JP4925895B2 - ループバックモジュールおよび試験装置 - Google Patents
ループバックモジュールおよび試験装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4925895B2 JP4925895B2 JP2007093882A JP2007093882A JP4925895B2 JP 4925895 B2 JP4925895 B2 JP 4925895B2 JP 2007093882 A JP2007093882 A JP 2007093882A JP 2007093882 A JP2007093882 A JP 2007093882A JP 4925895 B2 JP4925895 B2 JP 4925895B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical signal
- optical
- wavelength
- signal
- control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 175
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 397
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 claims description 54
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 47
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 26
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 15
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 claims description 9
- 229910013641 LiNbO 3 Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 6
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 28
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 24
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 17
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Description
Claims (13)
- 光信号を送信する光信号送信部と光信号を受信する光信号受信部とを有する被試験デバイスに対して、前記光信号送信部および前記光信号受信部の間でループバック試験をする場合に、前記光信号送信部から出力された光信号を前記光信号受信部に伝送するループバックモジュールであって、
前記光信号送信部が出力する特定波長の光信号とは異なる波長の制御光信号を発生する制御信号発生部と、
前記光信号および前記制御光信号を重畳して入力され、前記制御光信号の波長に応じて前記特定波長とは異なる変換波長を有する波長変換光を出力する波長変換部と、
互いに経路長の異なる複数の光経路を有し、前記変換波長に応じた前記複数の光経路のいずれかを経由して前記光信号受信部に向かって前記波長変換光を出力させる遅延発生部と
を備え、前記制御信号発生部は、前記光信号送信部において前記光信号に発生したジッタを打ち消す遅延量が発生する前記光経路に前記光信号を伝播させる前記制御光信号を、前記光信号のパルス毎に発生するループバックモジュール。 - 前記制御信号発生部は、前記制御光信号の波長で発光する制御光源素子と、前記制御光信号を発生すべき場合に前記制御光源素子を動作させる駆動装置とを有する請求項1に記載のループバックモジュール。
- 前記制御信号発生部は、前記制御光信号の波長で常時発光する制御光源素子と、前記制御光信号を発生すべき場合に前記制御光源素子の出射光を前記波長変換部に結合する光スイッチとを有する請求項1に記載のループバックモジュール。
- 前記制御光源素子は、互いに異なる発光波長を有して、択一的に有効になる複数の発光素子を含む請求項2または請求項3に記載のループバックモジュール。
- 前記制御光源素子は、発光波長を変化させることができる波長可変発光素子を含む請求項2または請求項3に記載のループバックモジュール。
- 前記波長変換部は、前記光信号および制御光信号を入力された場合に、前記光信号および前記制御光信号のいずれか一方の第2高調波および他方の波長の差周波を出力する非線形光学素子を含む請求項1から請求項5までのいずれか一項に記載のループバックモジュール。
- 前記非線形光学素子は、周期的な分極反転構造を有するPPLN(Periodically Poled LiNbO3:周期分極ニオブ酸リチウム)素子を含む請求項6に記載のループバックモジュール。
- 前記遅延発生部は、入力された前記波長変換光をその波長に応じた異なる伝送経路に分波する光分波器と、前記光分波器に分波された前記波長変換光を個別に伝播させる互いに経路長の異なる複数の光導波路と、前記複数の光導波路から出射された光信号を単一の光導波路に結合する光合波器とを有する請求項1から請求項7までのいずれか一項に記載のループバックモジュール。
- 光信号を送信する光信号送信部と光信号を受信する光信号受信部とを有する被試験デバイスに対して、前記光信号送信部および前記光信号受信部の間でループバック試験をする場合に、前記光信号送信部から出力された光信号を前記光信号受信部に伝送するループバックモジュールを備えた試験装置であって、
試験動作において被試験デバイスに処理させる試験信号を発生する試験信号発生部と、
前記光信号送信部が出力する特定波長の光信号とは異なる波長の制御光信号を発生する制御信号発生部と、
前記光信号および前記制御光信号を重畳して入力され、前記制御光信号の波長に応じて前記特定波長とは異なる変換波長を有する波長変換光を出力する波長変換部と、
互いに経路長の異なる複数の光経路を有し、前記変換波長に応じた前記複数の光経路のいずれかを経由して前記光信号受信部に向かって前記波長変換光を出力させる遅延発生部と
を備え、前記制御信号発生部は、前記光信号送信部において前記光信号に発生したジッタを打ち消す遅延量が発生する前記光経路に前記光信号を伝播させる前記制御光信号を、前記光信号のパルス毎に発生する試験装置。 - 前記光信号送信部の出力を、前記ループバックモジュールおよびDC試験装置のいずれかに結合する光スイッチと、前記光信号受信部の入力を、前記ループバックモジュールおよびDC試験装置のいずれかに結合する光スイッチとを介して前記被試験デバイスに接続される請求項9に記載の試験装置。
- 前記光スイッチを介して前記光信号送信部に接続されるDC試験装置は、前記光信号送信部において光信号を発生する発光素子の発光波長、駆動電流/光出力特性、閾値電流および偏光特性の少なくともひとつを測定する請求項10に記載の試験装置。
- 前記光スイッチを介して前記光信号受信部に接続されるDC試験装置は、前記光信号受信部において光信号を電気信号に変換する受光素子の変換効率/波長特性、感度特性および偏光特性の少なくともひとつを測定する請求項10または請求項11に記載の試験装置。
- 前記被試験デバイスは、光信号送信部側に実装されて、前記光信号に疑似ランダムパターンを重畳する疑似ランダムパターン発生器と、光信号受信部側に実装されて、前記光信号を受信した場合に発生するビットエラーを計数するビットエラーカウンタとを備え、
前記制御信号発生部は、前記ビットエラーカウンタにより計数されたビットエラーレートを参照して前記制御光信号を発生する請求項10から請求項12までのいずれか一項に記載の試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007093882A JP4925895B2 (ja) | 2007-03-30 | 2007-03-30 | ループバックモジュールおよび試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007093882A JP4925895B2 (ja) | 2007-03-30 | 2007-03-30 | ループバックモジュールおよび試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008249623A JP2008249623A (ja) | 2008-10-16 |
JP4925895B2 true JP4925895B2 (ja) | 2012-05-09 |
Family
ID=39974733
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007093882A Active JP4925895B2 (ja) | 2007-03-30 | 2007-03-30 | ループバックモジュールおよび試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4925895B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5735755B2 (ja) * | 2010-05-17 | 2015-06-17 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置及び試験方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6256836A (ja) * | 1985-09-06 | 1987-03-12 | Ando Electric Co Ltd | レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置 |
JP2001033513A (ja) * | 1999-07-19 | 2001-02-09 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 半導体光素子の特性測定方法及び特性測定プログラムを記録した記録媒体 |
JP2001142102A (ja) * | 1999-11-11 | 2001-05-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光可変波長バッファ |
EP1464970A1 (en) * | 2003-04-04 | 2004-10-06 | Agilent Technologies Inc | Loop-back testing with delay elements |
-
2007
- 2007-03-30 JP JP2007093882A patent/JP4925895B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008249623A (ja) | 2008-10-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1760424B1 (en) | Distributed optical fiber sensor | |
US11402295B2 (en) | Optical fiber loss measurement device and optical fiber loss measurement method | |
JP7322960B2 (ja) | 光ファイバ試験方法および光ファイバ試験装置 | |
EP2232738A1 (en) | Latency measurement in optical networks | |
JP6325490B2 (ja) | 光線路特性解析装置及び光線路特性解析方法 | |
JP2007085981A (ja) | 波長分散測定方法、波長分散測定装置及び波長分散補正システム | |
JP4925895B2 (ja) | ループバックモジュールおよび試験装置 | |
JP5485496B2 (ja) | 半導体試験装置 | |
Dorrer et al. | Characterization and optimization of an eight-channel time-multiplexed pulse-shaping system | |
JP2022039883A (ja) | フォトニック回路製造における損失モニタリング | |
Lowery | Computer-aided photonics design | |
EP1975579A1 (en) | Optical spectrum analyzer | |
CN111162835A (zh) | 光时域反射仪 | |
Tian et al. | Directed XOR/XNOR logic gates using U-to-U waveguides and two microring resonators | |
JP4714177B2 (ja) | ジッタ低減装置および試験装置 | |
JP5778317B1 (ja) | モード間パワー比測定方法、パワー比測定装置及びモード間パワー比測定システム | |
JP4246037B2 (ja) | 光線路特性の解析方法及び光線路試験監視システム | |
JP5438268B2 (ja) | 試験装置 | |
KR20220027217A (ko) | 광섬유 측정 시스템, 통신 광섬유를 측정 시스템에 적용하는 방법, 및 광섬유 측정 및 통신 시스템 | |
RU138620U1 (ru) | Бриллюэновский оптический рефлектометр | |
JPH11153512A (ja) | 光ファイバ遅延時間差測定方法 | |
RU2805561C1 (ru) | Устройство контроля фазовых сдвигов излучения в интегральных схемах на базе несимметричного интерферометра Маха-Цендера | |
JP4537082B2 (ja) | 半導体レーザの検査方法および検査装置 | |
JP2014215140A (ja) | 電界計測装置 | |
WO2022029995A1 (ja) | 電界分布変動周期測定方法、及び電界分布変動周期測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100219 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111104 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111115 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120106 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120131 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120207 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150217 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4925895 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150217 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |