JP4870031B2 - Pickup device - Google Patents

Pickup device Download PDF

Info

Publication number
JP4870031B2
JP4870031B2 JP2007155957A JP2007155957A JP4870031B2 JP 4870031 B2 JP4870031 B2 JP 4870031B2 JP 2007155957 A JP2007155957 A JP 2007155957A JP 2007155957 A JP2007155957 A JP 2007155957A JP 4870031 B2 JP4870031 B2 JP 4870031B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
suction
pickup
pickup position
unit
suction collet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007155957A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2008311329A (en
Inventor
雅生 小口
Original Assignee
大崎エンジニアリング株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 大崎エンジニアリング株式会社 filed Critical 大崎エンジニアリング株式会社
Priority to JP2007155957A priority Critical patent/JP4870031B2/en
Publication of JP2008311329A publication Critical patent/JP2008311329A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4870031B2 publication Critical patent/JP4870031B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Die Bonding (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

本発明は半導体チップなどのピックアップ対象物を高速でピックアップできるピックアップ装置に関する。   The present invention relates to a pickup device that can pick up a pickup object such as a semiconductor chip at high speed.

従来から、ICチップ等の半導体チップをプリント基板等に装着する方法として熱圧着方法が採用されている。半導体ウエハから切り出した状態で配列された多数の半導体チップは、粘着性のシートの片面にそのまま貼着され、二次元的に駆動制御されるリング状の架台に装着される。架台に支持された複数の半導体チップはピックアップ装置で1つずつピックアップされて熱圧着部に受け渡される。   Conventionally, a thermocompression bonding method has been adopted as a method of mounting a semiconductor chip such as an IC chip on a printed circuit board or the like. A large number of semiconductor chips arranged in a state of being cut out from a semiconductor wafer are directly attached to one side of an adhesive sheet, and are mounted on a ring-shaped pedestal that is two-dimensionally driven and controlled. The plurality of semiconductor chips supported on the gantry are picked up one by one by a pickup device and delivered to the thermocompression bonding section.

一般的なピックアップ装置は、半導体チップを装着した架台の下方に配置される突き上げユニットと、それに対向するように架台の上方に配置される吸着コレットを備えている。吸着コレットは真空吸着口を有する単一の吸着部を有し、その吸着部が半導体チップを支持する架台側とその反対側に配置された圧着部に交互に対向するように、吸着コレットは昇降および往復回転駆動される。このようなピックアップ装置は例えば特許文献1に記載されている。一方、ピックアップ速度を上げる技術として、吸着コレットの本体に複数の吸着部を設け、吸着コレットを回転させることにより複数の吸着部を順次架台に対向させながら半導体チップを次々と吸着していく方法が特許文献2に記載されている。   A general pickup device includes a push-up unit disposed below a gantry on which a semiconductor chip is mounted, and an adsorption collet disposed above the gantry so as to face the unit. The suction collet has a single suction part with a vacuum suction port, and the suction collet is raised and lowered so that the suction part alternately faces the cradle side supporting the semiconductor chip and the crimping part arranged on the opposite side. And reciprocatingly driven. Such a pickup device is described in Patent Document 1, for example. On the other hand, as a technique for increasing the pickup speed, there is a method in which a plurality of suction portions are provided in the main body of the suction collet and the semiconductor chips are sequentially sucked while rotating the suction collet while sequentially facing the plurality of suction portions to the gantry. It is described in Patent Document 2.

ピックアップ装置にはさらにピックアップ位置を照明する照明部と、照明されたピックアップ位置を撮像する撮像部と、撮像部で撮像されたピックアップ位置情報を基に、ピックアップすべき半導体チップがピックアップ位置に一致するように、半導体チップを支持した架台を二次元的に駆動制御する制御装置が設けられる。   The pickup device further includes an illumination unit that illuminates the pickup position, an imaging unit that images the illuminated pickup position, and a semiconductor chip to be picked up based on the pickup position information captured by the imaging unit. As described above, a control device that two-dimensionally drives and controls the gantry supporting the semiconductor chip is provided.

図8は単一の吸着部を有する一般的なピックアップ装置を利用して半導体チップをピックアップする方法を説明する模式的な図である。ピックアップ装置1は吸着コレット2、突き上げユニット3、吸着対象物4を支持する架台5、架台5を二次元的に駆動する二次元駆動手段6、照明部7、撮像部8および制御装置9を備えている。吸着コレット2は本体10とその本体10に設けた吸着部11を有し、本体10は回転軸12を回転中心として図示しない回転駆動手段で矢印A方向に180度往復回転駆動されると共に、図示しない昇降駆動手段により矢印B方向に昇降駆動される。   FIG. 8 is a schematic diagram for explaining a method of picking up a semiconductor chip using a general pickup device having a single suction part. The pickup device 1 includes a suction collet 2, a push-up unit 3, a gantry 5 that supports the suction object 4, two-dimensional driving means 6 that drives the gantry 5 two-dimensionally, an illumination unit 7, an imaging unit 8, and a control device 9. ing. The suction collet 2 has a main body 10 and a suction portion 11 provided on the main body 10, and the main body 10 is reciprocally rotated 180 degrees in the direction of arrow A by a rotation driving means (not shown) around the rotation shaft 12. It is lifted and lowered in the direction of arrow B by the lift drive means that does not.

吸着対象物4は粘着シート13上に配列した複数の半導体チップ14である。先ず吸着コレット2を点線の位置に回転すると共に下降させることにより、その吸着部11が架台5側に対向し、ピックアップ位置Pに一致している半導体チップ14が真空吸着力により吸着できる状態となる。その際、吸着部11に半導体チップ14が密着するように突き上げユニット3が上昇駆動される。   The adsorption object 4 is a plurality of semiconductor chips 14 arranged on the adhesive sheet 13. First, by rotating and lowering the suction collet 2 to the position of the dotted line, the suction part 11 faces the gantry 5 side, and the semiconductor chip 14 coinciding with the pickup position P can be sucked by the vacuum suction force. . At that time, the push-up unit 3 is driven up so that the semiconductor chip 14 is in close contact with the suction portion 11.

次に吸着部11で半導体チップ14を吸着した吸着コレット2を上昇させながら180度回転し、上方に待機する圧着ヘッド15の吸着部16に半導体チップ14を受け渡す。この状態の吸着コレット2が実線で示されている。次に半導体チップ14を受け取った圧着ヘッド15を矢印C方向に水平移動し、さらに矢印D方向に下降させて圧着ステージ17上に配置した基板18の所定位置に半導体チップ14を圧着する。   Next, the suction collet 2 having sucked the semiconductor chip 14 by the suction part 11 is rotated 180 degrees while being lifted, and the semiconductor chip 14 is delivered to the suction part 16 of the crimping head 15 waiting upward. The suction collet 2 in this state is indicated by a solid line. Next, the crimping head 15 that has received the semiconductor chip 14 is moved horizontally in the direction of arrow C, and further lowered in the direction of arrow D to crimp the semiconductor chip 14 to a predetermined position on the substrate 18 placed on the crimping stage 17.

前記照明部7の照射方向および撮像部8の撮像方向は点線の矢印Eと実線の矢印Fのように真上からピックアップ位置に向かうようになっている。そして吸着コレット2が実線の状態にあるときに、照明部7の照射光がピックアップ位置の領域を照射すると共に、その反射光を利用して撮像部8がピックアップ位置を撮像する。   The illumination direction of the illumination unit 7 and the imaging direction of the imaging unit 8 are directed from directly above to the pickup position as indicated by a dotted arrow E and a solid arrow F. When the suction collet 2 is in a solid line state, the irradiation light of the illumination unit 7 irradiates the area at the pickup position, and the imaging unit 8 images the pickup position using the reflected light.

その際、ピックアップ位置には前回のピックアップ操作により半導体チップ14が除かれた状態になっているので、その状態を撮像したピックアップ位置情報を受けた制御装置9は、次にピックアップすべき半導体チップ14がピックアップ位置Pに一致するように二次元駆動手段6を駆動制御する。以下、上記操作を繰り返して半導体チップ14を次々とピックアップする。   At this time, since the semiconductor chip 14 is removed at the pickup position by the previous pickup operation, the control device 9 that has received the pickup position information obtained by imaging the state picks up the semiconductor chip 14 to be picked up next. The two-dimensional drive means 6 is controlled to be matched with the pickup position P. Thereafter, the above operation is repeated to pick up the semiconductor chips 14 one after another.

特開200―196442号公報Japanese Patent Laid-Open No. 200-196442 特開2004−172548号公報JP 2004-172548 A

一般に、架台5に支持された半導体チップ14を吸着コレット2でピックアップして圧着ヘッド15に受け渡すサイクルにかかる速度と、圧着ヘッド15で受け取った半導体チップ14を基板18に圧着するサイクルにかかる速度を比較すると、前者より後者の速度は短い。そのため半導体チップ14のピックアップ速度は吸着コレット2の速度に左右されることになる。   In general, the speed required for the cycle in which the semiconductor chip 14 supported by the gantry 5 is picked up by the suction collet 2 and delivered to the crimping head 15, and the speed required for the cycle in which the semiconductor chip 14 received by the crimping head 15 is crimped to the substrate 18. Are compared, the latter speed is shorter than the former. Therefore, the pick-up speed of the semiconductor chip 14 depends on the speed of the suction collet 2.

そこで、吸着コレットの速度を速くする方法として、前記特許文献2に記載されているように、吸着コレット2に複数の吸着部11を設け、それら吸着部11で順次半導体チップ14を吸着させる方法が考えられる。しかし吸着コレット2に例えば2つの吸着部11を設けた場合、図8のようにピックアップ位置Pの真上に設けた照明部7からの照射光と撮像部8に入射する撮像は、いずれかもその下方に存在する吸着部11に遮られてピックアップ位置の撮像ができないという問題が生じる。   Therefore, as described in Patent Document 2, as a method for increasing the speed of the suction collet, there is a method in which a plurality of suction portions 11 are provided in the suction collet 2 and the semiconductor chips 14 are sequentially sucked by the suction portions 11. Conceivable. However, when two suction portions 11 are provided on the suction collet 2, for example, the irradiation light from the illumination portion 7 provided immediately above the pickup position P and the imaging incident on the imaging portion 8 as shown in FIG. There arises a problem that the pickup position cannot be picked up by being blocked by the suction portion 11 existing below.

そこで本発明はこのような問題を解決することを課題とし、そのための吸着コレットの高速化とピックアップ位置の撮像の両方を可能とする新しいピックアップ装置を提供することを目的とする。   SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a new pickup device that can solve both of these problems, and that enables both the speed of the suction collet and the imaging of the pickup position.

前記課題を解決する本発明のピックアップ装置は、昇降および180度往復回転する吸着コレット(2) と、ピックアップ位置Pの領域を照明する照明部(7)と、ピックアップ位置Pを撮像する撮像部(8) と、吸着対象物(4)を支持する架台(5)とを備え吸着コレット(2) は本体(10)と、本体(10)に180度向きを変えて設けた2つの吸着部(11)を備え、本体(10)が180度回転するごとに2つの吸着部(11)が交互に架台(5)のピックアップ位置Pに対向するように構成され、照明部(7)の照射方向と撮像部(8) の撮像方向が吸着コレット(2) を避けて該吸着コレット(2) の斜め上方から前記ピックアップ位置Pの領域に向けられて、
前記吸着コレット(2) に反射ミラー(10a) が設けられ、前記180度の往復回転の途中の吸着コレット(2) が特定の回転角度に達したときに、前記照明部(7)からの照射光が反射ミラー(10a) を介してピックアップ位置Pを照射し、前記撮像部(8) がピックアップ位置Pを撮像するように構成されていることを特徴とする(請求項1)。
The pick-up device of the present invention that solves the above problems includes an adsorption collet (2) that moves up and down and reciprocates 180 degrees, an illuminating unit (7) that illuminates the area of the pick-up position P, and an image-capturing unit that images the pick-up position P ( 8) and a gantry (5) for supporting the object to be adsorbed (4) , and the adsorbing collet (2) is provided with the main body (10) and two adsorbing portions provided on the main body (10) with the direction turned 180 degrees. (11), and each time the main body (10) rotates 180 degrees, the two suction portions (11) are alternately opposed to the pickup position P of the gantry (5), and the illumination portion (7) is irradiated. Direction and the imaging direction of the imaging unit (8) are directed from the diagonally upper side of the suction collet (2) to the area of the pickup position P, avoiding the suction collet (2),
A reflection mirror (10a) is provided on the suction collet (2), and when the suction collet (2) in the middle of the 180-degree reciprocating rotation reaches a specific rotation angle, irradiation from the illumination unit (7) is performed. The light irradiates the pickup position P via the reflection mirror (10a), and the imaging unit (8) is configured to image the pickup position P (claim 1).

請求項1において、前記2つの吸着部(11)のうち一方のみの側面に反射ミラー(10a) が設けられ、吸着コレット(2)が時計方向および反時計方向に往復回転するそれぞれの途中で特定の回転角度に達したときに、前記照明部(7)からの照射光が反射ミラー(10a) を介してピックアップ位置Pを照射し、前記撮像部(8) がピックアップ位置Pを撮像するように構成されていることを特徴とするピックアップ装置(請求項2)。 In Claim 1, a reflecting mirror (10a) is provided on only one side surface of the two suction portions (11), and the suction collet (2) is specified in the middle of each reciprocating rotation in the clockwise and counterclockwise directions. When the rotation angle is reached, the irradiation light from the illumination unit (7) irradiates the pickup position P via the reflection mirror (10a), and the imaging unit (8) images the pickup position P. A pickup device characterized in that it is configured (claim 2).

上記いずれかのピックアップ装置において、前記撮像部からのピックアップ位置情報を基に、吸着対象物がピックアップ位置に一致するように前記架台を駆動制御する制御装置を設け、吸着コレット(2)が対象物(4)を吸着するまで回転途中の間に、前記架台(5)を駆動制御することができる(請求項3)。 In any one of the above-described pickup devices, a control device is provided for driving and controlling the gantry so that the suction object matches the pickup position based on the pickup position information from the imaging unit , and the suction collet (2) is the target. The gantry (5) can be driven and controlled during the rotation until (4) is adsorbed (Claim 3).

上記制御装置を設けたピックアップ装置において、前記吸着対象物が粘着シート上に配列された複数の半導体チップである場合、ピックアップすべき半導体チップをピックアップ位置に移動するための二次元駆動手段を前記架台に備え、その二次元駆動手段を前記制御装置で駆動制御するように構成することができる(請求項4)。   In the pickup device provided with the control device, when the suction object is a plurality of semiconductor chips arranged on an adhesive sheet, two-dimensional driving means for moving the semiconductor chip to be picked up to the pickup position is provided on the mount The two-dimensional drive means can be configured to be driven and controlled by the control device (claim 4).

上記ピックアップ装置において、前記吸着コレットの斜め上方から撮像したピックアップ位置情報を吸着コレットの真上から撮像したピックアップ位置情報に修正する修正手段を制御装置に設け、その修正されたピックアップ位置情報を基に、制御装置が前記架台を駆動制御するように構成することができる(請求項5)。   In the above pickup apparatus, the control device is provided with correction means for correcting the pickup position information imaged from obliquely above the suction collet to the pickup position information imaged from directly above the suction collet, and based on the corrected pickup position information. The control device can be configured to drive and control the gantry.

本発明のピックアップ装置は、請求項1に記載のように、吸着コレットに2つの吸着部が設けられ、それら吸着部を交互に用いて吸着対象物を吸着するので、吸着コレットの高速化を図れる。それと共に、照明部の照射方向と撮像部の撮像方向が吸着コレットを避けて該吸着コレットの斜め上方から前記ピックアップ位置の領域に向けられているので、往復回転駆動される吸着コレットに2つの吸着部を設けても、ピックアップ位置の撮像が可能になる。   According to the pickup device of the present invention, as described in claim 1, the suction collet is provided with two suction parts, and these suction parts are alternately used to suck the suction object, so that the speed of the suction collet can be increased. . At the same time, since the irradiation direction of the illumination unit and the imaging direction of the imaging unit are directed from the diagonally upper side of the suction collet to the pickup position area avoiding the suction collet, two suctions are performed on the suction collet that is driven to reciprocate. Even if the portion is provided, the pickup position can be imaged.

さらに、吸着コレットに反射ミラーを設け、その180度の回転の途中の吸着コレットが特定の回転角度に達したときに、照明部からの照射光が反射ミラーを介してピックアップ位置の領域を照射し、撮像部でピックアップ位置を撮像するように構成したので、撮像のための準備時間等の時間のロスをなくし、対象物を高速でピックアップできる。それと共に、照明部から反射ミラーを経由してピックアップ位置の領域を照射できるので、照明部の設定位置の自由度が増え、例えば撮像部との間隔に左右されずに照明部の位置を設定でき、結果として装置をコンパクト化できる。
また、請求項2に記載のように、前記2つの吸着部(11)のうち一方のみの側面に反射ミラー(10a) を設け、吸着コレット(2)を時計方向および反時計方向にそれぞれ往復回転する途中で特定の回転角度に達したときに、前記照明部(7)からの照射光を反射ミラー(10a) を介してピックアップ位置Pに照射し、前記撮像部(8) がピックアップ位置Pを撮像するようにした場合には、吸着コレット(2)の構造が簡単となり、軽量で吸着コレット(2)の回転、移動を正確に且つ迅速に行える。
In addition, a reflection mirror is provided on the suction collet, and when the suction collet during the 180-degree rotation reaches a specific rotation angle, the irradiation light from the illumination unit irradiates the area at the pickup position via the reflection mirror. Since the imaging unit is configured to image the pickup position, it is possible to eliminate a time loss such as a preparation time for imaging and pick up an object at high speed. At the same time, since the area of the pickup position can be irradiated from the illumination unit via the reflection mirror, the degree of freedom of the setting position of the illumination unit is increased. As a result, the apparatus can be made compact.
Further, as described in claim 2, a reflection mirror (10a) is provided on only one side surface of the two suction portions (11), and the suction collet (2) is reciprocally rotated clockwise and counterclockwise, respectively. When a specific rotation angle is reached in the middle of the process, the irradiation light from the illumination unit (7) is applied to the pickup position P via the reflection mirror (10a), and the imaging unit (8) sets the pickup position P. When imaging is performed, the structure of the suction collet (2) is simplified, and the suction collet (2) can be rotated and moved accurately and quickly with a light weight.

上記いずれかのピックアップ装置において、請求項3に記載のように、撮像部からのピックアップ位置情報を基に、吸着対象物がピックアップ位置に一致するように架台を駆動制御する制御装置を設け、吸着コレット(2)が対象物(4)を吸着するまでの間に、前記架台(5)を駆動制御することができる。このように構成すると、吸着対象物を迅速にピックアップ位置に移動させ、架台の位置決め時間が吸着コレット(4)の回転時間に含まれて、装置の高速化を図れるAbove in any one of the pick-up device, as claimed in claim 3, based on the pick-up position information from the imaging unit, provided with a control unit for driving and controlling the gantry so adsorbed object matches the pick-up position, the suction Until the collet (2) adsorbs the object (4), the gantry (5) can be driven and controlled . With this configuration, the suction object can be quickly moved to the pickup position, and the positioning time of the gantry is included in the rotation time of the suction collet (4), so that the speed of the apparatus can be increased .

上記制御装置を設けたピックアップ装置において、請求項4に記載のように、吸着対象物が粘着シート上に配列された複数の半導体チップである場合、架台にピックアップすべき半導体チップをピックアップ位置に移動するための二次元駆動手段を備え、その二次元駆動手段を前記制御装置で駆動制御するように構成することができる。このように構成すると、架台に支持された複数の半導体チップの中から、ピックアップすべきものを迅速にピックアップ位置に移動させることができる。   In the pickup device provided with the control device, as described in claim 4, when the object to be sucked is a plurality of semiconductor chips arranged on the adhesive sheet, the semiconductor chip to be picked up on the gantry is moved to the pickup position. It is possible to provide a two-dimensional drive means for controlling the two-dimensional drive means by the control device. If comprised in this way, the thing which should be picked up from the several semiconductor chip supported by the mount frame can be moved to a pick-up position rapidly.

上記ピックアップ装置において、請求項5に記載のように、制御装置に吸着コレットの斜め上方から撮像したピックアップ位置情報を吸着コレットの真上から撮像したピックアップ位置情報に修正する修正手段を設け、その修正されたピックアップ位置情報を基に、前記架台を駆動制御するように構成することができる。このように構成すると、架台に支持された複数の半導体チップの中から、ピックアップすべきものを迅速かつ正確にピックアップ位置に移動させることができる。   In the above pickup apparatus, as described in claim 5, the control device is provided with a correction means for correcting the pickup position information imaged from obliquely above the suction collet to the pickup position information imaged from directly above the suction collet. The gantry can be configured to drive and control based on the pickup position information. If comprised in this way, the thing which should be picked up from the several semiconductor chip supported by the mount frame can be moved to a pick-up position rapidly and correctly.

次に、図面に基づいて本発明の最良の実施形態を説明する。図1は本発明に係るピックアップ装置の主要部を模式的に示す図であり、図8と同じ部分には同一符号が付されている。   Next, the best embodiment of the present invention will be described based on the drawings. FIG. 1 is a diagram schematically showing a main part of a pickup device according to the present invention, and the same parts as those in FIG.

本実施形態が図8の例と異なる部分は,吸着コレット2に2つの吸着部11が設けられていること、照明部7の照射方向と撮像部8の撮像方向が吸着コレット2を避けて該吸着コレット2の斜め上方からピックアップ位置Pの領域に向けられていること、および制御装置9の制御プログラム等であり、そのほかは同様に構成される。なお図8には示されている圧着ヘッド等は図面上省略されている。   8 is different from the example of FIG. 8 in that the suction collet 2 is provided with two suction parts 11, and the irradiation direction of the illumination part 7 and the imaging direction of the imaging part 8 avoid the suction collet 2. It is directed from the diagonally upper side of the suction collet 2 to the area of the pickup position P, the control program of the control device 9 and the like. Note that the crimping head and the like shown in FIG. 8 are omitted in the drawing.

吸着コレット2は互いに密着した2つの本体10を有し、各本体10にはそれぞれ吸着部11が設けられ、一方の本体10の側面のみに反射ミラー10aが設けられている。各吸着部11の前面には図示しない真空装置に連通する吸着口が開口しており、真空装置による真空吸着力で吸着対象物4としての半導体チップ14を吸着するようになっている。吸着コレット2は図示しない回転駆動手段により回転軸12を中心として180度往復回転駆動されると共に、図示しない昇降駆動手段により架台5方向に上下往復駆動され、それらの駆動制御信号は制御装置9から出力される。なお吸着コレット2に対向するように架台5の下側に突き上げユニット3が配置される。   The suction collet 2 has two main bodies 10 that are in close contact with each other, each main body 10 is provided with a suction portion 11, and a reflection mirror 10 a is provided only on a side surface of one main body 10. A suction port communicating with a vacuum device (not shown) is opened on the front surface of each suction portion 11 so that the semiconductor chip 14 as the suction target 4 is sucked by the vacuum suction force of the vacuum device. The suction collet 2 is reciprocally rotated 180 degrees around the rotation shaft 12 by a rotation driving means (not shown), and is reciprocated up and down in the direction of the gantry 5 by an elevating driving means (not shown). Is output. A push-up unit 3 is disposed below the gantry 5 so as to face the suction collet 2.

照明部7は発光ダイオードや半導体レーザ等で構成することができ、図示しない装置フレームに高さ調整および角度調整可能に取り付けられる。照明部7の照射方向(照射軸)は前記のようにピックアップ位置Pの領域に向けられる。   The illumination unit 7 can be composed of a light emitting diode, a semiconductor laser, or the like, and is attached to a device frame (not shown) so that the height and angle can be adjusted. The irradiation direction (irradiation axis) of the illumination unit 7 is directed to the area of the pickup position P as described above.

撮像部8は半導体撮像部とレンズ機構を備えたテレビカメラ等で構成することができ、図示しないフレームに高さ調整および角度調整可能に取り付けられる。その撮像方向(吸着対象物からの反射光を受光する光軸)は前記のようにピックアップ位置Pの領域に向けられている。撮像部8から出力される撮像信号(ピックアップ位置情報)は制御装置9に入力され、制御装置9は入力されたそのピックアップ位置情報を基に、ピックアップすべき吸着対象物4がピックアップ位置に一致するように架台5の二次元駆動手段6を制御する。   The imaging unit 8 can be constituted by a television camera or the like provided with a semiconductor imaging unit and a lens mechanism, and is attached to a frame (not shown) so that the height and angle can be adjusted. The imaging direction (the optical axis that receives the reflected light from the suction object) is directed to the area of the pickup position P as described above. An imaging signal (pickup position information) output from the imaging unit 8 is input to the control device 9, and the control device 9 matches the pickup object 4 to be picked up with the pickup position based on the input pickup position information. Thus, the two-dimensional drive means 6 of the gantry 5 is controlled.

図2は架台5とそれを二次元的(X−Y方向)に駆動する二次元駆動手段6の1例を模式的に示す斜視図である。なお本実施形態の吸着対象物4は半導体ウエファーに形成された複数の半導体チップ14であり、半導体ウエファーからカッターで互いに切り離された各半導体チップ14は粘着シート13(図1参照)上に縦横に二次元的に配列されている。   FIG. 2 is a perspective view schematically showing an example of the gantry 5 and two-dimensional driving means 6 for driving it two-dimensionally (XY direction). The adsorption object 4 of the present embodiment is a plurality of semiconductor chips 14 formed on a semiconductor wafer, and the semiconductor chips 14 separated from each other by a cutter are vertically and horizontally on an adhesive sheet 13 (see FIG. 1). It is arranged two-dimensionally.

二次元駆動手段6はX駆動部20とY駆動部21を備えている。X駆動部20は図示しないフレームに固定された可逆モータ22と、可逆モータ22の出力軸に設けたネジ棒24を有する。Y駆動部21はフレーム25の固定された可逆モータ26と、可逆モータ26の出力軸に設けたネジ棒28を有する。フレーム25の端部にはネジ孔が形成され、そのネジ孔に前記X駆動部20を構成するネジ棒24が螺着している。Y駆動部21のネジ棒28は架台5の端部に形成されたネジ孔に螺着している。そして可逆モータ22を駆動することによりY駆動部21を介して架台5がX方向に駆動される。また、可逆モータ26を駆動することにより架台5が直接Y方向に駆動される。各ネジ棒24,28の端部は軸受23,27に軸支されている。   The two-dimensional drive unit 6 includes an X drive unit 20 and a Y drive unit 21. The X drive unit 20 includes a reversible motor 22 fixed to a frame (not shown) and a screw rod 24 provided on the output shaft of the reversible motor 22. The Y drive unit 21 includes a reversible motor 26 fixed to a frame 25 and a screw rod 28 provided on the output shaft of the reversible motor 26. A screw hole is formed at an end of the frame 25, and a screw rod 24 constituting the X drive unit 20 is screwed into the screw hole. The screw rod 28 of the Y drive unit 21 is screwed into a screw hole formed at the end of the gantry 5. Then, by driving the reversible motor 22, the gantry 5 is driven in the X direction via the Y drive unit 21. Further, by driving the reversible motor 26, the gantry 5 is directly driven in the Y direction. End portions of the screw rods 24 and 28 are pivotally supported by bearings 23 and 27.

図3は制御装置9とそれに接続される関連機器のブロック図である。制御装置9は例えばパソコンなどのコンピュータ装置で構成することができ、制御部(中央演算装置)30、記憶部31、表示部32、入力部33、およびインターフェイス34,35を有する。制御部30は制御プログラムに従い各駆動手段を制御する。記憶部31にはその制御プログラムが記憶されると共に、検出情報や各駆動手段の制御状況なども記憶することができる。表示部32は液晶ディスプレーで構成され、記憶部31に記憶された検出情報や入力部33からの入力情報等を表示する。入力部33はキーボードやマウスで構成され、ピックアップ装置1の起動―停止操作、制御の初期条件や必要な制御パラメータ等の入力を行う。   FIG. 3 is a block diagram of the control device 9 and related devices connected thereto. The control device 9 can be configured by a computer device such as a personal computer, for example, and includes a control unit (central processing unit) 30, a storage unit 31, a display unit 32, an input unit 33, and interfaces 34 and 35. The control unit 30 controls each driving unit according to the control program. The storage unit 31 stores the control program, and can also store detection information, the control status of each driving unit, and the like. The display unit 32 is configured by a liquid crystal display, and displays detection information stored in the storage unit 31, input information from the input unit 33, and the like. The input unit 33 is composed of a keyboard and a mouse, and inputs start-up and stop operations of the pickup device 1, initial conditions for control, necessary control parameters, and the like.

インターフェイス34は、撮像部8と制御部30間の信号変換を行うために設けられ、インターフェイス35は、架台5の二次元駆動手段6、吸着コレット2の昇降駆動手段36や回転駆動手段37と制御部30間の信号変換を行うために設けられる。   The interface 34 is provided to perform signal conversion between the imaging unit 8 and the control unit 30, and the interface 35 controls the two-dimensional driving unit 6 of the gantry 5, the lifting / lowering driving unit 36 and the rotation driving unit 37 of the suction collet 2. It is provided for performing signal conversion between the units 30.

次に、図4(A)〜(D),図5(A)〜(D)を参照し、ピックアップ装置1のピックアップ動作について説明する。
先ず図4(A)は、初期位置を示し、本体10の吸着部11が垂直状態にあり、その反射ミラー10aが斜め上方に向けられている。そのため、照明部7からの光は上方に反射されている。また、ピックアップすべき半導体チップ14は、制御装置により吸着部11のおおよそ直下に位置されている。次に、制御装置9から回転駆動手段37に回転駆動信号が出力されて吸着コレット2が時計周りに180度回転する。
Next, the pickup operation of the pickup device 1 will be described with reference to FIGS. 4 (A) to (D) and FIGS. 5 (A) to (D).
First, FIG. 4 (A) shows the initial position, the suction part 11 of the main body 10 is in a vertical state, and the reflection mirror 10a is directed obliquely upward. Therefore, the light from the illumination unit 7 is reflected upward. Further, the semiconductor chip 14 to be picked up is positioned approximately directly below the suction portion 11 by the control device. Next, a rotation drive signal is output from the control device 9 to the rotation drive means 37, and the suction collet 2 rotates 180 degrees clockwise.

吸着コレット2が180度回転する途中の図4(B)の1時期に、照明部7からの照射光が反射ミラー10aを介してピックアップ位置Pの比較的狭い領域に照射される。ピックアップ位置Pの領域に光が照射されると、撮像部8にはピックアップ位置Pの反射映像がピックアップ位置情報として入光され、撮像されたピックアップ位置情報はインターフェイス34を介して制御部30に入力される。なお反射映像は半導体チップの反射率と粘着シートの反射率の差を利用して認識する。この粘着シートの映像は各半導体チップの境目に存在する。   4B when the suction collet 2 is rotated 180 degrees, the irradiation light from the illumination unit 7 is applied to a relatively narrow region of the pickup position P through the reflection mirror 10a. When the area of the pickup position P is irradiated with light, the reflected image of the pickup position P is incident on the imaging unit 8 as pickup position information, and the picked-up pickup position information is input to the control unit 30 via the interface 34. Is done. The reflected image is recognized using the difference between the reflectance of the semiconductor chip and the reflectance of the adhesive sheet. The image of this adhesive sheet exists at the boundary of each semiconductor chip.

次に、図4(C)の如く、ピックアップすべき半導体チップ14がピックアップ位置に正確に一致するように、制御装置9は二次元駆動手段6のX駆動部20とY駆動部21に制御信号を出力し、架台を二次元的(XY方向)に駆動制御する。そしてピックアップすべき半導体チップ14がピックアップ位置に正確に一致するように補正し、二次元駆動手段6の駆動制御を停止する。この架台5の駆動制御は、図4(C)では吸着コレット2の回転駆動中に行っているが、吸着コレット2が180度完全に回転して、その吸着コレット2が停止した状態で行ってもよい。   Next, as shown in FIG. 4C, the control device 9 sends control signals to the X drive unit 20 and the Y drive unit 21 of the two-dimensional drive means 6 so that the semiconductor chip 14 to be picked up accurately matches the pickup position. Is output and the gantry is driven and controlled two-dimensionally (XY direction). Then, the semiconductor chip 14 to be picked up is corrected so as to exactly match the pick-up position, and the drive control of the two-dimensional drive means 6 is stopped. The drive control of the gantry 5 is performed while the suction collet 2 is rotationally driven in FIG. 4C, but is performed in a state where the suction collet 2 is completely rotated 180 degrees and the suction collet 2 is stopped. Also good.

次いで、図4(D)の如く、吸着コレット2を制御装置9により下降し、反射ミラー10aのない本体10の吸着部11により半導体チップ14を吸着して上昇させる。このとき、制御装置9は突き上げユニット3を上昇駆動し、突き上げユニット3の鋭利な先端部が粘着シート13を貫通して半導体チップ14を持ち上げる。同時に制御部9は昇降駆動手段36を下降駆動し、それにより下側に回転した吸着部11を半導体チップ14の上面に接触させてそれを吸着し、次いで昇降駆動手段36を上昇駆動して半導体チップ14をピックアップすると共に、さらに次に述べるように回転駆動手段37を回転駆動し、上向きになった状態の半導体チップ14を圧着ヘッドに受け渡す。     Next, as shown in FIG. 4D, the suction collet 2 is lowered by the control device 9, and the semiconductor chip 14 is sucked and raised by the suction portion 11 of the main body 10 without the reflection mirror 10a. At this time, the control device 9 drives the push-up unit 3 upward, and the sharp tip of the push-up unit 3 penetrates the adhesive sheet 13 to lift the semiconductor chip 14. At the same time, the controller 9 drives the lift drive means 36 downward, thereby bringing the suction part 11 rotated downward into contact with the upper surface of the semiconductor chip 14 and sucking it, and then raising and lowering the lift drive means 36 to drive the semiconductor. In addition to picking up the chip 14, the rotation driving means 37 is further rotated as described below, and the semiconductor chip 14 in the upward state is delivered to the pressure-bonding head.

次に、制御装置により、次のピックアップすべき半導体チップ14をピックアップ位置にほぼ一致するように、二次元駆動手段6を駆動制御する。次いで、図5(A)の如く、吸着コレット2を前記と逆方向の半時計方向に180度回転する。吸着コレット2が半時計方向に回転する途中の1時期に前記図4(A)と同様に、照明部7からの照射光が反射ミラー10aを介してピックアップ位置Pの比較的狭い領域に照射され、撮像部8にピックアップ位置Pの反射映像がピックアップ位置情報として入光され、撮像されたピックアップ位置情報は制御部30に入力される。   Next, the two-dimensional driving means 6 is driven and controlled by the control device so that the next semiconductor chip 14 to be picked up substantially coincides with the pickup position. Next, as shown in FIG. 5A, the suction collet 2 is rotated 180 degrees counterclockwise in the reverse direction. As in FIG. 4A, the irradiation light from the illuminating unit 7 is applied to a relatively narrow region at the pickup position P through the reflecting mirror 10a at one time while the suction collet 2 is rotating counterclockwise. The reflected image of the pickup position P is incident on the imaging unit 8 as pickup position information, and the picked-up pickup position information is input to the control unit 30.

次に、図5(B)の如く、ピックアップすべき半導体チップ14がピックアップ位置に正確に一致するように、制御装置9は二次元駆動手段6のX駆動部20とY駆動部21に制御信号を出力し、架台を二次元的(XY方向)に駆動制御して、半導体チップ14の位置を補正し、二次元駆動手段6の駆動制御を停止する。ついで、今度は反射ミラーを有する本体10の吸着部11により半導体チップ14を吸着する。そして次に吸着する半導体チップ14を制御装置により、ほぼ次の位置に移動する。次いで、図5(D)の如く、吸着コレット2を時計方向に、180度回転し、前記同様の操作を順次繰り返す。   Next, as shown in FIG. 5B, the control device 9 sends control signals to the X drive unit 20 and the Y drive unit 21 of the two-dimensional drive means 6 so that the semiconductor chip 14 to be picked up accurately matches the pickup position. Is output, the gantry is driven and controlled in two dimensions (XY directions), the position of the semiconductor chip 14 is corrected, and the driving control of the two-dimensional driving means 6 is stopped. Next, the semiconductor chip 14 is sucked by the suction portion 11 of the main body 10 having a reflection mirror. Then, the next semiconductor chip 14 to be sucked is moved to the next position by the control device. Next, as shown in FIG. 5D, the suction collet 2 is rotated 180 degrees in the clockwise direction, and the same operation as described above is sequentially repeated.

このように吸着コレット2を往復回転駆動させ、その往回転時と復回転時を利用してピックアップ位置情報を得る方法を採用すると、反射ミラー10aが1つで済むので、吸着コレット2の重量を軽くでき、それによってピックアップ速度をより高くすることが可能になる。本実施形態では吸着コレット2の本体10に反射ミラー10aを設けているが、照明部7と撮像部8の設置間隔に余裕がある場合は、反射ミラー10aを省略することもできる。反射ミラー10aを省略したときは、照明部7からの照射光が常にピックアップ位置Pの領域を照射できるので、架台5の位置調整に時間的余裕を持たせることができる。   When the suction collet 2 is driven to reciprocate and the pickup position information is obtained by using the forward rotation and the reverse rotation as described above, only one reflecting mirror 10a is required. It can be made lighter, which makes it possible to increase the pickup speed. In the present embodiment, the reflection mirror 10a is provided on the main body 10 of the suction collet 2, but the reflection mirror 10a can be omitted if there is a sufficient space between the illumination unit 7 and the imaging unit 8. When the reflection mirror 10a is omitted, the irradiation light from the illuminating unit 7 can always irradiate the area of the pickup position P, so that a time margin can be given to the position adjustment of the gantry 5.

本実施形態では制御装置9に吸着コレットの斜め上方から撮像したピックアップ位置情報を吸着コレットの真上から撮像したピックアップ位置情報に修正する修正手段が設けられる。すなわち、本発明では撮像部8が吸着コレットの斜め上方に配置されるが、配置位置とピックアップ位置との角度が大きくなると、得られた位置情報は真上からの撮像した場合の位置情報(正しい位置情報)に対するズレが大きくなってくる。   In the present embodiment, the control device 9 is provided with a correcting means for correcting pickup position information imaged from obliquely above the suction collet to pickup position information imaged from directly above the suction collet. That is, in the present invention, the imaging unit 8 is arranged obliquely above the suction collet. However, when the angle between the arrangement position and the pickup position is increased, the obtained position information is the position information when the image is taken from directly above (correct The deviation from (location information) becomes larger.

そのズレが許容範囲を超えるとピックアップミスを生じるおそれがあるので、それを防止するため前記修正手段が設けられる。この修正手段は制御部30により構成され、制御部30に組み込まれた修正プログラムによって自動的に行われ、本実施形態では検出位置を座標上でXY伸縮補正をする方法を採用している。   If the deviation exceeds an allowable range, there is a possibility of causing a pickup error. Therefore, the correction means is provided to prevent this. This correction means is configured by the control unit 30 and is automatically performed by a correction program incorporated in the control unit 30. In the present embodiment, a method of correcting the detected position on the coordinates by XY expansion / contraction is adopted.

XY伸縮補正法を具体的に説明すると、先ず図2のように架台5に測定対象物(吸着対象物)を支持し、図1のように撮像部8を吸着コレット2の斜め上方の所定位置に設置してその撮像方向をピックアップ位置Pに向ける。次に、ピックアップ位置Pに一致する測定対象物をその都度撮像し、正方格子を作るように各検出位置の軌跡(すなわち位置情報の軌跡)を記憶部31に記憶させる。その位置情報の例を図6(a)に示す。図6(a)は下側が撮像部8に近い領域で上側が遠い領域であり、遠いほど検出位置の間隔が狭く撮像される。   The XY expansion / contraction correction method will be specifically described. First, a measurement object (adsorption object) is supported on the gantry 5 as shown in FIG. And the imaging direction is directed to the pickup position P. Next, the measurement object that matches the pickup position P is imaged each time, and the locus of each detection position (that is, the locus of position information) is stored in the storage unit 31 so as to form a square lattice. An example of the position information is shown in FIG. In FIG. 6A, the lower side is an area close to the imaging unit 8 and the upper side is farther away, and the farther the distance is, the narrower the detection position interval is.

次に検出位置ごとに位置補正を行い、そのときの測定対象物の検出位置とXYステージの機械座標を記憶部31に記憶する。ここでXYステージの機械座標とは、撮像部8をピックアップ位置Pの真上に設置した場合の正しい検出座標を意味し、位置補正とは図6(a)の軌跡を図6(b)の座標に変換する(補正する)ことを意味する。従ってここで述べるXY伸縮補正法とは、図6(a)からXY伸縮して図6(b)のXY機械座標に変換するものをいう。   Next, position correction is performed for each detection position, and the detection position of the measurement object at that time and the machine coordinates of the XY stage are stored in the storage unit 31. Here, the mechanical coordinates of the XY stage mean correct detection coordinates when the image pickup unit 8 is installed right above the pickup position P, and the position correction means the locus of FIG. 6A as shown in FIG. 6B. It means converting to coordinates (correcting). Therefore, the XY expansion / contraction correction method described here refers to a method in which the XY expansion / contraction from FIG. 6 (a) is converted into the XY machine coordinates of FIG. 6 (b).

図7(a)は架台5に支持した粘着シート13上に配列された各半導体チップ14を吸着コレット2の斜め上方に配置した撮像部8で撮像した位置情報(変換前の位置情報)であり、それを図7(a)中に矢印で示すようにXY伸縮補正することにより、図7(b)のXY機械座標の状態に変換される。この変換(修正)操作は制御部30が記憶部31に記憶された図6(a)と図6(b)の関係を利用して自動的に行う。そして図7(b)の位置情報を基に、制御装置9が二次元駆動手段6に制御信号を出力し、架台5を二次元駆動する。   FIG. 7A shows position information (position information before conversion) obtained by imaging each semiconductor chip 14 arranged on the adhesive sheet 13 supported by the gantry 5 with the imaging unit 8 arranged obliquely above the suction collet 2. Then, it is converted into the state of the XY machine coordinates in FIG. 7B by performing XY expansion / contraction correction as indicated by an arrow in FIG. This conversion (correction) operation is automatically performed by the control unit 30 using the relationship between FIGS. 6A and 6B stored in the storage unit 31. Then, based on the position information of FIG. 7B, the control device 9 outputs a control signal to the two-dimensional drive means 6 to drive the gantry 5 two-dimensionally.

本発明のピックアップ装置は、半導体チップ等のピックアップ対象物をピックアップして熱圧着装置などに受け渡すために利用できる。   The pickup apparatus of the present invention can be used for picking up an object to be picked up such as a semiconductor chip and delivering it to a thermocompression bonding apparatus or the like.

本発明に係るピックアップ装置の主要部を模式的に示す図。The figure which shows typically the principal part of the pick-up apparatus which concerns on this invention. 図1における架台5の二次元駆動手段6の模式的な斜視図。The typical perspective view of the two-dimensional drive means 6 of the mount frame 5 in FIG. 制御装置9とその関連機器のブロック図。The block diagram of the control apparatus 9 and its related apparatus. 吸着コレット2が待機状態から時計回りに回転する状態を順に模式的に示す図。The figure which shows typically the state in which the adsorption collet 2 rotates clockwise from a standby state.

吸着コレット2を半時計回りに回転し、次いで時計まわりに回転する状態を順に模式的に示す図。The figure which shows typically the state which rotates the adsorption | suction collet 2 counterclockwise, and then rotates clockwise. XY伸縮補正法を説明する図。The figure explaining XY expansion-contraction correction method. XY伸縮補正法を利用して位置変換する方法を説明する図。The figure explaining the method of converting a position using XY expansion-contraction correction method. 従来型のピックアップ装置の主要部を模式的に示す図。The figure which shows typically the principal part of the conventional pick-up apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1 ピックアップ装置
2 吸着コレット
3 突き上げユニット
4 吸着対象物
5 架台
6 二次元駆動手段
7 照明部
8 撮像部
9 制御装置
10 本体
10a 反射ミラー
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Pickup apparatus 2 Suction collet 3 Push-up unit 4 Suction object 5 Stand 6 Two-dimensional drive means 7 Illumination part 8 Imaging part 9 Control apparatus 10 Main body 10a Reflection mirror

11 吸着部
12 回転軸
13 粘着シート
14 半導体チップ
15 圧着ヘッド
16 吸着部
17 圧着ステージ
18 基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Adsorption part 12 Rotating shaft 13 Adhesive sheet 14 Semiconductor chip 15 Crimp head 16 Adsorption part 17 Crimp stage 18 Substrate

20 X駆動部
21 Y駆動部
22 可逆モータ
23 軸受
24 ネジ棒
25 フレーム
26 可逆モータ
27 軸受
28 ネジ棒
20 X drive unit 21 Y drive unit 22 Reversible motor 23 Bearing 24 Screw rod 25 Frame 26 Reversible motor 27 Bearing 28 Screw rod

30 制御部
31 記憶部
32 表示部
33 入力部
34,35 インターフェイス
36 昇降駆動手段
37 回転駆動手段
DESCRIPTION OF SYMBOLS 30 Control part 31 Memory | storage part 32 Display part 33 Input part 34,35 Interface 36 Lift drive means 37 Rotation drive means

Claims (5)

昇降および180度往復回転する吸着コレット(2) と、ピックアップ位置Pの領域を照明する照明部(7)と、ピックアップ位置Pを撮像する撮像部(8) と、吸着対象物(4)を支持する架台(5)とを備え、吸着コレット(2) は本体(10)と、本体(10)に180度向きを変えて設けた2つの吸着部(11)を備え、本体(10)が180度回転するごとに2つの吸着部(11)が交互に架台(5)のピックアップ位置Pに対向するように構成され、照明部(7)の照射方向と撮像部(8) の撮像方向が吸着コレット(2) を避けて該吸着コレット(2) の斜め上方から前記ピックアップ位置Pの領域に向けられて、
前記吸着コレット(2) に反射ミラー(10a) が設けられ、前記180度の往復回転の途中の吸着コレット(2) が特定の回転角度に達したときに、前記照明部(7)からの照射光が反射ミラー(10a) を介してピックアップ位置Pを照射し、前記撮像部(8) がピックアップ位置Pを撮像するように構成されていることを特徴とするピックアップ装置。
Supports the suction collet (2) that moves up and down and reciprocates 180 degrees, the illumination unit (7) that illuminates the area of the pickup position P, the imaging unit (8) that images the pickup position P, and the suction object (4) The suction collet (2) includes a main body (10) and two suction parts (11) provided to the main body (10) so as to be turned 180 degrees . The two suction parts (11) are alternately opposed to the pick-up position P of the gantry (5) for every rotation, and the irradiation direction of the illumination part (7) and the imaging direction of the imaging part (8) are sucked. Avoiding the collet (2), the suction collet (2) is directed from the diagonally upper side to the area of the pickup position P,
A reflection mirror (10a) is provided on the suction collet (2), and when the suction collet (2) in the middle of the 180-degree reciprocating rotation reaches a specific rotation angle, irradiation from the illumination unit (7) is performed. A pickup apparatus characterized in that light is applied to a pickup position P via a reflection mirror (10a), and the imaging unit (8) is configured to image the pickup position P.
請求項1において、前記2つの吸着部(11)のうち一方のみの側面に反射ミラー(10a) が設けられ、吸着コレット(2)が時計方向および反時計方向に往復回転するそれぞれの途中で特定の回転角度に達したときに、前記照明部(7)からの照射光が反射ミラー(10a) を介してピックアップ位置Pを照射し、前記撮像部(8) がピックアップ位置Pを撮像するように構成されていることを特徴とするピックアップ装置。 In Claim 1, a reflecting mirror (10a) is provided on only one side surface of the two suction portions (11), and the suction collet (2) is specified in the middle of each reciprocating rotation in the clockwise and counterclockwise directions. When the rotation angle is reached, the irradiation light from the illumination unit (7) irradiates the pickup position P via the reflection mirror (10a), and the imaging unit (8) images the pickup position P. A pickup device characterized by being configured . 請求項1または請求項2において、前記撮像部(8) からのピックアップ位置情報を基に、吸着対象物(4)がピックアップ位置Pに一致するように前記架台(5)を駆動制御する制御装置(9) が設けられ、吸着コレット(2)が対象物(4)を吸着するまでの回転途中の間に、前記架台(5)を駆動制御することを特徴とするピックアップ装置。 The control device according to claim 1 or 2, wherein the gantry (5) is driven and controlled so that the object to be attracted (4) coincides with the pickup position P based on the pickup position information from the image pickup unit (8). (9) A pickup device characterized in that the gantry (5) is driven and controlled during rotation until the suction collet (2) sucks the object (4) . 請求項3において、前記吸着対象物(4)が粘着シート(13)上に配列された複数の半導体チップ(14)であり、前記架台(5)はピックアップすべき半導体チップ(14)をピックアップ位置Pに移動するための二次元駆動手段(6)を備え、その二次元駆動手段(6)を前記制御装置(9) が駆動制御するように構成されていることを特徴とするピックアップ装置。 In Claim 3, the said adsorption | suction object (4) is a several semiconductor chip (14) arranged on the adhesive sheet (13 ) , and the said mount (5) picks up the semiconductor chip (14) which should be picked up 2. A pickup device comprising a two-dimensional drive means (6) for moving to P, and configured so that the control device (9) drives and controls the two-dimensional drive means (6). 請求項4において、前記制御装置(9) は吸着コレット(2) の斜め上方から撮像したピックアップ位置情報を吸着コレット(2) の真上から撮像したピックアップ位置情報に修正する修正手段を有し、その修正されたピックアップ位置情報を基に、前記架台(5)を駆動制御するように構成されていることを特徴とするピックアップ装置。   The control device (9) according to claim 4, further comprising correction means for correcting pickup position information imaged from obliquely above the suction collet (2) to pickup position information imaged from directly above the suction collet (2), A pickup apparatus configured to drive and control the mount (5) based on the corrected pickup position information.
JP2007155957A 2007-06-13 2007-06-13 Pickup device Expired - Fee Related JP4870031B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007155957A JP4870031B2 (en) 2007-06-13 2007-06-13 Pickup device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007155957A JP4870031B2 (en) 2007-06-13 2007-06-13 Pickup device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008311329A JP2008311329A (en) 2008-12-25
JP4870031B2 true JP4870031B2 (en) 2012-02-08

Family

ID=40238702

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007155957A Expired - Fee Related JP4870031B2 (en) 2007-06-13 2007-06-13 Pickup device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4870031B2 (en)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5789436B2 (en) * 2011-07-13 2015-10-07 ファスフォードテクノロジ株式会社 Die bonder
JP6040490B2 (en) * 2012-03-27 2016-12-07 ハンファテクウィン株式会社Hanwha Techwin Co.,Ltd. Electronic parts take-out and transfer device
JP6574372B2 (en) * 2015-10-27 2019-09-11 ヤマハ発動機株式会社 Component mounting device and component supply device
CN105914169A (en) * 2016-04-19 2016-08-31 刘宁 Inverted packaged, overturning and optical path structure
CN107302698B (en) * 2017-07-21 2023-07-07 珠海广浩捷科技股份有限公司 Wide-angle camera one-driving-two-station full-automatic focusing machine
KR102145848B1 (en) * 2018-11-02 2020-08-19 세메스 주식회사 Die transfer module and die bonding apparatus having the same
CN112103211B (en) * 2020-08-21 2024-03-12 大连佳峰自动化股份有限公司 Multi-head chip pick-up binding mechanism
CN117484177B (en) * 2023-12-29 2024-04-09 歌尔股份有限公司 Assembling equipment and control method thereof

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3511841B2 (en) * 1997-03-27 2004-03-29 松下電器産業株式会社 Chip feeder
JP2000174103A (en) * 1998-12-01 2000-06-23 Yamatake Corp Device for detecting existing state of plate-like part
JP3756031B2 (en) * 1999-12-02 2006-03-15 富士通株式会社 Semiconductor chip suction collet and semiconductor chip alignment method and apparatus using the same
JP3672906B2 (en) * 2002-11-22 2005-07-20 株式会社カイジョー Bonding equipment

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008311329A (en) 2008-12-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4870031B2 (en) Pickup device
JP2937785B2 (en) Component state detection device for mounting machine
JP4308772B2 (en) Component supply head device, component supply device, component mounting device, and mounting head unit moving method
JP4387745B2 (en) Electronic component mounting device
CN100392842C (en) Apparatus and method for picking up semiconductor chip
KR101082827B1 (en) Flip chip mounting device having a pickup unit integrated with a vision camera
JP7202169B2 (en) Rotary head, component mounting device
JP2001127500A (en) Component image pickup device for chip mounter
JP2001168600A (en) Method and apparatus for confirmation of mounting of component
JP6110167B2 (en) Die recognition means, die recognition method and die bonder
JP5040829B2 (en) Component mounting apparatus and component mounting method
JP4457715B2 (en) Chip pickup device and pickup method
JP4889616B2 (en) Aligner equipment
JP2010157539A (en) Component inspection device and component transfer apparatus
JP4389868B2 (en) Chip mounting apparatus and chip mounting method
JP2005109287A (en) Electronic component mounter
JP4569466B2 (en) Chip mounting apparatus and chip mounting method
JP2000312100A (en) Component recognition unit of surface-mounting machine
JP5476256B2 (en) Component mounting device and component recognition device
JP4757906B2 (en) Electronic component mounting device
JP4332714B2 (en) Electronic component mounting equipment
JP4850693B2 (en) Component recognition device, surface mounter and component testing device
JP2007103436A (en) Part mounting method and part mounting apparatus
JP4216114B2 (en) Component recognition system for surface mounters
JP4757905B2 (en) Electronic component mounting device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100506

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110301

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110823

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111024

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111115

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111116

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141125

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees