JP4974867B2 - 発光ダイオード及びその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、発光ダイオード及びその製造方法に関する。
従来から、赤色、橙色、黄色或いは黄緑色の可視光を発する発光ダイオード(英略称:LED)として、例えば、燐化アルミニウム・ガリウム・インジウム(組成式(AlGa1−XIn1−YP;0≦X≦1,0<Y≦1)から成る発光層を備えた化合物半導体LEDが知られている。この様なLEDにあって、(AlGa1−XIn1−YP(0≦X≦1,0<Y≦1)から成る発光層を備えた発光部は、一般に発光層から出射される光に対し光学的に不透明であり、また機械的にもそれ程強度のない砒化ガリウム(GaAs)等の基板材料上に形成されている。
このため、最近では、より高輝度の可視LEDを得るために、また、更なる素子の機械的強度の向上を目的として、発光光に対して不透明な基板材料を除去して、然る後、発光光を透過または反射し、尚且つ機械強度的に優れる材料からなる支持体層(基板)を改めて接合させて、接合型LEDを構成する技術が開示されている(例えば、特許文献1〜5参照。)。
また一方で、高輝度の可視LEDを得るために、素子形状による光取り出し効率向上の方法が用いられている。半導体発光ダイオードの表面と裏面に電極を形成する素子構造において、素子側面の形状による高輝度化の技術が開示されている(例えば、特許文献6参照。)。
また、特許文献7には、金属層と反射層と接着した有機接着層にオーミック金属を埋め込んだ発光素子が記載されている。
特許第3230638号公報 特開平6−302857号公報 特開2002−246640号公報 特許第2588849号公報 特開2001−57441号公報 米国特許第6229160号公報 特開2005−236303号公報
しかしながら、電流を発光ダイオードの上下(発光層に対して垂直方向)に流す構造において、オーミック電極を接合界面に形成する場合には、接合面が凸凹になってしまい、接合が難しいという問題があった。
オーミック電極を接合界面に形成しない場合は、接合面の電気抵抗を低下させるために高度な接合技術が必要とされるばかりでなく、接合界面の不純物濃度や材質が制約され、光の吸収や機械的な応力等の解決が必要となる。また、接合界面の電気抵抗を均一にすることが困難な為、発光層へ流れる電流の均一性にも問題があった。
更に、発光層が方形である場合、発光層内部から発光された光が側面に対して斜めに当たると内部に反射されやすく、側面からの光取り出し効率に問題があった。
本発明は、上記事情を鑑みてなされたものであり、安定した接合を容易に形成することができ、発光層に流れる電流が均一であり、発光層からの光取り出し効率が高い、高輝度の発光ダイオードを提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明の発光ダイオードは、発光層を含む発光部と、半導体層を介して前記発光部に接合された基板と、前記発光部の上面に第1の電極と、前記基板の底面に第2の電極と、前記半導体層上で前記発光部の外周にオーミック電極とを備え、前記発光部の外周において、前記オーミック電極と前記基板とを導通させ、かつ前記半導体層の厚さ方向に貫通する貫通電極を前記半導体層中に備えたことを特徴とする。
また、本発明の発光ダイオードは、貫通電極の配置や光取り出し効率を考慮し、前記発光層の平面形状が、円形であることとした。
また、本発明の発光ダイオードは、前記オーミック電極が、前記発光部の外周を包囲する形状であることとした。
また、本発明の発光ダイオードは、前記発光部及び前記第1の電極の平面形状と、前記オーミック電極の平面形状が相似形であって、前記発光部の外周と前記オーミック電極との間隔が一定であることとした。
また、本発明の発光ダイオードは、前記発光部が、前記発光層の上下に半導体材料からなるクラッド層を備えたこととした。
また、本発明の発光ダイオードは、前記半導体層が、少なくともGaPからなる層を有することとした。
また、本発明の発光ダイオードは、前記発光層が、少なくともAlGaInPを含むこととした。
また、本発明の発光ダイオードは、前記基板が、GaP、AlGaAs、SiCのいずれかからなる透明基板であることとした。
また、本発明の発光ダイオードは、前記基板が、少なくともAl、Ag、Cu、Auのいずれを含む金属基板、またはAl、Ag、Cu、Au、Ptのいずれかで反射膜を形成したSi基板からなることとした。
また、本発明の発光ダイオードは、前記第1の電極が、オーミック電極と、透明導電膜層と、台座電極とを有することとした。
本発明の発光ダイオードの製造方法は、エピタキシャル積層用基板上に、少なくともコンタクト層と、第1のクラッド層と、発光層と、第2のクラッド層と、半導体層を順に堆積してエピタキシャル積層構造体を形成する工程と、前記発光部の前記半導体層側に基板を貼り付ける工程と、前記エピタキシャル積層構造体から前記エピタキシャル積層用基板を除去して発光部を形成する工程と、前記発光層の外周において、前記半導体層の厚さ方向に貫通する貫通電極を前記半導体層中に設ける工程と、前記発光層の外周において、前記貫通電極と接合するオーミック電極を前記半導体層上に設ける工程と、前記発光部の上面に第1の電極、前記基板の底面に第2の電極を設ける工程を有することを特徴とする。
また、本発明の発光ダイオードの製造方法は、上記のいずれかに記載の発光ダイオードを製造することを特徴とした。
本発明の発光ダイオードによれば、発光層を含む発光部と、半導体層を介して前記発光部に接合された基板と、前記発光部の上面に第1の電極と、前記基板の底面に第2の電極と、前記半導体層上で前記発光部の外周にオーミック電極とを備え、前記発光部の外周において、前記オーミック電極と前記基板とを導通させ、かつ前記半導体層の厚さ方向に貫通する貫通電極を前記半導体層中に備えたことで、第2の電極から流れる電流を、基板と貫通電極とオーミック電極を経由して発光部に流すことができる。また、オーミック電極が基板と半導体層の界面にないため、貼り付け界面が凸凹にならず接合されやすい構造となる。また、貼り付け界面の電気抵抗が、必ずしも低抵抗である必要がなく、貼り付け方法、条件、貼り付け基板の品質、材質に係わる制約が緩和され安定した貼り付けが可能となる。
また、前記発光層の平面形状が円形であることで、発光層内部からの光が発光層の側面で反射されることが低減し、外部取り出し効率が、向上するだけでなく、側面から均一に発光される。
また、前記オーミック電極の平面形状が、前記発光部の外周を包囲する形状であることで、第1の電極への電流が均一に流れやすくなり、発光も均一になる。
また、前記発光部及び前記第1の電極の平面形状の輪郭と、前記オーミック電極の平面形状が相似形であって、前記発光部の外周と前記オーミック電極との間隔が一定であることで、より発光部への電流が均一に流れやすくなり、発光もより均一になる。また、第1の電極の平面形状は円形であると、電極の角がないため、静電耐圧が向上する。そのため、発光部及び第1の電極の平面形状と、オーミック電極の平面形状がともに円形であると、最も電流が均一に流れやすく、発光層全体を効率的に活用でき、発光も均一となり輝度が高まる。
また、前記発光部は、前記発光層の上下にクラッド層を備えたことで、放射再結合をもたらすキャリアを発光層に閉じ込めることができ、高い発光効率が得られる。
また、前記半導体層は、発光光に対して透明であることで、高輝度化することができる。
また、前記半導体層は、少なくともGaPからなる層を有することで、前記オーミック電極と良好なオーミックコンタクトが得られ、作動電圧を下げることができる。
また、前記発光層は、少なくとも発光効率の良好なAlGaInPを含むことで、黄緑から赤色の高輝度の可視発光ダイオードが得られる。
また、前記基板は、GaP、AlGaAs、SiCのいずれかからなる透明基板であることで、高輝度化することができ、更に基板の材料によっては、放熱性、機械強度も向上させることができる。
また、前記基板は、少なくともAl、Ag、Cu、Auのいずれを含む金属基板、またはAl、Ag、Cu、Au、Ptのいずれかで反射膜を形成したSi基板からなることで、金属からなる場合は熱伝導率がよく、Siからなる場合は加工しやすく安価であるとういう利点がある。
また、前記第1の電極は、オーミック電極と、透明導電膜層と、台座電極とを有することで、台座電極を小さくすることや、台座電極に反射率の高い材質を選択し光の吸収を減らすことが可能になり、更にオーミック電極を均等に設けることで、発光ダイオードの光取り出し効率を高めることができる。
本発明の発光ダイオードの製造方法は、エピタキシャル積層用基板上に、少なくともコンタクト層と、第1のクラッド層と、発光層と、第2のクラッド層と、半導体層を順に積層してエピタキシャル積層構造体を形成する工程と、前記発光部の前記半導体層側に基板を貼り付ける工程と、前記エピタキシャル積層構造体から前記エピタキシャル積層用基板を除去して発光部を形成する工程と、前記発光層の外周において、前記半導体層の厚さ方向に貫通する貫通電極を前記半導体層中に設ける工程と、前記発光層の外周において、前記貫通電極と接合するオーミック電極を前記半導体層上に設ける工程と、前記発光部の上面に第1の電極、前記基板の底面に第2の電極を設ける工程を有することで、第2の電極から基板に流した電流を、貫通電極とオーミック電極を経由して発光部に流すことができる。また、オーミック電極を基板と半導体層の貼り付け界面ではなく半導体層の上面に、設けることで貼り付け界面が凸凹にならず接合されやすい構造となる。
以下、本発明の発光ダイオード及びその製造方法について、図面を参照しながら詳細に説明する。
<第1実施形態>
「発光ダイオード」
図1(a)、(b)に示すように、本発明の第1実施形態に係る発光ダイオード(LED)1は、発光層2を含む発光部3と、半導体層4を介して発光部3に接合された基板5と、発光部3の上面に第1の電極6と、基板5の底面に第2の電極7と、半導体層4上の発光部3の外周にオーミック電極8とを備え、発光部3の外周において、オーミック電極8と基板5とを導通させし、かつ半導体層4の厚さ方向に貫通する貫通電極9を半導体層4中に備えたことを特徴とする。
発光部3は、発光層2を含むpn接合を有する化合物半導体積層構造体で、発光層2はn形またはp形の何れの伝導形の化合物半導体からも構成できる。本発明は、発光部が薄い材料で構成され、エピタキシャル積層用基板が発光層からの光を吸収する、一般式(AlGa1−XIn1−YP(0≦X≦1,0<Y≦1)で表される発光ダイオードに好適に利用できる。発光部の薄いGaN系にも効果がある。
発光部3は、ダブルへテロ、単一(single)量子井戸(英略称:SQW)または多重(multi)量子井戸(英略称:MQW)の何れの構造であっても良いが、単色性に優れる発光を得るためにはMQW構造とするのが好適である。量子井戸(英略称:QW)構造をなす障壁(barrier)層及び井戸(well)層を構成する(AlGa1−XIn1−YP(0≦X≦1,0<Y≦1)の組成は、所望の発光波長を帰結する様に決定する。
また、発光層2とクラッド層10a、10bとの間に、両層間におけるバンド(band)不連続性を緩やかに変化させるための中間層を設けても構わない、この場合、中間層は、発光層2とクラッド層10a、10bの中間の禁止帯幅を有する半導体材料から構成するのが望ましい。
発光部3及び発光層2の形状は、円形であることが特に好ましい。もしくは、例えば、図2(a)、(b)に示すような円形に近い多角形、図3(a)に示すような曲線で囲まれた形状、図3(b)に示すような楕円形などであってもよい。正方形や長方形などは、発光層2内部から発光された光が発光層2の側面に対して斜めに当たると内部に反射されやすく、光取り出し効率が低下し、発光ダイオード1の輝度が低下してしまう。
しかしながら、発光部3及び発光層2の形状が円形であれば、発光層2内部から発光された光が発光層2の側面に対して反射されにくいため、光取り出し効率が高まる。
本発明では、高輝度化、のため、半導体層4は透明であることが好ましい。透明基板としては、燐化ガリウム(GaP)、砒化アルミニウム・ガリウム(AlGaAs)、窒化ガリウム(GaN)、等のIII−V族化合物半導体結晶、硫化亜鉛(ZnS)やセレン化亜鉛(ZnSe)等のII−VI族化合物半導体結晶、或いは六方晶或いは立方晶の炭化珪素(SiC)等のIV族半導体結晶などから構成できる。
本発明では、半導体層4を介して発光部3と接合する基板5は、少なくともCu、Au、Al、Agのいずれを含む金属基板、またはAl、Ag、Cu、Au、Pt等で反射膜を形成したSi基板からなることが好ましい。基板5が金属基板からなる場合は熱伝導率がよく、Al、Agは、全波長に対して反射率が高く、Cuは赤色に対して反射率が高いため、より好ましい。また、基板5がSiからなる場合は加工しやすく安価であるとういう利点がある。
本発明では、主たる光取り出し面の外形(発光部3の外形)の最大幅を0.8mm以上のとき効果が大きい。最大幅とは表面外形の最も長い部分を云う。例えば、円形の場合は直径であり、長方形、正方形の場合は、対角線が最大幅である。このような構成をとることは、近年、求められている高電流用途の発光ダイオードに必要なことである。サイズを大きくした場合、電流を均一に流すためには、電極設計、放熱設計など、特別な素子構成が重要である。
発光部3は、砒化ガリウム(GaAs)や、燐化インジウム(InP)、燐化ガリウム(GaP)などのIII−V族化合物半導体単結晶基板や、シリコン(Si)基板などの表面上に形成できる。発光部3は、上記したように、放射再結合を担うキャリアを閉じ込められるダブルヘテロ(英略称:DH)構造とするのが好適である。
また、発光層2は単色性に優れる発光を得るため、単一(single)量子井戸構造(英略称:SQW)や多重(multi)量子井戸(英略称:MQW)構造とするのが好適である。
半導体層4と発光部3との中間には、半導体層4と発光部3の構成層との格子ミスマッチを緩和させる緩衝(buffer)層等を設けることができる。また、発光部3の構成層の上方には、オーミック(Ohmic)電極の接触抵抗を下げるためのコンタクト層、素子駆動電流を発光部の全般に平面的に拡散させるための電流拡散層、逆に素子駆動電流の通流する領域を制限するための電流阻止層や電流狭窄層などを設けることができる。
発光部3に電流を均一に拡散させるため、発光部3に対してオーミック電極8を均等に配置する必要がある。
オーミック電極8は、発光部3の外周を包囲する形状が好ましく、発光部3の平面形状の輪郭、第1の電極6の平面形状の輪郭と相似であることがより好ましい。発光部3の平面形状及び第1の電極6の平面形状が円形であって、オーミック電極8の平面形状が発光部を取り巻く環形であることが最も好ましい。
オーミック電極8の材質は、例えばN型の半導体に対しては、AuGe、AuSiなど、P型の半導体に対しては、AuBe、AuZnなどを用いて形成することができる。
貫通電極9は、基板5とオーミック電極8とを接合できるように均等に配置されていればよく、形状、本数などは特に限定されない。
材質は、導電性で基板5とオーミック電極8とを接合するようなメタルビアを形成できるものであればよく、特に限定はない。
具体的には、例えばCu、Au、Ni、ハンダなどを用いて形成することができる。
本発明では、半導体層4は、電気抵抗が低く、電極形成ができる半導体材料が好ましく、化学的に安定で、形成が容易なGaP層からなることが特に好ましい。貫通電極9がGaP層中に形成され、オーミック電極8がGaP層上に形成されていることにより、良好なオーミックコンタクトが得られ、作動電圧を下げることができる。また、ITO(Indium Tin Oxide)などの透明導電膜も利用できる。
本発明では、第1の電極6の極性をn型とし、第2の電極7の極性をp型とするのが好ましい。このような構成とすることにより、高輝度化の効果が得られる。n型半導体の方が、電気抵抗が小さく電流が拡散しやすいため、第1の電極6をn型とすることにより、電流拡散が良くなり、高輝度化が容易である。
また、第1の電極6と発光部3と間には、コンタクト層(GaAs、GaInPなど)を設けることが好ましい。
本発明では、発光ダイオード1の平面積を100%とした場合、発光層2の平面積、オーミック電極8の平面積をそれぞれS、Sとすると、60%<S<80%、5%<S<10%、の関係を有する構成とするのが好ましい。このような形状とすることで、小さな電極面積で大きな発光面積を効率よく発光させることができ、高輝度化が得られる。また、オーミック電極8は光を吸収するため、できるだけ表面積を少なくすることが好ましい。また、第1の電極6は発光層2からの光を遮るので、第1の電極6の面積は、ワイヤーボンディングができる範囲でなるべく小さくすることが望ましい。
「発光ダイオードの製造方法」
続いて、半発明の第1実施形態に係る発光ダイオード1の製造方法について説明する。
まず、発光部3の積層構造を作製する。発光部3の構成層の形成手段としては、有機金属化学気相成長(英略称:MOCVD)法、分子線エピタキシャル(英略称:MBE)法や液相エピタキシャル(英略称:LPE)法を例示できる。
本実施形態では、GaAs基板上に設けたエピタキシャル積層構造体(エピウェーハ)とGaP基板とを接合させて発光ダイオードを作製する場合を例にして、本発明を具体的に説明する。
図4に示すように、発光ダイオード1は、例えばSiドープしたn型の(100)面から15°傾けた面を有するGaAs単結晶からなる半導体基板(エピタキシャル積層用基板)11上に積層された、エピタキシャル成長層12を備えたエピタキシャル積層構造体13を使用して作製する。積層したエピタキシャル成長層12とは、Siをドープしたn型のGaAsからなる緩衝層12a、Siドープしたn型の(Al0.5Ga0.50.5In0.5Pからなるコンタクト層12b、Siをドープしたn型の(Al0.7Ga0.30.5In0.5Pからなるクラッド層10a、アンドープの(Al0.2Ga0.80.5In0.5P/(Al0.7Ga0.30.5In0.5Pの20対からなる発光層2、Mgをドープしたp型の(Al0.7Ga0.30.5In0.5Pからなるクラッド層10b、及びMgドープしたp型GaP層(半導体層)4である。
本実施形態では、トリメチルアルミニウム((CHAl)、トリメチルガリウム((CHGa)及びトリメチルインジウム((CHIn)をIII族構成元素の原料に用いた減圧MOCVD法により、GaAs基板(エピタキシャル積層用基板)11上にエピタキシャル成長層12の各層を積層して、エピタキシャル積層構造体13を形成する。Mgのドーピング原料にはビスシクロペンタジエチルマグネシウム(bis−(CMg)を使用できる。Siのドーピング原料にはジシラン(Si)を使用できる。また、V族構成元素の原料としては、ホスフィン(PH)又はアルシン(AsH)を用いることができる。GaPからなる半導体層4は、例えば750°Cで成長させ、エピタキシャル成長層12を成すその他の層は、例えば730°Cで成長させる。
緩衝層12aは、例えばキャリア濃度を2×1018cm−3、層厚を0.2μmとすればよい。コンタクト層12bは、例えば(Al0.5Ga0.50.5In0.5Pから構成し、キャリア濃度を2×1018cm−3、層厚を1.5μmとすればよい。クラッド層10aは、例えばキャリア濃度を8×1017cm−3、層厚を1μmとすればよい。発光層2はアンドープで、層厚を例えば0.8μmとすればよい。クラッド層10bは、例えばキャリア濃度を2×1017cm−3とし、層厚を1μmとすればよい。半導体層4は、例えばキャリア濃度を3×1018cm−3とし、層厚を9μmとすればよい。
半導体層4は、表面から1μmの深さに至る領域を研磨し、鏡面加工するとよく、表面の粗さを例えば0.18nmとすればよい。ここで、上記の半導体層4の鏡面研磨した表面に貼付する基板5を用意する。この貼付用の基板5としては、前述したように、Cu、Al、Agなどの金属が好ましい。Siを用いることもでき、加工しやすさや価格の面で利点がある。
上記の基板5及びエピタキシャル積層構造体13を接合装置内に搬入し、3×10−5Paまで装置内を真空に排気する。その後、表面の汚染を除去するために基板5及びエピ積層構造体13表面に、加速されたArビームを照射する。その後、両者を室温で接合する。
次に、接合した構造体から、エピタキシャル積層用基板11及び緩衝層12aをアンモニア系エッチャントにより選択的に除去する。
コンタクト層12bの表面にn型オーミック電極(第1の電極)6を、例えばAuGe(Ge質量比12%)が0.15μm、Niが0.05μm、Auが1μmとなるように真空蒸着法により形成する。
一般的なフォトリソグラフィー手段を利用してパターニングを施し、第1の電極6を形成する。第1の電極6の平面形状は円形が好ましい。
次に、オーミック電極8を形成する領域のエピタキシャル成長層12の緩衝層12b〜クラッド層10bまでを選択的に除去し、半導体層4を露出させると同時に発光部3を形成する。発光部3の平面形状は円形が好ましい。
そして発光部3の外周を包囲するように、半導体層4に均等に孔をあけて、その孔にメタルビスを埋め込み基板5と接合するように貫通電極9を形成する。貫通電極9は、例えば、材質がCuで、直径20μmの円柱状で、発光部3との間隔が20μmとなるように四方に等間隔で4本配置すればよい。
続いて、この貫通電極9と接合しながら、発光部3の外周を包囲するように半導体層4の表面にオーミック電極8を形成する。オーミック電極8は、例えばAuBeを0.2μm、Auを1μmとなるように真空蒸着法で形成すればよい。
オーミック電極8の形状は第1の電極6の平面形状の輪郭と相似であることが好ましく、第1の電極6の平面形状が円形であってオーミック電極8が環形であると最も好ましい。
発光部3の端からオーミック電極8までの距離は例えば10μmとすればよく、幅は例えば10μmとすればよい。
その後、例えば450°Cで10分間熱処理を行い、合金化し低抵抗のオーミック電極8を形成する。そして、基板5の底面に第2の電極を形成する。
その後、真空蒸着法を用いて、一部の第1の電極6上にAuが1μmとなるようにボンディングパッドを形成してもよい。更に、半導体層4を例えば厚さ0.3μmのSiO膜で覆って保護膜としてもよい。
上記の様にして作製したLEDチップ(発光ダイオード1)を用いて、例えば、図5に模式的に示す如くLEDランプ(発光ダイオードランプ)14に組み立てることができる。このLEDランプ14は、LEDチップ1をマウント用基板15に銀(Ag)ペーストで固定、支持(マウント)し、第1の電極6とマウント基板15の表面に設けたn電極端子16とを金線17で、ワイヤーボンディングした後、一般的なエポキシ樹脂18で封止して作製する。
以上説明したように、本発明の発光ダイオード1によれば、発光層2を含む発光部3と、半導体層4を介して発光部3に接合された基板5と、発光部3の上面に第1の電極6と、基板5の底面に第2の電極7と、半導体層4上の発光部3の外周にオーミック電極8とを備え、発光部3の外周において、オーミック電極8と基板5とを導通させ、かつ半導体層4の厚さ方向に貫通する貫通電極9を半導体層4中に備えたことで、第2の電極7から流れる電流が基板5を通り、貫通電極9とオーミック電極8を経由して発光部3に流れることができる。また、オーミック電極8が基板5と半導体層4の貼り付け界面にないため、貼り付け界面が凸凹にならず接着されやすい構造となり、加工の面でも好ましく、この発光ダイオード1を用いたLEDランプなどの製品においても特性や品質が向上する。
<第2実施形態>
「発光ダイオード」
続いて、本発明の第2実施形態に係る発光ダイオード1Aについて説明する。
図6(a)、(b)に示すように、発光ダイオード1Aは、第1実施形態の発光ダイオード1と同様に、発光層2Aの上下にクラッド層10A,10Bを有する発光部3Aと、半導体層4Aを介して発光部3Aに接合された基板5Aと、発光部3Aの上面に第1の電極6Aと、基板5Aの底面に第2の電極7Aと、半導体層4A上の発光部3A外周にオーミック電極8Aとを備え、発光部3Aの外周において、オーミック電極8Aと基板5Aとを導通させ、かつ半導体層4Aの厚さ方向に貫通する貫通電極9Aを半導体層4A中に備えている。
第1の電極6Aは、台座電極6aと、台座電極6aの下方に、インジウムスズ酸化物(ITO)からなる透明導電膜層6bと、透明導電膜層6bの内周に沿って透明導電膜層6bの内部にn型のオーミック電極6cとを備えている。
オーミック電極6cは発光部3Aに電流を均一に拡散させるため、発光部3Aの内周に沿った形状が好ましく、発光部3Aの平面形状、台座電極6aの平面形状、透明導電膜層6bの平面形状は、いずれも相似であることが好ましく、これらが同心円からなる円形であることが最も好ましい。
オーミック電極6cの材質は、例えばN型の半導体に対しては、AuGe、AuSiなど、P型の半導体に対しては、AuBe、AuZnなどを用いて形成することができる。
その他の構造については、第1実施形態に係る発光ダイオード1と概略同じである。
このような形状とすることで、透明導電膜が台座電極6aとオーミック電極6cをつなぐ配線の役割を果たし、オーミック電極の配置、大きさ、形状の自由度が増し、最適な設計により電流の拡散を容易にし、作動電圧の低い発光ダイオード1Aが得られる。更に、台座電極6aは、反射率の高い材料を選択でき、光の吸収を減らし、高輝度化が可能となる。
なお、オーミック電極6cの形状は図6(a)に示す環形のものに限らず、小さな電極を島状に分散させたものでもよい。
以上説明したように、本発明の発光ダイオード1Aによれば、発光層2Aを含む発光部3Aと、半導体層4Aを介して発光部3Aに接合された基板5Aと、発光部3Aの上面に第1の電極6Aと、基板5Aの底面に第2の電極7Aと、半導体層4A上の発光部3Aの外周にオーミック電極8Aとを備え、発光部3Aの外周において、オーミック電極8Aと基板5Aとを導通させ、かつ半導体層4Aの厚さ方向に貫通する貫通電極9Aを半導体層4A中に備えたことで、第2の電極7Aから流れる電流が基板5Aを通り、貫通電極9Aとオーミック電極8Aを経由して発光部3Aに流れることができる。また、オーミック電極8Aが基板5Aと半導体層4Aの貼り付け界面にないため、貼り付け界面が凸凹にならず接着されやすい構造となり、加工の面でも好ましく、この発光ダイオード1Aを用いたLEDランプなどの製品においても特性や品質が向上する。
また、第1の電極6Aに、台座電極層6aと、ITO層6bと、ITO層6bの内部にオーミック電極層6cを設けることで、電極設計の自由度が増し、発光ダイオード1Aの作動電圧を低くするとともに、光取り出し率を高めることができる。
本発明の発光ダイオードでは、貫通電極の設置と、発光層及びオーミック電極の形状の最適化により、従来にない高輝度で、作動電圧の低い高信頼性の発光ダイオードを提供でき、各種の表示ランプ等に利用できる。
本発明の第1実施形態に係る発光ダイオードの平面図(a)、および図1(a)のA−A’線に沿った断面図(b)である。 本発明の第1実施形態に係る発光ダイオードの応用例の平面図である。 本発明の第1実施形態に係る発光ダイオードの応用例の平面図である。 本発明の第1実施形態に係るエピタキシャル積層構造体の断面図である。 本発明の第1実施形態に係る発光ダイオードランプの断面図である。 本発明の第2実施形態に係る発光ダイオードの平面図(a)、および図6(a)のB−B’線に沿った断面図(b)である。
符号の説明
1,1A,1B,1C,1D,1E・・・発光ダイオード、2,2A・・・発光層、3,3A,3B,3C,3D,3E・・・発光部、4,4A,4B,4C,4D,4E・・・半導体層、5,5A・・・基板、6,6A,6B,6C,6D,6E・・・第1の電極、7,7A・・・第2の電極、8,8A・・・オーミック電極、9,9A,9B,9C,9D,9E・・・貫通電極、10a,10b,10A,10B・・・クラッド層、11・・・エピタキシャル積層用基板、12・・・エピタキシャル成長層、12a・・・緩衝層、12b・・・コンタクト層、13・・・エピタキシャル積層構造体、14・・・LEDランプ、15・・・マウント用基板、16・・・n電極端子、17・・・金線、18・・・エポキシ樹脂、6a・・・台座電極、6b・・・透明導電膜層、6c・・・オーミック電極。

Claims (12)

  1. 発光層を含む発光部と、半導体層を介して前記発光部に接合された基板と、前記発光部の上面に第1の電極と、前記基板の底面に第2の電極と、前記半導体層上で前記発光部の外周にオーミック電極とを備え、前記発光部の外周において、前記オーミック電極と前記基板とを導通させ、かつ前記半導体層の厚さ方向に貫通する貫通電極を前記半導体層中に備えたことを特徴とする発光ダイオード。
  2. 前記発光層の平面形状が、円形であることを特徴とする請求項1記載の発光ダイオード。
  3. 前記オーミック電極が、前記発光部の外周を包囲する形状であることを特徴とする請求項1または2に記載の発光ダイオード。
  4. 前記発光部及び前記第1の電極の平面形状の輪郭と、前記オーミック電極の平面形状が相似形であって、前記第1の電極の外周と前記オーミック電極との間隔が一定であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の発光ダイオード。
  5. 前記発光部は、前記発光層の上下に半導体材料からなるクラッド層を備えたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の発光ダイオード。
  6. 前記半導体層は、少なくともGaPからなる層を有することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の発光ダイオード。
  7. 前記発光層は、少なくともAlGaInPを含むことを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の発光ダイオード。
  8. 前記基板は、GaP、AlGaAs、SiCのいずれかからなる透明基板であることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の発光ダイオード。
  9. 前記基板は、少なくともAl、Ag、Cu、Auのいずれかを含む金属基板、またはAl、Ag、Cu、Au、Ptのいずれかで反射膜を形成したSi基板からなることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の発光ダイオード。
  10. 前記第1の電極は、オーミック電極と、透明導電膜層と、台座電極とを有することを特徴とする請求項1〜9のいずれかに記載の発光ダイオード。
  11. エピタキシャル積層用基板上に、少なくともコンタクト層と、第1のクラッド層と、発光層と、第2のクラッド層と、半導体層を順に堆積してエピタキシャル積層構造体を形成する工程と、前記発光部の前記半導体層側に基板を貼り付ける工程と、前記エピタキシャル積層構造体から前記エピタキシャル積層用基板を除去して発光部を形成する工程と、前記発光層の外周において、前記半導体層の厚さ方向に貫通する貫通電極を前記半導体層中に設ける工程と、前記発光層の外周において、前記貫通電極と接合するオーミック電極を前記半導体層上に設ける工程と、前記発光部の上面に第1の電極、前記基板の底面に第2の電極を設ける工程を有することを特徴とする発光ダイオードの製造方法。
  12. 請求項1〜10のいずれかに記載の発光ダイオードを製造することを特徴とする請求項11記載の発光ダイオードの製造方法。
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