JP4952164B2 - 流量計測素子、質量流量計 - Google Patents

流量計測素子、質量流量計 Download PDF

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Description

本発明は、流体の質量流量を計測する流量計測素子、質量流量計に関するものである。
従来、超音波流量計として特許文献1に示すものがあった。特許文献1に示す超音波流量計は、測定流体が流れる配管などの流量計測部に上流側と下流側とに斜めに対向させて2つの超音波素子を設け、超音波伝達時間差から流体流量を算出するものである。つまり、上流側に設けられた超音波素子からの超音波伝達時間と、下流側に設けられた超音波素子からの超音波伝達時間の差から流速を算出し、流量計測部(配管など)の断面積との積から、流体の体積流量を求めるものである。
特開2004−125804号公報
上記特許文献1においては、体積流量は求めることができるものの質量流量を求めることはできない。流体の質量流量を求めるためには、流体の圧力を計測する必要がある。
ところが、流量計測部に流体の圧力を計測するための圧力検出素子を設けるとその分だけ流量計測部への搭載スペースが必要になるという問題があった。
本発明は、上記問題点に鑑みなされたものであり、搭載スペースを大きくすることなく、流体の質量流量を計測することができる流量計測素子、質量流量計を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために請求項1に記載の流量計測素子は、
流体の質量流量計測用の流量計測素子であって、
半導体基板と、
その半導体基板上に形成され超音波の送信及び受信の少なくとも一方を行う超音波素子と、
その半導体基板上に超音波素子と一体に形成され流体の圧力を検出する圧力検出素子とを備え
超音波素子は圧電材料を含み、
圧力検出素子は歪ゲージを含み、
半導体基板は、圧電材料及び歪ゲージが形成された、超音波素子と圧力検出素子とに共通のメンブレン構造部を有し、
超音波素子は、圧電材料に印加された電圧でメンブレン構造部が共振することで超音波を送信すること、及び送信された超音波による前記メンブレン構造部の共振を圧電材料にて電気信号に変換することで超音波を受信することの少なくとも一方を行うとともに、
圧力検出素子は、流体からの圧力によるメンブレン構造部の歪みを歪ゲージにて電気信号に変換することで圧力を検出することを特徴とするものである。
このように、体積流量を求めるための超音波素子と、その体積流量から質量流量を求めるための圧力検出素子とを半導体基板上に一体に設けることによって流量計測素子の体格を小さくすることができ、流量計測部への搭載スペースを小さくすることができる。
また、このように、超音波素子は圧電材料を含み、圧力検出素子は歪ゲージを含み、半導体基板はメンブレン構造部を有するものであり、圧電材料及び歪ゲージは、メンブレン構造部に形成することによって超音波素子と圧力検出素子とを半導体基板上に一体に設けるようにすると好ましい。
また、圧電材料としては、請求項に示すように、薄膜の圧電材料もしくはバルクの圧電材料のいずれかによって構成されるようにしてもよい。さらに、圧電材料は、請求項に示すように、PZT、PLZT、ZnO、AlNのいずれかによって構成されるようにしてもよい。
また、上記目的を達成するために請求項に記載の質量流量計は、
超音波素子と圧力検出素子とが一体に形成された流量計測素子と、
流体が流れており一対の流量計測素子が流体の上流と下流に対向して設けられた流量測定部と、
一対の流量計測素子間の超音波伝搬時間を算出し、その算出された超音波伝搬時間に基づいて流体の体積流量を算出する体積流量算出手段と、
体積流量算出手段による算出結果と、圧力検出素子にて検出された流量測定部内における流体の圧力値とに基づいて流体の質量流量を算出する質量流量算出手段と、を備え、
各流量計測素子における超音波素子と圧力検出素子とは、半導体基板に一体に設けられ、
超音波素子は圧電材料を含み、
圧力検出素子は歪ゲージを含み、
半導体基板は、圧電材料及び歪ゲージが形成された、超音波素子と圧力検出素子とに共通のメンブレン構造部を有し、
一方の流量計測素子における超音波素子は、圧電材料に印加された電圧でメンブレン構造部が共振することで超音波を送信し、
他方の流量計測素子における超音波素子は、送信された超音波によるメンブレン構造部の共振を圧電材料にて電気信号に変換することで超音波を受信し、
圧力検出素子は、流体からの圧力によるメンブレン構造部の歪みを歪ゲージにて電気信号に変換することで圧力を検出することを備えたことを特徴とするものである。
このように、超音波素子と圧力検出素子とが一体に形成された流量計測素子を設け、この流量計測素子を用いて超音波伝搬時間、体積流量、質量流量を算出することによって、流量計測部への搭載スペースを大きくすることなく、流体の質量流量を求めることができる。
また、請求項に示すように、流量測定部の上流と下流にはバルクの圧電材料を備える超音波送信素子が対向して流量計測素子とは別体に設けられ、流量計測素子の超音波素子は超音波送信素子から送信された超音波の受信を行うものであり、体積流量算出手段は、超音波送信素子と流量計測素子における超音波素子とによって送受信される超音波を用いて超音波伝搬時間を算出するようにしてもよい。
このように、バルクの圧電材料を備える超音波送信素子を設けることによって、一対の流量計測素子のみの場合に比べて搭載スペースは大きくなるものの、超音波の計測感度を向上させることができる。
また、請求項に示すように、流体の温度を検出する温度センサと、温度センサの検出結果に基づいて超音波伝搬速度及び流体の圧力値の温度補正を行う補正手段を備えるようにしてもよい。このようにすることによって、正確な流体の質量流量を求めることができる。
この温度センサは、請求項に示すように、流量計測素子と一体に設けられるようにすることによって、搭載スペースを大きくすることを防止できる。
また、請求項に示すように、圧力検出素子による流体の圧力を検出するタイミングと、超音波素子による超音波の送受信を行うタイミングとを異ならせるようにしてもよい。
また、超音波の送受信周波数は既知であるため、請求項に示すように、圧力検出素子による流体の圧力の検出と、超音波素子による超音波の送受信とを略同じタイミングで行い、周波数分離手段にて圧力検出素子による出力信号と超音波素子による出力信号との周波数分離を行うことによって応答性を向上させることができる。
なお、請求項10及び請求項1に記載の質量流量計における作用、効果に関しては、請求項2及び請求項3に記載の質量流量計における作用、効果と同等であるため説明を省略する。
また、請求項1に示すように、圧電材料への印加電圧と歪ゲージの出力信号とを関連付けて記憶した第一診断用記憶部と、圧電材料に通電してメンブレン構造部を変位させ、その変位時の圧電材料への印加電圧及び歪ゲージの出力信号と第一診断用記憶部に記憶された内容とを比較して流量計測素子が正常に動作しているか否かを診断する第一診断手段とを備えるようにしてもよい。
このようにすることによって、メンブレン構造部に圧電材料と歪ゲージが形成された流量計測素子を用いた場合の質量流量計が正常で動作しているか否かを判断することができ質量流量計の信頼性を向上させることができる。
以下、本発明の実施の形態を図に基づいて説明する。図1は、本発明の実施の形態における質量流量計測システムの概略構成を示すブロック図である。図2は、本発明の実施の形態における流量計測素子の概略構成を示す図面であり、(a)は平面図であり、(b)は(a)のAA断面図である。図3は、本発明の実施の形態における質量流量計測システムの計測タイミングを示すチャートである。なお、本実施の形態においては、質量流量計測システムをエンジン制御に適用した例を用いて説明する。すなわち、質量流量計測システムを燃焼室に吸入される空気の質量流量を計測するシステムに適用した例を用いて説明する。
図1に示すように、質量流量計測システム100は、流量計測部30に一対の流量計測素子10,20が搭載され、その流量計測素子10,20と電気的に接続されており、流量計測素子10,20からの信号を用いて質量流量を計測する制御装置40などを備える。より具体的には、流量計測素子10,20、流量計測部30、制御装置40を備える質量流量計に図示しないエンジン制御装置などの電源を供給する装置が接続された質量流量計測システムである。
流量測定部30は、エンジン制御系における吸気管に相当するものであり、内部に流体(空気)が流れており、一対の流量計測素子10,20が上流と下流に対向して搭載されるものである。つまり、流量測定部30の上流側には流量計測素子10が搭載され、下流側には流量計測素子20が流量計測素子10と対向するように搭載される。なお、図1においては、この流量測定部30である吸気管の断面図を示している。
一対の流量計測素子10,20は、メンブレンタイプの流量計測素子であり、半導体基板上に超音波の送信及び受信を行う超音波素子と流体の圧力を検出する圧力検出素子とが一体に設けられたものである。この流量計測素子10,20は、流量測定部30の側壁に設けられた取付穴にシール材などを介して搭載される。なお、流量計測素子10,20に関しては、後ほど詳しく説明する。
制御装置40は、CPU41、メモリ42などを備えたマイクロコンピュータであり、エンジン制御装置などの外部に設けられた装置(図示省略)から電源が供給されて動作すると共に、メモリ42に記憶されたプログラムに基づいて所定の演算処理を実行し、その演算結果をエンジン制御装置に出力する。具体的には、制御装置40のCPU41は、流量計測素子10,20(超音波素子)を駆動して超音波の送受信を行ったり、流量計測素子10,20(圧力検出素子)からの信号に基づいて流体の圧力を検出したりする。
さらに、制御装置40のCPU41は、一対の流量計測素子10,20間の超音波伝搬時間を算出し、算出された超音波伝搬時間に基づいて流体の体積流量を算出したり、その算出結果と流体の圧力とに基づいて流体の質量流量を算出したり、流量計測素子10,20が正常に動作しているか否かを診断したりする。
また、制御装置40のメモリ42は、本発明における第一診断用記憶部に相当するものであり、圧電体薄膜8(超音波用電極9a,9b)への印加電圧と、その時の歪ゲージ6の出力信号とを関連付けて診断マップとして記憶している。
ここで、図2を用いて流量計測素子10,20に関して詳しく説明する。なお、流量計測素子10と流量計測素子20とは、同じ構成をしているため、ここでは、流量計測素子10のみを説明して、流量計測素子20に関する説明は省略する。
図2(a),(b)は、質量流量計測システム100における流量計測素子10の構造について簡略化して示した図で、図2(a)流量計測素子10の模式的な平面図であり、図2(b)は図2(a)の一点鎖線で示したA−Aにおける断面図である。
図2(a),(b)に示す流量計測素子10は、SOI(Silicon On Insulator)構造の半導体基板を用いて形成されている。この半導体基板において、符号1はSiなどからなる第1半導体層(半導体基板)、符号2はSiOなどからなる埋め込み酸化膜、符号3はSiなどからなる第2半導体層、符号4はSiOなどからなる保護酸化膜である。半導体のマイクロマシニング技術により、半導体基板の薄肉部として形成されたメンブレン構造部5上には、圧電材料からなる圧電体薄膜8を超音波用電極9a,9bでサンドイッチした構造を有する超音波素子と、歪ゲージ6に歪ゲージ用電極7が接続した構造を有する圧力検出素子とが一体に形成される。なお、圧電体薄膜8は、ゾルゲル法やスパッタリングなどによって形成された薄膜である。
つまり、超音波素子と圧力検出素子とでメンブレン構造部5を共用するものである。したがって、一つの半導体素子で超音波の送受信、圧力の検出の2つの機能をなすことができる。このようにすることによって、流量計測素子10の体格を小さくすることができ、流量計測部30への搭載スペースを小さくすることができる。また、半導体基板上に一体に設けることによって、同じ半導体プロセス内で超音波素子と圧力検出素子とを製造することができるので、製造コスト、製品コストも低減することができる。
なお、超音波素子を構成する圧電材料は、圧電体薄膜8に限定されるものではなく、バルクの圧電材料であっても本発明の目的は達成できるものである。なお、バルクの圧電材料を用いることによって、超音波を送信する際の音圧を高くすることができるので感度を向上させることができる。圧電材料としては、PZT、PLZT、ZnO、AlNのいずれかを用いることができる。
図2(a),(b)の流量計測素子10では、超音波を送信する場合、制御装置40のCPU41は、超音波用電極9a,9bに交流電圧を印加して、圧電体薄膜8、超音波用電極9a,9bと共にメンブレン構造部5を所定の超音波帯周波数で共振させ、超音波を送信する。また、超音波を受信する場合、制御装置40のCPU41は、流量計測素子20から送信された超音波(流量計測素子20の場合は、流量計測素子10から送信された超音波)によりメンブレン構造部5を圧電体薄膜8、超音波用電極9a,9bと共に共振させ、圧電体薄膜8、超音波用電極9a,9bにて電気信号に変換して、超音波を受信する。
一方、図2(a),(b)の流量計測素子10では、流体の圧力を検出する場合、流体の圧力によってメンブレン構造部5に歪みが発生する。制御装置40のCPU41は、この歪量が歪ゲージ6において抵抗変化として表れることによって流体の圧力を検出する。
以上のように構成された質量流量計測システム100の動作を説明する。
まず、質量流量計測システム100による自己診断に関して説明する。制御装置40のCPU41は、エンジン制御装置から電源が供給されると、圧電体薄膜8(超音波用電極9a,9b)に通電して圧電体薄膜8、超音波用電極9a,9bと共にメンブレン構造部5を変位させる。次に、制御装置40のCPU41は、その変位時の歪ゲージ6の出力信号を検出する。そして、制御装置40のCPU41は、その変位時の圧電体薄膜8(超音波用電極9a,9b)への印加電圧及び歪ゲージ6の出力信号と、メモリ42に記憶された診断マップの内容とを比較して流量計測素子10,20が正常に動作しているか否かを診断する。そして、制御装置40のCPU41は、上記診断の結果で正常に動作していると判定した場合は以降に説明する流体の質量流量の計測を開始する。一方、制御装置40のCPU41は、流量計測素子10が異常であることを図示しない報知装置にて報知する。
なお、制御装置40のCPU41が自己診断するタイミングは、エンジン制御装置から電源が供給された時点のみに限定されるものではない。流量計測素子10,20は、いつ故障するかわからないため、エンジン制御装置から電源が供給されている間は、所定の間隔で診断を実行することによってより一層信頼性を向上させることができて好ましい。
次に、質量流量計測システム100による質量流量の計測に関して説明する。流量計測素子10と流量計測素子20の中心を結ぶ距離をLとし、流量計測素子10と流量計測素子20とを結ぶ線と流量測定部30(流量測定部30における流量計測素子10に対して下流側)とのなす角をθとする。また、流体の無風状態での音速をC、流量測定部30内での流体の流速をVとする。
制御装置40のCPU41は、流量測定部30の上流側に配置された流量計測素子10を駆動して超音波を送信する。流量計測素子10から送信された超音波は流量測定部30内を斜めに横断する。制御装置40のCPU41は、流量計測素子10から送信された超音波を下流側に配置された流量計測素子20で受信する。そして制御装置40のCPU41は、このときの伝搬時間t1=L/(C+Vcosθ)を計測する。
次に、送信、受信する流量計測素子10、流量計測素子20を入れ替えて同様の処理を実行する。制御装置40のCPU41は、流量測定部30の下流側に配置された流量計測素子20を駆動して超音波を送信する。流量計測素子20から送信された超音波は流量測定部30内を斜めに横断する。制御装置40のCPU41は、流量計測素子20から送信された超音波を上流側に配置された流量計測素子10で受信する。そして制御装置40のCPU41は、このときの伝搬時間t2=L/(C−Vcosθ)を計測する。
制御装置40のCPU41は、この伝版時間t1とt2とから音速Cを消去して、流体の流速V=1/2cosθ(1/t1−1/t2)を算出する。また、距離Lとなす角θは既知であるため、流量測定部30の断面積をSとすると、制御装置40のCPU41は、Q=SVを演算して流体の体積流量を計測する。
また、制御装置40のCPU41は、圧力検出素子にて流体の圧力Pを検出(計測)する。なお、本実施の形態における流量計測素子10は、上述のように半導体基板に超音波素子と圧力検出素子とが一体に設けられている。したがって、図3に示すように、体積流量の計測タイミング、すなわち超音波素子による送信・受信タイミングと、圧力検出素子による流体の圧力計測タイミングとを異ならせると好ましい。このようにすることによって、流量計測素子10から出力される信号が超音波素子による信号であるか、圧力検出素子による信号であるかを間違えることを防止できる。
そして、制御装置40のCPU41は、体積流量Qと流量計測素子10,20の圧力検出素子で検出した流体の圧力Pとを用いて、Q=QPを演算して流体の質量流量を求める。このようにして、質量流量計測システム100は、流体の質量流量を計測するものである。また、制御装置40のCPU41は、演算結果である計測した流体の質量流量をエンジン制御装置へと出力する。
このように、超音波素子と圧力検出素子とが一体に形成された流量計測素子10,20を設け、この流量計測素子10,20を用いて超音波伝搬時間、体積流量、質量流量を算出することによって、流量計測部30への搭載スペースを大きくすることなく、流体の質量流量を求めることができる。
(変形例1)
また、変形例1として、超音波送信素子を別体に設けてもよい。図4は、本発明の変形例1における質量流量計測システムの概略構成を示すブロック図である。なお、図4は、上記実施の形態における図1に対応する図面であり、図1と異なる点を主に図示しており、共通する点の多くを省略している。また、上述の実施の形態と共通する点に関しては説明を省略する。
図4における符号10a,20bは、半導体基板に形成されたメンブレン構造部に圧電体薄膜と歪ゲージとを設けて、超音波の受信と流体の圧力の検出を行う流量計測素子である。また、図4における符号200a,200bは、平面形状の面積が流量計測素子10aの圧電体薄膜の平面形状の面積に比べて大きいバルクの圧電材料を備える超音波送信素子である。
このように、流量計測素子10a,20aとは別体に、バルクの圧電材料を備える超音波送信素子200a,200bを設けた、質量流量計測システムにおいては、超音波送信素子200aから送信された超音波を流量計測素子20aで受信し、超音波送信素子200bから送信された超音波を流量計測素子10aで受信する。
超音波素子は、一般的に送信側が大きな音圧を出力することによって感度を向上させることができるものである。したがって、変形例1においては、超音波素子と圧力検出素子とを一体に設けた場合に比べたら搭載スペースは大きくなるものの、超音波送信素子を別体に設けているため感度を向上させることができる。また、変形例1においては、超音波送信素子、超音波受信素子、圧力検出素子を別体に設ける場合に比べると、感度を略同等で搭載スペースを小さくすることができる。
(変形例2)
また、変形例2として、流量計測素子としては、上述のメンブレンタイプの他にも静電容量タイプのものであってもよい。図5は、本発明の変形例2における流量計測素子の概略構成を示す図面であり、(a)は平面図であり、(b)は(a)のBB断面図である。
変形例2における流量計測素子50は、図5に示すように、半導体基板51に絶縁膜52を介して形成された容量検出電極53a(第一電極)と、容量検出電極53aから離間して(エアギャップ59を介して)対向配置され、その対向する部位の一部に通気孔58を有する容量検出電極53b(第二電極)とを備える。
また、容量検出電極53aと容量検出電極53bとの間には、エアギャップ59を形成するために貫通穴が形成された絶縁膜54、エアギャップ制御電極55a、絶縁膜56、エアギャップ制御電極55b、絶縁膜57が順番に形成されている。
また、半導体基板51は、Siなどからなる。容量検出電極53a、容量検出電極53b、エアギャップ制御電極55a、エアギャップ制御電極55bは、ポリシリコン、アルミ、金などの導電性材料からなる。絶縁膜52、絶縁膜54、絶縁膜56、絶縁膜57は、SiOなどからなる。
このような静電容量タイプの流量計測素子50においては、容量検出電極53a、容量検出電極53bに電圧を印加して容量検出電極53bを撓ませることによって、エアギャップ59を変位させて超音波を送信する。また、静電容量タイプの流量計測素子50は、超音波の受信及び流体からの圧力によって容量検出電極53bが撓み、容量検出電極53aと容量検出電極53bとの間隔(エアギャップ59)が変位する。これによって、容量検出電極53aと容量検出電極53bとの間の静電容量が変化するので、その静電容量を出力信号として出力する。
このようにすることによっても、超音波素子と圧力検出素子とを半導体基板上に一体に設けることができ、搭載スペースを小さくすることができる。
ここで、変形例2における静電容量タイプの流量計測素子50を用いた場合の自己診断について説明する。制御装置40のCPU41は、エンジン制御装置から電源が供給されると、エアギャップ制御電極55a、エアギャップ制御電極55bに通電して容量検出電極53aと容量検出電極53bとの間隔(エアギャップ59)を変位させる。次に、制御装置40のCPU41は、その変位時の容量検出電極53aと容量検出電極53bとの間の静電容量を検出する。
そして、制御装置40のCPU41は、その変位時のエアギャップ制御電極55a、エアギャップ制御電極55bへの印加電圧及び容量検出電極53aと容量検出電極53bとの間の静電容量と、メモリ42に記憶された診断マップの内容とを比較して流量計測素子50が正常に動作しているか否かを診断する。なお、この場合は、メモリ42には、エアギャップ制御電極55a、エアギャップ制御電極55bへの印加電圧と、その時の容量検出電極53aと容量検出電極53bとの間の静電容量とを関連付けて診断マップとして記憶している。
そして、制御装置40のCPU41は、上記診断の結果で正常に動作していると判定した場合は流体の質量流量の計測を開始する。一方、制御装置40のCPU41は、流量計測素子10が異常であることを図示しない報知装置にて報知する。
なお、制御装置40のCPU41が自己診断するタイミングは、エンジン制御装置から電源が供給された時点のみに限定されるものではない。流量計測素子50は、いつ故障するかわからないため、エンジン制御装置から電源が供給されている間は、所定の間隔で診断を実行することによってより一層信頼性を向上させることができて好ましい。
なお、変形例2に示す静電容量の流量計測素子50は、音圧が小さいため主に超音波の受信と流体の圧力の検出用に用いて、超音波送信素子を別体で設けると好ましい。すなわち、変形例1における流量計測素子10a,20aとして用いると好ましい。
(変形例3)
また、変形例3として、体積流量の計測タイミング、すなわち超音波素子による送信・受信タイミングと、圧力検出素子による流体の圧力計測タイミングとを同じタイミングにしてもよい。図6は、本発明の変形例3における質量流量計測システムの計測タイミングを示すチャートである。図6(a)は、超音波の受信と圧力の検出とを同じタイミングで行った場合の流量計測素子の出力である。図6(b)は圧力検出素子による出力信号(圧力の検出信号)であり、図6(c)は超音波素子による超音波受信時の出力信号である。
上述のように本発明における流量計測素子は、超音波素子と圧力検出素子とが一体に形成されているため、体積流量の計測タイミングと圧力検出素子による流体の圧力計測タイミングとを異ならせると好ましいが、一般的に超音波の送受信周波数は既知であるため、同じタイミングで行うことも可能である。
制御装置40のCPU41は、図6(a)に示すように圧力検出素子による出力信号と超音波素子による超音波受信時の出力信号とが重なって出力された信号を図6(b)に示す圧力検出素子による出力信号と図6(c)に示す超音波素子による出力信号との周波数分離を行う。このようにすることによって、応答性を向上させることができるので、質量流量計及び質量流量計測システムによる質量流量の計測時間を短縮することができる。
(変形例4)
また、変形例4に示すように、流体の温度を検出する温度センサを設け、この温度センサの検出結果に基づいて超音波伝搬速度及び流体の圧力の温度補正を行うようにしてもよい。図7は、本発明の変形例4における流量計測素子の概略構成を示す図面であり、(a)はメンブレンタイプの場合の断面図であり、(b)は静電容量タイプの場合の断面図である。なお、図7(a)は、図2(b)に対応する図面であり、共通する箇所は同一の符号を付与して説明を省略する。また、図7(b)は、図5(b)に対応する図面であり、共通する箇所は同一の符号を付与して説明を省略する。
流体は、温度によって体積が変化するので、超音波の伝搬速度、及び圧力検出素子に与える圧力は流体の温度に依存して変化するものである。そこで、図7(a)に示すように、温度センサ80をメンブレンタイプの流量計測素子60に搭載する。又は、図7(b)に示すように、温度センサ80を静電容量タイプの流量計測素子70に搭載する。
また、例えば、温度と超音波の伝搬速度、温度と流体の圧力とを関連付けて温度マップとしてメモリ42に記憶しておく。そして、制御装置40のCPU41は、温度センサ80の検出結果と温度マップとを用いて超音波伝搬速度及び流体の圧力の温度補正を行う。
このようにすることによって、正確な流体の質量流量を求めることができ、質量流量計及び質量流量計測システムの信頼性を向上させることができる。また、この温度センサは、流量計測素子50,60と一体に設けられることによって、搭載スペースを大きくすることを防止できる。
なお、上述の実施の形態及び変形例1〜4においては、超音波素子及び圧力検出素子が半導体基板に一体に設けられた流量計測素子を例として説明したが本発明はこれ以外にも、一つのバルクの圧電材料によって超音波素子と圧力検出素子とを兼ねる流量計測素子を用いてもよい。
本発明の実施の形態における質量流量計測システムの概略構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態における流量計測素子の概略構成を示す図面であり、(a)は平面図であり、(b)は(a)のAA断面図である。 本発明の実施の形態における質量流量計測システムの計測タイミングを示すチャートである。 本発明の変形例1における質量流量計測システムの概略構成を示すブロック図である。 本発明の変形例2における流量計測素子の概略構成を示す図面であり、(a)は平面図であり、(b)は(a)のBB断面図である。 本発明の変形例3における質量流量計測システムの計測タイミングを示すチャートである。 本発明の変形例4における流量計測素子の概略構成を示す図面であり、(a)はメンブレンタイプの場合の断面図であり、(b)は静電容量タイプの場合の断面図である。
符号の説明
1 半導体基板、2 埋め込み酸化膜、3 半導体層、4 保護酸化膜、5 メンブレン構造部、6 歪ゲージ、7 歪ゲージ用電極、8 圧電体薄膜、9a 超音波用電極、9b 超音波用電極、10,20,10a,20a,50、60、70 流量計測素子、51 半導体基板、52 絶縁膜、53a 容量検出電極、53b 容量検出電極、54 絶縁膜、55a エアギャップ制御電極、55b エアギャップ制御電極、56 絶縁膜、57 絶縁膜、58 通気孔、59 エアギャップ、30 流量測定部、40 制御装置、41 CPU、42 メモリ、80 温度センサ、100 質量流量計測システム、200a,200b 超音波送信素子

Claims (12)

  1. 流体の質量流量計測用の流量計測素子であって、
    半導体基板と、
    前記半導体基板上に形成され、超音波の送信及び受信の少なくとも一方を行う超音波素子と、
    前記半導体基板上に前記超音波素子と一体に形成され、前記流体の圧力を検出する圧力検出素子とを備え、
    前記超音波素子は圧電材料を含み、
    前記圧力検出素子は歪ゲージを含み、
    前記半導体基板は、前記圧電材料及び前記歪ゲージが形成された、前記超音波素子と前記圧力検出素子とに共通のメンブレン構造部を有し、
    前記超音波素子は、前記圧電材料に印加された電圧で前記メンブレン構造部が共振することで超音波を送信すること、及び送信された超音波による前記メンブレン構造部の共振を前記圧電材料にて電気信号に変換することで超音波を受信することの少なくとも一方を行うとともに、
    前記圧力検出素子は、流体からの圧力による前記メンブレン構造部の歪みを前記歪ゲージにて電気信号に変換することで圧力を検出することを特徴とする流量計測素子。
  2. 前記圧電材料は、薄膜の圧電材料もしくはバルクの圧電材料のいずれかによって構成されることを特徴とする請求項1に記載の流量計測素子。
  3. 前記圧電材料は、PZT、PLZT、ZnO、AlNのいずれかによって構成されることを特徴とする請求項2に記載の流量計測素子。
  4. 超音波素子と圧力検出素子とが一体に形成された流量計測素子と、
    流体が流れており、一対の前記流量計測素子が前記流体の上流と下流に対向して設けられた流量測定部と、
    一対の前記流量計測素子間の超音波伝搬時間を算出し、算出された前記超音波伝搬時間に基づいて前記流体の体積流量を算出する体積流量算出手段と、
    前記体積流量算出手段による算出結果と、前記圧力検出素子にて検出された前記流量測定部内における前記流体の圧力値とに基づいて前記流体の質量流量を算出する質量流量算出手段と、を備え、
    各流量計測素子における前記超音波素子と前記圧力検出素子とは、半導体基板に一体に設けられ、
    前記超音波素子は圧電材料を含み、
    前記圧力検出素子は歪ゲージを含み、
    前記半導体基板は、前記圧電材料及び前記歪ゲージが形成された、前記超音波素子と前記圧力検出素子とに共通のメンブレン構造部を有し、
    一方の前記流量計測素子における前記超音波素子は、前記圧電材料に印加された電圧で前記メンブレン構造部が共振することで超音波を送信し、
    他方の前記流量計測素子における前記超音波素子は、送信された超音波による前記メンブレン構造部の共振を前記圧電材料にて電気信号に変換することで超音波を受信し、
    前記圧力検出素子は、流体からの圧力による前記メンブレン構造部の歪みを前記歪ゲージにて電気信号に変換することで圧力を検出することを特徴とする質量流量計。
  5. 前記流量測定部の上流と下流にはバルクの圧電材料を備える超音波送信素子が対向して前記流量計測素子とは別体に設けられ、前記流量計測素子の超音波素子は前記超音波送信素子から送信された超音波の受信を行うものであり、前記体積流量算出手段は、前記超音波送信素子と前記流量計測素子における前記超音波素子とによって送受信される超音波を用いて前記超音波伝搬時間を算出することを特徴とする請求項4に記載の質量流量計。
  6. 前記流体の温度を検出する温度センサと、前記温度センサの検出結果に基づいて前記超音波伝搬速度及び前記流体の圧力値の温度補正を行う補正手段を備えることを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の質量流量計。
  7. 前記温度センサは、前記流量計測素子と同一の半導体基板上に設けられることを特徴とする請求項6に記載の質量流量計。
  8. 前記圧力検出素子による前記流体の圧力を検出するタイミングと、前記超音波素子による超音波の送受信を行うタイミングとを異ならせることを特徴とする請求項4乃至請求項7のいずれか一項に記載の質量流量計。
  9. 前記圧力検出素子による前記流体の圧力の検出と、前記超音波素子による超音波の送受信とを略同じタイミングで行い、前記圧力検出素子による出力信号と前記超音波素子による出力信号との周波数分離を行う周波数分離手段を備えることを特徴とする請求項乃至請求項のいずれか一項に記載の質量流量計。
  10. 前記圧電材料は、薄膜の圧電材料もしくはバルクの圧電材料のいずれかによって構成されることを特徴とする請求項乃至請求項のいずれか一項に記載の質量流量計。
  11. 前記圧電材料は、PZT、PLZT、ZnO、AlNのいずれかによって構成されることを特徴とする請求項乃至請求項10のいずれか一項に記載の質量流量計。
  12. 前記圧電材料への印加電圧と前記歪ゲージの出力信号とを関連付けて記憶した第一診断用記憶部と、
    前記圧電材料に通電して前記メンブレン構造部を変位させ、その変位時の前記圧電材料への印加電圧及び前記歪ゲージの出力信号と前記第一診断用記憶部に記憶された内容とを比較して前記流量計測素子が正常に動作しているか否かを診断する第一診断手段と、を備えることを特徴とする請求項乃至請求項11のいずれか一項に記載の質量流量計。
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