JP5182298B2 - Electronic component soldering method - Google Patents

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Description

本発明は、下面に接続用の端子が設けられた電子部品を基板に半田付けにより実装する電子部品の半田付け方法に関するものである。   The present invention relates to an electronic component soldering method in which an electronic component having a connection terminal provided on a lower surface is mounted on a substrate by soldering.

電子部品を基板に実装する方法として、半田付けによる方法が広く用いられており、電子部品に設けられたバンプなどの接続用端子を基板の電極に半田付けすることにより、電子部品は基板と電気的に導通するとともに、実装後の電子部品は半田接合部によって基板に保持される。半田付けに際しては、半田接合性を改善するために、接続用端子の金属表面に生成した酸化膜を除去する活性作用を有するフラックスが予め供給される。このような機能を有するフラックスとして、エポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂に活性成分や硬化剤を含有させた熱硬化性フラックスが知られている(例えば特許文献1,2参照)。   As a method for mounting an electronic component on a substrate, a soldering method is widely used. By soldering a connection terminal such as a bump provided on the electronic component to an electrode of the substrate, the electronic component is electrically connected to the substrate. The electronic component after mounting is held on the substrate by a solder joint. At the time of soldering, in order to improve solder jointability, a flux having an active action for removing an oxide film formed on the metal surface of the connection terminal is supplied in advance. As a flux having such a function, a thermosetting flux in which an active component or a curing agent is contained in a thermosetting resin such as an epoxy resin is known (see, for example, Patent Documents 1 and 2).

このような構成のフラックスを用いることにより、半田接合過程における加熱によって、熱硬化性樹脂が活性成分を閉じこめた状態で硬化することから、半田接合後に残留する活性成分を除去する目的で従来は必要とされていたフラックス洗浄工程を省略することができ、さらに硬化後の熱硬化性樹脂が半田接合部を周囲から補強する樹脂補強部として機能するという利点を有している。   By using a flux with such a configuration, the thermosetting resin is cured in a state where the active component is confined by heating in the soldering process, so it is conventionally necessary to remove the active component remaining after soldering. The flux cleaning step, which is supposed to be performed, can be omitted, and the cured thermosetting resin has an advantage of functioning as a resin reinforcing portion that reinforces the solder joint portion from the periphery.

特開2001−246498号公報JP 2001-246498 A 特開2004−174574号公報JP 2004-174574 A

しかしながら上述の特許文献例に示す熱硬化性フラックスには、その成分組成に起因して以下のような問題点があった。すなわち、これらの先行技術例においては、いずれも熱硬化性樹脂に活性成分や硬化剤を予め配合した1液型であることから、半田接合に使用される前の保存期間中においても樹脂の硬化反応が徐々に進行して増粘し、実際の半田接合のために供給された時点において適正な粘度を超える場合がある。特に熱硬化性フラックス中に、Sn系の半田粒子など樹脂の硬化反応に際して触媒として作用する性質を有する成分がフィラーとして含有されている場合には、この増粘の程度はさらに顕著となる。   However, the thermosetting flux shown in the above-mentioned patent document example has the following problems due to its component composition. That is, in these prior art examples, since each is a one-component type in which an active ingredient and a curing agent are pre-blended with a thermosetting resin, the resin is cured even during a storage period before being used for solder bonding. In some cases, the reaction proceeds gradually and thickens, and exceeds the proper viscosity when supplied for actual solder bonding. In particular, when the thermosetting flux contains, as a filler, a component having a property of acting as a catalyst at the time of resin curing reaction, such as Sn-based solder particles, the degree of thickening becomes even more remarkable.

このため、熱硬化性フラックスの流動性が不足して半田接合面を完全に覆うことができず、フラックス中の活性成分の作用が半田接合面に十分に及ばないため酸化膜の除去が妨げられていた。また増粘した熱硬化性フラックスによって溶融した半田の流動が妨げられ、良好な形状の半田接合部の形成を困難にする結果となっていた。このように、従来の熱硬化性フラックスを用いた電子部品の半田付けにおいては、熱硬化性フラックスの保存安定性の不良に起因して、半田接合性を向上させるための半田酸化膜の除去能力を確保することが難しいという問題があった。   For this reason, the fluidity of the thermosetting flux is insufficient, so that the solder joint surface cannot be completely covered, and the action of the active component in the flux does not sufficiently reach the solder joint surface, thereby preventing the removal of the oxide film. It was. In addition, the flow of the molten solder is hindered by the thickened thermosetting flux, which makes it difficult to form a solder joint having a good shape. Thus, in the soldering of electronic components using conventional thermosetting flux, the ability to remove the solder oxide film to improve solder jointability due to poor storage stability of thermosetting flux There was a problem that it was difficult to ensure.

そこで本発明は、電子部品を基板に半田付けによって実装するに際し、熱硬化性フラックスの保存安定性の不良原因を排除し、半田酸化膜の除去能力を確保することができる電子部品の半田付け方法を提供することを目的とする。   Accordingly, the present invention provides a method for soldering an electronic component capable of eliminating the cause of poor storage stability of the thermosetting flux and securing the ability to remove the solder oxide film when the electronic component is mounted on the substrate by soldering. The purpose is to provide.

請求項1に記載の本発明の電子部品の半田付け方法は、エポキシ樹脂を主成分とする第1接合材および少なくとも前記エポキシ樹脂を硬化させる硬化作用を有する活性剤と半田粒子とを含む第2接合材を用い、電子部品に形成された接続用の端子を基板に形成された接続用の電極に半田付けする電子部品の半田付け方法であって、前記電極に前記第1接合材または第2接合材のいずれかを供給する電極接合材供給工程と、前記第1接合材および第2接合材のうち、前記電極接合材供給工程において供給されなかった接合材を前記端子に供給する端子接合材供給工程と、前記電極接合材供給工程後の基板に前記端子接合材供給工程後の電子部品を搭載し、前記電極に前記端子を着地させて前記第1接合材と第2接合材とを接触させて混合する搭載工程と、前記搭載工程後の基板および電子部品を加熱することにより、前記電極に前記端子を半田接合するとともに、前記エポキシ樹脂を熱硬化させる加熱工程とを含む。   According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for soldering an electronic component comprising: a first bonding material mainly composed of an epoxy resin; an activator having at least a curing action for curing the epoxy resin; and a solder particle. A method for soldering an electronic component using a bonding material and soldering a connection terminal formed on the electronic component to a connection electrode formed on a substrate, wherein the first bonding material or the second bonding is applied to the electrode. An electrode bonding material supply step for supplying any of the bonding materials, and a terminal bonding material for supplying, to the terminal, a bonding material that has not been supplied in the electrode bonding material supply step among the first bonding material and the second bonding material. An electronic component after the terminal bonding material supplying step is mounted on the substrate after the supplying step and the electrode bonding material supplying step, and the terminal is landed on the electrode to contact the first bonding material and the second bonding material. Tower to mix A step, by heating the substrate and the electronic component after the mounting step, the terminal as well as soldered to the electrodes, and a heating step of the epoxy resin is thermally cured.

請求項2に記載の本発明の電子部品の半田付け方法は、半田粒子を混合したビヒクルを主成分とする第1接合材および少なくともエポキシ樹脂とこのエポキシ樹脂を硬化させる硬化作用を有する活性剤とを含む第2接合材を用い、電子部品に形成された接続用の端子を基板に形成された接続用の電極に半田付けする電子部品の半田付け方法であって、前記電極に前記第1接合材または第2接合材のいずれかを供給する電極接合材供給工程と、前記第1接合材および第2接合材のうち、前記電極接合材供給工程において供給されなかった接合材を前記端子に供給する端子接合材供給工程と、前記電極接合材供給工程後の基板に前記端子接合材供給工程後の電子部品を搭載し、前記電極に前記端子を着地させて前記第1接合材と第2接合材とを接触させて混合する搭載工程と、前記搭載工程後の基板および電子部品を加熱することにより、前記電極に前記端子を半田接合するとともに、前記エポキシ樹脂を熱硬化させる加熱工程とを含む。   According to a second aspect of the present invention, there is provided a method of soldering an electronic component according to the present invention, comprising: a first bonding material mainly composed of a vehicle mixed with solder particles; and at least an epoxy resin and an activator having a curing action for curing the epoxy resin; A method of soldering an electronic component using a second bonding material including a solder and soldering a connection terminal formed on the electronic component to a connection electrode formed on a substrate, wherein the first bonding is performed on the electrode. An electrode bonding material supply step for supplying either a material or a second bonding material, and a bonding material that is not supplied in the electrode bonding material supply step among the first bonding material and the second bonding material is supplied to the terminal A terminal bonding material supplying step, and an electronic component after the terminal bonding material supplying step is mounted on the substrate after the electrode bonding material supplying step, and the terminal is landed on the electrode to bond the first bonding material and the second bonding material. Contact material A mounting step of mixing by, by heating the substrate and the electronic component after the mounting step, the terminal as well as soldered to the electrodes, and a heating step of the epoxy resin is thermally cured.

請求項3に記載の本発明の電子部品の半田付け方法は、エポキシ樹脂を主成分とする第1接合材および少なくとも活性剤と半田粒子とを含む第2接合材を用い、電子部品に形成された接続用の端子を基板に形成された接続用の電極に半田付けする電子部品の半田付け方法であって、前記第1接合材およびまたは第2接合材は前記エポキシ樹脂を硬化させる硬化剤を含み、前記電極に前記第1接合材または第2接合材のいずれかを供給する電極接合材供給工程と、前記第1接合材および第2接合材のうち、前記電極接合材供給工程において供給されなかった接合材を前記端子に供給する端子接合材供給工程と、前記電極接合材供給工程後の基板に前記端子接合材供給工程後の電子部品を搭載し、前記電極に前記端子を着地させて前記第1接合材と第2接合材とを接触させて混合する搭載工程と、前記搭載工程後の基板および電子部品を加熱することにより、前記電極に前記端子を半田接合するとともに、前記エポキシ樹脂を熱硬化させる加熱工程とを含む。   According to a third aspect of the present invention, there is provided a method for soldering an electronic component using a first bonding material mainly composed of an epoxy resin and a second bonding material containing at least an activator and solder particles. A method of soldering an electronic component in which a connection terminal is soldered to a connection electrode formed on a substrate, wherein the first bonding material and / or the second bonding material is a curing agent that cures the epoxy resin. An electrode bonding material supply step of supplying either the first bonding material or the second bonding material to the electrode, and the electrode bonding material supply step of the first bonding material and the second bonding material. A terminal bonding material supply step for supplying the bonding material that has not been supplied to the terminal; and an electronic component after the terminal bonding material supply step is mounted on the substrate after the electrode bonding material supply step, and the terminal is landed on the electrode. The first bonding material A mounting step of bringing the second bonding material into contact with each other and a heating step of heating the substrate and the electronic component after the mounting step to solder-bond the terminals to the electrodes and to thermally cure the epoxy resin Including.

請求項4に記載の本発明の電子部品の半田付け方法は、半田粒子を混合したビヒクルを主成分とする第1接合材および少なくともエポキシ樹脂と活性剤とを含む第2接合材を用い、電子部品に形成された接続用の端子を基板に形成された接続用の電極に半田付けする電子部品の半田付け方法であって、前記第1接合材およびまたは第2接合材は前記エポキシ樹脂を硬化させる硬化剤を含み、前記電極に前記第1接合材または第2接合材のいずれかを供給する電極接合材供給工程と、前記第1接合材および第2接合材のうち、前記電極接合材供給工程において供給されなかった接合材を前記端子に供給する端子接合材供給工程と、前記電極接合材供給工程後の基板に前記端子接合材供給工程後の電子部品を搭載し、前記電極に前記端子を着地させて前記第1接合材と第2接合材とを接触させて混合する搭載工程と、前記搭載工程後の基板および電子部品を加熱することにより、前記電極に前記端子を半田接合するとともに、前記エポキシ樹脂を熱硬化させる加熱工程とを含む。   According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a method of soldering an electronic component using a first bonding material mainly composed of a vehicle mixed with solder particles and a second bonding material containing at least an epoxy resin and an activator. An electronic component soldering method for soldering a connection terminal formed on a component to a connection electrode formed on a substrate, wherein the first bonding material and / or the second bonding material cures the epoxy resin. An electrode bonding material supply step of supplying either the first bonding material or the second bonding material to the electrode, and among the first bonding material and the second bonding material, supplying the electrode bonding material A terminal bonding material supply step of supplying a bonding material not supplied in the step to the terminal; and an electronic component after the terminal bonding material supply step is mounted on the substrate after the electrode bonding material supply step, and the terminal is mounted on the electrode. Landed Mounting the step of bringing the first bonding material and the second bonding material into contact with each other and heating the substrate and the electronic component after the mounting step, thereby solder-bonding the terminal to the electrode, and the epoxy A heating step of thermosetting the resin.

本発明によれば、電子部品に形成された接続用の端子を基板に形成された接続用の電極に半田付けする電子部品の半田付けにおいて、端子または電極にそれぞれ個別に供給され半田接合過程において接触して混合される2種類の接合材の組み合わせを、エポキシ樹脂を主成分とする第1接合材および少なくともエポキシ樹脂を硬化させる硬化作用を有する活性剤と半田粒子とを含む第2接合材の組み合わせ、または半田粒子を混合したビヒクルを主成分とする第1接合材および少なくともエポキシ樹脂とこのエポキシ樹脂を硬化させる硬化作用を有する活性剤とを含む第2接合材の組み合わせとすることにより、活性作用を確保しつつエポキシ樹脂の硬化の進行を抑制することができ、熱硬化性フラックスの保存安定性の不良原因を排除して半田酸化膜の除去能力を確保することができる。   According to the present invention, in soldering an electronic component for soldering a connection terminal formed on the electronic component to a connection electrode formed on the substrate, the terminal or the electrode is individually supplied to the soldering process. A combination of two kinds of bonding materials mixed in contact with each other includes a first bonding material mainly composed of an epoxy resin and a second bonding material including an activator having at least a curing action for curing the epoxy resin and solder particles. A combination or a combination of a first bonding material mainly composed of a vehicle mixed with solder particles and a second bonding material containing at least an epoxy resin and an activator having a curing action for curing the epoxy resin, Can suppress the progress of curing of epoxy resin while ensuring the action, eliminating the cause of poor storage stability of thermosetting flux It is possible to ensure the ability to remove field oxide film.

本発明の一実施の形態の電子部品の半田付け方法に用いられる電子部品実装装置の構成説明図Structure explanatory drawing of the electronic component mounting apparatus used for the soldering method of the electronic component of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の電子部品の半田付け方法を示す工程説明図Process explanatory drawing which shows the soldering method of the electronic component of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の電子部品の半田付け方法を示す工程説明図Process explanatory drawing which shows the soldering method of the electronic component of one embodiment of this invention

次に本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。まず、本発明の電子部品の半田付け方法に用いられる電子部品実装装置1の構成について、図1を参照して説明する。図1において、電子部品実装装置1は、部品供給部2、接合材転写部5、基板保持部6、部品移載機構7、接合材塗布機構8より構成される。部品供給部2は、半田付けの対象となる電子部品3を所定の規則配列で平面収納する部品トレイ2aを備えている。電子部品3は、BGA(Ball Grid Array)など、下面に接続用の端子である半田バンプ3a(図2参照)が形成されたバンプ付の電子部品である。   Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. First, the configuration of an electronic component mounting apparatus 1 used in the electronic component soldering method of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 1, the electronic component mounting apparatus 1 includes a component supply unit 2, a bonding material transfer unit 5, a board holding unit 6, a component transfer mechanism 7, and a bonding material application mechanism 8. The component supply unit 2 includes a component tray 2a for storing the electronic components 3 to be soldered in a plane in a predetermined regular arrangement. The electronic component 3 is a bumped electronic component such as a BGA (Ball Grid Array) in which solder bumps 3a (see FIG. 2) as connection terminals are formed on the lower surface.

部品供給部2の側方には基台4の上面に位置して、接合材転写部5、基板保持部6が配設されている。接合材転写部5は平滑な底面の凹部を有する形状の転写ステージ11に端子接合材12を延展する構成となっている。転写ステージ11上でスキージ13を水平移動させることにより(矢印a)、転写ステージ11の底面には、端子接合材12の塗膜が形成される。基板保持部6は電子部品3が実装される対象の基板9を保持して位置決めする基板保持ステージ14を備えている。基板9の上面には接続用の電極9aが形成されており、電極9aには電子部品3の半田バンプ3aが半田付けされ、これにより電子部品3は基板9に実装される。   A bonding material transfer unit 5 and a substrate holding unit 6 are disposed on the side of the component supply unit 2 on the upper surface of the base 4. The bonding material transfer portion 5 is configured such that the terminal bonding material 12 is extended to a transfer stage 11 having a shape having a recess having a smooth bottom surface. By horizontally moving the squeegee 13 on the transfer stage 11 (arrow a), a coating film of the terminal bonding material 12 is formed on the bottom surface of the transfer stage 11. The substrate holding unit 6 includes a substrate holding stage 14 that holds and positions a substrate 9 on which the electronic component 3 is mounted. A connection electrode 9 a is formed on the upper surface of the substrate 9, and solder bumps 3 a of the electronic component 3 are soldered to the electrode 9 a, whereby the electronic component 3 is mounted on the substrate 9.

部品供給部2、接合材転写部5、基板保持部6の上方には、部品移載機構7および接合材塗布機構8が、水平方向および上下方向に移動自在に配設されている。部品移載機構7は下端部に吸着ノズル10aが装着された移載ヘッド10を備えており、移載ヘッド10による部品搭載動作においては、まず移載ヘッド10は吸着ノズル10aによって部品トレイ2aから電子部品3を吸着保持して取り出し(矢印b)、次いで半田バンプ3aへの端子接合材12の転写のため接合材転写部5へ移動する。そしてここで吸着ノズル10aを半田バンプ3aとともに転写ステージ11に対して昇降させる転写動作を行うことにより、半田バンプ3aの下面側には端子接合材12が転写により供給される。   Above the component supply unit 2, the bonding material transfer unit 5, and the substrate holding unit 6, a component transfer mechanism 7 and a bonding material application mechanism 8 are disposed so as to be movable in the horizontal direction and the vertical direction. The component transfer mechanism 7 includes a transfer head 10 having a suction nozzle 10a attached to the lower end thereof. In the component mounting operation by the transfer head 10, the transfer head 10 is first moved from the component tray 2a by the suction nozzle 10a. The electronic component 3 is sucked and held (arrow b), and then moved to the bonding material transfer portion 5 for transferring the terminal bonding material 12 to the solder bump 3a. Then, by performing a transfer operation in which the suction nozzle 10a is moved up and down with respect to the transfer stage 11 together with the solder bump 3a, the terminal bonding material 12 is supplied to the lower surface side of the solder bump 3a by transfer.

接合材塗布機構8は、電極接合材17を貯留するディスペンサ15と、ディスペンサ15から送給される電極接合材17を塗布ノズル16aから吐出させる塗布ヘッド16を備えている。塗布ノズル16aは基板9における電極9aの配列に対応したピッチで設けられており、塗布ヘッド16を基板保持ステージ14に保持された基板9の上方へ移動させ(矢印c)、塗布ノズル16aを電極9aに位置合わせした状態で電極接合材17を吐出させることにより、電極9aの上面には電極接合材17が供給される。なお、電極9aへの電極接合材17の供給方法として、ここではディスペンサ15および塗布ヘッド16を用いる例を示しているが、転写ステージ11と同様の転写ステージに電極接合材17の塗膜を形成し、転写ピンによって電極接合材17を電極9aに供給するようにしてもよい。   The bonding material application mechanism 8 includes a dispenser 15 that stores the electrode bonding material 17 and an application head 16 that discharges the electrode bonding material 17 fed from the dispenser 15 from the application nozzle 16a. The coating nozzles 16a are provided at a pitch corresponding to the arrangement of the electrodes 9a on the substrate 9. The coating head 16 is moved above the substrate 9 held by the substrate holding stage 14 (arrow c), and the coating nozzle 16a is moved to the electrode. By discharging the electrode bonding material 17 in a state aligned with 9a, the electrode bonding material 17 is supplied to the upper surface of the electrode 9a. Here, as an example of a method for supplying the electrode bonding material 17 to the electrode 9a, a dispenser 15 and a coating head 16 are used. However, a coating film of the electrode bonding material 17 is formed on the transfer stage similar to the transfer stage 11. Alternatively, the electrode bonding material 17 may be supplied to the electrode 9a by a transfer pin.

次に半田バンプ3aに端子接合材12が転写された後の電子部品3を保持した移載ヘッド10を基板9の上方へ移動させ(矢印d)、電極接合材17が供給された後の電極9aに対して半田バンプ3aを着地させる。これにより、端子接合材12は電極接合材17と接触し、それぞれの配合成分が混ざり合う。そして時間の経過とともに、異なる組成の端子接合材12と電極接合材17が混合してほぼ均一な組成の単一の接合材(図2に示す熱硬化性フラックス18参照)となる。   Next, the transfer head 10 holding the electronic component 3 after the terminal bonding material 12 is transferred to the solder bumps 3a is moved above the substrate 9 (arrow d), and the electrode after the electrode bonding material 17 is supplied. The solder bump 3a is landed on 9a. Thereby, the terminal bonding material 12 contacts with the electrode bonding material 17, and each compounding component mixes. As the time elapses, the terminal bonding material 12 and the electrode bonding material 17 having different compositions are mixed to form a single bonding material having a substantially uniform composition (see the thermosetting flux 18 shown in FIG. 2).

ここで、本実施の形態において用いられる端子接合材12、電極接合材17について説明する。端子接合材12、電極接合材17の成分組成には多くのバリエーションが存在するが、基本的には、端子接合材12と電極接合材17とが接触して混合された状態において、エポキシ樹脂、このエポキシ樹脂を硬化させる硬化作用を有する活性剤およびフィラーとしての半田粒子の3成分を基本必須成分として含み、熱硬化性フラックスとして機能するように、それぞれの成分組成が決定される。半田粒子としてはSn系の鉛フリー半田を使用するが、代表的なものとしてはSn−3.0Ag−0.5Cu組成のSACはんだ粉や錫粉の表面を銀でコーティングしたAgコートSn粉等が挙げられる。無論、これ以外の組成の半田粒子も使用可能である。   Here, the terminal bonding material 12 and the electrode bonding material 17 used in the present embodiment will be described. There are many variations in the component composition of the terminal bonding material 12 and the electrode bonding material 17, but basically, in a state where the terminal bonding material 12 and the electrode bonding material 17 are in contact and mixed, an epoxy resin, Each component composition is determined so as to include three components of an activator having a curing action for curing the epoxy resin and solder particles as fillers as basic essential components and function as a thermosetting flux. Sn-based lead-free solder is used as solder particles, but typical examples include SAC solder powder of Sn-3.0Ag-0.5Cu composition, Ag-coated Sn powder with tin powder coated with silver, etc. Is mentioned. Of course, solder particles having other compositions can also be used.

すなわち、2種類の接合材が混合されたペースト状の接合材が半田バンプ3aと電極9aとの接合部位に介在することにより、以下のような作用を及ぼす。まず活性剤の作用により、半田バンプ3aや電極9a、さらにはフィラーとしての半田粒子の表面に存在する酸化膜を除去するフラックスとしての機能を果たす。これにより、半田バンプ3aが溶融して電極9aの表面において塗れ広がる半田接合性が向上する。この半田接合において、フィラー成分としての半田粒子を含んでいることにより、半田バンプ3aと電極9aとの間に幾分隙間が存在する場合にあっても、半田接合に必要な半田量を補うことができ、良好な半田接合部を形成することができる。そして半田接合時の加熱によって活性剤の残留成分を内部に閉じこめたままエポキシ樹脂が熱硬化した後は、半田バンプ3aと電極9aとの半田接合部を周囲から覆って強度を補う樹脂補強部として機能する。   That is, the paste-like bonding material in which two types of bonding materials are mixed is interposed in the bonding portion between the solder bump 3a and the electrode 9a, and thus has the following effects. First, the function of the activator serves as a flux that removes the oxide film present on the surface of the solder bump 3a, the electrode 9a, and the solder particles as the filler. As a result, the solder bonding property that the solder bump 3a melts and spreads on the surface of the electrode 9a is improved. In this solder joint, by including solder particles as a filler component, the amount of solder necessary for the solder joint can be compensated even when there is a slight gap between the solder bump 3a and the electrode 9a. And a good solder joint can be formed. Then, after the epoxy resin is thermally cured while the residual component of the activator is confined inside by the heating at the time of soldering, it is a resin reinforcing part that covers the soldered joint between the solder bump 3a and the electrode 9a from the periphery to supplement the strength. Function.

上述のような作用効果を確実なものとするためには、熱硬化性フラックスの主剤成分であるエポキシ樹脂が、半田接合のために供給された時点において十分な流動性を有して半田接合面を確実に覆うことが必要とされる。しかしながら、上述の3つの基本必須成分であるエポキシ樹脂、活性剤および半田粒子を同一の接合材に含有させて1液型の熱硬化性フラックスとすると、活性剤が有する硬化作用によるエポキシ樹脂の硬化反応において半田粒子が触媒的作用を果たして、硬化が促進されることが知られている。このため熱硬化性フラックスが使用前の保存期間中に増粘し、十分な流動性が確保されないという不具合が生じる。そしてこの作用はSn系の半田の場合において特に顕著であり、従来より有効な対処策が望まれていた。   In order to ensure the above-described effects, the solder joint surface has sufficient fluidity when the epoxy resin, which is the main component of the thermosetting flux, is supplied for solder joint. It is necessary to cover it securely. However, if the epoxy resin, activator, and solder particles, which are the above three basic essential components, are contained in the same bonding material to form a one-component thermosetting flux, the epoxy resin is cured by the curing action of the activator. It is known that the solder particles play a catalytic action in the reaction to promote curing. For this reason, the thermosetting flux is thickened during the storage period before use, resulting in a problem that sufficient fluidity is not ensured. This action is particularly remarkable in the case of Sn-based solder, and an effective countermeasure has been desired.

このため、本実施の形態においては、上述のエポキシ樹脂、活性剤および半田粒子の3つの基本必須成分が、保存時点から同一の接合材として1液中に含有されることがないよう、これらの3つの基本必須成分を2つの個別の接合材に分けて含有させ、2液型の接合材(第1接合材および第2接合材)として使用するようにしている。そして電子部品3の基板9への半田付けにおいては、端子接合材12として第1接合材または第2接合材のいずれかを用い、第1接合材および第2接合材のうち、端子接合材12として用いられなかった接合材を電極接合材17として用いるようにしている。   For this reason, in the present embodiment, the above three basic essential components of the epoxy resin, the activator and the solder particles are not contained in one liquid as the same bonding material from the storage point. Three basic essential components are contained separately in two separate bonding materials and used as a two-component bonding material (first bonding material and second bonding material). In soldering the electronic component 3 to the substrate 9, either the first bonding material or the second bonding material is used as the terminal bonding material 12, and the terminal bonding material 12 out of the first bonding material and the second bonding material. The bonding material that was not used as the electrode bonding material 17 is used.

ここでは、以下に示す4通りの基本組成例を設定し、さらにこれらの基本設定例において適用対象や条件に応じて他の成分を追加配合するようにしている。なおここに示す4通りの基本組成例は、それぞれ(特許請求の範囲)における請求項1〜請求項4に対応している。すなわち、第1基本組成例では、エポキシ樹脂を主成分とする第1接合材および少なくともこのエポキシ樹脂を硬化させる硬化作用を有する活性剤と半田粒子とを含む第2接合材を用いる。また第2基本組成例では、半田粒子を混合したビヒクルを主成分とする第1接合材および少なくともエポキシ樹脂とこのエポキシ樹脂を硬化させる硬化作用を有する活性剤とを含む第2接合材を用いる。   Here, the following four basic composition examples are set, and in these basic setting examples, other components are additionally blended according to the application object and conditions. The four basic composition examples shown here correspond to claims 1 to 4 in (Claims), respectively. That is, in the first basic composition example, a first bonding material mainly composed of an epoxy resin and a second bonding material including at least an activator having a curing action for curing the epoxy resin and solder particles are used. In the second basic composition example, a first bonding material mainly composed of a vehicle mixed with solder particles and a second bonding material including at least an epoxy resin and an activator having a curing action for curing the epoxy resin are used.

第3基本組成例では、エポキシ樹脂を主成分とする第1接合材および少なくとも活性剤と半田粒子とを含む第2接合材を用い、さらに第1接合材、第2接合材のいずれかまたは双方にエポキシ樹脂を硬化させる硬化剤を含有させるようにしている。そして第4基本組成例では、半田粒子を混合したビヒクルを主成分とする第1接合材および少なくともエポキシ樹脂と活性剤とを含む第2接合材を用い、さらに第1接合材、第2接合材のいずれかまたは双方にエポキシ樹脂を硬化させる硬化剤を含有させるようにしている。すなわち、第3基本組成例、第4基本組成例は、用いられる活性剤がエポキシ樹脂を硬化させる硬化作用を有していない、あるいは硬化作用が不十分である場合に対応しており、ここでは硬化作用を補うことを目的として、活性剤とは別に硬化剤を追加するようにしている。   In the third basic composition example, a first bonding material mainly composed of an epoxy resin and a second bonding material containing at least an activator and solder particles are used, and one or both of the first bonding material and the second bonding material are used. Is made to contain a curing agent for curing the epoxy resin. In the fourth basic composition example, a first bonding material mainly composed of a vehicle mixed with solder particles and a second bonding material containing at least an epoxy resin and an activator are used, and further, a first bonding material and a second bonding material are used. Either or both of them are made to contain a curing agent for curing the epoxy resin. That is, the third basic composition example and the fourth basic composition example correspond to the case where the activator used does not have a curing action for curing the epoxy resin, or the curing action is insufficient. In order to supplement the curing effect, a curing agent is added separately from the active agent.

次に、電子部品実装装置1により、上述の第1接合材および第2接合材を用いて、電子部品3に形成された接続用の端子である半田バンプ3aを基板9に形成された接続用の電極9aに半田付けする電子部品の半田付け方法について、図2を参照して説明する。まず、基板9および電子部品3への接合材の供給が行われる。すなわち図2(a)(イ)に示すように、塗布ヘッド16を基板9上に移動させ、塗布ノズル16aから電極接合材17を吐出させることにより、電極9aに電極接合材17を供給する(電極接合材供給工程)。ここで、電極接合材17は前述の複数の基本組成例に示す第1接合材、第2接合材のいずれかである。また図2(a)(ロ)に示すように、電子部品3を保持した吸着ノズル10aを転写ステージ11上に移動させ、電子部品3を下降させて半田バンプ3aを転写ステージ11上に延展された端子接合材12に接触させることにより、接続用の端子である半田バンプ3aに端子接合材12を転写により供給する(端子接合材供給工程)。ここで、端子接合材12は、前述の第1接合材および第2接合材のうち、電極接合材供給工程において供給されなかった方の接合材である。   Next, the electronic component mounting apparatus 1 uses the first bonding material and the second bonding material described above to connect the solder bumps 3a, which are connection terminals formed on the electronic component 3, to the substrate 9. A method of soldering an electronic component to be soldered to the electrode 9a will be described with reference to FIG. First, the bonding material is supplied to the substrate 9 and the electronic component 3. That is, as shown in FIGS. 2A and 2A, the electrode bonding material 17 is supplied to the electrode 9 a by moving the coating head 16 onto the substrate 9 and discharging the electrode bonding material 17 from the coating nozzle 16 a ( Electrode bonding material supply process). Here, the electrode bonding material 17 is one of the first bonding material and the second bonding material shown in the plurality of basic composition examples described above. 2A and 2B, the suction nozzle 10a holding the electronic component 3 is moved onto the transfer stage 11, the electronic component 3 is lowered, and the solder bump 3a is extended onto the transfer stage 11. By contacting the terminal bonding material 12, the terminal bonding material 12 is supplied by transfer to the solder bump 3 a which is a connection terminal (terminal bonding material supplying step). Here, the terminal bonding material 12 is a bonding material which is not supplied in the electrode bonding material supply step among the first bonding material and the second bonding material described above.

次いで、電子部品3を基板9に搭載する。すなわち、図2(b)に示すように、電子部品3を保持した吸着ノズル10aを基板9上に移動させ、端子接合材12が供給された半田バンプ3aを電極接合材17が供給された電極9aに対して位置合わせする。次いで図2(c)に示すように、電子部品3を吸着ノズル10aとともに下降させ、半田バンプ3aを電極9aに着地させる。これにより、半田バンプ3aに供給された端子接合材12と電極9aに供給された電極接合材17とが接触し混合される。すなわち、ここでは、電極接合材供給工程後の基板9に端子接合材供給工程後の電子部品3を搭載し、電極9aに半田バンプ3aを着地させて、端子接合材12と電極接合材17(第1接合材と第2接合材)とを接触させて混合する(搭載工程)。   Next, the electronic component 3 is mounted on the substrate 9. That is, as shown in FIG. 2B, the suction nozzle 10a holding the electronic component 3 is moved onto the substrate 9, and the solder bump 3a supplied with the terminal bonding material 12 is replaced with the electrode supplied with the electrode bonding material 17. Align with 9a. Next, as shown in FIG. 2C, the electronic component 3 is lowered together with the suction nozzle 10a, and the solder bump 3a is landed on the electrode 9a. Thereby, the terminal bonding material 12 supplied to the solder bump 3a and the electrode bonding material 17 supplied to the electrode 9a come into contact with each other and are mixed. That is, here, the electronic component 3 after the terminal bonding material supply step is mounted on the substrate 9 after the electrode bonding material supply step, the solder bump 3a is landed on the electrode 9a, and the terminal bonding material 12 and the electrode bonding material 17 ( The first bonding material and the second bonding material are brought into contact with each other and mixed (mounting process).

そして端子接合材12と電極接合材17が混合することにより、第1接合材と第2接合材との2つに分配されて含まれていた3つの基本必須成分、すなわちエポキシ樹脂、活性剤、半田粒子の3成分が1液の接合材に含まれた構成の熱硬化性フラックス18が、図2(d)に示すように、半田バンプ3aと電極9aとの半田接合部位を覆った状態となる。この後、電子部品3が搭載された基板9はリフロー工程に送られ、ここで所定の加熱温度プロファイルにしたがって加熱される(加熱工程)。これにより、半田バンプ3aが溶融固化して電極9aに半田接合されて半田電極部3a*が形成されるとともに、熱硬化性フラックス18の主剤であるエポキシ樹脂が熱硬化し、半田電極部3a*を周囲から補強する樹脂補強部18*が形成される。   Then, by mixing the terminal bonding material 12 and the electrode bonding material 17, the three basic essential components distributed and contained in the first bonding material and the second bonding material, that is, epoxy resin, activator, As shown in FIG. 2D, the thermosetting flux 18 having a configuration in which the three components of the solder particles are contained in one liquid bonding material covers the solder bonding portion between the solder bump 3a and the electrode 9a. Become. Thereafter, the substrate 9 on which the electronic component 3 is mounted is sent to a reflow process, where it is heated according to a predetermined heating temperature profile (heating process). As a result, the solder bump 3a is melted and solidified and soldered to the electrode 9a to form the solder electrode portion 3a *, and the epoxy resin, which is the main component of the thermosetting flux 18, is thermally cured, and the solder electrode portion 3a *. A resin reinforcing portion 18 * is formed to reinforce from the periphery.

図3は、電極9aへの電極接合材17の供給において、電極9a毎に電極接合材17を吐出させる方法に替えて、基板9の上面において電極9aが形成された範囲全面を覆って電極接合材17を塗布する例を示している。すなわち図3(a)(イ)に示すように、吐出ヘッド19を基板9上に移動させて塗布範囲上で移動させながら吐出ノズル19aから電極接合材17を吐出させることにより、電極9aの形成範囲全面を覆って電極接合材17を供給する(電極接合材供給工程)。   FIG. 3 shows that the electrode bonding material 17 is supplied to the electrode 9a, and instead of the method of discharging the electrode bonding material 17 for each electrode 9a, the entire surface of the substrate 9 where the electrode 9a is formed is covered. The example which applies the material 17 is shown. That is, as shown in FIGS. 3A and 3B, the electrode 9a is formed by discharging the electrode bonding material 17 from the discharge nozzle 19a while moving the discharge head 19 on the substrate 9 and moving it over the coating range. The electrode bonding material 17 is supplied so as to cover the entire surface (electrode bonding material supply step).

ここで、図2に示す例と同様に、電極接合材17は前述の基本組成例に示す第1接合材、第2接合材のいずれかである。また図3(a)(ロ)に示す端子接合材12の半田バンプ3aへの転写は、図2(a)(ロ)に示す端子接合材供給工程と同様である。ここで、端子接合材12は、前述の第1接合材および第2接合材のうち、電極接合材供給工程において供給されなかった種類の接合材である。   Here, similarly to the example shown in FIG. 2, the electrode bonding material 17 is either the first bonding material or the second bonding material shown in the above-described basic composition example. Also, the transfer of the terminal bonding material 12 to the solder bump 3a shown in FIGS. 3A and 3B is the same as the terminal bonding material supply step shown in FIGS. Here, the terminal bonding material 12 is a type of bonding material that has not been supplied in the electrode bonding material supply step among the first bonding material and the second bonding material described above.

次いで、電子部品3を基板9に搭載する。すなわち、図3(b)に示すように、電子部品3を保持した吸着ノズル10aを基板9上に移動させ、端子接合材12が供給された半田バンプ3aを電極接合材17が供給された電極9aに対して位置合わせする。次いで図3(c)に示すように、電子部品3を吸着ノズル10aとともに下降させ、半田バンプ3aを電極9aに着地させる。これにより、半田バンプ3aに供給された端子接合材12と電極9aを覆って基板9に供給された電極接合材17とが接触し混合される。すなわち、ここでは、電極接合材供給工程後の基板9に端子接合材供給工程後の電子部品3を搭載し、電極9aに半田バンプ3aを着地させて、端子接合材12と電極接合材17(第1接合材と第2接合材)とを接触させて混合する(搭載工程)。   Next, the electronic component 3 is mounted on the substrate 9. That is, as shown in FIG. 3B, the suction nozzle 10a holding the electronic component 3 is moved onto the substrate 9, and the solder bump 3a supplied with the terminal bonding material 12 is replaced with the electrode supplied with the electrode bonding material 17. Align with 9a. Next, as shown in FIG. 3C, the electronic component 3 is lowered together with the suction nozzle 10a, and the solder bump 3a is landed on the electrode 9a. Thereby, the terminal bonding material 12 supplied to the solder bump 3a and the electrode bonding material 17 supplied to the substrate 9 so as to cover the electrode 9a are brought into contact with each other and mixed. That is, here, the electronic component 3 after the terminal bonding material supply step is mounted on the substrate 9 after the electrode bonding material supply step, the solder bump 3a is landed on the electrode 9a, and the terminal bonding material 12 and the electrode bonding material 17 ( The first bonding material and the second bonding material are brought into contact with each other and mixed (mounting process).

そして端子接合材12と電極接合材17が混合することにより、第1接合材と第2接合材とに分配されて含まれていた3つの基本必須成分、すなわちエポキシ樹脂、活性剤、半田粒子の3成分が1液の接合材に含まれた構成の熱硬化性フラックス18が、図3(d)に示すように、電子部品3と基板9との隙間を満たした状態となる。この後、電子部品3が搭載された基板9はリフロー工程に送られ、ここで所定の加熱温度プロファイルにしたがって加熱される(加熱工程)。これにより、半田バンプ3aが溶融固化して電極9aに半田接合されて半田電極部3a*が形成されるとともに、熱硬化性フラックス18の主剤であるエポキシ樹脂が熱硬化し、電子部品3と基板9との隙間を封止して補強する樹脂補強部18*が形成される。   Then, by mixing the terminal bonding material 12 and the electrode bonding material 17, the three basic essential components distributed and contained in the first bonding material and the second bonding material, that is, epoxy resin, activator, solder particle As shown in FIG. 3D, the thermosetting flux 18 having a configuration in which the three components are included in the one-component bonding material fills the gap between the electronic component 3 and the substrate 9. Thereafter, the substrate 9 on which the electronic component 3 is mounted is sent to a reflow process, where it is heated according to a predetermined heating temperature profile (heating process). As a result, the solder bump 3a is melted and solidified and soldered to the electrode 9a to form the solder electrode portion 3a *, and the epoxy resin that is the main component of the thermosetting flux 18 is thermally cured, and the electronic component 3 and the substrate The resin reinforcement part 18 * which seals and reinforces the gap with 9 is formed.

次に、本実施の形態において端子接合材12、電極接合材17として用いられる第1接合材、第2接合材の成分組成の詳細について、(表1)〜(表4)を参照して説明する。(表1)〜(表4)は、それぞれ前述の第1基本組成例〜第4基本組成例に基づく第1接合材、第2接合材の具体成分組成を示すものである。これらの表に記載されている数値は、本発明における作用効果を実現するために推奨される各成分の標準的な配合比率を、第1接合材、第2接合材を混合した状態における重量%で示すものである。   Next, details of the component composition of the first bonding material and the second bonding material used as the terminal bonding material 12 and the electrode bonding material 17 in the present embodiment will be described with reference to (Table 1) to (Table 4). To do. (Table 1) to (Table 4) show specific component compositions of the first bonding material and the second bonding material based on the first basic composition example to the fourth basic composition example, respectively. The numerical values described in these tables are the standard blending ratios of the respective components recommended for realizing the effects in the present invention, and the weight% in the state where the first bonding material and the second bonding material are mixed. It is shown by.

各表では、第1接合材、第2接合材を構成する成分21(種類21aによって具体的に特定される)の配合比率が、実際に想定可能な複数の実施例毎に示されている。なお、表中においてこれらの重量%を示す数値(全体配合比)とともに併記されている括弧内の数値範囲は、各成分の全体配合比を変更可能な範囲を示しており、各成分の数値の和が100となる限りにおいて、各成分の全体配合比をこれらの範囲内で適宜設定することができる。   In each table, the mixing ratio of the component 21 (specifically specified by the type 21a) constituting the first bonding material and the second bonding material is shown for each of a plurality of practical examples that can be assumed. In addition, the numerical range in parentheses written together with the numerical values (total mixing ratio) indicating these weight percentages in the table indicates the range in which the total mixing ratio of each component can be changed. As long as the sum is 100, the overall blending ratio of each component can be appropriately set within these ranges.

そして具体成分組成の類型的パターンを示す実施例毎に、特性評価項目29が付記されている。ここでは、保存中の粘度安定性29a、はんだ接合性29bが評価の対象となっており、それぞれ(◎)、(○)、(×)の3段階判定によって評価されている。ここで、(◎)は良好であって推奨できること、(○)は幾分難点はあるものの実用的に採用可能であること、また(×)は実用的には採用できないことをそれぞれ示している。   A characteristic evaluation item 29 is appended to each example showing a typical pattern of the specific component composition. Here, the viscosity stability 29a and the solder joint property 29b during the storage are objects of evaluation, and are evaluated by three-step determination of (◎), (○), and (×), respectively. Here, (◎) indicates that it is good and can be recommended, (○) indicates that it can be used practically with some difficulties, and (×) indicates that it cannot be used practically. .

まず(表1)を参照して、第1基本組成例に基づく第1接合材、第2接合材の具体成分組成について説明する。   First, with reference to (Table 1), the specific component composition of the first bonding material and the second bonding material based on the first basic composition example will be described.

Figure 0005182298
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基本的な成分組成例である実施例1について説明する。実施例1においては、第1接合材にはエポキシ樹脂22(ここでは液状のビスフェノールA型エポキシ樹脂22a)が全体配合比30%の量で含有されている。そして第2接合材には、硬化作用を有する活性剤23としての酸無水物23a、活性剤24としてのロジン24aおよび半田粒子25としてのSACはんだ粉25aが、それぞれ全体配合比30%、10%、30%の量で含有されている。   Example 1 which is a basic component composition example will be described. In Example 1, the first bonding material contains the epoxy resin 22 (here, liquid bisphenol A type epoxy resin 22a) in an amount of 30% as a whole. The second bonding material includes an acid anhydride 23a as the activator 23 having a curing action, a rosin 24a as the activator 24, and a SAC solder powder 25a as the solder particles 25, respectively, with an overall blending ratio of 30% and 10%. , 30%.

そしてこのような成分組成により得られる特性評価項目29は、保存中の粘度安定性29aについては第1接合材、第2接合材とも(◎)となっており、第1接合材、第2接合材を組み合わせて得られるはんだ接合性29bも(◎)となっている。すなわち、第1接合材はエポキシ樹脂22のみであることから保存期間中に硬化が進行して粘度が上昇することが無く、また第2接合材には硬化性の成分が含まれていないことから同様に粘度の上昇が生じない。また半田付け過程においては、第1接合材、第2接合材が混合されることにより、エポキシ樹脂22中に硬化作用を有する活性剤23、活性剤24、半田粒子25を含有した熱硬化性フラックスが、未だ粘度上昇がなく流動性を保持した状態で生成される。これにより熱硬化性フラックスは半田接合面を十分に覆って流動し、半田バンプ3aや電極9aの表面酸化膜が除去されて、良好な半田接合性が確保される。そしてこの熱硬化性フラックスにはフィラー成分として半田粒子25が含有されていることから、半田接合過程において半田量が補われて良好な形状の半田接合部が形成される。   The characteristic evaluation item 29 obtained by such a component composition is (◎) for the first bonding material and the second bonding material for the viscosity stability 29a during storage, and the first bonding material and the second bonding material The solderability 29b obtained by combining the materials is also (◎). That is, since the first bonding material is only the epoxy resin 22, curing does not proceed during the storage period and the viscosity does not increase, and the second bonding material does not contain a curable component. Similarly, no increase in viscosity occurs. Further, in the soldering process, a thermosetting flux containing an activator 23 having a curing action, an activator 24 and solder particles 25 in the epoxy resin 22 by mixing the first joining material and the second joining material. However, it is produced in a state where the viscosity is not increased yet and the fluidity is maintained. As a result, the thermosetting flux flows sufficiently covering the solder joint surface, and the surface oxide films of the solder bumps 3a and the electrodes 9a are removed, thereby ensuring good solder joint properties. Since this thermosetting flux contains solder particles 25 as a filler component, the solder amount is compensated in the solder joining process, and a solder joint portion having a good shape is formed.

次に、実施例2について説明する。実施例2は、実施例1において第2接合材に含有される半田粒子25として、SACはんだ粉25aに替えてAgコートSn粉25bを用いるようにしており、他の成分組成は実施例1と同様である。フィラー成分としてSn粒子をAg膜で被覆したAgコートSn粉25bを用いることにより、半田バンプ3aと電極9aとの間などの半田接合面に隙間が生じている場合にあっても、半田接合過程においてAgコートSn粉25bが半田バンプ3aと電極9aとの間で溶融半田を導くブリッジとして機能し、半田接合性を更に向上させることができる。   Next, Example 2 will be described. In Example 2, Ag-coated Sn powder 25b is used instead of SAC solder powder 25a as solder particles 25 contained in the second bonding material in Example 1, and other component compositions are the same as those in Example 1. It is the same. Even if there is a gap on the solder joint surface such as between the solder bump 3a and the electrode 9a by using the Ag-coated Sn powder 25b in which Sn particles are coated with an Ag film as a filler component, the solder joint process In this case, the Ag-coated Sn powder 25b functions as a bridge for guiding the molten solder between the solder bump 3a and the electrode 9a, so that the solderability can be further improved.

また実施例3は、実施例1に示す第1接合材においてエポキシ樹脂22として、ビスフェノールA型エポキシ樹脂22aの一部(全体配合比で4%)をクレゾールノボラック型(固形)22bによって置き換え、さらに硬化促進剤27としてイミダゾール27aを1%加え、また第2接合材において硬化促進剤27を加えた分だけ活性剤24を減らして9%とし、さらにチクソ剤26として脂肪酸アマイドワックス26aを1%加えた成分組成となっている。これら実施例2,3のいずれにおいても、保存中の粘度安定性29a、はんだ接合性29bは(◎)となっている。   Further, in Example 3, as the epoxy resin 22 in the first bonding material shown in Example 1, a part of the bisphenol A type epoxy resin 22a (4% in the total compounding ratio) is replaced with a cresol novolac type (solid) 22b. 1% of imidazole 27a is added as the curing accelerator 27, and the activator 24 is reduced to 9% by the amount of addition of the curing accelerator 27 in the second bonding material, and 1% of the fatty acid amide wax 26a is added as the thixotropic agent 26. Composition. In both Examples 2 and 3, the viscosity stability 29a and the solderability 29b during storage are (◎).

なお比較例1は、同様の成分を含有する類似組成の熱硬化性フラックスの構成例を示している。ここでは、第1接合材にエポキシ樹脂22、硬化作用を有する活性剤23、半田粒子25の3つを含有させ、第2接合材を活性剤24および溶剤28で構成した例を示している。このような成分組成では、第1接合材に3つの成分が同時に存在するため保存中に硬化反応が促進され、保存中の粘度安定性29aは(×)となる。そして半田接合が開始する時点において既に第1接合材が増粘した状態となっており、その結果はんだ接合性29bも(×)となる。   In addition, the comparative example 1 has shown the structural example of the thermosetting flux of the similar composition containing the same component. Here, an example is shown in which the first bonding material contains an epoxy resin 22, an activator 23 having a curing action, and solder particles 25, and the second bonding material is composed of an activator 24 and a solvent 28. In such a component composition, since the three components are simultaneously present in the first bonding material, the curing reaction is promoted during storage, and the viscosity stability 29a during storage is (x). At the time when solder bonding starts, the first bonding material is already thickened, and as a result, the solder bonding property 29b is also (x).

次に(表2)を参照して、第2基本組成例に基づく第1接合材、第2接合材の具体成分組成について説明する。   Next, with reference to (Table 2), the specific component composition of the 1st joining material and 2nd joining material based on a 2nd basic composition example is demonstrated.

Figure 0005182298
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まず基本的な具体組成例である実施例4について説明する。実施例4においては、第1接合材には半田粒子25としてSACはんだ粉25aとともにビヒクル30としての樹脂、ワックス、溶剤などの混合物30aが、全体配合比25%、15%の量でそれぞれ含有されている。そして第2接合材には、エポキシ樹脂22としてのビスフェノールA型エポキシ樹脂22a、硬化作用を有する活性剤23としての酸無水物23aおよび活性剤24としてのロジン24aが、それぞれ全体配合比25%、25%、10%の量で含有されている。   First, Example 4 which is a basic specific composition example will be described. In Example 4, the first bonding material contains the SAC solder powder 25a as the solder particles 25 and a mixture 30a of the resin, wax, solvent, etc. as the vehicle 30 in amounts of 25% and 15% as a whole. ing. The second bonding material includes a bisphenol A type epoxy resin 22a as the epoxy resin 22, an acid anhydride 23a as the activator 23 having a curing action, and a rosin 24a as the activator 24. It is contained in an amount of 25% and 10%.

そしてこのような成分組成により得られる特性評価項目29は、保存中の粘度安定性29aについては第1接合材については(◎)、第2接合材については(○)となっており、その結果、第1接合材、第2接合材を組み合わせて得られるはんだ接合性29bは(○)となっている。すなわち、第1接合材は半田粒子25とビヒクル30の組み合わせであることから保存期間中に硬化が進行して粘度が上昇することが無く、また第2接合材には硬化作用を有する活性剤23が含まれ、条件によっては保存中に硬化が幾分進行するものの、硬化反応を促進する触媒として作用する半田粒子25が存在しないことから、第2接合材が保存中において過度に増粘することがない。   The characteristic evaluation items 29 obtained by such component composition are (粘度) for the first bonding material and (粘度) for the second bonding material for the viscosity stability 29a during storage, and the result The solderability 29b obtained by combining the first bonding material and the second bonding material is (◯). That is, since the first bonding material is a combination of the solder particles 25 and the vehicle 30, curing does not proceed during the storage period and the viscosity does not increase, and the second bonding material has an activator 23 having a curing action. Depending on the conditions, curing proceeds somewhat during storage, but there is no solder particle 25 that acts as a catalyst for promoting the curing reaction, so the second bonding material is excessively thickened during storage. There is no.

また半田付け過程においては、第1接合材、第2接合材が混合されてエポキシ樹脂22中に硬化作用を有する活性剤23、活性剤24、半田粒子25を含有した熱硬化性フラックスが、未だ過度の粘度上昇がなく流動性を保持した状態で生成される。これにより熱硬化性フラックスは半田接合面を覆って流動し、表面酸化膜が除去されて半田接合性が確保される。そしてこの熱硬化性フラックスにはフィラー成分として半田粒子25が含有されていることから、半田接合過程において半田量が補われて良好な形状の半田接合部が形成される。   In the soldering process, the thermosetting flux containing the activator 23, activator 24, and solder particles 25 in which the first joining material and the second joining material are mixed and have a curing action in the epoxy resin 22 is not yet obtained. It is produced in a state where there is no excessive increase in viscosity and fluidity is maintained. As a result, the thermosetting flux flows over the solder joint surface, and the surface oxide film is removed to ensure the solder joint property. Since this thermosetting flux contains solder particles 25 as a filler component, the solder amount is compensated in the solder joining process, and a solder joint portion having a good shape is formed.

次に、実施例5について説明する。実施例5は、実施例4において第1接合材に含有される半田粒子25として、SACはんだ粉25aに替えてAgコートSn粉25bを用いるようにしており、他の成分組成は実施例4と同様である。このようにフィラー成分としてAgコートSn粉25bを用いることにより、実施例4に示す効果に加え、実施例2において説明した効果と同様の効果を得る。   Next, Example 5 will be described. In Example 5, Ag coated Sn powder 25b is used instead of SAC solder powder 25a as solder particles 25 contained in the first bonding material in Example 4, and the other component compositions are the same as in Example 4. It is the same. Thus, in addition to the effect shown in Example 4, the effect similar to the effect demonstrated in Example 2 is acquired by using Ag coat Sn powder 25b as a filler component.

また実施例6は、実施例4に示す第1接合材において硬化促進剤27としてのイミダゾール27aを1%加え、また第2接合材においてエポキシ樹脂22として、ビスフェノールA型エポキシ樹脂22aの一部(全体配合比で4%)をクレゾールノボラック型(固形)22bによって置き換え、また第1接合材に硬化促進剤27を加えた分だけ活性剤24を減らして9%とし、さらにチクソ剤26として脂肪酸アマイドワックス26aを1%加えた成分組成となっている。これら実施例5,6のいずれにおいても特性評価項目29において、実施例4と同様の保存中の粘度安定性29a、はんだ接合性29bを得る。   In Example 6, 1% of imidazole 27a as the curing accelerator 27 is added to the first bonding material shown in Example 4, and a part of the bisphenol A type epoxy resin 22a is used as the epoxy resin 22 in the second bonding material ( 4% in the total compounding ratio) is replaced with a cresol novolak type (solid) 22b, and the activator 24 is reduced to 9% by the addition of the curing accelerator 27 to the first bonding material, and further the fatty acid amide as the thixotropic agent 26 It has a component composition in which 1% of wax 26a is added. In any of these Examples 5 and 6, in the property evaluation item 29, the same viscosity stability 29a and solderability 29b during storage as in Example 4 are obtained.

次に(表3)を参照して、第3基本組成例に基づく第1接合材、第2接合材の具体成分組成について説明する。   Next, with reference to (Table 3), the specific component composition of the first bonding material and the second bonding material based on the third basic composition example will be described.

Figure 0005182298
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まず基本的な成分組成例である実施例7について説明する。実施例7においては、第1接合材にはエポキシ樹脂22(ここでは液状のビスフェノールA型エポキシ樹脂22a)が全体配合比30%の量で含有されている。そして第2接合材には、活性剤24としてのロジン24a、半田粒子25としてのSACはんだ粉25a、硬化剤31としてのイミダゾール31aおよび溶剤28としてのカルビトール28aが、それぞれ全体配合比25%、30%、5%、10%の量で含有されている。   First, Example 7, which is a basic component composition example, will be described. In Example 7, the first bonding material contains the epoxy resin 22 (here, liquid bisphenol A type epoxy resin 22a) in an amount of 30% as a whole. In the second bonding material, the rosin 24a as the activator 24, the SAC solder powder 25a as the solder particles 25, the imidazole 31a as the curing agent 31, and the carbitol 28a as the solvent 28 are each 25% in total compounding ratio, It is contained in amounts of 30%, 5% and 10%.

そしてこのような成分組成により得られる特性評価項目29は、保存中の粘度安定性29aについては第1接合材、第2接合材とも(◎)となっており、第1接合材、第2接合材を組み合わせて得られるはんだ接合性29bも(◎)となっている。すなわち、第1接合材はエポキシ樹脂22のみであることから保存期間中に硬化が進行して粘度が上昇することが無く、また第1接合材には硬化性の成分が含まれていないことから同様に粘度の上昇が生じない。   The characteristic evaluation item 29 obtained by such a component composition is (◎) for the first bonding material and the second bonding material for the viscosity stability 29a during storage, and the first bonding material and the second bonding material The solderability 29b obtained by combining the materials is also (◎). That is, since the first bonding material is only the epoxy resin 22, curing does not proceed during the storage period and the viscosity does not increase, and the first bonding material does not contain a curable component. Similarly, no increase in viscosity occurs.

また半田付け過程においては、第1接合材、第2接合材が混合されることにより、エポキシ樹脂22中に硬化作用を有する活性剤23、活性剤24、半田粒子25を含有した熱硬化性フラックスが、未だ粘度上昇がなく流動性を保持した状態で生成される。これにより熱硬化性フラックスは半田接合面を十分に覆って流動し、表面酸化膜が除去されて良好な半田接合性が確保される。そしてこの熱硬化性フラックスにはフィラー成分として半田粒子25が含有されていることから、半田接合過程において半田量が補われて良好な形状の半田接合部が形成される。   Further, in the soldering process, a thermosetting flux containing an activator 23 having a curing action, an activator 24 and solder particles 25 in the epoxy resin 22 by mixing the first joining material and the second joining material. However, it is produced in a state where the viscosity is not increased yet and the fluidity is maintained. As a result, the thermosetting flux flows sufficiently covering the solder joint surface, and the surface oxide film is removed to ensure good solder joint property. Since this thermosetting flux contains solder particles 25 as a filler component, the solder amount is compensated in the solder joining process, and a solder joint portion having a good shape is formed.

次に、実施例8について説明する。実施例8は、実施例7において第2接合材に含有される半田粒子25として、SACはんだ粉25aに替えてAgコートSn粉25bを用いるようにしており、他の成分組成は実施例7と同様である。これにより、上述の実施例7の効果に加え、実施例2において説明した効果と同様の効果を得る。   Next, Example 8 will be described. In Example 8, Ag coated Sn powder 25b is used instead of SAC solder powder 25a as solder particles 25 contained in the second bonding material in Example 7, and the other component compositions are the same as in Example 7. It is the same. Thereby, in addition to the effect of Example 7 described above, the same effect as that described in Example 2 is obtained.

また実施例9は、実施例7に示す第1接合材において、エポキシ樹脂22として、ビスフェノールA型エポキシ樹脂22aの一部(全体配合比で4%)をクレゾールノボラック型(固形)22bによって置き換え、さらに硬化促進剤27としてイミダゾール27aを1%加え、また第2接合材において上述の硬化促進剤27の追加分だけ活性剤24を減らして24%とし、さらにチクソ剤26として脂肪酸アマイドワックス26aを1%加えた成分組成となっている。特性評価項目29では、これら実施例8,9のいずれについても、第1接合材、第2接合材の保存中の粘度安定性29a、はんだ接合性29bは、実施例7と同様にいずれも(◎)となっている。   In addition, in Example 9, in the first bonding material shown in Example 7, as epoxy resin 22, a part of bisphenol A type epoxy resin 22a (4% in total blending ratio) was replaced with cresol novolac type (solid) 22b, Further, 1% of imidazole 27a is added as the curing accelerator 27, and the activator 24 is reduced to 24% by the additional amount of the above-described curing accelerator 27 in the second bonding material. Further, the fatty acid amide wax 26a is 1 as the thixotropic agent 26. % Of the component composition. In the characteristic evaluation item 29, the viscosity stability 29a during storage of the first bonding material and the second bonding material 29a and the solder bonding property 29b of each of these Examples 8 and 9 are the same as in Example 7 ( ◎).

さらに実施例10は、実施例7では第2接合材に含有されていた硬化剤31としてのイミダゾール31aを、第1接合材に含有させた構成となっている。この場合には、エポキシ樹脂22とともに硬化剤31が存在することから、保存中に既に第1接合材の硬化が進行し、保存中の粘度安定性29aはやや劣って(○)となっている。   Furthermore, Example 10 has a configuration in which imidazole 31a as the curing agent 31 contained in the second bonding material in Example 7 is included in the first bonding material. In this case, since the curing agent 31 is present together with the epoxy resin 22, the curing of the first bonding material has already progressed during storage, and the viscosity stability 29a during storage is slightly inferior (◯). .

なお比較例2は、従来の1液型の熱硬化性フラックスの構成例を示している。ここでは、1液内にエポキシ樹脂22、活性剤24、半田粒子25、硬化剤31が存在することから、保存中に硬化反応が促進され、保存中の粘度安定性29aに問題があり(×)と判定される。そして半田接合過程において既に増粘した状態となっており、その結果はんだ接合性29bも(×)となる。   In addition, the comparative example 2 has shown the structural example of the conventional 1 liquid type thermosetting flux. Here, since the epoxy resin 22, the activator 24, the solder particles 25, and the curing agent 31 are present in one liquid, the curing reaction is accelerated during storage, and there is a problem with the viscosity stability 29a during storage (× ). In the soldering process, the viscosity is already increased, and as a result, the solderability 29b is also (x).

また比較例3は、比較例2に含有された成分のうち、硬化剤31をビヒクル30とともに第2接合材に分けて配合し、2液型とした構成例を示している。この構成においては、第2接合材は保存中に硬化することがなく、保存中の粘度安定性29aは(◎)となるものの、第1接合材中にエポキシ樹脂22、活性剤24、半田粒子25が存在することから保存中に硬化が進行し、第1接合材の保存中の粘度安定性29aは(×)となる。そしてその結果、はんだ接合性29bも(×)となる。   Comparative Example 3 shows a configuration example in which, among the components contained in Comparative Example 2, the curing agent 31 is divided into the second bonding material together with the vehicle 30 to form a two-component type. In this configuration, the second bonding material does not harden during storage, and the viscosity stability 29a during storage is ()), but the epoxy resin 22, activator 24, solder particles in the first bonding material. Since 25 is present, curing proceeds during storage, and the viscosity stability 29a during storage of the first bonding material is (x). As a result, the solderability 29b is also (x).

さらに比較例4は、比較例2に含有された成分のうち、活性剤24を溶剤28とともに第2接合材とした構成例を示している。この構成においても第1接合材中にエポキシ樹脂22、SACはんだ粉25a、硬化剤31が存在することから保存中に硬化が進行し、比較例3と同様に、第1接合材の保存中の粘度安定性29a、はんだ接合性29bとも(×)となる。   Further, Comparative Example 4 shows a configuration example in which the activator 24 and the solvent 28 among the components contained in Comparative Example 2 are used as the second bonding material. Even in this configuration, since the epoxy resin 22, the SAC solder powder 25a, and the curing agent 31 are present in the first bonding material, the curing proceeds during storage, and as in Comparative Example 3, the first bonding material is being stored. Both the viscosity stability 29a and the solder joint property 29b are (x).

次に(表4)を参照して、第4基本組成例に基づく第1接合材、第2接合材の具体成分組成について説明する。   Next, with reference to (Table 4), the specific component composition of the first bonding material and the second bonding material based on the fourth basic composition example will be described.

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まず、基本的な成分組成例である実施例11について説明する。実施例11においては、第1接合材には半田粒子25としてのSACはんだ粉25a、ビヒクル30としての樹脂、ワックス、溶剤などの混合物30aが、それぞれ全体配合比30%、10%の量で含有されている。そして第2接合材には、エポキシ樹脂22としてのビスフェノールA型エポキシ樹脂22a、活性剤24としてのロジン24a、硬化剤31としてのイミダゾール31aおよび溶剤28としてのカルビトール28aが、それぞれ全体配合比25%、25%、5%、5%の量で含有されている。   First, Example 11 which is a basic component composition example will be described. In Example 11, the first bonding material contains SAC solder powder 25a as the solder particles 25 and a mixture 30a of resin, wax, solvent, etc. as the vehicle 30 in an amount of 30% and 10%, respectively. Has been. The second bonding material includes a bisphenol A type epoxy resin 22a as the epoxy resin 22, a rosin 24a as the activator 24, an imidazole 31a as the curing agent 31, and a carbitol 28a as the solvent 28, respectively. %, 25%, 5%, 5%.

そしてこのような成分組成により得られる特性評価項目29の評価結果において、保存中の粘度安定性29aは、第1接合材については(◎)、第2接合材については(○)となっており、第1接合材、第2接合材を組み合わせて得られるはんだ接合性29bも(○)と判定される。すなわち、第1接合材には硬化性の成分が含まれていないことから粘度の上昇が無く、また第2接合材には、活性剤24、硬化剤31がエポキシ樹脂22に含まれているものの、硬化を促進する半田粒子25が存在しないことから保存期間中に過度に増粘することはない。したがって、第1接合材、第2接合材を混合した熱硬化性フラックスのはんだ接合性29bについても(○)となっている。また実施例12は、実施例11において、半田粒子25としてSACはんだ粉25aの替わりにAgコートSn粉25bを用いた例を示している。これにより、実施例11の効果と併せて実施例2において説明した効果と同様の効果が得られる。   And in the evaluation result of the characteristic evaluation item 29 obtained by such a component composition, the viscosity stability 29a during storage is (◎) for the first bonding material and (○) for the second bonding material. The solderability 29b obtained by combining the first bonding material and the second bonding material is also determined as (◯). That is, since the first bonding material does not contain a curable component, there is no increase in viscosity, and the second bonding material contains the activator 24 and the curing agent 31 in the epoxy resin 22. Further, since there is no solder particle 25 that promotes curing, the viscosity does not excessively increase during the storage period. Therefore, the solder bonding property 29b of the thermosetting flux obtained by mixing the first bonding material and the second bonding material is also (◯). In addition, Example 12 shows an example in which Ag-coated Sn powder 25b is used as the solder particle 25 instead of SAC solder powder 25a in Example 11. Thereby, the effect similar to the effect demonstrated in Example 2 with the effect of Example 11 is acquired.

さらに実施例13は、実施例11に示す第2接合材においてエポキシ樹脂22として、ビスフェノールA型エポキシ樹脂22aの一部(全体配合比で4%)をクレゾールノボラック型(固形)22bによって置き換え、さらにチクソ剤26として脂肪酸アマイドワックス26aを1%加え、また第1接合材において硬化促進剤27としてイミダゾール27aを1%加えるとともに、その分だけビヒクル30を減らして9%とした成分組成となっている。また実施例14は、実施例11においては、第2接合材に含まれていた硬化剤31としてのイミダゾール31aを、第1接合材に配合するようにしたものである。そしてこれら実施例12,13,14に示す成分組成により得られる特性評価項目29の評価結果については、保存中の粘度安定性29a、はんだ接合性29bともに、実施例11に示すものと同様である。   Furthermore, in Example 13, as the epoxy resin 22 in the second bonding material shown in Example 11, a part of the bisphenol A type epoxy resin 22a (4% in the total compounding ratio) was replaced with a cresol novolak type (solid) 22b. 1% fatty acid amide wax 26a is added as the thixotropic agent 26, and 1% imidazole 27a is added as the hardening accelerator 27 in the first bonding material, and the vehicle 30 is reduced by that amount to 9%. . In Example 14, the imidazole 31a as the curing agent 31 contained in the second bonding material in Example 11 is blended in the first bonding material. And about the evaluation result of the characteristic evaluation item 29 obtained by the component composition shown in these Examples 12, 13, and 14, both the viscosity stability 29a during storage and the solderability 29b are the same as those shown in Example 11. .

上記説明したように、本発明は、電子部品に形成された接続用の端子である半田バンプ3aを基板9に形成された接続用の電極9aに半田付けする電子部品の半田付けにおいて、半田バンプ3aまたは電極9aにそれぞれ個別に供給され半田接合過程において接触して混合される2種類の接合材の組み合わせを、エポキシ樹脂を主成分とする第1接合材および少なくともエポキシ樹脂を硬化させる硬化作用を有する活性剤および半田粒子を含む第2接合材の組み合わせ、または半田粒子を混合したビヒクルを主成分とする第1接合材および少なくともエポキシ樹脂およびこのエポキシ樹脂を硬化させる硬化作用を有する活性剤を含む第2接合材の組み合わせとなるように、2種類の接合材の成分組成を構成したものである。   As described above, according to the present invention, in the soldering of the electronic component, the solder bump 3a, which is a connection terminal formed on the electronic component, is soldered to the connection electrode 9a formed on the substrate 9. The combination of two types of bonding materials that are individually supplied to the electrodes 3a or 9a and contacted and mixed in the solder bonding process has a curing action of curing the first bonding material mainly composed of an epoxy resin and at least the epoxy resin. A combination of a second bonding material including an activator and solder particles, or a first bonding material mainly composed of a vehicle in which solder particles are mixed, and at least an epoxy resin and an activator having a curing action for curing the epoxy resin. The component composition of two types of bonding materials is configured so as to be a combination of the second bonding materials.

これにより、使用前の保存期間中においてエポキシ樹脂、硬化作用を有する活性剤、硬化作用を促進する触媒作用を有する半田粒子が同一接合材中に存在することがない。したがって、2つの接合材が混合された状態における活性作用を確保しつつ、保存期間中におけるエポキシ樹脂の硬化の進行を抑制することができ、熱硬化性フラックスの保存安定性の不良原因を排除して半田酸化膜の除去能力を確保することができる。   Thus, the epoxy resin, the activator having a curing action, and the solder particles having a catalytic action for promoting the curing action are not present in the same bonding material during the storage period before use. Therefore, it is possible to suppress the progress of curing of the epoxy resin during the storage period while ensuring the active action in the state where the two bonding materials are mixed, and eliminate the cause of poor storage stability of the thermosetting flux. Thus, the ability to remove the solder oxide film can be ensured.

なお本実施の形態においては、電子部品に形成された接続用の端子が半田バンプ3aである例を示したが、本発明の適用対象は半田バンプ3aを用いた接合形態に限定されるものではない。例えば、電子部品の下面に導電性金属によって形成された端子または基板の電極の接合面に半田メッキなどの方法によって予め半田を供給しておいてもよく、さらには第1接合材または第2接合材のいずれかに含有される半田成分のみによって端子と電極とを接合する形態であってもよい。   In the present embodiment, the example in which the connection terminals formed on the electronic component are the solder bumps 3a has been shown. However, the application target of the present invention is not limited to the joining form using the solder bumps 3a. Absent. For example, solder may be supplied in advance by a method such as solder plating to a joint surface of a terminal or substrate electrode formed of a conductive metal on the lower surface of the electronic component, and further, the first joint material or the second joint. The terminal and the electrode may be joined only by the solder component contained in any of the materials.

本発明の電子部品の半田付け方法は、熱硬化性フラックスの保存安定性の不良原因を排除し、半田酸化膜の除去能力を確保することができるという効果を有し、電子部品を半田付けにより基板に実装する分野に有用である。   The electronic component soldering method of the present invention has the effect of eliminating the cause of poor storage stability of the thermosetting flux and ensuring the ability to remove the solder oxide film. Useful in the field of mounting on a substrate.

1 電子部品実装装置
3 電子部品
3a 半田バンプ
3a* 半田電極部
5 接合材転写部
6 基板保持部
7 部品移載機構
8 接合材塗布機構
9 基板
9a 電極
12 端子接合材
17 電極接合材
18 熱硬化性フラックス
18* 樹脂補強部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Electronic component mounting apparatus 3 Electronic component 3a Solder bump 3a * Solder electrode part 5 Bonding material transfer part 6 Substrate holding part 7 Component transfer mechanism 8 Bonding material application mechanism 9 Substrate 9a Electrode 12 Terminal bonding material 17 Electrode bonding material 18 Thermosetting Flux 18 * Resin reinforcement

Claims (4)

エポキシ樹脂を主成分とする第1接合材および少なくとも前記エポキシ樹脂を硬化させる硬化作用を有する活性剤と半田粒子とを含む第2接合材を用い、
電子部品に形成された接続用の端子を基板に形成された接続用の電極に半田付けする電子部品の半田付け方法であって、
前記電極に前記第1接合材または第2接合材のいずれかを供給する電極接合材供給工程と、前記第1接合材および第2接合材のうち、前記電極接合材供給工程において供給されなかった接合材を前記端子に供給する端子接合材供給工程と、前記電極接合材供給工程後の基板に前記端子接合材供給工程後の電子部品を搭載し、前記電極に前記端子を着地させて前記第1接合材と第2接合材とを接触させて混合する搭載工程と、前記搭載工程後の基板および電子部品を加熱することにより、前記電極に前記端子を半田接合するとともに、前記エポキシ樹脂を熱硬化させる加熱工程とを含むことを特徴とする電子部品の半田付け方法。
Using a first bonding material mainly composed of an epoxy resin and a second bonding material containing an activator having at least a curing action for curing the epoxy resin and solder particles,
An electronic component soldering method for soldering a connection terminal formed on an electronic component to a connection electrode formed on a substrate,
Of the electrode bonding material supply step for supplying either the first bonding material or the second bonding material to the electrode and the first bonding material and the second bonding material, the electrode bonding material supply step did not supply the electrode. A terminal bonding material supply step for supplying a bonding material to the terminal; and an electronic component after the terminal bonding material supply step is mounted on a substrate after the electrode bonding material supply step, and the terminal is landed on the electrode to perform the first operation. A mounting process in which the first bonding material and the second bonding material are brought into contact with each other, and the substrate and the electronic component after the mounting process are heated, so that the terminals are soldered to the electrodes and the epoxy resin is heated. A method of soldering an electronic component comprising a heating step of curing.
半田粒子を混合したビヒクルを主成分とする第1接合材および少なくともエポキシ樹脂とこのエポキシ樹脂を硬化させる硬化作用を有する活性剤とを含む第2接合材を用い、
電子部品に形成された接続用の端子を基板に形成された接続用の電極に半田付けする電子部品の半田付け方法であって、
前記電極に前記第1接合材または第2接合材のいずれかを供給する電極接合材供給工程と、前記第1接合材および第2接合材のうち、前記電極接合材供給工程において供給されなかった接合材を前記端子に供給する端子接合材供給工程と、前記電極接合材供給工程後の基板に前記端子接合材供給工程後の電子部品を搭載し、前記電極に前記端子を着地させて前記第1接合材と第2接合材とを接触させて混合する搭載工程と、前記搭載工程後の基板および電子部品を加熱することにより、前記電極に前記端子を半田接合するとともに、前記エポキシ樹脂を熱硬化させる加熱工程とを含むことを特徴とする電子部品の半田付け方法。
Using a first bonding material mainly composed of a vehicle mixed with solder particles and a second bonding material containing at least an epoxy resin and an activator having a curing action for curing the epoxy resin,
An electronic component soldering method for soldering a connection terminal formed on an electronic component to a connection electrode formed on a substrate,
Of the electrode bonding material supply step for supplying either the first bonding material or the second bonding material to the electrode and the first bonding material and the second bonding material, the electrode bonding material supply step did not supply the electrode. A terminal bonding material supply step for supplying a bonding material to the terminal; and an electronic component after the terminal bonding material supply step is mounted on a substrate after the electrode bonding material supply step, and the terminal is landed on the electrode to perform the first operation. A mounting process in which the first bonding material and the second bonding material are brought into contact with each other, and the substrate and the electronic component after the mounting process are heated, so that the terminals are soldered to the electrodes and the epoxy resin is heated. A method of soldering an electronic component comprising a heating step of curing.
エポキシ樹脂を主成分とする第1接合材および少なくとも活性剤と半田粒子とを含む第2接合材を用い、電子部品に形成された接続用の端子を基板に形成された接続用の電極に半田付けする電子部品の半田付け方法であって、
前記第1接合材およびまたは第2接合材は前記エポキシ樹脂を硬化させる硬化剤を含み、
前記電極に前記第1接合材または第2接合材のいずれかを供給する電極接合材供給工程と、前記第1接合材および第2接合材のうち、前記電極接合材供給工程において供給されなかった接合材を前記端子に供給する端子接合材供給工程と、前記電極接合材供給工程後の基板に前記端子接合材供給工程後の電子部品を搭載し、前記電極に前記端子を着地させて前記第1接合材と第2接合材とを接触させて混合する搭載工程と、前記搭載工程後の基板および電子部品を加熱することにより、前記電極に前記端子を半田接合するとともに、前記エポキシ樹脂を熱硬化させる加熱工程とを含むことを特徴とする電子部品の半田付け方法。
Using a first bonding material mainly composed of an epoxy resin and a second bonding material containing at least an activator and solder particles, a connection terminal formed on an electronic component is soldered to a connection electrode formed on a substrate. A method for soldering electronic components to be attached,
The first bonding material and / or the second bonding material includes a curing agent that cures the epoxy resin,
Of the electrode bonding material supply step for supplying either the first bonding material or the second bonding material to the electrode and the first bonding material and the second bonding material, the electrode bonding material supply step did not supply the electrode. A terminal bonding material supply step for supplying a bonding material to the terminal; and an electronic component after the terminal bonding material supply step is mounted on a substrate after the electrode bonding material supply step, and the terminal is landed on the electrode to perform the first operation. A mounting process in which the first bonding material and the second bonding material are brought into contact with each other, and the substrate and the electronic component after the mounting process are heated, so that the terminals are soldered to the electrodes and the epoxy resin is heated. A method of soldering an electronic component comprising a heating step of curing.
半田粒子を混合したビヒクルを主成分とする第1接合材および少なくともエポキシ樹脂と活性剤とを含む第2接合材を用い、電子部品に形成された接続用の端子を基板に形成された接続用の電極に半田付けする電子部品の半田付け方法であって、
前記第1接合材およびまたは第2接合材は前記エポキシ樹脂を硬化させる硬化剤を含み、
前記電極に前記第1接合材または第2接合材のいずれかを供給する電極接合材供給工程と、前記第1接合材および第2接合材のうち、前記電極接合材供給工程において供給されなかった接合材を前記端子に供給する端子接合材供給工程と、前記電極接合材供給工程後の基板に前記端子接合材供給工程後の電子部品を搭載し、前記電極に前記端子を着地させて前記第1接合材と第2接合材とを接触させて混合する搭載工程と、前記搭載工程後の基板および電子部品を加熱することにより、前記電極に前記端子を半田接合するとともに、前記エポキシ樹脂を熱硬化させる加熱工程とを含むことを特徴とする電子部品の半田付け方法。
A first bonding material mainly composed of a vehicle mixed with solder particles and a second bonding material containing at least an epoxy resin and an activator, and a connection terminal formed on an electronic component formed on a substrate A method of soldering an electronic component to be soldered to an electrode of
The first bonding material and / or the second bonding material includes a curing agent that cures the epoxy resin,
Of the electrode bonding material supply step for supplying either the first bonding material or the second bonding material to the electrode and the first bonding material and the second bonding material, the electrode bonding material supply step did not supply the electrode. A terminal bonding material supply step for supplying a bonding material to the terminal; and an electronic component after the terminal bonding material supply step is mounted on a substrate after the electrode bonding material supply step, and the terminal is landed on the electrode to perform the first operation. A mounting process in which the first bonding material and the second bonding material are brought into contact with each other, and the substrate and the electronic component after the mounting process are heated, so that the terminals are soldered to the electrodes and the epoxy resin is heated. A method of soldering an electronic component comprising a heating step of curing.
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