JP5172570B2 - X線診断装置及びx線診断装置に適用される3d再構成時のバイアス・キャンセル方法 - Google Patents

X線診断装置及びx線診断装置に適用される3d再構成時のバイアス・キャンセル方法 Download PDF

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Description

本発明は、X線診断装置とX線診断装置に適用される3D再構成時のバイアス・キャンセルの技術に関する。
X線診断装置において、3D再構成機能として、大別して3D−DSA(3次元デジタル・サブトラクション・アンギオグラフィ)機能及び3D−DA(3次元デジタル・アンギオグラフィ)機能が知られている。ここで、3D−DA機能は特にNeuro領域(頭部)に於いて外科手術支援に必要な骨と血管との位置関係を提供することが1つのメリットになっている。3D−DA特有の処理としてLOG変換処理があるが、この処理では3D−DA収集画像と事前に収集済みであるフラッド画像(無ファントム画像)の差分処理を行い、バイアス成分(直線成分)をキャンセルしている。これによりSNR向上を図ることができる。
図7は、3Dキャリブレーション処理の簡単な概念図である。3Dキャリブレーション処理の目的は、DCT(Distortion Correction Table)とWCT(Wobble Correction Table)を作成することである。ここにおいて、DCTは、予め収集したグリッドファントム画像と、フラッド画像(無ファントム画像)とを使用して、ひずみ補正(Distortion補正)を行うことによって作成される。また、WCTは、予め収集したヘリックスファントム画像と、フラッド画像(無ファントム画像)と、先に作成済みであるDCTとを使用して、ウォッブル補正して作成される。
ここで、図8に示すようなモデルを考えてみる。X線管球からIの強度を有するX線が、被検体のある部分(位置s)を通過したときに、位置sに於けるX線の線吸収係数をf(s)とすると、X線ビームに沿ったfの投影pは、
Figure 0005172570
で表すことができる。ここで、検出器を経由すると、検出器系に存在するゲイン調整系の影響を受ける。ゲイン係数をβとすると、出力強度はβ×Iとなる。このゲインβの影響を低減する為に、3D−DA画像を再構成処理する前にフラッド画像(無ファントム画像)との差分処理を実施する必要がある。このとき、
Figure 0005172570
と表される。(2)式において、成分αがゲインβをキャンセルするフラッド画像に相当するものであり、β=αの関係が成立すれば、バイアス分log(β/α)をキャンセルすることができる。すなわち、図9に示すように、3D−DA再構成処理を行うのに、まず、3D−DA像からフラッド画像の差分を取る(バイアス・キャンセル処理)。次に、バイアス・キャンセル後の画像と、DCT及びWCTを用いて3D再構成処理を行って3D再構成画像を得るようにしている。
しかし、フラッド像は元々3Dキャリブレーションを実施する為に、(3D再構成処理の対象となる)3D−DA撮影像とは全く独立して収集されたものであり、一般的には、式においてβ=αの関係は成り立つとは限らない。すなわち、バイアス・キャンセル処理はゲインが常時100%であると仮定している為、本撮影時にゲインが100%ではない時、バイアスを完全にキャンセルすることができない。例えば、3D−DA撮影の前にテスト照射を実施した際、特に問題がなければ、ゲイン調整を実施せず(=ゲイン100%のまま)、本撮影に移行する。しかし、ハレーション(Halation)などが発生してしまった場合は、ゲイン調整を実施することになるので、バイアスを完全にキャンセルすることができない(図10参照)。
上記のように、現状では3D−DA撮影でゲイン調整処理が実施されても、3D−DA再構成時のバイアス・キャンセル処理にてゲインの調整に応じて動的に処理されていない為、ゲインの調整によっては、SNR(SN比)向上が狙えなくなる。
本発明は、ゲイン調整に応じた動的バイアス・キャンセル処理に係る技術を提供することを目的とする。
本発明の局面に係る発明は、フラッド像と3D−DA像を取得する取得手段と、前記フラッド像と3D−DA像に所定の画像処理を施す画像処理手段と、前記画像処理が施されたフラッド像と3D−DA像を用いて3D−DA像の3D再構成を行う3D再構成手段と、を備えたX線診断装置において、前記3D再構成手段は、前記取得手段から前記フラッド像と3D−DA像の取得時におけるそれぞれのゲイン設定情報を入力する手段と、前記各ゲイン設定情報に基づいて前記フラッド像を補正する手段と、前記補正後のフラッド像を用いて、3D−DA像のバイアス・キャンセル処理を施す手段と、を具備することを特徴とする。なお、本発明は、装置のみならず、方法の発明としても成立する。更に、X線診断装置全体としてではなく、3D再構成におけるバイアス・キャンセル用の装置にも適用可能である。
本発明によれば、本撮影時のゲイン調整を考慮して、フラッド画像との差分処理(バイアス・キャンセル処理)を実施する為、SNR(SN比)の高い画像を得ることができる。
図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係るX線診断装置の概略構成を示す図である。本発明の一実施形態に係るX線診断装置は、大別して、保持装置10と、画像処理プロセッサ20と、3D再構成処理ユニット30と3Dワークステーション35とを備えている。なお、画像処理プロセッサ20と、3D再構成処理ユニット30と3Dワークステーション35とは、ネットワーク40を介して互いに通信可能に接続されている。
保持装置10は、X線管球11とX線検出器15との位置関係を固定したまま保持し、図示しない被検体に対して、相対的に移動する。X線管球11は、X線高電圧発生器12から高電圧を入力して、図示しない被検体にX線を照射する。被検体を透過したX線はX線検出器15で検出される。なお、X線検出器15は、画像を最適な状態で撮影するために、感度(ゲイン)の補正が可能となっている。
X線検出器15で検出されたX線は、画像処理プロセッサ20に出力され、画像処理プロセッサ20で、所定の画像処理を施される。画像処理プロセッサ20は、検出器後段処理及び画像位置補正部21と、画像処理部22と、画像メモリ23と画像記録ユニット25と、ネットワークインターフェース(I/F)26とを備えている。
検出器後段処理及び画像位置補正部21は、X線検出器15からの出力信号をデジタルアナログ変換して、画像の位置補正を行う。なお、ここで、処理された画像は、3D撮影像として、リアルタイムに画像記録ユニット25に記録保持される。画像記録ユニット25に記録された3D撮影像は、画像処理部22で、例えばユーザによる指示に基づいた画像処理が施されて、画像メモリ23を介して、画像表示モニタ24により所望の画像が表示される。
また、画像処理部22で処理された3D撮影像はネットワークインターフェース26を介して、図示しない処理情報と共に、3D再構成処理ユニット30に出力される。
3D再構成処理ユニット30は、再構成エンジン32と、歪み補正部34とを備えており、ネットワークインターフェース26を介して画像処理部22で処理された3D撮影像の再構成を行う、再構成エンジン32は、処理情報に基づいて、予め登録されている再構成パラメータを使用し、3D再構成を行い、3D再構成像を作成する。歪み補正部34は、再構成エンジン32で再構成を行う前に、取得した画像の歪みを補正する。3D再構成処理ユニット30で再構成された3D再構成像は、更にネットワーク40を介し、3Dワークステーション35に送られ、任意画像処理を行った後に、図示しない3D再構成像ビューワ上に表示される。
本発明の実施形態に係る再構成処理について、図2及び図3を参照して説明する。図2は、再構成エンジンの詳細を示す図である。図3は、再構成処理の流れを示す図である。
図2に示すように、再構成エンジン32は、フラッド像を用いて3D−DA像のバイアス・キャンセル処理を行う。ここで、バイアス・キャンセル処理を行う際に、3D−DA像とフラッド像を収集した際のゲイン(係数)も処理コマンド或いは処理パラメータの1つとして入力して、バイアス・キャンセル処理に使用する。そして、図9に示した場合と同様に、DCTとWCTを参照して、画像の修正を行って、3D再構成画像を作成する。図3を参照して、具体的な再構成の流れを説明する。
まず、3D−DA像とフラッド像を撮影したときのそれぞれのゲイン係数(図3では、それぞれβ1及びβ2)を入力して、補正係数を算出する。この補正係数は、ケイン係数β1とβ2の比でもよし、その他の方法によって算出しても良い。次に、この補正係数を使用して、例えば、補正係数をフラッド像に乗じることにより、フラッド像に対する補正フラッド像生成処理を行って補正フラッド像を作成する。そして、補正フラッド像を用いて3D−DA像に対するバイアス・キャンセル処理を実行して、補正済みの3D−DA像を取得する。最終的に、図9に示した場合と同様に、補正済みの3D−DA像と、DCT及びWCTを用いて3D再構成処理を行って3D再構成画像を得る。
図4に、フラッド像をゲイン係数で補正した場合としない場合におけるバイアス・キャンセルのようすを示す。
図4(a)は、フラッド像をゲイン係数で補正しない場合を示している。この場合において、フラッド画像と3D−DA像とのゲイン係数が異なるときには、ゲインの調整差分として、フラッド画像によってキャンセルされるべき背景レベルが3D−DA像の背景レベルまで、達しないおそれがある。従って、3D−DA像とフラッド像との背景レベルに差が生じるため、背景成分を完全にキャンセルすることができない。このため、SNRが悪くなることになる。
図4(b)は、フラッド像をゲイン係数で補正した場合を示している。この場合には、画像取得時のフラッド画像のゲイン係数と3D−DA像のゲイン係数とに応じて、フラッド画像を補正して、3D−DA像のゲイン係数を合わせるようにしたので、ほぼ背景成分(すなわち、バイアス成分)をキャンセルすることができるので、SNRが改善されることになる。
(第2の実施形態)
第2の実施形態の構成は第1の実施形態と同じであるので、図示及び説明を省略する。フラッド像は、被写体が無い場合の背景を撮影したものである。バイアス成分除去の為に、3D−DA撮影像とフラッド画像との差分を取る際、差分を取り合うフレーム間の関係は一義に決定されている。しかし、各フラッドフレーム像自体にノイズが乗っているため、単純に対応する3D−DA像と差分を取るとそのノイズの影響を受け、画質面で問題が生じるおそれがある。
そこで、通常、ノイズを低減するために、図4に示すように対応するフレーム前後の数フレーム分を加算平均した結果が使用されている。しかし、3D−DA再構成を実施する度にこの加算平均したフラッド像を3D再構成処理ユニットに送ると、転送時間も無視できない。ここで、フラッド像の画像レベルが撮影角度にあまり依存しないことを考えると、代表的な数フレームを加算平均した結果を3D−DA画像との差分時に3D−DA全フレームに対して適用することができる(図5参照)。
このフラッド像の代表加算平均像は事前処理である3Dキャリブレーション処理時に3D再構成処理ユニット側に送信しておいても良い。その際、フラッド像に対するゲイン情報を送信し、3D再構成処理ユニット側で保持しておく。この場合において、3D−DA再構成処理時には、フラッド像の代表加算平均像とゲイン情報が3D再構成処理ユニット側に保持されているので、3D−DA画像データとそのゲイン情報を3D再構成処理ユニット30に送付するだけで良い。その後の処理は、第1の実施形態と同様である。
なお、本実施形態において、フラッド像収集時と3D−DA像収集時でゲイン情報が同じである場合には、補正係数算出処理及び補正フラッド像生成処理をスキップしても良い。
本発明は、上記各実施の形態に限ることなく、その他、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々の変形を実施し得ることが可能である。さらに、上記各実施形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組合せにより種々の発明が抽出され得る。
また、例えば各実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
本発明の第1の実施形態に係るX線診断装置の概略構成を示す図である。 再構成エンジンの詳細を示す図である。 再構成処理の流れを示す図である。 本実施形態において、フラッド像をゲイン係数で補正した場合としない場合におけるバイアス・キャンセルのようすを示す図である。 ノイズを低減するために、対応するフレーム前後の数フレーム分を加算平均するようすを示す図である。 本発明の第2の実施形態を説明するための図である。 3Dキャリブレーション処理の簡単な概念図である。 バイアス・キャンセルの必要性について説明するための図である。 従来のバイアス・キャンセルについて説明するための図である。 従来におけるバイアス・キャンセルによる3D構成処理の前後における信号の強度関係を示す図である。
符号の説明
10…保持装置
11…X線管球
12…X線高電圧発生器
15…X線検出器
20…画像処理プロセッサ
21…画像位置補正部
22…画像処理部
23…画像メモリ
24…画像表示モニタ
25…画像記録ユニット
26…ネットワークインターフェース
30…3D再構成処理ユニット
32…再構成エンジン
34…歪み補正部
35…3Dワークステーション
40…ネットワーク

Claims (4)

  1. フラッド像と3D−DA像を取得する取得手段と、
    前記フラッド像と3D−DA像に所定の画像処理を施す画像処理手段と、
    前記画像処理が施されたフラッド像と3D−DA像を用いて3D−DA像の3D再構成を行う3D再構成手段と、を備えたX線診断装置において、
    前記3D再構成手段は、
    前記取得手段から前記フラッド像と3D−DA像の取得時におけるそれぞれのゲイン設定情報を入力する手段と、
    前記各ゲイン設定情報に基づいて前記フラッド像を補正する手段と、
    前記補正後のフラッド像を用いて、3D−DA像のバイアス・キャンセル処理を施す手段と、を具備することを特徴とするX線診断装置。
  2. 請求項1に記載のX線診断装置において、前記3D再構成手段は、前記フラッド像のフレームのデータのうち加算平均した代表フラッドデータと該フラッド収集時のゲイン設定情報を保持することを特徴とするX線診断装置。
  3. 請求項2に記載のX線診断装置において、前記3D再構成手段は、前記代表フラッドデータと該フラッド収集時のゲイン設定情報を用いて3D−DA像のバイアス・キャンセル処理を施すことを特徴とするX線診断装置。
  4. フラッド像と3D−DA像を取得する取得手段と、前記フラッド像と3D−DA像に所定の画像処理を施す画像処理手段と、前記画像処理が施されたフラッド像と3D−DA像を用いて3D−DA像の3D再構成を行う3D再構成手段と、を備えたX線診断装置に適用されるバイアス・キャンセル方法おいて、
    前記取得手段から前記フラッド像と3D−DA像の取得時におけるそれぞれのゲイン設定情報を入力し、
    前記各ゲイン設定情報に基づいて前記フラッド像を補正し、
    前記補正後のフラッド像を用いて、3D−DA像のバイアス・キャンセル処理を施すことを特徴とするバイアス・キャンセル方法。
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JP4533010B2 (ja) * 2003-11-20 2010-08-25 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像方法及び放射線撮像システム
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