JP5253436B2 - 入出力ユニットの試験装置 - Google Patents

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Description

本発明は、プラントやその現場に設けられるフィールド機器を監視・制御する制御装置のデジタル入出力ユニット、アナログ入出力ユニットの試験に係り、特に、これらの入出力ユニットの試験装置に関する。
制御装置では、プラントを監視・制御するための多様な入出力信号に対応するための信号形態に応じた入出力ユニットがある。例えば、代表的なものにデジタル信号用として接点入力/接点出力などを処理するデジタル入出力ユニット、アナログ信号用として電圧入力/電圧出力などを処理するアナログ入出力ユニットなどがある。
入出力ユニットには、印刷基板上に電子部品を実装した基板ユニットとして構成されたものや、箱体内に電子部品を実装したボックス型として構成されたものなどがあるが、ここでは、センサなどの入力信号及びバルブなどのアクチュエータへの出力信号を制御装置の演算処理部との間で授受するインタフェースユニットを総称して入出力ユニットと呼ぶことにする。
これらの入出力ユニットの試験項目には、アナログ入力ユニットでは、アナログ入力信号の変換精度が規定値以内に有ることを確認するアナログ入力試験、アナログ出力ユニットでは、デジタル入力信号に対する変換精度が規定値以内に有ることを確認するアナログ出力試験、デジタル入力ユニットでは、その入力接点信号の読み込み動作を確認するデジタル入力試験、及びデジタル出力ユニットでは、その接点信号の出力動作を確認するデジタル出力試験などがある。
これらの入出力ユニットの試験について、例えば、アナログ入力ユニットのアナログ入力試験について図4を参照して説明する。図4は、アナログ入力ユニットの試験装置の構成を示す図である。アナログ入力ユニットは制御装置101が通常運転されている場合、外部ケーブル102を通して電圧信号を入力し、外部ケーブル102は端子台103を介して基板用配線104に接続し、この基板用配線104はアナログ入力ユニット105へ接続されている。
アナログ入力ユニット105のアナログ入力試験は、ここで実行する入出力機能や、A/D変換の精度を確認するために行うもので、この試験は、予め組み立てられた入力用配線104をアナログ入力ユニット105より取り外し、代りに入力ケーブル107をアナログ入力ユニット105に接続して行う。
そして、試験用端子台108を介して電圧電流発生器109が模擬して出力する試験信号がアナログ入力ユニット105に入力する。この試験信号の電圧はデジタルマルチメータ110等で確認する。
さらに、ロジック処理ユニット106はデータ入出力ケーブル111を接続して、保守ツール112と結合し、アナログ入力ユニット105において試験信号をA/D変換したカウント値を読み取り、精度の良否を判定する。
一方、アナログ出力ユニットに対するアナログ出力試験は、図4に示したアナログ入力ユニット105を、アナログ出力ユニットに置き換えた構成として実施する。図示しないアナログ出力ユニットは、デジタル信号であるカウント値をデジタル値に相当するアナログ電気信号に変換するもので、この試験は、出力ケーブル101でロジック処理ユニット106と保守ツール112を接続して試験信号のカウント値を出力し、これをアナログ出力ユニットでD/A変換したアナログの電気信号を、デジタルマルチメータ110等を用いて測定し、精度の良否を判定する(例えば、特許文献1参照。)。
アナログ入力ユニットの場合と同様に、図示しないデジタル入力ユニットの場合には、図示しない入力ケーブルを制御装置101に組み込まれるデジタル入力ユニットに接続する。
そして、図示しないデジタル試験用端子台を介して、試験用のデジタル出力ユニットが予め模擬して出力する接点入力信号をこのアナログ入力ユニットに入力する。
さらに、ロジック処理ユニット106はデータ入出力ケーブル111を接続して、保守ツール112と結合し、デジタル入力ユニットにおいて読み込んだ接点信号を予め模試した信号と比較してその機能の良否を確認する。
また、図示しないデジタル出力ユニットの場合には、図示しない入力ケーブルを制御装置101に組み込まれるデジタル出力ユニットに接続する。
そして、ロジック処理ユニット106はデータ入出力ケーブル111を接続して、保守ツール112と結合し、予め模試したデジタル出力信号をロジック処理ユニット106から試験されるデジタル出力ユニットに送る。
そして、図示しないデジタル試験用端子台を介して、デジタル出力ユニットが出力した信号を試験用のデジタル入力ユニットで読み込み、保守ツールで模試した信号と比較してその機能の良否を確認する。
特許第3338184号公報
一般に、制御装置においては、上述したような入出力ユニットの種類やその入出力点数は、制御装置が対象とするシステムと、その規模によって多様に変化する。そのため、特許文献1に記載したような制御装置の場合、試験に際して、模試信号と実際の入力信号とを変更するための配線作業は、その規模が多くなると多大な時間を要するだけでなく、人為作業による誤配線等により後戻り作業が発生し、試験の効率が低下する問題があった。
また、プラント現場において、稼動中の制御装置に設けられる入出力ユニットを短時間に試験しようとする場合、試験用の模試信号と実際の入力信号とを変更するための配線作業が簡単に行えないため、緊急な試験が困難と成る問題もあった。
本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので、制御装置の入出力ユニットの試験装置であって、特に、入出力ユニットの試験のための接続変更をコネクタ接続のみで行うことができるようにした入出力ユニットの試験装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明による入出力ユニットの試験装置は、入出力ユニットの試験装置であって、複数の同一回路を有する入出力ユニットと、前記複数の同一回路のいずれか1つの回路の入出力信号を、外部からの選択制御信号で選択して前記入出力ユニットに送るスキャナユニットと、前記入出力ユニットを装着する第1のコネクタと、当該入出力ユニットを動作させるためのマザーボード信号を外部から供給するバスコネクタと、当該バスコネクタと前記第1のコネクタと接続されたマザーボードバスとを備えるマザーボードと、前記第1のコネクタに挿入し当該マザーボードと対向する一方の面に設ける第2のコネクタと、他方の面に前記スキャナユニットを取り付ける第3のコネクタと、更に、前記入出力ユニットを取り付ける第4のコネクタとを備え、前記第1のコネクタと前記第2のコネクタを介して、前記第1のコネクタと前記第3のコネクタ及び前記第4のコネクタとを接続する配線パターンを有するインタフェースボードと、前記バスコネクタに接続され、前記入出力ユニットの入力信号の生成及び入出力信号を測定する測定器及び測定条件を設定する試験ツールとを備え、前記マザーボードバスは、前記スキャナユニット及び前記入出力ユニットに電源を供給する電源バスと、前記スキャナユニット送る前記選択制御信号を送る制御信号バス及び前記入出力ユニットの入出力信号を授受する入出力信号バスとを備え、通常時には、前記第1のコネクタに前記入出力ユニットを挿入して使用し、試験時には、前記入出力ユニットを引き抜いて、前記第1のコネクタに前記第2のコネクタを挿入して前記インタフェースボードを固定し、更に、前記インタフェースボードの前記第3のコネクタにスキャナユニットを、前記第4のコネクタに試験する前記入出力ユニットを夫々固定して、前記入出力ユニットは、前記第1のコネクタと前記第4のコネクタとを介して自身の電源とその入出力信号を、更に、前記スキャナユニットは、前記第1のコネクタと前記第3のコネクタとを介して自身の電源と前記選択制御信号とを授受し、前記入出力ユニットの試験がコネクタ接続のみで行えるようにしたことを特徴とする。
本発明によれば、制御装置の入出力ユニットの試験装置であって、特に、入出力ユニットの試験がコネクタ接続のみで行うことができるようにした入出力ユニットの試験装置を提供することができる。
本発明の入出力ユニットの試験装置の構造と構成とを説明する図。 本発明の入出力ユニットを備える制御装置の概観図。 本発明の入出力ユニットの試験装置の接続図。 従来の入出力ユニットの試験装置の接続図。
以下、図1乃至図3を参照して、本実施例について説明する。先ず、図2を参照して、入出力ユニットの実装例を説明する。図2(a)は、制御装置100の筺体100aに演算装置10と入出力装置30とを実装した外観図で、図2(b)はその側面図である。
演算装置10に内装される演算ユニット10aと、入出力装置30に内装されると複数の入出力ユニット1とを備える。夫々のユニットは、筺体100aの前面から着脱可能にガイドレール等を備えた箱型のシャーシ筺体に並置して実装され、演算ユニット10aと入出力ユニット1とは、その前面及びその後面に設けるコネクタ付ケーブル10bで接続される。
次に、この入出力ユニットの試験装置の構成について図1を参照して説明する。本発明による入出力ユニット1の試験装置の構成は、複数の同一回路を有する入出力ユニット1と、複数の同一回路系統のいずれか1つの回路系統の入出力信号を、外部からの選択制御信号で選択して入出力ユニット1に送るスキャナユニット2と、入出力ユニット1を装着する第1のコネクタ31(〜3n)と、当該入出力ユニット1を動作させるためのマザーボード信号を外部から供給するバスコネクタ3bと、このバスコネクタ3bと第1のコネクタ31(〜3n)と接続されたマザーボードバス3aとを備えるマザーボード3とを備える。
さらに、第1のコネクタ31(〜3n)に挿入し当該マザーボード3と対向する一方の面に設ける第2のコネクタ41と、他方の面にスキャナユニット2を取り付ける第3のコネクタ42と、更に、入出力ユニット1を取り付ける第4のコネクタ43と、さらに、第1のコネクタ31(〜3n)と第2のコネクタ41を介して、第1のコネクタ31(〜3n)と第3のコネクタ42及び第4のコネクタ43とを接続する配線パターンを有するインタフェースボード4とを備える。
さらに、バスコネクタ3bに接続され、入出力ユニット1の入力信号の生成及び入出力信号を測定する測定器52及び測定条件を設定する試験ツール51を備える。
次に、各部の詳細な構成について図3を参照して説明する。図3は、入出力ユニット1がアナログ信号をデジタル信号に変換するアナログ入出力ユニットの場合について示したものである。
先ず、試験される入出力ユニット1の構成について説明する。アナログ入力信号と模試アナログ入力信号を切り替える第1の制御回路1aと、複数のアナログ入力信号を夫々独立してデジタル信号に変換し出力する入力回路1bと、この入力ユニット1への入出力信号を中継するコネクタ11とを備える。
また、スキャナユニット2は、入出力ユニット1の回路系統を絶縁された状態で順次切り替えるスイッチで構成される選択回路2bと、制御信号バス3a3を介して外部から送られる選択制御信号を受け取り、この選択回路2bを切り替える第2の制御回路2aと、このスキャナユニット2へ入出力信号を中継するコネクタ21とを備える。
次に、マザーボード3の詳細構成について説明する。先ず、マザーボードバス3aは、スキャナユニット2及び入出力ユニット1に電源を供給する図示しない電源バス3a1と、入出力ユニット1の入出力信号を授受する入出力信号バス3a2と、スキャナユニット2に試験する回路系統を選択する選択制御信号を授受する制御信号バス3a3とを備える。
更に詳細には、入出力信号バス3a2は、アナログ入力信号を系統ごとに絶縁して供給するAbusと、模試アナログ入力信号を共通のバスから供給するBbusと、変換されたデジタル出力信号を送るCbusとを備える。
これらのバスの構造は、電源バス3a1については、入出力ユニット1とスキャナユニット2の数量とで定まる負荷容量を所定の電源インピーダンス以下で供給できるバスパターンの構造をとしておく。
また、Abus、Bbusは、使用するアナログ信号のレベルと、周波数帯域とから適合するバスパターン構造を選択する。
また、制御信号バス3a3は、デジタル信号を送るので、その信号の周波数帯域とクロストークノイズを考慮したバスパターンの構造としておく。
このマザーボードバス3aは、通常、入出力ユニット1の種類毎に設けるが、異なる種類の入出力ユニットを実装できるようなバス構造とするが、このマザーボードバスの構造を入出力ユニット1の構成に合わせて異なる種類に適合するバス構成とすることも可能である。
次に、マザーボード3のコネクタについて説明する。マザーボード3の第1のコネクタ31(〜3n)〜と第4のコネクタ43は、使用する信号の特性と固定する機械的な強度を確保できるものであれば、その形式はいずれでも良いが、図2で説明したような自立型の筺体に入出力ユニットを1を設ける場合には、前面から保守しやすく、ワンタッチで固定できる形式のものが望ましい。
マザーボード3の端部に設けるマザーボードコネクタ3bは、使用する信号の形態に最適なコネクタを選択する。パソコンなどで構成される試験ツール51や測定器52は、夫々、標準規格のコネクタ形式を選択する。
また、マザーボード3は、複数の第1のコネクタ31を備え、インタフェースボード4は、複数の入出力ユニット1を装着する複数の第2乃至前記第4のコネクタ41〜、43を備える用に構成することもできし、複数の異なる種類の入出力ユニットで構成することも可能である。
次に、インタフェースボード4について、同じく図3を参照して説明する。インタフェースボード4は、入出力ユニット1とスキャナユニット2との入出力信号を、マザーボード3のコネクタ31に挿入して授受する第2のコネクタ41と、スキャナユニット2と接続するための第3のコネクタ42と、入出力ユニット1と接続するための第4のコネクタ43と、インタフェースボード4上には、これらのコネクタ間の信号を授受する配線パターンとを備える。
更に、入出力ユニット1とスキャナユニット2を固定する図示しない保持部品を設ける。
次に、このように構成された入出力ユニットの試験装置の接続と動作について、図3を参照して説明する。
入出力ユニット1は、制御装置1に実装され、通常運転時には第1のコネクタ31に入出力ユニット1のコネクタ11を挿入して使用する。この場合、入出力ユニット1の入力信号は、マザーボードバス3aのAbusに太い破線で示したようにダイレクトに接続して入力される。
試験時には、第1のコネクタ31から入出力ユニット1を引き抜いて、第1のコネクタ31にインタフェースボード4の第2のコネクタ41を挿入してインタフェースボード4を固定し、更に、インタフェースボード4の第3のコネクタ42にスキャナユニットを、第4のコネクタ43に試験する入出力ユニット1を挿入して固定する。
そして、入出力ユニット1は、第1のコネクタ31と第4のコネクタ43とを介して自身の電源とその入出力信号を、更に、スキャナユニット2は、第1のコネクタ31と第3のコネクタ42とを介して自身の電源と選択制御信号とを授受し、入力信号をスキャナユニット2で切り替え、複数の回路系統を備える入出力ユニット1の試験がコネクタ接続のみで行えるようにしておく。
このように構成された入出力ユニット1の試験装置は、外部の試験ツール51と測定器52とをマザーボードコネクタ3bに接続し、マザーボード3の第1のコネクタにインタフェースボード4を差し込み、さらに、このインタフェースボード4にスキャナユニット2と試験される入出力ユニット1とを固定することで、配線を行うことなく試験を行うことができる。
また、入出力ユニット1が複数実装された入出力装置の場合でも、その特定の1つの入出力ユニット1の試験が、1枚のインタフェースボードを挿入し、外部から入出力試験信号を、マザーボードコネクタ3bを介して授受することで、コンパクトな構成で行える。
したがって、プラント現場での緊急な点検も可能なコンパクトな試験装置を提供することができる。
本発明は上述したような実施例に何ら限定されるものではなく、マザーボードとインタフェースボードとをコネクタで接続し、このインタフェースボードを介してスキャナユニットと試験される入出力ユニット接続し、コネクタ接続して試験が可能であるものであれば良く、コネクタの形式やバスの構造とその構成、ユニットの固定方法は適宜変更することが可能である。
1 入出力ユニット
1a 第1の制御回路
1b 入力回路
2 スキャナユニット
2a 第2の制御回路
2b 選択回路
3 マザーボード
3a マザーボードバス
3a1 電源バス
3a2 入出力信号バス
3a3 制御信号バス
3b、3b1〜3b5 マザーボードコネクタ
4 インタフェースボード
10 演算装置
10a CPUユニット
11 コネクタ
21 コネクタ
30 入出力装置
31、32〜3n 第1のコネクタ
41 第2のコネクタ
42 第3のコネクタ
43 第4のコネクタ
51 試験ツール
52 測定器
100、101 制御装置
102 外部ケーブル
103 端子台
104 入力用配線
105 入力ユニット
106 ロジック処理ユニット
107 入力ケーブル
108 試験用端子台
109 電圧電流発生器
110 マルチメータ
111入出力ケーブル
112 保守ツール

Claims (2)

  1. 入出力ユニットの試験装置であって、
    複数の同一回路を有する入出力ユニットと、
    前記複数の同一回路のいずれか1つの回路の入出力信号を、外部からの選択制御信号で選択して前記入出力ユニットに送るスキャナユニットと、
    前記入出力ユニットを装着する第1のコネクタと、当該入出力ユニットを動作させるためのマザーボード信号を外部から供給するバスコネクタと、当該バスコネクタと前記第1のコネクタと接続されたマザーボードバスとを備えるマザーボードと、
    前記第1のコネクタに挿入し当該マザーボードと対向する一方の面に設ける第2のコネクタと、他方の面に前記スキャナユニットを取り付ける第3のコネクタと、更に、前記入出力ユニットを取り付ける第4のコネクタとを備え、前記第1のコネクタと前記第2のコネクタを介して、前記第1のコネクタと前記第3のコネクタ及び前記第4のコネクタとを接続する配線パターンを有するインタフェースボードと、
    前記バスコネクタに接続され、前記入出力ユニットの入力信号の生成及び入出力信号を測定する測定器及び測定条件を設定する試験ツールと
    を備え、
    前記マザーボードバスは、前記スキャナユニット及び前記入出力ユニットに電源を供給する電源バスと、前記スキャナユニット送る前記選択制御信号を送る制御信号バス及び前記入出力ユニットの入出力信号を授受する入出力信号バスとを備え、
    通常時には、前記第1のコネクタに前記入出力ユニットを挿入して使用し、
    試験時には、前記入出力ユニットを引き抜いて、前記第1のコネクタに前記第2のコネクタを挿入して前記インタフェースボードを固定し、更に、前記インタフェースボードの前記第3のコネクタにスキャナユニットを、前記第4のコネクタに試験する前記入出力ユニットを夫々固定して、
    前記入出力ユニットは、前記第1のコネクタと前記第4のコネクタとを介して自身の電源とその入出力信号を、更に、前記スキャナユニットは、前記第1のコネクタと前記第3のコネクタとを介して自身の電源と前記選択制御信号とを授受し、
    前記入出力ユニットの試験がコネクタ接続のみで行えるようにしたことを特徴とする入出力ユニットの試験装置。
  2. 前記マザーボードは、複数の第1のコネクタを備え、前記インタフェースボードは、複数の前記入出力ユニットを装着する複数の前記第2乃至前記第4のコネクタを備える請求項1に入出力ユニットの試験装置。
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