JP4981433B2 - 検査装置、検査方法、検査プログラムおよび検査システム - Google Patents
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例えば、特許文献1には、ワーク開裂溝の残肉厚さを検査する装置が開示されている。上記特許文献1に開示されている装置では、被測定物であるワークをX線撮影し、このX線撮影画像から溝部の濃淡を求め、この濃淡の情報に基づいて溝の深さを判定している。
このうち、溶接ビードの裏側に発生する亀裂に対しては、溶接ビードの厚さは一様ではないため、上述したような従来のX線撮影画像の濃淡情報に基づく検査方法では、正常な箇所の濃淡情報を特定することができず、欠陥を検出することができないという問題があった。
更に、溶接ビードの裏側に発生する亀裂は、発生する方向に規則性がないため、このことが欠陥を検出することを更に困難にしていた。
本発明は、溶接金物が溶接されている溶接部位を有する被測定物を検査する検査装置であって、前記被測定物のX線撮影画像において前記溶接部位を特定する溶接部位特定手段と、前記X線撮影画像の前記溶接部位内における溶接ビードを特定する溶接ビード特定手段と、前記X線撮影画像の前記溶接ビード内における亀裂を検出する亀裂検出手段と、溶接ビードの厚さとX線撮影画像の輝度とが予め対応付けられている第1の情報と、溶接ビードの厚さ毎に、亀裂深さとX線撮影画像の輝度とが予め対応付けられている第2の情報とを記憶する記憶手段と、前記第1の情報を用いて、前記溶接ビード特定手段によって特定された前記溶接ビードの厚さを特定し、特定した前記溶接ビードの厚さに対応する前記第2の情報を用いて、前記亀裂検出手段により検出された亀裂の深さを特定する亀裂深さ特定手段とを具備する検査装置を提供する。
この場合において、亀裂深さ特定手段は、亀裂深さと輝度の関係が対応付けられている第1の情報を用いて、亀裂が生じている溶接ビードの厚さをその輝度から特定し、更に、特定した溶接ビードにおける亀裂深さと輝度とが予め対応付けられた第2の情報を用いて、亀裂部分の輝度からその深さを特定するので、溶接ビードの厚さが個々に異なっていても、その溶接ビードの厚さを考慮して亀裂の深さを求めることが可能となる。これにより、亀裂深さの検出精度を向上させることができる。
このように、相関値及び輝度を用いて溶接部位を特定することで、溶接部位の検出精度を向上させることができる。
亀裂が曲がっている場合、同一方向のエッジ成分のみを抽出する方法では、亀裂として検出されない部分が発生してしまう。そこで、亀裂として検出したエッジ成分の端点から輪郭追尾を行うことで、亀裂が曲がって発生していた場合には、曲がった部分についても検出することが可能となる。
このように、亀裂の発生方向に応じてX線撮影画像を回転補正することで、全ての亀裂方向を一致させることが可能となる。これにより、後段の画像処理などを一様に行うことができるので、処理負担の低減を図ることができる。
このように、亀裂が生じている可能性の高い領域については、亀裂を検出するのに適した撮影条件で撮影を行うことにより、亀裂を検出しやすいX線撮影画像を取得することが可能となる。これにより、亀裂の検出精度および亀裂深さの検出精度等を向上させることが可能となる。
このような構成によれば、放射線測定手段に設けられている発熱体からの熱を熱検知手段により検知することにより、X線照射手段と放射線測定手段との位置合わせを容易に行うことができる。
このような構成によれば、放射線測定手段に設けられている音源から発せられた音を音検知手段により検知することにより、X線照射手段と放射線測定手段との位置合わせを容易に行うことができる。
本実施形態では、被測定物として、溶接金物が溶接されている溶接部位を有するボイラチューブを例に挙げ、主に、このボイラチューブの溶接ビードに生じた亀裂や腐食の位置ならびにその深さを計測する場合について説明する。なお、検査対象となるボイラチューブには、管内部にリブと呼ばれる熱効率を上げるための溝が形成されているライフル管、リブのないベア管等があるが、本発明は、これらの双方に適用することが可能である。
ここで、例えば、X線撮影画像Pにおいて、溶接金物Jが含まれていない矩形領域同士では隣接する領域間の相関値が高く、溶接金物Jを含む矩形領域と含まない矩形領域とでは、相関値が低くなる。従って、相関値を参照することで、溶接金物Jを含む溶接部位を容易に特定することが可能となる。
例えば、溶接金物Jは、X線撮影画像Pにおいて輝度が高くなるので、溶接金物Jを含む矩形領域Siの平均輝度は、溶接金物Jを含まない矩形領域Siの平均輝度よりも高くなる傾向にある。従って、平均輝度を参照することで溶接金物Jを含む溶接部位を容易に特定することができる。
具体的には、溶接部位特定部11は、図4に示すように、上記溶接部位として特定した矩形領域Smに対して、縦方向の長さL1を接合金物Jの短辺の長さL3以上、好ましくは、L3よりも多少長く設定した複数の矩形領域Si´(i=1〜n)を設定し、隣接する矩形領域Siの相関値をとる。
続いて、溶接部位特定部11は、相関値が隣接する矩形領域に比べて所定値以上低い矩形領域を特定し、更に、この特定した矩形領域の平均輝度と隣接する矩形領域の平均輝度との差分を算出する。この結果、差分が予め設定されている基準値以上であれば、溶接部位特定部11は、溶接金物Jの溶接方向は横方向であると判定し、差分が基準値未満であれば、溶接金物Jの溶接方向は、縦方向または斜め方向であると判定する。
接合部位特定部11は、上述したような各接合方向における射影パターンの特徴を予め保有していることで、これらの射影パターンの特徴に基づいて、接合金物Jの溶接方向を特定することができる。なお、上記射影パターンによる溶接方向の特定ができなかった場合には、上述したように相関値を用いることにより、溶接方向の特定を行う。
溶接ビードと溶接金物Jとの相対的な位置関係は既知である。従って、溶接金物Jが特定できれば、上記溶接金物Jと溶接ビードとの相対的な位置関係により溶接ビードを特定することが可能となる。例えば、溶接ビードは、溶接金物Jの長手方向の輪郭に沿って形成される。
まず、溶接ビード特定部12は、溶接部位特定部11により特定された溶接部位内において、微分処理、ハフ変換等の画像処理を行うことにより、溶接金物Jの輪郭(エッジ)を検出する。なお、エッジ検出については、公知の手法を用いることが可能である。溶接金物Jは、他の部分に比べて輝度が高いため、微分フィルタ等を用いて輝度が変化する箇所を抽出し、ハフ変換を行い、上述の溶接方向(角度)のエッジのみを抽出することにより、溶接金物Jの輪郭を容易に抽出することができる。
まず、亀裂検出部13は、溶接ビードJx内において、微分処理を行うことでエッジを検出し、検出した各エッジの方向と強度を計算する。更に、亀裂検出部13は、エッジの方向をいくつかの方向に量子化する。例えば、0°、45°、90°、135°の4方向に量子化する。この結果、例えば、図12に示されるような溶接ビードJx内のX線撮影画像に含まれる亀裂やノイズは、図13に示すように、エッジの方向が量子化された線として示されることとなる。
例えば、図14に示すように、45°におけるヒストグラムが最も大きい値を示していた場合、45°を示しているエッジ成分については、亀裂であると判定し、それ以外の方向、つまり、0°、90°、135°のエッジ成分については、ノイズ成分であると判断する。
亀裂検出部13は、亀裂を検出すると、この亀裂の方向を予め設定されている基準方向、例えば、0°に一致させるように、当該X線撮影画像Pを回転補正する。
これにより、各溶接ビードJxに発生している亀裂の方向をX線撮影画像P間で統一させることができ、後続の画像処理等の効率を向上させることができる。
なお、リブを有するボイラ管の場合には、予めリブを検出しておき、リブの存在しない領域のみで上述の各処理を実行すればよい。
例えば、亀裂であれば、周囲に比べて輝度が低くなる傾向にあるが、ノイズの場合には周囲に比べて輝度が高くなるという傾向にある。従って、周囲に比べて輝度が高いエッジ成分については、ノイズ成分であるとして除外し、残ったエッジ成分についてのみ、上述した勾配方向ヒストグラム等を作成することにより、亀裂とノイズとを判別することとしてもよい。
まず、記憶部14には、溶接ビードの厚さと輝度とが対応付けられている第1のテーブルと、溶接ビードの厚さ毎に、亀裂深さと輝度とが対応付けられている第2のテーブルとが格納されている。
まず、被測定物であるボイラチューブ1の実際の検査の前段階として、ボイラチューブ1と同一材料で作成された複数の試験用ボイラチューブを用意し、各試験用ボイラチューブに、それぞれ異なる厚さの既知の溶接ビードを形成する。そして、これらの試験用ボイラチューブの各々に対して実検査と略同一の条件化でX線を照射することにより、X線撮影画像を取得する。続いて、各X線撮影画像における溶接ビードの輝度を検出し、この輝度と溶接ビードの厚さとを対応付けるテーブルを作成し、このテーブルを第1のテーブルとして記憶部14に格納する。
これにより、溶接ビードの厚さが異なっていても、亀裂の深さを求めることが可能となるので、計測精度を更に向上させることが可能となる。
まず、被測定物であるボイラチューブ1の近傍にX線照射装置2を配置し、ボイラチューブ1を介してX線照射装置2と反対側にイメージングプレート3を配置した状態で、X線照射装置2からX線がボイラチューブ1に照射されることにより、ボイラチューブ1のX線情報がイメージングプレート3に蓄積される。
亀裂深さ特定部15では、亀裂発生箇所の近傍の輝度と第1のテーブルとに基づいて溶接ビードJxの厚さが特定され、更に、この溶接ビードJxの厚さに対応する第2のテーブルから亀裂の輝度に対応する亀裂の深さが特定される。
これにより、オペレータは、表示装置6の表示画面を確認することにより、ボイラチューブの溶接ビード内における亀裂の発生箇所やその亀裂の深さを容易に把握することが可能となる。このようにして、ボイラチューブ1の寿命などを把握するのに有効な情報をオペレータに提供することが可能となる。
まず、図20に示すように、被測定物であるボイラチューブの検査領域C全体にわたり、撮影領域Fを左右上下に走査させながら複数のX線撮影画像を取得する。このときの撮影条件は、浅い亀裂から深い亀裂まで全ての深さの亀裂を抽出できるような撮影条件とされている。撮影条件としては、例えば、X線源の管電圧等が挙げられる。
続いて、亀裂を検出するのに適した撮影条件で上記領域S1を撮影することによりX線撮影画像を再度取得し、このX線撮影画像を用いて、上述した各検査処理を行う。これにより、亀裂の検出精度および亀裂深さの検出精度の向上を図ることができる。
また、亀裂発生の可能性がある領域についてX線画像を再度取得する場合には、その領域の管の厚さに応じてX線源の管電圧を変化させる。例えば、管の厚さが厚いところ、例えば、ライフル管で厚い箇所や溶接ビード部については、高電圧で撮影する。一方、管の厚さが薄いところ、例えば、ライフル管で薄い方や素管部については、低電圧で撮影する。このように、管の厚さが薄いところについては、低電圧で撮影することにより、濃淡が鮮明な画像を得ることができるので、亀裂深さの推定精度を向上させることができる。
疲労亀裂は、亀裂の幅に比べて、その深さの方が大きいことが多い。従って、斜めから撮影することで、亀裂が鮮明に表れたX線撮影画像を得ることが可能となり、亀裂検出精度および亀裂深さの特定精度を向上させることが可能となる。
なお、X線源と熱感知センサ31とを一体化させておくことで、X線照射領域を更に容易に設定することが可能となる。熱感知センサ31の一例としては、赤外線カメラが挙げられる。
2 X線照射装置
3 イメージングプレート
4 CRシステム
5 検査装置
6 表示装置
11 溶接部位特定部
12 溶接ビード特定部
13 亀裂検出部
14 記憶部
16 亀裂深さ特定部
Claims (19)
- 溶接金物が溶接されている溶接部位を有する被測定物を検査する検査装置であって、
前記被測定物のX線撮影画像において前記溶接部位を特定する溶接部位特定手段と、
前記X線撮影画像の前記溶接部位内における溶接ビードを特定する溶接ビード特定手段と、
前記X線撮影画像の前記溶接ビード内における亀裂を検出する亀裂検出手段と、
溶接ビードの厚さとX線撮影画像の輝度とが予め対応付けられている第1の情報と、溶接ビードの厚さ毎に、亀裂深さとX線撮影画像の輝度とが予め対応付けられている第2の情報とを記憶する記憶手段と、
前記第1の情報を用いて、前記溶接ビード特定手段によって特定された前記溶接ビードの厚さを特定し、特定した前記溶接ビードの厚さに対応する前記第2の情報を用いて、前記亀裂検出手段により検出された亀裂の深さを特定する亀裂深さ特定手段と
を具備する検査装置。 - 前記溶接部位特定手段は、前記X線撮影画像に複数の第1の領域を設定し、隣接する前記第1の領域の相関値をとり、この相関値に基づいて前記溶接部位を特定する請求項1に記載の検査装置。
- 前記溶接部位特定手段は、前記X線撮影画像に複数の第1の領域を設定し、各前記第1の領域の輝度に関する情報を取得し、この情報に基づいて前記溶接部位を特定する請求項1に記載の検査装置。
- 前記第1の領域は、前記溶接金物を包含する大きさに設定されている請求項2または請求項3に記載の検査装置。
- 前記溶接部位特定手段は、前記X線撮影画像において特定した前記溶接部位に対して複数の第2の領域を設定し、隣接する前記第2の領域の相関値をとり、該相関値と各前記第2の領域の輝度とに基づいて溶接方向を特定する請求項1から請求項4のいずれかに記載の検査装置。
- 前記亀裂検出手段は、前記溶接ビード特定手段により特定された溶接ビードの領域を微分し、この微分結果に基づいて勾配方向ヒストグラムを作成し、この勾配方向ヒストグラムに基づいて亀裂を検出する請求項1から請求項5のいずれかに記載の検査装置。
- 前記亀裂検出手段は、前記溶接ビード特定手段により特定された溶接ビードの領域を微分し、この微分結果に基づいて勾配方向ヒストグラムを作成し、この勾配方向ヒストグラムに基づいて亀裂の候補を検出し、検出した前記亀裂の候補およびその近傍領域の輝度に基づいて亀裂を検出する請求項1から請求項5のいずれかに記載の検査装置。
- 前記亀裂検出手段は、検出した前記亀裂の端点から輪郭追跡を行い、輪郭追跡により検出された箇所についても亀裂として検出する請求項6または請求項7に記載の検査装置。
- 前記亀裂検出手段は、前記勾配方向ヒストグラムに基づいて前記亀裂の方向を特定し、この方向に応じて前記X線撮影画像を回転補正する請求項6から請求項8のいずれかに記載の検査装置。
- 前記被測定物がボイラチューブである請求項1から請求項9のいずれかに記載の検査装置。
- 溶接金物が溶接されている溶接部位を有する被測定物に対してX線を照射するX線照射手段と、
前記被測定物を介して前記X線照射装置と反対側に配置され、前記被測定物のX線情報を蓄積する放射線測定手段と、
前記放射線測定手段に蓄積されたX線情報を読み出し、画像データを形成する読取処理手段と、
読取処理手段により処理された前記被測定物のX線撮影画像から欠陥を検出する検査装置と
を備え、
前記検査装置は、
前記被測定物のX線撮影画像において前記溶接部位を特定する溶接部位特定手段と、
前記X線撮影画像の前記溶接部位内における溶接ビードを特定する溶接ビード特定手段と、
前記X線撮影画像の前記溶接ビード内における亀裂を検出する亀裂検出手段と、
溶接ビードの厚さとX線撮影画像の輝度とが予め対応付けられている第1の情報と、溶接ビードの厚さ毎に、亀裂深さとX線撮影画像の輝度とが予め対応付けられている第2の情報とを記憶する記憶手段と、
前記第1の情報を用いて、前記溶接ビード特定手段によって特定された前記溶接ビードの厚さを特定し、特定した前記溶接ビードの厚さに対応する前記第2の情報を用いて、前記亀裂検出手段により検出された亀裂の深さを特定する亀裂深さ特定手段と
を具備する検査システム。 - 前記被測定物をX線撮影する際に、前記被測定物において亀裂が生じている可能性の高い領域と低い領域に分け、それぞれの領域に対する撮影条件を異ならせて撮影を行う請求項11に記載の検査システム。
- 前記X線照射手段には熱を検知する熱検知手段が設けられているとともに、前記放射線測定手段には複数の発熱体が設けられている請求項11または請求項12に記載の検査システム。
- 前記X線照射手段には音を検知する音検知手段が設けられているとともに、前記放射線測定手段には音源が設けられている請求項11または請求項12に記載の検査システム。
- 溶接金物が溶接されている溶接部位を有する被測定物を検査する検査方法であって、
前記被測定物のX線撮影画像において前記溶接部位を特定する溶接部位特定過程と、
前記X線撮影画像の前記溶接部位内における溶接ビードを特定する溶接ビード特定過程と、
前記X線撮影画像の前記溶接ビード内における亀裂を検出する亀裂検出過程と、
溶接ビードの厚さとX線撮影画像の輝度とが予め対応付けられている第1の情報を用いて、前記溶接ビード特定過程において特定した前記溶接ビードの厚さを特定する溶接ビード厚さ特定過程と、
前記溶接ビード厚さ特定過程において特定した前記溶接ビードの厚さにおける亀裂深さとX線撮影画像の輝度とが予め対応付けられている第2の情報を用いて、前記亀裂検出過程において検出した前記亀裂の深さを特定する亀裂深さ特定過程と
を具備する検査方法。 - 溶接金物が溶接されている溶接部位を有する被測定物のX線撮影画像から前記溶接部位を特定する溶接部位特定方法であって、
前記被測定物のX線撮影画像に複数の領域を設定し、隣接する前記領域の相関値を算出し、この相関値に基づいて前記溶接部位を特定する溶接部位特定方法。 - 複数の前記領域における輝度に関する情報を取得し、この輝度および前記相関値に基づいて前記溶接部位を特定する請求項16に記載の溶接部位特定方法。
- 前記領域は、前記溶接金物を包含する大きさに設定されている請求項16または請求項17に記載の溶接部位特定方法。
- 溶接金物が溶接されている溶接部位を有する被測定物を検査するための検査プログラムであって、
前記被測定物のX線撮影画像において前記溶接部位を特定する溶接部位特定処理と、
前記X線撮影画像の前記溶接部位内における溶接ビードを特定する溶接ビード特定処理と、
前記X線撮影画像の前記溶接ビード内における亀裂を検出する亀裂検出処理と、
溶接ビードの厚さとX線撮影画像の輝度とが予め対応付けられている第1の情報を用いて、前記溶接ビード特定処理において特定した前記溶接ビードの厚さを特定する溶接ビード厚さ特定処理と、
前記溶接ビード厚さ特定処理において特定した前記溶接ビードの厚さにおける亀裂深さとX線撮影画像の輝度とが予め対応付けられている第2の情報を用いて、前記亀裂検出処理において検出した前記亀裂の深さを特定する亀裂深さ特定処理と
をコンピュータに実行させるための検査プログラム。
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