JP5124441B2 - 半田用フラックス這い上がり防止組成物 - Google Patents
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Description
(式中、R2は水素原子またはメチル基、R3〜R5は、それぞれ独立にメチル基または炭素数1〜3のアルコキシ基)
Q:単結合または2価連結基、
R1:水素原子またはメチル基、
Rf:炭素−炭素結合間に挿入されたエーテル性酸素原子を含んでいてもよいポリフルオロアルキル基、
R2:水酸基または加水分解可能な官能基、
R3、R4:それぞれ独立して、水素原子、炭素数1〜4の飽和アルキル基、フェニル基、n:1〜3の整数、
m、l:それぞれ独立して、0または1の整数、
ただし、(4−n−m−l)は1以上である。
なお本明細書において、電子部品およびプリント基板などの半田づけされる被処理部材を電子部材と総称する。
さらに該方法により半田づけされた電子部材を含む電気製品も提供する。
式(a)中、R1は、水素原子またはメチル基である。
Rfは、ポリフルオロアルキル基である。このポリフルオロアルキル基は、アルキル基の水素原子の2個以上がフッ素原子に置換された基を意味し、このアルキル基の炭素−炭素結合間に挿入されたエーテル性酸素原子を含むものであってもよい。本明細書において、ポリフルオロアルキル基またはRf基の表記は、炭素−炭素結合間に挿入されたエーテル性酸素原子を含むポリフルオロアルキル基の上位概念にあたるものとして、特にことわりのない限り、該酸素原子を含まないおよび含む両方のポリフルオロアルキル基の総称を意味する。
Rf基は直鎖構造または分岐構造のいずれであってもよいが、直鎖構造が好ましい。分岐構造である場合には、分岐部分がRf基の末端部分に存在し、かつ、炭素数1〜3程度の短鎖である場合が好ましい。
なお、Rf鎖長と撥水または撥油性能には密接な関係があり、Rf鎖長の炭素数が8以上になると非常に高い撥水撥油性を示すことができる。なお、撥水撥油性については、接触角を指標とすることができる。たとえばドデカンなどの油に対する接触角が大きいほど、高い撥油性をもつといえる。
2価の連結基としては、-O-、-S-、-NH-、-SO2-、-PO2-、-CH=CH-、-CH=N-、-N=N-、-N(O)=N-、-COO-、-COS-、-CONH-、-COCH2-、-CH2CH2-、-CH2-、-CH2NH-、-CH2-、-CO-、-CH=CH-COO-、-CH=CH-CO-、直鎖状もしくは分岐状のアルキレン基またはアルケニレン基、アルキレンオキシ基、2価の4、5、6または7員環置換基、またそれらから構成される縮合置換基、6員環芳香族基、4ないし6員環の飽和または不飽和の脂肪族基、5または6員環複素環基、またはそれらの縮合環、これら2価の連結基の組み合わせから構成される基が挙げられる。
式(a1)中、
R1:水素原子またはメチル基、
Z:単結合、-O-、-NH-、
Y:炭素数1〜5のアルキレン基、
Rf:F(CF2)n-、(CF3)2CF(CF2)m-(n=1〜20の整数、m=0〜10の整数)を表す。
これら化合物におけるYおよびRfの組み合わせを下記表1に示す。
共重合体中の上記化合物(a)全量から導かれる単位の含有量は、好ましくは50〜99質量%、より好ましくは80〜99質量%である。化合物(a)から導かれる単位の含有量が上記範囲内であると、共重合体のフラックスの這い上がり防止性能が良好であるからである。なお、本発明に係る共重合体において、各重合単位の含有量は、実質的に、重合仕込み量とみなすことができる。
R2は、水酸基または加水分解可能な官能基であり、具体的に、炭素数1〜3のアルコキシ基、ハロゲン原子などが挙げられる。
nは、1〜3の整数であり、nが2または3の時、R2は、互いに同一であっても異なっていてもよい。
mおよびlは、それぞれ独立して、0または1の整数である。(4−n−m−l)は1以上である。
R3およびR4は、それぞれ独立して、水素原子、炭素数1〜4の飽和アルキル基、フェニル基である。
本発明に係る共重合体において、化合物(b)から導かれる単位が、1質量%含まれているだけでも、這い上がり防止性能が改善される。5質量%以上含まれていれば、非常に高い性能を発現する。しかしながら、化合物(b)から導かれる単位を多く含有していると、共重合体の安定性が損なわれやすいため、共重合体中の化合物(b)全量から導かれる単位の含有量は、好ましくは1〜50質量%、より好ましくは5〜20質量%である。
このような化合物(c)の具体例を以下に示すが、これらに限定されるものではない。
上記R5は、たとえば、−H、−OH、−CH3、−Cl、−CHO、−COOH、−CH2OH、−CH2Cl、−CH2NH2、−CH2N(CH3)2、−CH2N(CH3)3Cl、−CH2NH3Cl、−CH2CN、−CH2COOH、−CH2N(CH2COOH)2、−CH2SH、−CH2SO3Naまたは−CH2OCOCH3などである。
上記R6は、たとえば、−H、−CH3、−CH3CH2OH、−CH2CH2N(CH3)2、−(CH2)nH (ここでのn=2〜20)、−CH2CH(CH3)2、−CH2−C(CH3)2−OCO−Ph、−(CH2CH2O)nH(ここでのn=2〜20)、−CH2−Ph、−CH2CH2OPh、−CH2N(CH3)3Cl、−CH2CH2O−PO(OH)2、−[Si(CH3)2O]mH(ここでのm=2〜20)、−(CH2CH2O)nCH3(ここでのn=2〜20)、
などである。
上記R7は、たとえば、−NHCH2OH、−NHCH2SO3H、−NHC(CH3)2CH2−CO−CH3、−N=N(CH3)3、−CNH2n+1(ここでのn=2〜20)および−NH2などである。
p-キシレンヘキサフルオリド(以下、p-XHFと記す。)
CF3CH2CF2CH3
CF3CH2CF2H
C6F13OCH3
C6F13OC2H5
C3F7OCH3
C3F7OC2H5
C6F13H
CF2HCF2CH2OCF2CF2H
CF3CFHCFHCF2CH3
CF3(OCF2CF2)n(OCF2)mOCF2H
C8F17OCH3
C7F15OCH3
C4F9OCH3
C4F9OC2H5
C4F9CH2CH3
CF3CH2OCF2CF2CF2H
(上記例示中、m、nはどちらも1〜20を表す。)
特に、本発明の這い上がり防止剤は、表面実装技術に対応するものであり、従来のフラックス這い上がり防止剤では、対応困難であったリフロー半田づけに対して、高い性能を発揮するものである。また、本発明の這い上がり防止剤は、鉛フリー半田にも充分に適応可能である。
表3に示す各化合物(a)と、化合物(b)とを、表4示す質量比で以下のとおり重合させ、重合体1〜20を含む重合組成物1〜20を得た。
100mlのガラス製のアンプル瓶に、総仕込み量が60gになるようにして、モノマーを全量で100質量部、開始剤としてジメチル2,2'-アゾビス(2-メチルプロピオナート(V-601:和光純薬)を1質量部、溶剤としてメタキシレンヘキサフルオライド(m-XHF)を399質量部の比率で仕込み、70℃で18時間反応を行い、表4に示す共重合体1〜20を含む重合組成物1〜20を得た。
上記製造例において、化合物(b)を用いない以外は同様にして、表3にF(M)Aとして示す各化合物(a)を単独重合させ、重合体21〜25を含む重合組成物21〜25を得た。また、表3にC6FMAとして示す化合物(a)と、化合物(c)とを、表4に示す質量比で使用する以外は上記製造例と同様にして、表4に示す重合体26〜28を含む重合組成物26〜28を得た。
上記各重合組成物を、m-XHFを用いて2%に希釈して測定サンプルとした。昭和電工株式会社製のShodex GPC-104を用いて、以下の測定条件で測定した。
重合体1〜28の重量平均分子量の測定結果を下記の表4に示す
<GPC測定条件>
Separtion Column:LF−604×2
Default Column:KF600RH×2
Clean Liquid:AK−225
Flow Rate:0.2ml/min
標準物質:ポリメチルメタクリレート
上記各重合体組成物を1g採取し、110℃で2時間乾燥させた後、固形分を秤量して固形分(共重合体)濃度(質量%)を求めた。結果を表4に示す。
重合組成物1〜20について、m-XHFを用いて0.1%に希釈し、フラックス這い上がり防止性能の評価および接触角の測定を行った。結果を表5に示す。
重合組成物21〜28について、m-XHFを用いて0.1%に希釈し、フラックス這い上がり防止性能を評価した。結果を表5に示す。
銅版に銀メッキ(メッキ厚3μm)処理した試験片を各実施例及び比較例で60秒間浸漬後、110℃で5分間乾燥を行った。各処理剤を処理した試験片に、千住金属工業株式会社製のクリーム半田「エコソルダーペーストM705-GRN360-K2」をマスク印刷した(円形φ=3mm、厚さ=0.3mm)。試験片を約73度の傾斜で固定し、株式会社レスカ製のソルダーチェッカーSAT-5100を用いて、昇温させた(70〜80℃の温度で開始⇒(2℃/秒)⇒220℃×120秒⇒(2℃/秒)⇒260℃×60秒)。昇温後、半田及びフラックスの上端から末端の距離を測定した。この距離からマスク径(3mm)を差し引いた値(フラックス垂れ距離)によって、フラックス這い上がり防止性能の比較を行った。
各実施例を処理(1分浸漬後、110℃で5分間乾燥)したガラス板に対して、ノルマルヘキサデカンに対する接触角測定を行った。接触角の測定には、協和界面科学社製の液滴式投影型接触角計を用いた。
Claims (11)
- 下記式(a)で表されるポリフルオロアルキル基含有不飽和化合物の少なくとも1種と、
下記式(b)で表されるシラン含有(メタ)アクリレートの少なくとも1種とから導かれる単位を含有する共重合体を含む半田用フラックス這い上がり防止組成物:
Q:単結合または2価連結基、
R1:水素原子またはメチル基、
Rf:炭素−炭素結合間に挿入されたエーテル性酸素原子を含んでいてもよいポリフルオロアルキル基、
R2:水酸基または加水分解可能な官能基、
R3、R4:それぞれ独立して、水素原子、炭素数1〜4の飽和アルキル基、フェニル基、n:1〜3の整数、
m、l:それぞれ独立して、0または1の整数、
ただし、(4−n−m−l)は1以上である。 - 前記式(a)におけるポリフルオロアルキル基がパーフルオロアルキル基である請求項1に記載の組成物。
- 前記式(a)で表される化合物から導かれる単位における全ポリフルオロアルキル基の90質量%以上が、主鎖炭素数6以下のパーフルオロアルキル基である請求項1または2に記載の組成物。
- 前記式(a)で表される化合物から導かれる単位における全ポリフルオロアルキル基の90質量%以上が、主鎖炭素数3以下のパーフルオロアルキル基である請求項1〜3のいずれかに記載の組成物。
- 前記共重合体の式(b)で表される化合物から導かれる単位の含有量が1〜50質量%である請求項1〜4のいずれかに記載の組成物。
- 前記共重合体が、上記式(a)で表される化合物および(b)で表されるシラン含有(メタ)アクリレート以外の非フッ素系不飽和化合物(c)から導かれる単位をさらに含む請求項1〜5のいずれかに記載の組成物。
- 表面実装での半田づけに使用するための請求項1〜6のいずれかに記載の組成物。
- 前記半田が鉛フリー半田である請求項1〜7のいずれかに記載の組成物。
- 電子部品およびプリント基板から選ばれる少なくとも一つの電子部材であって、かつその表面の一部または全部に、請求項1〜8のいずれかに記載の組成物からなる被膜を有する、フラックス這い上がり防止性能を有する半田用電子部材。
- 電子部品またはプリント基板から選ばれる少なくとも一つの電子部材の表面の一部または全部に、請求項1〜8のいずれかに記載の組成物からなる被膜を形成し、該電子部材の表面の一部または全部を半田用フラックスで処理後、半田づけする、電子部材の半田づけ方法。
- 請求項10に記載の方法で半田づけされた電子部材を含む電気製品。
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