JP5239321B2 - 全長検出装置、全長検出方法及び全長検出プログラム - Google Patents
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Description
次に、本発明を実施するための実施形態1について、図面を参照して詳細に説明する。
(1)画像の全長を算出する全長検出装置の構成
図1は、本発明に係る全長検出装置の構成を示す概略図である。
(2)実施形態1における全長検出処理の動作
次に、図1の全長検出装置と、図2に示すフローチャートとを参照して、本発明に係る実施形態1の全長検出処理の動作について詳細に説明する。
(3)実施形態1における全長検出装置の効果
以上説明したように、本実施形態によれば、この全長検出装置は、図形の輪郭を構成する全画素の中から全通りの組合せについて距離を求めるのではなく、XY座標のうちの1座標における最大値と最小値とからなる輪郭の画素のみについて組合せを抽出する。
(4)他の実施形態
次に、本発明に係る他の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
101 画像取り込み部
102 画像2値化変換部
103 2画素間距離算出部
104 2画素間距離比較部
110、110A メモリ(記憶装置)
111 画像記憶部
112 2値化画像記憶部
113 2画素間距離記憶部
120、120A データインターフェース
Claims (9)
- 画像データから輪郭を形成する画素を抽出する画素抽出手段と、
前記抽出した輪郭を形成する画素の全てではなく、前記抽出した輪郭を形成する画素であるXY座標のうちの1座標における最大値と最小値とからなる輪郭を形成する画素について組合せを抽出し、該抽出された組合せ毎に画素間の距離を測り、該測った距離を記憶手段に格納する距離測定手段と、
前記記憶手段に前記格納されている距離のうち、最大の距離を図形の全長として抽出する全長抽出手段と、
を備えることを特徴とする全長検出装置。 - 請求項1に記載の全長検出装置であって前記距離測定手段は、
X座標及びY座標の何れかを第1の座標とし他方を第2の座標とした場合に、
第1の座標における最小値を取る第1の画素と、第1の座標における最大値を取る第2の画素とを全ての第2の座標において抽出し、前記第1の画素それぞれと前記第2の画素それぞれとの距離を測り、該測った距離を前記記憶手段に格納することを特徴とする全長検出装置。 - 請求項1又は2に記載の全長検出装置であって、
前記画素抽出手段は、前記画像データから輪郭を形成する画素を複数の図形に関して抽出し、
前記距離測定手段及び前記全長抽出手段は、前記抽出された複数の図形のそれぞれを対象として動作することを特徴とする全長検出装置。 - 画像データから図形の全長を算出する全長検出装置が行う全長検出方法であって、
前記画像データから輪郭を形成する画素を抽出する画素抽出ステップと、
前記抽出した輪郭を形成する画素の全てではなく、前記抽出した輪郭を形成する画素であるXY座標のうちの1座標における最大値と最小値とからなる輪郭を形成する画素について組合せを抽出し、該抽出された組合せ毎に画素間の距離を測り、該測った距離を記憶手段に格納する距離測定ステップと、
前記記憶手段に前記格納されている距離のうち、最大の距離を図形の全長として抽出する全長抽出ステップと、
を含むことを特徴とする全長検出方法。 - 請求項4に記載の全長検出方法であって前記距離測定ステップでは、
X座標及びY座標の何れかを第1の座標とし他方を第2の座標とした場合に、
第1の座標における最小値を取る第1の画素と、第1の座標における最大値を取る第2の画素とを全ての第2の座標において抽出し、前記第1の画素それぞれと前記第2の画素それぞれとの距離を測り、該測った距離を前記記憶ステップに格納することを特徴とする全長検出方法。 - 請求項4又は5に記載の全長検出方法であって、
前記画素抽出ステップでは、前記画像データから輪郭を形成する画素を複数の図形に関して抽出し、
前記距離測定ステップ及び前記全長抽出ステップは、前記抽出された複数の図形のそれぞれを対象として行われることを特徴とする全長検出方法。 - コンピュータを全長検出装置として機能させる為の全長検出プログラムであって、
前記コンピュータを、
画像データから輪郭を形成する画素を抽出する画素抽出手段と、
前記抽出した輪郭を形成する画素の全てではなく、前記抽出した輪郭を形成する画素であるXY座標のうちの1座標における最大値と最小値とからなる輪郭を形成する画素について組合せを抽出し、該抽出された組合せ毎に画素間の距離を測り、該測った距離を記憶手段に格納する距離測定手段と、
前記記憶手段に前記格納されている距離のうち、最大の距離を図形の全長として抽出する全長抽出手段と、
を備える全長検出装置として機能させることを特徴とする全長検出プログラム。 - 請求項7に記載の全長検出プログラムであって前記距離測定手段は、
X座標及びY座標の何れかを第1の座標とし他方を第2の座標とした場合に、
第1の座標における最小値を取る第1の画素と、第1の座標における最大値を取る第2の画素とを全ての第2の座標において抽出し、前記第1の画素それぞれと前記第2の画素それぞれとの距離を測り、該測った距離を前記記憶手段に格納することを特徴とする全長検出プログラム。 - 請求項7又は8に記載の全長検出プログラムであって、
前記画素抽出手段は、前記画像データから輪郭を形成する画素を複数の図形に関して抽出し、
前記距離測定手段及び前記全長抽出手段は、前記抽出された複数の図形のそれぞれを対象として動作することを特徴とする全長検出プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007312434A JP5239321B2 (ja) | 2007-12-03 | 2007-12-03 | 全長検出装置、全長検出方法及び全長検出プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2007312434A JP5239321B2 (ja) | 2007-12-03 | 2007-12-03 | 全長検出装置、全長検出方法及び全長検出プログラム |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2009139100A JP2009139100A (ja) | 2009-06-25 |
JP5239321B2 true JP5239321B2 (ja) | 2013-07-17 |
Family
ID=40869868
Family Applications (1)
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JP2007312434A Active JP5239321B2 (ja) | 2007-12-03 | 2007-12-03 | 全長検出装置、全長検出方法及び全長検出プログラム |
Country Status (1)
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JP (1) | JP5239321B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11194021A (ja) * | 1998-01-05 | 1999-07-21 | Kubota Corp | 果菜類の計測装置 |
JP2002243656A (ja) * | 2001-02-14 | 2002-08-28 | Nec Corp | 外観検査方法及び外観検査装置 |
-
2007
- 2007-12-03 JP JP2007312434A patent/JP5239321B2/ja active Active
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Publication number | Publication date |
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JP2009139100A (ja) | 2009-06-25 |
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