JP5176952B2 - Inspection device using microchip and inspection system using microchip - Google Patents
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Description
本発明は、マイクロチップを用いる検査装置及びマイクロチップを用いる検査システムに関する。 The present invention relates to an inspection apparatus using a microchip and an inspection system using a microchip.
近年、微細流路が集積加工されたマイクロチップ上において、複数の溶液を混合して反応させ、当該反応の状態を検出して分析を行うマイクロ総合分析システム（Ｍｉｃｒｏ Ｔｏｔａｌ Ａｎａｌｙｓｉｓ Ｓｙｓｔｅｍ；μＴＡＳ）が注目されている。 In recent years, a micro total analysis system (μTAS) that performs analysis by mixing and reacting a plurality of solutions on a microchip in which microchannels are integrated and processed is drawing attention. Has been.
μＴＡＳでは、試料の量が少ない、反応時間が短い、廃棄物が少ない等のメリットがある。医療分野に使用した場合、検体（血液、尿、拭い液等）の量を少なくすることで患者への負担を軽減でき、試薬の量を少なくすることで検査のコストを下げることができる。また、検体、試薬の量が少ないことから、反応時間が大幅に短縮され、検査の効率化が図れる。さらに、装置が小型であるため小さな医療機関にも設置することができ、場所を選ばず迅速に検査を行うことができる。 μTAS has advantages such as a small amount of sample, a short reaction time, and a small amount of waste. When used in the medical field, the burden on the patient can be reduced by reducing the amount of specimen (blood, urine, wiping liquid, etc.), and the cost of the test can be reduced by reducing the amount of reagent. In addition, since the amount of sample and reagent is small, the reaction time is greatly shortened, and the efficiency of the test can be improved. Furthermore, since the device is small, it can be installed in a small medical institution, and a test can be performed quickly regardless of location.
マイクロチップを用いる検査では、試薬の冷却、検体と試薬との反応促進のための加熱等を行うために、マイクロチップの温度調節を行うことが多い。 In a test using a microchip, the temperature of the microchip is often adjusted in order to cool the reagent and to heat the sample to promote the reaction between the reagent and the like.
特許文献１には、マイクロチップにおける複数の領域のそれぞれを温度調節するマイクロチップ用温度調節器が記載されている。 Patent Document 1 describes a microchip temperature controller that adjusts the temperature of each of a plurality of regions in a microchip.
また、マイクロチップ上の反応を検出する方法として、マイクロチップの反応部に光を照射し、その透過光や反射光を検出する方法が知られている。 Further, as a method for detecting a reaction on the microchip, a method is known in which light is applied to the reaction portion of the microchip and its transmitted light or reflected light is detected.
特許文献２には、マイクロチップ上の反応検出流路（被検出部）に光を照射し、反応検出流路からの光を受光することにより反応検出流路の反応状態の検出を行う検査装置が記載されている。
マイクロチップを冷却する場合に、冷却部分の近傍にマイクロチップの被検出部や検査装置の光検出部が存在していると、当該被検出部や光検出部に結露が生じ易くなる。結露が生じると検出値が変化し、誤った検査結果を出力してしまう可能性がある。 When the microchip is cooled, if there is a detected part of the microchip or a light detecting part of the inspection apparatus in the vicinity of the cooling part, condensation tends to occur in the detected part or the light detecting part. When dew condensation occurs, the detection value changes, and an erroneous test result may be output.
本発明は、以上のような問題に鑑みてなされたものであり、マイクロチップを冷却する場合に、マイクロチップの被検出部や検査装置の光検出部に結露が発生しにくく、また結露が発生したとしても結露を除去して、精度良い検出を行うことのできるマイクロチップを用いる検査装置及びマイクロチップを用いる検査システムを提供することを目的としている。 The present invention has been made in view of the above problems. When the microchip is cooled, condensation is unlikely to occur in the detected part of the microchip and the light detection part of the inspection apparatus. Even if it does, it aims at providing the test | inspection apparatus using the microchip which can remove a dew condensation, and can perform a detection with sufficient precision, and the test | inspection system using a microchip.
本発明のマイクロチップを用いる検査装置は、被検出部及び被冷却部を有するマイクロチップが収容されるマイクロチップ収容部と、前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被検出部に対応して設けられた検出部と、前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被冷却部に対応して設けられた冷却部と、を有するマイクロチップを用いる検査装置において、前記検出部が結露しないように前記検出部と前記冷却部との間隔が設定されていることを特徴としている。 The inspection apparatus using the microchip according to the present invention corresponds to the microchip housing portion in which the microchip having the detected portion and the cooled portion is accommodated, and the detected portion of the microchip accommodated in the microchip housing portion. In the inspection apparatus using a microchip, the detection unit includes: a detection unit provided as a cooling unit; and a cooling unit provided corresponding to the cooled part of the microchip stored in the microchip storage unit. An interval between the detection unit and the cooling unit is set so as not to cause condensation.
また、本発明のマイクロチップを用いる検査装置は、前記検出部と前記冷却部との間に断熱部材が配置されていることを特徴としている。 The inspection apparatus using the microchip of the present invention is characterized in that the heat insulating member is disposed between the cooling portion and the front Symbol detector.
また、本発明のマイクロチップを用いる検査装置は、前記検出部の近傍に作用させる除湿手段を有することを特徴としている。 Moreover, the inspection apparatus using the microchip of the present invention is characterized by having a dehumidifying means that acts in the vicinity of the detection unit .
本発明のマイクロチップを用いる検査システムは、被検出部及び被冷却部が設けられたマイクロチップと、前記マイクロチップが収容されるマイクロチップ収容部と、前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被検出部に対応して設けられた検出部と、前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被冷却部に対応して設けられた冷却部と、を有するマイクロチップを用いる検査システムにおいて、前記マイクロチップの被検出部が結露しないように、前記マイクロチップの被検出部と被冷却部との間隔が設定されていることを特徴としている。 The inspection system using the microchip according to the present invention includes a microchip provided with a detected part and a cooled part, a microchip accommodating part in which the microchip is accommodated, and a microchip accommodated in the microchip accommodating part. Inspection using a microchip having a detection portion provided corresponding to the detected portion and a cooling portion provided corresponding to the cooled portion of the microchip accommodated in the microchip accommodating portion The system is characterized in that an interval between the detected portion of the microchip and the cooled portion is set so that the detected portion of the microchip does not condense.
本発明によれば、マイクロチップを冷却する場合に、結露が発生しないように冷却部と検出部との相対位置を設定している為マイクロチップの被検出部や検査装置の検出部に結露が発生しにくく、また結露が発生したとしても結露を除湿手段を用いて除去することができるので、精度良い検出を行うことができる。 According to the present invention, when the microchip is cooled, the relative position between the cooling unit and the detection unit is set so that condensation does not occur, and therefore, dew condensation occurs on the detected part of the microchip and the detection unit of the inspection apparatus. Even if condensation is difficult to occur, the condensation can be removed using the dehumidifying means, so that accurate detection can be performed.
１ マイクロチップ
４ 光検出部
７ 結露センサ
８ 除湿ヒータ
３２ ペルチェ素子
８０ 検査装置
１１１ 被検出部
１２０ 試薬収容部
１２１ 検体収容部
１２２ ポジティブコントロール収容部
１２３ ネガティブコントロール収容部DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Microchip 4 Photodetection part 7 Dew condensation sensor 8 Dehumidification heater 32 Peltier element 80 Inspection apparatus 111 Detected part 120 Reagent storage part 121 Specimen storage part 122 Positive control storage part 123 Negative control storage part
本実施形態では、一例として、特定ＤＮＡの反応を検出するＤＮＡチップのように、検体と試薬とをマイクロチップ上で反応させる場合について示すが、これに限られず、少なくとも２種類の流体をマイクロチップ上で混合させる場合に適用することができる。 In the present embodiment, as an example, a case where a sample and a reagent are reacted on a microchip, such as a DNA chip that detects a reaction of a specific DNA, is not limited to this, but at least two types of fluids are microchip. It can be applied when mixing above.
（装置構成）
図１は、本実施形態に係るマイクロチップを用いる検査装置８０の外観図である。検査装置８０は、マイクロチップ１に予め注入された検体と試薬とを自動的に反応させ、反応結果を自動的に出力する装置である。(Device configuration)
FIG. 1 is an external view of an inspection apparatus 80 using the microchip according to the present embodiment. The inspection device 80 is a device that automatically reacts a sample and a reagent previously injected into the microchip 1 and automatically outputs a reaction result.
検査装置８０の筐体８２には、マイクロチップ１を装置内部に挿入するための挿入口８３、表示部８４、メモリカードスロット８５、プリント出力口８６、操作パネル８７、外部入出力端子８８が設けられている。 The casing 82 of the inspection device 80 is provided with an insertion port 83 for inserting the microchip 1 into the device, a display unit 84, a memory card slot 85, a print output port 86, an operation panel 87, and an external input / output terminal 88. It has been.
検査担当者は、図１の矢印方向にマイクロチップ１を挿入し、操作パネル８７を操作して検査を開始させる。検査装置８０の内部では、マイクロチップ１内の反応の検査が自動的に行われ、検査が終了すると表示部８４に結果が表示される。検査結果は操作パネル８７の操作により、プリント出力口８６よりプリントを出力したり、メモリカードスロット８５に挿入されたメモリカードに記憶することができる。また、外部入出力端子８８から例えばＬＡＮケーブルを使って、パソコンなどにデータを保存することができる。検査終了後、検査担当者はマイクロチップ１を挿入口８３から取り出す。 The person in charge of inspection inserts the microchip 1 in the direction of the arrow in FIG. 1 and operates the operation panel 87 to start the inspection. Inside the inspection device 80, the reaction in the microchip 1 is automatically inspected, and when the inspection is completed, the result is displayed on the display unit 84. The inspection result can be output from the print output port 86 or stored in a memory card inserted into the memory card slot 85 by operating the operation panel 87. Further, data can be stored in the personal computer or the like from the external input / output terminal 88 using, for example, a LAN cable. After completion of the inspection, the inspection person takes out the microchip 1 from the insertion port 83.
図２は、本実施形態に係るマイクロチップを用いる検査装置８０の構成図である。図２においては、マイクロチップが図１に示す挿入口８３から挿入され、セットが完了している状態を示している。 FIG. 2 is a configuration diagram of an inspection apparatus 80 using the microchip according to the present embodiment. FIG. 2 shows a state where the microchip is inserted from the insertion port 83 shown in FIG. 1 and the setting is completed.
検査装置８０は、マイクロチップ１に予め注入された検体及び試薬を送液するための駆動液１１を貯留する駆動液タンク１０、マイクロチップ１に駆動液１１を供給するためのポンプ５、ポンプ５とマイクロチップ１とを駆動液１１が漏れないように接続するパッキン６、マイクロチップ１の必要部分を温調する温度調節ユニット３、マイクロチップ１をずれないようにパッキン６に密着させるためのチップ押圧板２、チップ押圧板２を昇降させるための押圧板駆動部３２、マイクロチップ１をポンプ５に対して精度良く位置決めする規制部材３１、マイクロチップ１内の検体と試薬との反応状態等を検出する光検出部４、光検出部４近傍に設けられた結露センサ７及び除湿ヒータ８、等を備えている。 The inspection apparatus 80 includes a driving liquid tank 10 that stores a driving liquid 11 for feeding a sample and a reagent previously injected into the microchip 1, a pump 5 for supplying the driving liquid 11 to the microchip 1, and a pump 5. And a microchip 1 are connected so that the driving liquid 11 does not leak, a temperature control unit 3 that controls the temperature of a necessary part of the microchip 1, and a chip that adheres to the packing 6 so that the microchip 1 is not displaced. The pressing plate 2, the pressing plate drive unit 32 for raising and lowering the chip pressing plate 2, the regulating member 31 for accurately positioning the microchip 1 with respect to the pump 5, the reaction state between the sample and the reagent in the microchip 1, etc. The light detection part 4 to detect, the dew condensation sensor 7 provided in the light detection part 4 vicinity, the dehumidification heater 8, etc. are provided.
チップ押圧板２は、初期状態においては、図２に示す位置より上方に退避している。これにより、マイクロチップ１は矢印Ｘ方向に挿抜可能であり、検査担当者は挿入口８３（図１参照）から規制部材３１に当接するまでマイクロチップ１を挿入する。その後、チップ押圧板２は、押圧板駆動部３２により下降してマイクロチップ１に当接し、マイクロチップ１の下面が温度調節ユニット３及びパッキン６に密着される。 The chip pressing plate 2 is retracted upward from the position shown in FIG. 2 in the initial state. Thereby, the microchip 1 can be inserted / removed in the direction of the arrow X, and the person inspecting inserts the microchip 1 from the insertion port 83 (see FIG. 1) until it comes into contact with the regulating member 31. Thereafter, the chip pressing plate 2 is lowered by the pressing plate driving unit 32 and comes into contact with the microchip 1, and the lower surface of the microchip 1 is in close contact with the temperature adjustment unit 3 and the packing 6.
温度調節ユニット３は、マイクロチップ１の必要部分を温調するもので、ペルチェ素子３３及びヒータ３４を備えている。試薬が収容されている部分をペルチェ素子３３で冷却して試薬が変性しないようにしたり、検体と試薬とが反応する部分をヒータ３４で加熱して反応を促進させたりする。 The temperature adjustment unit 3 controls the temperature of a necessary part of the microchip 1 and includes a Peltier element 33 and a heater 34. The part containing the reagent is cooled by the Peltier element 33 so that the reagent is not denatured, or the part where the sample and the reagent react is heated by the heater 34 to promote the reaction.
光検出部４は、発光部４ａ及び受光部４ｂから構成され、発光部４ａからの光をマイクロチップ１に照射し、マイクロチップ１を透過した光を受光部４ｂにより検出する。受光部４ｂはチップ押圧板２の内部に一体的に設けられている。発光部４ａ及び受光部４ｂは、後述のマイクロチップ１の被検出部１１１ａ〜１１１ｄのそれぞれに対向するように複数設けられている。 The light detection unit 4 includes a light emitting unit 4a and a light receiving unit 4b. The light detecting unit 4 irradiates the microchip 1 with light from the light emitting unit 4a, and detects light transmitted through the microchip 1 with the light receiving unit 4b. The light receiving portion 4b is integrally provided inside the chip pressing plate 2. A plurality of light emitting sections 4a and light receiving sections 4b are provided so as to face each of the detected sections 111a to 111d of the microchip 1 described later.
ポンプ５は、ポンプ室５２、ポンプ室５２の容積を変化させる圧電素子５１、ポンプ室５２のマイクロチップ１側に位置する第１絞り流路５３、ポンプ室の駆動液タンク１０側に位置する第２絞り流路５４、等から構成されている。第１絞り流路５３及び第２絞り流路５４は絞られた狭い流路となっており、また、第１絞り流路５３は第２絞り流路５４よりも長い流路となっている。 The pump 5 includes a pump chamber 52, a piezoelectric element 51 that changes the volume of the pump chamber 52, a first throttle channel 53 that is located on the microchip 1 side of the pump chamber 52, and a first that is located on the drive fluid tank 10 side of the pump chamber. It is composed of two throttle channels 54 and the like. The first throttle channel 53 and the second throttle channel 54 are narrow and narrow channels, and the first throttle channel 53 is longer than the second throttle channel 54.
駆動液１１を順方向（マイクロチップ１に向かう方向）に送液する場合には、まず、ポンプ室５２の容積を急激に減少させるように圧電素子５１を駆動する。そうすると、短い絞り流路である第２絞り流路５４において乱流が発生し、第２絞り流路５４における流路抵抗が長い絞り流路である第１絞り流路５３に比べて相対的に大きくなる。これにより、ポンプ室５２内の駆動液１１は、第１絞り流路５３の方に支配的に押し出され送液される。次に、ポンプ室５２の容積を緩やかに増加させるように圧電素子５１を駆動する。そうすると、ポンプ室５２内の容積増加に伴って駆動液１１が第１絞り流路５３及び第２絞り流路５４から流れ込む。このとき、第２絞り流路５４の方が第１絞り流路５３と比べて長さが短いので、第２絞り流路５４の方が第１絞り流路５３と比べて流路抵抗が小さくなり、ポンプ室５２内には第２絞り流路５４の方から支配的に駆動液１１が流入する。以上の動作を圧電素子５１が繰り返すことにより、駆動液１１が順方向に送液されることになる。 In the case where the driving liquid 11 is fed in the forward direction (direction toward the microchip 1), first, the piezoelectric element 51 is driven so as to rapidly reduce the volume of the pump chamber 52. Then, a turbulent flow is generated in the second throttle channel 54 that is a short throttle channel, and the channel resistance in the second throttle channel 54 is relatively larger than that of the first throttle channel 53 that is a throttle channel. growing. As a result, the driving liquid 11 in the pump chamber 52 is predominantly pushed toward the first throttle channel 53 and fed. Next, the piezoelectric element 51 is driven so that the volume of the pump chamber 52 is gradually increased. Then, the driving liquid 11 flows from the first throttle channel 53 and the second throttle channel 54 as the volume in the pump chamber 52 increases. At this time, since the length of the second throttle channel 54 is shorter than that of the first throttle channel 53, the channel resistance of the second throttle channel 54 is smaller than that of the first throttle channel 53. Thus, the driving liquid 11 flows predominantly from the second throttle channel 54 into the pump chamber 52. When the piezoelectric element 51 repeats the above operation, the driving liquid 11 is fed in the forward direction.
一方、駆動液１１を逆方向（駆動液タンク１０に向かう方向）に送液する場合には、まず、ポンプ室５２の容積を緩やかに減少させるように圧電素子５１を駆動する。そうすると、第２絞り流路５４の方が第１絞り流路５３と比べて長さが短いので、第２絞り流路５４の方が第１絞り流路５３と比べて流路抵抗が小さくなる。これにより、ポンプ室５２内の駆動液１１は、第２絞り流路５４の方に支配的に押し出され送液される。次に、ポンプ室５２の容積を急激に増加させるように圧電素子５１を駆動する。そうすると、ポンプ室５２内の容積増加に伴って駆動液１１が第１絞り流路５３及び第２絞り流路５４から流れ込む。このとき、短い絞り流路である第２絞り流路５４において乱流が発生し、第２絞り流路５４における流路抵抗が長い絞り流路である第１絞り流路５３に比べて相対的に大きくなる。これにより、ポンプ室５２内には第１絞り流路５３の方から支配的に駆動液１１が流入する。以上の動作を圧電素子５１が繰り返すことにより、駆動液１１が逆方向に送液されることになる。 On the other hand, when the driving liquid 11 is fed in the reverse direction (direction toward the driving liquid tank 10), first, the piezoelectric element 51 is driven so that the volume of the pump chamber 52 is gradually reduced. Then, since the length of the second throttle channel 54 is shorter than that of the first throttle channel 53, the channel resistance of the second throttle channel 54 is smaller than that of the first throttle channel 53. . As a result, the driving liquid 11 in the pump chamber 52 is predominantly pushed out toward the second throttle channel 54 and fed. Next, the piezoelectric element 51 is driven so that the volume of the pump chamber 52 is rapidly increased. Then, the driving liquid 11 flows from the first throttle channel 53 and the second throttle channel 54 as the volume in the pump chamber 52 increases. At this time, turbulent flow is generated in the second throttle channel 54, which is a short throttle channel, and the channel resistance in the second throttle channel 54 is relatively larger than that of the first throttle channel 53, which is a throttle channel. Become bigger. As a result, the driving liquid 11 flows into the pump chamber 52 predominantly from the first throttle channel 53. When the piezoelectric element 51 repeats the above operation, the driving liquid 11 is fed in the reverse direction.
結露センサ７は、光検出部４及び後述のマイクロチップ１の被検出部１１１の結露を検出するためのセンサである。 The dew condensation sensor 7 is a sensor for detecting dew condensation on the light detection unit 4 and the detected portion 111 of the microchip 1 described later.
除湿ヒータ８は、光検出部４の近傍を除湿するためのヒータである。 The dehumidifying heater 8 is a heater for dehumidifying the vicinity of the light detection unit 4.
本実施形態においては、光検出部４が結露が発生しないように装置の動作環境を考慮してペルチェ素子３３と光検出部４との相対位置を設定している。例えば、以下のように設定する。装置の動作環境における最高温度及び最高湿度がそれぞれ３５℃、７５％とすると、露点温度は約３０℃となる。ペルチェ素子３３の設定温度を５℃としたときの機内の温度分布を考慮して、温度が３０℃以上になる位置に光検出部４を配置する。ここで、装置の動作環境とは、例えば、取扱説明書の製品仕様に記載されているものである。 In the present embodiment, the relative position between the Peltier element 33 and the light detection unit 4 is set in consideration of the operating environment of the apparatus so that the light detection unit 4 does not cause condensation. For example, the setting is as follows. If the maximum temperature and the maximum humidity in the operating environment of the apparatus are 35 ° C. and 75%, respectively, the dew point temperature is about 30 ° C. Considering the temperature distribution in the machine when the set temperature of the Peltier element 33 is 5 ° C., the light detection unit 4 is arranged at a position where the temperature becomes 30 ° C. or higher. Here, the operating environment of the apparatus is, for example, that described in the product specification of the instruction manual.
また、光検出部４及びマイクロチップ１の被検出部１１１の結露の万一の発生に備えて、結露センサ７及び除湿ヒータ８を設け、結露センサ７により結露が検出された場合に、除湿ヒータ８を作動させ光検出部４及びマイクロチップ１の被検出部１１１の結露を除去する。結露除去後に検出動作を行う。 Further, a dew condensation sensor 7 and a dehumidifying heater 8 are provided for the occurrence of dew condensation in the light detecting unit 4 and the detected part 111 of the microchip 1. When dew condensation is detected by the dew condensation sensor 7, the dehumidifying heater is provided. 8 is operated to remove condensation on the light detection unit 4 and the detected portion 111 of the microchip 1. Perform detection after removing condensation.
（マイクロチップの構成）
図３は、本実施形態に係るマイクロチップ１の構成図である。一例の構成を示すものであり、これに限定されない。(Configuration of microchip)
FIG. 3 is a configuration diagram of the microchip 1 according to the present embodiment. An example configuration is shown, and the present invention is not limited to this.
図３（ａ）において矢印は、検査装置８０にマイクロチップ１を挿入する挿入方向であり、図３（ａ）は挿入時にマイクロチップ１の下面となる面を図示している。図３（ｂ）はマイクロチップ１の側面図である。 In FIG. 3A, an arrow indicates an insertion direction in which the microchip 1 is inserted into the inspection apparatus 80, and FIG. 3A illustrates a surface serving as a lower surface of the microchip 1 when inserted. FIG. 3B is a side view of the microchip 1.
図３（ｂ）に示すように、マイクロチップ１は溝形成基板１０８と、溝形成基板１０８を覆う被覆基板１０９から構成されている。 As shown in FIG. 3B, the microchip 1 includes a groove forming substrate 108 and a covering substrate 109 that covers the groove forming substrate 108.
本実施形態に係るマイクロチップ１には、検体と試薬とをマイクロチップ１上で混合・反応させるための微細流路及び流路エレメントが配設されている。これらの微細流路および流路エレメントによってマイクロチップ１内で行われる処理の一例を図３（ｃ）を用いて説明する。図３（ｃ）は、図３（ａ）において被覆基板１０９が取り外された状態で流路エレメントとその接合状態を模式的に示している。 The microchip 1 according to the present embodiment is provided with a fine channel and a channel element for mixing and reacting a specimen and a reagent on the microchip 1. An example of processing performed in the microchip 1 by these fine flow paths and flow path elements will be described with reference to FIG. FIG. 3C schematically shows the flow path element and its joined state with the coated substrate 109 removed in FIG.
微細流路には、検体液を収容する検体収容部１２１、試薬を収容する試薬収容部１２０、ポジティブコントロール用の試薬を収容するポジティブコントロール収容部１２２、ネガティブコントロール用の試薬を収容するネガティブコントロール収容部１２３等が設けられている。試薬、ポジティブコントロール及びネガティブコントロールは、予め各収容部に収容されている。ポジティブコントロールは試薬と反応して陽性を示すもので、ネガティブコントロールは試薬と反応して陰性を示すものであり、正確な検査が実施されたか否かを確認するためのものである。 The fine flow path includes a sample storage unit 121 that stores a sample liquid, a reagent storage unit 120 that stores a reagent, a positive control storage unit 122 that stores a positive control reagent, and a negative control storage that stores a negative control reagent. A portion 123 and the like are provided. Reagents, positive controls, and negative controls are stored in advance in the storage units. The positive control reacts with the reagent and shows positive, and the negative control reacts with the reagent and shows negative, and is used to confirm whether or not an accurate test has been performed.
なお、図３（ｃ）は、説明を簡単にするため模式的に示しており、実際は、複数の試薬や希釈用溶液などをチップに収容し、チップ内での試薬の調合などを行わせてもよい。 FIG. 3 (c) is shown schematically for the sake of simplicity. Actually, a plurality of reagents, diluting solutions, etc. are accommodated in the chip, and the reagent is mixed in the chip. Also good.
検体注入部１１３はマイクロチップ１に検体を注入するための注入部であり、駆動液注入部１１０ａ〜１１０ｄはマイクロチップ１に駆動液１１を注入するための注入部である。 The sample injection unit 113 is an injection unit for injecting the sample into the microchip 1, and the driving liquid injection units 110 a to 110 d are injection units for injecting the driving liquid 11 into the microchip 1.
まず、マイクロチップ１による検査を行うに先立って、検査担当者は検体を検体注入部１１３から注射器等を用いて注入する。図３（ｃ）に示すように、検体注入部１１３から注入された検体は、連通する微細流路を通って検体収容部１２１に収容される。 First, prior to performing a test using the microchip 1, the person in charge of the test injects a sample from the sample injection unit 113 using a syringe or the like. As shown in FIG. 3C, the sample injected from the sample injection unit 113 is stored in the sample storage unit 121 through the communicating fine channel.
次に、検体の注入されたマイクロチップ１は、検査担当者により図１に示す検査装置８０の挿入口８３に挿入され、図２に示すようにセットされる。 Next, the microchip 1 into which the sample is injected is inserted into the insertion port 83 of the inspection apparatus 80 shown in FIG. 1 by the inspection person, and set as shown in FIG.
次に、図２に示すポンプ５が後述するＣＰＵ９０に指令される所定の手順に従い順方向に駆動され駆動液注入部１１０ａ〜１１０ｄから駆動液１１が注入される。駆動液注入部１１０ａから注入された駆動液１１は、連通する微細流路を通って検体収容部１２１に収容されている検体を押し出し、反応部１２４に検体を送り込む。駆動液注入部１１０ｂから注入された駆動液１１は、連通する微細流路を通ってポジティブコントロール収容部１２２に収容されているポジティブコントロール用の試薬を押し出し、反応部１２５にポジティブコントロールを送り込む。駆動液注入部１１０ｃから注入された駆動液１１は、連通する微細流路を通ってネガティブコントロール収容部１２３に収容されているネガティブコントロール用の試薬を押し出し、反応部１２６にネガティブコントロールを送り込む。駆動液注入部１１０ｄから注入された駆動液１１は、連通する微細流路を通って試薬収容部１２０に収容されている試薬を押し出し、上記の反応部１２４〜１２６に試薬を送り込む。 Next, the pump 5 shown in FIG. 2 is driven in the forward direction according to a predetermined procedure instructed by the CPU 90 described later, and the driving liquid 11 is injected from the driving liquid injection units 110a to 110d. The driving liquid 11 injected from the driving liquid injection unit 110 a pushes out the sample stored in the sample storage unit 121 through the communicating fine flow path, and sends the sample to the reaction unit 124. The driving liquid 11 injected from the driving liquid injection unit 110 b pushes out the positive control reagent stored in the positive control storage unit 122 through the communicating fine flow path, and sends the positive control to the reaction unit 125. The driving liquid 11 injected from the driving liquid injection unit 110 c pushes out the negative control reagent stored in the negative control storage unit 123 through the communicating fine flow path, and sends the negative control into the reaction unit 126. The driving liquid 11 injected from the driving liquid injection section 110d pushes out the reagent stored in the reagent storage section 120 through the communicating fine flow path, and sends the reagent into the reaction sections 124 to 126 described above.
このようにして、反応部１２４では検体と試薬とが合流し、反応部１２５ではポジティブコントロールと試薬とが合流し、反応部１２６ではネガティブコントロールと試薬とが合流する。 In this way, the sample and the reagent merge in the reaction unit 124, the positive control and the reagent merge in the reaction unit 125, and the negative control and the reagent merge in the reaction unit 126.
ここで、試薬収容部１２０、検体収容部１２１、ポジティブコントロール収容部１２２及びネガティブコントロール収容部１２３は、検査装置８０のペルチェ素子３３に対向して位置し、変性することのないように冷却される。また、反応部１２４〜１２６は、検査装置８０のヒータ３４に対向して位置し、反応が促進されるよう加熱される。 Here, the reagent storage unit 120, the sample storage unit 121, the positive control storage unit 122, and the negative control storage unit 123 are positioned to face the Peltier element 33 of the inspection apparatus 80 and are cooled so as not to be denatured. . Moreover, the reaction parts 124-126 are located facing the heater 34 of the test | inspection apparatus 80, and are heated so that reaction may be accelerated | stimulated.
その後、反応部１２４で合流した検体と試薬との混合液の一部は、被検出部１１１ａに送液される。反応部１２４で合流した検体と試薬との混合液の一部並びに反応部１２５で合流したポジティブコントロールと試薬との混合液の一部は、被検出部１１１ｂに送液される。反応部１２５で合流したポジティブコントロールと試薬との混合液の一部は、被検出部１１１ｃに送液される。反応部１２６で合流したネガティブコントロールと試薬との混合液は、被検出部１１１ｄに送液される。 Thereafter, a part of the mixed liquid of the specimen and the reagent merged in the reaction unit 124 is sent to the detected unit 111a. A part of the mixed solution of the specimen and the reagent merged in the reaction unit 124 and a part of the mixed solution of the positive control and the reagent merged in the reaction unit 125 are sent to the detection unit 111b. A part of the mixed liquid of the positive control and the reagent merged in the reaction unit 125 is sent to the detection unit 111c. The liquid mixture of the negative control and the reagent merged in the reaction unit 126 is sent to the detected unit 111d.
被検出部の窓１１１ｅ及び被検出部１１１ａ〜１１１ｄは、各混合液の反応を光学的に検出するために設けられており、透明なガラスや樹脂等の材料で構成されている。 The detected part window 111e and the detected parts 111a to 111d are provided for optically detecting the reaction of each liquid mixture, and are made of a material such as transparent glass or resin.
（制御構成）
図４は、本実施形態に係るマイクロチップを用いる検査装置の制御構成の要部を示す図である。プログラムに従って検査装置８０の制御を実行するＣＰＵ９０を中心に、バス９１により、ＲＯＭ９２、ＲＡＭ９３、不揮発性メモリ９４、光検出部４、結露センサ７、及び除湿ヒータ８、等が相互に接続されている。なお、本発明の制御に直接関係しない装置構成要素については省略している。(Control configuration)
FIG. 4 is a diagram illustrating a main part of a control configuration of the inspection apparatus using the microchip according to the present embodiment. A ROM 92, a RAM 93, a nonvolatile memory 94, a light detection unit 4, a dew condensation sensor 7, a dehumidification heater 8, and the like are connected to each other by a bus 91, with a CPU 90 that executes control of the inspection apparatus 80 in accordance with a program. . Note that device components not directly related to the control of the present invention are omitted.
ＲＯＭ９２は、ＣＰＵ９０によって実行される各種制御プログラムやデータ等を記憶する。 The ROM 92 stores various control programs executed by the CPU 90, data, and the like.
ＲＡＭ９３は、ＣＰＵ９０によってワークエリアとして利用され、ＣＰＵ９０が制御を実行する際に必要なプログラムやデータを一時的に記憶する。 The RAM 93 is used as a work area by the CPU 90 and temporarily stores programs and data necessary for the CPU 90 to execute control.
不揮発性メモリ９４は、光検出部４による検出結果等を記憶する。 The nonvolatile memory 94 stores a detection result by the light detection unit 4 and the like.
光検出部４、結露センサ７、及び除湿ヒータ８についての説明は、前述したので省略する。 Since description about the light detection part 4, the dew condensation sensor 7, and the dehumidification heater 8 was mentioned above, it abbreviate | omits.
（除湿制御フロー）
図５は、本実施形態に係る除湿制御のフロー図である。除湿制御は、ＲＯＭ９２に記憶されている除湿制御プログラムに基づいてＣＰＵ９０が処理を実行することにより行われる。(Dehumidification control flow)
FIG. 5 is a flowchart of dehumidification control according to the present embodiment. Dehumidification control is performed by the CPU 90 executing processing based on a dehumidification control program stored in the ROM 92.
まず、ＣＰＵ９０は、結露センサ７の出力を取得し、結露が発生しているか否かを判断する（ステップＳ１１）。 First, the CPU 90 acquires the output of the dew condensation sensor 7 and determines whether or not dew condensation has occurred (step S11).
結露が発生していると判断すると（ステップＳ１１；Ｙｅｓ）、ＣＰＵ９０は、除湿ヒータ８をＯＮする（ステップＳ１２）。その後、ステップＳ１１に戻る。 If it is determined that condensation has occurred (step S11; Yes), the CPU 90 turns on the dehumidifying heater 8 (step S12). Then, it returns to step S11.
結露が発生していないと判断すると（ステップＳ１１；Ｎｏ）、ＣＰＵ９０は、除湿ヒータ８をＯＦＦする（ステップＳ１３）。その後、ステップＳ１１に戻る。 If it is determined that condensation has not occurred (step S11; No), the CPU 90 turns off the dehumidifying heater 8 (step S13). Then, it returns to step S11.
このように、結露センサ７により結露が検出された場合に、除湿ヒータ８を作動させ光検出部４及びマイクロチップ１の被検出部１１１の結露を除去する。 Thus, when dew condensation is detected by the dew condensation sensor 7, the dehumidifying heater 8 is operated to remove dew condensation on the light detection unit 4 and the detected portion 111 of the microchip 1.
（光検出制御フロー）
図６は、本実施形態に係る光検出制御のフロー図である。光検出制御は、ＲＯＭ９２に記憶されている光検出制御プログラムに基づいてＣＰＵ９０が処理を実行することにより行われる。(Light detection control flow)
FIG. 6 is a flowchart of light detection control according to the present embodiment. The light detection control is performed by the CPU 90 executing a process based on a light detection control program stored in the ROM 92.
まず、ＣＰＵ９０は、光検出を行うタイミングであるか否かを判断する（ステップＳ２１）。光検出を行うタイミングであると判断すると（ステップＳ２１；Ｙｅｓ）、ＣＰＵ９０は、結露センサ７の出力を取得し結露が発生しているか否かを判断する（ステップＳ２２）。光検出を行うタイミングでないと判断すると（ステップＳ２１；Ｎｏ）、ステップＳ２１に戻り、ＣＰＵ９０は、光検出を行うタイミングになるまで待機する。 First, the CPU 90 determines whether it is time to perform light detection (step S21). If it is determined that it is time to perform light detection (step S21; Yes), the CPU 90 acquires the output of the dew condensation sensor 7 and determines whether dew condensation has occurred (step S22). If it is determined that it is not time to perform light detection (step S21; No), the process returns to step S21, and the CPU 90 waits until it is time to perform light detection.
次に、結露が発生していないと判断すると（ステップＳ２２；Ｎｏ）、ＣＰＵ９０は、発光部４ａからの光をマイクロチップ１の被検出部１１１に照射し、マイクロチップ１の被検出部１１１を透過した光を受光部４ｂにより検出して光検出処理を行う（ステップＳ２３）。結露が発生していると判断すると（ステップＳ２２；Ｙｅｓ）、ステップＳ２２に戻り、ＣＰＵ９０は、結露が発生しなくなるまで待機する。この待機している間に上述の除湿制御が行われ、結露が除去される。 Next, when it is determined that no condensation has occurred (step S22; No), the CPU 90 irradiates the detected portion 111 of the microchip 1 with the light from the light emitting unit 4a, and causes the detected portion 111 of the microchip 1 to be detected. The transmitted light is detected by the light receiving unit 4b and a light detection process is performed (step S23). If it is determined that condensation has occurred (step S22; Yes), the process returns to step S22, and the CPU 90 waits until condensation does not occur. During this standby, the above dehumidification control is performed, and condensation is removed.
以上のように、本実施形態によれば、マイクロチップ１を冷却する場合に、結露が発生しないようにペルチェ素子３３と光検出部４との相対位置を設定している為マイクロチップ１の被検出部１１１や検査装置の光検出部４に結露が発生しにくく、また結露が発生したとしても結露を除湿ヒータ８を用いて除去することができるので、精度良い検出を行うことができる。 As described above, according to the present embodiment, when the microchip 1 is cooled, the relative position between the Peltier element 33 and the light detection unit 4 is set so that dew condensation does not occur. Condensation is unlikely to occur in the detection unit 111 and the light detection unit 4 of the inspection apparatus, and even if condensation occurs, the dew condensation can be removed using the dehumidifying heater 8, so that accurate detection can be performed.
本実施形態では、冷却部（ペルチェ素子３３）と検出部（光検出部４）との間には特に隔離部材を設けていないが、冷却部と検出部との間を断熱壁や断熱材で隔離することにより、検出部の結露を防止したり、この断熱壁により冷却部と検出部の間隔を近接させて装置サイズを小型化することも有効である。 In the present embodiment, no separating member is provided between the cooling unit (Peltier element 33) and the detection unit (light detection unit 4), but a heat insulating wall or a heat insulating material is provided between the cooling unit and the detection unit. It is also effective to prevent condensation of the detection unit by separating it, or to reduce the size of the device by making the distance between the cooling unit and the detection unit close to each other by this heat insulating wall.
本実施形態では、除湿手段として除湿ヒータを用いたが、マイクロチップ１の被検出部１１１や検査装置の光検出部４にドライエアー（露点温度が所定温度以下の空気）を吹き付けるドライエアー吹付手段を設けてもよい。このとき、ドライエアーを光検出部４を基点に検査装置内を還流させた後、装置外に排出するようなエアー流を形成することが好ましい。 In this embodiment, the dehumidifying heater is used as the dehumidifying means, but the dry air blowing means for blowing dry air (air having a dew point temperature equal to or lower than a predetermined temperature) to the detected portion 111 of the microchip 1 and the light detecting portion 4 of the inspection apparatus May be provided. At this time, it is preferable to form an air flow in which dry air is recirculated inside the inspection apparatus with the light detection unit 4 as a starting point and then discharged out of the apparatus.
本実施形態では、結露検出手段として結露センサ７を用いたが、温湿度センサを用いて温湿度を測定して露点温度を演算したり、直接露点温度センサを用いることも可能である。この場合、結露の予測が可能であり結露発生前の結露の発生が高まった時点で除湿手段を作動することができるので、結露を予防でき検出処理を待機させることがない。 In the present embodiment, the dew condensation sensor 7 is used as the dew condensation detection means, but it is also possible to calculate the dew point temperature by measuring the temperature and humidity using the temperature and humidity sensor, or to directly use the dew point temperature sensor. In this case, condensation can be predicted, and the dehumidifying means can be operated at the time when the occurrence of condensation before the occurrence of condensation has increased, so that condensation can be prevented and detection processing is not waited.
本実施形態では、透過光により光検出を行ったが、反射光による光検出ももちろん可能である。 In the present embodiment, light detection is performed using transmitted light, but light detection using reflected light is also possible.
Claims (11)
前記検出部が結露しないように前記検出部と前記冷却部との間隔が設定されていることを特徴とするマイクロチップを用いる検査装置。A microchip housing portion in which a microchip having a to-be-detected portion and a to-be-cooled portion is housed; a detection portion provided corresponding to the to-be-detected portion of the microchip housed in the microchip housing portion; In an inspection apparatus using a microchip having a cooling part provided corresponding to the cooled part of the microchip accommodated in the chip accommodating part,
An inspection apparatus using a microchip, wherein an interval between the detection unit and the cooling unit is set so that the detection unit is not condensed.
前記結露検出手段の出力に基づき、前記除湿手段を作動させる制御手段と、を有することを特徴とする請求項６に記載のマイクロチップを用いる検査装置。Dew condensation detection means for detecting the dew condensation state of the detection unit;
The inspection apparatus using a microchip according to claim 6 , further comprising a control unit that activates the dehumidifying unit based on an output of the dew condensation detection unit.
前記マイクロチップが収容されるマイクロチップ収容部と、
前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被検出部に対応して設けられた検出部と、
前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被冷却部に対応して設けられた冷却部と、を有するマイクロチップを用いる検査システムにおいて、
前記マイクロチップの被検出部が結露しないように、前記マイクロチップの被検出部と被冷却部との間隔が設定されていることを特徴とするマイクロチップを用いる検査システム。A microchip provided with a detected part and a cooled part;
A microchip accommodating portion for accommodating the microchip;
A detection unit provided corresponding to the detected part of the microchip accommodated in the microchip accommodation unit;
In the inspection system using the microchip, the cooling unit provided corresponding to the cooled part of the microchip housed in the microchip housing unit,
An inspection system using a microchip, wherein an interval between the detected part and the cooled part of the microchip is set so that the detected part of the microchip is not condensed.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008504999A JP5176952B2 (en) | 2006-03-13 | 2007-02-08 | Inspection device using microchip and inspection system using microchip |
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006067244 | 2006-03-13 | ||
| JP2006067244 | 2006-03-13 | ||
| JP2008504999A JP5176952B2 (en) | 2006-03-13 | 2007-02-08 | Inspection device using microchip and inspection system using microchip |
| PCT/JP2007/052224 WO2007105391A1 (en) | 2006-03-13 | 2007-02-08 | Inspecting apparatus using microchip and inspecting system using microchip |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2007105391A1 JPWO2007105391A1 (en) | 2009-07-30 |
| JP5176952B2 true JP5176952B2 (en) | 2013-04-03 |
Family
ID=38509229
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008504999A Expired - Fee Related JP5176952B2 (en) | 2006-03-13 | 2007-02-08 | Inspection device using microchip and inspection system using microchip |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5176952B2 (en) |
| WO (1) | WO2007105391A1 (en) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003344401A (en) * | 2002-05-30 | 2003-12-03 | Olympus Optical Co Ltd | Inspection method of organism-related material |
| JP2004003888A (en) * | 2002-05-31 | 2004-01-08 | Olympus Corp | Apparatus for testing bio-related substance, and its reaction stage |
| JP2004101191A (en) * | 2002-09-04 | 2004-04-02 | Olympus Corp | System for discriminating plurality of containers including reaction container attached to container holding mechanism for inspecting biorelated matter |
| JP2005214782A (en) * | 2004-01-29 | 2005-08-11 | Kubota Corp | Thermoregulator for micro-fluid device reaction |
| JP2005300292A (en) * | 2004-04-09 | 2005-10-27 | Hitachi High-Technologies Corp | Biosample component detection method and its device |
-
2007
- 2007-02-08 WO PCT/JP2007/052224 patent/WO2007105391A1/en active Application Filing
- 2007-02-08 JP JP2008504999A patent/JP5176952B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003344401A (en) * | 2002-05-30 | 2003-12-03 | Olympus Optical Co Ltd | Inspection method of organism-related material |
| JP2004003888A (en) * | 2002-05-31 | 2004-01-08 | Olympus Corp | Apparatus for testing bio-related substance, and its reaction stage |
| JP2004101191A (en) * | 2002-09-04 | 2004-04-02 | Olympus Corp | System for discriminating plurality of containers including reaction container attached to container holding mechanism for inspecting biorelated matter |
| JP2005214782A (en) * | 2004-01-29 | 2005-08-11 | Kubota Corp | Thermoregulator for micro-fluid device reaction |
| JP2005300292A (en) * | 2004-04-09 | 2005-10-27 | Hitachi High-Technologies Corp | Biosample component detection method and its device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPWO2007105391A1 (en) | 2009-07-30 |
| WO2007105391A1 (en) | 2007-09-20 |
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|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
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|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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|
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|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
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|
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