JP4860083B2 - 研削位置においてクランク軸のクランクピン直径を測定する装置並びに方法 - Google Patents

Description

【０００１】
技術分野
本発明は、デジタル制御研削盤の中での加工工程中に幾何学的軸線回りに回転するピンの直径を検定する装置であって、前記幾何学的軸線を画成する工作盤と、といし車を担持するといし車スライダとを含み、ここに前記といし車スライダは、検定されるピンと協働するためのＶ型規準装置と、検定されるピンの表面と接触して前記Ｖ型規準装置の二等分線にそって並進運動を成すためのフィーラと、Ｖ型規準装置に対するフィーラの位置に依存して信号を発生するトランスデューサとを含む測定ヘッドと、といし車スライダに連結されるように成され、前記測定ヘッドを可動的に支承するための複動連結要素を含む支承装置と、休止位置から検定状態までまたはその逆方向への前記測定ヘッドの自動的移動を制御するための制御装置と、前記トランスデューサによって発生された信号を受けて処理するために前記測定ヘッドに接続された処理・表示装置とを備えたデジタル制御研削盤の加工工程中に幾何学的軸線回りに回転するピンの直径を検定する装置に関するものである。
【０００２】
発明の背景
このような特性を備えた幾何学的軸線回りに楕円運動をもって回転するクランクピンの直径検査装置はＮｏ．ＷＯ−Ａ−９７１２７２４をもって公表された国際特願に記載されている。
【０００３】
このような国際特願に記載の実施態様はすぐれた計測上の結果と小さい慣性力とを保証し、またこの特願の出願会社によって製造されたこれらの特性を有する装置の性能規準はこれらの特願の傑出した品質と信頼度とを立証している。
【０００４】
さらに、これらの公知装置は例えばヘッドの測定範囲の変更のためにＶ型規準装置などの二、三の部品を簡単な操作で交換できることの故に、その使用上の顕著な融通性を示す。しかしながら、これらの公知の装置は公称サイズに関して相互に異なる部品（例えば同一クランク軸のクランクピンと主軸）の加工を自動的にまた逐次実施することができない。これは、１つの検定と次の検定との間においてＶ型規準装置を交換し、または少なくとも公称サイズが変化するたびに、親部品の適当断面の上で新規にヘッド校正を実施しなければならないからである。
【０００５】
発明の開示
本発明の目的は、工作機械の加工中に、例えば研削盤中のインプロセス検定に際して、軌道運動で回転する研削クランクピンおよび／または対称軸線回りに回転する主軸を検定する装置を提供して、比較的広い範囲内を変動する公称直径サイズを有するクランクピンおよび／または主軸の簡単迅速な検定を可能とするものである。
【０００６】
この目的は、前記処理・表示装置がトランスデューサの信号に関する補正値または補正係数を記憶するためのメモリユニットを含み、また前記処理・表示装置が前記トランスデューサの信号および補正値または補正係数を処理して測定信号を発生するように成された前記の型の検定装置によって達成される。
【０００７】
従って、トランスデューサ誤差の補正により、トランスデューサの幅広い線形範囲とフィーラ全体の対応の幅広い測定移動とを得ることが可能となる。このようにして、Ｖ型規準装置の側面によって画成される適当な角度の選定によって幅広い測定範囲を得ることができるが、これは実質的にフィーラの移動に限定されるものでなく、それ以外の物理的または機能的応用分野を考慮することが可能である。
【０００８】
またこのようなフィーラの幅広い移動は同一の測定範囲内でヘッド感度の改良と装置解像度の向上とを達成させる。
【０００９】
本発明の最良の実施態様
図１乃至図３について述べれば、回転軸線８を画成するクランク軸３４を研削するためのコンピュータ・デジタル・コントロール（”ＣＮＣ”）研削盤のといし車スライダ１がスピンドル２を支承し、このスピンドル２がといし車４の回転軸線３を画成する。といし車スライダ１はスピンドル２の上方に支承装置を担持し、この支承装置は支承要素５と、第１回転連結要素９と、第２回転連結要素１２とを含む。前記支承要素５は、回転ピン６によって第１回転連結要素９を支承し、前記の回転ピン６の画成する第１回転軸線７はといし車４の回転軸線３とクランク軸３４の回転軸線８とに対して平行である。
【００１０】
他方、第１連結要素９は回転ピン１０によって前記の第２回転連結要素１２を支承し、前記回転ピン１０の画成する第２回転軸線１１はといし車４の回転軸線３とクランク軸３４の回転軸線８に対して平行である。連結要素１２の自由端部にチューブ状案内ケーシング１５が連結され、このケーシング１５の中に伝動ロッド１６（図４）が軸方向に並進することができ、この伝動ロッド１６は、検定されるピンの表面、例えばそれぞれ図１と図２に図示のようなクランクピン１８の表面またはクランク軸３４の主軸３８の表面と接触するためのフィーラ１７を担持している。チューブ状ケーシング１５，ロッド１６およびフィーラ１７は測定ヘッドまたは検定ヘッド３９に所属し、この測定ヘッド３９はチューブ状案内ケーシング１５の下端に連結された支承ブロック１９を含み、この支承ブロック１９は、回転ピン６と１０の回転によって検定されるクランクピンの表面と係合するためのＶ型規準装置２０を支承する。伝動ロッド１６はＶ型規準装置２０の二等分線にそって移動可能である。
【００１１】
さらに、支承ブロック１９は案内装置２１を支承し、この案内装置はＮｏ．ＷＯ−Ａ−９７１２７２４で公表された国際特願に記載のように、Ｖ型規準装置２０を案内して、検定されるクランクピン１８と係合させ、また規準装置２０がクランクピン１８から離間する間にこのクランクピン１８との接触を保持させて、それぞれ回転ピン６と回転ピン１０とによって画成される回転軸線７と１１回りの第１連結要素９と第２連結要素１２の回転を限定する目的を有する。
【００１２】
規準位置に対する伝動ロッド１６の軸方向移動はケーシング１５に固着された測定トランスデューサ、例えば（それ自体公知の）ＬＶＤＴまたはＨＢＴ型のトランスデューサ４１によって検出され、このトランスデューサ４１は固定巻線４０と強磁性コア４３とを備え、このコア４３は伝動ロッド１６に連結されて、伝動ロッド１６と共に可動である。（図４）。伝動ロッド１６の軸方向移動は案内ケーシング１５と伝動ロッド１６との間に配置された２つのブシュ４４，４５によって案内され、また圧縮バネ４９が伝動ロッド１６とフィーラ１７を、クランクピン１８または主軸３８の被検定面にむかって、またはこれらの面の存在しない場合には、付図に図示されていない当接面によって画成されるフィーラ１７の休止位置にむかって、押圧する。捻り力に対して剛性であって両端においてそれぞれ伝動ロッド１６と案内ケーシング１５に固着された金属ベロー４６が、ケーシング１５に対するロッド１６の回転を防止し（従ってフィーラ１７が不適切な位置を取ることを防止し）、また同時に案内ケーシング１５の下端を密封する二重機能を実施する。支承ブロック１９はそれぞれ溝穴４８を通る複数ペアのネジ４７によって案内ケーシング１５に対して固着されてＶ型規準装置２０を支承し、この規準装置２０は傾斜面を有する２つの要素３１から成り、これらの傾斜面に対して２つのバー３２が固着されている。フィーラ１７の休止位置はネジ４７と溝穴４８によって調整される。
【００１３】
測定ヘッド３９のトランスデューサ４１は処理・表示装置２２に接続され、この処理・表示装置２２は研削盤のコンピュータ・デジタル・コントロール３３に接続される。
【００１４】
検定されるクランク軸３４が工作盤２３（図示されていない）の上に、ヘッドストックとテールストックとの間に配置されて、クランク軸３４の幾何学的主軸線と一致した回転軸線８が画成される。クランクピン１８（図１）および主軸３８（図２）が回転軸線８回りに回転し、この際に前者は軌道軌跡を描く。
【００１５】
基本的に、第１および第２連結要素９と１２はそれぞれクランク軸３４の回転軸線８とといし車４の回転軸線３に対して横方向同一面の中に配置された幾何学的軸線を有する線形アームである。しかし同じくクランク軸３４を示す図３に図示されているように、研削盤の種々の要素および装置、例えばノズルによって冷媒を加工面に送る冷媒プラントの部品との干渉を避けるために、第１および第２連結要素９，１２は縦方向に延在する部分３６，３７と複数の横方向に片寄った部分とを含む。
【００１６】
制御装置は例えば油圧型の複動シリンダ２８を含む。このシリンダ２８はといし車スライダ１によって支承され、このシリンダ２８のピストンに対して連結されたロッド２９を含み、このロッドはその末端にキャップ３０を担持する。アーム１４が一端において第１連結要素９に連結され、他端においてアイドラホイール２６との当接手段を担持する。シリンダ２８が作動されてピストンとロッド２９を（図１と図２に対して）右方に移動させる時、キャップ３０がアイドラホイール２６に当接して、規準装置２０がもはやピンの表面と接触しなくなる休止位置まで検定装置を移動させる。オーバ・ハング１３が支承要素５に対して剛性的に連結され、またコイル戻しバネ２７がオーバ・ハング１３とアーム１４とに対して連結されている。ロッド２９が後退して検定装置を検定状態まで移動させ、またキャップ３０が当接部材またはアイドラホイール２６から離脱する時、Ｎｏ．ＷＯ−Ａ−９７１２７２４で公表された国際特願に記載のように支承ブロック１９が第１および第２連結要素９，１２の回転によりクランクピン１８（または主軸３８）に近接し、また検定装置が検定状態に達してこの状態を保持する。
【００１７】
重力作用によって生じる各部品の移動の故に、クランクピン１８（図１）または主軸３８（図２）と規準装置２０との協働が保持される。支承ブロック１９が下降するに従ってコイルバネ２７の伸張度が増大するので、このバネ２７の作用が図１と図３に図示のように、クランクピン１８の移動に追随して移動する検定装置の構成部分の慣性力に対抗する。このようにして、例えば規準装置２０のＶ型の変形を生じるおそれのあるような下降位置（参照数字１８”で図示された位置）において、規準装置２０とクランクピン１８との間の高いスラストを防止することが可能となる。他方において、（クランクピンの回転による上方位置１８’への）装置の上昇運動に際してバネ２７の引張作用が低下するので、上方位置においてはＶ型規準装置２０とクランクピン１８の間の係合を解除する傾向のあった慣性力が適切に対抗される。後者の場合には、バネ２７の引張力を低減させることによって平衡作用が達成されることを理解しなければならない。言い換えれば、戻しバネ２７は規準装置２０とクランクピン１８との間においてなんらの力を生じることなく、これらの規準装置２０とクランクピン１８は前述のように単に重力作用によって相互に協働する。
【００１８】
検定段階に際しては、ヘッド３９中のトランスデューサ４１が処理・表示装置２２に対して信号を送る。これらの信号はフィーラ１７の位置を表示し、フィーラ１７の移動が伝動ロッド１６によって転送される。また処理・表示装置２２の中にメモリユニット２４が含まれ、ヘッド３９から来る信号がこのメモリユニット２４の中に記憶された値または補正係数に基づいて処理・補正され、また測定信号がコンピュータ・デジタル・コントロール３３に対して表示され転送される。さらに詳しくは、前記の値／係数を利用して、熱変動の結果としてのトランスデューサ４１の出力信号および／またはトランスデューサの変動の線形誤差を補正することができる。
【００１９】
線形誤差に関して言うならば、トランスデューサ４１の校正中に、ヘッド３９中にこれを組立てて巻線４０中のコア４３の作動位置（ｉ）の変動を生じる前に、トランスデューサ４１による信号出力に関する一連の値ｙｉが検出され、またコア４３の対応の値を識別する一連の値ｘｉが検出されるが、後者の値は既知の型の特定のテスト装置を使用して得られる。これらの値ｘｉとｙｉの数列はメモリユニット２４中に、例えば表の形で、公知のしかしここではさらに詳細に説明されない方法で記憶される。
【００２０】
処理ユニット２２はこれらの数列を処理して、トランスデューサ４１の線形誤差を補正するための補正係数と値とを決定する。
【００２１】
これらの係数および値を決定するための１つの可能な手順を下記に説明する。
【００２２】
メモリユニット２４中に記憶された値ｘｉ，とｙｉの数列から出発し、最小二乗法を適用して、テスト機器によって測定された値ｘｉに対するトランスデューサ４１によって検出された値ｙｉの回帰直線ｒ_ｒｅｇｒが決定される。図５には、面Ｘ−Ｙにおいて、テスト段階中に検出された値ｘｉおよびｙｉのペアに対応する点、回帰線ｒ_ｒｅｇｒ、およびトランスデューサによって検出された位置ｙｉがテスト機器によって測定された値ｘｉに等しい場合に得られるべき方程式ｙ＝ｘの理想線ｒ_ｉｄが示されている。一般に、トランスデューサの感度誤差の故に、回帰線ｒ_ｒｅｇｒは理想線ｒ_ｉｄと一致しないが、後者に対して一定の差分勾配を有する。感度誤差は、回帰線の角度係数ｒ_ｒｅｇｒ（ｋ_ｒｅｇｒ）と理想線ｒ_ｉｄの角度係数間の差異として表示することができ、後者は１に等しい。
【００２３】
ｙ_ｉｄ：１＝ｙ_ｒｅｇｒ：ｋ_ｒｅｇｒであるから、
（ここにｙ_ｉｄ とｙ_ｒｅｇｒ はそれぞれ同一生成値ｘに対応する直線ｒ_ｉｄとｒ_ｒｅｇｒの縦座標ｙを示すものとする）、
感度誤差を補正するためには、回帰線ｒ_ｒｅｇｒのｙ座標値をこの回帰線ｒ_ｒｅｇｒの角度係数ｋ_ｒｅｇｒそのものによって割る必要がある。この補正は、図６において参照符号ｒ’_ｒｅｇｒによって表示されるように、回帰線ｒ_ｒｅｇｒが理想線ｒ_ｉｄに重なり合うまで、この回帰線を回転させることによって表示される。
【００２４】
感度誤差の補正のほかに、回帰線ｒ_ｒｅｇｒのすべての座標ｙを回帰線ｒ_ｒｅｇｒの角度係数ｋ_ｒｅｇｒによって割ることによって、回帰線ｒ_ｒｅｇｒからの共座標ｘｉおよびｘｙの点の距離によって表わされる線形誤差を補正する必要がある。従って補正を実施するためには、トランスデューサによって検出された値に対して、図６の矢印で示されるように、その対応の線形誤差の同一値と反対値を加える必要がある。このようにして個別の点について決定された係数値と補正値がメモリユニット２４中に例えば表の形で記憶される。検定操作中に、トランスデューサ信号４１がこのような補正係数と補正値に基づて処理ユニット２２の中で補正される。これらの係数と補正値がトランスデューサ４１のコア４３と巻線４０の間の個別の、多数の、相対位置における線形誤差を示すものであるから、さらにヘッド３９の全操作レインジにおいてトランスデューサ４１の出力を実質的に連続的に補正するため、これらの値を公知のようにして補間法によって処理することが可能である。
【００２５】
補正値を表の形で限定し記憶する方法のほかに、校正段階中に検出された誤差値を補正曲線を作成するために処理し、また（代表的には第３度の）その多項式の係数をメモリユニット２４の中に記憶することができる。
【００２６】
前述の手順は、トランスデューサ４１の機械的特性を変更することなく、実質的に不変の精度をもって測定レインジの拡張を実施することを可能とする。
【００２７】
これらの補正値または係数は、前述のようにヘッド３９の組立て前に、例えばテスト機器上のトランスデューサ４１の校正中に実施された検出に基づいて記憶することができる。他の方法として、同一「ファミリー」に属する一定数の標本トランスデューサ、言い換えれば共通の製造特性（サイズその他）を有するトランスデューサのテスト中に検出されたデータの統計学的処理によって得ることができる。
【００２８】
他の可能な補正は、トランスデューサ４１の特性の変動を生じる温度変動によって発生するヘッド３９の反復誤差に関するものである。さらに詳しくは、軸線ｓがフィーラ１７の移動距離を示しまた軸線Ｍがトランスデューサ４１の出力信号に基づいて検出された測定値を示す図７において概略図示されるように、直線Ｍｏは規準温度Ｔｏにおいて移動距離ｓが変動するに従って検出された測定値を表わし、また直線Ｍｔはｔｏ以外の規準温度ｔ_Ｔにおける同一の測定値を表わす。
【００２９】
これらの直線は下記の方程式によって結合される。
【００３０】
【数１】

この式はこれより高次の項を考慮せず、これは一般的に無視可能である。
【００３１】
項［ｋ１（ｔ_Ｔ−ｔｏ）］、または「ゼロ ドリフト」はトランスデューサ４１のゼロ位置（ｓ＝０）において温度が変動する際の測定値の変動を示し、図７において規準Ｄｏによって識別される。
【００３２】
項［ｋ２（ｔ_Ｔ−ｔｏ）］、または「感度ドリフト」は、温度の変動に従ってトランスデューサ感度の変動によって生じる測定値変動を示す。
【００３３】
図７について述べれば、項［ｋ１（ｔ_Ｔ−ｔｏ）］はｓ＝０における２つの直線Ｍ_ＴとＭｏとの間の距離を示し、また項［ｋ２（ｔ_Ｔ−ｔｏ）］はこれら２つの直線によって形成された角度を示す。
【００３４】
係数ｋ１とｋ２の値は、規準直線Ｍｏと温度差（ｔ_Ｔ−ｔｏ）が公知の時に測定値Ｍ_Ｔのトレンドを得ることを可能とするが、これらの値はトランスデューサ４１の校正中に実験的に検出される。トランスデューサ４１の線形誤差の補正について前述したように、この場合にも係数ｋ１とｋ２の値はそれぞれの単一のトランスデューサ４１について個別に検出して使用することができ、あるいはまた統計学的処理に基づいて、さらに詳しくは共通の製造特性を有しまたこれらの特性を備えた任意のトランスデューサ（４１）について任意のヘッド（３９）を補正するために使用される一定数の標本トランスデューサに関するデータの平均値として、検出されることができる。これらのいずれの方法も、ヘッド３９の反復性の有効な改良をもたらすが、前者のもたらす改良の方が一層明瞭であるのは明白である。
【００３５】
熱変動による誤差を補正するためには、前述のように規準温度に対する温度変動（ｔ_Ｔ−ｔｏ）を検出することが義務的である。そのために、ヘッド３９の中に挿入された公知の型の温度センサ（例えば「サーミスタ」）を使用することができる。
【００３６】
他の方法として、巻線４０の電気抵抗の変動を検出するために位置トランスデューサ４１の部品を使用しまたこれらの変動を巻線４０の製造材料の特性を識別するデータによって処理することによって、温度変動に関するデータを得ることができる。さらに詳しくは、温度変動は下記のようにして計算することができる。
【００３７】
（ｔ_Ｔ−ｔｏ）＝（Ｒ_Ｔ−Ｒｏ）／α
ここに、（Ｒ_Ｔ−Ｒｏ）は規準温度に対する温度ｔにおけるトランスデューサ４１の巻線４０の抵抗差であり、またαは物質の型に依存する定数である。
【００３８】
図８は処理装置２２の中において使用されうる給電・処理回路を概略図示する回路図であって、トランスデューサ４１を含み、このトランスデューサは例えばいわゆる「半ブリッジ型」である。図８は、交番電圧源５０および直流電圧源５１，加算器５２，分路抵抗５４を備えた駆動回路５３，増幅器５５，低パスフィルタ５６，第２加算器５７，およびトランスデューサ４１の出力信号を調整するための回路６０を示す。
【００３９】
トランスデューサに給電するための交番電圧Ｖ_ＡＣと直流電圧Ｖ_ＤＣがそれぞれ電源５０および電源５１によって供給され、加算器５２の中において加算される。点Ａにおいて、電圧は駆動回路５３によって実質的に一定に保持される。温度変動に伴なう巻線回路４１の抵抗Ｒの変動が電流変動を生じまた次の分路抵抗５４の両側における電圧降下を生じ、この電圧降下が増幅され（５５）ろ過されて（５６）交番成分を除去する。電源５１によって発生された直流電圧から得られるオフセット電圧値Ｖ_ＯＳが得られた電圧から差し引かれれる。
【００４０】
温度変動に伴なう巻線４０の抵抗Ｒの変動が次の点Ｂにおける電圧の変動を生じる。従ってこの電圧を周期的に検出することにより、規準電圧に対する抵抗変動値（Ｒ_Ｔ−Ｒｏ）を計算して、抵抗Ｒｏに対応する規準値ｔｏに対する温度変動を得ることができる。
【００４１】
点Ｂにおいて検出された電圧差に基づいて成された計算（Ｒ_Ｔ−Ｒｏ）は、オフセット電圧値Ｖ_ＯＳ、回路５３および５５の利得、および抵抗５４の値などの既知量を、簡略化のためにここでは説明されない方程式によって含む。
【００４２】
調整回路６０は点Ｏにおいて抵抗４１の出力信号を出し、この回路は公知のτであって簡略化のためにここでは説明されない。
【００４３】
新しいクランクピン１８（または主軸）を加工しなければならない時、このクランクピン１８は（単一のといし車を有する研削盤の場合）、前述のように通常工作盤２３を移動させることによってといし車４の前にもたらされ、検定装置が測定位置まで移動され、すなわちヘッド３９が検定される新しいピンの上に移動させられる。
【００４４】
特にトランスデューサ４１の線形誤差に関する処理・表示ユニット２２の補償によって、ヘッド３９の測定範囲は特に幅広い。言い換えれば、この測定範囲は処理ユニット２２によって出力される測定信号の実質的な線形変動に対応するフィーラ１７の移動範囲と同様に幅広い。このようにして、種々のピンのサイズに対応する種々の公称サイズを有する親部品に対してヘッド３９をゼロ設定するサイクルを実施する必要なく、相異なる公称サイズを有するピン（例えば図１に図示のクランクピン１８および図１の主軸３８）を自動的に逐次加工するようにプログラミングすることが可能となる。このようなゼロ設定サイクルではなく、（明かにヘッド３９の測定範囲内にある）既知サイズの部品を最初にゼロ設定すれば、その後においてコンピュータ・デジタル・コントロール３３の制御のもとにヘッド３９の広範囲に変動する公称サイズを有するピンを加工することが十分に可能である。規準装置２０のＶ型と、このＶ型の二等分線（またはこの二等分線に対して僅少な角度の方向）にそった配置との故に、フィーラ１７とピン（１８または３８）の表面との間の適正な機械的協働が得られる。
【００４５】
本発明の種々の実施態様のいずれかにより、トランスデューサ４１とユニット２２中の対応の補正とによって４ｍｍより広い範囲内で実質的に線形の測定信号が得られる。
【００４６】
このようにして、Ｖ型規準装置２０の幾何学的特性に従って、２０ｍｍ以上に幅広い範囲内で変動する公称直径を有する各種のピンの機械加工を検定することが可能である。図４はフィーラ１７の種々の位置と対応の種々のサイズを有するピン１８，主軸３８の間の比率を明瞭に示している。
【００４７】
他方において、著しく相違する開口角度を有するＶ型規準装置２０に関しても、測定信号の幅広い線形範囲の故に幅広い測定を実施することが可能となる。
【００４８】
言い換えれば、Ｖ型装置２０の開口角度を装置の用途の種々の技術特性に基づいて選定してもヘッド３９の測定範囲に著しく影響することなく、このヘッド測定範囲は変動しても常に明瞭に高い水準に留まる。
【００４９】
従って、本発明による装置の革新的アスペクトは明白であって、基本的に規準装置２０の形状とトランスデューサ４１の線形誤差および／または温度変動による誤差の補正に関するものであり、これらの誤差の補正はそれぞれ別個に知られていても、これを組合わせることによって顕著な技術的効果が得られる。
【００５０】
本発明による装置は前記において図示説明された以外の製造アスペクト、特に支承装置の構成部品に関して前記以外のアスペクトを含み、これらの構成部品は必ずしも回転する必要はなく、また前記案内装置２１は外部に放置されまたは他の形に形成されて、例えば被検定部品ではなく支承装置の連結要素と協働するための表面を備えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 クランク軸研削盤のといし車スライダ上に搭載された測定装置の側面図であって、クランクピンの検定中の作動状態を示す図。
【図２】 主軸の検定中の作動状態を示す図１の測定装置の側面図。
【図３】 研削盤のといし車スライダ上に搭載された装置の部分的正面図。
【図４】 装置の測定ヘッドの部分的断面図。
【図５】 トランスデューサの線形誤差の修正係数と修正値を決定する方法の２段階を示すグラフ。
【図６】 トランスデューサの線形誤差の修正係数と修正値を決定する方法の２段階を示すグラフ。
【図７】 本発明の装置のヘッドの出力信号において熱変動によって生じる変動を示すグラフ。
【図８】 本発明による処理システムの一部の部品を示す回路図。
【符号の説明】
１ といし車スライダ
２ スピンドル
３ 軸線
４ といし車
５ 支承要素
６ 回転ピン
７ 第１軸線
８ 回転軸線
９ 第１連結要素
１０ 回転ピン
１１ 第２軸線
１２ 第２連結要素
１３ オーバハング
１４ アーム
１５ 案内ケーシング
１６ 伝動ロッド
１７ フィーラ
１８ クランクピン
１９ 支承ブロック
２０ Ｖ型規準装置
２１ 案内装置
２２ 処理・表示装置
２３ 工作盤
２４ メモリ
２６ アイドラホイール
２７ バネ
２８ シリンダ
２９ ロッド
３０ キャップ
３１ 傾斜面
３２ バー
３３ ＣＮＣ
３４ クランク軸
３６，３７ 連結要素の縦方向延在部分
３８ 主軸
３９ ヘッド
４０ 固定巻線
４１ トランスデューサ
４２ ロッド
４３ 強磁性コア
４４、４５ ブシュ
４６ ベロー
４７ ネジ
４８ 溝穴
４９ バネ
５０ ＶＡＣ
５１ ＶＤＣ
５２ 加算器
５３ 駆動回路
５４ 分路抵抗
５５ 増幅器
５６ 低パスフィルタ
５７ 第２加算器
６０ 調整回路
（ｉ） 作動位置
ｒ_ｒｅｇｒ 回帰直線
ｒ_ｉｄ 理想線
ｋ_ｒｅｇｒ 角度係数

Claims (10)

1. デジタル制御研削盤の中での加工工程中に幾何学的軸線（８）回りに回転するピン（１８，３８）の直径を検定する装置であって、
   前記幾何学的軸線を画成する工作盤（２３）と、といし車（４）を担持するといし車スライダ（１）とを含み、
   ここに前記といし車スライダ（１）は、
   ・ 検定されるピン（１８，３８）と協働するためのＶ型規準装置（２０）と、検定されるピンの表面と接触して前記Ｖ型規準装置（２０）の二等分線にそって並進運動を成すためのフィーラ（１７）と、Ｖ型規準装置（２０）に対するフィーラ（１７）の位置に依存して信号を発生するトランスデューサ（４１）とを含む測定ヘッド（３９）と、
   ・ といし車スライダ（１）に連結されるように成され、前記測定ヘッド（３９）を可動的に支承するための複動連結要素（９，１２）を含む支承装置（５，９，１２）と、
   ・ 休止位置から検定状態までまたはその逆方向への前記測定ヘッド（３９）の自動的移動を制御するための制御装置（２８）と、
   ・ 前記トランスデューサ（４１）によって発生された信号を受けて処理するために前記測定ヘッド（３９）に接続された処理・表示装置（２２）とを備え、
   ここに前記処理・表示装置（２２）が
   相異なる公称サイズを有する複数のピンの直径に渡る測定範囲において、前記Ｖ型規準装置（２０）に対する前記フィーラ（１７）の位置に依存して前記トランスデューサ（４１）が前記ピンの加工工程中に発生する前記信号の線形誤差を補正するための補正値または補正係数を記憶するためのメモリユニット（２４）を含み、
   前記処理・表示装置（２２）は
   前記トランスデューサの信号および補正値または補正係数を処理して測定信号を発生するように成された
   ことを特徴とするデジタル制御研削盤の加工工程中に幾何学的軸線回りに回転するピンの直径を検定する装置。
2. 温度センサを含み、ここに前記補正値または補正係数は前記線形誤差と前記熱変動による前記トランスデューサ（４１）の誤差との両方を補正するように成されたことを特徴とする請求項１に記載の装置。
3. 前記温度センサは前記トランスデューサ（４１）の回路部品を含むことを特徴とする請求項１または２のいずれかに記載の装置。
4. 前記トランスデューサ（４１）は誘導型であることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の装置。
5. 前記測定ヘッド（３９）は前記支承装置（５，９，１２）に固着された案内ケーシング（１５）と、前記案内ケーシング（１５）の中を軸方向に可動の伝動ロッド（１６）とを含み、前記フィーラ（１７）が前記伝動ロッド（１６）の一端に連結され、前記トランスデューサ（４１）は前記伝動ロッド（１６）の他端に連結された可動部品（４２，４３）を有することを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の装置。
6. 前記の幾何学的軸線（８）回りに軌道回転運動を成すクランクピン（１８）の直径を検定するため、前記ヘッド（３９）の前記検定状態中に、前記Ｖ型規準装置（２０）が実質的に重力作用で前記検定されるクランクピン（１８）と接触状態に留まることを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の装置。
7. 前記補正値または補正係数が、テスト機器上での少なくとも１つの前記トランスデューサ（４１）の校正段階中に得られ、また前記補正値または補正係数が前記処理・表示装置（２２）の前記メモリユニット（２４）の中に記憶されることを特徴とする請求項１乃至６のいずれかに記載の装置によるピン（１８，３８）直径の検定法。
8. 前記少なくとも１つのトランスデューサが前記測定ヘッド（３９）のトランスデューサ（４１）であって、校正段階は前記トランスデューサ（４１）を前記測定ヘッド（３９）の中に組立てる前に実施されることを特徴とする請求項７に記載の方法。
9. 前記少なくとも１つのトランスデューサは前記の測定ヘッド（３９）の前記トランスデューサ（４１）と同一の製造特性を有する標本トランスデューサであることを特徴とする前記請求項７に記載の方法。
10. 前記補正値または補正係数が同一のテスト機器上での複数の標本トランスデューサの校正段階中に検出されたデータの統計学的処理によって得られることを特徴とする請求項９に記載の方法。

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