JP5227244B2 - 画像処理装置 - Google Patents
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Claims (6)
- 被検体とその被検体を支える固定部材とを含んだ断層画像内において、一次元の軸上に並ぶ対象画素とその近傍の比較画素との間の画素値の変化量に基づいて組織のエッジを検出するエッジ検出部と、
検出されたエッジを避けつつ前記断層画像内を平滑化処理する平滑化処理部と、
を有し、
前記エッジ検出部は、前記固定部材に対応した複数の画素に基づいて画素の均一性を示す基準値を設定し、その基準値に基づいて設定される前記変化量の判定式を利用して、前記一次元の軸上において対象画素の座標を移動させ、各座標ごとに前記判定式を適用してその座標の対象画素が組織のエッジかどうかを判定することにより、組織のエッジを検出する、
ことを特徴とする画像処理装置。 - 請求項1に記載の画像処理装置において、
前記固定部材は、樹脂により形成される、
ことを特徴とする画像処理装置。 - 請求項1または2に記載の画像処理装置において、
前記基準値は、前記固定部材に対応した複数の画素値に関する標準偏差と平均値とに基づいて決定される変動係数である、
ことを特徴とする画像処理装置。 - 請求項3に記載の画像処理装置において、
前記変動係数と対象画素の画素値と比較画素の画素値とエッジ認識倍数とに基づいて前記変化量の判定式が決定される、
ことを特徴とする画像処理装置。 - 請求項1から4のいずれか1項に記載の画像処理装置において、
前記画像は、X線CT装置により得られるX線CT画像であり、
前記画素値は、線吸収係数である、
ことを特徴とする画像処理装置。 - 被検体とその被検体を支える固定部材とを含んだ断層画像内において、一次元の軸上に並ぶ対象画素とその近傍の比較画素との間の画素値の変化量に基づいて組織のエッジを検出する機能であって、前記固定部材に対応した複数の画素に基づいて画素の均一性を示す基準値を設定し、その基準値に基づいて設定される前記変化量の判定式を利用して、前記一次元の軸上において対象画素の座標を移動させ、各座標ごとに前記判定式を適用してその座標の対象画素が組織のエッジかどうかを判定することにより、組織のエッジを検出するエッジ検出機能と、
検出されたエッジを避けつつ前記画像内を平滑化処理する平滑化処理機能と、
をコンピュータに実現させることを特徴とするプログラム。
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