JP5253218B2 - Device diagnostic method - Google Patents
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Description
本発明は、機器診断方法に係り、特に、プラントに設けられた機器の状態監視および異常診断に適用するのに好適な機器診断方法に関する。 The present invention relates to a device diagnostic how, particularly, relates to a suitable device diagnostic how to apply to the condition monitoring and fault diagnosis of the provided equipment to the plant.
原子力発電プラントでは、使用されるセンサ、回転機および弁などの機器に対する保守点検作業が、一定期間ごと、すなわち、原子力発電プラントの場合では定期検査ごとに行われる。定期検査で行われる機器の校正、分解点検および取替えなどの保守点検作業の作業量は、膨大なものとなっている。 In a nuclear power plant, maintenance and inspection work for devices such as sensors, rotating machines, and valves that are used is performed at regular intervals, that is, in the case of a nuclear power plant, every periodic inspection. The amount of maintenance and inspection work such as calibration, overhaul and replacement of equipment performed in periodic inspections is enormous.
原子力発電プラントを安全かつ効率的に稼動させることを目的として、これまでの一定期間ごと保守点検作業を行う時間保全に代わって、プラントに用いられる機器の状態を常時監視し、必要な時期に保守点検作業行う状態監視保全の導入が検討されている。機器の状態監視を行う方法として、例えば、特開２００３−２０７３７３号公報および特開２００５−３３８０４９号公報に、機器のプロセス値を用いて機器の状態を診断する方法が記載されている。 In order to operate a nuclear power plant safely and efficiently, instead of the time maintenance that has been carried out at regular intervals until now, the status of equipment used in the plant is constantly monitored and maintained at the required time. The introduction of state monitoring and maintenance for inspection work is being considered. As a method for monitoring the state of the device, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-207373 and Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-338049 describe a method of diagnosing the state of the device using the process value of the device.
特開２００３−２０７３７３号公報に記載された検出器校正支援装置は、真値を推定するための推定モデルを用い、検出器から出力された検出信号を基に真値を推定し、推定された真値および検出信号の実測値と、下限値および上限値と、検出器のドリフト特性に基づいて、ドリフト量を推定している。 The detector calibration support apparatus described in Japanese Patent Laid-Open No. 2003-207373 uses an estimation model for estimating a true value, estimates a true value based on a detection signal output from the detector, and estimates the true value. The drift amount is estimated based on the true value and the actually measured value of the detection signal, the lower limit value and the upper limit value, and the drift characteristics of the detector.
特開２００５−３３８０４９号公報に記載されたプラント計測制御装置は、真値推定モデルを用い、検出器から出力された検出信号の実測値基づいて真値を推定し、推定した同一の検出器に対する推定真値を推定精度に関するデータを用いて総合評価すると共に、最も確からしい推定真値を求めて推定ドリフト量を算出している。 The plant measurement control apparatus described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-338049 uses a true value estimation model, estimates a true value based on an actual measurement value of a detection signal output from a detector, and performs the estimation on the same detector. The estimated true value is comprehensively evaluated using data relating to the estimation accuracy, and the most probable estimated true value is obtained to calculate the estimated drift amount.
特開２００３−２０７３７３号公報および特開２００５−３３８０４９号公報のそれぞれに記載された各装置では、複数の機器のプロセス値をもとに、機器の正常時に示すべき値（真値）を推定し、真値と計測値との差が大きくなった場合に異常があると診断している。このとき、参照している機器間には比例関係などの相関があり、この特徴を用いて真値を推定して診断する。診断を行うための複数の機器の組み合わせは、プラント（例えば、原子力発電プラント）を熟知した技術者によって予め設定されるが、組み合わせが適切でない場合には診断性能が低下する可能性がある。 Each apparatus described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-207373 and Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-338049 estimates a value (true value) to be displayed when the device is normal based on process values of a plurality of devices. When the difference between the true value and the measured value becomes large, it is diagnosed that there is an abnormality. At this time, there is a correlation such as a proportional relationship between the devices that are referred to, and a true value is estimated and diagnosed using this feature. A combination of a plurality of devices for performing diagnosis is set in advance by an engineer who is familiar with a plant (for example, a nuclear power plant). However, if the combination is not appropriate, there is a possibility that the diagnosis performance may be lowered.
したがって、診断を行うための機器の組み合わせには十分注意を払う必要がある。しかしながら、プラントごと、および機器の構成が変わるごとに、熟練者がその機器の組み合わせを設定することは、多大な労力および時間を要する。一方、機器の組み合わせを、電子計算機を用いて試行錯誤的に相関係数などを計算して探索することも可能ではある。しかしながら、診断を行うための機器の組み合わせパターンが膨大になり、プラント特性を考慮しないで機器の組み合わせを設定することは診断精度に悪影響を与える可能性もあるので、電子計算機を用いて、診断を行うための機器の組み合わせを決定することは現実的ではない。診断を行うための機器の組み合わせを容易に行う方法は、特開２００３−２０７３７３号公報および特開２００５−３３８０４９号公報に記載されていない。 Therefore, it is necessary to pay sufficient attention to the combination of devices for diagnosis. However, it takes a lot of labor and time for a skilled person to set a combination of devices for each plant and each time the configuration of the device changes. On the other hand, it is also possible to search for combinations of devices by calculating correlation coefficients and the like by trial and error using an electronic computer. However, the combination pattern of devices for diagnosis becomes enormous, and setting the combination of devices without considering the plant characteristics may adversely affect the diagnosis accuracy, so the diagnosis can be performed using an electronic computer. Determining the combination of devices to do is not practical. A method for easily combining devices for diagnosis is not described in Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 2003-207373 and 2005-338049.
本発明の目的は、診断対象の機器を精度良く設定することができる機器診断方法を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a device diagnostic how it is possible to set accurately the equipment to be diagnosed.
上記した目的を達成するための本発明の特徴は、プラントに含まれる複数の機器の接続に関する情報を含む設計情報、および計測された機器のプロセス情報を用いて、接続されている各機器のプロセス情報の相関情報を求め、得られた相関情報に基づいて診断に用いる複数の機器を特定し、プラントの保守点検時にプラントからの機器の撤去およびプラントへの新たな機器の設置があったとき、機器の接続に関する情報を更新し、診断に用いる複数の機器の特定が、更新された機器の接続に関する情報を含む設計情報を用いて行われることにある。 The feature of the present invention for achieving the above-described object is that the process of each connected device using the design information including information related to the connection of a plurality of devices included in the plant and the process information of the measured devices. Obtaining correlation information of information, identifying multiple devices to be used for diagnosis based on the obtained correlation information, when removing equipment from the plant and installing new equipment in the plant at the time of maintenance and inspection of the plant, update the information about the connection of the device, a plurality of specific devices for use in diagnosis, in Rukoto performed using design information including information about the connection of the updated devices.
各機器のプロセス情報の相関情報に基づいて診断に用いる複数の機器を特定するので、診断対象の機器を精度良く設定することができる。 Since a plurality of devices to be used for diagnosis are specified based on the correlation information of the process information of each device, it is possible to set a diagnosis target device with high accuracy.
好ましくは、特定された複数の機器のうち対の機器の組み合わせ毎に、機器の診断を行うことが望ましい。 Preferably, it is desirable to perform device diagnosis for each combination of a pair of devices among the plurality of specified devices.
本発明によれば、診断対象の機器を精度良く設定することができる。 According to the present invention, it is possible to accurately set a device to be diagnosed.
本発明の実施例を以下に説明する。 Examples of the present invention will be described below.
本発明の好適な一実施例である機器診断装置を、図1を用いて説明する。本実施例の機器診断装置１は、機器接続判定装置３、機器相関判定装置５、機器状態診断装置６、対象機器選択装置７、診断結果出力装置８および記憶装置２および４を備えている。機器診断装置１は、機器１０からの情報を入力する入力インターフェース９を有する。機器相関判定装置５は相関値算出装置５Ａおよび診断機器設定装置５Ｂを有する。
A device diagnostic apparatus which is a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The
機器接続判定装置３が機器相関判定装置５の相関値算出装置５Ａおよび記憶装置２に接続される。対象機器選択装置７が機器接続判定装置３に接続される。入力インターフェース９が機器相関判定装置５の診断機器設定装置５Ｂおよび記憶装置４に接続される。相関値算出装置５Ａが診断機器設定装置５Ｂおよび記憶装置４に接続される。機器診断機器設定装置５Ｂが機器状態診断装置６に接続される。診断結果出力装置８が機器状態診断装置６に接続される。機器１０は、プラントに設けられた流量計、温度計、圧力計およびレベル計などのセンサ、ポンプなどの回転機、および弁などである。
The device
記憶装置２は、機器と機器のそれぞれの接続情報、配管と配管のそれぞれの接続情報、機器と配管のそれぞれの接続情報等を含む設計データ（機器の接続に関する情報を含む設計情報）を記憶している。この設計データとしては、例えば、配管計装線図などの機器と配管の接続情報を含んだＣＡＤデータがある。記憶装置２に記憶された設計データの例を図３に示す。図３に示された設計データはテキストデータである。
The
記憶装置４には、入力インターフェース９を介して機器１０から入力されたプロセス値（プロセス情報）が記憶されている。記憶装置４に記憶されたプロセス値の例を図４に示す。記憶装置４に記憶されたプロセス値は、機器１０がセンサである場合にはそれぞれのセンサで計測された流量、温度、圧力および水位レベル等の測定値、機器１０が回転機である場合には回転機に設けられた回転計で計測された回転数の測定値および振動系で測定された振動の変位、および機器１０が弁である場合には計測された開度等の時間変化の情報である。記憶装置４に格納されるプロセス値は、機器１０に異常がないと考えられる期間のデータである。例えば、プラントの起動試験時、およびプラント起動から数ヶ月の期間のデータが、プロセス値として、記憶装置４に格納される。
The storage device 4 stores process values (process information) input from the
機器接続判定装置３は、対象機器選択装置７から入力された診断対象である機器に基づいて、記憶装置２から該当する設計データを読み出し、この設計データを参照して、この機器が他の機器に直接、または配管を介して間接的に接続されているか否かを判定する。機器接続判定装置３は、診断対象である機器が他の機器に接続されていると判定した場合に、診断対象である機器と接続されている他の機器との間の距離を計算する。記憶装置２に記憶されている設計データがＣＡＤデータである場合、機器接続判定装置３はＣＡＤデータから接続情報を抽出する機能を備えている。
The device
機器相関判定装置５の相関値算出装置５Ａは、機器接続判定装置３によって得られた、診断対象である機器１０とこれと接続関係にある他の機器の組み合わせにおいて、接続関係にあるこれらの機器に対応する各プロセス値を記憶装置４から取得し、これらのプロセス値間の相関値を計算する。機器相関判定装置５の診断機器設定装置５Ｂは、得られた相関値が設定値以上になっている機器の組み合わせを、相関の高い機器の組み合わせと判定し、相関の高い組み合わせの各機器を診断の対象となる機器に設定する。診断機器設定装置５Ｂは、設定されて診断対象となる各機器のグループ（機器グループ）を作成する。
The correlation
機器状態診断装置６は、診断機器設定装置５Ｂによって得られた機器グループの情報を用いて、この機器グループに含まれる各機器の現在のプロセス値を、入力インターフェース９を介して機器１０から入力し、この現在のプロセス値に基づいて各機器の状態を診断する。機器の診断方法として、例えば、２つのプロセス値の関係について正常時の分布を求めておき、計測時の分布と正常時の分布との差を計算し、この差が一定以上になった場合に異常と診断する方法がある。
The device
対象機器選択装置７は、オペレータが診断したい機器を選択するインターフェースである。対象機器選択装置７は、予め設定されたリストを含む情報（例えば、記憶装置に記憶）を基づいて診断すべき機器を自動的に設定するようにしてもよい。診断結果出力装置８は、機器状態診断装置６で得られた診断結果の情報等を表示する表示装置等のインターフェースである。
The target device selection device 7 is an interface for selecting a device to be diagnosed by the operator. The target device selection device 7 may automatically set a device to be diagnosed based on information including a preset list (for example, stored in a storage device). The diagnosis
機器診断装置１を用いた機器診断の手順を、図２に基づいて説明する。この機器診断は、一例として、図５に示す構成を有するプラントを対象に行った。このプラントは、配管Ｐ００３およびＰ００４が機器Ｆに接続されており、配管Ｐ００１およびＰ００２が配管Ｐ００３に接続されている。機器Ａが配管Ｐ００１に設けられ、機器Ｂが配管Ｐ００２に設けられている。さらに、機器Ｃが機器Ｆに設けられ、機器Ｄが配管Ｐ００４に設けられ、機器Ｅが機器Ｆに設けられる。機器Ａは、配管Ｐ００１内を流れる流体の流量を計測する流量計である。機器Ｂは配管Ｐ００２内を流れる流体の流量を計測する流量計である。機器Ｃは機器Ｆの温度を計測する温度計である。機器Ｄは配管Ｐ００４の温度を計測する温度計である。機器Ｅは機器Ｆの回転数を計測する回転計である。機器Ａ〜Ｅはセンサである。機器Ｆはポンプである。図５に示すプラントにおける機器および配管の接続情報は図３で与えられ、記憶装置２に設計データとして記憶されている。機器Ａ〜Ｅで計測された図４に示す各プロセス値は、入力インターフェース９を介して記憶装置４に記憶される。
A procedure for device diagnosis using the
オペレータが、対象機器選択装置７により、プラント内の診断の対象にする機器の代表を指定する（ステップ２１）。例えば、機器Ｆが指定されたとする。 The operator designates a representative of the device to be diagnosed in the plant by the target device selection device 7 (step 21). For example, assume that the device F is designated.
指定された機器と直接または間接的に接続されている機器のうち、指定された機器から設定距離内に存在する機器を抽出する（ステップ２２）。ここで、距離とは、プラントにおける配管を経由した物理的な距離または接続関係の探索回数である。前者であれば、設定距離は、指定された機器を起点にして配管を経由した物理的な距離の設定値である。後者であれば、設定距離は、接続関係の探索回数の設定回数である。この接続関係の探索回数が同じ機器は等距離にあるとする。 Among the devices directly or indirectly connected to the designated device, the devices existing within the set distance are extracted from the designated device (step 22). Here, the distance is a physical distance through the piping in the plant or the number of searches for connection relations. In the former case, the set distance is a set value of a physical distance via a pipe starting from a designated device. In the latter case, the set distance is the set number of connection-related searches. Assume that devices with the same number of searches for the connection relationship are equidistant.
ステップ２２で行われる、設定距離内に存在する機器の抽出の処理を具体的に説明する。この処理は機器接続判定装置３で行われる。図３に示された接続情報を参照すると、機器Ｆは、機器Ｃ、機器Ｅ、配管Ｐ００３およびＰ００４にそれぞれ接続され、配管Ｐ００３を経て配管Ｐ００１およびＰ００２にそれぞれ間接的に接続され、配管Ｐ００４を経て機器Ｄに間接的に接続されている。さらに、機器Ｆは、配管Ｐ００１を経て機器Ａに、配管００２を経て機器Ｂにそれぞれ間接的に接続されている。
The process of extracting devices existing within the set distance performed in
機器接続判定装置３は、機器Ｆを基点にして機器Ａ〜Ｅの各機器との間の距離を算出する。この距離は、前述した配管を経由した物理的な距離または接続関係の探索回数を基に、機器の種類等により重み付けをしてもよい。例えば、距離として接続関係の探索回数を用いた場合について述べる。機器Ｆを基点にした、機器ＡおよびＢまでの距離は３（接続関係の探索回数が３）、および機器ＣおよびＥまでの距離は１（接続関係の探索回数が１）、機器Ｄまでの距離は２（接続関係の探索回数が２）である。ここでは、設定距離が接続関係の探索回数３として設定されているので、機器接続判定装置３は、接続関係の探索回数が３以内の接続関係にある機器Ａ〜Ｅを、機器Ｆに接続されている機器として抽出する。もし、設定距離が接続関係の探索回数２として設定された場合には、機器Ｆに接続されている機器として機器Ｃ、ＤおよびＥが抽出される。
The device
抽出された各機器に対応するプロセス値の情報を取得する（ステップ２３）。このステップ２３の処理は、相関値算出装置５Ａで行われる。相関値算出装置５Ａは、抽出された機器に対応するプロセス値の情報を記憶装置４から取得する。
Information on the process value corresponding to each extracted device is acquired (step 23). The process of
抽出された各機器に対する各プロセス値の相関値を計算する（ステップ２４）。このステップ２４の処理は、相関値算出装置５Ａで行われる。
The correlation value of each process value for each extracted device is calculated (step 24). The process of
機器Ｘのプロセス値をｘｉ（ｉ＝１〜ｎ）、機器Ｙのプロセス値をｙｉ（ｉ＝１〜ｎ）、プロセス値ｘｉの平均をｘｍ、プロセス値ｙｉの平均をｙｍ、プロセス値ｘｉの標準偏差をσｘ、プロセス値ｙｉの標準偏差をσｙ、各プロセス値の数をｎとしたとき、機器Ｘと機器Ｙの相関値Ｒｘｙは、（１）式で算出できる。 The process value of the device X is xi (i = 1 to n), the process value of the device Y is yi (i = 1 to n), the average of the process value xi is xm, the average of the process value yi is ym, and the process value xi is When the standard deviation is σx, the standard deviation of the process value yi is σy, and the number of each process value is n, the correlation value Rxy between the device X and the device Y can be calculated by the equation (1).
Ｒｘｙ＝Σ（ｕｉ・ｖｉ）／ｎ ……（１）
ただし、
ｕｉ＝（ｘｉ−ｘｍ）／σｘ，ｖｉ＝（ｙｉ−ｙｍ）／σｙ ……（２）
である。
Rxy = Σ (ui · vi) / n (1)
However,
ui = (xi−xm) / σx, vi = (yi−ym) / σy (2)
It is.
相関値算出装置５Ａは、抽出された機器Ａ〜Ｅのそれぞれのプロセス値のデータの相関値Ｒｘｙを（１）式および（２）式に基づいて算出する。相関値算出装置５Ａは、図６に示す、機器Ａ〜Ｅのそれぞれのプロセス値のデータに対する相関値Ｒｘｙを算出する。機器Ｅのプロセス値と機器Ａのプロセス値は、図４に示すように、同じ方向に変化しているので、これらのプロセス値の相関値は正である。一方、機器Ｅのプロセス値と機器Ｄのプロセス値は、図４に示すように、逆方向に変化しているので、これらのプロセス値の相関値は負である。また、機器Ｅのプロセス値と機器ＢおよびＣの各プロセス値は相関が見られないので、機器Ｅのプロセス値と機器ＢおよびＣの各プロセス値との相関値はほぼ０である。
The correlation
相関値の絶対値が設定値以上である機器の組み合わせを、診断に用いる機器としてグループ化する（ステップ２５）。このステップ２５の処理は、診断機器設定装置５Ｂで行われる。診断機器設定装置５Ｂは、ステップ２４の処理で求めた相関値が設定値以上になる機器の組み合わせを、診断に用いる機器としてグループ化する。例えば、図６に示された相関値の絶対値が０．９以上の機器Ａ、ＤおよびＥを１つのグループ（以下、機器グループという）とする。
A combination of devices whose correlation value is greater than or equal to the set value is grouped as a device used for diagnosis (step 25). The process of
グループ内の機器の異常診断を行う（ステップ２６）。機器状態診断装置６は、診断機器設定装置５Ｂで設定されてグループ化した機器グループ内の各機器のそれぞれのプロセス値のデータを用いて、その機器グループに含まれる機器の異常診断を実行する。ステップ２６で行われる異常診断の詳細な内容を、図７に基づいて説明する。
An abnormality diagnosis of the devices in the group is performed (step 26). The device
機器グループから任意の機器ＸおよびＹを選択する（ステップ２８）。機器状態診断装置６は、診断機器設定装置５Ｂで診断対象の機器であると設定された各機器（例えば、機器Ａ、ＤおよびＥ）を含む機器グループから対である任意の機器ＸおよびＹを選択する。ここでは、機器ＡおよびＥが選択されたとする。
Arbitrary devices X and Y are selected from the device group (step 28). The device
機器ＸおよびＹの正常時のプロセス値を取得する（ステップ２９）。機器状態診断装置６は、選択した機器ＸおよびＹの正常時のプロセス値を記憶装置４から取得する。機器状態診断装置６は、機器ＡおよびＥの正常時のプロセス値（図４参照）を記憶装置４から取得する。
Process values at the time of normal operation of the devices X and Y are acquired (step 29). The device
機器ＸおよびＹの正常時における各プロセス値の関係を関数で近似する（ステップ３０）。機器状態診断装置６は、機器ＸおよびＹの正常時における各プロセス値の関係を関数で近似する。機器状態診断装置６によって近似された機器ＡおよびＥの正常時における各プロセス値の関係を、図８に示す。正常時における機器ＡおよびＥの正常時における各プロセス値の関係は、図８に示す破線（直線）で示す近似関数で表される。
The relationship between the process values when the devices X and Y are normal is approximated by a function (step 30). The device
機器ＸおよびＹの現時点でのそれぞれのプロセス値を入力する（ステップ３１）。機器状態診断装置６は、機器ＸおよびＹの現時点でのそれぞれのプロセス値を入力する。機器Ａで計測された現時点での配管Ｐ００１内を流れる流体の流量、および機器Ｅで計測された現時点での回転数が、入力インターフェース９から機器相関判定装置５を経て機器状態診断装置６に入力される。
The current process values of the devices X and Y are input (step 31). The device
入力した機器ＸおよびＹの現時点でのそれぞれのプロセス値で定まる座標位置と近似関数との距離を算出する（ステップ３２）。機器状態診断装置６は、入力した機器ＸおよびＹの現時点でのそれぞれのプロセス値で定まる座標位置と近似関数との距離を算出する。機器Ｘまたは機器Ｙが異常状態になっている場合には、現時点でのそれぞれのプロセス値で定まる座標位置と近似関数との距離が正常状態の限界である設定距離以上に大きくなる。機器ＡおよびＥの現時点での各プロセス値で定まる座標位置が、図８に示すように、Ｓであるとき、座標位置Ｓと破線で示された近似関数との距離を算出する。
The distance between the coordinate position determined by the current process values of the input devices X and Y and the approximate function is calculated (step 32). The device
算出された距離が設定距離以上であるかを判定する（ステップ３３）。機器状態診断装置６は、算出された距離が設定距離以上であるかを判定する。すなわち、座標位置Ｓと破線で示された近似関数との距離が設定距離以上であるかを判定する。算出された距離が設定距離以上ではないと判定された場合には、機器ＸおよびＹは正常であると診断する（ステップ３４）。算出された距離が設定距離以上であると判定された場合には、機器ＸおよびＹのうちの少なくとも１つが異常であると診断する（ステップ３５）。図８に示すように、座標位置Ｓと近似関数の間の距離が大きくなっている場合には、ステップ３３の判定は「ＹＥＳ」になり、機器ＡおよびＥのうちの少なくとも１つが異常であると診断される。
It is determined whether the calculated distance is greater than or equal to the set distance (step 33). The device
機器グループ内の１つの機器の組み合わせにおける機器の診断が終了したとき、すなわち、ステップ３４または３５の処理が終了したとき、機器状態診断装置６が、機器グループ内の全組み合わせにおいて機器の診断が終了したかを判定する（ステップ３６）。全組み合わせにおいて機器の診断が終了していないと判定されたとき（ステップ３６の判定が「ＮＯ」であるとき）、機器状態診断装置６は、ステップ２８〜３４（または３５）の処理を繰り返す。ステップ３６において、全組み合わせにおいて機器の診断が終了していると判定されたとき（ステップ３６の判定が「ＹＥＳ」であるとき）、機器の診断が終了する。
When the diagnosis of the device in one device combination in the device group is completed, that is, when the process of
以上の手順によって得られた機器の診断結果の情報が、機器状態診断装置６から診断結果出力装置８に出力される（ステップ２７）。診断結果出力装置８は、機器の診断結果の情報を画面に表示する。
Information on the diagnosis result of the device obtained by the above procedure is output from the device
プラントの保守点検時に、プラントに設けられたセンサ（機器）の幾つかが撤去され、新たなセンサ（機器）が設置される場合がある。このような場合には、オペレータが、あるセンサ（機器）が撤去されて新たなセンサ（機器）が設置されることにより保守点検で変更になった機器の接続関係の情報を、保守点検が終了した後でプラントの運転が再開される前に、入力装置（図示せず）から記憶装置２に入力して機器の接続関係の情報を更新する。プラントの運転が開始されたとき、各センサ（機器）によってプラントの該当するプロセス値が計測され、入力インターフェース９を介して記憶装置４に記憶される。更新された機器の接続関係の情報、及び記憶装置４から読み出された、接続されている各機器のプロセス値のデータに基づいて、前述したように、診断の対象となる複数の機器が特定される。特定された機器を対象に前述の異常診断が行われる。
At the time of maintenance and inspection of the plant, some of the sensors (equipment) provided in the plant may be removed and new sensors (equipment) may be installed. In such a case, the operator completes the maintenance inspection with the information related to the connection of the equipment changed in the maintenance inspection by removing a certain sensor (equipment) and installing a new sensor (equipment). After that, before the operation of the plant is resumed, information on the connection relation of the devices is updated by inputting to the
本実施例の機器診断装置１によれば、プラントに含まれる複数の機器の接続情報、および計測された機器のプロセス値（プロセス情報）を用いて、接続されている各機器のプロセス情報の相関値（相関情報）が求められ、得られた相関値に基づいて診断に用いる複数の機器が特定されるので、診断対象の機器を容易に且つ精度良く設定することができる。診断対象の機器の設定の間違いが著しく低減される。これによって、機器の診断精度が向上する。
According to the device
原子力発電プラント等のプラントの保守点検時に、プラントに設けられたセンサ（機器）の幾つかが撤去され、新たなセンサ（機器）が設置された場合でも、本実施例は、機器相関判定装置５によって、プラントの運転開始後に診断対象になる各機器を精度良く設定することができる。 Even when some of the sensors (equipment) provided in the plant are removed and new sensors (equipment) are installed at the time of maintenance and inspection of a plant such as a nuclear power plant, the present embodiment provides the equipment correlation determination device 5. Thus, each device to be diagnosed after the start of plant operation can be set with high accuracy.
本実施例は、特定された複数の機器を含む機器グループ内の機器の組み合わせ毎に、機器の診断を行うので、機器の診断に要する時間を短縮することができる。また、特定された複数の機器を含む機器グループ内の機器の組み合わせ毎に、組み合わせられた各機器のプロセス値の関係、およびこれらの機器の計測された現在のプロセス値に基づいて、組み合わせられた各機器の異常を診断するので、機器の異常診断の精度がさらに向上する。 In the present embodiment, device diagnosis is performed for each combination of devices in a device group including a plurality of specified devices, so that the time required for device diagnosis can be reduced. In addition, for each combination of devices in a device group that includes a plurality of specified devices, combinations were made based on the relationship between the process values of each combined device and the measured current process values of these devices. Since the abnormality of each device is diagnosed, the accuracy of the device abnormality diagnosis is further improved.
上記した実施例は、機器接続判定装置３、機器相関判定装置５、機器状態診断装置６、対象機器選択装置７、診断結果出力装置８および記憶装置２および４を備えている機器診断装置１を用いてプラントに含まれている機器の異常診断をいるが、コンピュータを用いても行うことができる。コンピュータは、中央処理ユニット（ＣＰＵ）、記憶装置、入力装置、表示装置および入力インターフェース９を有する。
In the above-described embodiment, the
記憶装置は、記憶装置２および４に記憶される機器の接続に関する設計情報およびプロセス情報を記憶し、さらに、図２に示すステップ２１〜２７および図７に示すステップ２８〜３６の処理を実行するプログラムを記憶している。入力装置は対象機器選択装置７に相当し、表示装置が診断結果出力装置８に相当する。中央処理ユニットは、そのプログラムに基づいて、ステップ２１〜３６の各処理を実行する。このようにコンピュータを用いた機器の診断によっても、機器診断装置１を用いた場合に生じる各効果を得ることができる。
The storage device stores design information and process information related to device connection stored in the
本発明は、原子力プラント等のプラントに設けられた機器の異常診断に適用することができる。 The present invention can be applied to abnormality diagnosis of equipment provided in a plant such as a nuclear power plant.
１…機器診断装置、２，４…記憶装置、３…機器接続判定装置、５…機器相関判定装置、５Ａ…相関値算出装置、５Ｂ…診断機器設定装置、６…機器状態診断装置、９…入力インターフェース、１０…機器。
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010190582A JP2010190582A (en) | 2010-09-02 |
| JP5253218B2 true JP5253218B2 (en) | 2013-07-31 |
Family
ID=42816802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009032167A Active JP5253218B2 (en) | 2009-02-16 | 2009-02-16 | Device diagnostic method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5253218B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10837809B2 (en) | 2016-02-05 | 2020-11-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Sensor failure diagnosis device, method and program |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013073414A (en) * | 2011-09-28 | 2013-04-22 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | Sensor diagnostic device and sensor diagnostic method for plant |
| WO2014102918A1 (en) * | 2012-12-26 | 2014-07-03 | 株式会社 日立製作所 | Machine fault diagnostic device |
| JP6356449B2 (en) | 2014-03-19 | 2018-07-11 | 株式会社東芝 | Sensor diagnostic device, sensor diagnostic method, and computer program |
| JP2017162328A (en) * | 2016-03-11 | 2017-09-14 | 株式会社テイエルブイ | System and method for understanding level of influence on piping system |
| JP2017162327A (en) * | 2016-03-11 | 2017-09-14 | 株式会社テイエルブイ | System and method for indicating level of influence on piping system |
| JP7118313B2 (en) * | 2020-04-27 | 2022-08-15 | 三菱電機株式会社 | State determination device |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0776925B2 (en) * | 1990-11-27 | 1995-08-16 | 工業技術院長 | Diagnostic system |
| JP2003207373A (en) * | 2002-01-16 | 2003-07-25 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Sensor calibration assistance system, sensor calibration assistance method, and computer readable recording medium storing program for computer execution of the same |
| JP4436227B2 (en) * | 2004-04-26 | 2010-03-24 | 三菱重工業株式会社 | Plant instrumentation control apparatus and method |
-
2009
- 2009-02-16 JP JP2009032167A patent/JP5253218B2/en active Active
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10837809B2 (en) | 2016-02-05 | 2020-11-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Sensor failure diagnosis device, method and program |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2010190582A (en) | 2010-09-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110121 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121022 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A521 | Written amendment |
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130409 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130416 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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