JP5086818B2 - 電子顕微鏡装置 - Google Patents
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Description
(1)走査透過型電子顕微鏡の構成
図1は、本発明の実施形態による特性X線分光装置と電子線エネルギー分光装置(EELS)を備えた走査透過型電子顕微鏡(STEM)の主要部分の概略構成を示す図である。なお、この走査透過型電子顕微鏡は、各実施形態において共通のものである。
次に、電子線エネルギー分光器22による電子線エネルギー損失スペクトル測定や元素像観察時の制御装置21内の動作について説明する。
続いて、特性X分光装置6による元素像観察時の制御装置21内の動作について説明する。
さらに、特性X線分光装置6や電子線エネルギー分光器22による高S/N元素像観察について説明する。
(1)第1の実施形態との相違
第1の実施形態では、エネルギーフィルタ像を取得した後に、それら3種類のフィルタ像(F1乃至3像)を使って元素像を求めている(図3参照)が、第2の実施形態では、電子線エネルギー分光器(EELS)22による元素像を求めるデータがエネルギーフィルタ像ではない。つまり、EELSスペクトルそのものをまず取得し、スペクトルデータからバックグランドを外挿し、コアロスの強度を求める。第2の実施形態のEELSスペクトルは、例えば、図4Bに示すようなスペクトルの形状が識別できるような詳細なものであり、画像の画素毎に詳細なスペクトルが測定される。一方、第1の実施形態ではF1、F2、F3のデータはエネルギー幅(ΔE)での信号強度となっており(図4A)、詳細なスペクトルは測定していない。
図5は、本発明の第2の実施形態による元素像観察の手法を説明するための図である。 第2の実施形態でも、第1の実施形態と同様に、電子線照射位置に対応して、試料5からの弾性散乱電子をZコントラスト検出器9で検出し、Zコントラスト像101を生成する。また、Zコントラスト像と同時に、特性X線分光装置による元素像(A)201と、電子線エネルギー分光装置によるEELSスペクトル群を観察する。これら3種類の信号は、試料上同一場所に電子線が照射されたときに、個々の検出器で弾性散乱電子や特性X線を検出し、それを基に画像化し、またエネルギー損失電子を検出しEELSスペクトル群としたものである。したがって、3種類の信号はまったく同じ場所の結果を示している。EELSスペクトル群とは、電子線照射位置毎にEELSスペクトルを測定し、全ての観察位置をまとめたものをEELSスペクトル群と呼ぶことにする。各電子線照射位置毎のEELSスペクトルの全電子線強度を使って画像化すると、EELSスペクトル像となる。
(1)元素像観察
図6は、本発明の第3の実施形態による元素像観察の手法を示す図である。
第2の実施形態でも、第1の実施形態と同様に、電子線照射位置に対応して、試料5からの弾性散乱電子をZコントラスト検出器9で検出し、Zコントラスト像1001を生成する。また、Zコントラスト像と同時に、特性X線分光装置による元素像(A)(図6では省略されているので図2を参照)と、電子線エネルギー分光装置によるエネルギーフィルタ像(F1)3001(図6ではエネルギーフィルタ像(F2,F3)は省略されているので図2を参照)を観察する。これら5種類の画像は、試料上同一場所に電子線が照射されたときに、個々の検出器で弾性散乱電子や特性X線やエネルギー損失電子を検出し、それを基に画像化したものである。したがって、5種類の画像はまったく同じ場所の観察結果を示している。
試料によっては、Zコントラスト像にコントラスト差が出ない場合がある。しかし、このような場合であってもエネルギーフィルタ像には信号強度差が出る場合がある。
本発明では、時分割された複数のZコントラスト像(101乃至10n)における相互相関を計算することにより試料ドリフト量を算出し、この試料ドリフト量を特性X線分光装置や電子線エネルギー分光装置から得られる時分割された複数の像間で発生する試料ドリフトを補正するために用いている。このようにすることにより、取得された他の画像よりも(同じ観測時間では)S/Nが高いZコントラスト像を用いて試料ドリフト量を求めているので、より正確に試料ドリフト量を求めることができる。そして、ドリフト量を補正しながら像を積算するので、元素像やエネルギーフィルタ像の空間分解能を劣化させることもない。
Claims (5)
- 試料の元素像を測定するための電子顕微鏡装置であって、
電子線源で発生させた電子線を試料に照射する電子線照射手段と、
前記試料を透過した弾性散乱電子を検出する弾性散乱電子検出器と、
前記試料を透過した非弾性散乱電子の電子線のエネルギーを分析するための電子線エネルギー分光装置と、
前記電子線照射手段、前記弾性散乱電子検出器、及び前記電子線エネルギー分光装置を制御し、前記試料に関する像を取得する制御装置と、を備え、
前記制御装置は、前記試料の同一照射位置に前記電子線を所定時間照射するように前記電子線照射手段を制御し、前記弾性散乱電子検出器によって検出された前記弾性散乱電子から時分割された複数の弾性散乱電子像と、前記電子線エネルギー分光装置の出力に基づいて、観察すべき元素のコアロスを含む第1のエネルギーフィルタ像と、当該第1のエネルギーフィルタ像よりも低ロスエネルギーの少なくとも2種類の第2及び第3のエネルギーフィルタ像とを、時分割でそれぞれ複数画像生成し、
前記制御装置は、さらに、前記複数の弾性散乱電子像と前記複数の第1のエネルギーフィルタ像をそれぞれ同一時刻において画像演算し、当該画像演算によって得られた複数の画像を用いて試料ドリフト量を算出し、当該試料ドリフト量に基づいて、前記複数の第1乃至3のエネルギーフィルタ像における試料ドリフトを補正して積算し、ドリフト補正され積算された前記第1乃至3のエネルギーフィルタ像に基づいて、前記観察すべき元素について第1の元素像を生成することを特徴とする電子顕微鏡装置。 - 前記制御装置は、前記ドリフト補正され積算された第2及び第3のエネルギーフィルタ像を用いて背景像を生成し、前記ドリフト補正され積算された第1のエネルギーフィルタ像から前記背景像を減算することにより、前記第1の元素像を生成することを特徴とする請求項1に記載の電子顕微鏡装置。
- 前記制御装置は、前記ドリフト補正され積算された第1のエネルギーフィルタ像を、前記ドリフト補正され積算された第2のエネルギーフィルタ像で割り算することにより、前記第1の元素像を生成することを特徴とする請求項1に記載の電子顕微鏡装置。
- 前記制御装置は、前記算出された試料ドリフト量に基づいて、前記複数の弾性散乱電子像における試料ドリフトを補正して積算し、高S/Nのコントラスト像を生成することを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の電子顕微鏡装置。
- さらに、前記電子線の照射によって前記試料から発生する特性X線スペクトルを検出し、特性X線信号を出力する特性X線分光装置を備え、
前記制御装置は、前記特性X線信号から時分割された複数の第2の元素像を生成し、前記算出された試料ドリフト量に基づいて、前記複数の第2の元素像における試料ドリフトを補正して積算し、高S/Nの第2の元素像を生成することを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の電子顕微鏡装置。
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