JP5027429B2 - 歯科用光断層画像表示システム - Google Patents
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Description
図1は本発明の実施の形態による波長走査型の光断層画像表示システムの全体構成を示すブロック図である。本図において走査型光源10は一定の範囲、例えば220〜250THzの周波数を走査する光信号を発振する走査型のレーザ光源であって、その出力は光ファイバ11に与えられる。光ファイバ11の他端にコリメートレンズ12及び参照ミラー13が設けられる。又この光ファイバ11の中間部分には、他の光ファイバ15を接近させて干渉させる結合部14が設けられる。さて光ファイバ15の一端には、更に結合部17を介してプローブ18Aが接続される。結合部17は赤色光等を発光する参照光源19を光ファイバ15に加えるものである。
Λ(sinγ+sinδ)=kλ ・・・(1)
ここでkは次数であり、0,±1,±2・・・の値となる。Λはグレーティングのピッチ(μm)、即ち単位長さ当たりの格子線数a(本/mm)の逆数である。
λ=2Λsinγ ・・・(2)
尚、リットマン配置では入射光と反射光の角度は一致していない。
τ=2nz/c
となる。従ってフォトダイオード21で受光される干渉光は、ビート周波数
fb=ατ=(Δf/T)(2nz/c) ・・・(3)
で変動することになる。
干渉光信号:F(z)=ΣIdct[km]exp(−j2kmzn) ・・・(5)
km=k(tm)=2π/λ(tm)=2πf(tm)/c
上記干渉光信号は等周波数間隔のサンプリングタイミングでフーリエ変換することによって、歪みのない画像が得られる。
δz=(2ln2/π)・(λ0 2/Δλ) ・・・(6)
ここでλ0は中心波長であり、Δλは波長走査範囲である。
Lc=(2ln2/π)・(C/Δν) ・・・(7)
ここでΔνは動的線幅、即ち波長がシフトしている途中のスペクトル線幅である。
f=c/2Λsinγ
ここで光周波数fはf1〜f2まで変化するものとする。この周波数の走査範囲をΔf(=f2−f1)とし、その間を1024に等分割すると、周波数分割幅δfは次式で示される。
δf=(Δf)/1024
一方、ポリゴンミラー43を用いた場合、光の偏向角は等速、即ち線形に変化する。ここでbを変化の係数とすると、
γ=b・t
=sin−1(c/2Λf)
∴ t=sin−1(c/2Λf)/b
tm={sin−1(c/2Λ(f1+(m−1)δf))−sin−1(c/2Λf1)}/b
・・・(8)
次に本発明の第2の実施の形態について図10を用いて説明する。この実施の形態は奥歯用のプローブ18Bを示している。図1に示す全体構成については前述した実施の形態と同様である。この実施の形態ではスリーブ78内に図示のように三角柱状のプリズム79を設け、このプリズムによって光ファイバ15の位置をプローブの側方に向けて光ファイバを延長できるようにしたものである。このようにプローブの側方より光ビームをプローブに導くことにより、口腔内壁による干渉無く、奥歯の歯肉部の断面を同様にして測定することができる。前述のプリズムは反射ミラーに置き換えてもよい。
次に本発明の第3の実施の形態について図11A,図11Bを用いて説明する。この実施の形態ではプローブと位置信号出力部のみが第1の実施の形態と相違する。この実施の形態では位置検出のために前述したポテンショメータに代えて、光エンコーダを用いる。光エンコーダは投光部としてレーザダイオード81、このレーザダイオード18を駆動するドライバ82、レーザダイオード81の出力をプローブ18Cに伝える光ファイバ83を有している。光ファイバ83は図示のように可動部71の前面パネル板71bの上部に導かれている。光ファイバ83の端部には短焦点のレンズ84が設けられ、スケール板に光を照射するように構成される。又光ファイバ83の他端には光ファイバ85からの光を分岐する結合部86、受光素子であるフォトダイオード87及びその出力を増幅、整形するアンプ88とその出力パルスを計数するカウンタ89を有している。このカウンタ89の計数出力が位置信号として用いられる。
位置信号を得るためには前述したポテンショメータや光エンコーダに代えて、位置検出素子(PSD)を用いてもよい。この実施の形態では、プローブ18D内にPSDを用いている。図12Aはプローブ18Dの前面から見た図を示している。図示のように上部固定片71aの上面には光源となるレーザ101と位置検出素子(以下、PSDという)102を設ける。又可動部71の上部の内面を反射面103としておく。こうすればレーザ101からの光は元の状態では図12Aに示すようにPSD102の右側の端部に光が入射することとなり、最も可動部が押し下げられた状態では図12Bに示すようにPSD102の左端部に光が受光することとなる。従ってPSD102からの信号に基づいて可動部の上下方向の位置を検出することができる。
図13は本発明の第5の実施の形態を示す概略図である。この図に示すようにこの実施の形態では1つの波長走査光源10を用い、その出力を3つの干渉光学計110〜112に加える。この干渉計は第1の実施の形態と同様の構成とし、プローブ18Eには複数、例えば3つの光ファイバ113〜115を連結する。プローブ18Eは図示のように3点でX軸方向の3つの位置で夫々yz面での断面画像を形成するものである。各干渉光学計110〜112の内部構成については前述した実施の形態と同様である。この場合には並列して隣接する3つの断面画像を同時に計測することができる。位置信号出力部の構成については前述した実施の形態のいずれのものを用いてもよい。各干渉光学計の出力は画像信号処理部116に与えられる。この処理についても前述したものと同様であり、3つの画像を同様にして構成し、モニタ55に表示する。この場合には3枚の断面画像を同時に計測できるため、歯の状態を多点で正確に認識することができる。
11,15,31,41 光ファイバ
12,20 レンズ
13 参照ミラー
14,17 結合部
16 干渉光学計
18A,18B,18C,18D,18E プローブ
21 フォトダイオード
22 プリアンプ
23,116 画像信号処理部
24 スキャントリガ発生部
25 kトリガ発生部
32 ゲイン媒体
33 光サーキュレータ
34 光カップラ
35 偏光コントローラ
36,37 半導体レーザ
38 WDMカップラ
43 ポリゴンミラー
44 駆動部
45 回折格子
51 ローパスフィルタ
52 フーリエ変換回路
53 CPU
54 画像メモリ
55 モニタ
62,88 フォトダイオード
64 波形整形回路
65 クロック発生回路
66 トリガ生成回路
67 メモリ
68 RW制御部
71 可動部
72 固定部
73 ポテンショメータ
74,78 スリーブ
79 プリズム
81 レーザダイオード
82 ドライバ
83,85 光ファイバ
87 フォトダイオード
89 カウンタ
91 固定部
92 保持部
93 スケール板
101 レーザ
102 PSD
103 反射面
110,111,112 干渉光学計
Claims (7)
- 周期的に光の発振波長を走査する走査型光源と、
前記走査型光源の波長走査毎にトリガ信号を発生するスキャントリガ発生部と、
前記走査型光源からの光を参照光と物体への照射光とに分岐し、物体からの反射光と参照光との干渉光を発生させる干渉光学計と、
前記干渉光学計の物***置に設けられ、物体への光の照射位置を連続して変化させるプローブと、
前記プローブからの光の照射位置に応じた位置信号を出力する位置信号出力部と、
前記干渉光学計より得られる干渉光を受光し、ビート信号を得る受光素子と、
前記走査型光源の光の等周波数の発振にタイミングを合せて前記受光素子に得られる受光信号をフーリエ変換すると共に、前記位置信号に応じて配置することにより、歯及び歯茎部の断層画像を生成する画像信号処理部と、を具備する歯科用光断層画像表示システム。 - 前記プローブは、
前記光源の干渉光学計に光ファイバを介して接続され、前記干渉光学計からの光を被検体である歯と歯肉部に投光する可動部と、
歯に固定され、前記可動部を保持する固定部と、を具備する請求項1記載の歯科用光断層画像表示システム。 - 前記位置信号出力部は、
ポテンショメータ、光エンコーダ、位置検出素子(PSD)及びレーザ変位計のいずれか1つを用いた請求項1記載の歯科用光断層画像表示システム。 - 前記プローブは、前記固定部に設けられる光エンコーダ用のスケール板を有するものであり、
前記位置信号出力部は、
発光素子と、
前記発光素子からの光を前記プローブ内のスケール板に導く光ファイバと、スケール板からの反射光を前記光ファイバを介して受光する受光素子と、を具備する請求項2記載の歯科用光断層画像表示システム。 - 前記走査型光源の波長の走査速度は、前記プローブにおいて光の照射位置を変化させる走査についての走査速度の100倍以上とした請求項1記載の歯科用光断層画像表示システム。
- 前記画像信号処理部は、
前記位置信号に応じて得られる断面画像信号の同一位置の信号を同一のメモリの位置に積算し、正規化することによって干渉信号を平滑化する請求項1記載の歯科用光断層画像表示システム。 - 前記干渉光学計は、
可視光源と、
前記可視光源からの可視光を前記照射光と共に測定位置に照射する光ファイバを更に有する請求項1記載の歯科用光断層画像表示システム。
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