JP5154977B2 - 圧電振動片、圧電デバイス及び音叉型圧電振動子の周波数調整方法 - Google Patents

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Description

本発明は例えば水晶からなる圧電基板を用いて、周波数調整を行うことのできる圧電デバイスを製造する技術に関する。
移動体通信機器やOA機器等の小型軽量化及び高周波数化に伴って、それらに用いられる圧電デバイスも、より一層の小型化及び高周波数化への対応が求められている。また、回路基板に表面実装(SMD:Surface Mount Device)が可能な圧電デバイスが要求されている。この小型化した圧電デバイスの製造では製造過程で生じる発振周波数のばらつきを個々に調整することで所望の周波数に合わせ込みをする工程を必要としている。
従来、発振周波数の調整は音叉型の音叉型圧電振動片の振動腕の先端に形成した金属皮膜をレーザ光で蒸散させることで、周波数の調整を行っていた。
特許文献1によれば、図11に示すような構成により周波数の調整を行っていた。図11(a)は音叉型圧電振動片の振動腕210の先端部分を拡大した上面図であり、図11(b)は図11(a)の構成側面図である。
特許文献1によれば、所定の周波数より低い音叉型圧電振動片に対しての発振周波数の調整は、図11に示すように振動腕210の先端に形成した周波数の粗調整用の金属皮膜201を蒸散させ、微調整用の金属皮膜202を蒸散させることで振動椀210を軽くし、周波数を上昇させて、音叉型圧電振動片の周波数を調整していた。また、所定の周波数より高い音叉型圧電振動片に対しての発振周波数の調整は、振動腕の先端付近の錘用金属皮膜203を蒸散させ、振動腕210に付着させることで重くし、周波数を低下させて音叉型圧電振動片の周波数を調整していた。
特開2003−060470
しかしながら、周波数を低下させるために、振動腕の錘金属皮膜を蒸散させた場合は、その蒸散して飛び散った金属の一部が励振電極に付着し、発振周波数の調整後のCI(クリスタルインピーダンス)値が上昇する場合や、不要な周波数成分であるスプリアス(spurious)が発生したりする場合があった。CI値の上昇やスプリアスの発生は音叉型圧電振動片の特性を劣化させ、製品の歩留まりを悪化させていた。また、所望の発振周波数に合わせる作業工程は時間がかかり、さらに、蒸散金属が振動腕に再付着するために所望の周波数の±1ppm以下に合わせることが困難であった。
本発明の目的は、所望の発振周波数に微調整する複数のコンデンサーを音叉型圧電振動片に内蔵させることで周波数調整を行う。
第1の観点の音叉型圧電振動片は、基部と、その基部から所定方向に伸びる少なくとも一対の振動腕と、振動腕に設けられた励振電極と、基部に設けられた周波数調整部と、を備える。
第1の観点の構成によれば、基部に周波数調整部を有しているため、これまでのように振動腕の先端部の錘金属層で調整する必要がなくなる。
第2の観点の音叉型圧電振動片の周波数調整部は、励振電極に接続されたコンデンサーである。
この構成によれば、基部に設けられたコンデンサーの静電容量によって周波数を調整することができる。
第3の観点の音叉型圧電振動片は、振動腕の先端部に設けられた錘金属層を備える。
この構成によれば、粗調用に錘金属層を使って周波数調整することができる。特に、錘金属層を使った周波数調整幅は振動周波数を高い方へ調整することができる。
第4の観点の音叉型圧電振動片は、第2の観点において、コンデンサーが第1静電容量を有する第1コンデンサーとこの第1静電容量とは異なる第2静電容量を有する第2コンデンサーとを含む。
静電容量の異なるコンデンサーを基部に設けることにより、周波数をより精密に調整することができる。
第5の観点の音叉型圧電振動片は、第2の観点において、コンデンサーが前記基部に所定の深さ及び面積を有する溝部を有し、この溝部に励振電極が接続される。
コンデンサーは、基部に形成された溝部によって圧電材料の比誘電率に応じた静電容量をもつ。このコンデンサーの静電容量を下げることで圧電振動片の振動周波数を低くすることができる。
第6の観点の圧電デバイスは、第1ないし第5のいずれかの観点の音叉型圧電振動片と、音叉型圧電振動片を収納するとともに基部を支持するパッケージと、パッケージを封止する蓋部と、を備える。
この周波数が精密に調整された圧電デバイスを提供することができる。ここで、圧電デバイスとは、圧電振動子や圧電発振器等のパッケージ内に圧電振動片を収容した圧電素子を広く含むものである。
第7の観点の圧電デバイスは、蓋部がレーザ光を透過する透明材料である。
パッケージに蓋体を封止した後においても、振動周波数を低い方へ調整することが可能となる。
第8の観点の音叉型圧電振動片の製造方法は、音叉型圧電振動片の外形を形成する外形形成工程と、基部に溝部を形成する溝部形成工程と、振動腕に励振電極を形成する電極形成工程と、溝部に励振電極と接続される金属層を形成する金属層形成工程と、を備える。
基部に溝部が形成され、溝部に励振電極と接続される金属層が形成されることで周波数の調整を行うことができる。
第9の観点の音叉型圧電振動片の製造方法は、第8の観点において、音叉型圧電振動片の周波数を測定する測定工程と、測定工程の結果に基づいて金属層と励振電極との接続を切断する切断工程と、を備える。
測定された圧電振動片の周波数を所望の周波数にするため、金属層と励振電極との接続を切断すると周波数が下げることができる。
第10の観点の音叉型圧電振動片の製造方法は、第9の観点において、振動腕の先端部に錘金属層を形成する錘金属層形成工程と、測定工程の結果に基づいて、錘金属層の質量を低減する質量低減工程と、を備える。
これにより、測定された圧電振動片の周波数を所望の周波数にするため、錘金属層の質量を低減することで周波数を上げることができる。
第11の観点の音叉型圧電振動片の製造方法は、第8ないし第9の観点において、溝部形成工程で振動腕用の溝部を同時に形成する。
周波数調整用に基部に形成される溝部は、振動腕に形成される溝部と同時に形成されるため、特に工程を追加する必要がなく製造効率が良い。
第12の観点の圧電デバイスの製造方法は、基部とその基部から所定方向に伸びる少なくとも一対の振動腕とを有する音叉型圧電振動片の外形を形成する外形形成工程と、基部に溝部を形成する溝部形成工程と、振動腕に励振電極を形成する電極形成工程と、溝部に励振電極と接続される金属層を形成する金属層形成工程と、音叉型圧電振動片をパッケージに配置する工程と、パッケージに蓋部で封止する封止工程と、を備える。
この構成により、基部の溝部に励振電極と接続される金属層を形成することで、周波数調整を行うことができる。
第13の観点の圧電デバイスの製造方法は、第12の観点において、音叉型圧電振動片がパッケージに配置された状態で、音叉型圧電振動片の周波数を測定する測定工程と、測定工程で測定された周波数が所望の周波数より高い場合に、金属層と励振電極との接続を切断する切断工程と、を備える。
測定された周波数が所望の周波数より高い場合に、金属層と励振電極との接続を切断することで励振電極の静電容量を下げて周波数を下げることができる。
第14の観点の圧電デバイスの製造方法は、第13の観点において、振動腕の先端部に錘金属層を形成する錘金属層形成工程と、測定工程で測定された周波数が所望の周波数より低い場合に、錘金属層の質量を低減する質量低減工程と、を備える。
測定された周波数が所望の周波数より低い場合に、錘金属層の質量を低減することで周波数を上げることができる。
第15の観点の圧電デバイスの製造方法は、第13の観点において、蓋部がレーザ光を透過する透明材料であり、この透明材料の蓋部でパッケージが封止された状態で、切断工程が金属層と励振電極との接続をレーザ光で切断する。
封止した後に周波数を上げる調整ができるため、圧電デバイスとして正確な周波数を振動させることができる。
第16の観点では、質量低減工程が、第15の観点においてレーザ光で錘金属層の質量を低減する。
封止した後に周波数を下げる調整ができるため、圧電デバイスとして正確な周波数を振動させることができる。
本発明の音叉型圧電振動片は、その基部に周波数調整部である複数のコンデンサーを有することで、発振周波数の微調整を簡便且つ短時間で調整することが可能なため、高精度な音叉型圧電振動片を安価に提供することができる。
<<実施形態1>>
<圧電振動デバイス50の構成>
図1(a)は、本実施形態に係るSMD(Surface Mount Device)タイプの圧電振動デバイス50を示す概略斜視図である。図1(b)は図1(a)の構成を示した概略側面図である。図1(c)は図1(a)の蓋体59を外した概略上面図である。
表面実装型の圧電振動デバイス50は、絶縁性のセラミックパッケージ51と圧電振動デバイス50のパッケージを覆う蓋体59とからなる。蓋体59は、コバール(鉄Fe、ニッケルNi、コバルトCo合金)製である。
セラミックパッケージ51は、アルミナを主原料とするセラミック粉末およびバインダ等を含むスラリーを用いたグリーンシートよりプレス抜きされた底面用セラミック層51a、壁用セラミック層51bおよび台座底面用セラミック層51cからなる。これら複数のセラミック層51a〜51cより構成されたパッケージは、キャビティ58を形成し、このキャビティ58内に、音叉型水晶振動片20を実装する。セラミックパッケージ51はこれらの複数の基板を積層し、焼結して形成されている。
音叉型水晶振動片20の基部29の配線は、導電性接着剤31と導通接続する接着領域を有している。音叉型水晶振動片20は、底面用セラミック層51aと水平になるように導電性接着剤31で接着されて、所定の振動を発生する。台座用セラミック層51cの上面の一部には、音叉型水晶振動片20の接着領域と導通を取る配線層42が形成されている。セラミックパッケージ51の下面に形成された少なくとも2つの外部端子電極43は、不図示のプリント基板に表面実装する際の外部端子である。また、内部配線44は配線層42、外部端子電極43を接続する電気的導通部である。壁用セラミック層51bの上端にはメタライズ層があり、蓋体59の接合のために、メタライズ層上に形成された低温金属ろう材からなる封止材57が形成されている。壁用セラミック層51bと蓋体59とは、封止材57を介して溶着されている。なお、蓋体59はガラスで形成することもでき、低融点ガラスの封止材57で封止される。
<音叉型水晶振動片20の構成>
図2は、音叉型水晶振動片20の全体構成を示した上面図である。図3(a)は、図2の音叉型水晶振動片20の振動腕21のA−A断面図である。図3(b)は、図2の音叉型水晶振動片20の基部29のB−B断面図である。
音叉型水晶振動片20の母材は、Z板に加工された水晶ウエハ10で形成されている。小型で必要な性能を得るために、図2に示すように、音叉型水晶振動片20は、基部29と、この基部29の一端部から長さ方向(Y方向)に向けて二股に別れて平行に延びる一対の振動腕21を備えている。一対の振動腕21の根元26は、テーパー部を設けることによって、周囲温度の変化に起因する共振周波数の変動やバラツキを抑えている。根元26のテーパー部の形状はU字形状でもV字形状などでもよい。以下、本実施形態では一対の振動腕21を備えた音叉型水晶振動片20で説明するが、3本または4本の振動腕21を備えた音叉型水晶振動片20であってもよい。
音叉型水晶振動片20は、たとえば32.768kHzで発振する振動片で、極めて小型の振動片となっており、全体の長さが1.7mm程度、幅0.5mm程度である。
音叉型水晶振動片20の振動腕21の表裏両面には第1溝部27が形成されている。一本の振動腕21の表面には2つの第1溝部27が形成されており、振動腕21の裏面側にも同様に2つの第1溝部27が形成されている。つまり、一対の振動腕21には4箇所の第1溝部27が形成される。第1溝部27の深さは、水晶ウエハ10の厚さ、つまり音叉型水晶振動片20の厚さの約35〜45%であり、表裏両面に第1溝部27があるため、図3(a)に示すように、第1溝部27の断面は、略H型に形成されている。第1溝部27は、CI値の上昇を抑えるために設けられている。本実施形態では、たとえば水晶ウエハ10の厚さが100μmから120μm程度であり、第1溝部27の深さが表裏で80μmから100μm程度となる。
音叉型水晶振動片20の基部29は、その全体が略板状に形成されている。音叉型水晶振動片20に対する基部29の長さは36%程度となっている。音叉型水晶振動片20の基部29の一端には連結部28が2箇所設けられている。連結部28は、水晶ウエハ10から、図2に示す音叉形状をフォトリソグラフィおよびウェットエッチングで形成する際に、水晶ウエハ10と音叉型水晶振動片20とを連結する部分である。
基部29の中央部には第2溝部47が複数形成されている。第2溝部47は図3(b)に示すように第2溝部同士が上下で対向するように配置され、並列に並べることで、全体で櫛型の形状をしている。
音叉型水晶振動片20の振動腕21および基部29には、第1電極パターン23と第2電極パターン25とが形成されている。第1電極パターン23と第2電極パターン25とはともに、150オングストローム〜5000オングストロームのクロム(Cr)層の上に100オングストローム〜5000オングストロームの金(Au)層が形成された構成になっている。すなわち、第1層と第2層とを合わせると、250オングストローム〜10000オングストロームの電極パターンの厚さになる。また、クロム(Cr)層の代わりに、タングステン(W)層、ニッケル(Ni)層、ニッケルタングステン層またはチタン(Ti)層を使用してもよく、また金(Au)層の代わりに、銀(Ag)層を使用してもよい。また、一層からなる場合もあり、このときは、たとえばアルミ(Al)層、銅(Cu)層またはケイ素(Si)層が用いられる。
音叉型水晶振動片20の振動腕21の先端部には、第1電極パターン23と第2電極パターン25ともに、それぞれ粗調用の錘金属層22が形成される。この錘金属層22は、音叉型水晶振動片20の周波数を高くする際にレーザ光によって削り取られる。
音叉型水晶振動片20の基部29の上面には、図2に示すように、第1基部電極23aと第2基部電極25aとが形成され、振動腕21の第1溝部27には、第1溝電極23d,第2溝電極25dがそれぞれ形成される。また、図3(a)に示すように、振動腕21の両側面には、第2側面電極25cが形成されている。図示しない右側の振動腕21の両側面には、第1側面電極23cが形成されている。音叉型水晶振動片20の下面は図示していないが、上面と対称関係になるように各電極が形成されている。これらの溝電極及び側面電極が励振電極として振動腕21を振動させる。
図3(b)に示すように第2溝部47の下面には第1櫛部電極23eが形成され、第1基部電極23aと接続している。同様に、第2溝部47の上面には第2櫛部電極25eが形成され、第2基部電極25aと接続している。第1櫛部電極23eと第2櫛部電極25とは間隔dで離れているため、水晶の誘電率でコンデンサー40が形成されている。
第2溝部47の形成は第1溝部27の形成と同時に行うことができるため、従来の外形形成の工程内で形成することができる。同様に、第1櫛部電極23eの形成、及び第2櫛部電極25eの形成は音叉型水晶振動片20の電極形成時に同時に行うことができる。第2溝部47の形成方法及び櫛部電極の形成方法は後述する。
基部29にはスルーホール41が2箇所形成されており、各振動腕21の根元部の近傍に位置している。スルーホール41は基部29に第2溝部47を形成する場所を広げ、より多く第2溝部47を形成することができる。
図4(a)は図3(b)に示す対向する一対の第2溝部47(1個のコンデンサー40)を拡大した断面図である。第2溝部47は底部幅W1で対向している。対向する第2溝部47は間隔dで離れている。図4(b)は図2の基部29の第2溝部47を拡大した上面図である。第2溝部47の底部面積S1は長さ方向(Y方向)の長さL1と幅方向(X方向)の長さW1とで形成される破線領域である。
1個のコンデンサー40の静電容量Cは間隔(極板間距離)d、間隔dの電極で挟まれた誘電体、底部面積S1との関係で求まり、(数式01)を用いる。なおεは真空の誘電率、ε(SiO2)は水晶の比誘電率である。
・・・(数式01)
本実施例で形成する1個のコンデンサー40の静電容量Cは約0.01pFであり約2ppm(0.066Hz)の発振周波数の微調整が可能となる。図4(b)に示した複数のコンデンサー40は振動腕21に形成された励振電極(溝電極及び側面電極)に並列に接続されている。このため図2の基部29のコンデンサー40を5個から20個を音叉型水晶振動片20の基部29に形成することで、10ppm(0.66Hz)から40ppm(2.64Hz)の範囲で発振周波数の微調整が可能となる。なお、コンデンサー40の静電容量Cを大きくするために、第2溝部47の溝深さを深くして間隔dを小さくしてもよく、逆にコンデンサー40の静電容量Cを小さくするために、第2溝部47をなくしてもよい。周波数調節方法は後述する。
<水晶ウエハの構成>
図5は、音叉型水晶振動片の外形を形成した単結晶の水晶ウエハを示す平面図である。
図5(a)は、円形の水晶ウエハ10である。この円形の水晶ウエハ10は、たとえば厚さ120μmの人工水晶からなり、円形の水晶ウエハ10の直径は3インチまたは4インチである。さらに、円形の水晶ウエハ10の軸方向が特定できるように、水晶ウエハ10の周縁部の一部には、水晶の結晶方向を特定するオリエンテーションフラット10cが形成されている。
また、図5(b)は、矩形の水晶ウエハ15である。この矩形の水晶ウエハ15も、たとえば厚さ120μmの人工水晶からなり、その矩形の水晶ウエハ15の一辺は2インチである。そして、矩形の水晶ウエハ15の軸方向が特定できるように、矩形の水晶ウエハ15の周縁部の一部には、水晶の結晶方向を特定するオリエンテーションフラット15cが形成されている。
図5(a)の円形の水晶ウエハ10および図5(b)の矩形の水晶ウエハ15は、工程管理およびウエハ強度との関係で、複数の窓部18が設けられ、その窓部に複数の音叉型水晶振動片20が形成されている。各窓部18において、水晶ウエハ10と音叉型水晶振動片20とを接続するため連結部28が形成されている。
<音叉型水晶振動デバイスの製造工程>
図6は音叉型圧電振動片20の外形、また第1溝部27及び第2溝部47を形成するための代表的な製造工程のフローチャートである。なお、図6の右図は図2のA−A断面部分についての水晶ウエハ10を示している。
図6のステップS11では、研磨洗浄された水晶ウエハ10にスパッタ法で図6(a)に示すように金属膜32を形成する。この金属膜32は例えばクロム(Cr)の下地膜に金(Au)を積層したものが用いられる。
ステップS12では、金属膜32の上にフォトレジストを例えばスプレー法で全体を均一に塗布しレジスト膜36を形成する(図6(b))。ステップS13において音叉型水晶振動片20の外形パターンを露光及び現像して、音叉型水晶振動片20の外形をしたレジスト膜36を形成する(図6(c))。
ステップS14では、エッチングによりレジスト膜36で覆われていない金属膜32の部分を除去する。この工程は第1金属膜エッチング工程とする。次に、水晶ウエハ10に残るレジスト膜36を全て剥離する(図6(d))。
ステップS15では、水晶ウエハ10の全面に再度フォトレジストを例えばスプレー法で塗布し、振動腕21に第1溝部27を形成し且つ基部29に第2溝部47を形成するためのパターンを露光する。フォトレジスト39は露光されたレジスト膜である。図6(e)は基部29に第2溝部47を形成するためのパターンを露光した断面図である。
ステップS16において、音叉形状の外形と第1溝部27及び第2溝部47との露光したレジスト膜39を剥離する。(図6(f))
ステップS17では、図6(g)で示すように水晶ウエハ10をエッチング液であるフッ酸を用いウェットエッチングすることで音叉型圧電振動片20の外形を形成する。この工程は第1圧電エッチング工程とする。図6(g)の破線部分はエッチングで除去した水晶部分を示す。
ステップS18では、ウェットエッチングを行うことで第1溝部27及び第2溝部47の金属膜32を除去する(図6(h))。この工程は第2金属膜エッチング工程とする。
ステップS19では、図6(i)で示すように水晶ウエハ10をウェットエッチングすることで第1溝部27及び第2溝部47を形成する。この工程は第2圧電エッチング工程とする。
ステップS20では、レジスト膜と金属膜32を除去することにより、第1溝部27及び第2溝部47を形成した音叉型圧電振動片20を製造することができる(図6(j))。
以上のように、第1溝部27及び第2溝部47を持つ音叉型圧電振動片20は第1圧電エッチング工程と第2圧電エッチング工程とで形成することができる。なお、スルーホール41は音叉型圧電振動片20の外形の形成と同様に形成することができる。
<電極の形成及びパッケージングの工程>
外形及び溝部を形成した音叉型水晶振動片20は次に電極を形成し、周波数調整を行いパッケージングする。図7はその工程のフローチャートを示す。ただし水晶振動片は代表して音叉型水晶振動片20を用いて説明する。
ステップS41では、音叉型水晶振動片20を純水で洗浄し、音叉型水晶振動片20の全面に駆動電極としての励振電極などを形成するための金属膜を蒸着またはスパッタリング等の手法により形成する。
ステップS42では、スプレー法などを用いて全面にフォトレジストを塗布する。音叉型水晶振動片20にはスルーホール41、また第1溝部27及び第2溝部47などが形成されているためスルーホール41、また第1溝部27及び第2溝部47にも均一にフォトレジストを塗布する。
ステップS43では、電極パターンと対応したフォトマスクを用意して、電極パターンをフォトレジスト層が塗布された水晶ウエハ10に露光する。電極パターンは音叉型水晶振動片20の両面に形成する必要があるため、音叉型水晶振動片20の両面を露光する。
ステップS44では、フォトレジスト層を現像後、感光したフォトレジスト層を除去する。残るフォトレジストは電極パターンと対応したフォトレジスト層になる。さらに電極となる金属膜32のエッチングを行う。例えば、電極パターンと対応したフォトレジスト層から露出した金層をヨウ素とヨウ化カリウムの水溶液でエッチングし、次にクロム層を硝酸第2セリウムアンモニウムと酢酸との水溶液でエッチングする。
続いて、ステップS45で、残ったフォトレジストを除去する。これらの工程を経て、音叉型水晶振動片20には励振電極などが正確な位置および電極幅で形成することができる。
これまでの工程により、電極パターン23及び電極パターン25を形成した音叉型水晶振動片20が得られ、数百から数千の音叉型水晶振動片20を得ることができる。これらの音叉型水晶振動片20の発振周波数は、所望の周波数より若干高い周波数になるように形成する。その後の周波数の微調整が容易にできるようにするためである。
ステップS46では、図1(b)で示すセラミック製のパッケージ51に1個の音叉型水晶振動片20を導電性接着剤31で接着する。具体的には、音叉型水晶振動片20の基部29を、配線層42に塗布した導電性接着剤31の上に載置して、導電性接着剤31を仮硬化させる。次に、硬化炉で導電性接着剤31を本硬化することにより音叉型水晶振動片20を外部端子電極43に対して接合する。
ステップS47では、音叉型水晶振動片20を周波数調整する。周波数調整方法は後述する。
ステップS48で、真空チャンバ内などに図5(b)で示す音叉型水晶振動片20を収容したパッケージ51を移し、蓋体59を封止材57により接合する。
ステップS49で、最後に圧電振動デバイス50の駆動特性などの検査を行い、圧電振動デバイス50を完成させる。
蓋体59をガラスで形成した圧電振動デバイス50はステップS48で蓋体59を封止材57により接合した後でも周波数調整をすることができる。
なお、蓋体59が透過性のガラスなどであれば、ステップS47の周波数調整とステップS48の蓋体の封止との順番を入れ替えてもよい。
<周波数調整方法>
音叉型水晶振動片20の周波数測定は、セラミックパッケージ51の外部端子電極43にプローブを接触させて測定する。図8は周波数調整方法のフローチャートである。
ステップS61では、蓋体59を取り付けられる前の圧電振動デバイス50をテーブルなどに載置して、発振周波数の測定をする。
ステップS62では、発振周波数の測定値が所望の周波数の誤差が例えば2ppm以下でないかを判断する。誤差範囲にない場合はステップS63に進む。誤差範囲に入っている場合は、完成品として周波数調整を終了し図7のステップS48へ進む。
ステップS63では、発振周波数の測定値が所望の周波数より低いかを判断して、低い場合はステップS64に進み、高い場合はステップS65へ進む。
ステップS64では、音叉型水晶振動片20の発振周波数を上昇させるために、振動腕21の先端の錘金属層22にレーザ光を照射して、錘金属層22の一部を蒸散・昇華させる。振動腕21の質量が削減されることにより発振周波数が所望の周波数に近づける。レーザ光で周波数調整をした音叉型水晶振動片20はステップS61にもどり再び周波数を測定する。レーザ光による質量削減方式の周波数調整は微調整が難しいため、所望の周波数より少し高めに周波数調整する。
ステップS65では、所望の周波数より高い音叉型水晶振動片20が対象となり、周波数を微調整するだけのコンデンサー40の残りがあるかを判断する。周波数調整用のコンデンサー40がある場合はステップS66に進み、ない場合はステップS67に進む。
ステップS66では、周波数調整が可能なコンデンサー40が残存するため、所望の周波数になるようコンデンサー40の電極の根元部を切断する。図4(b)で示すように例えばn個のコンデンサー40が形成された状態は、電気回路図で表現すると図9に示すように音叉型水晶振動片20の振動腕21に設けられた励振電極(溝電極(23d,25d)及び側面電極(23c,25c))に並列に接続されている状態である。1つのコンデンサー40の容量が0.01pFであれば、1つのコンデンサー40を切断すれば0.066Hzだけ周波数が下がる。本実施形態の発振周波数の微調整はコンデンサー40を切断することで所望の周波数になるように所望の数のコンデンサー40を切断する。
コンデンサー40の切断はレーザ光などを用いて図4(b)の一点鎖線(CUT)で示すように第2櫛部電極25eの一部を切断して導電しないようにする。切断部分は第2櫛部電極25eの根元部を切断したが、第1櫛部電極23eの根元部を切断してもよく、また両方を切断してもよい。コンデンサー40が切断された後、再びステップS61にもどり周波数を測定する。
ステップS67の工程に移った音叉型水晶振動片20は周波数調整が不可能であり、これを不良品として取り扱う。
このようにして、音叉型水晶振動片20の周波数を厳密に調整することが可能となる。なお、音叉型水晶振動片20の周波数測定はセラミックパッケージ51に取り付けてから行ったが、セラミックパッケージ51に取り付ける前に音叉型水晶振動片20に対して周波数調整を行うことも可能である。
<<第2実施形態>>
第1実施形態のコンデンサー40は図2で示したように、第2溝部47の長さL1が同一長になるように形成していた。本実施形態では第2溝部47の長さL1を変えた第3溝部48を形成することで、発振周波数を調整することのできる音叉型振動片21を製造することができる。
例えば、図10に示すように第3溝部48の長さL2は第2溝部の長さL1の1/2で設計すると、第3溝部の底部面積S2が第2溝部47の底部面積S1の1/2となる。底部面積は(数式01)で示したように静電容量Cと比例するため、第3溝部48の静電容量Cも1/2となる。すなわち、第3溝部48の静電容量は約0.005pFになり約1ppm(0.033Hz)の発振周波数の微調整が可能となる。なお図10は図2の基部29を拡大した図である。
なお、第1実施形態及び第2実施形態で形成した第2溝部47、及び第3溝部48は長さ方向(Y方向)と平行に形成しているが、幅方向(X方向)と平行に形成することもできる。
以上、本発明の好適実施例について詳細に説明したが、当業者に明らかなように、本発明はその技術的範囲内において上記各実施例に様々な変更・変形を加えて実施することができる。たとえば、本発明の音叉型圧電振動片21を有する水晶フレーム20は、水晶以外にニオブ酸リチウム等の様々な圧電単結晶材料を用いることができる。
(a)は、SMDタイプの圧電振動デバイス50の概略斜視図である。 (b)は、(a)の構成を示した概略側面図である。 (c)は、(a)の蓋体59を外した概略上面図である。 音叉型水晶振動片20の全体構成を示した上面図である。 (a)は、図2の音叉型水晶振動片20の振動腕21のA−A断面図である。 (b)は、図2の音叉型水晶振動片20の基部29のB−B断面図である。 (a)は、1個のコンデンサー40を拡大した断面図である。 (b)は、第2溝部47を拡大した上面図である。 (a)は、円形の水晶ウエハ10の上面図である。 (b)は、矩形の水晶ウエハ15の上面図である。 音叉型圧電振動片20の代表的な製造工程のフローチャートである。 音叉型水晶振動片20の電極の形成及びパッケージングの工程のフローチャートである。 周波数調整方法のフローチャートである。 音叉型水晶振動片20とコンデンサー40との配線図である。 基部29に短いコンデンサー40を形成した図である。 (a)は、従来の周波数調整部分を拡大した上面図である。 (b)は、(a)の概略側面図である。
符号の説明
10 … 円形の水晶ウエハ、15 … 矩形の水晶ウエハ
18 … 窓部
20 … 音叉型水晶振動片
21 … 振動腕
23 … 第1電極パターン、23a … 第1基部電極、23d … 第1溝電極
23e … 第1櫛部電極
25 … 第2電極パターン、25a … 第2基部電極、25d … 第2溝電極
25e … 第2櫛部電極
26 … 根元
27 … 第1溝部
28 … 連結部
29 … 基部
31 … 導電性接着剤
32 … 金属膜
36 … レジスト膜、39 … 露光されたレジスト膜
40 … コンデンサー
41 … スルーホール
42 … 配線層
43 … 外部端子電極
44 … 内部配線
47 … 第2溝部、48 … 第3溝部
50 … 圧電振動デバイス
51 … セラミックパッケージ、51a … 底面用セラミック層、51b … 壁用セラミック層、51c … 台座用セラミック層
57 … 封止材
58 … キャビティ
59 … 蓋体
d … 間隔、C … 静電容量
W1 … 底部幅
L1 … 第2溝部の長さ、S1 … 第2溝部の底部面積
L2 … 第3溝部の長さ、S2 … 第3溝部の底部面積

Claims (14)

  1. 圧電体で形成された音叉型圧電振動片であって、
    基部と、
    その基部から所定方向に伸びる少なくとも一対の振動腕と、
    前記振動腕に設けられた励振電極と、
    前記基部に設けられた周波数調整部と、
    を備え
    前記周波数調整部は、前記励振電極に接続されたコンデンサーであり、
    前記コンデンサーは前記基部に所定の深さ及び面積を有する溝部を有し、この溝部に前記励振電極が接続されることを特徴とする音叉型圧電振動片。
  2. 前記振動腕の先端部に設けられた錘金属層を備えることを特徴とする請求項1に記載の音叉型圧電振動片。
  3. 前記コンデンサーは第1静電容量を有する第1コンデンサーとこの第1静電容量とは異なる第2静電容量を有する第2コンデンサーとを含むことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の音叉型圧電振動片。
  4. 請求項1ないし請求項のいずれか一項に記載の音叉型圧電振動片と、
    前記音叉型圧電振動片を収納するとともに前記基部を支持するパッケージと、
    前記パッケージを封止する蓋部と、
    を備えることを特徴とする圧電デバイス。
  5. 前記蓋部がレーザ光を透過する透明材料であることを特徴とする請求項に記載の圧電デバイス。
  6. 基部とその基部から所定方向に伸びる少なくとも一対の振動腕とを有する音叉型圧電振動片を圧電材料から製造する製造方法において、
    前記音叉型圧電振動片の外形を形成する外形形成工程と、
    前記基部に溝部を形成する溝部形成工程と、
    前記振動腕に励振電極を形成する電極形成工程と、
    前記溝部に前記励振電極と接続される金属層を形成する金属層形成工程と、
    を備える音叉型圧電振動片の製造方法。
  7. 前記音叉型圧電振動片の周波数を測定する測定工程と、
    前記測定工程の結果に基づいて、前記金属層と前記励振電極との接続を切断する切断工程と、
    を備える請求項に記載の音叉型圧電振動片の製造方法。
  8. 前記振動腕の先端部に錘金属層を形成する錘金属層形成工程と、
    前記測定工程の結果に基づいて、前記錘金属層の質量を低減する質量低減工程と、を備える請求項に記載の音叉型圧電振動片の製造方法。
  9. 前記溝部形成工程は、前記振動腕用の溝部を同時に形成することを特徴とする請求項ないし請求項のいずれか一項に記載の音叉型圧電振動片の製造方法。
  10. 圧電デバイスを製造する製造方法において、
    基部とその基部から所定方向に伸びる少なくとも一対の振動腕とを有する音叉型圧電振動片の外形を形成する外形形成工程と、
    前記基部に溝部を形成する溝部形成工程と、
    前記振動腕に励振電極を形成する電極形成工程と、
    前記溝部に前記励振電極と接続される金属層を形成する金属層形成工程と、
    前記音叉型圧電振動片をパッケージに配置する工程と、
    前記パッケージに蓋部で封止する封止工程と、
    を備えることを特徴とする圧電デバイスの製造方法。
  11. 前記前記音叉型圧電振動片がパッケージに配置された状態で、前記音叉型圧電振動片の周波数を測定する測定工程と、
    前記測定工程で測定された周波数が所望の周波数より高い場合に、前記金属層と前記励振電極との接続を切断する切断工程と、
    を備えることを特徴とする請求項10に記載の圧電デバイスの製造方法。
  12. 前記振動腕の先端部に錘金属層を形成する錘金属層形成工程と、
    前記測定工程で測定された周波数が所望の周波数より低い場合に、前記錘金属層の質量を低減する質量低減工程と、
    を備えることを特徴とする請求項11に記載の圧電デバイスの製造方法。
  13. 前記蓋部はレーザ光を透過する透明材料であり、
    この透明材料の蓋部で前記パッケージが封止された状態で、前記切断工程が前記金属層と前記励振電極との接続をレーザ光で切断することを特徴とする請求項11に記載の圧電デバイスの製造方法。
  14. 前記質量低減工程が、前記レーザ光で前記錘金属層の質量を低減することを特徴とする
    請求項13に記載の圧電デバイスの製造方法。
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