JP5202236B2 - 微小電気機械スイッチ及びその作製方法 - Google Patents

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Description

本発明は、MEMS(Micro Electro Mechanichal Systems)スイッチの構造に関する。
MEMSは、「マイクロマシン」や「MST(Micro System Technology)」とも呼ばれ、微小な機械的構造体と、半導体素子による電気回路とを融合したシステムを指す。微小構造体は、トランジスタ等の半導体素子とは異なり、三次元的な立体構造を有し、その一部が可動する場合が多い。そして、電気回路は微小構造体の動作を制御し、または微小構造体からの信号を受信し処理する。このような微小構造体と電気回路とからなるマイクロマシンは、センサ、アクチュエータ、またはインダクタや可変容量のような受動素子等、様々な機能を持つことができる。
マイクロマシンを特徴づける微小構造体は、端部が基板に固定された梁構造の構造層を有し、基板と構造層との間には何もない空間部分がある。このように空間部分があるために構造層の一部が可動する微小構造体は、様々な機能を実現することができるが、その一つにスイッチがある。微小構造体で形成されるMEMSスイッチは、電界効果を利用したスイッチングトランジスタとは異なり、物理的な接触と非接触によりオン、オフするため、オフ時のアイソレーションの良さ、オン時の挿入損失の低さが利点である。
また、MEMSは微小構造体だけで構成されず電気回路を有することが多いため、半導体集積回路と同じ、または似たプロセスを適用して作製できることが好ましく、本発明では薄膜を積層させて構造体を作製する表面マイクロマシン技術を用いたMEMSスイッチについて述べる。
MEMSスイッチは、基板上にブリッジ構造(構造層)が設けられ、基板表面とブリッジ構造の基板側に相対する2対以上の電極を有し、一方の電極対に電圧を印加することで静電引力によりブリッジ構造が基板側に引き下げられ、もう一方の電極対が物理的に接触することで導通する(特許文献1、および特許文献2)。
また、電圧が印加される電極対の接触を回避するために、構造層の可動領域を制限するストッパ(バンパー、バンプとも記載)を形成するのが一般的である(特許文献1)。
特表2005−528751号公報 特開2003−217423号公報
本発明に至るには異なる2つの課題があった。1つ目は、絶縁層へのチャージアップを回避するためのストッパを形成しなければならないが(特許文献1参照)、そのためには別途フォトマスクが必要となることである。製造コストを削減するためにも、フォトマスクの枚数を減らし、工程数を減らしたいので、フォトマスクの追加を行わずにストッパを形成することが好ましい。
2つ目は、上部電極の形成時に生じる犠牲層へのオーバーエッチングにより、構造層が上部電極の下面よりも下に出っ張り、上部スイッチ電極と下部スイッチ電極とが接触するのを妨げてしまうというプロセス起因の問題である。
本発明の1つは、最初に、後者の問題を解決しようとするものである。そして、その問題によって前者を解決することができる。
本発明の微小電気機械スイッチ(MEMSスイッチ)は、上部スイッチ電極の面積を下部スイッチ電極の面積よりも大きくすることで、上記オーバーエッチングによる構造層の出っ張りが生じたとしても、上部スイッチ電極及び下部スイッチ電極の接触が妨げられるのを防ぐことができる。
また、本発明の微小電気機械スイッチは、上部駆動電極の面積を下部の駆動電極の面積よりも小さくし、上記オーバーエッチングにより構造層が上部駆動電極下面よりも下に出っ張った部分を、上部駆動電極及び下部駆動電極が接触するのを妨げるストッパとすることができる。
さらに、本発明の微小電気機械スイッチは、上部スイッチ電極の面積を下部スイッチ電極の面積よりも大きくし、かつ、上部駆動電極の面積を下部駆動電極の面積よりも小さくする。これにより、上部スイッチ電極及び下部スイッチ電極の接触が妨げられるのを防ぐことができ、上部駆動電極及び下部駆動電極が接触するのを妨げるストッパを設けることができる。
本発明により、上部スイッチ電極と下部スイッチ電極とが接触するのを妨げてしまうというプロセス起因の問題を回避することができる。
さらに、フォトマスクの追加、工程の追加をすることなく、スイッチの上部電極及び下部電極が接触するのを妨げるストッパを形成することができる。
そして、これら二つの問題を、上部電極のフォトマスク1枚の設計で同時に対応することができるため、製造にかかる経費を削減することができる。
本発明の実施の形態について、図面を用いて以下に説明する。ただし、本発明は以下の説明に限定されない。本発明の趣旨およびその範囲から逸脱することなくその形態および詳細を様々に変更し得ることは、当業者であれば容易に理解されるからである。したがって、本発明は以下に示す実施の形態および実施例の記載内容のみに限定して解釈されるものではない。なお、図面を用いて本発明の構成を説明するにあたり、同じものを指す符号は異なる図面間でも共通して用いる場合がある。
[実施の形態1]
まず、本発明の微小電気機械スイッチ(MEMSスイッチ)の構成とその作製方法を示す。
微小電気機械スイッチ(MEMSスイッチ)は、図1に示すように、両端が基板に固定された梁構造を有する構造層116と、構造層116の下に設けられた下部駆動電極層112a、および下部スイッチ電極層114aと、構造層116の基板111に対向する面に設けられた上部駆動電極層112b、および上部スイッチ電極層114bによって構成される。
上部駆動電極層112b及び下部駆動電極層112a、および上部スイッチ電極層114b及び下部スイッチ電極層114aは、向かい合う位置に配置されている。そして、上部駆動電極層112b及び下部駆動電極層112aの間に電位差を与えると、静電引力により構造層116が基板111側に引き寄せられ、上部スイッチ電極層114b及び下部スイッチ電極層114aが接触することでスイッチとして機能する。
図1では、構造層116は両端が基板111に固定された両持ち梁構造を有しているが、片方の端が基板に固定された片持ち梁構造でもよい。また、図1のMEMSスイッチは上部及び下部の駆動電極層が2つずつあり、それら駆動電極層の間にスイッチ電極層が形成されている構成を示しているが、1つのスイッチに駆動電極層が2つある必要はなく、1つでもよく3つ以上でも良い。
下部駆動電極層112aおよび下部スイッチ電極層114aは基板111の表面に形成されており、これらをまとめて下部電極層121と記載する場合がある。同様に上部駆動電極層112bおよび上部スイッチ電極層114bは構造層116の基板111に向かう面に形成されており、これらをまとめて上部電極層122と記載する場合がある。さらに、上部駆動電極層112bおよび下部駆動電極層112aをまとめて駆動電極層112(または引き下げ電極層)とし、上部スイッチ電極層114bおよび下部スイッチ電極層114aをまとめてスイッチ電極層114(または接触電極層、接点電極層)と呼ぶ場合がある。
またスイッチを駆動させる際、上部スイッチ電極層114b及び下部スイッチ電極層114aが先に接触するように、下部駆動電極層112aよりも下部スイッチ電極層114aを厚く形成する。
これは、上部駆動電極層112b及び下部駆動電極層112aの間に、電圧が印加されると、その間に引力が働くため、上部駆動電極層112bと下部駆動電極層112aの間の距離と、上部スイッチ電極層114bと下部スイッチ電極層114aの間の距離が同じであれば、上部駆動電極層112bと下部駆動電極層112aの方が接触しやすくなるからである。
従って、ここでは図示しないが、上部スイッチ電極層114bを、下に出っ張るように厚く形成して、上部スイッチ電極層114bと下部スイッチ電極層114aとの間の距離を小さくしてもよい。
次に、微小電気機械スイッチの作製方法について、図2(A)〜図2(E)、図3(A)〜図3(C)、図4(A)〜図4(E)、図5(A)〜図5(B)を用いて説明する。
まず、図2(A)に示すように、基板111上に下部電極層121を形成する。
ここで、基板111はシリコン基板(半導体基板)、ガラス基板、金属基板などどのようなものを用いてもよく、表面に絶縁性を有する層を形成した基板を用いる。ただし、図2(A)では絶縁性を有する層は示していない。
その上に、図2(B)に示すように、犠牲層123を形成する。犠牲層123は、微小電気機械スイッチの空間部分を形成するために必要な部分に形成する。
そして、図2(C)に示すように、犠牲層123の上に上部電極層122を形成する。
そして、図2(D)に示すように、犠牲層123と上部電極層122の上に構造層116を形成する。構造層116は、絶縁性を有する材料をCVD法によって形成するため、犠牲層123によってできている大きな段差に丸みを帯びさせることができる。構造層116は、例えば、絶縁性を有する層を用いて形成してもよく、具体的には、窒素を含む酸化珪素膜、または酸素を含む窒化珪素膜のうちいずれか一方、またはそれらの積層で形成してもよい。
次に、図2(E)に示すように、構造層116にコンタクトホールを形成する。このコンタクトホールは、上部電極層122が存在する部分にのみ開口し、犠牲層123がむき出しになるようなことはない。そして、コンタクトホールを介して上部駆動電極層112bに電気的に接続する配線層124a及び配線層124bを形成する。配線層124a及び配線層124bは、例えばアルミニウムのような柔らかい金属を用いて厚めに形成する。配線層124a及び配線層124bの材料として、このような柔らかい金属を用いると、犠牲層123や構造層116のために生じた大きな段差を乗り越える際に、断線が生じるのを防ぐことができる。
そして、図3(A)に示すように、構造層116の形状を作成し、かつ犠牲層123のエッチングの際のエッチャントの導入孔125を形成するように構造層116を加工する。構造層116の形状は、断面から見れば図3(A)に示されるように構造層116と上部電極層122とを貫通する穴であるが、上面から見れば、図3(C)に示すようなスイッチの形状になる。図3(C)の形状は両持ち梁構造の一例であり、これに限定されることはない。
最後に、図3(B)に示すように、エッチングにより犠牲層123を取り除き、そこを空間部分115にすることによってMEMSスイッチが完成する。
上記作製方法によって形成される構造層116、犠牲層123、上部電極層122、下部電極層121等の各層の材料は、各層に要求される性質を備え、さらに他の層との関係を考慮して決定される。
例えば、構造層116は絶縁性を有する材料でなければならない。しかし、絶縁性を有する層なら何を使用してもよいわけではなく、犠牲層123をエッチング時にはエッチング材に暴露するため、そのエッチング材で除去されないという条件を考慮する必要がある。さらに、そのエッチング材は、犠牲層123の材料によって決定される。
具体的には、例えば犠牲層123をシリコンで形成する場合、エッチング材にはリン酸、水酸化カリウム、水酸化ナトリウム、水酸化セシウム等アルカリ金属の水酸化物、水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)溶液などを使用することができる。そして、これらのエッチング材を使用しても除去されない材料(かつ、絶縁性を有する材料)を構造層116に使用しなければならず、その例として酸化シリコンが挙げられる。
さらに、犠牲層123をエッチングする時には、上下の電極層もエッチング材に暴露するため、上部電極層122及び下部電極層121は導電性を有し、さらに犠牲層123をエッチング時のエッチング材に除去されないという条件を考慮して決定される。
本実施の形態では、例えば、構造層116を酸化シリコン、犠牲層123をタングステン(またはポリイミド)、上部電極層122及び下部電極層121はタンタル、アルミニウム、チタン、金、白金等の金属で形成することができる。そして、犠牲層123をタングステンで形成した場合、犠牲層123のエッチングはアンモニア過水(28w%のアンモニアと31w%の過酸化水素水を1:2で混合した溶液)によるウエットエッチング、または3フッ化塩素ガスによるドライエッチングで行うことができる。また、犠牲層123をポリイミドで形成した場合、市販のポリイミドエッチング液によるウエットエッチング、または酸素プラズマによるドライエッチングにより犠牲層123のエッチングを行うことができる。
次に、上部電極層122と下部電極層121との大きさの関係とスイッチの構造について説明する。図4は、MEMSスイッチの一部をとってその作製プロセスを示している。ただし、ここでは構造層116が基板111に固定されている部分は示されていない。
まず、図4(A)に示すように、基板201上に、電極層202a及び電極層203aを含む下部電極層221を形成し、その上に犠牲層204を形成する。その上に、電極層202b及び電極層203bを含む上部電極層222となる導電層205を形成する。そして、導電層205を上部電極層222の形状にするために、導電層205上にフォトレジストを成膜してフォトリソグラフィ法によりレジストマスク206a及びレジストマスク206bを形成する。
そして、図4(B)に示すように、導電層205をレジストマスク206a及びレジストマスク206bの形状にエッチングする。このエッチングはドライエッチングおよびウエットエッチングのどちらを用いてもよいが、複数の上部電極層222は、各々が完全に分離されている必要がある。これは、上部電極層222には駆動電極層とスイッチ電極層とがあり、駆動電極層には高い電圧が印加され、スイッチ電極層には信号が流れ、これらを完全に絶縁する必要があるためである。したがって、導電層205のエッチングは、導電層205の厚さをエッチングするのに必要な基準エッチング時間よりもさらに長い時間エッチングする必要がある。
そして、導電層205をオーバーエッチングすると、その下にある犠牲層204も少なからずエッチングされてしまう。このとき犠牲層204がエッチングされる量は、導電層205のエッチング材や、エッチングの条件(温度やガスの流量など)に影響されるが、どのように選択比が高い条件を用いても、犠牲層204が全くエッチングされない条件というのは考えがたい。
その理由の1つに、犠牲層204は、導電性を有する材料、または容易にエッチングで除去しやすい材料を用いて形成することが望ましいからである。
MEMSスイッチは、構造上、犠牲層204を完全に除去することによって上部スイッチ電極層と下部スイッチ電極層とが接触することができる。したがって、スイッチ電極層の表面に少しでも犠牲層204が残っていればスイッチは導通しなくなる。それを回避するためには、容易に除去できる材料を用いて犠牲層204を形成し、エッチング時には完全に除去できるようにするか、または導電性を有する材料を用いてエッチング時に完全に除去できなくても導通障害が生じないように形成するのがよい。
前者の、容易に除去できる材料にはレジストやポリイミドが挙げられるが、これらは、どのようなエッチング材にもエッチングされやすい性質を有し、導電層205エッチング時に導電層205と犠牲層204との選択比を高く取ることは非常に難しくなる。
後者の導電性を有する材料には、金属や不純物を添加した半導体などが挙げられる。しかし、上部電極層222も導電性を有している必要があり、導電性を有する材料は似たようなエッチング材で除去できることが多く、これもまた、導電層205と犠牲層204との選択比を高く取ることは非常に難しくなる。
例えば、犠牲層204をタングステンで形成、導電層205をアルミニウムとチタンとの積層(アルミニウム300nmの上にチタン100nm)で形成し、導電層205を3塩化ホウ素(BCl)と塩素(Cl)との混合ガスを用いてドライエッチングを行う場合について説明する。この場合、導電層205をエッチングする条件が、IPC電力450W、バイアス電力100W、3塩化ホウ素流量60sccm、塩素流量20sccm、チャンバー内圧力1.9Paで、導電層205の基準エッチング時間は150秒である。そして、その基準エッチング時間に対して100%のオーバーエッチングを行えば(つまり、基準時間の2倍のエッチングを行えば)、犠牲層204のタングステンは100nm程度エッチングされる。
もちろん、通常のエッチングにおいてはオーバーエッチングは少ない方が好ましいのであるが、この導電層205の加工のように完全に絶縁しなければならないような場合にはオーバーエッチング時間を長く設定する。そして、この完全な絶縁をねらった場合のオーバーエッチング時間は、導電層205を形成している材料によって大きく異なるが、必要な基準エッチング時間の10〜250%程度であり(すなわち、基準時間の1.1倍〜3.5倍、またあるいはエッチング時間が基準時間より10〜250%程度長い)、好ましくは50〜200%(すなわち、基準時間の1.5倍〜3倍、またあるいはエッチング時間が基準時間より50〜200%程度長い)、最も好ましくは90〜110%(すなわち基準時間の1.9倍〜2.1倍、またあるいはエッチング時間が基準時間より90〜110%程度長い)である。
このように、導電層205をエッチングして上部電極層222を形成すると、図4(B)に示されるように、犠牲層204には、導電層205の加工時のオーバーエッチングによる段差208a、段差208b、段差208cが生じる。
その上に、図4(C)に示すように構造層209を形成し、エッチングにより犠牲層204を除去すると、図4(D)に示すように、構造層209の基板201側の表面は、上部電極層222の(基板201側の)表面よりも出っ張ることになる。これは、上部電極層222を加工する際に生じた犠牲層204の段差208a、段差208b、段差208cが、構造層209に反映された出っ張りである。この出っ張りを出っ張り211a、出っ張り211b、出っ張り211cとする。
ここで、基板201の表面から上の方向を正の方向とすれば、構造層209の出っ張り211a、出っ張り211b、出っ張り211cは負の方向に出っ張っていることになる。すなわち、構造層209の基板201側の表面の方が、上部電極層222の基板201側の表面よりも基板201に近いと言うこともできる。
このように作製したMEMSスイッチを駆動させようとした場合、図4(E)に示すように、構造層209の出っ張り211a、出っ張り211b、出っ張り211cが下部電極層221と接触し、上部の電極層202bと下部の電極層202a、並びに、上部の電極層203b及び下部の電極層203aとが接触することができず、スイッチとして機能できない。
しかし、上記したように、構造層209の出っ張り211a、出っ張り211b、出っ張り211cをプロセス的に回避することは非常に難しい。したがって、出っ張り211a、出っ張り211b、出っ張り211cをなくすことができないのであれば、出っ張り211a、出っ張り211b、出っ張り211cがあってもスイッチとして機能するような構造にする必要がある。そのためには、図5(A)〜図5(B)に示すように、上部電極層222を下部電極層221よりも大きくすればよい。
このように、上部電極層222を大きくすれば、構造層209の出っ張り211a、出っ張り211b、出っ張り211cがあったとしても、それが下部電極層221と基板201とでできる段差の間に入るので、上部電極層222と下部電極層221との接触を阻害することがない。
したがって、微小電気機械スイッチ(MEMSスイッチ)において、スイッチ電極層のように、上部電極層と下部電極層とが接触する必要がある場合には、上部電極層を下部電極層よりも大きな面積になるように構造を決定する。
大きな面積にするとは、例えば上部電極層や下部電極層が正方形や長方形である場合、各辺とも下部電極層より上部電極層の方が辺が長く、円形であれば下部電極層より上部電極層の方が半径が長くする。つまり、上部電極層と下部電極層とを重ね合わせた場合、上部電極層が下部電極層を完全に包含する形状にすることである。これは、上部電極層の形状を決める辺と下部電極層の辺とが重ならず、常に上部電極層の辺が下部電極層の辺よりも外側にあるということもできる。ただし、上下電極層の引き回し配線部分が考慮できない場合は、そこは除外することもできる。
また、上部電極層が向かい合う下部電極層より大きくても、向かい合う下部電極層と隣接する下部電極層にまで重なる程大きくすることはできない。そのようにすれば、構造層の出っ張り部分が下部電極層に接触してしまい、上部電極層と下部電極層が接触するのを阻害してしまう。また、MEMSスイッチでは上部電極層と下部電極層は対にして形成するため、一つの上部電極層が向かい合う下部電極層と隣接する他の下部電極層にまで重なる程大きくすることはできない。
スイッチ電極層とが接触しなければならないので、本発明の微小電気機械スイッチ(MEMSスイッチ)は上部のスイッチ電極層は下部のスイッチ電極層よりも大きくすることを特徴とする。
[実施の形態2]
本実施の形態を、図6(A)〜図6(B)を用いて説明する。
実施の形態1ではスイッチ電極層について説明したが、本実施の形態では駆動電極層について説明する。
微小電気機械スイッチ(MEMSスイッチ)がスイッチとして機能するためには、上部スイッチ電極層及び下部スイッチ電極層が良好に接触する必要がある。しかし、上部駆動電極層及び下部駆動電極層は接触させない。上部駆動電極層及び下部駆動電極層には高い電位差を与えるために、接触すれば大きな電流が流れてしまい、スイッチの駆動に非常に大きな電力を消費してしまう。また、上部駆動電極層及び下部駆動電極層に電流が流れると、放電による微小な溶接が起こり、上下駆動電極層のスティッキングが生じてしまう。
上下駆動電極層のスティッキングを回避するためには、駆動電極層の表面、すなわち上面あるいは下面のどちらか一方、または両方、に絶縁層を形成してもよいが、後述の理由のため好ましくない。すなわち、駆動電極層の表面に絶縁層を形成した場合、スイッチを駆動させるためには、上部駆動電極層と下部駆動電極層に高い電圧を印加するため、駆動電極層上に形成された絶縁層が分極することや電荷がトラップされることにより、結局は駆動電極層がスティッキングを起こしてしまうためである。
したがって、上部駆動電極層及び下部駆動電極層の接触を回避するためには、構造層の可動領域を制限するストッパ(バンパー、バンプとも記載)を形成すればよい。しかし、このストッパを形成するためには、更にフォトマスクと作製工程を追加しなければならない。
しかしながら、本実施の形態では、実施の形態1において図4(E)で説明したように、上部電極層222と下部電極層221の接触を阻害する構造層209の出っ張り211a、出っ張り211b、出っ張り211cを利用することで、フォトマスクおよび工程の追加なしにストッパを形成することができる。
微小電気機械スイッチの具体的な構造の例を図6(A)〜図6(B)に示す。図6(A)は、上部駆動電極層402bと下部駆動電極層402aに電圧がかかっていない状態の断面図、図6(B)は、上部駆動電極層402bと下部駆動電極層402aに電圧がかかっている状態の断面図である。
図6(A)〜図6(B)に示す微小電気機械スイッチは、基板401、構造層409、上部電極層422、下部電極層421を有している。また上部電極層422は、上部駆動電極層402b及び上部スイッチ電極層404bを有しており、下部電極層421は、下部駆動電極層402a及び下部スイッチ電極層404aを有している。
基板401と構造層409との間には、空間部分415が存在している。また上部電極層422の周囲は、構造層409の出っ張り411a、出っ張り411b、出っ張り411c、出っ張り411dが存在する。
本実施の形態の微小電気機械スイッチは、上部駆動電極層402bを下部駆動電極層402aよりも小さくすることを特徴とする。また、上部スイッチ電極層404bと下部スイッチ電極層404aに関してはそれらの接触が良好に行われるように、実施の形態1と同様、上部スイッチ電極層404bを下部スイッチ電極層404aよりも大きくする。
上部駆動電極層402bが下部駆動電極層402aよりも小さければ、図6(B)に示すように、上部電極層422の周囲にできる構造層409の出っ張り411a、出っ張り411b、出っ張り411c、出っ張り411dにより、上部駆動電極層402b及び下部駆動電極層402aの間に、空間部分ができることにより、上部駆動電極層402b及び下部駆動電極層402aの接触が妨げられる。
このような構成を有するMEMSスイッチは、上部電極層422の形状を決めるフォトマスクのデザインと、実施の形態1で説明した方法により作製することができる。上部電極層422形成のフォトマスクはストッパの有無にかかわらず必要であるため、本発明はフォトマスクおよび工程の追加なしに、上部駆動電極層402bと下部駆動電極層402aの接触を抑制するストッパを有するMEMSスイッチを作製することができる。
本実施例では、実施の形態1及び実施の形態2で説明したように、スイッチの上下駆動電極層が接触するのを妨げるストッパを形成し、かつ上部スイッチ電極層と下部スイッチ電極層とが接触するスイッチを作製した結果について説明する。
スイッチの作製方法は、実施の形態1及び実施の形態2で説明した通りである。まず、基板上に下地層を形成し、下地層上に下部電極層を形成する。次に、下部電極層を覆うように犠牲層を形成し、犠牲層上に上部電極層を形成する。ここで、下地層、下部電極層、および犠牲層は、要求される性質を有する層を任意の厚さで形成し、フォトリソグラフィ法およびエッチングにより加工すればよい。
本実施例では、ガラス基板を用い、下地層として酸素を含む窒化珪素膜を300nm形成し、下部電極層としてはアルミニウム膜を300nmの膜厚で、チタン膜を100nmの膜厚で積層させたものを用いて形成する。アルミニウム膜の上にチタン膜を積層させるのは、アルミニウム膜のみでは高い温度に耐えられないためである。次に、犠牲層としてタングステン膜を2μm成膜したものを用いて形成する。
そして、上部電極層は下部電極層と同様、アルミニウム膜を300nmの膜厚で、チタン膜を100nmの膜厚で積層したものを用いて形成する。本実施例において導電層は、3塩化ホウ素(BCl)と塩素(Cl)との混合ガスを用いてドライエッチングによりエッチングされる。導電層をエッチングする条件は、IPC電力450W、バイアス電力100W、3塩化ホウ素流量60sccm、塩素流量20sccm、チャンバ内圧力1.9Paで、導電層の基準エッチング時間は150秒である。そして、その基準エッチング時間に対して100%のオーバーエッチングを行う。その結果、上部電極層の下にある犠牲層を厚さ100nm程度オーバーエッチングすることになる。
次に、犠牲層と上部電極層を覆うように構造層を形成し、構造層にコンタクトホールをあけて、配線層を形成する。そして、構造層を加工し、犠牲層をエッチングすることでMEMSスイッチが完成する。ここで、構造層および配線層は他の層と同様に、および犠牲層は、要求される性質を有する層を任意の厚さで形成し、フォトリソグラフィ法およびエッチングにより加工すればよい。
本実施例では、構造層は酸素を含む窒化珪素膜を3μmの膜厚で成膜し、配線層はアルミニウム膜を300nmの膜厚で、チタン膜を100nmの膜厚で積層させ、加工する。そして、犠牲層のエッチングは、3フッ化塩素のガスを用いて常温、常圧でドライエッチングにて行う。
このように作製したMEMSスイッチのSEM(走査型電子顕微鏡)像を図7(A)及び図7(B)に示す。図7(A)は作製したMEMSスイッチの斜め上方からみた像であり、図7(B)はMEMSスイッチの上部電極層端部を拡大した像である。図7(B)から、上部電極層のエッチングによって犠牲層がエッチングされ、それを反映して構造層に出っ張りが形成されていることが分かる。
ここで、本発明では、上部スイッチ電極層の面積を下部スイッチ電極層の面積よりも大きくし、かつ、上部駆動電極層の面積を下部駆動電極層の面積よりも小さくすることで、上部スイッチ電極層と下部スイッチ電極層の接触が妨げられるのを防ぐことができ、上部の駆動電極層と下部駆動電極層が接触するのを妨げるストッパを設けることができる。
そして、上記の工程で作成したMEMSスイッチの上部駆動電極層と下部駆動電極層に電圧を印加すると、上部スイッチ電極層及び下部スイッチ電極層は接触するが、上部駆動電極層及び下部駆動電極層は接触しないことが確認できる。
本発明のMEMSスイッチの断面図。 本発明のMEMSスイッチの作製工程を示す断面図。 本発明のMEMSスイッチの作製工程を示す断面図。 本発明のMEMSスイッチの作製工程を示す断面図。 本発明のMEMSスイッチの作製工程を示す断面図。 本発明のMEMSスイッチの断面図。 本発明のMEMSスイッチのSEM像。
符号の説明
111 基板
112 駆動電極層
112a 下部駆動電極層
112b 上部駆動電極層
114 スイッチ電極層
114a 下部スイッチ電極層
114b 上部スイッチ電極層
115 空間部分
116 構造層
121 下部電極層
122 上部電極層
123 犠牲層
124a 配線層
124b 配線層
125 導入孔
201 基板
202a 電極層
202b 電極層
203a 電極層
203b 電極層
204 犠牲層
205 導電層
206a レジストマスク
206b レジストマスク
208a 段差
208b 段差
208c 段差
209 構造層
211a 出っ張り
211b 出っ張り
211c 出っ張り
221 下部電極層
222 上部電極層
401 基板
402a 下部駆動電極層
402b 上部駆動電極層
404a 下部スイッチ電極層
404b 上部スイッチ電極層
409 構造層
411a 出っ張り
411b 出っ張り
411c 出っ張り
411d 出っ張り
415 空間部分
421 下部電極層
422 上部電極層

Claims (4)

  1. 基板上に下部スイッチ電極層を有し、
    前記基板上に第1の下部駆動電極層を有し、
    前記下部スイッチ電極層上と前記第1の下部駆動電極層上とに空間部分を有し、
    前記空間部分上に上部スイッチ電極層を有し、
    前記空間部分上に第1の上部駆動電極層を有し、
    前記空間部分上と前記上部スイッチ電極層上と前記第1の上部駆動電極層上とに構造層を有し、
    前記構造層は、第1乃至第3の部分を有し、
    前記第1の部分の下部表面は、前記上部スイッチ電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第2の部分の下部表面は、前記上部スイッチ電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第3の部分の下部表面は、前記上部スイッチ電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第1の部分の下部表面は、前記第1の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第2の部分の下部表面は、前記第1の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第3の部分の下部表面は、前記第1の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第1の上部駆動電極層は、前記第1の部分と前記第2の部分との間に位置し、
    前記上部スイッチ電極層は、前記第2の部分と前記第3の部分との間に位置し、
    前記第1の部分は、前記第1の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第1の部分は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第2の部分は、前記第1の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第2の部分は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第3の部分は、前記第1の下部駆動電極層と重ならず、
    前記第3の部分は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第1の上部駆動電極層は、前記第1の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第1の上部駆動電極層は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記上部スイッチ電極層は、前記第1の下部駆動電極層と重ならず、
    前記上部スイッチ電極層は、前記下部スイッチ電極層と重なる領域を有し、
    前記下部スイッチ電極層の上部表面は、前記第1の下部駆動電極層の上部表面よりも出っ張っていることを特徴とする微小電気機械スイッチ。
  2. 基板上に下部スイッチ電極層を有し、
    前記基板上に第1の下部駆動電極層を有し、
    前記基板上に第2の下部駆動電極層を有し、
    前記下部スイッチ電極層上と前記第1の下部駆動電極層上と前記第2の下部駆動電極層上とに空間部分を有し、
    前記空間部分上に上部スイッチ電極層を有し、
    前記空間部分上に第1の上部駆動電極層を有し、
    前記空間部分上に第2の上部駆動電極層を有し、
    前記空間部分上と前記上部スイッチ電極層上と前記第1の上部駆動電極層上と前記第2の上部駆動電極層上とに構造層を有し、
    前記構造層は、第1乃至第4の部分を有し、
    前記第1の部分の下部表面は、前記上部スイッチ電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第2の部分の下部表面は、前記上部スイッチ電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第3の部分の下部表面は、前記上部スイッチ電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第4の部分の下部表面は、前記上部スイッチ電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第1の部分の下部表面は、前記第1の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第2の部分の下部表面は、前記第1の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第3の部分の下部表面は、前記第1の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第4の部分の下部表面は、前記第1の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第1の部分の下部表面は、前記第2の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第2の部分の下部表面は、前記第2の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第3の部分の下部表面は、前記第2の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第4の部分の下部表面は、前記第2の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第1の上部駆動電極層は、前記第1の部分と前記第2の部分との間に位置し、
    前記上部スイッチ電極層は、前記第2の部分と前記第3の部分との間に位置し、
    前記第2の上部駆動電極層は、前記第3の部分と前記第4の部分との間に位置し、
    前記第1の部分は、前記第1の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第1の部分は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第1の部分は、前記第2の下部駆動電極層と重ならず、
    前記第2の部分は、前記第1の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第2の部分は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第2の部分は、前記第2の下部駆動電極層と重ならず、
    前記第3の部分は、前記第1の下部駆動電極層と重ならず、
    前記第3の部分は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第3の部分は、前記第2の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第4の部分は、前記第1の下部駆動電極層と重ならず、
    前記第4の部分は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第4の部分は、前記第2の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第1の上部駆動電極層は、前記第1の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第1の上部駆動電極層は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第1の上部駆動電極層は、前記第2の下部駆動電極層と重ならず、
    前記上部スイッチ電極層は、前記第1の下部駆動電極層と重ならず、
    前記上部スイッチ電極層は、前記下部スイッチ電極層と重なる領域を有し、
    前記上部スイッチ電極層は、前記第2の下部駆動電極層と重ならず、
    前記第2の上部駆動電極層は、前記第1の下部駆動電極層と重ならず、
    前記第2の上部駆動電極層は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第2の上部駆動電極層は、前記第2の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記下部スイッチ電極層の上部表面は、前記第1の下部駆動電極層の上部表面よりも出っ張っており、
    前記下部スイッチ電極層の上部表面は、前記第2の下部駆動電極層の上部表面よりも出っ張っていることを特徴とする微小電気機械スイッチ。
  3. 基板上に下部スイッチ電極層を有し、
    前記基板上に第1の下部駆動電極層を有し、
    前記下部スイッチ電極層上と前記第1の下部駆動電極層上とに空間部分を有し、
    前記空間部分上に上部スイッチ電極層を有し、
    前記空間部分上に第1の上部駆動電極層を有し、
    前記空間部分上と前記上部スイッチ電極層上と前記第1の上部駆動電極層上とに構造層を有し、
    前記構造層は、第1乃至第3の部分を有し、
    前記第1の部分の下部表面は、前記上部スイッチ電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第2の部分の下部表面は、前記上部スイッチ電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第3の部分の下部表面は、前記上部スイッチ電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第1の部分の下部表面は、前記第1の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第2の部分の下部表面は、前記第1の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第3の部分の下部表面は、前記第1の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第1の上部駆動電極層は、前記第1の部分と前記第2の部分との間に位置し、
    前記上部スイッチ電極層は、前記第2の部分と前記第3の部分との間に位置し、
    前記第1の部分は、前記第1の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第1の部分は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第2の部分は、前記第1の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第2の部分は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第3の部分は、前記第1の下部駆動電極層と重ならず、
    前記第3の部分は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第1の上部駆動電極層は、前記第1の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第1の上部駆動電極層は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記上部スイッチ電極層は、前記第1の下部駆動電極層と重ならず、
    前記上部スイッチ電極層は、前記下部スイッチ電極層と重なる領域を有し、
    前記下部スイッチ電極層の上部表面は、前記第1の下部駆動電極層の上部表面よりも出っ張っている微小電気機械スイッチの作製方法であって、
    前記基板上に、前記下部スイッチ電極層と前記第1の下部駆動電極層とを形成する第1の工程と、
    前記下部スイッチ電極層上と前記第1の下部駆動電極層上とに犠牲層を形成する第2の工程と、
    前記犠牲層上に、導電層を形成する第3の工程と、
    前記導電層をエッチングして前記上部スイッチ電極層と前記第1の上部駆動電極層とを形成し、オーバーエッチングを行うことにより前記犠牲層に第1乃至第3の段差部分を形成する第4の工程と、
    前記上部スイッチ電極層上と前記第1の上部駆動電極層上と前記第1乃至第3の段差部分上とに前記構造層を形成する第5の工程と、
    前記犠牲層を除去する第6の工程と、を有し、
    前記第5の工程において、前記第1の段差部分と重なる箇所に前記第1の部分が形成され、
    前記第5の工程において、前記第2の段差部分と重なる箇所に前記第2の部分が形成され、
    前記第5の工程において、前記第3の段差部分と重なる箇所に前記第3の部分が形成されることを特徴とする微小電気機械スイッチの作製方法。
  4. 基板上に下部スイッチ電極層を有し、
    前記基板上に第1の下部駆動電極層を有し、
    前記基板上に第2の下部駆動電極層を有し、
    前記下部スイッチ電極層上と前記第1の下部駆動電極層上と前記第2の下部駆動電極層上とに空間部分を有し、
    前記空間部分上に上部スイッチ電極層を有し、
    前記空間部分上に第1の上部駆動電極層を有し、
    前記空間部分上に第2の上部駆動電極層を有し、
    前記空間部分上と前記上部スイッチ電極層上と前記第1の上部駆動電極層上と前記第2の上部駆動電極層上とに構造層を有し、
    前記構造層は、第1乃至第4の部分を有し、
    前記第1の部分の下部表面は、前記上部スイッチ電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第2の部分の下部表面は、前記上部スイッチ電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第3の部分の下部表面は、前記上部スイッチ電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第4の部分の下部表面は、前記上部スイッチ電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第1の部分の下部表面は、前記第1の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第2の部分の下部表面は、前記第1の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第3の部分の下部表面は、前記第1の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第4の部分の下部表面は、前記第1の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第1の部分の下部表面は、前記第2の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第2の部分の下部表面は、前記第2の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第3の部分の下部表面は、前記第2の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第4の部分の下部表面は、前記第2の上部駆動電極層の下部表面よりも出っ張っており、
    前記第1の上部駆動電極層は、前記第1の部分と前記第2の部分との間に位置し、
    前記上部スイッチ電極層は、前記第2の部分と前記第3の部分との間に位置し、
    前記第2の上部駆動電極層は、前記第3の部分と前記第4の部分との間に位置し、
    前記第1の部分は、前記第1の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第1の部分は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第1の部分は、前記第2の下部駆動電極層と重ならず、
    前記第2の部分は、前記第1の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第2の部分は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第2の部分は、前記第2の下部駆動電極層と重ならず、
    前記第3の部分は、前記第1の下部駆動電極層と重ならず、
    前記第3の部分は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第3の部分は、前記第2の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第4の部分は、前記第1の下部駆動電極層と重ならず、
    前記第4の部分は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第4の部分は、前記第2の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第1の上部駆動電極層は、前記第1の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記第1の上部駆動電極層は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第1の上部駆動電極層は、前記第2の下部駆動電極層と重ならず、
    前記上部スイッチ電極層は、前記第1の下部駆動電極層と重ならず、
    前記上部スイッチ電極層は、前記下部スイッチ電極層と重なる領域を有し、
    前記上部スイッチ電極層は、前記第2の下部駆動電極層と重ならず、
    前記第2の上部駆動電極層は、前記第1の下部駆動電極層と重ならず、
    前記第2の上部駆動電極層は、前記下部スイッチ電極層と重ならず、
    前記第2の上部駆動電極層は、前記第2の下部駆動電極層と重なる領域を有し、
    前記下部スイッチ電極層の上部表面は、前記第1の下部駆動電極層の上部表面よりも出っ張っており、
    前記下部スイッチ電極層の上部表面は、前記第2の下部駆動電極層の上部表面よりも出っ張っている微小電気機械スイッチの作製方法であって、
    前記基板上に、前記下部スイッチ電極層と前記第1の下部駆動電極層と前記第2の下部駆動電極層とを形成する第1の工程と、
    前記下部スイッチ電極層上と前記第1の下部駆動電極層上と前記第2の下部駆動電極層上とに犠牲層を形成する第2の工程と、
    前記犠牲層上に、導電層を形成する第3の工程と、
    前記導電層をエッチングして前記上部スイッチ電極層と前記第1の上部駆動電極層と前記第2の上部駆動電極層とを形成し、オーバーエッチングを行うことにより前記犠牲層に第1乃至第4の段差部分を形成する第4の工程と、
    前記上部スイッチ電極層上と前記第1の上部駆動電極層上と前記第2の上部駆動電極層上と前記第1乃至第4の段差部分上とに前記構造層を形成する第5の工程と、
    前記犠牲層を除去する第6の工程と、を有し、
    前記第5の工程において、前記第1の段差部分と重なる箇所に前記第1の部分が形成され、
    前記第5の工程において、前記第2の段差部分と重なる箇所に前記第2の部分が形成され、
    前記第5の工程において、前記第3の段差部分と重なる箇所に前記第3の部分が形成され、
    前記第5の工程において、前記第4の段差部分と重なる箇所に前記第4の部分が形成されることを特徴とする微小電気機械スイッチの作製方法。
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