JP5072741B2 - EBG structure unit - Google Patents

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Description

この発明は、特定周波数帯の電磁波の伝搬を阻止するEBG(Electromagnetic Band−Gap)構造に関するものである。   The present invention relates to an EBG (Electromagnetic Band-Gap) structure that prevents propagation of electromagnetic waves in a specific frequency band.

一般に、EBG構造ユニットは、金属(導体)パッチを狭い間隔で周期的に配設(誘電体または金属などの物質を特定周波数の波長未満オーダの周期で、2次元または3次元に周期的に配置)した構造を有し、これにより、伝搬を禁止すべき特定周波数の帯域(EBG構造の内部または平面上で特定周波数の電磁波の伝搬が阻止されるバンドギャップ:周波数領域)を形成している。   Generally, an EBG structural unit periodically arranges metal (conductor) patches at a narrow interval (dielectric or metal materials are periodically arranged in a two-dimensional or three-dimensional manner with a period on the order of a wavelength less than a specific frequency. Thus, a band of a specific frequency that should be prohibited from propagating (a band gap in which propagation of an electromagnetic wave of a specific frequency is blocked inside or on a plane of the EBG structure: a frequency region) is formed.

このように、EBG構造ユニットは、不要な電磁波の放射を抑圧することが可能なことから、アンテナへの適用が盛んに研究されている。
従来のEBG構造ユニットにおいて、電気的にLC共振回路として機能する要素の各々は、地板と基板と導体パッチと導体パッチと地板とを導通する導電線とから構成されている(たとえば、特許文献1参照)。
Thus, since the EBG structure unit can suppress radiation of unnecessary electromagnetic waves, application to antennas has been actively studied.
In the conventional EBG structure unit, each element that functions electrically as an LC resonance circuit is composed of a ground plane, a substrate, a conductor patch, a conductor patch, and a conductive wire that conducts the ground plane (for example, Patent Document 1). reference).

特許文献1に記載のEBG構造ユニットは、地板の表面から一定の間隔をおいて導体パッチを周期的に2次元配列し、導体パッチと地板とを柱状導体で電気的に接続することにより、隣接する導体パッチ間のギャップにおいて静電容量成分(C)を形成している。
また、導体パッチ端部→柱状導体→地板→柱状導体→導体パッチ端部からなる電流経路により、インダクタンス成分(L)を形成している。
The EBG structure unit described in Patent Document 1 is arranged such that conductor patches are periodically two-dimensionally arranged at a certain interval from the surface of the ground plane, and the conductor patches and the ground plane are electrically connected by a columnar conductor, thereby being adjacent to each other. Capacitance component (C) is formed in the gap between the conductor patches.
In addition, an inductance component (L) is formed by a current path including a conductor patch end portion → columnar conductor → ground plate → columnar conductor → conductor patch end portion.

このように、静電容量成分(C)およびインダクタンス成分(L)からなる単位セルが隣接することにより、LC並列共振回路が形成され、LC並列共振回路が金属板(地板)上に多数配列されることになる。この結果、LC共振周波数において高いインピーダンス特性を有することにより、バンドギャップが形成される。   As described above, the unit cell composed of the capacitance component (C) and the inductance component (L) is adjacent to form an LC parallel resonance circuit, and a large number of LC parallel resonance circuits are arranged on the metal plate (ground plate). Will be. As a result, a band gap is formed by having high impedance characteristics at the LC resonance frequency.

特表2002−510886号公報Japanese translation of PCT publication No. 2002-510886

従来のEBG構造ユニットでは、比較的低周波数で動作するEBG構造ユニットを得る場合に、隣接した単位セルが形成する静電容量成分を増加させる手法として、導体パッチ間のギャップ(周期的間隔)を狭く設定する手法があるが、物理的な限界があることから実現が困難になるという課題があった。
また、導体パッチ間にインターデジタルキャパシタやチップコンデンサを電気的に接続するなど、何らかの容量性要素を、導体パッチと同じ平面上に装荷する手法もあるが、別部品としての容量性要素が必要になるので、ユニット全体の大形化を招くという課題があった。
In a conventional EBG structure unit, when obtaining an EBG structure unit that operates at a relatively low frequency, a gap (periodic interval) between conductor patches is used as a technique for increasing the capacitance component formed by adjacent unit cells. Although there is a method of setting narrowly, there is a problem that it is difficult to realize due to physical limitations.
There is also a method of loading some capacitive element on the same plane as the conductor patch, such as electrically connecting an interdigital capacitor or chip capacitor between conductor patches, but a capacitive element as a separate part is required As a result, there is a problem that the whole unit is increased in size.

この発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、隣接する単位セルが形成する静電容量成分を増加させるために、導体パッチが配置されている同平面上に静電容量成分の増加要素を設けることのみならず、導体パッチが配置されている同平面に対して垂直に静電容量成分の増加要素を設けることにより、導体パッチが配置されている同平面に静電容量成分の増加要素を設けるのみでは不十分な場合に、静電容量成分の増加を見込めるように構成し、ユニット全体の大形化を回避しつつ比較的低周波数で動作可能なEBG構造ユニットを得ることを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and in order to increase the capacitance component formed by adjacent unit cells, the capacitance is formed on the same plane where the conductor patch is arranged. Capacitance in the same plane where the conductor patch is arranged by not only providing the component increasing element but also by providing the capacitance component increasing element perpendicular to the same plane where the conductor patch is arranged When it is not sufficient to provide a component increasing element, an increase in the capacitance component can be expected, and an EBG structure unit that can operate at a relatively low frequency while avoiding an increase in size of the entire unit is obtained. For the purpose.

この発明によるEBG構造ユニットは、導体からなる地板と、地板に対して所定距離だけ離間して対向配置された複数の導体パッチと、複数の導体パッチと地板とを個別に導通させる複数の柱状導体とを備え、導体パッチが特定周波数の波長よりも短い間隔で配列されることにより、特定周波数の電磁波の伝搬を阻止するように構成されたEBG構造ユニットにおいて、複数の導体パッチの少なくとも1つに接続された容量形成用導体を備え、容量形成用導体は、導体パッチの表面から地板に向かって延長されているものである。   An EBG structure unit according to the present invention includes a ground plane made of a conductor, a plurality of conductor patches arranged opposite to each other by a predetermined distance from the ground plane, and a plurality of columnar conductors that individually conduct the plurality of conductor patches and the ground plane. In an EBG structure unit configured to prevent propagation of electromagnetic waves of a specific frequency by arranging the conductor patches at an interval shorter than the wavelength of the specific frequency, at least one of the plurality of conductor patches The capacitor forming conductor is connected, and the capacitor forming conductor is extended from the surface of the conductor patch toward the ground plane.

この発明によれば、大形化することなく、比較的低周波数で動作可能な構成を実現することができる。   According to the present invention, it is possible to realize a configuration capable of operating at a relatively low frequency without increasing the size.

実施の形態1.
図1はこの発明の実施の形態1に係るEBG構造ユニットを示す平面図およびA−A断面図であり、地板10上に、複数の導体パッチ11を周期的間隔Pで平面的に配設した場合を示している。なお、複数の導体パッチ11は、厳密に周期的間隔Pで配設されていなくてもよく、また、後述するように単数であってもよい。
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 is a plan view and an AA cross-sectional view showing an EBG structure unit according to Embodiment 1 of the present invention, and a plurality of conductor patches 11 are arranged in a plane at periodic intervals P on a ground plane 10. Shows the case. Note that the plurality of conductor patches 11 may not be strictly arranged at the periodic interval P, and may be singular as will be described later.

図1において、EBG構造ユニットは、導体(たとえば金属)からなる地板10と、地板10に対して所定距離だけ離間して対向配置されるとともに、周期的間隔Pで配置された複数の導体パッチ11と、複数の導体パッチ11と地板10とを個別に導通させる複数の柱状導体12と、複数の導体パッチ11の各々に接続された複数の容量形成用導体13と、地板10と複数の導体パッチ11との間に介在された誘電体基板14とにより構成されている。   In FIG. 1, the EBG structural unit is disposed opposite to the ground plane 10 made of a conductor (for example, metal) with a predetermined distance from the ground plane 10, and a plurality of conductor patches 11 disposed at periodic intervals P. A plurality of columnar conductors 12 for individually connecting the plurality of conductor patches 11 and the ground plane 10, a plurality of capacitance forming conductors 13 connected to each of the plurality of conductor patches 11, and the ground plane 10 and the plurality of conductor patches. 11 and a dielectric substrate 14 interposed between them.

複数の容量形成用導体13の各々は、複数の導体パッチ11の各端部に沿って設けられて静電容量成分の増加要素を構成しており、後述するように、隣接相互間でキャパシタを形成している。
また、容量形成用導体13を添加することにより、導体パッチ11が大型化することなく実質的に大きく見える効果があり、比較的低周波数で動作可能な構成を実現することができる。
また、地板10上において、各1つの導体パッチ11、柱状導体12および容量形成用導体13は、単位セル20を形成している。
Each of the plurality of capacitance forming conductors 13 is provided along each end portion of the plurality of conductor patches 11 to constitute an increasing element of the electrostatic capacitance component. Forming.
Further, the addition of the capacitance forming conductor 13 has an effect that the conductor patch 11 looks substantially large without being enlarged, and a configuration capable of operating at a relatively low frequency can be realized.
On the ground plane 10, each one conductor patch 11, columnar conductor 12, and capacitance forming conductor 13 forms a unit cell 20.

各単位セル20は、地板10上の対向平面内において、特定周波数の波長よりも短い間隔Pで(たとえば、周期的に)配列されている。
このように、地板10上に、複数の導体パッチ11および複数の柱状導体12の各1つからなる単位セル20を周期的間隔Pで配設することにより、特定周波数の電磁波の伝搬を阻止するEBG構造ユニットが構成される。
The unit cells 20 are arranged at intervals P shorter than the wavelength of the specific frequency (for example, periodically) in the opposing plane on the ground plane 10.
In this way, by disposing the unit cells 20 each composed of one of the plurality of conductor patches 11 and the plurality of columnar conductors 12 on the ground plane 10 at a periodic interval P, propagation of electromagnetic waves of a specific frequency is prevented. An EBG structural unit is constructed.

容量形成用導体13が設けられた導体パッチ11は、地板10から一定の間隔を隔てて配置されている。また、複数の容量形成用導体13の各々は、導体パッチ11の表面から地板10に向かって延長されている。
各単位セル20(各導体パッチ11)の周期間隔Pは、誘電体基板14内の特定周波数の波長よりも短く設定されている。なお、図1に示すEBG構造ユニットは、単位セル20が2次元的に配列されているが、1次元的に配列されていてもよい。また、図1に示すEBG構造ユニットは、単位セル20を複数個配列しているが、1個のみの配置でもよい。ただし、複数個配列した方が、電磁波遮断の効果は高い。
The conductor patch 11 provided with the capacitance forming conductor 13 is arranged at a certain distance from the ground plane 10. Further, each of the plurality of capacitance forming conductors 13 extends from the surface of the conductor patch 11 toward the ground plane 10.
The periodic interval P of each unit cell 20 (each conductor patch 11) is set to be shorter than the wavelength of the specific frequency in the dielectric substrate 14. In the EBG structure unit shown in FIG. 1, the unit cells 20 are two-dimensionally arranged, but may be one-dimensionally arranged. Further, although the EBG structural unit shown in FIG. 1 has a plurality of unit cells 20 arranged, only one unit cell 20 may be arranged. However, the effect of blocking electromagnetic waves is higher when a plurality of them are arranged.

次に、図2および図3の回路図を参照しながら、図1に示したこの発明の実施の形態1に係るEBG構造ユニットの動作について説明する。
図2は図1の構成の等価回路を示し、図3は図1の簡易モデルを示している。
図2および図3において、前述(図1参照)と同様のものについては、前述と同一符号を付して詳述を省略する。
Next, the operation of the EBG structure unit according to Embodiment 1 of the present invention shown in FIG. 1 will be described with reference to the circuit diagrams of FIGS.
2 shows an equivalent circuit of the configuration of FIG. 1, and FIG. 3 shows the simplified model of FIG.
2 and 3, the same components as those described above (see FIG. 1) are denoted by the same reference numerals as those described above, and detailed description thereof is omitted.

図3において、各単位セル20(図1参照)においては、隣接する各導体パッチ11に設けられた各容量形成用導体13の相互間のギャップGにより、静電容量成分C(破線枠参照)が形成される。   In FIG. 3, in each unit cell 20 (see FIG. 1), a capacitance component C (see the broken line frame) is caused by the gap G between the capacitance forming conductors 13 provided in the adjacent conductor patches 11. Is formed.

また、各導体パッチ11と地板10とを各柱状導体12で電気的に接続することにより、図3内の破線矢印で示す電流経路「1つの容量形成用導体13の端部→容量形成用導体13と一体の導体パッチ11→導体パッチ11に接続された柱状導体12→地板10→隣接する柱状導体12→隣接する柱状導体12に接続された導体パッチ11→隣接する導体パッチ11と一体の容量形成用導体13の端部」により、インダクタンス成分Lが形成される。   Further, by electrically connecting each conductor patch 11 and the ground plane 10 with each columnar conductor 12, the current path “end of one capacitor forming conductor 13 → capacitor forming conductor” shown by a broken line arrow in FIG. The conductor patch 11 integrated with the conductor 13 → the columnar conductor 12 connected to the conductor patch 11 → the ground plane 10 → the adjacent columnar conductor 12 → the conductor patch 11 connected to the adjacent columnar conductor 12 → the capacitance integral with the adjacent conductor patch 11 An inductance component L is formed by the “end portion of the forming conductor 13”.

すなわち、図2および図3に示すように、各単位セル20は、隣接する単位セルに対して、静電容量成分Cを介して互いに容量的に接続されるとともに、地板10に対して、インダクタンス成分Lを介して誘導的に接続される。   That is, as shown in FIG. 2 and FIG. 3, each unit cell 20 is capacitively connected to an adjacent unit cell via a capacitance component C, and has an inductance with respect to the ground plane 10. Inductively connected via component L.

このように、静電容量成分Cおよびインダクタンス成分Lを形成する単位セル20が隣接配置されることにより、図2に示すように、静電容量成分Cおよびインダクタンス成分LからなるLC共振回路30が構成される。
また、複数のLC共振回路30が地板10(金属板)上に多数配列されることにより、LC共振周波数において高いインピーダンス特性を有することになり、バンドギャップが形成される。
In this way, the unit cells 20 that form the capacitance component C and the inductance component L are arranged adjacent to each other, so that the LC resonance circuit 30 including the capacitance component C and the inductance component L can be obtained as shown in FIG. Composed.
In addition, when a plurality of LC resonance circuits 30 are arranged on the ground plane 10 (metal plate), the LC resonance circuit 30 has high impedance characteristics at the LC resonance frequency, and a band gap is formed.

以上のように、この発明の実施の形態1に係るEBG構造ユニット(図1)は、隣接する単位セル20の各導体パッチ11の相互間のギャップにより形成される静電容量成分を増加させるために、導体パッチ11が配置されている同平面に対して垂直方向(地板10に向かって)に延長された容量形成用導体13が設けられている。   As described above, the EBG structure unit (FIG. 1) according to the first embodiment of the present invention increases the capacitance component formed by the gap between the conductor patches 11 of the adjacent unit cells 20. Further, a capacitance forming conductor 13 extended in a direction perpendicular to the same plane where the conductor patch 11 is disposed (toward the ground plane 10) is provided.

これにより、導体パッチ11が配置されている同平面に静電容量成分の増加要素を設けるのみでは不十分な場合に、静電容量成分の増加を実現することができる。
また、このときの静電容量成分の増加は、さらに低周波数で動作するEBG構造ユニットの実現を可能にするとともに、EBG構造ユニットの小形化を可能にする効果がある。
さらに、各容量形成用導体13を各導体パッチ11の端部に沿って設けることにより、静電容量成分を効果的に増加させることができる。
Thereby, an increase in the capacitance component can be realized when it is not sufficient to provide an increase component of the capacitance component on the same plane where the conductor patch 11 is arranged.
Further, the increase in the capacitance component at this time has an effect of enabling the realization of an EBG structure unit that operates at a lower frequency and also enabling the size reduction of the EBG structure unit.
Furthermore, by providing each capacitance forming conductor 13 along the end of each conductor patch 11, the capacitance component can be effectively increased.

実施の形態2.
なお、上記実施の形態1(図1)では、各導体パッチ11が単一層の場合を示したが、図4にように、複数層(3層)の導体パッチ11a〜11cの場合にも適用可能なことは言うまでもない。
図4はこの発明の実施の形態2に係るEBG構造ユニットを示す平面図およびB−B断面図であり、前述(図1参照)と同様のものについては、前述と同一符号を付して詳述を省略する。
Embodiment 2. FIG.
In the first embodiment (FIG. 1), the case where each conductor patch 11 is a single layer is shown. However, as shown in FIG. 4, it is also applicable to a case where a plurality of layers (three layers) of conductor patches 11a-11c are used. It goes without saying that it is possible.
4A and 4B are a plan view and a BB cross-sectional view showing an EBG structure unit according to Embodiment 2 of the present invention. Components similar to those described above (see FIG. 1) are denoted by the same reference numerals as those described above. The description is omitted.

図4において、複数の導体パッチの各々は、地板10の上面に積層された3層の誘電体基板14a〜14cの各表面上に配設された3層の導体パッチ11a〜11cからなり、3層の導体パッチ11a〜11cは、柱状導体12を介して地板10に接続されている。
また、3層の導体パッチ11a〜11cのうち、第2および第3層の導体パッチ11b、11cには、個別の容量形成用導体13b、13cが設けられている。
In FIG. 4, each of the plurality of conductor patches includes three layers of conductor patches 11 a to 11 c disposed on the respective surfaces of the three layers of dielectric substrates 14 a to 14 c stacked on the upper surface of the ground plane 10. The layer conductor patches 11 a to 11 c are connected to the ground plane 10 via the columnar conductors 12.
Of the three layers of conductor patches 11a to 11c, the second and third layers of conductor patches 11b and 11c are provided with individual capacitance forming conductors 13b and 13c.

また、単位セル20は、3層の導体パッチ11a〜11cと、柱状導体12と、容量形成用導体13b、13cと、3層の誘電体基板14a〜14cとにより構成されている。
容量形成用導体13b、13cは、3層の導体パッチ11a〜11cのうちの任意数の導体パッチ11b、11cに設けられる。したがって、図4に示すように、第1層の導体パッチ11aに容量形成用導体が設けられない場合もあり得る。
The unit cell 20 is composed of three layers of conductor patches 11a to 11c, a columnar conductor 12, capacitance forming conductors 13b and 13c, and three layers of dielectric substrates 14a to 14c.
The capacitance forming conductors 13b and 13c are provided on any number of conductor patches 11b and 11c among the three layers of conductor patches 11a to 11c. Therefore, as shown in FIG. 4, there may be a case where the first conductor patch 11a is not provided with a capacitance forming conductor.

図4に示すEBG構造ユニットにおいても、前述(図1参照)と同様に、単位セル20は、2次元的(または1次元的)に配列され、隣接相互間の周期的間隔Pは、誘電体基板14a〜14c内における所定周波数の波長よりも短く設定されている。   In the EBG structure unit shown in FIG. 4 as well, the unit cells 20 are arranged two-dimensionally (or one-dimensionally) as described above (see FIG. 1). The wavelength is set shorter than the wavelength of the predetermined frequency in the substrates 14a to 14c.

また、複数の容量形成用導体13b、13cの各々は、3層の導体パッチ11a〜11cの各端部に沿って設けられている。
なお、図4では、垂直方向に積層された3層の導体パッチ11a〜11cを設けた場合を示しているが、2層または4層以上設けてもよいことは言うまでもない。
Each of the plurality of capacitance forming conductors 13b and 13c is provided along each end of the three layers of conductor patches 11a to 11c.
4 shows a case where three layers of conductor patches 11a to 11c stacked in the vertical direction are provided, it goes without saying that two layers or four or more layers may be provided.

次に、図4の構成の等価回路を示す図5の回路図を参照しながら、図4に示したこの発明の実施の形態2に係るEBG構造ユニットの動作について説明する。
図5において、各単位セル20(図4参照)は、前述(図2)と同様に、隣接する単位セルに対して、静電容量成分C1〜C3を介して互いに容量的に接続されるとともに、地板10に対して、インダクタンス成分L1〜L3を介して誘導的に接続される。
Next, the operation of the EBG structure unit according to the second embodiment of the present invention shown in FIG. 4 will be described with reference to the circuit diagram of FIG. 5 showing an equivalent circuit of the configuration of FIG.
In FIG. 5, each unit cell 20 (see FIG. 4) is capacitively connected to adjacent unit cells via capacitance components C <b> 1 to C <b> 3, as described above (FIG. 2). The base plate 10 is inductively connected via inductance components L1 to L3.

各単位セル20の隣接相互間の導体パッチ11aのギャップと、各導体パッチ11b、11cに設けられた容量形成用導体13b、13cの相互間とにより、それぞれ、静電容量成分C1〜C3が形成される。
また、柱状導体12を介して、導体パッチ11a〜11cと地板10とを電気的に接続することにより、インダクタンス成分L1〜L3が形成される。
Capacitance components C1 to C3 are formed by the gaps between the conductor patches 11a between adjacent unit cells 20 and the capacitance forming conductors 13b and 13c provided in the conductor patches 11b and 11c, respectively. Is done.
Further, by electrically connecting the conductor patches 11a to 11c and the ground plane 10 via the columnar conductor 12, inductance components L1 to L3 are formed.

図5のように、各静電容量成分C1〜C3および各インダクタンス成分L1〜L3からなる単位セル20が隣接配置されることにより、LC共振回路40が形成される。
また、LC共振回路40が地板10(金属板)上に多数配列されることにより、LC共振周波数において高いインピーダンス特性を有することになり、バンドギャップが形成される。
As shown in FIG. 5, the LC resonance circuit 40 is formed by adjacently arranging the unit cells 20 including the capacitance components C1 to C3 and the inductance components L1 to L3.
In addition, since a large number of LC resonance circuits 40 are arranged on the ground plane 10 (metal plate), the LC resonance circuit 40 has high impedance characteristics at the LC resonance frequency, and a band gap is formed.

以上のように、この発明の実施の形態2に係るEBG構造ユニット(図4)において、複数の導体パッチは、それぞれ、誘電体基板14a〜14cの表面(または内部)に互いに重なり合うように配設された複数層の導体パッチ11a〜11cからなり、複数の柱状導体12の各々は、地板10と複数層の導体パッチ11a〜11cとを相互に接続している。   As described above, in the EBG structure unit (FIG. 4) according to the second embodiment of the present invention, the plurality of conductor patches are arranged so as to overlap each other on the surfaces (or inside) of the dielectric substrates 14a to 14c. Each of the plurality of columnar conductors 12 connects the ground plane 10 and the plurality of layers of conductor patches 11a to 11c to each other.

また、単位セル20は、複数層の導体パッチ11a〜11cと各々の柱状導体12とからなり、複数の容量形成用導体13b、13cは、複数層の導体パッチ11a〜11cの少なくとも1つに設けられている。   The unit cell 20 includes a plurality of layers of conductor patches 11a to 11c and respective columnar conductors 12, and the plurality of capacitance forming conductors 13b and 13c are provided in at least one of the plurality of layers of conductor patches 11a to 11c. It has been.

このように、複数層の導体パッチ11a〜11cの少なくとも1つに容量形成用導体13b、13cを設けることにより、前述の実施の形態1と同様に、導体パッチ11a〜11cが配置されている同平面に静電容量成分の増加要素を設けるのみでは不十分な場合に静電容量成分の増加を実現し、さらに低周波数で動作するEBG構造ユニットを得るとともに、EBG構造ユニットの小形化を可能にする効果がある。   Thus, by providing the capacitance forming conductors 13b and 13c on at least one of the multiple layers of conductor patches 11a to 11c, the conductor patches 11a to 11c are arranged in the same manner as in the first embodiment. When it is not enough to provide a capacitance component increasing element on the plane, it is possible to increase the capacitance component, to obtain an EBG structure unit that operates at a low frequency, and to reduce the size of the EBG structure unit. There is an effect to.

また、各容量形成用導体13b、13cを各導体パッチ11a〜11cの端部に沿って設けることにより、静電容量成分を効果的に増加させることができる。
さらに、LC共振回路40は、前述(図2)のLC共振回路30よりも共振点が多いので、バンドギャップ帯域の広帯域化が見込むことができる。
In addition, the capacitance component can be effectively increased by providing the capacitance forming conductors 13b and 13c along the end portions of the conductor patches 11a to 11c.
Furthermore, since the LC resonance circuit 40 has more resonance points than the LC resonance circuit 30 described above (FIG. 2), a wider band gap band can be expected.

実施の形態3.
なお、上記実施の形態1、2(図1、図4)では、各導体パッチ11、11a〜11cに設けられる各容量形成用導体13、13b、13cの具体的形状について言及しなかったが、図6のように、各容量形成用導体を複数のヴィアホール13Aで構成してもよく、または、図7に示すように、長穴ヴィアホール13Bで構成してもよい。
Embodiment 3 FIG.
In the first and second embodiments (FIGS. 1 and 4), the specific shapes of the capacitance forming conductors 13, 13b, and 13c provided in the conductor patches 11, 11a to 11c were not mentioned. As shown in FIG. 6, each capacitance forming conductor may be constituted by a plurality of via holes 13A, or may be constituted by elongated via holes 13B as shown in FIG.

実施の形態4.
また、上記実施の形態1、2(図1、図4)では、各導体パッチの形状と各容量形成用導体の形状との関係について言及しなかったが、図8のように、各容量形成用導体の形状を方向に応じて異なるように構成してもよい。
図8はこの発明の実施の形態4に係るEBG構造ユニットを示す平面図ならびにD−D断面図およびE−E断面図であり、前述(図1参照)と同様のものについては、前述と同一符号を付して詳述を省略する。
Embodiment 4 FIG.
In the first and second embodiments (FIGS. 1 and 4), the relationship between the shape of each conductor patch and the shape of each capacitance forming conductor was not mentioned. However, as shown in FIG. You may comprise so that the shape of a conductor may differ according to a direction.
8 is a plan view, a DD sectional view, and a EE sectional view showing an EBG structural unit according to Embodiment 4 of the present invention. The same parts as those described above (see FIG. 1) are the same as those described above. A detailed description is omitted with reference numerals.

図8において、各導体パッチ11の平面形状は正方形であり、辺数が「4(偶数)」の多角形状を有している。
ここで、複数の容量形成用導体のうち、導体パッチ11(多角形状)の図中横方向に対向する平行2辺の端部に設けられる容量形成用導体13dは、電磁波伝播方向Fから見たD−D断面図に示すように、大きさが互いに等しくなるように構成されている。
In FIG. 8, the planar shape of each conductor patch 11 is a square and has a polygonal shape with the number of sides being “4 (even)”.
Here, among the plurality of capacitance forming conductors, the capacitance forming conductor 13d provided at the ends of the two parallel sides facing the horizontal direction in the drawing of the conductor patch 11 (polygonal shape) is viewed from the electromagnetic wave propagation direction F. As shown in the DD cross-sectional view, the sizes are configured to be equal to each other.

また、複数の容量形成用導体のうち、導体パッチ11(多角形状)の図中縦方向に対向する平行2辺の端部に設けられる容量形成用導体13eは、電磁波伝播方向Gから見たE−E断面図に示すように、容量形成用導体13dよりも幅が小さいものの、大きさが互いに等しくなるように構成されている。
すなわち、各導体パッチ11(多角形状)の隣り合う辺に設けられる各容量形成用導体13d、13eは、大きさが互いに異なるように構成されている。
Further, among the plurality of capacitance forming conductors, the capacitance forming conductor 13e provided at the ends of the two parallel sides facing the vertical direction of the conductor patch 11 (polygonal shape) in the drawing is E viewed from the electromagnetic wave propagation direction G. As shown in the -E cross-sectional view, the width is smaller than that of the capacitor forming conductor 13d, but the sizes are equal to each other.
That is, the capacitance forming conductors 13d and 13e provided on adjacent sides of each conductor patch 11 (polygonal shape) are configured to have different sizes.

このように、導体パッチ11の辺位置に応じて、隣り合う辺に設けられる各容量形成用導体13d、13eの形状を変えることにより、電磁波の遮断特性の異方性を実現することができる。   Thus, by changing the shape of each of the capacitance forming conductors 13d and 13e provided on the adjacent sides according to the side position of the conductor patch 11, the anisotropy of the electromagnetic wave blocking characteristics can be realized.

たとえば、図8のように、導体パッチ11の平面形状が正方形の場合、電磁波伝播方向Fの遮断特性は、電磁波伝播方向Gの遮断特性と異なる。
なぜなら、各容量形成用導体13d、13eの形状が異なることから、導体パッチ11の隣接相互間で形成される容量が、電磁波伝播方向F、Gに応じて互いに異なるからである。
For example, as shown in FIG. 8, when the planar shape of the conductor patch 11 is a square, the cutoff characteristic in the electromagnetic wave propagation direction F is different from the cutoff characteristic in the electromagnetic wave propagation direction G.
This is because the capacities formed between adjacent conductor patches 11 differ from each other in accordance with the electromagnetic wave propagation directions F and G because the capacitative conductors 13d and 13e have different shapes.

図8の場合には、容量形成用導体13dが容量形成用導体13eよりも大きいので、容量形成用導体13dで形成される容量の方が容量形成用導体13eで形成される容量よりも大きくなる。
したがって、電磁波伝播方向Fの遮断帯域の方が、電磁波伝播方向Gの遮断帯域よりも低くなる。
In the case of FIG. 8, since the capacitance forming conductor 13d is larger than the capacitance forming conductor 13e, the capacitance formed by the capacitance forming conductor 13d is larger than the capacitance formed by the capacitance forming conductor 13e. .
Therefore, the cutoff band in the electromagnetic wave propagation direction F is lower than the cutoff band in the electromagnetic wave propagation direction G.

このように、容量形成用導体13d、13eの形状を、導体パッチ11の辺位置に応じて変えることにより、電磁波の遮断特性の異方性を実現することができる。
なお、ここでは図示しないが、導体パッチ11が、辺数が奇数の多角形状を有する場合であっても、隣り合う辺に設けられる容量形成用導体の大きさを異ならせることにより、同様の作用効果を奏することは言うまでもない。
また、容量形成用導体の設置数は任意であり、上記各実施の形態1〜3に限定されることはなく、必要に応じた数だけ設置することができる。
さらに、導体パッチと柱状導体12との対により単位セル20を構成したが、導体パッチのみを考慮しても設計可能なことは言うまでもない。
Thus, by changing the shape of the capacitance forming conductors 13d and 13e in accordance with the position of the side of the conductor patch 11, anisotropy of electromagnetic wave blocking characteristics can be realized.
Although not shown here, even if the conductor patch 11 has a polygonal shape with an odd number of sides, the same effect can be obtained by varying the size of the capacitance forming conductors provided on adjacent sides. Needless to say, it has an effect.
Further, the number of capacitors for forming the capacitance is arbitrary, and is not limited to the above first to third embodiments, but can be installed as many as necessary.
Furthermore, although the unit cell 20 is configured by a pair of the conductor patch and the columnar conductor 12, it goes without saying that the design can be made by considering only the conductor patch.

この発明の実施の形態1によるEBG構造ユニットを示す平面図および断面図である。It is the top view and sectional drawing which show the EBG structure unit by Embodiment 1 of this invention. この発明の実施の形態1によるEBG構造ユニットの等価回路を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the equivalent circuit of the EBG structure unit by Embodiment 1 of this invention. この発明の実施の形態1によるEBG構造ユニットの簡易モデルを示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the simple model of the EBG structure unit by Embodiment 1 of this invention. この発明の実施の形態2によるEBG構造ユニットを示す平面図および断面図である。It is the top view and sectional drawing which show the EBG structure unit by Embodiment 2 of this invention. この発明の実施の形態2によるEBG構造ユニットの等価回路を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the equivalent circuit of the EBG structure unit by Embodiment 2 of this invention. この発明の実施の形態3による単位セルを示す拡大斜視図であり、容量形成用導体を複数のヴィアホールで構成した場合を示している。It is an expansion perspective view which shows the unit cell by Embodiment 3 of this invention, and has shown the case where the capacity | capacitance formation conductor is comprised by the several via hole. この発明の実施の形態3による単位セルを示す拡大斜視図であり、容量形成用導体を長穴ヴィアホールで構成した場合を示している。It is an expansion perspective view which shows the unit cell by Embodiment 3 of this invention, and has shown the case where the capacity | capacitance formation conductor is comprised with the long hole via hole. この発明の実施の形態4によるEBG構造ユニットを示す平面図および異方向断面図である。It is the top view and different direction sectional view which show the EBG structure unit by Embodiment 4 of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10 地板、11、11a〜11c 導体パッチ、12 柱状導体、13、13b〜13e 容量形成用導体、14、14a〜14c 誘電体基板、P 周期的間隔、20 単位セル、C、C1〜C3 静電容量成分、L、L1〜L3 インダクタンス成分、30、40 LC共振回路、13A ヴィアホール、13B 長穴ヴィアホール、F、G 電磁波伝播方向。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Ground plane, 11, 11a-11c Conductor patch, 12 Columnar conductor, 13, 13b-13e Capacitor formation conductor, 14, 14a-14c Dielectric substrate, P Periodic interval, 20 Unit cell, C, C1-C3 Electrostatic Capacitance component, L, L1 to L3 Inductance component, 30, 40 LC resonance circuit, 13A via hole, 13B long hole via hole, F, G Electromagnetic wave propagation direction.

Claims (8)

導体からなる地板と、
前記地板に対して所定距離だけ離間して対向配置された導体パッチと、
前記導体パッチと前記地板とを個別に導通させる柱状導体とを備え、特定周波数の電磁波の伝搬を阻止するように構成されたEBG構造ユニットにおいて、前記導体パッチに接続された容量形成用導体を備え、前記容量形成用導体は、前記導体パッチの表面から前記地板に向かって延長されていることを特徴とするEBG構造ユニット。
A ground plane made of a conductor;
A conductor patch disposed opposite to the ground plane by a predetermined distance;
The EBG structure unit is provided with a columnar conductor that individually conducts the conductor patch and the ground plane, and is configured to prevent propagation of electromagnetic waves of a specific frequency. The EBG structure unit, wherein the capacitance forming conductor is extended from the surface of the conductor patch toward the ground plane.
導体からなる地板と、
前記地板に対して所定距離だけ離間して対向配置された複数の導体パッチと、
前記複数の導体パッチと前記地板とを個別に導通させる複数の柱状導体とを備え、
前記導体パッチが特定周波数の波長よりも短い間隔で配列されることにより、前記特定周波数の電磁波の伝搬を阻止するように構成されたEBG構造ユニットにおいて、
前記複数の導体パッチの少なくとも1つに接続された容量形成用導体を備え、
前記容量形成用導体は、前記導体パッチの表面から前記地板に向かって延長されていることを特徴とするEBG構造ユニット。
A ground plane made of a conductor;
A plurality of conductor patches disposed facing each other with a predetermined distance from the ground plane;
A plurality of columnar conductors for individually conducting the plurality of conductor patches and the ground plane;
In the EBG structure unit configured to prevent propagation of electromagnetic waves of the specific frequency by arranging the conductor patches at an interval shorter than the wavelength of the specific frequency,
A capacitance forming conductor connected to at least one of the plurality of conductor patches;
The EBG structure unit, wherein the capacitance forming conductor extends from a surface of the conductor patch toward the ground plane.
前記地板と前記複数の導体パッチとの間に介在された誘電体基板を備えたことを特徴とする請求項2に記載のEBG構造ユニット。   The EBG structure unit according to claim 2, further comprising a dielectric substrate interposed between the ground plane and the plurality of conductor patches. 前記複数の導体パッチは、それぞれ、前記誘電体基板の表面または内部に互いに重なり合うように配設された複数層の導体パッチからなり、
前記複数の柱状導体の各々は、前記地板と前記複数層の導体パッチとを相互に接続しており、
前記導体パッチと前記柱状導体との対により単位セルを構成しており、
前記容量形成用導体は、前記複数層の導体パッチの少なくとも1つに設けられていることを特徴とする請求項3に記載のEBG構造ユニット。
Each of the plurality of conductor patches is composed of a plurality of layers of conductor patches arranged to overlap each other on or inside the dielectric substrate,
Each of the plurality of columnar conductors interconnects the ground plane and the plurality of layers of conductor patches,
A unit cell is constituted by a pair of the conductor patch and the columnar conductor,
4. The EBG structure unit according to claim 3, wherein the capacitance forming conductor is provided in at least one of the plurality of layers of conductor patches. 5.
前記容量形成用導体は、前記複数の導体パッチまたは前記複数層の導体パッチの各端部に沿って設けられていることを特徴とする請求項2から請求項4までのいずれか1項に記載のEBG構造ユニット。   5. The capacitor forming conductor according to claim 2, wherein the capacitor forming conductor is provided along each end of the plurality of conductor patches or the plurality of layers of conductor patches. 6. EBG structural unit. 前記容量形成用導体は、複数のヴィアホールにより形成されていることを特徴とする請求項2から請求項5までのいずれか1項に記載のEBG構造ユニット。   The EBG structure unit according to any one of claims 2 to 5, wherein the capacitor forming conductor is formed by a plurality of via holes. 前記複数の導体パッチまたは前記複数層の導体パッチの各々は、辺数が偶数の多角形状を有し、
前記容量形成用導体は、前記辺数に対応した複数の容量形成用導体からなり、
前記複数の容量形成用導体のうち、前記多角形状の平行する2辺に設けられる各容量形成用導体は、大きさが互いに等しく、
前記複数の容量形成用導体のうち、前記多角形状の隣り合う辺に設けられる各容量形成用導体は、大きさが互いに異なることを特徴とする請求項2から請求項6までのいずれか1項に記載のEBG構造ユニット。
Each of the plurality of conductor patches or the plurality of layers of conductor patches has a polygonal shape with an even number of sides,
The capacitance forming conductor is composed of a plurality of capacitance forming conductors corresponding to the number of sides,
Of the plurality of capacitance forming conductors, the capacitance forming conductors provided on the two parallel sides of the polygonal shape have the same size,
The capacitance forming conductors provided on adjacent sides of the polygonal shape among the plurality of capacitance forming conductors have different sizes from each other. The EBG structure unit described in 1.
前記複数の導体パッチまたは前記複数層の導体パッチの各々は、辺数が奇数の多角形状を有し、
前記容量形成用導体は、前記辺数に対応した複数の容量形成用導体からなり、
前記複数の容量形成用導体のうち、前記多角形状の隣り合う辺に設けられる各容量形成用導体は、大きさが互いに異なることを特徴とする請求項2から請求項6までのいずれか1項に記載のEBG構造ユニット。
Each of the plurality of conductor patches or the plurality of layers of conductor patches has a polygonal shape with an odd number of sides,
The capacitance forming conductor is composed of a plurality of capacitance forming conductors corresponding to the number of sides,
The capacitance forming conductors provided on adjacent sides of the polygonal shape among the plurality of capacitance forming conductors have different sizes from each other. The EBG structure unit described in 1.
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