JP4966044B2 - エンコーダ - Google Patents

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Description

本発明は、請求項1の上位概念に記載の絶対位置を測定するエンコーダ及び請求項9の上位概念に記載のアブソリュート式エンコーダを作動する方法に関する。
エンコーダは、工作機械産業及びその他の製造システム,操作システム及び検査システムにおける角度測定装置及び長さ測定装置の形態で既に使用されている。間違った動作が、著しい破損を引き起こしうるので、全ての使用状況に対して高い機能信頼性が重要性を増している。
アブソリュート式エンコーダが、位置測定に益々使用されている。このアブソリュート式エンコーダは、各相対位置で供給エネルギーの遮断後にも正確な位置情報を迅速に出力できる。この場合、絶対位置が、単一のコードによって実現される。このコードは、特にスペースを節約するように測定方向に相前後して配置されたコード要素から構成される。この場合、これらのコード要素は、擬似乱数の分布で互いに配置されている。その結果、相前後して続く特定の数のコード要素がそれぞれ、コードパターン又はビットパターンを作る。このコードパターン又はビットパターンは、絶対位置をコード語として一義的に定義する。走査装置が、1つのコード要素だけシフトした場合、新しいコードパターンが既に形成され、連続する異なるコード語が、検出すべき全ての絶対測定範囲にわたって使用できる。このようなシーケンシャルコードは、チェーンコード又は擬似乱数コードと呼ばれる。
コード要素の確実な読み取りを保証するため、いろいろな手段が、従来の技術から公知である。コード要素が、一義的な範囲内で走査される、すなわち隣接すべきコード要素を超えた範囲外では走査されないことを保証することが、これらの手段に共通している。これに対して、選択情報が、補助トラックから又はコードトラック自体から得られる。コード語を確実に走査し生成する走査要素が、この選択情報に基づいて選択される。選択された走査要素の二進情報が、瞬間の絶対位置を生成するデコード装置に供給される。記憶された割り当て表又は発生器が、デコード装置として一般に用いられている。
このようなエンコーダ及び方法は、例えばドイツ連邦共和国特許出願公開第4209629号明細書,ドイツ連邦共和国特許出願公開第3942625号明細書,ドイツ連邦共和国特許第4309863号明細書,ドイツ連邦共和国特許第3825097号明細書及び国際特許出願公開第03/060431号明細書中に記載されている。
動作の信頼性を向上させるため、アブソリュート式エンコーダの間違った動作を排除するため、通常の冗長な走査装置を使用することができる。このようなエンコーダは、ヨーロッパ特許第0789226号明細書中に記されている。互いに離れた多数のコード語が、走査されて互いに比較される。ハードウェア経費及びこれに関連するコストも、この多重の冗長によって上昇する。
ドイツ連邦共和国特許出願公開第4209629号明細書 ドイツ連邦共和国特許出願公開第3942625号明細書 ドイツ連邦共和国特許第4309863号明細書 ドイツ連邦共和国特許第3825097号明細書 国際特許出願公開第03/060431号明細書 ヨーロッパ特許第0789226号明細書 国際特許出願公開第03/060431明細書 ドイツ連邦共和国特許出願公開第10244234号明細書 国際特許出願公開第02/01160号明細書
本発明の課題は、可能な限り少ないハードウェア経費でエンコーダの間違った動作を確実に排除することにある。
この課題は、請求項1に記載の特徴を有するエンコーダ及び請求項9に記載の特徴を有するアブソリュート式エンコーダを作動させる方法によって解決される。
本発明の利点は、走査されたコード語又は生成された位置測定値の正常度が簡単に検査され得、誤差の発生時には作動装置が安定した状態に移行され得ることに特にある。この状態の絶対位置が、エンコーダによって測定される。
確実に走査するために既存のハードウェアが、走査要素の関数である選択の多様性によって適した方法で利用され得る。
本発明の好適な構成は、従属請求項中に記載されている。
本発明の実施の形態を図面に基づいて詳しく説明する。
図1中には、本発明にしたがって構成されたアブソリュート式エンコーダが概略的に示されている。このエンコーダは、長さ測定装置である。しかし本発明は、角度測定装置でも使用可能である。
位置を測定するため、スケール1のコードCが、走査装置2に対して相対移動可能に配置可能である。長さを測定するため、スケール1は、ロッド状又はテープ状に形成されている。角度を測定するため、スケールは、ドラム状又は板状に形成されている。
コードCは、1本のトラック内に配置されていてかつ測定方向Xに沿って相前後して連続するコード要素C1〜C5から構成される。これらのコード要素C1〜C5は、チェーンコードを構成する。すなわちこれらのチェーンコードは、測定方向Xに沿って擬似乱数で分布し、連続する異なるコード語を形成する。図1,2中には、コード要素C1〜C5が、0又は1で示されている。この符号は、個々のコード要素C1〜C5の異なる物理特性を符号で示す。光電式に走査可能なコードCの場合、0で示したコード要素C1,C4は、非透過性である。1で示したコード要素C2,C3,C5は、透過性である。又は、0で示したコード要素C1,C4は、非反射性である。1で示したコード要素C2,C3,C5は、反射性である。国際特許出願公開第03/060431明細書中に開示されかつ例に基づいて後でさらに詳しく説明するように、異なる特徴0及び1は、コード要素C1〜C5内部の連続する部分領域によっても生成され得る。
走査装置2は、コードCを走査する走査要素D1〜D6の配列を有する。多数の走査要素D1〜D6がそれぞれ、各コード要素C1〜C5に割り当てられている。このことは、走査要素D1〜D6の中央距離がコード要素C1〜C6の長さの一部であることを意味する。走査要素D1〜D6の走査信号S1〜S6が、第1選択装置3に供給される。さらに処理してコード語CW1を生成するため、この第1選択装置3は、第1選択情報に基づいて走査信号S1〜S6のうちの1つの走査信号を選択する。このコード語CW1は、第1絶対位置POS1を生成するデコード装置5に供給される。
走査要素D1〜D6の走査信号S1〜S6は、第2選択装置4にも要求される。さらに処理してコード語CW2を生成するため、この第2選択装置4は、第1選択情報に基づいて走査信号S1〜S6のうちの1つの走査信号を選択する。このコード語CW2は、第2絶対位置POS2を生成するデコード装置5又は固有のデコード装置(図示せず)に供給される。
デコードは、記憶された割り当て表に基づいて又は発生器を用いて実施される。この場合、対応する位置測定値POS1,POS2が、各コード値CWに割り当てられている。発生器は、コード値の列を協働するカウンタによって生成し、生成されたコード値と走査されたコード値CWが一致した時にカウンタの状態を位置に関する目安として出力する。後者の実施の形態は、シフトレジスタによって実現され得る。選択情報A1,A2は、異なる基準にしたがって確定され得る。したがって、この選択は多様である。選択の多様性によって、誤差を含んだ走査が、ハードウェアの完全な走査の冗長性なしに排除されることが保証される。この誤差を排除するため、最も簡単な場合は、両位置POS1及びPOS2が一致に関して検査され、不一致の場合は誤差信号が生成される。
走査信号S1〜S6のこの選択は、一義的な走査信号S2,S4,S6だけが使用されて、スケール1と走査装置2との間の相対位置ごとのコード語CW1,CW2を生成することを保証する。一義的な走査信号S2,S4,S6は、この例では図1にしたがって走査要素D2,D4,D6だけによって生成される。これらの走査要素D2,D4,D6はそれぞれ、コード要素C2,C3,C4だけを、すなわちコード要素C1〜C5の中央領域を一義的に走査する。不確実な走査信号S1,S3,S5が、さらなる処理、すなわち位置測定に使用されないことが、この選択によって保証される。走査要素D1,D3,D5によって生成される走査信号S1,S3,S5は、不確実である。2つずつ相前後して続くコード要素C1〜C5間の移行領域が、走査される、すなわち2つのコード要素C1〜C5の物理的な状態によって同時に影響される。
第1絶対位置POS1及び第2絶対位置POS2の特に好適なさらなる処理を図1にしたがって説明する。特にシリアルインターフェース9及びエンコーダとシーケンス装置10との間の伝送の正確さに関して検査するため、両絶対位置測定値POS1及びPOS2が、シーケンス装置10、例えば数値制御部又は作動装置に伝送される。そこで初めて、誤差検査に対する比較が実施される。
インターフェース9を通じて伝送される両値が異なるように、絶対位置測定値POS1及びPOS2のうちの少なくとも1つの絶対位置測定値が、伝送前に変更されることが好ましい。最も簡単な場合、既知のオフセットOFが、変更装置8内で絶対位置測定値のうちの1つの絶対位置測定値POS1に結合される。次いでこのオフセットOFは、シーケンス装置10内での比較時に再び考慮され得る。
高精度の位置測定に対しては、多くの場合、コードCによる絶対位置測定の分解能だけでは十分でない。それ故に、絶対位置POS1を高い分解能の位置測定値POS3によって補うためのいろいろな可能性が存在する。走査要素D1〜D6に対するコード要素C1〜C5の縁部の位置が付加的に評価され、これから、既知の方法で補間される周期的なインクリメンタル信号が得られることによって、この高い分解能の位置測定値POS3は、いろいろな方法で得られる、例えばコードC自体から直接得られる。高い分解能の位置測定値POS3を得る別の可能性は、付加情報Zが、例えば1つ又は多数のインクリメンタルトラックの形態でコードCに対して平行に配置されている点である(図2)。
この高い分解能の位置測定値POS3は、絶対位置測定値POS1,POS2のうちの少なくとも1つの絶対位置測定値に結合される。その結果得られた絶対位置測定値POS4が、オフセットOFを加えられて値(POS1+POS3+OF)としてシーケンス装置10に伝送される。生じた絶対位置測定値POS4は、ビット列から構成される。これらのビット列のうちの高い分解能の位置測定によって得られる低位のビットが、絶対位置測定値POS1をさらに分解する。高い分解能の位置測定値POS3が、絶対位置測定値のうちの1つの絶対位置測定値POS1だけに結合される場合、共通の高位のビットだけが、シーケンス装置10内で互いに比較されて誤差を検査する。
以下に、選択情報A1及びA2を生成する可能性を説明する。
選択情報A1,A2を生成する第1の実施の形態を図2に基づいて詳しく説明する。この例の場合、スケール1は、コードCの外側に付加情報Zをさらに有する。スケール1上のこの付加情報Zは、コードCに対して平行に配置されている。コード要素C1〜C5を多数の部分に分割する位置POS3が、この付加情報Zを走査することによって得られる。すなわち、コード要素C1〜C5内部の絶対位置POS3が一義的に規定される。この付加情報Zは、例えば1つのコード要素C1〜C5の幅に相当する目盛周期を有するインクリメンタル目盛である。互いに位相シフトしている走査信号K1,K2が、インクリメンタル目盛を走査することによって生成される。1つの目盛周期内の絶対位置POS3が、補間装置6内でこれらの走査信号K1,K2から計算される。インクリメンタル目盛の位置が、コード要素C1〜C5に不変に割り当てられているので、スケール1に対する走査装置2の正確な位置、すなわちコード要素C1〜C5に対する走査要素D1〜D6の正確な位置が算定され得る。つまり正確な位置がそれぞれ、1つのコード要素C1〜C5内で絶対値で一義的に算定され得る。この絶対位置POS3は、結果として得られる絶対位置測定値POS4が既知の結合論理部7内で生成されるように一方では位置値POS1を補い、他方では選択情報A1を生成する。このような選択方法は、ドイツ連邦共和国特許出願公開第3942625号明細書及びドイツ連邦共和国特許出願公開第4209629号明細書中にも記されている。
本発明によれば、別の選択が異なって実施される。図2の例では、別の選択が、コードC自体によって実施される。このことを図4及び5に基づいて具体的に説明する。(スペースの理由から3つだけ示された)コード要素C1,C2,C3はそれぞれ、測定方向Xに沿って直接相前後して連続して配置された2つの同じ長さの部分領域A及びBから構成される。1つのコード要素C1,C2,C3の部分領域A及びBは、互いに補完的に構成されている。すなわちこれらの部分領域A及びBは、逆の特性を呈し、すなわち図4の光学式走査原理の場合は透過する特性及び透過しない特性を呈し、又は照射走査の場合は反射する特性及び反射しない特性を呈する。各コード要素C1〜C3に対して1つのデジタル値又は1つのビットを生成するため、1つのコード要素C1〜C3の両部分領域A,Bの走査信号S1〜S12がそれぞれ互いに比較される。走査装置2が、コードCに対して1つのコード要素C1,C2,C3の幅又は長さだけ移動した場合、1つの新しいコード語が生成され、多数の異なるコード語が、絶対値で測定すべき測定領域にわたって生成される。
図4は、走査装置2に対するコードCの瞬間の位置を示す。走査要素D1〜D12は、コードCの1つの部分領域A,Bの半分の幅を有する中央領域内に配列されている。これによって、少なくとも1つの走査要素D1〜D12が、各位置で1つのコード要素C1,C2,C3の1つの部分領域A,Bに一義的に割り当てられていて、2つの部分領域A,B間の移行部分を走査しないことが保証されている。示された位置では、部分領域C1,Aが走査要素D1によって走査され、部分領域C1,Bが走査要素D3によって走査される。走査要素D1,D3は、光分布を検出し、光強度に応じて光強度に比例するアナログ走査信号S1,S3を生成する。両部分領域C1,A及びC1,Bは互いに補完的に構成されているので、走査信号S1及びS3の強度は互いに逆である。すなわち、これらの信号レベルが互いに大きく離れている。
コード要素C1の両走査信号S1,S3のどちらが大きいかが検査されることによって、この信号距離は、二進情報B1を生成するために利用される。この検査は、除算又は減算によって実施される。この例では、減算が使用される。これに対して図4では、トリガー要素T1が、比較装置として使用される。このトリガー要素T1は、S1がS3より小さい時にB1=0を生成し、S1がS3より大きいときはB1=1を生成する。同様に、二進情報B2〜B6が、コード要素C2,C3を走査し、トリガー要素T2〜T6を用いて走査信号S1〜S12を比較することによって得られる。図4中では、全ての比較要素(トリガー要素)が、スペースの理由から示されていない。すなわち実際には、操作要素D3の走査信号S3も走査要素D7の走査信号S5と比較され、S4もS6と比較され、S7もS9と比較され、S8もS10と比較される、等々。
したがって、第1デジタル値が、互いに補完的に構成された部分領域A,Bの第1シーケンスに割り当てられ、第2デジタル値が、互いに補完的に構成された部分領域A,Bの第2シーケンスに割り当てられる。例えば、値0が、シーケンスopak→transparentに割り当てられ、値1が、シーケンスtransparent→opakに割り当てられる。
各コード要素C1,C2,C3の両部分領域A及びBは互いに補完的であるので、走査信号S1〜S12のS/N比は非常に大きい。光源の光強度の変化は、両部分領域A及びBの走査信号S1〜S12に同程度に影響する。
1つのコード要素C1,C2,C3の2つずつの部分領域A,Bの補完的な構成に起因して、エンコーダの正確な動作時に、それぞれのアナログ走査信号S1〜S12が、この部分領域A,Bを走査することによって生成される必要がある。これらのアナログ走査信号S1〜S12の差が、プリセットされている1つの値を超える。良好な誤差検査が、この差の値を観察することによって可能である。この誤差検査の根拠は、差の値がプリセットされている1つの値だけ下回った時は二進情報B1〜B6が不確実であって、それ故に誤差信号Fがこの二進情報B1〜B6に対して生成されることに基づく。
コード要素C1のアナログ信号S1及びS3の減算(S1〜S3)によって、差の値がプリセットされている1つの比較値を越えたか又は超えなかったかが検査される。差の値(S1〜S3)が、プリセットされている比較値Vを超えなかった場合、誤差信号Fが出力される。図5中には、これらの信号の状態が示されている。
測定方向Xに沿って直接相前後して連続して配置された各コード要素C1,C2,C3の両部分領域A及びBには、走査要素D1〜D12が狭い間隔で測定方向Xに沿って相前後して配列され得、したがってエンコーダがコードCに対する走査装置2の捩れに対して、すなわちモアレ変動に対して鈍感であるという利点がある。しかも、1つのコード要素C1,C2,C3の両部分領域A及びBが同程度に影響されるので、汚れに対する雑音感度が小さい。
走査要素D1及びD2の例では、示された瞬間位置では、偶数の走査要素D2,D4,D6,D8,D10,D12がそれぞれ、2つの部分領域A,B間の移行部分に存在し、したがってトリガー要素T2,T4,T6が、コード要素C1,C2,C3に割り当てられた正確な二進情報B2,B4,B6を供給しないことが図4中で容易に分かる。
以下で、手段を説明する。正確な走査要素D1〜D12、すなわち1つのコード要素C1,C2,C3の部分領域A,Bをそれぞれ走査する走査要素D1〜D12が、コード後を生成するために使用されることが、これらの手段によって保証される。
コード要素C1〜C3の1つずつの部分領域A,Bを確実にかつ一義的に走査する走査要素D1〜D12又はこれらの走査要素D1〜D12から生成される走査信号S1〜S12を選択するため、1つの部分領域A,Bの長さの間隔で互いに離れている走査要素D1〜D12互いに比較される。この比較は、図4にしたがって比較要素T1〜T6によって実施される。これらの比較要素T1〜T6は、入力信号の差に応じて誤差信号F及び/又は二進値B1〜B6=0又は1を出力する。1つのコード要素C1,C2,C3の長さに応じてラスター状に配列されている走査要素D1〜D12の比較結果が、1つのグループを作る。その結果が最小の誤差信号Fを有するグループの走査要素D1〜D12が選択される。図4中では、偶数の走査要素が1つのグループを作り、奇数の走査要素がもう1つのグループを作る。示された相対位置では、奇数の走査信号、すなわち下の比較要素T1,T3,T5の出力信号B1,B3,B5(コード語CW2)が選択される。この説明した選択ルーチンが、第2選択情報A2を生成する。したがって、走査要素又は走査信号の1つのグループの走査信号が、第2選択情報A2によってさらに処理するため及び位置測定値POS2を生成するために選択される。
付加情報Zは、必ずしも1つだけのインクリメンタル目盛である必要はない。この付加情報Zは、多数のインクリメンタル目盛から構成してもよい。付加情報Zは、好ましくは1トラック若しくは多数トラックのインクリメンタル目盛を有する絶対コードの組み合わせ又はドイツ連邦共和国特許出願公開第10244234号明細書中に記されているような組み込まれたマークを有するインクリメンタル目盛から構成されている。この場合、絶対コード又はマークが、1つのコード要素C1〜C5内の一義的な絶対位置POS3を測定するために使用されるので、インクリメンタル目盛は、付加情報Zとして好ましくは1つのコード要素C1〜C5の長さのようなより小さい目盛周期を有してもよい。
コードCに対して平行に配置されている付加情報Zから第1選択情報A1を得ること及びコードCから第2選択情報A2を得ることには、両選択情報A1,A2がスケール1の異なる場所から得られるという利点を有する。これに対しては、この付加情報Zは、同時に絶対位置測定値POS1を補う位置測定値POS3を得るために使用されるので、追加のハードウェアの冗長性が不要である。
図3中には、別の実施の形態が示されている。同じに作用する要素は、全ての図面において同じ符号を有する。本発明の上述した構成とは違って、ここではインクリメンタル目盛INは、コードCからの位置測定値POS1を補うためだけに使用される。第2選択情報A2は、上述したように及びここでは概略的に要素11として示されたようにコード要素C1〜C3の部分領域A,Bの走査信号S1〜S12を減算したコードから直接得られる。第1選択情報A1は、別の規準だけにしたがって、すなわちコード要素C1〜C3の相前後して続く部分領域A,Bの縁部(移行部分)を評価することによって同様にコードCから得られる。選択信号A1を得る要素12が、同様に概略的にだけで示されている。この場合、各コード要素C1〜C3が、互いに逆に構成された部分領域A,Bの順番から構成され、したがって1つの物理特性からその逆の物理特性に移行する形態の縁部を有することが利用される。これらの縁部は、1つのコード要素C1〜C3の長さに応じた一定のラスター状に配置されている。その結果、周期信号が、これから得られる。この周期信号は、既知の方法で補間される。1つのコード要素C1〜C3の長さを絶対分割した位置測定値POS30が、この補間によって得られる。これに対しては、例えば国際特許出願公開第02/01160号明細書を参照のこと。比較的粗く分解する位置測定値POS1,さらに分解する位置測定値POS30及び細かく分解する位置測定値POS3が、結合論理部7内で互いに結合されて、絶対位置測定値POS4を結果として生成する。
本発明は、光電気式の走査及びその他の走査原理、例えば磁気的、容量的又は誘導的な原理で使用可能である。
アブソリュート式エンコーダの原理図である。 エンコーダの第1の実施形を詳細に示す。 エンコーダの第2の実施形を詳細に示す。 コードの走査部を詳細に示す。 信号図である。
1 スケール
2 走査装置
3 第1選択装置
4 第2選択装置
5 デコード装置
6 補間装置
7 結合論理部
8 変更装置
9 シリアルインターフェース
10 シーケンス装置
11 要素
12 要素

Claims (17)

  1. 絶対コード(C)を走査する走査要素(D1〜D12)の配列と、
    これらの走査要素(D1〜D12)の走査信号(S1〜S12)を選択する選択装置(3,4)と、
    選択された走査信号(S1〜S12)から絶対位置測定値(POS1)を生成するデコード装置(5)を有するエンコーダにおいて、
    前記選択装置(3,4)は、第1方法にしたがう選択を実施しかつこの第1方法と異なる第2方法にしたがう選択を実施し、
    第1絶対位置測定値(POS1)が、前記第1方法にしたがって選択された走査信号(S1〜S12)から算出され、第2絶対位置測定値(POS2)が、前記第2方法にしたがって選択された走査信号(S1〜S12)から算出されることを特徴とするエンコーダ。
  2. 付加情報(Z)が、前記絶対コード(C)に対して平行に配置されていて、第1選択情報(A1)が、走査によって前記付加情報(Z)から得られ、前記第1選択情報(A1)が、第1選択装置(3)に入力されること、及び、第2選択装置(4)が設けられていて、前記絶対コード(C)の走査信号(S1〜S12)から導き出されている第2選択情報(A2)が、前記第2選択装置(4)に入力されていることを特徴とする請求項1に記載のエンコーダ。
  3. 第1選択装置(3)が設けられていて、前記絶対コード(C)の前記走査信号(S1〜S12)から導き出されている第1選択情報(A1)が、前記第1選択装置(3)に入力されていること、及び、第2選択装置(4)が設けられていて、同様に前記絶対コード(C)の前記走査信号(S1〜S12)から導き出されている第2選択情報(A2)が、前記第2選択装置(4)に入力されていることを特徴とする請求項1に記載のエンコーダ。
  4. 第1位置測定値(POS1)及び第2位置測定値(POS2)が、外部のシーケンス装置(10)に伝送するためのインターフェース(9)に入力されることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のエンコーダ。
  5. 前記外部のシーケンス装置(10)に伝送するための前記インターフェース(9)に入力される前記第1位置測定値(POS1)と前記第2位置測定値(POS2)とが相違するように、前記第1位置測定値(POS1)又は前記第2位置測定値(POS2)の少なくとも1つの位置測定値を変更するため、変更装置(8)が設けられていて、前記第1位置測定値(POS1)又は前記第2位置測定値(POS2)の少なくとも1つの位置測定値が、前記変更装置(8)に入力されていることを特徴とする請求項4に記載のエンコーダ。
  6. 前記絶対コード(C)は、測定方向Xに沿って前後して配置された連続するコード要素(C1〜C5)から構成され各コード要素(C1〜C5)はそれぞれ、互いに補完的である2つの部分領域(A,B)から構成され
    前後して連続する走査要素(D1〜D12)の中央距離が、1つの部分領域(A,B)の長さより小さく
    1つの部分領域(A,B)の長さに相当する対向する中央距離を有する走査要素(D1〜D12)のそれぞれの走査信号(S1〜S12)が、比較装置(T1〜T6)ごとに入力されていて、この比較装置(T1〜T6)は、当該比較結果に応じて前記コード要素(C1〜C5)に関する二進情報(B1〜B6)を生成する請求項2〜5のいずれか1項に記載のエンコーダ。
  7. 前記走査信号(S1〜S12)の差を目標の差(V)と比較し、前記目標の差(V)を下回った時に誤差信号(F)を出力するために、前記比較装置(T1〜T6)が構成されていることを特徴とする請求項6に記載のエンコーダ。
  8. 前記第2選択装置(4)、1つの部分領域(A,B)の長さに対応する対向する中央距離内に配置されている走査要素(D1〜D12)の1つのグループの走査信号(S1〜S12)を選択グループの走査信号(S1〜S12)最小の誤差信号(F)を出力するグループが選択されることを特徴とする請求項7に記載のエンコーダ。
  9. 以下の方法ステップを有するアブソリュート式エンコーダを作動させる方法:
    走査要素(D1〜D12)の配列によって絶対コード(C)を走査し
    これらの走査要素(D1〜D12)の走査信号(S1〜S12)を選択し;
    選択された走査信号(S1〜S12)から絶対位置測定値(POS1)を生成する当該方法において、
    第1方法にしたがって走査信号(S1〜S12)を選択し、この第1方法と異なる第2方法にしたがって走査信号(S1〜S12)を選択し;
    前記第1方法にしたがって選択された前記走査信号(S1〜S12)から第1位置測定値(POS1)生成し
    前記第2方法にしたがって選択された前記走査信号(S1〜S12)から第2位置測定値(POS2)生成し
    誤差検査を実施するため、前記第1位置測定値(POS1)及び前記第2位置測定値(POS2)を提供することを特徴とする方法。
  10. 前記第1方法にしたがう選択は、前記絶対コード(C)に対して平行に配置された付加情報(Z)を走査することによって得られる第1選択情報(A1)に応じて実施されること、及び、前記第2方法にしたがう選択は、前記絶対コード(C)を走査することによって得られる選択情報(A2)に基づいて得られることを特徴とする請求項9に記載の方法。
  11. 前記第1方法にしたがう選択は、前記絶対コード(C)を走査することによって得られる第1選択情報(A1)に応じて実施されること、及び、前記第2方法にしたがう選択は、同様に前記絶対コード(C)を走査することによって得られる選択情報(A2)に基づいて実施されることを特徴とする請求項9に記載の方法。
  12. 前記第1位置測定値(POS1)と前記第2位置測定値(POS2)とが、前記誤差検査のために互いに比較されることを特徴とする請求項9〜11のいずれか1項に記載の方法。
  13. 前記第1位置測定値(POS1)及び前記第2位置測定値(POS2)は、シーケンス装置(10)に伝送されることを特徴とする請求項12に記載の方法。
  14. 前記第1位置測定値(POS1)前記第2位置測定値(POS2)とが相違するように、前記第1位置測定値(POS1)又は前記第2位置測定値(POS2)の少なくとも1つの位置測定値が、伝送前に変更されることを特徴とする請求項13に記載の方法。
  15. 測定方向Xに沿って前後して配置された連続するコード要素(C1〜C5)から構成された絶対コード(C)を走査しこれらのコード要素(C1〜C5)はそれぞれ、互いに補完的な部分領域(A,B)から構成され、
    1つの部分領域(A,B)の長さより小さい対向する中央距離によって配列されている走査要素(D1〜D12)から走査信号(S1〜S12)を生成し、
    1つの部分領域(A,B)の長さに対応して配列されている走査要素(D1〜D12)から走査信号(S1〜S12)を2つずつ1つの比較装置(T1〜T6)に供給し、この比較装置(T1〜T6)は、比較結果に応じて前記コード要素(C1〜C5)に関する二進情報(B1〜B6)を生成する方法ステップを特徴とする請求項9〜14のいずれか1項に記載の方法。
  16. 当該比較結果は、目標値(V)と比較され、誤差信号(F)が、この目標値(V)から外れた時に生成されることを特徴とする請求項15に記載の方法。
  17. 前記第2方法の場合、1つのコード要素(C1,C2,C3)の長さに相当するラスター状の走査要素の対の二進情報(B1〜B6)が選択されて、前記第2絶対位置測定値(POS2)を生成し、その結果が、最小の誤差(F)を生成することを特徴とする請求項16に記載の方法。
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