JP5048748B2 - 試験テーブル生成装置及び試験テーブル生成方法 - Google Patents
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Description
Diagram)で記述され、例えば図4のように表現される。演算素子と信号線で表現した処理内容は、例えば図3のように表現される。本発明では以降、信号線とそれらを処理する演算素子から構成される図面をロジック図面と呼ぶ。
図1は本発明の実施の形態1による試験テーブル生成装置の構成を示す図である。図1の試験テーブル生成装置は、ロジック図面格納装置1、入力仕様格納装置2、入力点照合部3、信号線追跡部4、演算素子検出部5、出力値生成部6、出力点記憶部7、入力値生成部8、テーブル生成部9、試験テーブル格納装置10を備える。入力点照合部3は、ロジック図面格納装置1からロジック図面を取得し、入力仕様格納装置2から入力仕様を取得して、両者に記載されている入力点の照合を行い、図面上に記載されている入力点を発見する。
有するので、入力仕様ITB1の入力点をロジック図面LG1から正確に検出し、照合することができる。
ル生成の説明を行ったが、このような単純なケースに限定されるものではない。信号線追跡部4は各々分岐を追跡して演算素子検出部5が演算素子を検出する。例えば、モジュール内での動作が大規模になると、一枚の図面に挙動を記述することが困難になり、複数の図面によって表現することが多い。そのとき、各図面中においては、他の図面からの信号、他の図面への信号をシンボルで表す。信号線追跡部4は信号線の追跡中にそれらのシンボルが現れた場合、複数の図面にまたがって信号線の追跡を行う。
実施の形態2では、2入力以上の演算素子を有する複雑なロジック図面で記述されたモジュールに対する試験テーブル生成方法を説明する。図13は、実施の形態2によるモジュール50a(図2参照)のロジック図面の例を示す図である。図13に示した処理は、装置51aの所定箇所の温度が異常の場合に、設定条件に合わせた警報信号を生成する処理である。図13のロジック図面LG2では、演算素子を14個使用した例である。ロジック図面LG2は、5つの入力点21、31、43、40、42と、2つの出力点25、28を有する。
」)の種別「下限」、及び図11の出力値情報OTB3から、出力値「1」が得られる。ステップS204において出力値「1」を値の行に追加する。以下、ステップS205、S508により全ての入力値、全ての出力点に対して値の行が求められ、試験テーブルTTB2が生成される。本実施例で生成される試験テーブルTTB2を図19に示す。図19は、実施の形態2によるテーブル生成部9が生成する試験テーブルの例である。試験テーブル格納装置10はテーブル生成部9が生成した試験テーブルTTB2を格納する。
実施の形態2のロジック図面LG2では設定条件の入力点が2つの場合で説明したが、多くの設定条件の入力点がある等の複雑なロジック図面で記述されたモジュールに対する試験テーブル生成方法を説明する。演算素子に直接的または間接的に入力となる全ての入力点の集合を一つ求めることで、試験を行うのに十分な試験テーブルを生成する。図20は、実施の形態3によるモジュール50a(図2参照)のロジック図面の例を示す図である。図20に示した処理は、装置51aの所定箇所の温度が異常の場合に、設定条件に合わせた警報信号を生成する処理である。図20のロジック図面LG3では、設定条件部分の演算素子を多数使用した例である。ロジック図面LG3は、7つの入力点21、31、43、802、803、804、805と、2つの出力点25、28を有する。実施の形態2のロジック図面LG2(図13)とは、信号線37へ設定条件信号を生成する論理が複雑になっている点で異なる。
条件を満たす入力条件を生成できない旨を通知し、処理を終了する。
Claims (6)
- 演算を行う演算素子と前記演算素子を接続する信号線により構成されたロジック図面を用いて記述された処理の試験を行う際に、アナログ値である入力値と前記処理の出力の期待値を含む試験テーブルを生成する試験テーブル生成装置であって、
前記ロジック図面は、前記アナログ値が入力され離散値を出力し、前記アナログ値と比較し前記離散値を決定する閾値を有する特徴的な演算素子を含み、
ロジック図面格納装置に格納された前記ロジック図面を解析するロジック図面解析部と、前記ロジック図面解析部が導出した前記ロジック図面の入力点と、入力仕様格納装置に格納された前記ロジック図面の入力仕様とに基づいて、前記アナログ値を区分した入力値種別毎に前記入力値を生成する入力値生成部と、
前記ロジック図面解析部が導出した演算素子の種別に対応する出力点毎に、前記入力値生成部で生成した前記入力値に対して前記ロジック図面解析部が前記特徴的な演算素子の前記閾値と前記特徴的な演算素子から下流の出力点とに基づき導出した出力点の種別を当該出力点に対応させて、前記期待値を生成する出力値生成部と、
前記入力値生成部が生成した前記入力値と前記出力値生成部が生成した前記期待値に基づいて、試験テーブルを生成するテーブル生成部と、を備え、
前記ロジック図面解析部は、前記信号線の追跡中に検出された前記演算素子が2入力以上の演算素子である場合に、当該追跡中の信号線が接続させた入力と異なる他の入力から、信号の向きとは逆方向に信号線を辿り、前記他の入力につながる入力点を検出し、当該演算素子における当該追跡中の信号線が接続された入力の値と出力とが等しくなるように決定された前記入力点の値を含む入力条件情報を生成し、
前記テーブル生成部は、前記入力条件情報を基に試験条件を決定し、前記試験条件と前記入力値生成部が生成した前記入力値と前記出力値生成部が生成した期待値とに基づいて、試験テーブルを生成することを特徴とした試験テーブル生成装置。 - 前記ロジック図面解析部は、前記ロジック図面の前記入力点を起点とした信号線を追跡する信号線追跡部と、前記信号線追跡部が追跡した前記信号線に接続された演算素子を検出する演算素子検出部とを有することを特徴とした請求項1に記載の試験テーブル生成装置。
- 前記ロジック図面解析部は、前記ロジック図面の入力点と前記入力仕様に記載された入
力点を照合し、前記入力仕様に記載された入力点に該当する前記ロジック図面の入力点を検出する入力点照合部を有することを特徴とした請求項1または2に記載の試験テーブル生成装置。 - 前記ロジック図面解析部は、前記逆向きに信号線を辿る過程で検出した演算素子に対して、当該演算素子に直接的または間接的に入力となる全ての入力点の集合を求め、前記集合の入力点に組み合わせ可能な値を代入して論理シミュレーションを行い、
前記制約条件を満たす前記入力点の値を含む前記入力条件情報を生成することを特徴とした請求項1に記載の試験テーブル生成装置。 - 前記制約条件は、前記2入力以上の演算素子における前記追跡中の信号線の値と当該2入力以上の演算素子の出力の値が等しくなるように、前記他の入力の値が選ばれることである請求項1または4に記載の試験テーブル生成装置。
- 演算を行う演算素子と前記演算素子を接続する信号線により構成されたロジック図面を用いて記述された処理の試験を行う際に、アナログ値である入力値と前記処理の出力の期待値を含む試験テーブルを生成する試験テーブル生成方法であって、
前記ロジック図面は、前記アナログ値が入力され離散値を出力し、前記アナログ値と比較し前記離散値を決定する閾値を有する特徴的な演算素子を含んでおり、
前記ロジック図面を解析して導出した前記ロジック図面の入力点と、前記ロジック図面の入力仕様とに基づいて、前記アナログ値を区分した入力値種別毎に前記入力値を生成する入力値生成手順と、
前記ロジック図面を解析して導出した演算素子の種別に対応する出力点毎に、前記入力値生成手順で生成した前記入力値に対して前記特徴的な演算素子の前記閾値と前記特徴的な演算素子から下流の出力点とに基づき導出した出力点の種別を当該出力点に対応させて、前記期待値を生成する出力値生成手順と、
前記信号線の追跡中に検出された前記演算素子が2入力以上の演算素子である場合に、当該追跡中の信号線が接続させた入力と異なる他の入力から、信号の向きとは逆方向に信号線を辿り、前記他の入力につながる入力点を検出し、当該演算素子における当該追跡中の信号線が接続された入力の値と出力とが等しくなるように決定された前記入力点の値を含む入力条件情報を生成する入力情報生成手順と、
前記入力情報生成手順で生成した前記入力条件情報に基づいて決定した試験条件と、前記入力値生成手順で生成した前記入力値と、前記出力値生成手順で生成した前記期待値とに基づいて、試験テーブルを生成するテーブル生成手順と、を含む試験テーブル生成方法。
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