JP4914253B2 - 半導体集積回路及びエラー解析方法 - Google Patents
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Description
2 CPU
3 MCH
4 メモリ
5 PCIe
10 ASIC
11〜13 機能モジュール
14 アービタ
15 PCIeエンドポイント(PCIe Endpoint)
15a レジスタ
16 デバッグ回路
17 デバッグ用レジスタ
11a、11b、12a、12b、13a、13b DMA
21 パルス信号線
22 モニタ信号線
23 外部端子
Claims (4)
- マスタからのリクエストに応じて高速シリアルインターフェイスを経由させてデータ転送を行う半導体集積回路において、所定のデバッグ用レジスタと、前記高速シリアルインターフェイス上でのエラー発生時に該高速シリアルインターフェイス上のレジスタに保存されるアドレス情報及びアクセスタイプ情報を前記デバッグ用レジスタに保存し、該エラーが発生した際の処理を再現するエラー再現処理の実行中に前記マスタから該デバッグ用レジスタに保存されているアドレス及びアクセスタイプを含むリクエストが発生すると、該リクエストに含まれているID情報を前記デバッグ用レジスタに保存し、該エラー再現処理の実行中に再度エラーが発生すると、該デバッグ用レジスタに保存されているID情報から特定されるエラー発生源の情報を出力するデバッグ回路とを搭載していることを特徴とする半導体集積回路。
- 前記半導体集積回路は、パルス信号を発生して外部に出力するパルス信号生成手段を備え、前記デバッグ回路は、前記エラー再現処理の実行中に再度エラーが発生すると、該パルス信号生成手段にパルス信号を発生させることを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路。
- マスタからのリクエストに応じてデータ転送を行う高速シリアルインターフェイス上でのエラー発生を解析するエラー解析方法であって、前記エラー発生時に前記高速シリアルインターフェイス上のレジスタに保存されるアドレス情報を取得するアドレス情報取得工程と、前記エラー発生時に前記高速シリアルインターフェイス上のレジスタに保存されるアクセスタイプ情報を取得するアクセスタイプ情報取得工程と、該エラーが発生した際の処理を再現するエラー再現処理工程と、該エラー再現処理工程で前記マスタから前記取得されたアドレス及びアクセスタイプを含むリクエストが発生すると、該リクエストに含まれているID情報を取得するID情報取得工程と、該エラー再現処理工程で再度エラーが発生すると、前記取得されたID情報から特定されるエラー発生源の情報を出力するエラー発生現情報出力工程と、を有することを特徴とするエラー解析方法。
- 前記エラー解析方法は、前記エラー再現処理工程で再度エラーが発生すると、所定のパルス信号を発生して出力するパルス信号発生工程を有することを特徴とする請求項3記載のエラー解析方法。
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