JP5141483B2 - イオン化装置及びイオン化方法 - Google Patents
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Description
[1.質量分析装置の構成]
[2.短パルスレーザ光源の構成]
[2−1.緩和振動モードによるレーザ光のパルス出力]
[2−2.特異モードによるレーザ光のパルス出力]
[2−3.駆動電圧の制御]
[3.動作及び効果]
[4.他の実施の形態]
図1において、本一実施の形態による質量分析装置1の構成を示す。この質量分析装置1は、イオン化部2と、飛行時間(TOF:Time of Flight)型のイオン分離部3とによって構成される。
次に、短パルスレーザ光源12の構成を具体的に説明する。図2に示すように、この短パルスレーザ光源12は、レーザ制御部30と半導体レーザ40とから構成される。
レーザの特性を表すいわゆるレート方程式は、次式
ここで、駆動電圧パルスDJwの電圧値を変化させた場合のレーザ光LLの変化を測定した実験の結果について説明する。
ところで、本実施の形態による短パルスレーザ光源12には、コンピュータ23(図1)から、図10に示すように、パルス生成器31における設定パルスSLsのパルス幅Wsと、当該設定パルスSLsの高さHsとの設定情報が与えられる。
以上の構成において、この質量分析装置1は、緩和振動が生じる電圧値以上となるパルス状の駆動電圧DJを半導体レーザ40に印加し、該半導体レーザ40からパルス状の特異ピークAPKをもつレーザ光LLを出力させる(主に図4又は図9参照)。
上述の実施の形態では、駆動電圧パルスDJwのパルス幅を切り換えて特異スロープASPが抑制された。しかしながら抑制手段はこの実施の形態のように電気的抑制に代えて、光学的抑制により実現するようにしてもよい。
Claims (7)
- 半導体レーザと、
緩和振動が生じる電圧値以上となるパルス状の駆動電圧を上記半導体レーザに印加し、パルス状の特異ピークをもつレーザ光を上記半導体レーザから出力させるレーザ制御部と、
上記パルス状の特異ピークをもつレーザ光を、マトリックスとサンプルとの混晶に集光する光学レンズと
を有するイオン化装置。 - 上記レーザ制御部は、
上記パルス状の駆動電圧に対する電圧値を切り換えて上記特異ピークの強度を調整する、請求項1に記載のイオン化装置。 - 上記特異ピークに続いて該特異ピークの強度よりも小さく現れる特異スロープを抑制する抑制手段
をさらに有する請求項1に記載のイオン化装置。 - 上記半導体レーザは、400[nm]〜410[nm]に含まれる波長のレーザ光を出射するものである、請求項2又は請求項3に記載のイオン化装置。
- 上記半導体レーザは、
互いに波長の異なるレーザ光を出射する複数の半導体レーザでなり、
上記レーザ制御部は、
上記複数の半導体レーザのうち、対象とされる半導体レーザに上記駆動電圧パルスの出力先を切り換える、請求項2又は請求項3に記載のイオン化装置。 - 上記パルス状の特異ピークをもつレーザ光により脱離されるサンプルのイオンを飛行させる飛行部と、
上記イオンの飛行時間から質量電荷比を算出する算出部と
をさらに有する請求項5に記載のイオン化装置。 - 緩和振動が生じる電圧値以上となるパルス状の駆動電圧を半導体レーザに印加し、パルス状の特異ピークをもつレーザ光を上記半導体レーザから出力させるレーザ制御ステップと、
上記パルス状の特異ピークをもつレーザ光を、マトリックスとサンプルとの混晶に集光する集光ステップと
を有するイオン化方法。
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