JP4838522B2 - 電気接触子及び電気部品用ソケット - Google Patents
電気接触子及び電気部品用ソケット Download PDFInfo
- Publication number
- JP4838522B2 JP4838522B2 JP2005089266A JP2005089266A JP4838522B2 JP 4838522 B2 JP4838522 B2 JP 4838522B2 JP 2005089266 A JP2005089266 A JP 2005089266A JP 2005089266 A JP2005089266 A JP 2005089266A JP 4838522 B2 JP4838522 B2 JP 4838522B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- plunger
- cylindrical
- electrical
- cylindrical portion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
[発明の実施の形態1]
[発明の実施の形態2]
12 ICパッケージ(電気部品)
12a 半田ボール(端子)
12b パッケージ本体
13 配線基板
13a 電極部
14 ソケット本体
15 コンタクトピン(電気接触子)
18 上側保持部材
19 下側保持部材
20 フローティングプレート
22 プランジャ
22a プランジャ側接触部
22b 筒部
22d 縮径部
23 ばね部材
23a 通常巻部
23b 密着巻部
23c ばね側接触部
23e ストッパ部
Claims (5)
- 第1の電気部品に接触されるプランジャ側接触部及び該プランジャ側接触部に連続する筒部を有する導電性材料から成るプランジャと、該プランジャの筒部内に挿入される導電性材料から成るばね部材とを備えた電気接触子において、
前記ばね部材は、一体に形成された、前記筒部内に挿入される伸縮自在な通常巻部と、前記筒部から外部に突出して第2の電気部品に接触されるばね側接触部が設けられた密着巻部とを有し、
該密着巻部は、前記筒部に設けられた開口の内部側近傍から該開口の外部にわたって突出するように設けられ、外周部が該筒部の内壁面と摺接することにより該筒部と電気的に接続されている、
ことを特徴とする電気接触子。 - 前記プランジャは、導電性を有する板材が筒状に折曲げられることにより、筒状の前記プランジャ側接触部及び、該プランジャ側接触部より径の大きい前記筒部が形成されたことを特徴とする請求項1に記載の電気接触子。
- 前記密着巻部は、上下方向の中間部に他の部分より径の大きいストッパ部が形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の電気接触子。
- 前記筒部は、開口部側の端縁部又は近傍に、内側に径を狭くした縮径部が形成される一方、前記密着巻部の、前記筒部の前記内壁面と摺接する部分よりも下の部分は、前記通常巻部より径が細く形成され、前記縮径部により、前記通常巻部の前記筒部からの抜け止めを行ったことを特徴とする請求項1乃至3の何れか一つに記載の電気接触子。
- 前記第2の電気部品が配線基板であり、
該配線基板上に配設され、上側に前記第1の電気部品が収容されるソケット本体と、
該ソケット本体に配設され、請求項1乃至4の何れか一つに記載の複数の電気接触子とを有していることを特徴とする電気部品用ソケット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005089266A JP4838522B2 (ja) | 2005-03-25 | 2005-03-25 | 電気接触子及び電気部品用ソケット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005089266A JP4838522B2 (ja) | 2005-03-25 | 2005-03-25 | 電気接触子及び電気部品用ソケット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006269366A JP2006269366A (ja) | 2006-10-05 |
JP4838522B2 true JP4838522B2 (ja) | 2011-12-14 |
Family
ID=37205083
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005089266A Expired - Fee Related JP4838522B2 (ja) | 2005-03-25 | 2005-03-25 | 電気接触子及び電気部品用ソケット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4838522B2 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101156962B1 (ko) * | 2008-07-08 | 2012-06-20 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 전자부품 시험방법, 인서트, 트레이 및 전자부품 시험장치 |
JP5624746B2 (ja) * | 2009-10-23 | 2014-11-12 | 株式会社ヨコオ | コンタクトプローブ及びソケット |
KR101156802B1 (ko) * | 2010-01-15 | 2012-06-18 | 아이피워크스 테크놀로지 코포레이션 | 탐침 및 이를 이용한 탐침 카드 |
JP5378273B2 (ja) * | 2010-03-12 | 2013-12-25 | 株式会社アドバンテスト | コンタクトプローブ及びソケット、チューブ状プランジャの製造方法、並びにコンタクトプローブの製造方法 |
KR101337427B1 (ko) | 2011-06-30 | 2013-12-06 | 리노공업주식회사 | 반도체 검사용 프루브 |
JP2015105834A (ja) * | 2013-11-28 | 2015-06-08 | 東京エレクトロン株式会社 | 電子部品検査装置、電子部品の検査方法、及び、検査方法のプログラム |
TWI503552B (zh) * | 2014-03-26 | 2015-10-11 | Ipworks Technology Corp | 測試探針及其製造方法 |
JP6837283B2 (ja) * | 2016-02-29 | 2021-03-03 | 株式会社ヨコオ | ソケット |
JP6837513B2 (ja) * | 2019-05-07 | 2021-03-03 | 株式会社ヨコオ | ソケット |
KR102033135B1 (ko) * | 2019-05-08 | 2019-10-16 | 주식회사 제네드 | 프로브 핀 |
JP2022079959A (ja) * | 2020-11-17 | 2022-05-27 | 山一電機株式会社 | 検査用ソケット |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH037435A (ja) * | 1989-06-05 | 1991-01-14 | Nec Corp | 無線選択呼出受信機 |
JP3902119B2 (ja) * | 2002-11-18 | 2007-04-04 | オータックス株式会社 | 電子部品用ソケット |
-
2005
- 2005-03-25 JP JP2005089266A patent/JP4838522B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006269366A (ja) | 2006-10-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4838522B2 (ja) | 電気接触子及び電気部品用ソケット | |
JP4857046B2 (ja) | 電気接触子及び電気部品用ソケット | |
JP3742742B2 (ja) | 電気部品用ソケット | |
US6821131B2 (en) | IC socket for a fine pitch IC package | |
US8669774B2 (en) | Probe pin and an IC socket with the same | |
JP4328145B2 (ja) | 集積回路テストプローブ | |
JP4886997B2 (ja) | 電気部品用ソケット | |
JP4683993B2 (ja) | Icソケット用接触装置 | |
US6743043B2 (en) | Socket for electrical parts having separable plunger | |
JP6328925B2 (ja) | コンタクトプローブ及び電気部品用ソケット | |
US7535241B2 (en) | Test probe with hollow tubular contact with bullet-nosed configuration at one end and crimped configuration on other end | |
US10288644B2 (en) | Test socket and method for testing a semiconductor package | |
JP4598779B2 (ja) | コンタクタ及びコンタクタを用いた試験方法 | |
US9653833B2 (en) | Contact pin and electrical component socket | |
TWI708448B (zh) | 電性零件用插座 | |
JP2011040187A (ja) | 電気部品用ソケット | |
US6065986A (en) | Socket for semiconductor device | |
JP6669533B2 (ja) | コンタクトピンおよび電気部品用ソケット | |
CN112470011A (zh) | 接触针及电子部件用插座 | |
JP7189460B1 (ja) | Icパッケージの検査用ソケット | |
JP2007200583A (ja) | 電気接触子及び電気部品用ソケット | |
KR200284460Y1 (ko) | 포고핀 | |
JP2005337994A (ja) | 電子部品検査用プローブ及び該プローブを備えた電子部品検査用接続具 | |
KR200144809Y1 (ko) | 반도체 소자 검사용 소켓 | |
JP2005174670A (ja) | オープントップ型icソケット |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080319 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100521 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100525 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100723 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100921 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101220 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20101227 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20110128 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110902 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110930 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141007 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |