JP4890776B2 - 貴金属成分上への気泡生成防止方法 - Google Patents
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Description
すなわち、上記公知方法では泡は猶生成され、結果的に欠陥のあるガラスが製造されてしまうのである。
Pt,O2(1)/ZrO2+xY2O3/溶融物,O2(2)/Pt、の起電力EMFから以下の式に従って測定することができる。
pO2(2)=pO2(1)*e−E4F/(RT)
式中、Fはファラデー定数、Rはガス定数、Tは°K単位でのガラス中温度を表す。等温でない溶融物を用いる場合は、前記測定電極及び参照電極の温度は別々に測定されなければならない。そのため酸素分圧の算出には以下に示す展開された式が必要である。
PO2(S)=exp((4*F/R*T(S))*(E−(−0.0004739)*(T(S)−T(R))+T(R)/T(S) *InpO2(R)
上記式において、
Tは白金測定電極部位における前記溶融物温度である。
T(R)はZrO2参照電極部位における温度である。
PO2(R)は参照電極のすすぎガスの酸素分圧である。
−0.0004739V/Kは溶融物及び/または酸化物のゼーベック係数である。
さらに詳しい内容については、Baucke著「ガラス及びガラス溶融物、ガラス電極の電気化学」、Springer Verlag Berlin Heidelberg New York,2000年を参照されたい。
図1は本発明の特徴を備える装置を第一の例示的実施態様として示した図である。図中、10は溶融部であり、11は前記溶融部中に位置するガラス溶融物を示す。溶融部10は概略的にのみ図示され、溶融及び清澄のため他の構成部分は示されていない。溶融部10は送流路12を介して撹拌型るつぼ13へ連絡される。図示された例示的実施態様では、送流路12及び撹拌型るつぼ13は白金あるいは白金合金から成る。さらに、反対電極14は溶融部10内のガラス溶融物11部分中に設置され、配線15によって制御システム16へ接続される。反対電極14を別の箇所へ設置することも可能である。反対電極14は撹拌型るつぼ13の上流、特に清澄部の上流へ設置することが重要である。
11 ガラス溶融物
12 送流路
13 撹拌型るつぼ
14 反対電極
15 配線
16 制御システム
17 流出口
18 撹拌装置
19 駆動装置
20 参照電極
21 電極
22 供給管
23 放出管
24 配線
25 評価ユニット
26 配線
27 温度測定装置
28 配線
29 配線
30 配線
31 温度測定装置
32 配線
33 配線
34 評価ユニット
35 配線
36 配線
37 配線
38 配線
39 調節ユニット
40 配線
41 撹拌型るつぼ
42 制御システム
43 送流路
44 ガス管
45 調節ユニット
46 ガス管
47 ガス管
48 ガス管
49 洗浄容器
50 流出口
Claims (12)
- 溶融ガラスが貴金属壁によって少なくとも部分的に封入され、溶融ガラスの酸素分圧が、乱れを防ぐべく処理手段によって変化を受けるガラスの製造方法であって、
前記処理手段は、酸素分圧を測定するための貴金属電極(21)がガラス溶融物中に設置され、この貴金属電極(21)部位における酸素分圧を目標値とし、前記貴金属壁(12,43)部位における酸素分圧を実際値として、酸素分圧を調節する調節システム(39,45)であることを特徴とするガラス製造方法。 - 同一参照電極(20)を用いて前記目標値及び実際値を測定することを特徴とする請求項1項記載の方法。
- 前記酸素分圧を前記電極対の前記測定電極(21)及び前記参照電極(20)間の起電力EMFを介して測定することを特徴とする請求項1又は2に記載の方法。
- 反対電極(14)をガラス溶融物の上流へ設置して酸素分圧を変化させることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法。
- 逆方向電圧を前記反対電極(14)と前記貴金属壁(12)との間へ加えることを特徴とする請求項4項記載の方法。
- 反対電極に耐熱性金属を用いること及び前記反対電極が導電方式で前記貴金属壁と接続されることを特徴とする請求項5項記載の方法。
- 前記逆方向電圧が調節装置(16)によって調節されることを特徴とする請求項4〜6のいずれか一項に記載の方法。
- 一定分圧をもつ水素ガスあるいは水蒸気をガラス溶融物から離れて対向する前記貴金属壁(43)側面へ向けることにより前記酸素分圧を変化させることを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。
- 溶融ガラスを少なくとも部分的に取り囲む少なくとも1個の貴金属壁あるいは耐熱性金属壁を含み、ガラス溶融物中の酸素分圧を調節する調節システム(39、45)を備えることを特徴とする、請求項1〜8のいずれか一項に記載の方法を実施するための装置。
- ガラス溶融物中の酸素分圧を前記調節システム(39、45)の目標値として測定する第一電極対(20、21)と、前記調節システム(39、45)の実際値として測定する第二電極対(12、43、21)を備えることを特徴とする請求項9項記載の装置。
- 前記第一電極対(20、21)及び第二電極対(12、43、20)が共通の参照電極(20)をもつことを特徴とする請求項10項記載の装置。
- 請求項1〜8のいずれか一項に記載の方法に従い、かつ請求項9〜11のいずれか一項に記載の装置を用いて得られるガラスの、LCD、TFT、モニター、テレビスクリーン、光学レンズ、調理器具、マイクロウェーブ器具、調理台、窓ガラス、ランプガラス、及びディスプレイ用ガラス製造のための使用。
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