JP5030582B2 - データ分析用の装置および方法 - Google Patents
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Description
本件出願は、2002年5月24日付の「METHODS AND APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR TESTING」という名称の米国特許出願第10/154,627号の部分継続出願である。なお、この米国特許出願第10/154,627号は、2001年5月31日付の「METHODS AND APPARATUS FOR DATA SMOOTHING」という名称の米国特許出願第09/872,195号の部分継続出願であって、2001年5月24日付の「METHODS AND APPARATUS FOR DATA SMOOTHING」という名称の米国特許仮出願第60/293,577号、2001年5月31日付の「METHODS AND APPARATUS FOR TEST DATA CONTROL AND ANALYSIS」という名称の米国特許仮出願第60/295,188号、および2002年4月21日付の「METHODS AND APPARATUS FOR TEST PROGRAM ANALYSIS AND ENHANCEMENT」という名称の米国特許仮出願第60/374,328号の利益を主張している。これら各出願における開示は、本明細書に援用される。しかしながら、本明細書の開示が上記各出願とコンフリクトする範囲においては、本明細書の開示が優先するものとする。
本発明は、データ分析に関する。
係数M1およびM2は、生データにおける傾向の非存在(M1)および存在(M2)の両方におけるシステムの所望の感度に従って選択できる。例えば、種々の用途では、M1の値がM2の値よりも大きくてよい。
このようにして、現在の平滑化済みデータ点は、元の平滑化済みデータ点と予測された平滑化データ点との間の修正された差に関し、所定量だけ低減された(M3が1未満の場合)差に従って設定される。予測の平滑化を適用することは、信号の比較的平坦な(または傾向を有さない)部分において点対点のノイズ感度を低減する傾向がある。予測的平滑化プロセスの適用を平滑化済みデータ点のみに限定することによって、顕著なな変化が生データにおいて生じている場合、すなわち生データ信号が比較的平坦でない場合に、傾きに基づいて計算された平均が平滑化済みデータに影響を与えないよう保証される。
以下の例において用いられる実際の数値および論理ルールは、シナリオ(テストプログラム、テストノード、テスター、プロバー、ハンドラ、テストセットアップ、など)ごとにエンドユーザによってカスタマイズすることができる。これらの例におけるσは、キーとなる統計学的関係によってスケーリングされたデータ標準偏差に基づく、データ平均値、モード、および/または中央値に関するσである。
Claims (30)
- 複数のウエハの各ウエハ上の全てのコンポーネントをそれぞれ1セットとし、少なくとも2セットのコンポーネントについてのテスターによって生成されたテスト結果であるテストデータからなる少なくとも2つの前記各セットのデータセットについて、前記テストデータを記憶するように構成された記憶システムであって、第1のウエハに関する第1のデータセットの第1のコンポーネントが、第2のウエハに関する第2のデータセットの第2のコンポーネントに対応し、前記第1のコンポーネントおよび前記第2のコンポーネントが、前記第1、第2の別個のウエハ上で対応する位置を占めている、記憶システムと、
前記テストデータから、統計処理により補足データを生成する補足データ分析要素と、
前記補足データ分析要素から、生のデータセット及び補足データを受領し、前記複数のウエハの複数のデータセットにまたがるパターン、または不規則性を呈する共通の特徴を特定するための複合分析要素であって、前記複合分析要素は、対応する第1のコンポーネントおよび第2のコンポーネントについてのテストデータを分析するように構成された、複合分析要素と、
を備え、
前記複合分析要素によって、各ウエハの対応する位置にある各コンポーネントからなるセット毎に、各コンポーネントについてのデータをそれぞれカウントしきい値と比較し、前記カウントしきい値と特定の関係にあるコンポーネントの数を合計したものを絶対カウンタ値とし、それによって第1のサマリー値を生成し、当該第1のサマリー値と全体のカウントしきい値とを比較し、当該第1のサマリー値が前記全体のカウントしきい値を超える場合に、データ点が複合データとして指定されると共に、前記対応する位置にある各コンポーネントについてのテストデータをそれぞれ累積しきい値と比較し、データ点の値が前記累積しきい値を超える場合、データ点の値を加算して累積値とした第2のサマリー値を生成し、前記対応する位置の全てのデータの最大値、最小値及び標準偏差から動的なしきい値である全体の累積しきい値を算出し、データ点の値が加算された前記累積値としての第2のサマリー値を二乗し、前記全体の累積しきい値と比較し、二乗した累積値が全体の累積しきい値を超える場合に、データ点が複合データとして指定され、複数の前記データセットをまたがる全てのセットの前記複合データに基づいて、前記共通の特徴を特定する
テストシステム。 - 前記複合分析要素が、指定の領域内の複合データに指定の処理を与えるように構成されている、請求項1に記載のテストシステム。
- 前記複合分析要素が、前記指定の領域内の複合データを無視することと、前記指定の領域内の複合データにより低い重要度を与えることとのうちの少なくとも一方を行なうように構成されている、請求項2に記載のテストシステム。
- 前記複合分析要素が、前記複合データについて空間分析を実行するように構成されている、請求項1に記載のテストシステム。
- 前記複合分析要素が、選択された複合データ点に、近隣の複合データ点の値
に基づいて重要度を与えるように構成されている、請求項1に記載のテストシステム。 - 前記選択された複合データ点に与えられる重要度が、第1の近隣複合データ点が前記選
択された複合データ点に対して第1の位置にある場合には、第1の量だけ調節され、前記
第1の近隣複合データ点が前記選択された複合データ点に対して第2の位置にある場合に
は、第2の量だけ調節される、請求項5に記載のテストシステム。 - 前記複合分析要素が、前記複合データから複合データ点のクラスタを取り除くように構成されている、請求項1に記載のテストシステム。
- 前記複合分析要素が、前記複合データ点のクラスタが選択されたサイズよりも小さいときにのみ、前記クラスタを取り除くように構成されている、請求項7に記載のテストシステム。
- 前記複合分析要素が、前記複合データを、前記テストデータに基づく他のデータのセットとマージするように構成されている、請求項1に記載のテストシステム。
- 前記マージされた複合データを含んでいる複合マップを生成するように構成されている
出力要素をさらに備えている、請求項9に記載のテストシステム。 - 複数のウエハの各ウエハ上の全てのコンポーネントをそれぞれ1セットとし、少なくとも2セットのコンポーネントをテストして、テストデータからなる少なくとも2つの前記各セットのデータセットを生成するように構成されているテスターであって、第1のウエハに関する第1のデータセットの第1のコンポーネントが、第2のウエハに関する第2のデータセットの第2のコンポーネントに対応し、前記第1のコンポーネントおよび前記第2のコンポーネントが、前記第1、第2の別個のウエハ上で対応する位置を占めている、テスターと、
前記テストデータから、統計処理により補足データを生成する補足データ分析要素と、
前記補足データ分析要素から、生のデータセット及び補足データを受領し、前記複数のウエハの複数のデータセットにまたがるパターン、または不規則性を呈する共通の特徴を特定するための複合分析要素であって、前記複合分析要素は、対応する第1のコンポーネントおよび第2のコンポーネントについてのテストデータを分析するように構成された、複合分析要素と、
を備え、
前記複合分析要素によって、各ウエハの対応する位置にある各コンポーネントからなるセット毎に、各コンポーネントについてのデータをそれぞれカウントしきい値と比較し、前記カウントしきい値と特定の関係にあるコンポーネントの数を合計したものを絶対カウンタ値とし、それによって第1のサマリー値を生成し、当該第1のサマリー値と全体のカウントしきい値とを比較し、当該第1のサマリー値が前記全体のカウントしきい値を超える場合に、データ点が複合データとして指定されると共に、前記対応する位置にある各コンポーネントについてのテストデータをそれぞれ累積しきい値と比較し、データ点の値が前記累積しきい値を超える場合、データ点の値を加算して累積値とした第2のサマリー値を生成し、前記対応する位置の全てのデータの最大値、最小値及び標準偏差から動的なしきい値である全体の累積しきい値を算出し、データ点の値が加算された前記累積値としての第2のサマリー値を二乗し、前記全体の累積しきい値と比較し、二乗した累積値が全体の累積しきい値を超える場合に、データ点が複合データとして指定され、複数の前記データセットをまたがる全てのセットの前記複合データに基づいて、前記共通の特徴を特定する
テストシステム。 - 前記複合分析要素が、指定の領域内の複合データに指定の処理を与えるように構成されている、請求項11に記載のテストシステム。
- 前記複合分析要素が、前記指定の領域内の複合データを無視することと、前記指定の領域内の複合データにより低い重要度を与えることとのうちの少なくとも一方を行なうように構成されている、請求項12に記載のテストシステム。
- 前記複合分析要素が、前記複合データについて空間分析を実行するように構成されている、請求項11に記載のテストシステム。
- 前記複合分析要素が、選択された複合データ点に、近隣の複合データ点の値に基づいて重要度を与えるように構成されている、請求項11に記載のテストシステム。
- 前記選択された複合データ点に与えられる重要度が、第1の近隣複合データ点が前記選
択された複合データ点に対して第1の位置にある場合には、第1の量だけ調節され、前記
第1の近隣複合データ点が前記選択された複合データ点に対して第2の位置にある場合に
は、第2の量だけ調節される、請求項15に記載のテストシステム。 - 前記複合分析要素が、前記複合データから複合データ点のクラスタを取り除くように構成されている、請求項11に記載のテストシステム。
- 前記複合分析要素が、前記複合データ点のクラスタが選択されたサイズよりも小さいときにのみ、前記クラスタを取り除くように構成されている、請求項17に記載のテストシステム。
- 前記複合分析要素が、前記複合データを、前記テストデータに基づく他のデータのセットとマージするように構成されている、請求項11に記載のテストシステム。
- 前記マージされた複合データを含んでいる複合マップを生成するように構成されている出力要素をさらに備えている、請求項19に記載のテストシステム。
- 半導体ウエハをテストする方法であって、
複数のウエハの各ウエハ上の全てのコンポーネントをそれぞれ1セットとし、少なくとも2セットのコンポーネントについてのテスターによって生成されたテスト結果であるテストデータからなる少なくとも2つの前記各セットのデータセットを取得することであって、前記第1のウエハに関する第1のセットの第1のコンポーネントが、第2のウエハに関する第2のセットの第2のコンポーネントに対応し、前記第1のコンポーネントおよび前記第2のコンポーネントが、前記第1、第2の別個のウエハ上で対応する位置を占めている、ことと、
前記テストデータから、統計処理により補足データを生成する、ことと、
生のデータセット及び補足データを受領し、前記複数のウエハの複数のデータセットにまたがるパターン、または不規則性を呈する共通の特徴を特定する、ことと、
を含むテスト方法であって、
前記共通の特徴の特定は、
特定各ウエハの対応する位置にある各コンポーネントからなるセット毎に、各コンポーネントについてのデータをそれぞれカウントしきい値と比較し、前記カウントしきい値と特定の関係にあるコンポーネントの数を合計したものを絶対カウンタ値とし、それによって第1のサマリー値を生成し、当該第1のサマリー値と全体のカウントしきい値とを比較し、当該第1のサマリー値が前記全体のカウントしきい値を超える場合に、データ点が複合データとして指定されると共に、前記対応する位置にある各コンポーネントについてのテストデータをそれぞれ累積しきい値と比較し、データ点の値が前記累積しきい値を超える場合、データ点の値を加算して累積値とした第2のサマリー値を生成し、前記対応する位置の全てのデータの最大値、最小値及び標準偏差から動的なしきい値である全体の累積しきい値を算出し、データ点の値が加算された前記累積値としての第2のサマリー値を二乗し、前記全体の累積しきい値と比較し、二乗した累積値が全体の累積しきい値を超える場合に、データ点が複合データとして指定され、複数の前記データセットをまたがる全てのセットの前記複合データに基づいて、前記共通の特徴を特定することである、
テスト方法。 - 前記複合データを生成することが、指定の領域内の複合データに指定の処理を与えることを含む、請求項21に記載のテスト方法。
- 前記指定の処理を与えることが、前記指定の領域内の複合データを無視することと、前記指定の領域内の複合データにより低い重要度を与えることとのうちの少なくとも一方を含む、請求項22に記載のテスト方法。
- 前記複合データについて空間分析を実行することをさらに含む、請求項21に記載のテスト方法。
- 選択された複合データ点に、近隣の複合データ点の値に基づいて重要度を与えることをさらに含む、請求項21に記載のテスト方法。
- 前記選択された複合データ点に与えられる重要度が、第1の近隣複合データ点が前記選択された複合データ点に対して第1の位置にある場合には、第1の量だけ調節され、前記第1の近隣複合データ点が前記選択された複合データ点に対して第2の位置にある場合には、第2の量だけ調節される、請求項25に記載のテスト方法。
- 前記複合データから複合データ点のクラスタを取り除くことをさらに含む、請求項21に記載のテスト方法。
- 前記クラスタを取り除くことが、前記複合データ点のクラスタが選択されたサイズよりも小さいときにのみ前記クラスタを取り除くことを含む、請求項27に記載のテスト方法。
- 前記複合データを、前記テストデータに基づく他のデータのセットとマージすることをさらに含む、請求項21に記載のテスト方法。
- 前記マージされた複合データを含んでいる複合マップを生成することをさらに含む、請求項29に記載のテスト方法。
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