direction of the substrate that is levitated by the levitation mechanism is disposed so as to be movable, and is movable in the substrate conveyance direction first A feeder and a second transporter that is arranged to be able to hold a second end in a direction perpendicular to the substrate transport direction among the substrates that have been levitated by the levitation mechanism and is movable in the substrate transport direction. And when the plurality of substrates are carried into the substrate transport unit, the first transport device and the second transport device alternately transport the substrate, and the first transport device The first transport device and the second transport device are controlled so that the held substrate and the substrate held by the second transport device are transported to different coating units among the plurality of coating units. It further has a conveyance control part .

本発明によれば、複数の塗布部を有する塗布装置にあって、基板搬送部が基板搬送方向の一方の端部に基板を搬入する基板搬入領域を有すると共に基板搬送方向の他方の端部に基板を搬出する基板搬出領域を有し、少なくとも隣接する2つの塗布部間の距離が基板の基板搬送方向の寸法よりも大きくなるように基板搬入領域と基板搬出領域との間に複数の塗布部が配置されていることとしたので、基板搬出領域及び上記2つの塗布部間の2箇所に基板を配置させることができる。したがって、液状体を塗布した後の基板を基板搬出領域で待機させる場合であっても、上記2つの塗布部間には基板を配置させるスペースが空いているため、塗布処理を待機させること無くスムーズな処理が可能となる。これにより、複数の塗布部を用いて塗布処理を行う場合であっても、タクトの短縮化をより確実に実現可能となる。   According to the present invention, there is provided a coating apparatus having a plurality of coating units, wherein the substrate transport unit has a substrate carry-in region for carrying a substrate at one end in the substrate transport direction and at the other end in the substrate transport direction. A plurality of coating units between the substrate carry-in region and the substrate carry-out region so that a distance between at least two adjacent coating units is larger than a dimension of the substrate in the substrate carrying direction; Therefore, the substrate can be arranged at two locations between the substrate carry-out region and the two application portions. Therefore, even when the substrate after applying the liquid material is made to wait in the substrate carry-out area, there is a space for placing the substrate between the two application portions, so that the application process can be performed smoothly without waiting. Processing becomes possible. Thereby, even if it is a case where an application | coating process is performed using a some application part, shortening of a tact can be implement | achieved more reliably.

上記の塗布装置は、前記基板搬送部は、前記基板を浮上させる浮上機構を有することを特徴とする。
本発明によれば、基板搬送部が基板を浮上させる浮上機構を有する構成、すなわち、基板を浮上させて搬送する構成においても、タクトの短縮化を図ることができる。
The coating apparatus is characterized in that the substrate transport unit has a floating mechanism for floating the substrate.
According to the present invention, it is possible to shorten the tact even in a configuration in which the substrate transport unit has a floating mechanism for floating the substrate, that is, a configuration in which the substrate is floated and transported.

上記の塗布装置は、複数の前記塗布部のうち隣接する2つの塗布部は、当該2つの塗布部間の前記基板搬送方向の距離が前記基板の前記基板搬送方向の寸法の2倍よりも大きくなるように配置されていることを特徴とする。
本発明によれば、複数の塗布部のうち隣接する2つの塗布部は、当該2つの塗布部間の基板搬送方向の距離が基板の基板搬送方向の寸法の2倍よりも大きくなるように配置されていることとしたので、2つの塗布部間に基板を2枚以上配置させることができる。これにより、より確実にタクトを短縮させることができる。
In the coating apparatus, two adjacent coating units among the plurality of coating units have a distance in the substrate transport direction between the two coating units larger than twice the dimension of the substrate in the substrate transport direction. It arrange | positions so that it may become.
According to the present invention, two adjacent coating units among the plurality of coating units are arranged such that the distance in the substrate transport direction between the two coating units is larger than twice the dimension of the substrate in the substrate transport direction. Therefore, two or more substrates can be disposed between the two application portions. Thereby, a tact can be shortened more reliably.

上記の塗布装置は、複数の前記塗布部に対して独立して前記液状体を供給可能な液状体供給部を更に備えることを特徴とする。
本発明によれば、複数の塗布部に対して独立して液状体を供給可能な液状体供給部を更に備えることとしたので、各塗布部を効率的にメンテナンスすることができる。
The coating apparatus further includes a liquid supply unit capable of supplying the liquid independently to a plurality of the application units.
According to the present invention, since the liquid material supply unit capable of independently supplying the liquid material to the plurality of application units is further provided, each application unit can be efficiently maintained.

上記の塗布装置は、複数の前記塗布部のうち基板搬送方向の最も下流側に設けられる塗布部は、前記基板搬出領域との間の距離が前記基板の前記基板搬送方向の寸法よりも大きくなるように配置されていることを特徴とする。
本発明によれば、複数の塗布部のうち基板搬送方向の最も下流側に設けられる塗布部は、基板搬出領域との間の距離が基板の基板搬送方向の寸法よりも大きくなるように配置されていることとしたので、下流側に設けられる上記塗布部と基板搬出領域との間にも基板を配置させることができる。これにより、一層効果的にタクトを短縮化することができる。
In the above-described coating apparatus, the distance between the coating unit provided on the most downstream side in the substrate transport direction among the plurality of coating units is larger than the dimension of the substrate in the substrate transport direction. It is arranged so that it may be arranged.
According to the present invention, the applicator provided on the most downstream side in the substrate transport direction among the plurality of applicators is arranged such that the distance to the substrate carry-out region is larger than the dimension of the substrate in the substrate transport direction. Therefore, the substrate can also be arranged between the application unit provided on the downstream side and the substrate carry-out region. Thereby, a tact can be shortened more effectively.

上記の塗布装置は、複数の前記塗布部は、前記基板搬送方向に移動可能に設けられていることを特徴とする。
本発明によれば、複数の塗布部が基板搬送方向に移動可能に設けられていることとしたので、必要に応じて当該複数の塗布部同士の間隔を調整することができる。
In the coating apparatus, the plurality of coating units are provided to be movable in the substrate transport direction.
According to the present invention, since the plurality of application units are provided to be movable in the substrate transport direction, the intervals between the plurality of application units can be adjusted as necessary.

上記の塗布装置は、複数の前記塗布部の状態を管理する管理部を更に備えることを特徴とする。
本発明によれば、複数の塗布部の状態を管理する管理部を更に備えることとしたので、複数の塗布部の状態を効率的に管理することができる。
The coating apparatus further includes a management unit that manages states of the plurality of coating units.
According to the present invention, since the management unit that manages the states of the plurality of application units is further provided, the states of the plurality of application units can be efficiently managed.

上記の塗布装置は、前記管理部は、複数の前記塗布部のそれぞれに対応して個別に設けられていることを特徴とする。
本発明によれば、管理部が複数の塗布部のそれぞれに対応して個別に設けられていることとしたので、複数の塗布部に対して管理部による処理を個別に行わせることができる。
In the coating apparatus, the management unit is individually provided corresponding to each of the plurality of coating units.
According to the present invention, since the management unit is individually provided corresponding to each of the plurality of application units, it is possible to cause the plurality of application units to perform processing by the management unit individually.

上記の塗布装置は、前記管理部は、前記塗布部に対して前記基板搬送方向の上流側に配置されていることを特徴とする。
本発明によれば、管理部が塗布部に対して基板搬送方向の上流側に配置されていることとしたので、基板搬送部上の空間を効率的に利用することができる。
In the coating apparatus, the management unit is arranged on the upstream side in the substrate transport direction with respect to the coating unit.
According to the present invention, since the management unit is arranged on the upstream side in the substrate transport direction with respect to the coating unit, the space on the substrate transport unit can be efficiently used.

上記の塗布装置は、複数の前記塗布部での塗布処理及び前記基板搬送部での前記基板の搬送処理が可能であるか否かを前記基板の位置に基づいて判断し、可能であると判断した処理を行わせる制御装置を備えることを特徴とする。
本発明によれば、複数の塗布部での塗布処理及び基板搬送部での基板の搬送処理が可能であるか否かを基板の位置に基づいて判断し、可能であると判断した処理を行わせる制御装置を備えることとしたので、基板をより安全かつ効率的に処理することが可能となる。これにより、一層のタクトの短縮を図ることができる。
The coating apparatus determines whether or not the coating process in the plurality of coating units and the transport process of the substrate in the substrate transport unit are possible based on the position of the substrate. It is characterized by comprising a control device for performing the above-described processing.
According to the present invention, it is determined based on the position of the substrate whether or not the coating process in the plurality of coating units and the substrate transport process in the substrate transport unit are possible, and the process determined to be possible is performed. Therefore, the substrate can be processed more safely and efficiently. Thereby, the tact time can be further shortened.

本発明によれば、タクトの短縮を図ることができる。   According to the present invention, the tact can be shortened.

本発明の第1実施形態を図面に基づき説明する。
図1は本実施形態に係る塗布装置1の斜視図である。同図に示すように、本実施形態に係る塗布装置1は、例えば液晶パネルなどに用いられるガラス基板上にレジストを塗布する塗布装置であり、基板搬送部2と、塗布部3(3A、3B)と、管理部4(4A、4B)と、制御装置5とを主要な構成要素としている。本実施形態では、塗布部3及び管理部4が2つずつ設けられた構成になっている。
A first embodiment of the present invention will be described based on the drawings.
FIG. 1 is a perspective view of a coating apparatus 1 according to this embodiment. As shown in the figure, a coating apparatus 1 according to the present embodiment is a coating apparatus that coats a resist on a glass substrate used for a liquid crystal panel, for example, and includes a substrate transport unit 2 and coating units 3 (3A, 3B). ), The management unit 4 (4A, 4B), and the control device 5 are main components. In the present embodiment, two application units 3 and two management units 4 are provided.

塗布装置1では、制御装置5の制御により、基板搬送部2において基板が浮上した状態で搬送され、塗布部3において基板上にレジストが塗布され、管理部4において塗布部3の状態が管理されるようになっている。塗布装置1は、例えばクリーンルーム内など清浄な環境下に配置されて用いられることが好ましい。   In the coating apparatus 1, the substrate is transported in a floating state in the substrate transport unit 2 under the control of the control device 5, a resist is coated on the substrate in the coating unit 3, and the state of the coating unit 3 is managed in the management unit 4. It has become so. The coating apparatus 1 is preferably used in a clean environment such as a clean room.

図2は塗布装置1の正面図、図3は塗布装置1の平面図、図4は塗布装置1の側面図である。これらの図を参照して、塗布装置1の詳細な構成を説明する。以下、塗布装置1の構成を説明するにあたり、表記の簡単のため、図中の方向をXYZ座標系を用いて説明する。基板搬送部2の長手方向であって基板の搬送方向をX方向と表記する。平面視でX方向(基板搬送方向)に直交する方向をY方向と表記する。X方向軸及びY方向軸を含む平面に垂直な方向をZ方向と表記する。なお、X方向、Y方向及びZ方向のそれぞれは、図中の矢印の方向が+方向、矢印の方向とは反対の方向が−方向であるものとする。   2 is a front view of the coating apparatus 1, FIG. 3 is a plan view of the coating apparatus 1, and FIG. The detailed configuration of the coating apparatus 1 will be described with reference to these drawings. Hereinafter, in describing the configuration of the coating apparatus 1, for simplicity of description, directions in the drawing will be described using an XYZ coordinate system. The substrate transport direction is the longitudinal direction of the substrate transport unit 2 and the substrate transport direction is referred to as the X direction. A direction orthogonal to the X direction (substrate transport direction) in plan view is referred to as a Y direction. A direction perpendicular to the plane including the X direction axis and the Y direction axis is referred to as a Z direction. In each of the X direction, the Y direction, and the Z direction, the arrow direction in the figure is the + direction, and the direction opposite to the arrow direction is the-direction.

(基板搬送部)
まず、基板搬送部2の構成を説明する。
基板搬送部2は、フレーム21と、ステージ22と、搬送機構23とを有している。基板搬送部2では、搬送機構23によって基板Sがステージ22上を+X方向に搬送されるようになっている。
(Substrate transport section)
First, the structure of the board | substrate conveyance part 2 is demonstrated.
The substrate transport unit 2 includes a frame 21, a stage 22, and a transport mechanism 23. In the substrate transport unit 2, the substrate S is transported on the stage 22 in the + X direction by the transport mechanism 23.

フレーム21は、例えば床面上に載置されると共にステージ22及び搬送機構23を支持する支持部材である。フレーム21は3つの部分に分割されており、当該3つの部分はY方向上に配列されている。フレーム中央部21aは、分割された3つの部分のうちY方向の中央に配置される部分であり、ステージ22を支持している。フレーム側部21bは、フレーム中央部21aの−Y方向側に配置されており、搬送機構23を支持している。フレーム側部21bとフレーム中央部21aとの間には隙間が設けられている。フレーム側部21cは、フレーム中央部21aの+Y方向側に配置されており、搬送機構23を支持している。フレーム側部21cとフレーム中央部21aとの間には隙間が設けられている。フレーム中央部21a、フレーム側部21b及びフレーム側部21cはX方向に長手になっており、各部のX方向の寸法はほぼ同一になっている。   For example, the frame 21 is a support member that is placed on the floor surface and supports the stage 22 and the transport mechanism 23. The frame 21 is divided into three parts, and the three parts are arranged in the Y direction. The frame center portion 21 a is a portion arranged at the center in the Y direction among the three divided portions, and supports the stage 22. The frame side portion 21 b is disposed on the −Y direction side of the frame center portion 21 a and supports the transport mechanism 23. A gap is provided between the frame side portion 21b and the frame center portion 21a. The frame side portion 21 c is disposed on the + Y direction side of the frame central portion 21 a and supports the transport mechanism 23. A gap is provided between the frame side portion 21c and the frame center portion 21a. The frame center portion 21a, the frame side portion 21b, and the frame side portion 21c are elongated in the X direction, and the dimensions of the respective portions in the X direction are substantially the same.

ステージ22は、搬入側ステージ25と、処理ステージ27と、中央部ステージ29と、搬出側ステージ28とを有している。本実施形態では、処理ステージ27が2つ設けられており、当該2つの処理ステージ27の間に中央部ステージ29が配置された構成になっている。各ステージの配置についてより具体的に説明すると、基板搬送方向(+X方向)の上流側から下流側にかけて、搬入側ステージ25、処理ステージ27、中央部ステージ29、処理ステージ27及び搬出側ステージ28の順に配置されている。   The stage 22 includes a carry-in stage 25, a processing stage 27, a central stage 29, and a carry-out stage 28. In the present embodiment, two processing stages 27 are provided, and a central stage 29 is arranged between the two processing stages 27. The arrangement of each stage will be described more specifically. From the upstream side to the downstream side in the substrate transfer direction (+ X direction), the loading stage 25, the processing stage 27, the central stage 29, the processing stage 27, and the unloading stage 28 Arranged in order.

搬入側ステージ25は、例えばステンレス鋼などからなり、平面視でほぼ正方形の板状部材である。搬入側ステージ25の形状を平面視略正方形にすることで、長手方向及び短手方向を有する基板を搬送する場合であっても、当該基板をいずれの方向にも搬送することができるようになっている。本実施形態では、搬入側ステージ25上の領域が基板搬入領域25Sとなる。基板搬入領域25Sは、装置外部から搬送されてきた基板Sを搬入する領域である。   The carry-in stage 25 is made of, for example, stainless steel and is a substantially square plate-like member in plan view. By making the shape of the carry-in stage 25 substantially square in plan view, even when a substrate having a longitudinal direction and a short direction is transported, the substrate can be transported in any direction. ing. In the present embodiment, the area on the carry-in stage 25 is the substrate carry-in area 25S. The substrate carry-in area 25S is an area for carrying the substrate S that has been carried from the outside of the apparatus.

搬入側ステージ25には、エア噴出孔25aと、昇降ピン出没孔25bとがそれぞれ複数設けられている。エア噴出孔25a及び昇降ピン出没孔25bは、それぞれ搬入側ステージ25を貫通するように設けられている。   The carry-in stage 25 is provided with a plurality of air ejection holes 25a and a plurality of elevating pin retracting holes 25b. The air ejection hole 25a and the lifting pin retracting hole 25b are provided so as to penetrate the carry-in stage 25, respectively.

エア噴出孔25aは、搬入側ステージ25のステージ表面25c上にエアを噴出する孔であり、平面視でマトリクス状に配置されている。エア噴出孔25aには図示しないエア供給源が接続されている。搬入側ステージ25では、エア噴出孔25aから噴出されるエアによって基板Sを+Z方向に浮上させることができるようになっている。   The air ejection holes 25a are holes for ejecting air onto the stage surface 25c of the carry-in stage 25, and are arranged in a matrix in a plan view. An air supply source (not shown) is connected to the air ejection hole 25a. In the carry-in stage 25, the substrate S can be lifted in the + Z direction by the air ejected from the air ejection holes 25a.

昇降ピン出没孔25bは、搬入側ステージ25の基板搬入位置に設けられている。昇降ピン出没孔25bは、エア噴出孔25aを避ける位置に配置されており、ステージ表面25cに供給されたエアが漏れ出さない構成になっている。   The elevating pin retracting hole 25 b is provided at the substrate loading position of the loading side stage 25. The elevating pin retracting hole 25b is disposed at a position avoiding the air ejection hole 25a, and is configured such that the air supplied to the stage surface 25c does not leak out.

搬入側ステージ25のうちY方向の両端部には、アライメント装置25dが1つずつ設けられている。アライメント装置25dは、搬入側ステージ25に搬入された基板Sの位置を合わせる装置である。各アライメント装置25dは長孔と当該長孔内に設けられた位置合わせ部材とを有しており、搬入側ステージ25に搬入される基板を両側から機械的に挟持することで基板の位置を合わせるようになっている。アライメント装置25dについては、上記構成に限られず、例えば搬入側ステージ25のうちY方向の両端部に2つ以上ずつ配置する構成であっても構わないし、搬入側ステージ25のX方向の両端部に配置する構成であっても構わない。   One alignment device 25d is provided at each end of the carry-in stage 25 in the Y direction. The alignment device 25d is a device that aligns the position of the substrate S carried into the carry-in stage 25. Each alignment device 25d has a long hole and an alignment member provided in the long hole, and aligns the position of the substrate by mechanically holding the substrate loaded into the loading side stage 25 from both sides. It is like that. The alignment device 25d is not limited to the above-described configuration, and may be a configuration in which two or more are arranged at both ends in the Y direction of the carry-in stage 25, or may be arranged at both ends in the X direction of the carry-in stage 25. You may be the structure to arrange.

搬入側ステージ25の−Z方向側、すなわち、搬入側ステージ25の裏面側には、リフト機構26が設けられている。リフト機構26は、搬入側ステージ25の基板搬入位置に平面視で重なるように設けられている。リフト機構26は、昇降部材26aと、複数の昇降ピン26bとを有している。昇降部材26aは、図示しない駆動機構に接続されており、当該駆動機構の駆動によって昇降部材26aがZ方向に移動するようになっている。複数の昇降ピン26bは、昇降部材26aの上面から搬入側ステージ25へ向けて立設されている。各昇降ピン26bは、それぞれ上記の昇降ピン出没孔25bに平面視で重なる位置に配置されている。昇降部材26aがZ方向に移動することで、各昇降ピン26bが昇降ピン出没孔25bからステージ表面25c上に出没するようになっている。各昇降ピン26bの+Z方向の端部はそれぞれZ方向上の位置が揃うように設けられており、装置外部から搬送されてきた基板Sを水平な状態で保持することができるようになっている。また、搬入側ステージ25上には、不図示の基板センサが設けられている。当該基板センサにより、搬入側ステージ25上に基板Sがあるかどうかを検出できるようになっている。   A lift mechanism 26 is provided on the −Z direction side of the carry-in stage 25, that is, on the back side of the carry-in stage 25. The lift mechanism 26 is provided so as to overlap the substrate loading position of the loading side stage 25 in plan view. The lift mechanism 26 includes an elevating member 26a and a plurality of elevating pins 26b. The elevating member 26a is connected to a driving mechanism (not shown), and the elevating member 26a is moved in the Z direction by driving the driving mechanism. The plurality of elevating pins 26b are erected from the upper surface of the elevating member 26a toward the carry-in stage 25. Each raising / lowering pin 26b is arrange | positioned in the position which overlaps with said raising / lowering pin retracting hole 25b, respectively by planar view. As the elevating member 26a moves in the Z direction, each elevating pin 26b appears and disappears on the stage surface 25c from the elevating pin appearing hole 25b. Ends in the + Z direction of the lift pins 26b are provided so that their positions in the Z direction are aligned, so that the substrate S transported from the outside of the apparatus can be held in a horizontal state. . A substrate sensor (not shown) is provided on the carry-in stage 25. The substrate sensor can detect whether or not the substrate S is on the carry-in stage 25.

処理ステージ27は、ステージ表面27cが例えば硬質アルマイトを主成分とする矩形の板状部材であり、搬入側ステージ25に対して+X方向側に設けられている。処理ステージ27は、Y方向が長手になっている。処理ステージ27のY方向の寸法は、搬入側ステージ25のY方向の寸法とほぼ同一になっている。本実施形態では、処理ステージ27上の領域がレジスト塗布の行われる塗布処理領域27Sである。   The processing stage 27 is a rectangular plate-like member whose main surface 27c is mainly composed of hard anodized, for example, and is provided on the + X direction side with respect to the carry-in stage 25. The processing stage 27 has a longitudinal Y direction. The dimension of the processing stage 27 in the Y direction is substantially the same as the dimension of the loading stage 25 in the Y direction. In the present embodiment, the region on the processing stage 27 is a coating processing region 27S where resist coating is performed.

処理ステージ27には、ステージ表面27c上にエアを噴出する複数のエア噴出孔27aと、ステージ表面27c上のエアを吸引する複数のエア吸引孔27bとが設けられている。これらエア噴出孔27a及びエア吸引孔27bは、処理ステージ27を貫通するように設けられている。   The processing stage 27 is provided with a plurality of air ejection holes 27a for ejecting air onto the stage surface 27c and a plurality of air suction holes 27b for sucking air on the stage surface 27c. The air ejection holes 27 a and the air suction holes 27 b are provided so as to penetrate the processing stage 27.

処理ステージ27では他のステージに比べて基板の浮上量を高精度で調節できるようになっており、基板の浮上量が例えば100μm以下、好ましくは50μm以下となるように制御することが可能になっている。また、処理ステージ27上には、不図示の基板センサが設けられている。当該基板センサにより、処理ステージ27上に基板Sがあるかどうかを検出できるようになっている。   In the processing stage 27, the flying height of the substrate can be adjusted with higher precision than in other stages, and the flying height of the substrate can be controlled to be, for example, 100 μm or less, preferably 50 μm or less. ing. A substrate sensor (not shown) is provided on the processing stage 27. Whether or not the substrate S is on the processing stage 27 can be detected by the substrate sensor.

搬出側ステージ28は、基板搬送方向の下流側の処理ステージ27に対して+X方向側に設けられており、基板搬入領域25Sに設けられた搬入側ステージ25とほぼ同様の材質、寸法で構成されている。したがって、搬出側ステージ28の形状についても、平面視略正方形となっている。本実施形態では、搬出側ステージ28上の領域が基板搬出領域28Sである。基板搬出領域28Sは、レジストの塗布された基板Sを装置外部へ搬出する基板搬出領域28Sである。   The carry-out stage 28 is provided on the + X direction side with respect to the processing stage 27 on the downstream side in the substrate carrying direction, and is configured with substantially the same material and dimensions as the carry-in stage 25 provided in the substrate carry-in region 25S. ing. Therefore, the shape of the carry-out stage 28 is also substantially square in plan view. In the present embodiment, the area on the carry-out stage 28 is the substrate carry-out area 28S. The substrate carry-out area 28S is a substrate carry-out area 28S where the resist-coated substrate S is carried out of the apparatus.

搬出側ステージ28には、搬入側ステージ25と同様、エア噴出孔28a及び昇降ピン出没孔28bが設けられている。搬出側ステージ28の−Z方向側、すなわち、搬出側ステージ28の裏面側には、リフト機構26が設けられている。リフト機構26は、搬出側ステージ28の基板搬出位置に平面視で重なるように設けられている。リフト機構26は、搬入側ステージ25に設けられたリフト機構26と同様の構成になっている。このリフト機構26は、搬出側ステージ28上の基板Sを外部装置へと搬出する際に、基板Sの受け渡しのため昇降ピン26bによって基板Sを持ち上げることができるようになっている。また、搬出側ステージ28上には、不図示の基板センサが設けられている。当該基板センサにより、搬出側ステージ28上に基板Sがあるかどうかを検出できるようになっている。   Similarly to the carry-in stage 25, the carry-out stage 28 is provided with an air ejection hole 28a and a lift pin retracting hole 28b. A lift mechanism 26 is provided on the −Z direction side of the carry-out stage 28, that is, on the back side of the carry-out stage 28. The lift mechanism 26 is provided so as to overlap the substrate carry-out position of the carry-out stage 28 in plan view. The lift mechanism 26 has the same configuration as the lift mechanism 26 provided on the carry-in stage 25. The lift mechanism 26 can lift the substrate S by lift pins 26b for delivery of the substrate S when the substrate S on the unloading stage 28 is unloaded to an external device. A substrate sensor (not shown) is provided on the carry-out stage 28. Whether or not the substrate S is on the carry-out stage 28 can be detected by the substrate sensor.

中央部ステージ29は、搬入側ステージ及び搬出側ステージと同様、例えばステンレス鋼などからなり、平面視でほぼ正方形の板状部材である。中央部ステージ29には、エア噴出孔29aが複数設けられている。エア噴出孔29aは、中央部ステージ29のステージ表面29c上にエアを噴出する孔であり、平面視でマトリクス状に配置されている。エア噴出孔29aには図示しないエア供給源が接続されている。中央部ステージ29では、エア噴出孔29aから噴出されるエアによって基板Sを+Z方向に浮上させることができるようになっている。中央部ステージ29上には、不図示の基板センサが設けられている。基板センサによって、中央部ステージ29上に基板Sがあるかどうかを検出できるようになっている。   The central stage 29 is made of, for example, stainless steel, as in the carry-in stage and the carry-out stage, and is a substantially square plate-like member in plan view. The central stage 29 is provided with a plurality of air ejection holes 29a. The air ejection holes 29a are holes for ejecting air onto the stage surface 29c of the central stage 29, and are arranged in a matrix in a plan view. An air supply source (not shown) is connected to the air ejection hole 29a. In the central stage 29, the substrate S can be floated in the + Z direction by the air ejected from the air ejection holes 29a. A substrate sensor (not shown) is provided on the central stage 29. Whether or not the substrate S is on the central stage 29 can be detected by the substrate sensor.

搬送機構23は、基板Sを保持して+X方向に搬送する機構を有しており、フレーム側部21b及びフレーム側部21c上に一対設けられている。この一対の搬送機構23は、ステージ22のY方向中央に対して線対称の構成になっており、当該線対称である点を除いては同一の構成となっている。したがって、以下、フレーム側部21bに設けられる搬送機構23を例に挙げて説明する。   The transport mechanism 23 has a mechanism for holding the substrate S and transporting the substrate S in the + X direction, and a pair is provided on the frame side portion 21b and the frame side portion 21c. The pair of transport mechanisms 23 has a line-symmetric configuration with respect to the center of the stage 22 in the Y direction, and has the same configuration except that the line-symmetrical point. Therefore, hereinafter, the conveyance mechanism 23 provided in the frame side portion 21b will be described as an example.

搬送機構23は、搬送機23aと、基板保持部23bと、レール23cとを有している。搬送機23aは内部に例えばリニアモータが設けられた構成になっており、当該リニアモータが駆動することによって、搬送機23aがレール23c上を移動可能になっている。   The transport mechanism 23 includes a transport machine 23a, a substrate holding unit 23b, and a rail 23c. The conveyor 23a has a configuration in which, for example, a linear motor is provided therein, and the conveyor 23a can move on the rail 23c when the linear motor is driven.

基板保持部23bは、基板Sのうち−Y方向側の側縁部を保持する保持部である。基板Sの当該側縁部は、ステージ22に対してはみ出した部分であり、基板搬送方向に沿った一の側部である。基板保持部23bは、搬送機23aの+X方向側の面上にY方向に沿って例えば4つ設けられており、当該搬送機23aに取り付けられている。各基板保持部23bには吸着パッドが設けられており、当該吸着パッドによって基板Sを吸着して保持するようになっている。   The substrate holding unit 23b is a holding unit that holds the side edge of the substrate S on the −Y direction side. The said side edge part of the board | substrate S is a part protruded with respect to the stage 22, and is one side part along a board | substrate conveyance direction. For example, four substrate holding portions 23b are provided along the Y direction on the surface on the + X direction side of the transport machine 23a, and are attached to the transport machine 23a. Each substrate holding portion 23b is provided with a suction pad, and the substrate S is sucked and held by the suction pad.

レール23cは、フレーム側部21b上に設けられており、搬入側ステージ25、処理ステージ27及び搬出側ステージ28の側方に各ステージに跨って延在している。当該レール23cを移動することで搬送機23aが当該各ステージに沿って移動できるようになっている。   The rail 23c is provided on the frame side portion 21b, and extends across the stages on the side of the carry-in stage 25, the processing stage 27, and the carry-out stage 28. By moving the rail 23c, the transporter 23a can move along the respective stages.

なお、フレーム側部21b及びフレーム側部21cに設けられた各搬送機構23は、独立して基板Sを搬送できるようになっている。例えば、図3に示すようにフレーム側部21bに設けられた搬送機構23と、フレーム側部21cに設けられた搬送機構23とで異なる基板Sを保持させることができるようになっている。この場合、各搬送機構23によって基板を交互に搬送することが可能となるため、スループットが向上することになる。また、上記の基板Sの半分程度の面積を有する基板を搬送する場合には、例えば2つの搬送機構23で1枚ずつ保持し、これら2つの搬送機構23を+X方向に並進させることによって、2枚の基板を同時に搬送させることもできるようになっている。   In addition, each conveyance mechanism 23 provided in the frame side part 21b and the frame side part 21c can convey the board | substrate S independently. For example, as shown in FIG. 3, different substrates S can be held by the transport mechanism 23 provided on the frame side portion 21b and the transport mechanism 23 provided on the frame side portion 21c. In this case, since the substrates can be alternately conveyed by the respective conveyance mechanisms 23, the throughput is improved. Further, when a substrate having an area about half the size of the substrate S is transported, for example, the two transport mechanisms 23 hold one by one, and the two transport mechanisms 23 are translated in the + X direction to obtain 2 It is also possible to carry a single substrate simultaneously.

(塗布部)
塗布部3の構成を説明する。
各塗布部3は、上記の処理ステージ27に平面視で重なる位置に配置されている。塗布部3Aは、基板搬送方向の上流側の処理ステージ27に対応している。塗布部3Bは、基板搬送方向の下流側の処理ステージ27に対応している。塗布部3A及び塗布部3Bは、それぞれ基板搬入領域25Sと基板搬出領域28Sとの間に配置されている。図3に示すように、塗布部3Aと塗布部3Bとの間の距離L1は、基板Sの基板搬送方向の寸法L2よりも大きくなっている。塗布部3A及び塗布部3Bは、基板S上にレジストを塗布する部分であり、それぞれ門型フレーム31と、ノズル32とを有している。塗布部3A及び塗布部3Bは、同一の構成となっている。
(Applying part)
The configuration of the application unit 3 will be described.
Each application unit 3 is disposed at a position overlapping the processing stage 27 in plan view. The coating unit 3A corresponds to the processing stage 27 on the upstream side in the substrate transport direction. The coating unit 3B corresponds to the processing stage 27 on the downstream side in the substrate transport direction. The coating unit 3A and the coating unit 3B are respectively disposed between the substrate carry-in area 25S and the substrate carry-out area 28S. As shown in FIG. 3, the distance L1 between the coating part 3A and the coating part 3B is larger than the dimension L2 of the substrate S in the substrate transport direction. The application part 3A and the application part 3B are parts for applying a resist on the substrate S, and each have a portal frame 31 and a nozzle 32. The application part 3A and the application part 3B have the same configuration.

門型フレーム31は、支柱部材31aと、架橋部材31bとを有しており、処理ステージ27をY方向に跨ぐように設けられている。支柱部材31aは処理ステージ27をY方向に挟むように1つずつ設けられており、各支柱部材31aがそれぞれフレーム側部21b及びフレーム側部21cに支持されている。各支柱部材31aは、上端部の高さ位置が揃うように設けられている。架橋部材31bは、各支柱部材31aの上端部の間に架橋されており、当該支柱部材31aに対して昇降可能となっている。   The portal frame 31 includes a support member 31a and a bridging member 31b, and is provided so as to straddle the processing stage 27 in the Y direction. One column member 31a is provided so as to sandwich the processing stage 27 in the Y direction, and each column member 31a is supported by the frame side portion 21b and the frame side portion 21c, respectively. Each strut member 31a is provided so that the height positions of the upper end portions are aligned. The bridging member 31b is bridged between the upper end portions of the respective column members 31a, and can be moved up and down with respect to the column members 31a.

この門型フレーム31は移動機構34に接続されている。移動機構34は、レール部材35及び駆動機構36を有している。レール部材35はフレーム側部21b及びフレーム側部21cの溝21d内に例えば1本ずつ設けられており、それぞれX方向に延在している。各レール部材35は、それぞれ管理部4よりも−X方向側に延在するように設けられている。駆動機構36は、門型フレーム31に接続され塗布部3をレール部材35に沿って移動させる。   The portal frame 31 is connected to a moving mechanism 34. The moving mechanism 34 includes a rail member 35 and a drive mechanism 36. For example, one rail member 35 is provided in the groove 21d of the frame side portion 21b and the frame side portion 21c, and each rail member 35 extends in the X direction. Each rail member 35 is provided so as to extend to the −X direction side from the management unit 4. The drive mechanism 36 is connected to the portal frame 31 and moves the application unit 3 along the rail member 35.

ノズル32は、一方向が長手の長尺状に構成されており、門型フレーム31の架橋部材31bの−Z方向側の面に設けられている。このノズル32のうち−Z方向の先端には、自身の長手方向に沿ってスリット状の開口部32aが設けられており、当該開口部32aからレジストが吐出されるようになっている。ノズル32は、開口部32aの長手方向がY方向に平行になると共に、当該開口部32aが処理ステージ27に対向するように配置されている。開口部32aの長手方向の寸法は基板SのY方向の寸法よりも小さくなっており、基板Sの周辺領域にレジストが塗布されないようになっている。ノズル32の内部にはレジストを開口部32aに流通させる図示しない流通路が設けられており、この流通路にはレジスト供給源39(39A、39B)が接続されている。このレジスト供給源39(39A、39B)は例えば図示しないポンプを有しており、当該ポンプでレジストを開口部32aへと押し出すことで開口部32aからレジストが吐出されるようになっている。レジスト供給源39(39A、39B)は、塗布部3A及び塗布部3Bに設けられる各ノズル32についてそれぞれ別個に設けられており、塗布部3A及び塗布部3Bにはそれぞれ独立してレジストが供給されるようになっている。   The nozzle 32 is formed in a long and long shape in one direction, and is provided on the surface on the −Z direction side of the bridging member 31 b of the portal frame 31. A slit-like opening 32a is provided along the longitudinal direction of the nozzle 32 at the tip in the -Z direction, and a resist is discharged from the opening 32a. The nozzle 32 is disposed so that the longitudinal direction of the opening 32 a is parallel to the Y direction and the opening 32 a faces the processing stage 27. The dimension in the longitudinal direction of the opening 32a is smaller than the dimension in the Y direction of the substrate S, so that the resist is not applied to the peripheral region of the substrate S. A flow passage (not shown) through which the resist flows through the opening 32a is provided inside the nozzle 32, and a resist supply source 39 (39A, 39B) is connected to the flow passage. The resist supply source 39 (39A, 39B) has a pump (not shown), for example, and the resist is ejected from the opening 32a by pushing the resist to the opening 32a with the pump. The resist supply sources 39 (39A, 39B) are provided separately for the nozzles 32 provided in the coating unit 3A and the coating unit 3B, respectively, and the resist is independently supplied to the coating unit 3A and the coating unit 3B. It has become so.

支柱部材31aには不図示の移動機構が設けられており、当該移動機構によって架橋部材31bに保持されたノズル32がZ方向に移動可能になっている。ノズル32には不図示の移動機構が設けられており、当該移動機構によってノズル32が架橋部材31bに対してZ方向に移動可能になっている。門型フレーム31の架橋部材31bの下面には、ノズル32の開口部32a、すなわち、ノズル32の先端32cと当該ノズル先端32cに対向する対向面との間のZ方向上の距離を測定するセンサ33が取り付けられている。このセンサ33はY方向に沿って例えば3つ設けられている。   The support member 31a is provided with a moving mechanism (not shown), and the nozzle 32 held by the bridging member 31b is movable in the Z direction by the moving mechanism. The nozzle 32 is provided with a moving mechanism (not shown), and the moving mechanism allows the nozzle 32 to move in the Z direction with respect to the bridging member 31b. On the lower surface of the bridging member 31b of the portal frame 31, a sensor that measures the distance in the Z direction between the opening 32a of the nozzle 32, that is, the tip 32c of the nozzle 32 and the facing surface facing the nozzle tip 32c. 33 is attached. For example, three sensors 33 are provided along the Y direction.

(管理部)
管理部4の構成を説明する。
管理部4は、基板Sに吐出されるレジスト(液状体)の吐出量が一定になるようにノズル32を管理する部位である。管理部4Aは、塗布部3Aに対して基板搬送方向の上流側(−X方向側)に設けられており、塗布部3Aに設けられるノズル32を管理する。管理部4Bは、塗布部3Bに対して基板搬送方向の上流側に設けられており、塗布部3Bに設けられるノズル32を管理する。管理部4A及び管理部4Bは、同一の構成になっている。管理部4A及び管理部4Bは、それぞれ予備吐出機構41と、ディップ槽42と、ノズル洗浄装置43と、これらを収容する収容部44と、当該収容部を保持する保持部材45とを有している。
(Management Department)
The configuration of the management unit 4 will be described.
The management unit 4 is a part that manages the nozzles 32 so that the discharge amount of the resist (liquid material) discharged onto the substrate S is constant. The management unit 4A is provided on the upstream side (−X direction side) in the substrate transport direction with respect to the coating unit 3A, and manages the nozzles 32 provided in the coating unit 3A. The management unit 4B is provided on the upstream side in the substrate transport direction with respect to the coating unit 3B, and manages the nozzles 32 provided in the coating unit 3B. The management unit 4A and the management unit 4B have the same configuration. Each of the management unit 4A and the management unit 4B includes a preliminary discharge mechanism 41, a dip tank 42, a nozzle cleaning device 43, a storage unit 44 that stores these, and a holding member 45 that holds the storage unit. Yes.

予備吐出機構41、ディップ槽42及びノズル洗浄装置43は、−X方向側へこの順で配列されている。予備吐出機構41は、レジストを予備的に吐出する部分である。当該予備吐出機構41は塗布部3が塗布処理領域27S上に配置されている状態でノズル32に最も近くなる位置に設けられている。ディップ槽42は、内部にシンナーなどの溶剤が貯留された液体槽である。ノズル洗浄装置43は、ノズル32の開口部32a近傍をリンス洗浄する装置であり、Y方向に移動する図示しない洗浄機構と、当該洗浄機構を移動させる図示しない移動機構とを有している。この移動機構は、洗浄機構よりも−X方向側に設けられている。ノズル洗浄装置43は、移動機構が設けられる分、予備吐出機構41及びディップ槽42に比べてX方向の寸法が大きくなっている。なお、予備吐出機構41、ディップ槽42、ノズル洗浄装置43の配置については、本実施形態の配置に限られず、他の配置であっても構わない。   The preliminary discharge mechanism 41, the dip tank 42, and the nozzle cleaning device 43 are arranged in this order in the −X direction side. The preliminary ejection mechanism 41 is a part that ejects the resist preliminary. The preliminary ejection mechanism 41 is provided at a position closest to the nozzle 32 in a state where the coating unit 3 is disposed on the coating processing region 27S. The dip tank 42 is a liquid tank in which a solvent such as thinner is stored. The nozzle cleaning device 43 is a device for rinsing and cleaning the vicinity of the opening 32a of the nozzle 32, and includes a cleaning mechanism (not shown) that moves in the Y direction and a moving mechanism (not shown) that moves the cleaning mechanism. This moving mechanism is provided on the −X direction side of the cleaning mechanism. The nozzle cleaning device 43 has a larger dimension in the X direction than the preliminary discharge mechanism 41 and the dip tank 42 because the moving mechanism is provided. In addition, about arrangement | positioning of the preliminary discharge mechanism 41, the dip tank 42, and the nozzle washing | cleaning apparatus 43, it is not restricted to arrangement | positioning of this embodiment, Other arrangement | positioning may be sufficient.

収容部44のY方向の寸法は上記門型フレーム31の支柱部材31a間の距離よりも小さくなっており、上記門型フレーム31が収容部44を超えてX方向に移動できるようになっている。また、門型フレーム31は、収容部44内に設けられる予備吐出機構41、ディップ槽42及びノズル洗浄装置43について、これらの各部を跨ぐようにアクセスできるようになっている。   The dimension of the accommodating portion 44 in the Y direction is smaller than the distance between the support members 31a of the portal frame 31 so that the portal frame 31 can move in the X direction beyond the accommodating portion 44. . Further, the portal frame 31 can access the preliminary discharge mechanism 41, the dip tank 42, and the nozzle cleaning device 43 provided in the accommodating portion 44 so as to straddle these portions.

保持部材45は、管理部移動機構46に接続されている。管理部移動機構46は、レール部材47及び駆動機構48を有している。レール部材47は、フレーム側部21b及びフレーム側部21cの溝21e内にそれぞれ設けられており、それぞれX方向に延在している。各レール部材47は、塗布部3の門型フレーム31に接続されるレール部材35の間に配置されている。各レール部材47の−X方向の端部は、例えばフレーム側部21b及びフレーム側部21cの−X方向の端部まで設けられている。駆動機構48は、保持部材45に接続され管理部4をレール部材47上に沿って移動させる。   The holding member 45 is connected to the management unit moving mechanism 46. The management unit moving mechanism 46 includes a rail member 47 and a drive mechanism 48. The rail members 47 are respectively provided in the grooves 21e of the frame side part 21b and the frame side part 21c, and each extend in the X direction. Each rail member 47 is disposed between the rail members 35 connected to the portal frame 31 of the application unit 3. The end portions in the −X direction of the rail members 47 are provided, for example, to the end portions in the −X direction of the frame side portion 21b and the frame side portion 21c. The drive mechanism 48 is connected to the holding member 45 and moves the management unit 4 along the rail member 47.

次に、上記のように構成された塗布装置1の動作を図5〜図11を用いて説明する。図5〜図10は、塗布装置1の塗布動作を示す平面図である。図5〜図10においては、図5に示す座標系が図6〜図10において共通して用いられる。図11は、塗布装置1のノズル管理動作を示す図である。図5〜図11では、図を判別しやすくするため、例えば搬送機構23の図示を省略するなど塗布装置1の構成を模式化して記載している。以下の説明では、動作が行われる部分を主体として説明するが、実際には制御装置5の制御に基づいて各動作が行われる。   Next, operation | movement of the coating device 1 comprised as mentioned above is demonstrated using FIGS. 5 to 10 are plan views showing the coating operation of the coating apparatus 1. 5 to 10, the coordinate system shown in FIG. 5 is used in common in FIGS. FIG. 11 is a diagram illustrating a nozzle management operation of the coating apparatus 1. In FIG. 5 to FIG. 11, the configuration of the coating apparatus 1 is schematically described, for example, by omitting the illustration of the transport mechanism 23 in order to facilitate the discrimination of the drawings. In the following description, the portion where the operation is performed will be mainly described, but each operation is actually performed based on the control of the control device 5.

(塗布動作)
本実施形態では、短手方向が搬送方向に平行になるように基板Sを基板搬入領域に搬入し、当該基板Sを浮上させて搬送しつつ塗布処理領域でレジストを塗布し、当該レジストを塗布した基板Sを基板搬出領域から搬出する。
(Coating operation)
In this embodiment, the substrate S is carried into the substrate carry-in area so that the short side direction is parallel to the carrying direction, the resist is applied in the coating treatment area while the substrate S is lifted and carried, and the resist is applied. The board | substrate S which carried out is carried out from a board | substrate carrying-out area | region.

本実施形態では、2つの塗布部3A及び3Bにおいて交互に塗布動作を行うようにする。以下の例では、最初の基板については塗布部3Aに設けられたノズル32を用いて塗布動作を行い、次の基板については塗布部3Bに設けられたノズル32を用いて塗布動作を行うようにする。更に、3番目の基板については再び塗布部3Aに設けられたノズル32を用いて塗布動作を行うようにする。なお、塗布部3A及び3Bを使用する順序は本実施形態の例とは逆の順序であっても構わない。   In the present embodiment, the application operation is alternately performed in the two application units 3A and 3B. In the following example, a coating operation is performed using the nozzle 32 provided in the coating unit 3A for the first substrate, and a coating operation is performed using the nozzle 32 provided in the coating unit 3B for the next substrate. To do. Further, for the third substrate, the coating operation is performed again using the nozzle 32 provided in the coating unit 3A. Note that the order in which the application portions 3A and 3B are used may be the reverse order of the example of the present embodiment.

まず、基板が塗布装置1に搬入されるまでの動作を説明する。基板を基板搬入領域に搬入する前に、塗布装置1をスタンバイさせておく。具体的には、搬入側ステージ25の基板搬入領域に搬送機23aを配置させ、吸着パッドの高さ位置を基板の浮上高さ位置に合わせておく。この場合、図3における−Y側の搬送機23aをスタンバイさせておく。また、搬入側ステージ25のエア噴出孔25a、処理ステージ27のエア噴出孔27a、エア吸引孔27b及び搬出側ステージ28のエア噴出孔28aからそれぞれエアを噴出又は吸引し、ステージ22の表面に基板が浮上する程度にエアが供給された状態にしておく。   First, the operation until the substrate is carried into the coating apparatus 1 will be described. Before the substrate is carried into the substrate carry-in area, the coating apparatus 1 is put on standby. Specifically, the transfer device 23a is arranged in the substrate carry-in area of the carry-in stage 25, and the height position of the suction pad is matched with the flying height position of the substrate. In this case, the −Y side transfer machine 23a in FIG. In addition, air is ejected or sucked from the air ejection holes 25 a of the carry-in stage 25, the air ejection holes 27 a and 27 b of the processing stage 27, and the air ejection holes 28 a of the carry-out stage 28, respectively. Air is supplied to such an extent that the air floats.

塗布装置1が上記のようにスタンバイされた後、例えば図示しない搬送アームなどによって外部から基板搬入位置に基板S1が搬送されてきたら、搬入側ステージ25に設けられる昇降部材26aを+Z方向に移動させて昇降ピン26bを昇降ピン出没孔25bからステージ表面25cに突出させる。この昇降部材26aの動作により、基板S1が昇降ピン26bに持ち上げられ、当該基板S1の受け取りが行われる。また、アライメント装置25dの長孔から位置合わせ部材をステージ表面25cに突出させておく。   After the coating apparatus 1 is on standby as described above, for example, when the substrate S1 is transported from the outside to the substrate loading position by a transport arm (not shown), the elevating member 26a provided on the loading stage 25 is moved in the + Z direction. Thus, the elevating pin 26b is projected from the elevating pin retracting hole 25b to the stage surface 25c. By the operation of the elevating member 26a, the substrate S1 is lifted by the elevating pins 26b, and the substrate S1 is received. Further, an alignment member is projected from the long hole of the alignment device 25d to the stage surface 25c.

基板S1を受け取った後、昇降部材26aを下降させて昇降ピン26bを昇降ピン出没孔25b内に収容する。このとき、ステージ表面25cにはエアの層が形成されているため、基板S1は当該エアによりステージ表面25cに対して浮上した状態で保持される。基板S1がエア層の表面に到達した際、アライメント装置25dの位置合わせ部材によって基板S1の位置合わせが行われる。位置合わせの後、基板搬入位置の−Y方向側に配置された各基板保持部23bの吸着パッドを基板Sの裏面に吸着させて基板を保持し、当該基板の搬入が完了する。   After receiving the board | substrate S1, the raising / lowering member 26a is lowered | hung and the raising / lowering pin 26b is accommodated in the raising / lowering pin retracting hole 25b. At this time, since an air layer is formed on the stage surface 25c, the substrate S1 is held in a state of being floated with respect to the stage surface 25c by the air. When the substrate S1 reaches the surface of the air layer, the alignment of the substrate S1 is performed by the alignment member of the alignment device 25d. After alignment, the suction pad of each substrate holding part 23b arranged on the −Y direction side of the substrate carry-in position is attracted to the back surface of the substrate S to hold the substrate, and the loading of the substrate is completed.

基板S1の搬入後、搬送機23aをレール23cに沿って移動させる。搬送機23aの移動に伴って基板S1が+X方向への移動を開始する。基板S1の搬送方向先端が塗布部3Aに設けられたノズル32の開口部32aの位置に到達したら、ノズル32の開口部32aから基板S1へ向けてレジストRを吐出する。レジストの吐出は、ノズル32の位置を固定させ搬送機23aによって基板S1を搬送させながら行う。基板S1の移動に伴い、図5に示すように、基板S1上にレジスト膜Rが塗布されていく。基板S1がレジストを吐出する開口部32aの下を通過することにより、基板S1の所定の領域にレジスト膜Rが形成される。   After carrying in board | substrate S1, the conveyance machine 23a is moved along the rail 23c. The substrate S1 starts moving in the + X direction with the movement of the transfer device 23a. When the front end of the substrate S1 in the transport direction reaches the position of the opening 32a of the nozzle 32 provided in the coating unit 3A, the resist R is discharged from the opening 32a of the nozzle 32 toward the substrate S1. The resist is discharged while the position of the nozzle 32 is fixed and the substrate S1 is transported by the transporter 23a. As the substrate S1 moves, a resist film R is applied on the substrate S1, as shown in FIG. As the substrate S1 passes under the opening 32a for discharging the resist, a resist film R is formed in a predetermined region of the substrate S1.

レジスト膜Rの形成された基板S1は、図6に示すように、中央部ステージ29側へと搬送される。基板S1が中央部ステージ29上を移動している間に、次に処理を行う基板S2を搬入する。基板S2の搬入動作に際しては、例えば図3における+Y側の搬送機23aによって基板S2を保持させる。基板S2を搬入した後、+Y側の搬送機23aは基板S2を保持したまま+X方向へ基板を搬送する。この基板S2は、塗布部3Bに設けられたノズル32によってレジストRを塗布する。   As shown in FIG. 6, the substrate S1 on which the resist film R is formed is transported to the central stage 29 side. While the substrate S1 is moving on the central stage 29, the substrate S2 to be processed next is carried in. In the carry-in operation of the substrate S2, for example, the substrate S2 is held by the + Y side transfer machine 23a in FIG. After the substrate S2 is carried in, the + Y-side transport device 23a transports the substrate in the + X direction while holding the substrate S2. The substrate S2 is coated with a resist R by a nozzle 32 provided in the coating unit 3B.

基板S2の搬入動作及び搬送動作と並行するように、基板S1の搬送動作を行う。図7に示すように、基板S1は中央部ステージ29から塗布部3Bの下方を通過して搬出側ステージ28へと搬送され、搬出動作が行われる。また、基板S2は塗布部3Aの下方を通過して中央部ステージ29へと搬送される。このとき、塗布部3A及び塗布部3Bでは塗布動作は行われない。   The transport operation of the substrate S1 is performed in parallel with the carry-in operation and the transport operation of the substrate S2. As shown in FIG. 7, the substrate S <b> 1 passes from below the central stage 29 to below the coating unit 3 </ b> B and is transported to the carry-out stage 28, and a carry-out operation is performed. Further, the substrate S2 passes below the coating unit 3A and is conveyed to the central stage 29. At this time, the application operation is not performed in the application unit 3A and the application unit 3B.

ここで、基板の搬出動作を説明する。搬出側ステージ28では、ステージ表面28cに対して浮上した状態で基板搬出位置まで基板Sが搬送される。基板が基板搬出位置に到達したら、リフト機構26の昇降部材26aを+Z方向に移動させる。昇降部材26aの移動により、昇降ピン26bが昇降ピン出没孔28bから基板Sの裏面へ突出し、基板Sが昇降ピン26bによって持ち上げられる。この状態で、例えば搬出側ステージ28の+X方向側に設けられた図示しない外部の搬送アームが搬出側ステージ28にアクセスし、基板Sを受け取る。   Here, the substrate carry-out operation will be described. In the carry-out stage 28, the substrate S is carried to the substrate carry-out position in a state where it floats with respect to the stage surface 28c. When the substrate reaches the substrate carry-out position, the elevating member 26a of the lift mechanism 26 is moved in the + Z direction. By the movement of the elevating member 26a, the elevating pin 26b protrudes from the elevating pin retracting hole 28b to the back surface of the substrate S, and the substrate S is lifted by the elevating pin 26b. In this state, for example, an unillustrated external transfer arm provided on the + X direction side of the carry-out stage 28 accesses the carry-out stage 28 and receives the substrate S.

このような搬出動作によって基板S1を搬出した後、搬送機23aを再び搬入側ステージ25の基板搬入位置まで戻し、3番目の基板S3が搬送されるまで待機させる。基板S1を搬出した後、昇降部材26bを下降させて昇降ピン26bを昇降ピン出没孔28b内に収容した後、図8に示すように、基板S2を+X側へ移動させ、塗布部3Bに設けられたノズル32によって基板S2上にレジストRを塗布する。   After unloading the substrate S1 by such unloading operation, the transporter 23a is returned again to the substrate loading position of the loading-side stage 25, and waits until the third substrate S3 is transported. After unloading the substrate S1, the elevating member 26b is lowered and the elevating pins 26b are accommodated in the elevating pin retracting holes 28b, and then the substrate S2 is moved to the + X side as shown in FIG. The resist R is applied on the substrate S2 by the nozzle 32 thus formed.

基板S2の塗布動作を行うにあたり、制御装置5は、基板S1の搬出動作が完了したか否かの確認を行う。搬出動作の完了の確認は、例えば上記の基板センサ(不図示)によって搬出側ステージ28上に基板S1があるかどうかを検出することによって行う。基板S1が搬出側ステージ28上にあると検出された場合、制御装置5は、基板S1の搬出処理が完了しておらず塗布部3Bによる塗布処理及び基板S2の搬送処理が可能ではないと判断して、基板S2を中央部ステージ29上で待機させる。また、基板S1が無く且つ昇降ピン26bを昇降ピン出没孔28b内に収容していると検出された場合、既に搬出動作が完了しており塗布動作及び搬送動作が可能であると判断して、基板S2の搬送を開始させる。このような判断を制御装置5に行わせることにより、基板が基板搬出位置に重なって搬送されてしまうような事態が回避されることとなる。   In performing the coating operation of the substrate S2, the control device 5 checks whether or not the unloading operation of the substrate S1 is completed. Confirmation of the completion of the unloading operation is performed by detecting whether or not the substrate S1 is present on the unloading side stage 28 by the above-described substrate sensor (not shown), for example. When it is detected that the substrate S1 is on the unloading stage 28, the control device 5 determines that the unloading process of the substrate S1 is not completed and the coating process by the coating unit 3B and the transport process of the substrate S2 are not possible. Then, the substrate S2 is put on standby on the central stage 29. Further, when it is detected that there is no substrate S1 and the lifting pins 26b are accommodated in the lifting pins retracting holes 28b, it is determined that the unloading operation has already been completed and the coating operation and the transporting operation are possible. The conveyance of the substrate S2 is started. By causing the control device 5 to make such a determination, it is possible to avoid a situation in which the substrate is transported overlapping the substrate unloading position.

また、この塗布動作と並行して、3番目の基板S3の搬入を行う。基板S3の搬入動作に際しては、基板搬入位置まで戻しておいた図3に示す−Y側の搬送機23aを用いる。当該基板S3は、塗布部3Aに設けられるノズル32によってレジストRを塗布する。   In parallel with this coating operation, the third substrate S3 is carried in. In carrying in the substrate S3, the -Y side transport machine 23a shown in FIG. 3 which has been returned to the substrate carry-in position is used. The substrate S3 is coated with a resist R by a nozzle 32 provided in the coating unit 3A.

図9に示すように、塗布部3Bによる塗布動作を完了させた基板S2は、搬出側ステージ28の基板搬出位置に搬送され、搬送動作が行われる。また、図9に示すように、搬入された基板S3は、+X方向に搬送されて塗布部3Aによる塗布動作が行われる。当該塗布動作を行うに当たり、制御装置5は、基板S2の塗布動作の場合と同様の確認を行う。具体的には、中央部ステージ29上に基板S2があるかどうかを確認し、基板S2が無いと確認された場合には、塗布部3Aでの塗布処理及び基板S3の搬送処理が可能であると判断し、基板S3を塗布部3A側へ搬送させるようにする。基板S2があると確認された場合には、塗布処理及び搬送処理が可能ではないと判断し、塗布部3Aの上流側で基板S3を待機させるようにする。   As shown in FIG. 9, the substrate S2 for which the coating operation by the coating unit 3B has been completed is transported to the substrate unloading position of the unloading stage 28, and the transport operation is performed. Moreover, as shown in FIG. 9, the carried-in substrate S3 is transported in the + X direction, and a coating operation is performed by the coating unit 3A. In performing the coating operation, the control device 5 performs the same confirmation as in the coating operation of the substrate S2. Specifically, it is confirmed whether or not the substrate S2 is present on the central stage 29. If it is confirmed that there is no substrate S2, the coating process at the coating unit 3A and the transport process of the substrate S3 are possible. And the substrate S3 is transported to the coating unit 3A side. When it is confirmed that there is the substrate S2, it is determined that the coating process and the transport process are not possible, and the substrate S3 is made to wait on the upstream side of the coating unit 3A.

塗布動作が完了した基板S3は、図10に示すように、搬送機23aによって中央部ステージ29まで搬送される。ここで制御装置5は、基板S2の搬出処理が完了したかどうかを確認し、当該基板S2の搬出動作が完了次第、基板S3が搬出側ステージ28へと搬送させ、当該基板S3の搬出動作を行わせる。また、当該基板S3を搬出側ステージ28へと搬送する際には、4番目の基板の搬入動作を行うようにする。このように、塗布部3A及び3Bを交互に用いながら複数の基板に対して順次塗布動作を行っていく。   The substrate S3 for which the coating operation has been completed is transported to the central stage 29 by the transport machine 23a as shown in FIG. Here, the control device 5 confirms whether or not the unloading process of the substrate S2 has been completed, and upon completion of the unloading operation of the substrate S2, the substrate S3 is transported to the unloading stage 28, and the unloading operation of the substrate S3 is performed. Let it be done. Further, when the substrate S3 is transported to the unloading stage 28, a fourth substrate loading operation is performed. In this way, the coating operation is sequentially performed on a plurality of substrates while alternately using the coating units 3A and 3B.

(ノズル管理動作)
塗布部3A及び3Bでは、ノズル32の吐出状態を保持するための予備吐出を行うようにしている。塗布部3Aに設けられるノズル32のノズル管理動作は、管理部4Aにおいて行う。塗布部3Bに設けられるノズル32のノズル管理動作は、管理部4Bにおいて行う。ノズル管理動作を行う場合、図11に示すように、塗布部3(3A、3B)の門型フレーム31を、レール部材35によって、対応する管理部4(4A、4B)の位置までそれぞれ−X方向へ移動させる。
(Nozzle management operation)
In the application units 3A and 3B, preliminary discharge for maintaining the discharge state of the nozzle 32 is performed. The nozzle management operation of the nozzles 32 provided in the coating unit 3A is performed in the management unit 4A. The nozzle management operation of the nozzles 32 provided in the application unit 3B is performed in the management unit 4B. When the nozzle management operation is performed, as shown in FIG. 11, the portal frame 31 of the application unit 3 (3 </ b> A, 3 </ b> B) is −X to the position of the corresponding management unit 4 (4 </ b> A, 4 </ b> B) by the rail member 35. Move in the direction.

管理部4の位置まで門型フレーム31を移動させた後、門型フレーム31の位置を調整してノズル32の先端をノズル洗浄装置43にアクセスさせ、当該ノズル洗浄装置43によってノズル先端32cを洗浄する。   After the portal frame 31 is moved to the position of the management unit 4, the position of the portal frame 31 is adjusted so that the tip of the nozzle 32 is accessed to the nozzle cleaning device 43, and the nozzle tip 32 c is cleaned by the nozzle cleaning device 43. To do.

ノズル先端32cの洗浄後、当該ノズル32を予備吐出機構41にアクセスさせる。予備吐出機構41では、開口部32aと予備吐出面との間の距離を測定しながらノズル32の先端の開口部32aをZ方向上の所定の位置に移動させ、ノズル32を−X方向又は+X方向へ移動させながら開口部32aからレジストを予備吐出する。   After cleaning the nozzle tip 32 c, the nozzle 32 is accessed to the preliminary discharge mechanism 41. The preliminary discharge mechanism 41 moves the opening 32 a at the tip of the nozzle 32 to a predetermined position in the Z direction while measuring the distance between the opening 32 a and the preliminary discharge surface, and moves the nozzle 32 in the −X direction or + X. The resist is preliminarily discharged from the opening 32a while moving in the direction.

予備吐出動作を行った後、門型フレーム31を元の位置に戻す。フレーム側部21c上に設けられた搬送機構23によって次の基板Sが搬送されてきたら、ノズル32をZ方向上の所定の位置に移動させる。このように、基板Sにレジスト膜Rを塗布する塗布動作と予備吐出動作とを繰り返し行わせることで、基板Sには良質なレジスト膜Rが形成されることになる。   After performing the preliminary discharge operation, the portal frame 31 is returned to the original position. When the next substrate S is transported by the transport mechanism 23 provided on the frame side portion 21c, the nozzle 32 is moved to a predetermined position in the Z direction. In this way, a high-quality resist film R is formed on the substrate S by repeatedly performing the coating operation for applying the resist film R on the substrate S and the preliminary ejection operation.

なお、必要に応じて、例えば管理部4に所定の回数アクセスする毎に、当該ノズル32をディップ槽42内にアクセスさせても良い。ディップ槽42では、ノズル32の開口部32aをディップ槽42に貯留された溶剤(シンナー)の蒸気雰囲気に曝すことでノズル32の乾燥を防止する。   If necessary, for example, each time the management unit 4 is accessed a predetermined number of times, the nozzle 32 may be accessed in the dip tank 42. In the dip tank 42, drying of the nozzle 32 is prevented by exposing the opening 32 a of the nozzle 32 to a vapor atmosphere of a solvent (thinner) stored in the dip tank 42.

本実施形態では、複数の塗布部3A及び3B、複数の管理部4A及び4Bを備える攻勢であるから、例えば、塗布部3Aに塗布動作を行わせている間、塗布部3Bにはノズル管理動作を行わせるようにすることができる。逆に、塗布部3Bに塗布動作を行わせている間に塗布部3Aにはノズル管理動作を行わせるようにすることもできる。   In this embodiment, since it is an offensive comprising a plurality of coating units 3A and 3B and a plurality of management units 4A and 4B, for example, while the coating unit 3A is performing a coating operation, the coating unit 3B has a nozzle management operation. Can be made to do. On the contrary, it is possible to cause the application unit 3A to perform the nozzle management operation while the application unit 3B performs the application operation.

以上のように、本実施形態によれば、2つの塗布部3(3A、3B)を有する塗布装置1にあって、基板搬送部2が基板搬送方向の一方の端部に基板Sを搬入する基板搬入領域25Sを有すると共に基板搬送方向の他方の端部に基板Sを搬出する基板搬出領域28Sを有し、上記2つの塗布部3A及び3B間の距離L1が基板Sの基板搬送方向の寸法L2よりも大きくなるように基板搬入領域25Sと基板搬出領域28Sとの間に上記2つの塗布部3A及び3Bが配置されていることとしたので、基板搬出領域28S及び上記2つの塗布部3A及び3B間の2箇所に基板Sを配置させることができる。したがって、レジストを塗布した後の基板Sを基板搬出領域28Sで待機させる場合であっても、上記2つの塗布部3A及び3B間には基板Sを配置させるスペースが空いているため、塗布処理を待機させること無くスムーズな処理が可能となる。これにより、複数の塗布部3A及び3Bを用いて塗布処理を行う場合であっても、タクトの短縮化をより確実に実現可能となる。   As described above, according to the present embodiment, in the coating apparatus 1 having the two coating units 3 (3A, 3B), the substrate transport unit 2 loads the substrate S to one end in the substrate transport direction. It has a substrate carry-in region 25S which has a substrate carry-in region 25S and carries out the substrate S at the other end in the substrate carrying direction, and the distance L1 between the two coating portions 3A and 3B is the dimension of the substrate S in the substrate carrying direction. Since the two application parts 3A and 3B are arranged between the substrate carry-in area 25S and the substrate carry-out area 28S so as to be larger than L2, the substrate carry-out area 28S and the two application parts 3A and Substrate S can be arranged at two locations between 3B. Therefore, even when the substrate S after applying the resist is made to stand by in the substrate carry-out region 28S, the space for placing the substrate S is vacant between the two application portions 3A and 3B, so that the application process is performed. Smooth processing is possible without waiting. Thereby, even if it is a case where application processing is performed using a plurality of application parts 3A and 3B, tact shortening can be realized more reliably.

また、本実施形態によれば、複数の塗布部3A及び3Bに対して独立してレジストを供給可能なレジスト供給源39(39A、39B)を更に備えることとしたので、各塗布部3A及び3Bに設けられるそれぞれのノズル32に対して独立してレジストを供給することができる。これにより、複数の塗布部3A及び3Bを効率的にメンテナンスすることができる。   Further, according to the present embodiment, since the resist supply source 39 (39A, 39B) capable of supplying the resist independently to the plurality of coating units 3A and 3B is further provided, the coating units 3A and 3B are provided. The resist can be supplied independently to each nozzle 32 provided in the nozzle. Thereby, the some application | coating part 3A and 3B can be maintained efficiently.

また、本実施形態によれば、複数の塗布部3A及び3Bが基板搬送方向に移動可能に設けられていることとしたので、必要に応じて当該複数の塗布部3A及び3B同士の間隔を調整することができる。このため、塗布装置1によって処理する基板Sの大きさに合わせて塗布部3A及び3Bの間隔を調整することができるため、幅広い処理を行うことが可能となる。   Further, according to the present embodiment, since the plurality of application units 3A and 3B are provided to be movable in the substrate transport direction, the interval between the plurality of application units 3A and 3B is adjusted as necessary. can do. For this reason, since the space | interval of the application parts 3A and 3B can be adjusted according to the magnitude | size of the board | substrate S processed with the coating device 1, it becomes possible to perform a wide process.

また、本実施形態によれば、管理部4(4A、4B)が複数の塗布部3(3A、3B)のそれぞれに対応して個別に設けられていることとしたので、複数の塗布部3(3A、3B)に対して管理部4(4A、4B)による処理を個別に行わせることができる。例えば複数の塗布部のうち一方がノズル管理動作を行っている間に、他方に塗布動作を行わせるといった処理が可能となる。   Moreover, according to this embodiment, since the management part 4 (4A, 4B) was provided separately corresponding to each of the some application part 3 (3A, 3B), the some application part 3 is provided. (3A, 3B) can be individually processed by the management unit 4 (4A, 4B). For example, while one of the plurality of application units is performing the nozzle management operation, a process of causing the other to perform the application operation can be performed.

本発明によれば、複数の塗布部3(3A、3B)での塗布処理及び基板搬送部2での基板の搬送処理が可能であるか否かを基板の位置に基づいて判断し、可能であると判断した処理を行わせる制御装置5を備えることとしたので、基板Sをより安全かつ効率的に処理することが可能となる。これにより、一層のタクトの短縮を図ることができる。   According to the present invention, it is possible to determine whether or not the coating process in the plurality of coating units 3 (3A, 3B) and the substrate transport process in the substrate transport unit 2 are possible based on the position of the substrate. Since the control device 5 that performs the processing determined to be present is provided, the substrate S can be processed more safely and efficiently. Thereby, the tact time can be further shortened.

本発明の技術範囲は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更を加えることができる。
例えば、図12に示すように、2つの塗布部3A及び3B間の距離L1が基板搬送方向の基板Sの寸法L2の2倍よりも大きくなるように2つの塗布部3A及び3Bが配置されている構成であっても構わない。この構成では、2つの塗布部3A及び3B間に基板を2枚配置させることができるため、一層確実にタクトを短縮させることができる。加えて、塗布装置1における処理の幅が広がることにもなる。塗布部3A及び3B間に2枚の基板を配置させる位置に対応する基板センサ(不図示)を設ける構成であっても構わない。
The technical scope of the present invention is not limited to the above-described embodiment, and appropriate modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
For example, as shown in FIG. 12, the two coating units 3A and 3B are arranged such that the distance L1 between the two coating units 3A and 3B is larger than twice the dimension L2 of the substrate S in the substrate transport direction. You may be the structure which is. In this configuration, since two substrates can be arranged between the two application portions 3A and 3B, the tact time can be shortened more reliably. In addition, the range of processing in the coating apparatus 1 is increased. There may be a configuration in which a substrate sensor (not shown) corresponding to a position where two substrates are arranged between the coating units 3A and 3B is provided.

また、例えば図13に示すように、基板搬送方向の下流側に設けられる塗布部3Bと基板搬出領域28Sとの間の距離L3が基板Sの基板搬送方向の寸法L2よりも大きくなるように塗布部3Bが配置されている構成であっても構わない。この構成では、下流側に設けられる上記塗布部3Bと基板搬出領域28Sとの間にも基板Sを配置させることができる。これにより、一層効果的にタクトを短縮化することができる。この場合においても2枚の基板を配置させる位置に対応する基板センサ(不図示)を設ける構成であっても構わない。   For example, as shown in FIG. 13, the coating is performed such that the distance L3 between the coating unit 3B provided on the downstream side in the substrate transport direction and the substrate carry-out region 28S is larger than the dimension L2 of the substrate S in the substrate transport direction. A configuration in which the portion 3B is arranged may be used. In this configuration, the substrate S can be disposed between the coating unit 3B provided on the downstream side and the substrate carry-out region 28S. Thereby, a tact can be shortened more effectively. Also in this case, a configuration may be employed in which a substrate sensor (not shown) corresponding to a position where two substrates are arranged is provided.

また、例えば図14に示すように、基板搬送方向の上流側に設けられる塗布部3Aと基板搬入領域25Sとの間の距離L4が基板Sの基板搬送方向の寸法L2よりも大きくなるように塗布部3Aが配置されている構成であっても構わない。この構成では、上流側に設けられる上記塗布部3Aと基板搬入領域25Sとの間にも基板Sを配置させることができる。これにより、一層効果的にタクトを短縮化することができる。この場合においても2枚の基板を配置させる位置に対応する基板センサ(不図示)を設ける構成であっても構わない。   Further, for example, as shown in FIG. 14, the coating is performed such that the distance L4 between the coating unit 3A provided on the upstream side in the substrate transport direction and the substrate carry-in region 25S is larger than the dimension L2 of the substrate S in the substrate transport direction. A configuration in which the portion 3A is arranged may be used. In this configuration, the substrate S can also be disposed between the coating unit 3A provided on the upstream side and the substrate carry-in region 25S. Thereby, a tact can be shortened more effectively. Also in this case, a configuration may be employed in which a substrate sensor (not shown) corresponding to a position where two substrates are arranged is provided.

また、上記実施形態においては、複数の管理部4(4A、4B)が複数の塗布部3(3A、3B)のそれぞれ上流側に配置された構成としたが、これに限られることは無く、管理部4(4A、4B)が塗布部3(3A、3B)のそれぞれ下流側に配置された構成であっても勿論構わない。   Moreover, in the said embodiment, although it was set as the structure by which the some management part 4 (4A, 4B) was each arrange | positioned in the upstream of the some application | coating part 3 (3A, 3B), it is not restricted to this, Of course, the configuration may be such that the management unit 4 (4A, 4B) is disposed on the downstream side of the application unit 3 (3A, 3B).

また、管理部4(4A、4B)が塗布部3(3A、3B)のそれぞれに対応して個別に設けられている構成としたが、これに限られることは無く、塗布部3(3A、3B)について共通して1つの管理部が設けられた構成であっても構わない。この場合、管理部が塗布部3Aと塗布部3Bとの間に配置される構成が好ましい。   Moreover, although the management part 4 (4A, 4B) was set as the structure provided separately corresponding to each of the application part 3 (3A, 3B), it is not restricted to this, The application part 3 (3A, 3B) may have a configuration in which one management unit is provided in common. In this case, a configuration in which the management unit is disposed between the application unit 3A and the application unit 3B is preferable.

また、上記実施形態においては、レジスト供給源39A及び39Bによって複数の塗布部3(3A、3B)に対してレジストを独立して供給可能な構成としたが、これに限られることは無く、これらの複数の塗布部3(3A、3B)に対して同時にレジストを供給可能な構成としても構わない。   In the above-described embodiment, the resist supply sources 39A and 39B are configured so that the resist can be independently supplied to the plurality of coating units 3 (3A, 3B). However, the present invention is not limited to this. The resist may be simultaneously supplied to the plurality of application portions 3 (3A, 3B).

また、上記実施形態においては、塗布装置1に塗布部3が2つ(塗布部3A及び塗布部3B)配置されている構成としたが、これに限られることは無く、例えば3つ以上搭載された構成であっても本発明の適用は可能である。   Moreover, in the said embodiment, although it was set as the structure by which the application part 1 has arrange | positioned the two application parts 3 (application part 3A and application part 3B), it is not restricted to this, For example, three or more are mounted. The present invention can be applied even with a different configuration.

また、上記実施形態においては、塗布装置1が基板を浮上させて搬送する浮上搬送型である構成としたが、これに限られることは無く、例えばローラー搬送など他の搬送形態を有する塗布装置であっても本発明の適用は可能である。   Moreover, in the said embodiment, although it was set as the structure which is a floating conveyance type which floats and conveys a board | substrate, the coating apparatus 1 is not restricted to this, For example, it is a coating apparatus which has other conveyance forms, such as roller conveyance. Even if it exists, application of this invention is possible.

また、上記実施形態では、搬入側ステージ25、搬出側ステージ28及び中央部ステージ29が平面視でほぼ正方形に形成されているとして説明したが、これに限られることは無く、他の形状であっても勿論構わない。   In the above-described embodiment, the carry-in stage 25, the carry-out stage 28, and the center stage 29 are described as being formed in a substantially square shape in plan view. However, the present invention is not limited to this, and other shapes are used. But of course.

また、上記実施形態においては、ガラス基板上にレジストを塗布する塗布装置である構成としたが、これに限られることは無く、例えば被塗布基板は金属片でもよく、塗布液はSOG(シリカ系液)であっても本発明の適用は可能である。   Moreover, in the said embodiment, although it was set as the structure which is a coating device which apply | coats a resist on a glass substrate, it is not restricted to this, For example, a to-be-coated substrate may be a metal piece and a coating liquid is SOG (silica type | system | group). Even if it is a liquid), the present invention can be applied.

また、上記実施形態においては、ノズル32にはスリット状の開口部32aが設けられている構成としたが、これに限られることは無く、例えばロール式ノズル、インクジェット式ノズル、スプレー式ノズルであっても本発明の適用は可能である。   In the above embodiment, the nozzle 32 is provided with the slit-shaped opening 32a. However, the present invention is not limited to this. For example, the nozzle 32 may be a roll type nozzle, an ink jet type nozzle, or a spray type nozzle. However, the present invention can be applied.

本発明の実施形態に係る塗布装置の構成を示す斜視図。The perspective view which shows the structure of the coating device which concerns on embodiment of this invention. 本実施形態に係る塗布装置の構成を示す正面図。The front view which shows the structure of the coating device which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る塗布装置の構成を示す平面図。The top view which shows the structure of the coating device which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る塗布装置の構成を示す側面図。The side view which shows the structure of the coating device which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る塗布装置の動作を示す模式図。The schematic diagram which shows operation | movement of the coating device which concerns on this embodiment. 同、動作図。FIG. 同、動作図。FIG. 同、動作図。FIG. 同、動作図。FIG. 同、動作図。FIG. 同、動作図。FIG. 本発明に係る塗布装置の他の構成を示す模式図。The schematic diagram which shows the other structure of the coating device which concerns on this invention. 本発明に係る塗布装置の他の構成を示す模式図。The schematic diagram which shows the other structure of the coating device which concerns on this invention. 本発明に係る塗布装置の他の構成を示す模式図。The schematic diagram which shows the other structure of the coating device which concerns on this invention.

符号の説明Explanation of symbols

S、S1〜S3…基板 R…レジスト 1…塗布装置 2…基板搬送部 3(3A、3B)…塗布部 4(4A、4B)…管理部 5…制御装置 25S…基板搬入領域 28S…基板搬出領域 32…ノズル 39(39A、39B)…レジスト供給源   S, S1 to S3 ... Substrate R ... Resist 1 ... Coating device 2 ... Substrate transport unit 3 (3A, 3B) ... Coating unit 4 (4A, 4B) ... Management unit 5 ... Control device 25S ... Substrate loading area 28S ... Substrate unloading Area 32 ... Nozzle 39 (39A, 39B) ... Resist supply source

Claims (9)

基板を搬送する基板搬送部と、当該基板搬送部によって搬送させつつ前記基板に液状体を塗布する複数の塗布部とを備える塗布装置であって、
前記基板搬送部は、基板搬送方向の一方の端部に前記基板を搬入する基板搬入領域を有し、前記基板搬送方向の他方の端部に前記基板を搬出する基板搬出領域を有し、
複数の前記塗布部は、少なくとも隣接する2つの塗布部間の距離が前記基板の前記基板搬送方向の寸法よりも大きくなるように前記基板搬入領域と前記基板搬出領域との間に配置されており、
前記基板搬送部は、
前記基板を浮上させる浮上機構と、
前記浮上機構によって浮上した状態の前記基板のうち前記基板搬送方向に直交する方向の第一端部を保持可能に配置され、前記基板搬送方向に移動可能な第一搬送機と、
前記浮上機構によって浮上した状態の前記基板のうち前記基板搬送方向に直交する方向の第二端部を保持可能に配置され、前記基板搬送方向に移動可能な第二搬送機と
を有し、
前記基板搬送部に複数の前記基板が搬入される場合に、前記第一搬送機と前記第二搬送機とが交互に前記基板を搬送するように、かつ、前記第一搬送機に保持された前記基板と前記第二搬送機に保持された前記基板とが複数の前記塗布部のうち異なる前記塗布部に搬送されるように前記第一搬送機及び前記第二搬送機を制御する搬送制御部を更に備える
ことを特徴とする塗布装置。
A coating apparatus comprising a substrate transport unit that transports a substrate, and a plurality of coating units that apply a liquid material to the substrate while being transported by the substrate transport unit,
The substrate transport unit has a substrate carry-in region for carrying the substrate at one end in the substrate transport direction, and has a substrate carry-out region for carrying out the substrate at the other end in the substrate transport direction,
A plurality of the coating portion is disposed between at least two adjacent said substrate the substrate to be larger than the conveying direction dimension carrying region and the substrate carry-out region of the distance the substrate between the coating unit ,
The substrate transport unit is
A levitating mechanism for levitating the substrate;
A first transporter that is arranged so as to be able to hold a first end portion in a direction orthogonal to the substrate transport direction among the substrates that have been levitated by the levitation mechanism, and is movable in the substrate transport direction;
A second transporter that is disposed so as to be able to hold a second end portion in a direction orthogonal to the substrate transport direction among the substrates that have been levitated by the levitation mechanism, and is movable in the substrate transport direction;
Have
When the plurality of substrates are carried into the substrate transport unit, the first transport device and the second transport device are alternately transported by the first transport device and held by the first transport device. A conveyance control unit that controls the first conveyance device and the second conveyance device so that the substrate and the substrate held by the second conveyance device are conveyed to different application units among the plurality of application units. An applicator further comprising:
複数の前記塗布部のうち隣接する2つの塗布部は、当該2つの塗布部間の前記基板搬送方向の距離が前記基板の前記基板搬送方向の寸法の2倍よりも大きくなるように配置されている
ことを特徴とする請求項に記載の塗布装置。
Two adjacent coating units among the plurality of coating units are arranged such that the distance in the substrate transport direction between the two coating units is greater than twice the dimension of the substrate in the substrate transport direction. The coating apparatus according to claim 1 , wherein:
複数の前記塗布部に対して独立して前記液状体を供給可能な液状体供給部を更に備える
ことを特徴とする請求項1又は請求項に記載の塗布装置。
Coating apparatus according to claim 1 or claim 2 independently for a plurality of the coating section and further comprising a liquid material supply unit capable of supplying the liquid material.
複数の前記塗布部のうち基板搬送方向の最も下流側に設けられる塗布部は、前記基板搬出領域との間の距離が前記基板の前記基板搬送方向の寸法よりも大きくなるように配置されている
ことを特徴とする請求項1から請求項のうちいずれか一項に記載の塗布装置。
Among the plurality of coating units, the coating unit provided on the most downstream side in the substrate transport direction is arranged such that the distance from the substrate carry-out region is larger than the dimension of the substrate in the substrate transport direction. The coating apparatus according to any one of claims 1 to 3 , wherein the coating apparatus is characterized by that.
複数の前記塗布部は、前記基板搬送方向に移動可能に設けられている
ことを特徴とする請求項1から請求項のうちいずれか一項に記載の塗布装置。
The coating device according to any one of claims 1 to 4 , wherein the plurality of coating units are provided to be movable in the substrate transport direction.
複数の前記塗布部の状態を管理する管理部を更に備える
ことを特徴とする請求項1から請求項のうちいずれか一項に記載の塗布装置。
Coating device as claimed in any one of claims 1 to 5, characterized by further comprising a management unit for managing a plurality of states of the coating portion.
前記管理部は、複数の前記塗布部のそれぞれに対応して個別に設けられている
ことを特徴とする請求項に記載の塗布装置。
The coating apparatus according to claim 6 , wherein the management unit is individually provided corresponding to each of the plurality of coating units.
前記管理部は、前記塗布部に対して前記基板搬送方向の上流側に配置されている
ことを特徴とする請求項に記載の塗布装置。
The coating apparatus according to claim 7 , wherein the management unit is disposed upstream of the coating unit in the substrate transport direction.
複数の前記塗布部での塗布処理及び前記基板搬送部での前記基板の搬送処理が可能であるか否かを前記基板の位置に基づいて判断し、可能であると判断した処理を行わせる制御装置を備える
ことを特徴とする請求項1から請求項のうちいずれか一項に記載の塗布装置。
Control for determining whether or not coating processing in the plurality of coating units and transporting of the substrate in the substrate transport unit are possible based on the position of the substrate, and performing the processing determined to be possible An apparatus is provided. The coating device as described in any one of Claims 1-8 characterized by the above-mentioned.
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5600624B2 (en) * 2011-03-22 2014-10-01 東京エレクトロン株式会社 Coating film forming apparatus and coating film forming method
JP2018113327A (en) * 2017-01-11 2018-07-19 株式会社Screenホールディングス Substrate processing apparatus
US11123983B2 (en) 2018-12-20 2021-09-21 Kateeva, Inc. Inkjet printer with substrate flatness detection
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Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2767307B2 (en) * 1990-01-19 1998-06-18 山形カシオ株式会社 Substrate transfer device
TW576759B (en) * 2001-05-25 2004-02-21 Hitachi Ind Co Ltd Paste applicator
JP3995044B2 (en) * 2003-04-14 2007-10-24 東京応化工業株式会社 Substrate processing equipment
JP2006231201A (en) * 2005-02-24 2006-09-07 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd Coating device
JP4353530B2 (en) * 2005-03-14 2009-10-28 東京エレクトロン株式会社 Substrate processing method and substrate processing apparatus
JP4407970B2 (en) * 2006-11-28 2010-02-03 東京エレクトロン株式会社 Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP2008238144A (en) * 2007-03-29 2008-10-09 Toray Eng Co Ltd Apparatus and method for applying coating liquid

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